KR20030092796A - 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 - Google Patents

평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20030092796A
KR20030092796A KR1020020030621A KR20020030621A KR20030092796A KR 20030092796 A KR20030092796 A KR 20030092796A KR 1020020030621 A KR1020020030621 A KR 1020020030621A KR 20020030621 A KR20020030621 A KR 20020030621A KR 20030092796 A KR20030092796 A KR 20030092796A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
backward
holder
electrode
probe
supported
Prior art date
Application number
KR1020020030621A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100829739B1 (ko
Inventor
김관수
신광식
박구렬
Original Assignee
삼성에스디아이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성에스디아이 주식회사 filed Critical 삼성에스디아이 주식회사
Priority to KR1020020030621A priority Critical patent/KR100829739B1/ko
Publication of KR20030092796A publication Critical patent/KR20030092796A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100829739B1 publication Critical patent/KR100829739B1/ko

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D35/00—Filtering devices having features not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00, or for applications not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00; Auxiliary devices for filtration; Filter housing constructions
    • B01D35/14—Safety devices specially adapted for filtration; Devices for indicating clogging
    • B01D35/143—Filter condition indicators
    • B01D35/1435—Filter condition indicators with alarm means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D35/00—Filtering devices having features not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00, or for applications not specifically covered by groups B01D24/00 - B01D33/00; Auxiliary devices for filtration; Filter housing constructions
    • B01D35/30—Filter housing constructions
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D37/00—Processes of filtration
    • B01D37/04—Controlling the filtration
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21K—NON-ELECTRIC LIGHT SOURCES USING LUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING ELECTROCHEMILUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING CHARGES OF COMBUSTIBLE MATERIAL; LIGHT SOURCES USING SEMICONDUCTOR DEVICES AS LIGHT-GENERATING ELEMENTS; LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21K9/00—Light sources using semiconductor devices as light-generating elements, e.g. using light-emitting diodes [LED] or lasers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D2201/00—Details relating to filtering apparatus
    • B01D2201/30—Filter housing constructions
    • B01D2201/309—Housings with transparent parts

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

본 발명은, 평판표시소자의 전극들 간의 단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법을 제공하기 위하여,
두 개의 탐침, 이 탐침들을 지지하며 승강시킬 수 있는 홀더, 이 홀더를 지지하며 전후진시킬 수 있는 전후진 이동수단을 포함하는 도전성측정수단;
상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;
상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및
상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단; 을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치를 제공한다.

Description

평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 {A apparatus and a method for detecting shorted electrodes of a flat display device}
본 발명은 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법에 관한 것이며, 더 상세하게는 두 개의 탐침을 이용하여 평판표시소자의 전극 간의 단락유무를 검출하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.
도 1 에는 한국 공개특허공보 특2001-0087833호에 개시된 평판표시소자의 전극단락 검출장치가 도시되어 있다. 이 전극단락 검출장치는 소정의 길이를 갖는 탐침을 소정의 간격으로 수개 배열한 탐침어레이(2) 및 패턴신호발생기를 구비한다. 상기 전극단락 검출장치에 있어서는, 상기 탐침어레이(2)를 검사대상기판(1)에 가까이 위치시킨 후에 패턴신호발생기에 의하여 발생된 패턴신호를 상기 검사대상기판(1)에 전송하고, 이 때 터널링효과에 의한 상기 검사대상기판(1)의 전극과 상기 탐침어레이(2)의 탐침간의 전기적 전위차를 검출함으로서 각 전극들 간의 단락유무를 검출할 수 있다. 그러나 이와 같은 전극단락 검출장치는 터널링효과에 의하여 단락유무를 검출하기 때문에 직접적인 접촉에 의한 검출방식보다는 상대적으로 부정확한 검출결과가 도출될 수 있으며, 탐침어레이(2)에 배열된 탐침들 간의 간격이 고정되어 있어서 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여는 별도의 탐침어레이(2)를 준비해야 한다는 문제점이 있다.
