JP2009175355A - 表示装置、及び位置検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光検出部の位置にあわせて、表示装置に表示する試験信号に基づく映像の表示位置を最適化させる制御部を備えた表示装置を提供する。
【解決手段】表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部１０３の前面側に、光検出口を向けて設置され表示部１０３に表示される情報による輝度を測定し、測定した輝度情報を出力する光検出部１０４と、光検出部１０４の光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を表示部１０３に表示し、表示面上での試験信号に基づく映像の表示位置を表示面内で移動させ、光検出部１０４近傍の複数個所に試験信号に基づく映像を表示させて表示面の輝度を測定した光検出部１０４からの輝度情報にしたがって、試験信号に基づく映像をもとにして光検出部１０４の位置を特定する制御部１１０を備える表示装置を提供する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光検出部を備える表示装置、及び位置検出方法に関する。

表示装置を用いて映像表示を適切な表示状態で表示する場合に、表示装置が設置されている場所の周囲の明るさの変化や、表示装置自体の表示特性の変化などの影響を避けるには、表示装置の調整を行うことが必要になるときがある。

例えば、屋内であっても、屋外の自然光による明るさ変化が発生する場所に設置される表示装置の場合では、昼と夜とで設置場所の周囲の明るさは、大きく変化してしまう。そのため、表示装置の表示輝度を周囲の状況に合わせて調整しながら利用する場合がある。

また、表示装置を測定系の表示部として利用して、表示される映像によって判断を必要とする場合には、鮮明な表示で常に表示されていることが必要となる。
たとえば、医療機関でＸ線写真の映像などを表示する場合など、患者の病巣などを識別するに当たり、微妙な輝度の違いを表示させて、読み取る必要がある。

このため、周囲の明るさを測定する光センサーを備えた表示装置を用いて、光センサーにより測定された周囲の明るさにしたがって、表示装置の表示輝度を変化させる方法が提案されている。（例えば、特許文献１参照）

さらに、表示特性を管理する場合では、実際に表示される映像の状態を評価するために、表示装置における表示状態を直接測定する必要がある。
特許文献２では、投射型プロジェクタを設置するときの設置状態を最適化するための技術が提案されている。この技術を利用した投射型プロジェクタでは、スクリーンに投影された映像がスクリーンで反射する際の光の輝度を測定し、その測定した輝度にしたがって、設置状態の最適化を行うことができる。このときに表示する映像は、調整用の映像を画面全体に表示する利用する方法をとっている。

表示特性についての品質管理を必要とされる用途では、光センサーを用いた特性試験が必要となる場合がある。光センサーを用いて表示状態を測定する場合、表示装置に表示したテスト信号と光センサーの位置とを合わせることが必要となる場合がある。
特許文献３では、投射型プロジェクタの用途で、光学ブロック間の光軸あわせを行う技術が提案されている。その技術によると、プロジェクタにおける輝度情報成分と色差信号成分を光学的に合成するときに必要となる基準位置補正を行う方法である。表示画面として利用する有効画素より多い画素数を持つ表示素子を利用し、表示に利用しない範囲に表示する位置調整情報を、対向して設置されるＣＣＤ（Charge Coupled Device）のような多画素構成の受光素子を用いて相互の位置関係を検出する技術である。
特開２００７−０９４０９７号公報 特開２００６−０３０６４４号公報 特開２００７−２４０９３６号公報

しかしながら、特許文献２に記載の技術では、表示状態を評価できる構成ではあるが、投射型プロジェクタを利用する構成に関するものであり、スクリーン表示全体の反射光を利用しているため、周囲の明るさの変化による制御には適していないという課題がある。
また、特許文献２に記載の技術では、表示状態を評価するには、画面全体に専用のテスト用信号を表示することが必要な方法であるため、表示状態を評価する際には、目的とする映像表示を行えないという課題がある。

また、特許文献３に記載の技術では、表示素子は表示画面として利用する面積より広い発光部の面積を備え、表示に利用しない範囲の部分を利用して位置合わせ用の信号を出力し、その信号によって作られる光を位置調整情報として利用しているため、表示素子の画素を有効に利用できないという課題がある。
また、特許文献３に記載の技術では、ＣＣＤのような多画素構成の受光素子を位置検出用センサーとして利用し、前述の位置調整情報が受光素子に投影される位置の情報から、相互の位置関係を検出することとしている。そのため、受光素子の面積が光量のみを検出する素子による構成と比べると、測定に必要となる構成も複雑になるという課題がある。

本発明は、上記課題を解決すべくなされたもので、その目的は、表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部を有する表示装置において、実際の表示状態を測定しないとできなかった表示状態を最適化させる処理により、表示品質を改善させるために必要とされる光検出部の正確な設置位置を容易に特定することを特徴とする表示装置を提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明は、表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報による輝度を測定し、測定した輝度情報を出力する光検出部と、前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御部と、前記試験信号に基づく映像の前記表示位置と前記測定された前記輝度情報とを関係づけて記憶する記憶部を備える表示装置である。

また、本発明は、上記記載の発明について、前記制御部は、前記試験信号として、第１の輝度で表示される位置検出信号表示範囲と、前記位置検出信号範囲内に配置され第２の輝度で表示され前記光検出口の大きさに相当する大きさを有する位置検出信号の組み合わせによって表される形状を表示させる信号を生成して、前記表示部に表示し、前記光検出部は、前記位置検出信号表示範囲内で測定を行うことを特徴とする。

また、本発明は、上記記載の発明について、前記制御部は、前記位置検出信号を表示させる際に、前記表示面内で移動させて表示させる範囲の広さを段階的に設定し、前記位置検出信号を移動させて表示させる表示範囲を切り換えて、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする。

また、本発明は、上記記載の発明について、前記制御部は、前記光検出部によって測定され、前記記憶部に記憶された前記測定結果の中から、輝度が最も高くなる場所を最適な場所として選定し、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする。

