KR20040012212A - 박막 트랜지스터 제조 방법 - Google Patents

박막 트랜지스터 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20040012212A
KR20040012212A KR1020020045655A KR20020045655A KR20040012212A KR 20040012212 A KR20040012212 A KR 20040012212A KR 1020020045655 A KR1020020045655 A KR 1020020045655A KR 20020045655 A KR20020045655 A KR 20020045655A KR 20040012212 A KR20040012212 A KR 20040012212A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
organic
substrate
organic material
electrode
Prior art date
Application number
KR1020020045655A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100867477B1 (ko
Inventor
전승익
Original Assignee
비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 filed Critical 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사
Priority to KR1020020045655A priority Critical patent/KR100867477B1/ko
Publication of KR20040012212A publication Critical patent/KR20040012212A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100867477B1 publication Critical patent/KR100867477B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • G02F1/134309Electrodes characterised by their geometrical arrangement
    • G02F1/134363Electrodes characterised by their geometrical arrangement for applying an electric field parallel to the substrate, i.e. in-plane switching [IPS]
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136277Active matrix addressed cells formed on a semiconductor substrate, e.g. of silicon
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/125Active-matrix OLED [AMOLED] displays including organic TFTs [OTFT]
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/42Arrangements for providing conduction through an insulating substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

본 발명은 유기 박막 트랜지스터의 산화막 배향 공정에 있어서, 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 박막 트랜지스터 제조 방법에 관해 개시한 것으로서, 절연 기판 상에 게이트 전극 및 게이트 절연막을 차례로 형성하는 단계와, 기판 상에 게이트 전극을 덮되, 게이트 전극의 중심과 대응되는 부분을 노출시키는 소오스/드레인 전극을 형성하는 단계와, 결과물 전면에 유기물질막을 형성하는 단계와, 유기물질막의 양단에 각각의 전극을 형성하는 단계와, 전극에 전계를 인가하여 유기물질막 내의 유기 분자를 정렬시키는 단계와, 포토리쏘그라피 공정에 의해 정렬된 유기물질막을 식각하여 유기 액티브층을 형성하는 단계를 포함한다.