도 2 에는 다른 종래의 전극단락 검출장치가 도시되어 있다. 이 전극단락 검출장치는 도전성고무(6)와 비도전성고무(7)가 교대로 결합된 지브라(5) 및 상기 지브라와 직접 접촉되는 일련의 전극(9)들을 구비한 PCB기판(8)을 포함한다. 이 전극단락 검출장치에 있어서는, 소정의 간격으로 도전성고무(6)가 배치된 지브라(5)를 평판표시소자(1)의 전극(4)들과 PCB기판(8)의 전극(9)들 사이에 넣고 이들을 직접 접촉시킨 후, 도전성 검사기(도시되지 않음)를 이용하여 상기 PCB기판의 전극(9)들 간의 도전성을 측정함으로써 상기 평판표시소자(1)의 전극(4)들의 도전성, 즉 단락유무를 검출한다. 그러나 이와 같은 전극단락 검출장치에 있어서는, 지브라(5)의 도전성고무(6)들의 간격이 평판표시소자(1)의 간격과 같거나 그보다 작아야 하고, PCB기판의 전극(9)들의 간격이 상기 지브라(5)의 도전성고무(6)들의 간격과 같거나 그보다 작아야 한다는 조건이 따르며, 상기와 같은 조건을 충족시키는 지브라(5) 및 PCB기판(8)을 제작하는 데에는 기술적 또는 경제적 한계가 있다는 문제점이 있다.
상기 문제를 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 평판표시소자의 전극들 간의단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법을 제공하는 데에 있다.
도 1 은 종래의 전극단락 검출장치를 도시하는 개략도이고,
도 2 는 다른 종래의 전극단락 검출장치를 도시하는 개략도이고,
도 3 은 본 발명에 따른 전극단락 검출장치의 외관을 도시하는 사시도이고,
도 4 는 도전성측정수단을 도시하는 사시도이고,
도 5 는 본 발명에 따른 전극단락 검출장치의 신호전달관계를 도시하는 블록도이고,
도 6 은 본 발명에 따른 전극단락 검출방법을 도시하는 블록도이고,
도 7 은 탐침들이 동일 전극에 접촉하도록 정렬된 상태를 도시하는 평면도이고,
도 8 은 탐침들이 서로 다른 전극들에 각각 접촉하도록 정렬된 상태를 도시하는 평면도이고,
도 9 는 본 발명에 의한 불량률의 감소를 도시하는 그래프이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
10: 평판표시소자30: 전후진 이동수단
40: 전후진부재50: 홀더지지부재
60: 홀더61: 홀더승강액튜에이터
71: 제 1 승강부재72: 제 2 승강부재
81: 제 1 전후진부재82: 제 2 전후진부재
91: 제 1 탐침92: 제 2 탐침
100: 화상포착수단110: 위치검출수단
120: 정보표시수단130: 작동지시수단
140: 도전성 측정수단
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은:
제 1 탐침, 제 2 탐침, 상기 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 지지하는 홀더, 상기 홀더를 승강시키는 홀더승강액튜에이터, 상기 홀더를 지지하는 전후진부재, 및 상기 전후진부재를 전후진시킬 수 있고 전후진부재의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는 전후진 이동수단을 구비하는 도전성측정수단;
상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;
상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및
상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단; 을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치를 제공한다.
상기 전후진 이동수단은: 상기 전후진부재를 안내하는 가이드 바아; 및 상기 가이드 바아를 따라서 전후진부재를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터; 를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 도전성측정수단은 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단을 더 포함하고, 상기 포착된 화상은 상기 정보표시수단에 의하여 표시되는 것이 바람직하다.
나아가, 상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며, 상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 2 전후진부재를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것이 바람직하다.