また、本発明は、上記記載の発明について、前記制御部は、前記表示装置の電源投入時または入力される光検出部位置検知指示の入力時を契機として、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする。

また、本発明は、上記記載の発明について、前記制御部は、前記光検出部の位置を検出するための前記試験信号に基づく映像の表示と、外部から入力される映像入力信号の表示とを前記表示部に合わせて表示させることを特徴とする。

上記課題を解決するために、本発明は、表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報の輝度を測定し、前記測定した輝度情報を出力する光検出部とにより光検出部の位置を特定する位置検出方法であって、前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を表示させて測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御過程と、を含むことを特徴とする位置検出方法である。

この本発明によれば、表示装置は、表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報による輝度を測定し、測定した輝度情報を出力する光検出部と、前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御部と、を備える構成とした。
これにより、表示部での表示状態を測定できる環境を提供し、表示部の表示状態に応じて表示特性を変更するための検出部の位置を正確に特定することができる効果がある。

この本発明によれば、前記制御部は、前記試験信号として、第1の輝度で表示される位置検出信号表示範囲と、前記位置検出信号範囲内に配置され第２の輝度で表示され前記光検出口の大きさに相当する大きさを有する位置検出信号の組み合わせによって表される形状を表示させる信号を生成して、前記表示部に表示し、前記光検出部は、前記位置検出信号表示範囲内で測定を行うこととした。
これにより、位置検出信号の周囲に表示される信号の影響を受けることなく検出部での測定を行えるので、光検出部の位置をより正確に特定できる効果がある。

この本発明によれば、前記制御部は、前記位置検出信号を表示させる際に、前記表示面内で移動させて表示させる範囲の広さを段階的に設定し、前記位置検出信号を移動させて表示させる表示範囲を切り換えて、前記光検出部の位置を特定することとした。
これにより、光検出部の位置の検出精度を向上することができる効果がある。

この本発明によれば、前記制御部は、前記光検出部によって測定され、前記記憶部に記憶された前記測定結果の中から、輝度が最も高くなる場所を最適な場所として選定し、前記光検出部の位置を特定することとした。
これにより、光検出部の小型化が行え、光検出部の検出の時間も短くすることができる効果がある。

この本発明によれば、前記制御部は、前記表示装置の電源投入時または入力される光検出部位置検知指示の入力時を契機として、前記光検出部の位置を特定することとした。
これにより、容易に光検出部の位置を設定することができ、利用者の負担を軽減できる効果がある。

この本発明によれば、前記制御部は、前記光検出部の位置を検出するための前記試験信号に基づく映像の表示と、外部から入力される映像入力信号の表示とを前記表示部に合わせて表示させることとした。
これにより、映像表示をしている状態においても、光検出部の位置検出などを行うことができる効果がある。

また、この本発明によれば、位置検出方法は、表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報の輝度を測定し、前記測定した輝度情報を出力する光検出部とにより光検出部の位置を特定する位置検出方法であって、前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を表示させて測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御過程とを含むこととした。
これにより、光検出部の配置位置に柔軟に対応し、適切な測定を行えるようにする効果がある。

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。

（第１実施形態）
第１実施形態では、設置された光検出部１０４の位置を予め設定できる場合に用いられる光検出部１０４の正確な位置の位置検出方法を示す。

図１は、第１実施形態による表示装置１００と、表示装置１００に接続される映像出力装置２００を示す概略ブロック図である。
映像出力装置２００は、表示装置１００に映像を表示させるための映像入力信号を表示装置１００に送出する外部の装置であり、例えばパーソナルコンピュータなどに相当する。

表示装置１００は、制御処理部１０１、映像処理部１０２、表示部１０３、光検出部１０４、記憶部１０５を備える。また、以下の説明では制御処理部１０１と映像処理部１０２と記憶部１０５とを合わせて制御部１１０という。

制御処理部１０１は、光検出部１０４の位置を特定するための位置検出信号の出力指示を、記憶部１０５に記憶されている表示位置情報を参照して映像処理部１０２に対し指示する。
また、制御処理部１０１は、光検出部１０４が検出した輝度情報が光検出部１０４から入力される。また、制御処理部１０１は、入力された輝度情報を記憶部１０５に記録する。また、制御処理部１０１は、記憶部１０５に記憶されている複数の測定個所の輝度情報を参照し光検出部１０４の位置を特定する判定処理を行い、光検出部１０４の位置を特定する。また、制御処理部１０１は、特定した光検出部１０４の位置を、記憶部１０５に記録する。
また、制御処理部１０１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＣＰＵで実行されるプログラムと演算処理などで扱う情報とを記憶する半導体メモリー、試験指示などの入力処理を行う入力処理部、輝度情報入力部などを有している。

映像処理部１０２は、表示装置１００に映像出力装置２００から入力される映像入力信号に対して、階調変換などの必要な変換処理を行って映像信号を表示部１０３に出力する。
また、映像処理部１０２は、制御処理部１０１からの指示により、映像出力装置２００から入力される映像入力信号に対して試験信号を割り込ませ、試験信号に基づく映像信号を割り込ませた信号を映像信号として出力する。映像入力信号に対する試験信号の割り込み処理は、映像を表示する場所に対応する信号を選択し、切り換える処理により実現する。

表示部１０３は、表示装置１００の映像表示を行う部分である。表示装置１００に入力される映像入力信号あるいは表示装置１００内部で生成される試験信号である位置検出信号などを表示面１３０の背面側からの光を用いて表示する構造を備えている。

光検出部１０４は、一方向から照射される光の輝度を測定する光検出口１４０を受光面として備える構造を有する。
また、光検出部１０４は、表示部１０３の表示面１３０の前面に表示部１０３の表示面１３０に光検出口１４０を向けて設置され、表示部１０３に表示される情報による輝度を測定し、測定した輝度を出力する。

