KR20030092093A - 기상성장장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 내부에 기판이 배치되는 반응용기와,상기 반응용기내에서 개구하는 가스분출구가 형성된 제 1 가스도입관을 가지며, 유기금속함유가스로 이루어진 제 1 가스를 상기 반응용기내에 공급하기 위한 제 1 가스도입부와,상기 반응용기내에서 개구하는 가스분출구가 형성된 제 2 가스도입관을 가지며, 상기 유기금속함유가스와 반응하는 동시에 상기 유기금속함유가스보다도 밀도가 작은 제 2 가스를 상기 반응용기내에 공급하기 위한 제 2 가스도입부를 구비하고,제 1 가스도입관의 가스분출구와 제 2 가스도입관의 가스분출구는, 상기 반응용기내에 배치되는 기판의 바깥둘레를 따라 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구로부터 상기 반응용기내에 도입되는 제 1 가스는, 제 2 가스도입관의 가스분출구로부터 상기 반응용기내에 도입되는 제 2 가스의 흐름의 영향을 받아, 상기 기판의 면을 따라 확산하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구는, 상기 기판의 면에 평행한 방향으로 개구하는 슬릿형상 관통구멍에 의해서 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 3 항에 있어서, 상기 슬릿형상관통구멍은, 제 1 가스도입관에 대한 개방각이 30도 내지 160도인 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구는, 상기 기판의 면에 평행한 방향으로 개구하는 복수의 슬릿형상부분에 의해서 형성되며, 인접한 슬릿형상부분의 사이에는, 중간벽부분이 존재하고 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 내지 제 5 항중의 어느 한 항에 있어서, 제 2 가스도입관의 가스분출구는, 원형상 관통구멍에 의해서 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 내지 제 6 항중의 어느 한 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구의 정면방향과 제 2 가스도입관의 가스분출구의 정면방향은, 상기 반응용기내에 배치되는 기판의 중심을 향하고 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 7 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구 및 제 2 가스도입관의 가스분출구의 각 정면방향이 이루는 각도는 45도 이하인 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 내지 제 8 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 반응용기의 내부에는, 복수의 기판이 상하방향에 간격을 두고 배치되도록 되어 있고,제 1 가스도입관의 가스분출구는 각 기판의 높이에 대응하여 복수개 형성되어 있으며,제 2 가스도입관의 가스분출구도 각 기판의 높이에 대응하여 복수가 설치된 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 제 1 항 내지 제 9 항중의 어느 한 항에 있어서, 제 1 가스 및 제 2 가스는,(1) Sr〔[(CH3)3CCO]2CH〕2가스 및 O2가스(2) Ti(OC3H7-i)2〔[(CH3)3CCO]2CH〕2가스 및 O2가스(3) TiCl4가스 및 NH3가스(4) Zr〔OC(CH3)3〕4가스 및 O2가스(5) Ta(OC2H5)5가스 및 O2가스중의 어느 하나인 것을 특징으로 하는 기상성장장치.
- 내부에 기판이 배치되는 반응용기와,상기 반응용기내에서 개구하는 가스분출구가 형성된 제 1 가스도입관을 가지며, 유기금속함유가스로 이루어진 제 1 가스를 상기 반응용기내에 공급하기 위한 제 1 가스도입부와,상기 반응용기내에서 개구하는 가스분출구가 형성된 제 2 가스도입관을 가지며, 상기 유기금속함유가스와 반응하는 동시에 상기 유기금속함유가스보다도 밀도가 작은 제 2 가스를 상기 반응용기내에 공급하기 위한 제 2 가스도입부를 구비하고,제 1 가스도입관의 가스분출구와 제 2 가스도입관의 가스분출구는, 상기 반응용기내에 배치되는 기판의 바깥둘레를 따라 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 기상성장장치를 사용하여, 기판의 표면에 기상성장막을 형성하는 방법으로서,제 1 가스도입관의 가스분출구로부터 제 1 가스를 상기 반응용기내에 공급하는 공정과,제 2 가스도입관의 가스분출구로부터 제 2 가스를 상기 반응용기내에 공급하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 11 항에 있어서, 제 1 가스도입관의 가스분출구로부터 제 1 가스를 상기 반응용기내에 공급하는 공정과, 제 2 가스도입관의 가스분출구로부터 제 2 가스를 상기 반응용기내에 공급하는 공정은 동시에 실시되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서, 제 1 가스 및 제 2 가스는,(1) Sr〔[(CH3)3CCO]2CH〕2가스 및 O2가스(2) Ti(OC3H7-i)2〔[(CH3)3CCO]2CH〕2가스 및 O2가스(3) TiCl4가스 및 NH3가스(4) Zr〔OC(CH3)3〕4가스 및 O2가스(5) Ta(OC2H5)5가스 및 O2가스중의 어느 하나인 것을 특징으로 하는 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2001-00128068 | 2001-04-25 | ||
JP2001128068A JP3980840B2 (ja) | 2001-04-25 | 2001-04-25 | 気相成長装置および気相成長膜形成方法 |
PCT/JP2002/002378 WO2002091448A1 (fr) | 2001-04-25 | 2002-03-13 | Dispositif de croissance a phase gazeuse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030092093A true KR20030092093A (ko) | 2003-12-03 |
KR100853886B1 KR100853886B1 (ko) | 2008-08-25 |
Family
ID=18976828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020037013793A KR100853886B1 (ko) | 2001-04-25 | 2002-03-13 | 기상성장장치 및 이를 이용한 기상성장막 형성방법 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20030186560A1 (ko) |