또한 상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것이 바람직하다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 평판표시소자의 전극단락 검출방법으로서, 본 발명은:
제 1 탐침및 제 2 탐침을 하나의 전극과 동시에 접촉하도록 배치하는 제 1 탐침배치단계, 및 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정하여 전극들의 위치를 검출하는 전극위치 검출단계, 및 검출된 전극의 위치에 관한 정보를 저장하는 전극위치 저장단계를 구비한 전극위치 측정단계; 및
제 1 탐침을 일 전극과 접촉하도록 배치하고 제 2 탐침을 타 전극과 접촉하도록 배치하는 제 2 탐침배치단계, 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정함으로써 얻어진 정보를 상기 전극들의 위치정보와 비교함으로써 단락된 전극의 위치를 검출하는 단락위치 검출단계, 및 상기와 같이 검출된 단락된 전극의 위치정보를 정보표시수단으로 표시하는 단락위치 표시단계를 구비한 단락위치 측정단계; 를 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출방법을 제공한다.
이어서, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
도 3 에는 본 발명에 따른 평판표시소자의 전극단락 검출장치의 외관이 도시되어 있으며, 이는 위치검출수단(110), 정보표시수단(120), 작동지시수단(130), 및 도전성측정수단(140)을 포함한다. 도 4 는 상기 도전성 측정수단(140)을 상세하게 도시하고 있고, 도 5 에 도시된 블록도는 전극단락 검출장치에 포함되는 각 구성요소의 연결관계를 도시하고 있다.
작업테이블(20)은 평판표시소자(10)를 고정시키는 기능을 하며, 평판표시소자(10)를 지지하는 편평한 면과 기준격자(21)를 포함하는 것이 일반적이다. 도 3 에는 상기 작업테이블(20)이 도전성측정수단(140)에 포함되는 것으로서 도시되었으나, 작업테이블(20)은 독립적으로 제작되어 사용될 수 있으며, 경우에 따라서는 평판표시소자(10)의 전극단락검출이 별도의 작업테이블(20)이 아닌 임의의 편평한 면 위에서 수행될 수도 있다.
제 1 탐침(91)은 평판표시소자(10)의 전극(11)과 직접 접촉하여 전극의 도전성을 측정하는 구성요소이다. 상기 제 1 탐침(91)의 단부가 전극(11)의 표면과 직접 접촉하면서 그 표면을 손상시키지 않도록 하기 위하여, 그 단부는 전극(11)의 폭보다 얇으면서도 다소 둥글게 형성되는 것이 바람직하다. 상기 제 1 탐침(91)은 제 1 탐침신호전송선(85)에 의하여 위치검출수단(110)과 전기적으로 연결된다.
제 1 전후진부재(81)는 상기 제 1 탐침(91)을 지지하면서 전후로 미세하게 전후진시키는 기능을 한다. 상기 제 1 탐침(91)은 제 1 탐침고정노브(89)에 의하여 제 1 전후진부재(81)에 고정된다. 상기 제 1 전후진부재(81)가 도전성 재료로서 형성되는 경우에는, 상기 제 1 탐침(91)과 제 1 전후진부재(81)를 절연시키기 위하여 이들 사이에 플라스틱과 같은 절연성재료로서 형성된 제 1 절연부재(87)을 개재시키는 것이 바람직하며, 상기 제 1 탐침고정노브(89)도 절연성 재료로 형성되는 것이 바람직하다. 상기 제 1 전후진부재(81)는 스크류가 형성된 제 1 전후진노브(83)를 회전시킴에 따라서 제 1 승강부재(71)에 대하여 전후진되는데, 필요에 따라서는 상기 제 1 전후진노브(83)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있고 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다.
제 1 승강부재(71)는 상기 제 1 전후진부재(81)을 지지하면서 상하로 미세하게 승강시키는 기능을 하며, 스크류가 형성된 제 1 승강노브(73)를 회전시킴에 따라서 홀더(60)에 대하여 승강된다. 필요에 따라서는 상기 제 1 승강노브(73)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있는데, 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다.
제 2 탐침(92), 제 2 탐침고정노브(90), 제 2 전후진부재(82), 제 2 절연부재(88), 제 2 탐침신호전송선(86), 제 2 전후진노브(84), 제 2 승강부재(72), 및 제 2 승강노브(74) 는, 상기 제 1 탐침(91), 제 1 탐침고정노브(89), 제 1 전후진부재(81), 제 1 절연부재(87), 제 1 탐침신호전송선(85), 제 1 전후진노브(83), 제 1 승강부재(71), 및 제 1 승강노브(73)와 동일한 구성 및 기능을 갖는다.