Description

박막 트랜지스터 제조 방법{method for fabricating thin film transistor}
본 발명은 박막 트랜지스터 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 유기 박막 트랜지스터의 액티브영역 배향 공정에 있어서, 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 박막 트랜지스터 제조 방법에 관한 것이다.
최근들어 플라스틱 등의 기판의 구동 소자로 응용하기 위해 많은 관심을 얻고 있는 유기 박막 트랜지스터(Organic Thin Film Transistors)는 액티브영역이 실리콘 반도체 물질이 아닌 유기 물질로 되어 있기 때문에 100℃ 이하의 낮은 공정 온도와 간단한 공정을 가짐에도 불구하고 전계 효과 이동도가 0.2㎠/Vs 로 매우 낮은 전기적 특성으로 인해 응용에 많은 한계가 있다.
상기 유기 물질은 주로 150℃ 이하의 저온 공정에서 진공 증착법 또는 스핀 코팅법에 의해 형성하며, 열처리 등의 후속 공정을 거쳐 미약하게 나마 단범위의 분자 정렬을 시도해 전계효과 이동도를 높이고자 하는 연구가 진행 중이다.
그러나, 열처리 방식에 의해 액티브영역의 분자를 단범위로 정렬하는 종래 기술에서는 상기 열처리를 150℃ 이하의 저온 공정에서 진행해야 하므로 그에 따른 열처리 시간은 증가하게 된다.
또한, 승온 및 냉각 과정에서, 열충격에 의해 소자의 파괴가 발생되는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 열처리방식이 아닌 전계 인가 방식에 의해 액티브영역의 분자를 장범위로 정렬함으로써, 우수한 전기적 특성을 유지할 수 있는 박막 트랜지스터 제조 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1a 내지 도 1f는 본 발명에 따른 박막 트랜지스터 제조 방법을 설명하기 위한 공정단면도.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1. 절연기판 3. 게이트 전극
5. 게이트 절연막 7. 소오스 전극
9. 드레인 전극 11. 유기절연막
12. 유기 액티브층 13. 전극
15. 보호막 16. 개구부
17. 화소 전극
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 박막 트랜지스터 제조 방법은 절연 기판 상에 게이트 전극 및 게이트 절연막을 차례로 형성하는 단계와, 기판 상에 게이트 전극을 덮되, 게이트 전극의 중심과 대응되는 부분을 노출시키는 소오스/드레인 전극을 형성하는 단계와, 결과물 전면에 유기물질막을 형성하는 단계와, 유기물질막의 양단에 각각의 전극을 형성하는 단계와, 전극에 전계를 인가하여 유기물질막 내의 유기 분자를 정렬시키는 단계와, 포토리쏘그라피 공정에 의해 정렬된 유기물질막을 식각하여 유기 액티브층을 형성하는 단계를 포함한 것을 특징으로 한다.
상기 절연 기판은 플라스틱 기판, 유리기판 및 유연성있는 기판 중 어느 하나를 이용하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 유기물질막은 스핀 코팅 및 진공증착 중 어느 하나의 방식에 의해 형성하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 게이트 전극용 도전막은 금속막 및 불순물이 도핑된 실리콘막 중 어느 하나를 이용하여 형성하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 유기 액티브층을 형성한 후에, 유기 액티브층을 포함한 기판 상에 드레인 전극을 노출시키는 개구부를 가진 보호막을 형성하는 단계와, 보호막 상에 형성되며, 개구부를 통해 상기 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 형성하는 단계를 추가하는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1a 내지 도 1f는 본 발명에 따른 박막 트랜지스터 제조 방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.
본 발명의 박막 트랜지스터 제조 방법은, 도 1a에 도시된 바와 같이, 먼저,절연 기판(1) 상에 스퍼터링법에 의해 제 1금속막(미도시)을 형성한 후, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 제 1금속막을 식각하여 게이트 전극(3)을 형성한다. 이때, 상기 절연 기판(1)은 플라스틱(plastic) 기판, 유리(glass) 기판 및 유연성있는(flexible) 기판 중 어느 하나를 이용한다.
이어, 도 1b에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 전극(3)을 포함한 기판 전면에 화학기상증착 공정에 의해 실리콘 산화막(미도시)을 형성한 후, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 실리콘 산화막을 식각하여 게이트 전극(3)을 덮는 게이트 절연막(5)을 형성한다. 이때, 상기 게이트 절연막(5)으로서 실리콘 산화막 대신에 실리콘 질화막 또는 유기 절연막을 사용할 수도 있다.
그런 다음, 게이트 절연막(5)을 포함한 기판 전면에 스퍼터링법에 의해 제 2금속막(미도시)을 형성한 후, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 제 2금속막을 식각하여 게이트 전극(3)을 덮되 게이트 전극의 중심과 대응된 부분을 노출시키는 소오스/드레인 전극(7)(9)을 형성한다.
이 후, 도 1c에 도시된 바와 같이, 소오스/드레인 전극(7)(9)을 포함한 기판 전면에 유기물질막(11)을 형성한다. 이때, 상기 유기물질막(9)은 스핀 코팅(spin coating) 및 진공증착(evaporation) 중 어느 하나의 방식에 의해 형성한다.
이어, 도 1d에 도시된 바와 같이, 상기 유기물질막(11)의 양단에 전계 인가를 위해 각각의 전극(13)을 형성한다. 그런 다음, DC 또는 AC의 파워 서플라이(power supply)를 이용하여 상기 전극(13)에 전계를 인가함으로서 유기물질막(11) 내의 유기 분자를 장범위로 정렬시킨다. 이때, 상기 전극(13)에 전계 인가 시, 전계의 방향에 따라 유기 분자의 극성은 영향을 받게 되므로 유기 분자들은 전계 방향에 평행하게 정렬된다. 또한, 유기 물질의 전계에 따른 배향 효과를 높이기 위해서, 상기 유기물질막(11)에 특정 물질을 혼합 또는 주입할 수도 있다.
이 후, 도 1e에 도시된 바와 같이, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 유기물질막을 식각하여 게이트 전극(3) 중심과 대응된 부분 및 소오스/드레인 전극(7)(9)의 양단을 덮는 유기 액티브층(12)을 형성한다.
이어, 도 1f에 도시된 바와 같이, 상기 결과물 전면에 보호막(15)을 형성한 후, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 보호막을 식각하여 드레인 전극(9)을 노출시키는 개구부(16)를 형성한다. 그런 다음, 상기 보호막(15) 전면에 투명도전막(미도시)을 형성한 후, 포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 투명도전막을 식각하여 개구부(16)를 덮는 화소 전극(17)을 형성한다.
본 발명에 따르면, 열처리방식이 아닌 전계 인가 방식에 의해 유기 액티브영역의 분자를 장범위로 정렬함으로써, 우수한 전기적 특성을 유지할 수 있다.
또한, 본 발명은 유기 박막 트랜지스터 제작 공정 이외에도 유기 또는 무기 전계발광 장치(EL)의 소자 제작 공정, 플라즈마 표시장치 및 기타 전기적 표시 장치에서의 소자 제작 공정, 또는 엑스레이 디텍터의 구동 소자 제작 공정에도 적용된다.
이상에서와 같이, 본 발명은 열처리방식이 아닌 전계 인가 방식에 의해 유기 액티브영역의 분자를 장범위로 정렬시킴으로써, 우수한 전기적 특성을 유지할 수있다.
따라서, 본 발명은 우수한 전기적 특성을 가진 유기 박막 트랜지스터를 제작함으로서, 고효율의 판넬을 생산할 수 있다. 또한, 공정 및 공정 시간을 단축함으로서 생산 수율 및 생산량을 증대시킬 수 있다.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.