記憶部１０５は、試験信号である位置検出信号１１１に基づく映像の表示位置と、光検出部１０４によって測定された輝度情報とを関係づけて記憶する。また、記憶部１０５は、光検出部１０４の位置特定処理に必要となる測定開始位置、光検出部１０４の位置を特定した位置情報を記憶する。また、記憶部１０５は、ＥＥＰ−ＲＯＭ(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory:電気的消去型ＰＲＯＭ)などの半導体メモリーが適用される。

図２は、本実施形態における、各構成品の配置関係を示す。
図２（ａ）は、表示部１０３と光検出部１０４の位置関係を示す左側面図である。
表示部１０３は、表示する情報を表示面１３０の背面側からの光を用いて、表示面１３０から出力される光量の変化により、映像表示を行う構造を備え、発光量の変化によって情報が表示される。表示装置１００としては、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）などの画面の表示を複数の画素で表示する表示装置が適用される。
表示部１０３の表示面１３０に表示される映像情報の光を受光できるように、光検出部１０４の光検出口１４０は、表示面１３０と向き合うように設置する。これにより、光検出部１０４は、表示装置１００の設置環境による光の影響を受けない状態で輝度の測定をすることができる。

図２（ｂ）は、表示部１０３と光検出部１０４の位置関係を示す正面図である。
図２（ｂ）は、表示面１３０上の光検出部１０４の近傍に、位置検出信号１１１と位置検出信号表示範囲１１２とが表示されている状態を表している。
位置検出信号１１１と位置検出表示範囲１１２は、制御処理部１０１からの指示で生成され、表示部１０３に表示される試験信号の一つである。位置検出信号１１１と位置検出表示範囲１１２は、それぞれ異なる輝度の値を示す情報で、均一に塗りつぶされた状態で表示されている。
ここで、位置検出信号１１１と位置検出表示範囲１１２との輝度の差は、大きな差を有するように設定される。位置検出信号１１１は、輝度の高い状態である「白」を選び、位置検出信号表示範囲１１２は、輝度の低い状態である「黒」を選定することで大きな差が得られる。以下、「白」と「黒」が選ばれたものとして説明を行う。

本実施形態の動作原理を、以下に説明する。
本実施形態では位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の位置とが適正に配置されているかどうかの判定を、次の動作原理を利用して判定することとする。その動作原理とは、位置検出信号１１１と光検出部１０４の相互の位置にずれがない状態であれば、光検出部１０４は表示部１０３からの受光すべき光の量を収集できる。しかし、相互の位置関係にずれがあると、光検出部１０４の光検出口１４０からはみ出して収集できない光が生じるので、光検出部１０４は受光しきれずに洩らしてしまう。それゆえ、受光すべき光の量を満足に収集できない状態を、ずれが生じている状態であると特定できる。したがって、光検出部１０４が受光する光の量を評価して、相互の位置の配置状態を判定することができる。

以上の動作原理について、具体的な説明を補足する。
位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の位置とがあっているとき、すなわち、光検出部１０４は位置検出信号１１１として表示されている光を最も多く受光するときには、光検出部１０４からの輝度情報も高い値を示す。しかし、位置のずれがあれば、その分の光受光量が減少し、光検出部１０４での測定値も低下することになる。

ここで、光検出部１０４の位置を特定するため、位置検出信号１１１を光検出部１０４の近傍の複数個所で測定する。位置検出信号１１１は、表示部１０４の表示面方向に沿って直交する２軸方向に移動させた場所で輝度の測定を行うこととする。それぞれの場所での測定値を比較し測定値の中から最大となる場所を、光検出部１０４の位置として最も適している場所として特定する。

図３は、光検出部１０４の位置検出を行うために選んだ複数の測定点における位置検出信号１１１を表示部１０３に表示したときの表示状態を表している。
ここでは、光検出部１０４の近傍と推定される場所を中心として９箇所の測定点を設定する場合を説明する。

図３（ａ）から図３（ｉ）は、基準とするＸ-Ｙ座標の座標軸に対し位置検出信号１１１の表示位置を移動させた９箇所の表示状態を表している。
図形１１は、光検出部１０４の位置を示す。本測定中には移動せず、固定された場所に設置されている。
図形１２は、位置検出信号表示範囲１１２の位置を示す。表示面１３０上で、光検出部１０４の位置の測定に必要とするだけの任意の大きさを用意する。本実施形態では固定的に表示を行う場所とする。
図形１３ａから図形１３ｉまでの図形は、それぞれの測定箇所での位置検出信号１１１の表示位置を示す。
以下、図形１３ａから図形１３ｉを、まとめて表現するときは、図形１３ということとする。

ここで、各図形の位置を表すのに、その図形の左上隅の点を、その図形を代表する基準点とすることにする。
最初に、最も光検出部１０４の配置確度が高いと推定される点を、図３（ｅ）に示すＰｅ点とし、その点をＸ−Ｙ座標の原点とした座標系を設定する。設定されたＸ−Ｙ座標を、図３の各図に表した。図３（ｅ）の条件での位置検出信号の左上隅の位置、すなわちＰｅ点は、Ｘ−Ｙ座標の原点の位置と同一点となっている。
図３（ａ）から図３（ｉ）のそれぞれの表示位置では、Ｘ−Ｙ座標の原点Ｏに対して、座標軸の各方向に単位移動量分だけ独立にずらした位置となっている。すなわち、最も配置確立が高いとしたＰｅ点の周囲に測定点を配置した構成となる。各パタンでの位置検出信号の位置を代表して表す基準点である、左上隅Ｐの位置をそれぞれＰａ〜ｉ（ｘ，ｙ）で表し、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の単位移動量を、それぞれａとｂとにすれば、各パタンの位置検出信号の位置である図形１３ａは、図３（ａ）の場合では、Ｐａ（−ａ，−ｂ）となる。
図３（ａ）から図３（ｉ）の場合の位置検出信号の位置を示している図形１３の各基準点Ｐについて、まとめて以下に記載する。