홀더(60)는, 제 1 승강부재(71) 및 제 2 승강부재(72)를 지지하는 승강부재지지부(64), 및 홀더지지부재(50)에 대하여 승강하는 것을 가이드하는 홀더승강가이드부재(63)를 포함한다. 도 4 에서는 상기 승강부재지지부(64)가 소정의 피치를 갖는 톱니열로서 도시되었으나 이에 한정되는 것은 아니다.
홀더승강액튜에이터(61)는 작동지시수단(130)의 제어를 받아서 홀더(60)를 홀더지지부재(50)에 대해 승강시키는 기능을 한다. 홀더승강액튜에이터(61)는 상기 승강부재들(71, 72)들보다 탐침들을 상하로 이동시킬 수 있는 폭이 크다. 비록 도 4 에서는 상기 홀더승강액튜에이터(61)가 홀더(60)에 장착된 것으로 도시되었으나 이에 한정되는 것은 아니고 홀더지지부재(50)에 장착될 수도 있다. 상기 홀더승강액튜에이터(61)는 홀더승강액튜에이터 구동케이블(62)에 의하여 작동지시수단(130)에 연결되고 이에 의하여 제어되는 것이 바람직하다.
홀더지지부재(50)는 상기 홀더(60)를 승강가능하게 지지하는 기능을 한다.
전후진부재(40)는 상기 홀더지지부재(50)를 좌우로 이동가능하게 지지하는 기능을 한다. 상기 홀더지지부재(50)는 스크류가 형성된 홀더지지부재 고정노브(51)를 회전시킴에 따라서 전후진부재(40)에 대하여 좌우로 이동된다. 필요에 따라서는 상기 홀더지지부재 고정노브(51)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있는데, 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다.
전후진 이동수단(30)은 상기 전후진부재(40)를 전후진시키기 위한 수단 및 전후진부재의 위치를 측정하기 위한 수단을 구비한다. 전후진부재(40)를 전후진시키기 위한 수단으로서는 상기 전후진부재(40)를 안내하는 가이드 바아(33), 및 상기 가이드 바아(33)를 따라서 전후진부재(40)를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터(31)를 포함하는데, 이 전후진 액튜에이터(31)는 도 4 에 도시된 바와 같이 스크류방식을 이용한 것일 수도 있고, 공압실린더나 유압실린더일 수도 있다. 상기 전후진 액튜에이터(31)는 전후진 액튜에이터 구동케이블(34)에 의하여 작동지시수단(130)에 연결되고 이에 의하여 제어되는 것이 바람직하다. 또한, 비록 도 4 에 도시되지는 아니하였으나 상기 전후진 이동수단(30)은 전후진부재(40)의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는데, 그 전후진부재 위치센서로는, 상기 스크류방식의 액튜에이터로서 사용되는 모터의 회전축에 일련의 슬릿을 구비한 원판을 고정시키고 그 슬릿 사이로 적외선을 투과시켜서 적외선의 깜빡거리는 횟수를 측정함으로써 위치를 측정하는 포토커플링방식의 위치센서나, 초음파를 상기 전후진부재(40)에 대하여 발진하고 초음파가 반향되어 되돌아오는 시간을 측정하여 거리를 측정하는 초음파 위치센서일 수도 있다. 상기 전후진 이동수단(30)은 작동지시수단(130)에 의하여 입력되는 제어명령에 따라서 작동될 수 있으며, 필요에 따라서는 전후진부재(40)을 이동시키는 거리나 속도 등을 제어하는 소정의 연산장치를 거쳐서 전후진 이동수단(30)에 연결될 수 있다. 또한 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보는 위치검출수단(110)으로 전송되고, 위치검출수단(110)은 이 정보를 이용하여 평판표시소자(10)의 특정 전극(11)들의 단락유무를 검출하기도 하며, 그 정보를 적절히 변형시켜서 사용자가 인식할 수 있도록 정보표시수단(120)으로 전송할 수도 있다. 상기 위치검출수단(110)은 상기 연산장치와 일체로 구성될 수도 있다.
