KR20030003125A - 에스엠디, 비지에이 및 시에스피용 테스트 처리 장치 - Google Patents

Abstract

패키지 처리의 개선은 고정 메카니즘 설계를 개조함에 의해 달성된다. 본 발명은 테스트를 목적으로 하는 복수의 단일 또는 스트립형 패키지를 내장할 수 있는 유니버설 캐리어를 포함한다.

본 발명의 목적은 단일 또는 스트립형 패키지를 테스트하는 멀티플 매트릭스 유닛을 가진 처리 장비의 처리량을 향상시키는 것이다.

본 발명에 따르면, SMD, BGA 및 CSP 패키지의 테스트용 처리 장치는:

입력 이송 수단;

고온/분위기 챔버;

캐리어 운송 수단;

유니버설 캐리어 메카니즘;

유니버설 매트릭스 테스트-사이트 콘택트 어셈블리;

그룹화된 매트릭스 단일 테스트;

매트릭스 스트립 패키지 테스트;

출력 이송 수단을 포함한다.

Description

에스엠디, 비지에이 및 시에스피 패키지의 개선된 테스트 방법{IMPROVEMENT IN TESTING METHODOLOGY FOR SMD BGA AND CSP PACKAGES}

본 발명은 표면실장장치(SMD), 볼 그리드 어레이(BGA), 및 칩 사이즈 패키지(CSP)의 개선된 테스트 방법에 관한 것이다.

집적 회로 응용을 위한 광범위한 패키지가 개발되어 있다. 이들 패키지는 표면실장장치(SMD), 볼 그리드 어레이(BGA) 및 칩 사이즈 패키지(CSP) 등을 예로 들 수 있다. 이들 패키지가 제조 또는 밀봉된 후, 그의 파라미터는 기술 사양 및 고객요구 조건에 대해서 비교될 필요가 있다. 상업적으로 유용한 테스트 시스템으로는 제한적인 플렉시빌리티 및 용량을 가진 독립형 또는 자동화된 처리 시스템으로 분류될 수 있다.

테스트 시의 중요한 쟁점은 생산성 증대 방법, 리드/볼 손상 방지 방법, 및 패키지 변화의 결과로서 작동 및 정비와 부합되는 방법을 포함한다.

상기 패키지를 규격화된 치수로 캐리어상에 배치함에 의해 상기 패키지를 처리 장비에 단일적으로 또는 스트립 상태로 수용되게 할 수 있다. 상기 처리 장비는 패키지를 테스트용 테스터로 인도한다.

종래 기술의 테스트에서는 입력 이송, 고온/분위기 챔버, 패키지 운송, 테스트 및 출력 이송 단계를 포함한다. 상기 입력 이송은 인라인 시스템에 접속될 때 전 동작으로부터 직접 로딩되거나 또는 독립적으로 동작될 때 적층된 트레이로부터의 로딩을 포함한다.

패키지 처리의 개선은 고정 메카니즘 설계를 개조함에 의해 달성된다. 본 발명은 테스트 목적으로 복수의 단일 또는 스트립형 패키지를 내장할 수 있는 유니버설 캐리어를 포함한다.

본 발명의 목적은 단일 또는 스트립형을 테스트하는 멀티플 매트릭스 유닛을 가진 처리 장비의 처리량을 향상시키는 것이다.

본 발명에 따르면, SMD, BGA 및 CSP 패키지의 테스트 방법용 처리 장치는:

입력 이송 수단;

고온/분위기 챔버;

캐리어 운송 수단;

유니버설 캐리어 메카니즘;

유니버설 매트릭스 테스트-사이트 콘택트 어셈블리;

일 그룹화된 매트릭스 단일 테스트;

매트릭스 스트립 패키지 테스트;

출력 이송 수단을 포함한다.

도1은, 본 발명의 실시예의 따른 사시도를 나타낸다.

도2는, 패키지 입력 트랜스퍼의 사시도를 나타낸다.

도3은, 보트 레이아웃을 나타낸다.

도4는, 케리어 운송을 나타낸 사시도이다.

도5는, 케리어 안의 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹을 도시한다.

도6은, 케리어 안의 스트립 패키지를 도시한다.

도7은, 테스트 중인 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹을 도시한다.