Ｐａ（−ａ，−ｂ）、Ｐｂ（−ａ， ０）、Ｐｃ（−ａ，＋ｂ）、
Ｐｄ（ ０，−ｂ）、Ｐｅ（ ０， ０）、Ｐｆ（ ０，＋ｂ）、
Ｐｇ（＋ａ，−ｂ）、Ｐｈ（＋ａ， ０）、Ｐｉ（＋ａ，＋ｂ）

図３（ａ）において、表示部１０３の表示面１３０に表示されている位置検出信号１１１の位置を表す図形１３ａの基準位置Ｐａ（−ａ，−ｂ）は、座標の原点からＸ軸方向に（−ａ）、Ｙ軸方向に（−ｂ）移動した位置であることを意味している。
また、位置検出信号１１１の位置を表す図形１３ａは、Ｐ点と対角にあたるＱ点の座標を組み合わせて表すことができる。図３では、位置検出信号を（（４ａ）×（６ｂ））の面積を持つ信号として説明すると、図３（ａ）での、Ｑａ点の座標は、（３ａ，５ｂ）となる。Ｐａ点とＱａ点の２つの座標を組み合わせて、次のように表記することとする。
図形１３ａの位置：ＰａＱａ（（−ａ，−ｂ）：（３ａ，５ｂ））

他の８箇所の場合の位置検出信号１１１の位置である図形１３についても下記に記載する。

図形１３ｂの位置：ＰｂＱｂ（（−ａ， ０）：（３ａ，６ｂ））、
図形１３ｃの位置：ＰｃＱｃ（（−ａ，＋ｂ）：（３ａ，７ｂ））、
図形１３ｄの位置：ＰｄＱｄ（（ ０，−ｂ）：（４ａ，５ｂ））、
図形１３ｅの位置：ＰｅＱｅ（（ ０， ０）：（４ａ，６ｂ））、
図形１３ｆの位置：ＰｆＱｆ（（ ０，＋ｂ）：（４ａ，７ｂ））、
図形１３ｇの位置：ＰｇＱｇ（（＋ａ，−ｂ）：（５ａ，５ｂ））、
図形１３ｈの位置：ＰｈＱｈ（（＋ａ， ０）：（５ａ，６ｂ））、
図形１３ｉの位置：ＰｉＱｉ（（＋ａ，＋ｂ）：（５ａ，７ｂ））

あわせて光検出部１０４も（（４ａ）×（６ｂ））の面積を有する形状のものとした。また、本実施形態では、図３（ｆ）における位置検出信号１１１の位置と同じ場所（図形１３ｆ相当）であるものとして、図３の各図中に記載した。
光検出部１０４の検出範囲ＰｓＱｓを同様に座標で表すと、次のようになる。

図形１１の位置：ＰｓＱｓ（（ ０，＋ｂ）：（４ａ，７ｂ））

以下の測定点に配置した図形１３を使って図形１１の位置を検出する。
表示部１０３の位置検出信号１１１を表示している範囲は、表示部１０３の画面上では隣接する範囲内にあるため、その表示部１０３の範囲内における各場所の特性の違いは無視できる。

ここで、表示面における位置検出信号１１１の光は、輝度条件が同じ均一な光の「白」を放出している。また、その周囲となる位置検出信号測定範囲１１２の輝度の設定を「黒」とすれば、光を放出しない条件となる。ここで、光検出部１０４の範囲と重複する、位置検出信号１１１の面積に比例して光検出部１０４で検出できる輝度が変化することになる。

次に、各測定位置における位置検出信号１１１が表示されている画面を光検出部１０４が検出した時の輝度情報をＺで表す。
位置検出信号の位置ＰＱ（（ｘｐ，ｙｐ）：（ｘｑ，ｙｑ））と光検出部１０４の位置Ｓ（（ｘｓｐ，ｙｓｐ）：（ｘｓｑ、ｙｓｑ））との相互の配置によって変化する輝度情報は、位置ＰＱと位置Ｓによる関数Ｋ（ＰＱ，Ｓ）で与えられるものと考えることができる。位置検出信号１１１の表示位置によらず、光検出部１０４の位置は固定値をとることになるので、実質的に光検出部１０４が出力する輝度情報は、位置検出信号１１１の表示位置による関数として扱うことができる。

光検出部の位置をＳで表すこととすると、次のように表すことができる。

Ｚ＝Ｋ（ＰＱ（（ｘｐ，ｙｐ）：（ｘｑ，ｙｑ）），Ｓ）

ここで、図３（ａ）で示す場所であれば、図形１３ａの位置での輝度情報Ｚａは、

図形１３ａの位置の輝度：Ｚａ＝Ｋ（ＰａＱａ（（−ａ，−ｂ）：（３ａ，５ｂ）），Ｓ）

と表すことができる。

同様に、図３（ｂ）から図３（ｉ）までの条件について、それぞれの輝度情報Ｚを定義すると下記のようになる。

図形１３ｂの位置の輝度：Ｚｂ＝Ｋ（ＰｂＱｂ（（−ａ， ０）：（３ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｃの位置の輝度：Ｚｃ＝Ｋ（ＰｃＱｃ（（−ａ，＋ｂ）：（３ａ，７ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｄの位置の輝度：Ｚｄ＝Ｋ（ＰｄＱｄ（（ ０，−ｂ）：（４ａ，５ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｅの位置の輝度：Ｚｅ＝Ｋ（ＰｅＱｅ（（ ０， ０）：（４ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｆの位置の輝度：Ｚｆ＝Ｋ（ＰｆＱｆ（（ ０，＋ｂ）：（４ａ，７ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｇの位置の輝度：Ｚｇ＝Ｋ（ＰｇＱｇ（（＋ａ，−ｂ）：（５ａ，５ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｈの位置の輝度：Ｚｈ＝Ｋ（ＰｈＱｈ（（＋ａ， ０）：（５ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形１３ｉの位置の輝度：Ｚｉ＝Ｋ（ＰｉＱｉ（（＋ａ，＋ｂ）：（５ａ，７ｂ）），Ｓ）

