KR940015570A - 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치에 관한 것으로, 특히 검사공정과 검사시간 및 검사인원을 축소하고 검사시 전극패턴에 이물, 불순물이 혼입되는 것을 방지하여 검사의 신뢰도를 향상시킬 수 있게 한 것이다.
일반적으로 유리판의 전극패턴을 탐침으로 검사하여 쇼트 및 오픈 유무를 검출 모니터에 표시케 하는데 이러한 검사장치는 통상 별도로 구비되어 있어 검사공정과 시간 및 검사작업 인원이 증가하는 것이고, 유리판의 운반에 따라 그 전극패턴에 이물질등이 혼입되어 검사의 신뢰도를 저하시키는 것이었다.
본 발명은 박리공정 직후의 통과라인에 센서가 설치된 감지부와, 탐침이 연결된 지지대와 함께 모니터가 설치된 검사부와, 검사완료된 유리판을 이송시키는 반출부로 구성한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 검사장치의 평면도, 제5도는 본 발명 검사장치의 측면도.
Claims (3)
- 박리공정 직후의 통과라인(12)상에 유리판(2)이 감지되는 감지부(20)와, 유리판(2)에 형성된 전극패턴(3)이 검사되는 검사부(21)와, 검사완료된 유리판(2)을 언로더부에 이송케 하는 반출부(22)로 구성된 것을 특징으로 하는 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 감지부(20)에는 감지센서(23)가 설치되어 유리판(2)이 감지되는 것을 특징으로 하는 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 전극패턴(3)에 접촉, 쇼트 및 오픈 유무를 검출하여 모니터(11)에 신호를 인가시키는 탐침(10)을 지지대(24)에 연결하고 지지(24)는 검사부(21)에서 상, 하 운동 가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019920026575A KR940015570A (ko) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019920026575A KR940015570A (ko) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR940015570A true KR940015570A (ko) | 1994-07-21 |
Family
ID=67214845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019920026575A KR940015570A (ko) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 액정 표시소자의 전극패턴 검사장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR940015570A (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980020101A (ko) * | 1996-09-05 | 1998-06-25 | 손욱 | 액정표시소자의 ito 박막 패턴의 단락 및 오픈 검사방법 |
| KR100829739B1 (ko) * | 2002-05-31 | 2008-05-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 |
-
1992
- 1992-12-30 KR KR1019920026575A patent/KR940015570A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980020101A (ko) * | 1996-09-05 | 1998-06-25 | 손욱 | 액정표시소자의 ito 박막 패턴의 단락 및 오픈 검사방법 |
| KR100829739B1 (ko) * | 2002-05-31 | 2008-05-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| WITN | Withdrawal due to no request for examination |