도2를 참조하여 설명하면, 이송 메카니즘에 의해 이전의 작업에서 처리된 매트릭스 단일화 패키지 중에서 일 그룹을 추출할 수 있다. 본 발명에 의하면, 다른 질량을 갖는 패키지를 위한 핸들러의 설계를 가능하게 한다. 추출된 패키지는, 이송 도중 패키지의 존재를 감지하는 개별 센서를 구비하는 진공 시스템에 의해 일정 위치에 고정된다. 이들 패키지는 고온/분위기 챔버의 케리어 보트에 놓이게 된다. 바람직하게, 케리어 네스트는 매트릭스 단일화 또는 도3과 같은 방법으로 레이아웃된다. 피치의 수는 스트립이 완료될 때까지 1에서 12까지 설계할 수 있다. 상기 케리어 보트의 하측은, 가열수단에 의해 소정 온도로 상승하게 된다. 상기 고온 챔버의 내부에서, 각 패키지는 특정 시간 동안, 바람직하게는 2분간 동안 유지된다. 상기 시간이 경과 후, 케리어 또는 분위기 안의 케리어 보트는, 입력 리프터에 의해 상측부로 이송된다.

다음, 리프터 수단에 의해 위로 이송된 케리어 보트는(도4), 로딩입구로 수평하게 이송되도록 지시된다.

테스트 헤드가 이송트랙 위로 고정위치되는 테스트 위치에, 패키지가 담겨있는 캐리어 보트는 테스트 헤드의 콘택트 블럭 방향으로 이동하게 된다. 케리어가 테스트 헤드, 정확히 아래에 위치되는 것을 보증하기 위해, 케리어 보트를 인터록킹 메카니즘으로 설계한다.

케리어를 진입시킨 후, 요구되는 테스트 사양에 따라, 패키지를 전기적으로 테스트한다(도7). 형성된 리드 표면상에 테스트 핑거나 핀을 통한 패키지의 테스트는 패키지에서 리드의 끝단까지 연장된다. 패키지의 상의 접속 테스트는 단독이나 켈빈 수단으로도 가능하다.

테스트 결과는 취급하고 있는 장비로 전달되며, 또한, 그 상태가 메모리에 기억된다. 테스트가 완료된 후, 케리어 보트는, 리프터 메카니즘에 의해 아래로 이송되고, 테스트를 위해 패키지의 다음 그룹을 제공하기 위해 1피치를 지시한다. 그 후, 리프터는, 테스트를 실행하는 콘택트 핑거나 핀과 패키지를 접촉하기 위해 케리어 보트를 위로 이송시킨다. 매트릭스 단일화 패키지의 모든 테스트를 완료할 때까지, 상기 프로세서는 반복된다. 처리를 대기하는 다른 패키지를 갖는 케리어는 이송 매카니즘에 의해 테스트 위치 앞에서 버퍼되어 위치하게 된다.

테스트 위치에서는, 케리어 안의 패키지가 테스트를 완료하자 마자, 처리가 완료된 케리어는 아래로 이송하며, 동시에, 버퍼되어 있던 케리어는, 테스트 위치로 이송이 지시된다. 이러한 처리와 테스트를 순차적으로 반복한다.

케리어 안의 불량인 패키지는 분류 처리되고, 양호한 패키지는 그대로 다음작업으로 이동된다.

본 발명의 의하면, 단일 또는 스트립형 패키지를 테스트하는 멀티플 매트릭스 유닛을 가진 처리 장비의 처리량을 향상시킬 수 있다.

Claims (11)

1. 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹을 수용하기 위한 캐리어 보트.
2. 매트릭스 스트립 패키지를 수용하기 위한 캐리어 보트.
3. 고온/분위기 챔버에서 테스트 위치로 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹을 수용하는 캐리어 보트의 자동 이송.
4. 고온/분위기 챔버에서 테스트 위치로 매트릭스 스트립 패키지를 수용하는 캐리어 보트의 자동 이송.
5. 전기적 테스트를 위해 캐리어 보트에 수용되는 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹의 제공.
6. 전기적 테스트를 위해 캐리어 보트에 수용된 매트릭스 스트립 패키지의 제공.
7. 매트릭스 단일화 패키지의 일 그룹/매트릭스 스트립 패키지에 대한 테스트 사이트와 접속되는 유니버셜 매트릭스.
8. 테스트 동안 캐리어 보트에서의 진공 흡입에 의해 상기 그룹화된 매트릭스 단일화 패키지를 자동적으로 고정.
9. 테스트 동안 캐리어 보트상에 매트릭스 스트립 패키지를 자동적으로 클램프.
10. 형성된 SMD 리드의 상부에 그룹화된 매트릭스 단일화 패키지의 테스트 방법.
11. 형성된 SMD 리드의 상부에 매트릭스 스트립 패키지의 테스트 방법