상기 도전성측정수단(140)은 상기 탐침들(91, 92)의 화상을 포착하는 화상포착수단(100)을 더 포함할 수 있다. 상기 화상포착수단(100)은 포착한 화상을 다른 형태로 변환시키지 않고 그대로 전송하는 것일 수도 있고 포착한 화상을 디지털화된 코드의 형식 등으로 변환해서 전송하는 것일 수도 있다. 상기 포착된 화상은 화상전송케이블(101)을 통하여 전송되고 궁극적으로는 상기 정보표시수단(120)에 의하여 표시된다. 상기 화상포착수단(100)은 상기 탐침들(91, 92)과 함께 이동하는 것이 유리하므로, 도 4 에 도시된 바와 같이 상기 전후진부재(40)와 함께 이동하도록 지지되는 것이 바람직하다. 도 4 에서는, 화상포착수단 지지부재(43)가 화상포착수단 지지부재 수용부(41)에 수용되고, 화상포착수단 지지부재 고정노브(42)를 조임에 의하여 상기 화상포착수단 지지부재(43)를 전후진부재에 고정할 수 있으며, 화상포착수단(100)은 화상포착수단 고정노브(44)에 의하여 상기 화상포착수단 지지부재에 고정되는 것으로 도시되었으나, 화상포착수단(100)을 전후좌우로 이동시킬 필요가 없는 경우에는 이들 중의 일부 구성을 생략할 수도 있다. 또한 상기 화상포착수단 지지부재(43)는, 이를 수동으로 전후진시켜서 이를 적절한 위치에 배치시킨후에 상기 지지부재 고정노브(42)를 조임으로써 고정하고, 화상포착수단(100)을 화상포착수단 지지부재(43)에 대하여 좌우로 이동가능하게 고정시키는 화상포착수단 고정노브(44)도 수동으로 조작되는 것으로 도시되었으나, 이들의 구성이 이에 한정되는 것은 아니고 소정의 액튜에이터를 이용하여 이들을 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것도 가능하다. 상기 화상포착수단(100)은, 탐침들(91,92)의 단부를 평판표시소자의 전극(11)과 적절히 접촉시키기 위하여 탐침들(91,92)의 배치상태를 육안으로 인식할 때 필요한 것이나, 간격이 넓은 전극(11)의 전극단락유무를 검사하기 위하여 단부가 비교적 굵은 탐침들을 이용하는 경우에는 불필요할 수도 있다.
상기 위치검출수단(110)은 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보를 전송받고, 제 1 탐침신호전송선(85) 및 제 2 탐침신호전송선(86)에 의하여 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침과 각각 전기적으로 연결되어 이 탐침들간의 도전성을 측정할 수 있으므로, 평판표시소자(10)의 특정 전극(11)들간의 단락유무를 검출할 수 있다. 또한 상기 위치정보와 특정 전극(11)의 단락유무에 관한 정보를 적절히 변형시켜서 사용자가 인식할 수 있도록 정보표시수단(120)으로 전송할 수도 있다. 나아가 전후진부재(40)을 이동시키는 거리나 속도 등을 제어하는 소정의 연산장치가 있는 경우에는, 상기 위치검출수단(110)이 이 연산장치와 일체로 구성될 수도 있다.
상기 정보표시수단(120)은 CRT, LCD, PDP 등과 같이 시각적 인식을 가능하게 하는 수단을 통칭한다. 상기 도전성측정수단(140)이 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단을 포함하는 경우에는 그 포착된 화상을 상기 정보표시수단(120)에의하여 표시할 수 있다. 사용자는 표시된 화상을 보면서 상기 탐침들(91, 92)을 배치할 수 있다. 또한 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보가 상기 정보표시수단(120)에 표시될 수도 있다. 나아가 상기 정보표시수단(120)은, 동일한 전극(11)에 접촉되도록 배치된 탐침들(91, 92)에 의한 도전성 측정 결과를 이용하여 얻어진 정보, 예를 들면 각 전극(11)의 위치, 간격, 폭 등을 표시할 수도 있으며, 서로 다른 전극에 접촉되도록 배치된 탐침들(91, 92)에 의한 도전성 측정 결과로부터 얻어진 단락유무에 관한 정보도 표시할 수 있다.