関数Ｋ（ＰＱ，Ｓ）によって表される輝度情報Ｚは、位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の受光部が重なる部分の面積比による関数としても表すことができる。ここで、面積（ａ×ｂ）をもつ矩形部の面積を単位面積として規定し、その矩形の面積の倍率を求める関数Ｋ’を定義する。
この関数Ｋ’を図３に適用すると、単位格子で表される面積は前述の単位面積に相当することになる。そこで、位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の受光部の位置との重なる部分の格子の数が、関数Ｋ’の解としてＺ’得ることができる。
ここで、図３における各場合の値について、それぞれの値を求め、まとめて表すと次のようになる。

（Ｚ’ａ，Ｚ’ｂ，Ｚ’ｃ，Ｚ’ｄ，Ｚ’ｅ，Ｚ’ｆ，Ｚ’ｇ，Ｚ’ｈ，Ｚ’ｉ）
＝（１２，１５，１８，１６，２０，２４，１２，１５，１８）

得られたＺ’は、輝度情報Ｚと比例するので、

Ｚ＝ｋ Ｚ’ （ｋは比例定数）

と表すことができ、得られた面積比の情報群Ｚ’のうち最大となる条件は、輝度情報Ｚを最大とする条件と一致する。

以上の関係から、得られた輝度情報群Ｚの中でＺの値が最大となる条件を示す位置検出信号１１１の表示位置（Ｘｉ，Ｙｉ）を抽出する関数をＰｍａｘ（Ｚｎ）とすると、下記の式で表すことができ、
（Ｘｉ，Ｙｉ）＝Ｐｍａｘ（Ｚａ，Ｚｂ，Ｚｃ，Ｚｄ，Ｚｅ，Ｚｆ，Ｚｇ，Ｚｈ，Ｚｉ）

図３の各条件の中でのＺ’の最大値は「２４」であり、そのＺ’の最大値を示すのは図３（ｆ）における配置のときである。輝度情報Ｚも最大値を示す位置であることは自明である。そこで、次に記す位置、

ＰｆＱｆ（（ ０，＋ｂ）：（６ａ，５ｂ））

を光検出部１０４の位置の最適解とし、あわせて、位置検出信号の基準点であるＰｆ点の位置Ｐｆ（０、＋ｂ）が最適な位置と判定することとする。
改めて下記の式で表すこととする。

（０，＋ｂ）＝Ｐｍａｘ（Ｚａ，Ｚｂ，Ｚｃ，Ｚｄ，Ｚｅ，Ｚｆ，Ｚｇ，Ｚｈ，Ｚｉ）

以上により、光検出部１０４の位置を特定できる動作原理を説明した。

図４は、本実施形態による光検出部の位置検出処理を行う処理のフローチャートである。
最初に、表示装置１０３の表示面１３０において、光検出部１０４の位置として最も確度が高い点を基準点として記憶部１０５の検出位置基準点情報に予め設定する。制御処理部１０１は、設定され記憶部１０５に記憶された基準点を中心とする位置検出信号１１１の基準表示位置を９箇所について生成し、基準表示位置情報として記憶部１０５に記録する（ステップＳａ１）。

次に、制御処理部１０１は、記憶部１０５に基準表示位置情報として記憶されている位置検出信号１１１の表示位置の場所１箇所に、位置検出信号１１１を表示させる。位置検出信号１１１の表示状態を光検出部１０４によって測定を行う。制御処理部１０１は、光検出部１０４によって測定され、入力される輝度情報を、記憶部１０５に記録する（ステップＳａ２）。

制御処理部１０１は、位置検出信号１１１の表示位置を異なる場所に配置する測定箇所として設定した全９箇所の内、未測定の測定箇所の箇所数が１以上であることの判定を行う（ステップＳａ３）。

制御処理部１０１は、残りの測定箇所の箇所数が１以上であると判定したときには、次の測定箇所に位置検出信号の表示場所を移動させて表示する。
引き続き、前述したステップＳａ１からの処理を行う（ステップＳａ４）。

制御処理部１０１は、前述したステップＳａ３において、予定の測定箇所の測定を行って残りの測定箇所の箇所数が１未満であると判定したときには、記憶部１０５に記憶されている測定された輝度情報を読み出して、測定された輝度情報のなかで最も高い値を示した場所を特定する。特定できた場所が、位置検出信号１１１の場所を異なる場所に配置して表示した測定場所の中で、光測定部１０４に最も近い場所となる（ステップＳａ５）。

ここで、制御処理部１０１は、ステップＳａ５で特定した光検出部１０４の位置を記憶部１０５に記録する（ステップＳａ６）。

以上に説明したように、光検出部１０４の近傍を想定した位置を初期値として、光検出部１０４の位置検索を行った。初期値として設定した位置がずれている状態であれば、本実施形態により、そのずれを検出し正確な光検出部１０４の位置を特定できることを示した。

（第２実施形態）
第１実施形態では、配置された光検出部１０４の概略の位置を予め設定できる場合に有効な測定方法であった。
第２実施形態では、光検出部１０４の位置をさらに広い範囲で最適化することが必要となる場合への対応について説明する。第２実施形態では、第１実施形態で利用した動作原理を複数回利用して、段階的に光検出部１０４の位置を絞り込んで特定する方法を利用する。

本実施形態の表示装置１００の構成は、第１実施形態の構成と同じであり、以下、同じ符号を付して説明を行う。

動作原理については、複数の位置に位置検出信号１１１を表示し輝度を測定して、測定された輝度値に基づいた判定を行う点については共通である。さらに本実施形態では、前述の測定を繰り返すことにより、検出精度を向上させる点に特徴がある。