EP (1) | EP1383160B1 (ko) |
JP (1) | JP3980840B2 (ko) |
KR (1) | KR100853886B1 (ko) |
CN (1) | CN100399517C (ko) |
DE (1) | DE60232143D1 (ko) |
WO (1) | WO2002091448A1 (ko) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2001277755A1 (en) * | 2000-08-11 | 2002-02-25 | Tokyo Electron Limited | Device and method for processing substrate |
JP2004296659A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 |
US8460945B2 (en) | 2003-09-30 | 2013-06-11 | Tokyo Electron Limited | Method for monitoring status of system components |
KR100636037B1 (ko) * | 2004-11-19 | 2006-10-18 | 삼성전자주식회사 | 티타늄 질화막 형성 방법 및 이를 수행하기 위한 장치 |
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KR100693890B1 (ko) * | 2005-04-21 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 반응 장벽막을 갖는 반도체 장치의 제조 방법 |
KR20120038632A (ko) | 2010-10-14 | 2012-04-24 | 삼성전자주식회사 | 태양 전지의 제조 방법 |
JP5702657B2 (ja) * | 2011-04-18 | 2015-04-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置 |
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JP6113626B2 (ja) * | 2013-10-21 | 2017-04-12 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP6435967B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2018-12-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
JP6578243B2 (ja) * | 2015-07-17 | 2019-09-18 | 株式会社Kokusai Electric | ガス供給ノズル、基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム |
CN106356289B (zh) * | 2015-07-17 | 2020-03-03 | 株式会社国际电气 | 气体供给喷嘴、衬底处理装置及半导体器件的制造方法 |
JP6441494B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2018-12-19 | 株式会社Kokusai Electric | 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム |
JP6462161B2 (ja) * | 2016-02-09 | 2019-01-30 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 |
JP6710149B2 (ja) * | 2016-11-21 | 2020-06-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
JP6924614B2 (ja) * | 2017-05-18 | 2021-08-25 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
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-
2001
- 2001-04-25 JP JP2001128068A patent/JP3980840B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-03-13 US US10/381,908 patent/US20030186560A1/en not_active Abandoned
- 2002-03-13 KR KR1020037013793A patent/KR100853886B1/ko active IP Right Grant
- 2002-03-13 EP EP02705147A patent/EP1383160B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-03-13 WO PCT/JP2002/002378 patent/WO2002091448A1/ja active Application Filing
- 2002-03-13 CN CNB028087976A patent/CN100399517C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-03-13 DE DE60232143T patent/DE60232143D1/de not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-04-20 US US11/407,354 patent/US7651733B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030186560A1 (en) | 2003-10-02 |
KR100853886B1 (ko) | 2008-08-25 |
US20060257568A1 (en) | 2006-11-16 |
WO2002091448A1 (fr) | 2002-11-14 |
EP1383160A4 (en) | 2005-11-16 |
EP1383160B1 (en) | 2009-04-29 |
CN100399517C (zh) | 2008-07-02 |
JP3980840B2 (ja) | 2007-09-26 |
EP1383160A1 (en) | 2004-01-21 |
DE60232143D1 (de) | 2009-06-10 |
JP2002324788A (ja) | 2002-11-08 |
CN1526160A (zh) | 2004-09-01 |
US7651733B2 (en) | 2010-01-26 |
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A201 | Request for examination | ||
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GRNT | Written decision to grant | ||
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