Claims (6)

  1. 절연 기판 상에 게이트 전극 및 게이트 절연막을 차례로 형성하는 단계와,
    상기 기판 상에 상기 게이트 전극을 덮되, 상기 게이트 전극의 중심과 대응되는 부분을 노출시키는 소오스/드레인 전극을 형성하는 단계와,
    상기 결과물 전면에 유기물질막을 형성하는 단계와,
    상기 유기물질막의 양단에 각각의 전극을 형성하는 단계와,
    상기 전극에 전계를 인가하여 상기 유기물질막 내의 유기 분자를 정렬시키는 단계와,
    포토리쏘그라피 공정에 의해 상기 정렬된 유기물질막을 식각하여 유기 액티브층을 형성하는 단계를 포함한 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 절연 기판은 플라스틱 기판, 유리기판 및 유연성있는 기판 중 어느 하나를 이용하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 게이트 절연막은 실리콘 산화막, 실리콘 질화막 및 유기 절연막 중 어느 하나를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 유기물질막은 스핀 코팅 및 진공증착 중 어느 하나의방식에 의해 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 게이트 전극은 금속막 및 불순물이 도핑된 실리콘막 중 어느 하나를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 유기 액티브층을 형성한 후에,
    상기 유기 액티브층을 포함한 기판 상에 상기 드레인 전극을 노출시키는 개구부를 가진 보호막을 형성하는 단계와,
    상기 보호막 상에 형성되며, 상기 개구부를 통해 상기 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 형성하는 단계를 추가하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조 방법.
KR1020020045655A 2002-08-01 2002-08-01 박막 트랜지스터 제조 방법 KR100867477B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020045655A KR100867477B1 (ko) 2002-08-01 2002-08-01 박막 트랜지스터 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020045655A KR100867477B1 (ko) 2002-08-01 2002-08-01 박막 트랜지스터 제조 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040012212A true KR20040012212A (ko) 2004-02-11
KR100867477B1 KR100867477B1 (ko) 2008-11-10

Family

ID=37320219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020045655A KR100867477B1 (ko) 2002-08-01 2002-08-01 박막 트랜지스터 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100867477B1 (ko)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100675639B1 (ko) * 2004-08-30 2007-02-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기 박막트랜지스터 및 액정표시소자의 제조방법
US7485894B2 (en) 2005-10-20 2009-02-03 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor and flat panel display including the same
US7799597B2 (en) 2005-10-21 2010-09-21 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor, method of manufacturing the same and flat panel display having the thin film transistor
US7800102B2 (en) 2005-10-19 2010-09-21 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Organic thin film transistor including a self-assembly monolayer between an insulating layer and an organic semiconductor layer and flat panel display comprising the same
US8071422B2 (en) * 2005-12-20 2011-12-06 Lg Display Co., Ltd. Method of fabricating thin film transistor including organic semiconductor layer and substrate
US8227795B2 (en) 2005-11-10 2012-07-24 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Organic thin film transistor, flat panel display apparatus having the same, and a method of manufacturing organic thin film transistor

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100248392B1 (ko) * 1997-05-15 2000-09-01 정선종 유기물전계효과트랜지스터와결합된유기물능동구동전기발광소자및그소자의제작방법

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100675639B1 (ko) * 2004-08-30 2007-02-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기 박막트랜지스터 및 액정표시소자의 제조방법
US7800102B2 (en) 2005-10-19 2010-09-21 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Organic thin film transistor including a self-assembly monolayer between an insulating layer and an organic semiconductor layer and flat panel display comprising the same
US7485894B2 (en) 2005-10-20 2009-02-03 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor and flat panel display including the same
US7595504B2 (en) 2005-10-20 2009-09-29 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor and flat panel display including the same
US7799597B2 (en) 2005-10-21 2010-09-21 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor, method of manufacturing the same and flat panel display having the thin film transistor
US8207529B2 (en) 2005-10-21 2012-06-26 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor and flat panel display having the thin film transistor
US8227795B2 (en) 2005-11-10 2012-07-24 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Organic thin film transistor, flat panel display apparatus having the same, and a method of manufacturing organic thin film transistor
US8071422B2 (en) * 2005-12-20 2011-12-06 Lg Display Co., Ltd. Method of fabricating thin film transistor including organic semiconductor layer and substrate
KR101217662B1 (ko) * 2005-12-20 2013-01-02 엘지디스플레이 주식회사 유기 반도체 물질을 이용한 박막트랜지스터와 이를 구비한액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100867477B1 (ko) 2008-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9768323B2 (en) Manufacture method of dual gate oxide semiconductor TFT substrate and structure thereof
EP1629546B1 (en) A field effect transistor arrangement and method of manufacturing a field effect transistor arrangement
KR101510212B1 (ko) 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 제조방법
US9799677B2 (en) Structure of dual gate oxide semiconductor TFT substrate
KR20090098033A (ko) 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
US7241652B2 (en) Method for fabricating organic thin film transistor
KR102318054B1 (ko) Tft 기판 및 이의 제조 방법
JP2004274015A (ja) フォトレジスト層のマイクログルーブに従って配列された半導体層を含む有機装置
CN109166802A (zh) Ltps阵列基板及其制造方法、显示面板
WO2021003767A1 (zh) 薄膜晶体管基板的制作方法及薄膜晶体管基板
WO2015192397A1 (zh) 薄膜晶体管基板的制造方法
KR100867477B1 (ko) 박막 트랜지스터 제조 방법
JP4684543B2 (ja) 分子配列を有する有機半導体層の製造方法
KR100428002B1 (ko) 유기 고분자 게이트 절연막을 구비하는 유기 반도체트랜지스터의 제조 방법
WO2020118988A1 (zh) 显示面板及其制作方法
CN109148535A (zh) 阵列基板及其制造方法、显示面板
TWI726348B (zh) 半導體基板
Feng et al. Solution processed organic thin-film transistors with hybrid low/high voltage operation
KR100944808B1 (ko) 박막 트랜지스터 및 그의 제조방법
WO2018045612A1 (zh) 氧化物薄膜晶体管的制备方法
KR100982314B1 (ko) 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 그를 포함하는유기전계발광표시장치
KR100683800B1 (ko) 유기 발광 디스플레이 장치
JP4090531B2 (ja) 半導体装置およびその作製方法
KR100730186B1 (ko) 유기 박막 트랜지스터의 제조방법
KR20050027466A (ko) 블랙 매트릭스를 포함하는 박막 트랜지스터 및 이 박막트랜지스터에 사용되는 다결정 실리콘의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120906

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130911

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140919

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150918

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160920

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170921

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181001

Year of fee payment: 11