図５は、光検出部１０４の位置を特定するために、試験信号として位置検出信号１１１を表示して測定する複数の場所を示している。
図５で示す配置は、光検出部１０４の位置を概略位置として設定する位置が第１実施形態よりも離れた位置までを対象とする。その範囲においても光検出部１０４を検出するために、光検出部１０４の場所を特定するために表示する位置検出信号１１１の表示位置を、第１実施形態より位置検出信号１１１を表示する位置と隣接する表示位置との間隔を広く取った配置とする。

図５（ａ）から図５（ｉ）は、基準とするＸ-Ｙ座標の座標軸に対し位置検出信号１１１の表示位置を移動させた９箇所の表示状態を表している。
図形２１は、光検出部１０４の位置を示す。本測定では段階的に光検出部１０４の位置を絞り込む処理とする。絞込みの処理の中でＸ−Ｙ座標の再配置を行う。しかし、1組をなしている９箇所の測定における条件の中では、Ｘ−Ｙ座標系は固定されたＸ−Ｙ座標として処理される。
図形２２は、位置検出信号表示範囲１１２の位置を示す。表示面１３０上で、光検出部１０４の位置の測定に必要とするだけの任意の大きさを用意する。本実施形態では固定的に表示を行う場所とする。
図形２３ａから図形２３ｉまでの図形は、それぞれの測定箇所での位置検出信号１１１の表示位置を示す。
以下、図形２３ａから図形２３ｉを、まとめて表現するときは、図形２３と呼ぶこととする。

最初に、最も光検出部１０４の配置確度が高いと推定される点を、図５（ｅ）に示すＰｅ点とし、その点をＸ−Ｙ座標の原点とした座標系を設定する。設定されたＸ−Ｙ座標を、図５の各図に表した。図５（ｅ）の条件での位置検出信号の左上隅の位置、すなわちＰｅ点は、Ｘ−Ｙ座標の原点の位置と同一点となっている。
図５（ａ）から図５（ｉ）のそれぞれの表示位置では、Ｘ−Ｙ座標の原点Ｏに対して、座標軸の各方向に規定した移動量分だけ独立にずらした位置となっている。すなわち、最も配置確立が高いとしたＰｅ点の周囲に測定点を配置した構成となる。各パタンでの位置検出信号の位置を代表して表す基準点である、左上隅Ｐの位置をＰ（ｘ，ｙ）で表し、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の規定した移動量を、それぞれ３ａと３ｂとにすれば、各パタンの位置検出信号の位置である図形１３ａは、図５（ａ）の場合では、Ｐａ（−３ａ，−３ｂ）となる。
図５（ａ）から図５（ｉ）の場合の位置検出信号の位置を示している図形１３の各基準点Ｐについて、まとめて以下に記載する。

Ｐａ（−３ａ，−３ｂ）、Ｐｂ（−３ａ， ０）、Ｐｃ（−３ａ， ３ｂ）、
Ｐｄ（ ３０，−３ｂ）、Ｐｅ（ ０， ０）、Ｐｆ（ ０， ３ｂ）、
Ｐｇ（ ３ａ，−３ｂ）、Ｐｈ（ ３ａ， ０）、Ｐｉ（ ３ａ， ３ｂ）

図５（ａ）において、表示部１０３の表示面１３０に表示されている位置検出信号１１１の位置を表す図形２３ａの基準位置Ｐａ（−３ａ，−３ｂ）は、座標の原点からＸ軸方向に（−３ａ）、Ｙ軸方向に（−３ｂ）移動した位置であることを意味している。
また、位置検出信号１１１の位置を表す図形２３ａは、Ｐ点と対角にあたるＱ点の座標を組み合わせて表すことができる。図５では、位置検出信号を（（４ａ）ｘ（６ｂ））の面積を持つ信号として説明すると、図５（ａ）での、Ｑａ点の座標は、（ａ，３ｂ）となる。Ｐａ点とＱａ点の２つの座標を組み合わせて、表記することとする。

全９箇所の場合の位置検出信号１１１の位置である図形２３について下記に記載する。

図形２３ａの位置：ＰａＱａ（（−３ａ，−３ｂ）：（ ａ，３ｂ））、
図形２３ｂの位置：ＰｂＱｂ（（−３ａ， ０）：（ ａ，６ｂ））、
図形２３ｃの位置：ＰｃＱｃ（（−３ａ， ３ｂ）：（ ａ，９ｂ））、
図形２３ｄの位置：ＰｄＱｄ（（ ０，−３ｂ）：（４ａ，３ｂ））、
図形２３ｅの位置：ＰｅＱｅ（（ ０， ０）：（４ａ，６ｂ））、
図形２３ｆの位置：ＰｆＱｆ（（ ０， ３ｂ）：（４ａ，９ｂ））、
図形２３ｇの位置：ＰｇＱｇ（（ ３ａ，−３ｂ）：（７ａ，３ｂ））、
図形２３ｈの位置：ＰｈＱｈ（（ ３ａ， ０）：（７ａ，６ｂ））、
図形２３ｉの位置：ＰｉＱｉ（（ ３ａ， ３ｂ）：（７ａ，９ｂ））