상기 작동지시수단(130)은 키보드의 형태를 갖춘 것이 통상적으로 사용되나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 전후진 이동수단(30)과 홀더승강액튜에이터(61)는 사용자가 작동지시수단(130)을 이용하여 입력하는 제어명령에 따라서 작동되며, 전술된 바와 같이 필요에 따라서 장착될 수 있는 각종의 액튜에이터들도 상기 작동지시수단(130)을 이용하여 입력되는 제어명령에 따라서 작동될 수 있다.
이하에서는 도 6을 참조하여 평판표시소자(10)의 전극단락 검출방법에 대하여 설명한다.
전극단락 검출방법은 크게 초기화단계, 평판표시소자 투입단계, 전극부 위치설정단계, 전극위치 측정단계, 단락위치 측정단계 및 다른 평판표시소자의 전극단락을 검출하기 위한 후속단계들을 포함한다.
상기 초기화단계는 전극단락 검출장치를 미리 설정된 초기상태로 설정하는 단계인데, 구체적으로는 도전성 측정수단(140)에 포함되는 전후진부재(40),홀더(60), 그밖의 액튜에이터들을 각각 소정의 초기위치로 이동시키는 단계이다. 초기화단계는 위치검출수단(110), 및 정보표시수단(120) 각각이 보유하고 있는 정보를 소정의 상태로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 평판표시소자 투입단계는 측정의 대상이 되는 평판표시소자(10)를 작업테이블(20)에 배치하는 단계이다. 정확한 측정을 위하여는 상기 평판표시소자(10)를 정확한 위치에 고정하여야 하는데, 도 4 에 도시된 기준격자(21)에 밀착시킴으로서 정확하게 위치시키는 것이 가능하다.
상기 전극부 위치설정단계는 평판표시소자(10) 중에 전극(11)들이 배열된 부분인 전극부 위에 상기 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침(92)을 위치시키는 단계이다. 구체적으로는 상기 전극배열의 일단에 위치한 일 전극 위에 상기 탐침들(91,92)을 배치되도록, 상기 전후진부재(40) 및 홀더(60)를 이동시키는 단계이다.
상기 전극위치 측정단계는 제 1 탐침배치단계, 전극위치 검출단계, 및 전극위치 저장단계를 포함한다. 제 1 탐침배치단계는 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침(92)을 하나의 전극(11)과 동시에 접촉하도록 배치하는 단계인데, 도 4 에 도시된 승강노브들(73, 74) 및 전후진노브들(83, 84)을 미세하게 조정하여 탐침들(91, 92)이 도 7 에 도시된 바와 같이 일 전극과 접촉하도록 배치한다. 전극위치 검출단계는 상기와 같이 배치된 탐침들(91, 92)이 일련의 전극(11)들과 연속적으로 접촉하도록 이동시키는 단계이다. 이와 같이 탐침들(91, 92)을 이동시키면서 도전성을 측정하고 이와 동시에 위치검출수단(110)에 의하여 탐침들(91, 92)의 위치를 측정하면, 이들 탐침들이 전극(11)과 접촉하는 것이 감지되므로 각 전극(11)의 위치, 폭, 간격 등을 알 수 있다. 이와 같이 전극(11)의 위치을 검출하는 것이 종료된 후에는, 홀더(60)을 상승시켜서 상기 탐침들(91, 92)을 평판표시소자(10)로부터 이격시킨 후에, 전후진 이동수단(30)을 구동하여 상기 탐침들을 제 1 탐침배치단계가 종료되었을 때의 위치로 이동시킨다. 전극위치 저장단계에서는 상기와 같이 얻어진 전극(11)에 관한 정보를 위치검출수단(110)에 포함되는 정보저장수단에 저장시킨다. 필요에 따라서는 이 정보를 정보표시수단(120)으로 전송하여 사용자로 하여금 인식할 수 있도록 한다.
