KR20030073126A - 칩콘덴서 검사방법 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 칩콘덴서 검사방법에 있어서,상기 칩콘덴서들 중에서 임의의 칩콘덴서들을 무작위로 선정하고, 그 선정된 칩콘덴들을 전기적으로 서로 연결되도록 패턴이 병렬로 형성되어 있는 기판에 상기 칩콘덴서를 실장하는 단계;상기 칩콘덴서들이 실장된 기판을 챔퍼에서 습도, 온도, 전압을 가하여 상기 기판에 실장되어 있는 칩콘덴서들을 1차적으로 측정하는 단계;상기 기판에 병렬로 형성되어 있는 패턴을 커팅하여 그 기판에 실장되어 있는 칩콘덴서들이 서로 전기적으로 분리되도록 하는 패턴 커팅단계; 및상기 기판에 실장되어 있는 칩콘덴서들을 각각 측정하여 그 칩콘덴서들이 지니고 있는 저항값을 측정하고, 그 측정된 저항값을 기준치의 값과 비교하여 칩콘덴서의 불량유무를 판별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩콘덴서 검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 칩콘덴서들의 저항값 측정은 상기 기판에 실장된 칩콘덴서들에 대응하도록 측정핀들을 설치하여 그 기판에 실장된 칩콘덴서를 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는 칩콘덴서 검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 칩콘덴서들의 저항값 측정은 상기 기판에 실장된 칩콘덴서들의 사이에 배열되도록 측정핀들을 설치하여 상기 기판을 한 피치 이동시키는 것에 의해 그 기판에 실장된 칩콘덴서를 교대로 측정하는 것을 특징으로 하는 칩콘덴서 검사방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 패턴 커팅단계는 소정의 간격으로 배열되도록 설치되어 고속 회전하는 커터날의 저면으로 상기 기판을 이송시키는 것에 의해 패턴이 커팅 되도록 한 것을 특징으로 하는 칩콘덴서 검사방법.
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