ここで、光検出部１０４の位置を。図中の図形２１で表すこととする。その光検出部１０４の位置を上記の座標系で同様に表すと、次のように表せる。

図形２１の位置：ＰｓＱｓ（（−４ａ，４ｂ）：（０，１０ｂ））

第１実施形態と同様に、光検出部の位置をＳで表すこととすると、次のように表すことができる。

Ｚ＝Ｋ（ＰＱ（（ｘｐ，ｙｐ）：（ｘｑ，ｙｑ）），Ｓ）

ここで、図５（ａ）で示す場所であれば、図形２３の位置での輝度情報Ｚをまとめて表す。

図形２３ａの位置の輝度：Ｚａ＝Ｋ（ＰａＱａ（（−３ａ，−３ｂ）：（ａ，３ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｂの位置の輝度：Ｚｂ＝Ｋ（ＰｂＱｂ（（−３ａ， ０）：（ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｃの位置の輝度：Ｚｃ＝Ｋ（ＰｃＱｃ（（−３ａ， ３ｂ）：（ａ，９ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｄの位置の輝度：Ｚｄ＝Ｋ（ＰｄＱｄ（（ ０，−３ｂ）：（４ａ，３ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｅの位置の輝度：Ｚｅ＝Ｋ（ＰｅＱｅ（（ ０， ０）：（４ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｆの位置の輝度：Ｚｆ＝Ｋ（ＰｆＱｆ（（ ０， ３ｂ）：（４ａ，９ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｇの位置の輝度：Ｚｇ＝Ｋ（ＰｇＱｇ（（３ａ，−３ｂ）：（７ａ，３ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｈの位置の輝度：Ｚｈ＝Ｋ（ＰｈＱｈ（（３ａ， ０）：（７ａ，６ｂ）），Ｓ）、
図形２３ｉの位置の輝度：Ｚｉ＝Ｋ（ＰｉＱｉ（（３ａ， ３ｂ）：（７ａ，９ｂ）），Ｓ）

関数Ｋ（ＰＱ，Ｓ）によって表される輝度情報Ｚは、位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の受光部が重なる部分の面積比による関数としても表すことができる。ここで、面積（ａ×ｂ）をもつ矩形部の面積を単位面積として規定し、その矩形の面積の倍率を求める関数Ｋ’を定義する。
この関数Ｋ’を図５に適用すると、単位格子で表される面積は前述の単位面積に相当することになる。そこで、位置検出信号１１１の位置と光検出部１０４の位置とが重なる部分の格子の数を、関数Ｋ’の解となるＺ’を得ることができる。
ここで、図５における各場合の値について、それぞれの値を求め、まとめて表すと次のようになる。

（Ｚ’ａ，Ｚ’ｂ，Ｚ’ｃ，Ｚ’ｄ，Ｚ’ｅ，Ｚ’ｆ，Ｚ’ｇ，Ｚ’ｈ，Ｚ’ｉ）
＝（４，１６，２０，０，２，５，０，０，０）

得られたＺ’は、輝度情報Ｚと比例するので、得られた面積比の情報群Ｚ’のうち最大となる条件は、輝度情報Ｚを最大とする条件と一致する。

以上の関係から、得られた輝度情報群Ｚの中でＺの値が最大となる条件を示す位置検出信号１１１の表示位置（Ｘｉ，Ｙｉ）を抽出する関数をＰｍａｘ（Ｚｎ）とすると、下記の式で表すことができる。

（Ｘｉ，Ｙｉ）＝Ｐｍａｘ（Ｚａ，Ｚｂ，Ｚｃ，Ｚｄ，Ｚｅ，Ｚｆ，Ｚｇ，Ｚｈ，Ｚｉ）

図５の各条件の中でのＺ’の最大値は「２０」であり、そのＺ’の最大値を示すのは図５（ｃ）における配置のときである。当該配置が、輝度情報Ｚも最大値を示す位置であることは自明である。そこで、下式記す位置を光検出部１０４の位置の隣接点とみなすこととし、詳細位置を検索する処理を続けて行う。

ＰｃＱｃ（（−３ａ， ３ｂ）：（ａ，９ｂ））

光検出部１０４が設置されている位置ＰｓＱｓ（（−４ａ，４ｂ）：（０，１０ｂ））に対して、ＰｃＱｃ（（−３ａ， ３ｂ）：（ａ，９ｂ））を推定箇所としているので、光検出部１０４の位置を特定しきれない。本第２実施形態によるこれまでの処理により、推定位置を近くに設定することができている。
これは、第２実施形態で行った位置検出信号１１１の配置では、配置の間隔をあけているために生じている。第１実施形態では、配置間隔を単位移動量として設定した点が第２実施形態と異なっている。そこで、光検出部１０４の位置検出精度を上げるためには、詳細位置検索処理が必要になる。
詳細位置検索処理は、第１実施形態と同じ処理であり、第１実施形態における原点の座標を第２実施形態のＰｃ点とみなすことで、同じ処理で説明でき、正確な光検出部１０４の位置を特定することができる。

図６は、本実施形態による光検出部の位置検出処理を行う処理のフローチャートである。
最初に、表示装置１０３の表示面１３０において、光検出部１０４の位置として最も確度が高い点を基準点として予め記憶部１０５の検出位置基準点情報に設定する。制御処理部１０１は、設定され記憶部１０５に記憶された基準点を中心とする位置検出信号１１１の基準表示位置を生成し、基準表示位置情報として記憶部１０５に記録する（ステップＳａ１１）。

次に、制御処理部１０１は、記憶部１０５に基準表示位置情報として記憶されている位置検出信号１１１の表示位置の場所に、位置検出信号１１１を表示させる。位置検出信号１１１の表示状態を光検出部１０４によって測定を行う。制御処理部１０１は、光検出部１０４によって測定され、入力される輝度情報を、記憶部１０５に記録する（ステップＳａ１２）。

制御処理部１０１は、位置検出信号１１１の表示位置を異なる場所に配置する測定箇所として設定した全９箇所の内、未測定の測定箇所の箇所数が１以上であることの判定を行う（ステップＳａ１３）。

制御処理部１０１は、残りの測定箇所が箇所数が１以上であると判定したときには、次の測定箇所に位置検出信号の表示場所を移動させて表示する。
引き続き、前述したステップＳａ１１からの処理を行う（ステップＳａ１４）。

制御処理部１０１は、前述したステップＳａ１３において、予定の測定箇所の測定を行って残りの測定箇所の箇所数が１未満と判定したときには、記憶部１０５に記憶されている測定された輝度情報を読み出して、測定された輝度情報のなかで最も高い値を示した場所を特定する。特定できた場所が、位置検出信号１１１の場所を異なる場所に配置して表示した測定場所の中で、光測定部１０４に最も近い場所となる（ステップＳａ１５）。

ここで、制御処理部１０１は、ステップＳａ５で特定した光検出部１０４に最も近い位置を記憶部１０５に記録する。また、制御処理部１０１は、記録した位置情報について、新たに光検出部１０４の想定位置とみなして、詳細位置検出処理を実施する。
詳細位置検出処理は、前述の図４に記したフローチャートによる処理に相当する（ステップＳａ１６）。

以上に説明したように、光検出部１０４の近傍を想定した位置を初期値として、光検出部１０４の位置検索を段階的に検索し、検出精度を上げる方法について説明した。初期値として設定した位置がずれている状態であっても、本実施形態により、そのずれを検出し段階的な絞込みを行い、より正確な光検出部１０４の位置を特定できることを示した。

なお、本実施形態で説明する光検出部１０４の位置検出処理は、表示装置１００の電源投入時、あるいは、制御部１１０が内部に備える入力処理部における操作入力などを契機として、制御部１１０は、光検出部１０４の位置検出処理を起動されるものとする。それにより、表示装置利用時の環境で、光検出部の位置情報を最適化することが可能となる。

なお、複数の位置検出信号１１１を配置させる間隔及び箇所数、段階的に測定を繰り返す回数、位置検出信号１１１及び位置検知信号表示範囲１１２の大きさ及び設定輝度など測定に必要な変数は、予め設定されるものとし、制御処理部１０１あるいは記憶部１０５の記憶領域に記憶され、制御処理部１０１が参照して試験信号の生成、光検出部１０４による測定処理を行うこととする。

なお、表示部として例示したＬＣＤ、ＰＤＰなどのほかにも、表示面の透過光を利用できる構造を持つ表示装置であれば適用が可能である。また、直視型プロジェクタ、あるいは、光学素子を経由して表示されている表示面を有するものであってもよい。

光検出部１０４は、表示装置１００を構成する機能の一部となるものであり、表示装置１００における取り付け方法、接続方法、出力される信号形態などを制限するものではない。
また、本実施形態では、光検出部が出力する電気信号は、輝度情報を表すアナログ信号を利用してもよく、輝度情報を表すディジタル信号であってもよい。

なお、測定する箇所数については、９箇所に限定するものではなく、光検出部１０４の位置検出を特定することができる箇所数とすることができる。

なお、位置検出信号１１１を表示する位置を表現するのに、２軸のＸ−Ｙ座標系を用いて、その座標軸方向に移動した複数個所を選定し説明を行ったが、位置検出信号１１１の表示位置を一意に表すことができ、検出範囲を包含できる箇所を測定箇所として用意することができる。

なお、位置検出信号１１１と位置検出表示範囲１１２の輝度情報は、本実施形態で説明した「白」と「黒」の中間値となる「灰」などを選定することも、２つの範囲に充分な輝度差があれば選定可能である。

本発明による第１実施形態による構成を示す構成図である。 第１実施形態における表示部と光検出部の設置位置を示す左側面図と正面図である。 第１実施形態で利用される位置検出信号の表示位置を示した図である。 第１実施形態での光検出部の位置特定のためのフローチャートである。 第２実施形態で利用される位置検出信号の表示位置を示した図である。 第２実施形態での光検出部の位置特定のためのフローチャートである。

符号の説明

１００ 表示装置
１０１ 制御処理部
１０２ 信号処理部
１０３ 表示部
１０４ 光検出部
１０５ 記憶部
１１０ 制御部
２００ 映像出力装置

Claims (7)

1. 表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、
   前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報による輝度を測定し、測定した輝度情報を出力する光検出部と、
   前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御部と、
   を備えることを特徴とする表示装置。
2. 前記制御部は、前記試験信号として、
   第1の輝度で表示される位置検出信号表示範囲と、前記位置検出信号範囲内に配置され第２の輝度で表示され前記光検出口の大きさに相当する大きさを有する位置検出信号の組み合わせによって表される形状を表示させる信号を生成して、前記表示部に表示し、
   前記光検出部は、前記位置検出信号表示範囲内で測定を行うことを特徴とする請求項１記載の表示装置。
3. 前記制御部は、前記位置検出信号を表示させる際に、
   前記表示面内で移動させて表示させる範囲の広さを段階的に設定し、前記位置検出信号を移動させて表示させる表示範囲を切り換えて、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の表示装置。
4. 前記制御部は、前記光検出部によって測定され、前記記憶部に記憶された前記測定結果の中から、輝度が最も高くなる場所を最適な場所として選定し、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の表示装置。
5. 前記制御部は、前記表示装置の電源投入時または入力される光検出部位置検知指示の入力時を契機として、前記光検出部の位置を特定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の表示装置。
6. 前記制御部は、前記光検出部の位置を検出するための前記試験信号に基づく映像の表示と、外部から入力される映像入力信号の表示とを前記表示部に合わせて表示させることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載の表示装置。
7. 表示する情報を表示面の背面側からの光を用いて表示する表示部と、
   前記表示部の前記表示面の前面に光検出口を前記表示面に向けて設置され、前記表示部に表示される情報の輝度を測定し、前記測定した輝度情報を出力する光検出部と、により光検出部の位置を特定する位置検出方法であって、
   前記光検出部の前記光検出口の形状に相当する試験信号に基づく映像を前記表示部に出力し、前記表示面上での前記試験信号に基づく映像の表示位置を前記表示面内で移動させて表示し、前記設置された箇所の近傍の複数個所で前記試験信号に基づく映像を表示させて測定した前記光検出部からの前記輝度情報を前記試験信号に基づく映像の前記表示位置に関係づけて記憶部に記録し、前記記録された前記輝度情報を参照し前記光検出部の位置を特定し、前記特定された前記位置を記録する制御過程と、
   を含むことを特徴とする位置検出方法。

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