상기 단락위치 측정단계는 제 2 탐침배치단계, 단락위치 검출단계, 및 단락위치 표시단계를 포함한다. 상기 제 2 탐침배치단계에서는 승강노브들(73, 74)을 이용하여 상기 탐침들(91, 92)을 미세하게 상승시키고, 제 1 탐침(91) 과 제 2 탐침(92)을 전후진노브들(83, 84)을 이용하여 도 8 에 도시된 바와 같이 서로 인접한 다른 전극들 위에 각각 배치시킨 후, 다시 승강노브들(73, 74)을 이용하여 상기 탐침들을 하강시켜서 각각의 탐침들이 서로 인접한 전극(11)들에 각각 접촉하도록 한다. 단락위치 검출단계에서는, 상기 전후진부재를 이동시켜서 상기 탐침들 (91, 92) 이 일련의 전극(11)들과 연속적으로 접촉하도록 하고, 이와 동시에 위치검출수단(110)은 상기 탐침들(91, 92)간의 도전성을 측정하며, 이렇게 측정되는 도전성에 관한 정보를 상기 전극위치 검출단계에 의하여 저장된 전극(11)들에 관한 정보와 비교함으로써 단락된 전극(11)의 위치를 검출한다. 이와 같이 전극(11)의 단락을 검출하는 것이 종료된 후에는, 홀더(60)을 상승시켜서 상기 탐침들을 평판표시소자(10)로부터 이격시킨 후에, 전후진 이동수단(30)을 구동하여 탐침들을제 2 탐침배치단계가 종료되었을 때의 위치로 이동시킨다. 단락위치 표시단계에서는 상기와 같이 검출된 단락된 전극(11)의 위치를 정보표시수단(120)으로 전송하여 표시함으로써 사용자가 시각적으로 인식할 수 있도록 한다.
상기와 같이 일 평판표시소자의 전극(11)들에 관한 단락검출이 종료되면 다른 평판표시소자에 대한 전극단락검출을 계속할 것인가를 결정하는데, 계속하지 않는다면 그것으로서 평판표시소자의 전극단락 검출방법은 종료되며, 계속한다면 평판표시소자를 교체하고 전극단락의 검출을 계속한다. 전극단락의 검출을 계속하는 경우에, 교체된 평판표시소자가 동일하지 않은 것이라면 상기 전극부 위치설정단계부터 진행되어야 하고, 동일한 것이라면 전극부의 위치는 물론 각 전극들의 위치 등에 관한 정보도 이전의 평판표시소자와 동일하므로 단락위치 측정단계부터 진행한다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
두 개의 탐침을 이용하여 이들간의 도전성을 측정하는 장치 및 방법이 제공된 바, 이로서 평판표시소자의 전극들 간의 단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법이 제공된다.

Claims (8)

  1. 제 1 탐침, 제 2 탐침, 상기 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 지지하는 홀더, 상기 홀더를 승강시키는 홀더승강액튜에이터, 상기 홀더를 지지하는 전후진부재, 및 상기 전후진부재를 전후진시킬 수 있고 전후진부재의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는 전후진 이동수단을 구비하는 도전성측정수단;
    상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;
    상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및
    상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단; 을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 전후진 이동수단은: 상기 전후진부재를 안내하는 가이드 바아; 및 상기 가이드 바아를 따라서 전후진부재를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 도전성측정수단은 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단을 더 포함하고, 상기 포착된 화상은 상기 정보표시수단에 의하여 표시되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재; 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며,
    상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재; 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 2 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재; 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며,
    상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재; 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 2 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  7. 제 3 항에 있어서,
    상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.
  8. 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 하나의 전극과 동시에 접촉하도록 배치하는 제 1 탐침배치단계, 및 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정하여 전극들의 위치를 검출하는 전극위치 검출단계, 및 검출된 전극의 위치에 관한 정보를 저장하는 전극위치 저장단계를 구비한 전극위치 측정단계; 및
    제 1 탐침을 일 전극과 접촉하도록 배치하고 제 2 탐침을 타 전극과 접촉하도록 배치하는 제 2 탐침배치단계, 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정함으로써 얻어진 정보를 상기 전극들의 위치정보와 비교함으로써 단락된 전극의 위치를 검출하는 단락위치 검출단계, 및 상기와 같이 검출된 단락된 전극의 위치정보를 정보표시수단으로 표시하는 단락위치 표시단계를 구비한 단락위치 측정단계; 를 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출방법.
KR1020020030621A 2002-05-31 2002-05-31 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 KR100829739B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020030621A KR100829739B1 (ko) 2002-05-31 2002-05-31 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020030621A KR100829739B1 (ko) 2002-05-31 2002-05-31 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030092796A true KR20030092796A (ko) 2003-12-06
KR100829739B1 KR100829739B1 (ko) 2008-05-16

Family

ID=32385342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020030621A KR100829739B1 (ko) 2002-05-31 2002-05-31 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100829739B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100844537B1 (ko) * 2006-01-26 2008-07-08 엘지전자 주식회사 평판표시소자용 전극 라인의 결함검출용 장치 및 방법
CN106841990A (zh) * 2017-02-16 2017-06-13 京东方科技集团股份有限公司 显示屏检测装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940015570A (ko) * 1992-12-30 1994-07-21 이헌조 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치
KR100207737B1 (ko) * 1996-07-18 1999-07-15 윤종용 인쇄회로기판의통전검사용탐침장치
JPH1078469A (ja) * 1996-09-03 1998-03-24 Opt Syst:Kk 液晶基板のなぞり検査装置
KR100395812B1 (ko) * 1999-07-27 2003-08-27 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100844537B1 (ko) * 2006-01-26 2008-07-08 엘지전자 주식회사 평판표시소자용 전극 라인의 결함검출용 장치 및 방법
CN106841990A (zh) * 2017-02-16 2017-06-13 京东方科技集团股份有限公司 显示屏检测装置
CN106841990B (zh) * 2017-02-16 2019-06-11 京东方科技集团股份有限公司 显示屏检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100829739B1 (ko) 2008-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI401452B (zh) Circuit pattern inspection device and inspection method
JP2005532535A (ja) 回路基板を試験するための装置と方法およびこの装置と方法のためのテストプローブ
TWI474012B (zh) 導電圖案檢查裝置及檢查方法
CN107677953B (zh) 一种探针系统及其控制方法、点灯机
US20170074940A1 (en) Light-on module testing device, method for testing light-on module and method for testing display panel
KR101919808B1 (ko) 열화상 감지 유닛이 구비된 디스플레이패널의 다중 검사장치
US6995566B2 (en) Circuit pattern inspection apparatus, circuit pattern inspection method, and recording medium
CN105910553A (zh) 一种检测平面的检测仪及其检测方法
KR101767110B1 (ko) 돔 스위치 하중 검사기
KR100829739B1 (ko) 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법
TW200419168A (en) Circuit pattern inspection device and pattern inspection method
JP2670655B2 (ja) 回路パターン検査装置及び検査方法
JP5752001B2 (ja) タッチパネル検査装置
KR101977305B1 (ko) 셀 얼라인을 통한 디스플레이 패널의 열화상 검사장치
JPH08327658A (ja) 基板検査装置
JP3285499B2 (ja) 導通検査装置及びその検査方法及びその検査プローブ
CN213238788U (zh) 一种非接触式测量弧面壁厚装置
JP3820754B2 (ja) 液晶パネル評価装置
US9118331B2 (en) Contact state detection apparatus
JPH1154573A (ja) クリーニング機能付きプローブカード検査装置
JP2002310933A (ja) 回路基板の検査装置および検査方法ならびに電気光学素子
JP4150296B2 (ja) 基板検査装置
CN216621051U (zh) 一种半自动高度、平面度、平行度检测设备
JPH0349436B2 (ko)
JP2006170960A (ja) 端子の平坦度測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130430

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140430

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150430

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee