JPS60206096A - 薄形ｉｃの検査用搬送装置 - Google Patents
薄形ｉｃの検査用搬送装置Info
- Publication number
- JPS60206096A JPS60206096A JP59060835A JP6083584A JPS60206096A JP S60206096 A JPS60206096 A JP S60206096A JP 59060835 A JP59060835 A JP 59060835A JP 6083584 A JP6083584 A JP 6083584A JP S60206096 A JPS60206096 A JP S60206096A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lane
- ics
- thin
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- transport
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はＩＣハンドラに係り、特に薄形ＩＣのハシドラ
に好適な搬送装置のレイアウトに関するものである。
に好適な搬送装置のレイアウトに関するものである。
ＩＣの製造工程において、多数のＩＣを高能率で自動的
に検査するためＩＣノｈンドラが用いられる。このＩＣ
ハンドラは、未検査のＩＣを自動的に順次に検査用ソケ
ットに搬送し、検ｆＭ果に従ってＩＣを分類して自動的
に搬出する機器である。
に検査するためＩＣノｈンドラが用いられる。このＩＣ
ハンドラは、未検査のＩＣを自動的に順次に検査用ソケ
ットに搬送し、検ｆＭ果に従ってＩＣを分類して自動的
に搬出する機器である。
従来においては第１図に示すような厚形の、いわゆるＤ
ＩＰタイプのＩＣが主流であったので、ＩＣハンドラも
ＤＩＰ タイプ用に構成されていた。
ＩＰタイプのＩＣが主流であったので、ＩＣハンドラも
ＤＩＰ タイプ用に構成されていた。
ところが、近年第２図（８）、第２図（Ｂ）に示すよう
な薄形の、いわゆるＦＰＰタイプのＩＣが開発された。
な薄形の、いわゆるＦＰＰタイプのＩＣが開発された。
このＰＰＰタイタイプＣは「底面及び頂面が平行板状で
、かつ端子（リード）が平板に平行に突出したＩＣＪと
定義されている。このタイプのＩＣは狭い空間に多くの
ＩＣを実装するのに適しているため急速に普及しつつあ
り、これがＩＣの主流となる趨勢にある。
、かつ端子（リード）が平板に平行に突出したＩＣＪと
定義されている。このタイプのＩＣは狭い空間に多くの
ＩＣを実装するのに適しているため急速に普及しつつあ
り、これがＩＣの主流となる趨勢にある。
上記の薄形（ＰＰＰＰＰタイプＩＣは、厚形のＩＣに比
して細いリードが密集して側方に突出しているので、そ
のハンドリングに関しては厚形ＩＣのハンドリングに比
して技術的に難かしい問題が有る。
して細いリードが密集して側方に突出しているので、そ
のハンドリングに関しては厚形ＩＣのハンドリングに比
して技術的に難かしい問題が有る。
厚形ＩＣ用のハンドラにおいては、約３５°程度の傾斜
を有する７ユートを用いて搬送する構造が用いられ、こ
れを利用してローダを上方に、アンローダを下方に配置
し、その中間に検査用ソケットを設けるといった立体的
な配列を用いてＩＣハンドラの設置所要面積を縮少せし
める工夫が行われていた。
を有する７ユートを用いて搬送する構造が用いられ、こ
れを利用してローダを上方に、アンローダを下方に配置
し、その中間に検査用ソケットを設けるといった立体的
な配列を用いてＩＣハンドラの設置所要面積を縮少せし
める工夫が行われていた。
ところが、薄形のＩＣはリードが側方に突出しているた
め、従来の如くシュートを用いて自重滑降させると、Ｉ
Ｃのリード同志が引っ掛がって変形したり、絡み合って
し１つたり、又はリードが搬送用の部材に衝突して損傷
したりする虞れが有る。
め、従来の如くシュートを用いて自重滑降させると、Ｉ
Ｃのリード同志が引っ掛がって変形したり、絡み合って
し１つたり、又はリードが搬送用の部材に衝突して損傷
したりする虞れが有る。
こうした事情のため、薄形ＩＣ用のハンドラにおいては
自重滑降手段を設は難い。その結果、検査対象物である
ＩＣを搬入するレーンや、ＩＣを検査温度まで加熱しつ
つ搬送するＶ−ンや、加熱源ＩＣ全検査ソケットに搬送
するレーンや、検査済のＩＣｔｌ−選別する手段や、選
別されたＩＣを搬送し搬出するレーンを平面的に配置せ
ざるを得ない。少なくとも各７−７を水平に設置せざる
を得ない。
自重滑降手段を設は難い。その結果、検査対象物である
ＩＣを搬入するレーンや、ＩＣを検査温度まで加熱しつ
つ搬送するＶ−ンや、加熱源ＩＣ全検査ソケットに搬送
するレーンや、検査済のＩＣｔｌ−選別する手段や、選
別されたＩＣを搬送し搬出するレーンを平面的に配置せ
ざるを得ない。少なくとも各７−７を水平に設置せざる
を得ない。
このため、薄形ＩＣ用ハンドラを従来技術によってレイ
アウトすると、多大の設置面積を必要とし、その上、隣
接レーンに邪魔されて構成部材の保守整備が困難となる
虞れが有る。
アウトすると、多大の設置面積を必要とし、その上、隣
接レーンに邪魔されて構成部材の保守整備が困難となる
虞れが有る。
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、各搬送レ
ーンをそれぞれ水平に設置して、しかも設置所要面積が
少なく、その上、保守整備が妨げられる虞れの無い、薄
形ＩＣの検査用搬送装置を提供しようとするものである
。
ーンをそれぞれ水平に設置して、しかも設置所要面積が
少なく、その上、保守整備が妨げられる虞れの無い、薄
形ＩＣの検査用搬送装置を提供しようとするものである
。
上記の目的を達成するため、本発明の搬送装置は、未検
査のＩＣを配列搭載したパレットを搬入するレーンを設
け、上記搬入レーンと直角に薄形ＩＣを加熱搬送するレ
ーンを設け、前記搬入レーンの延長線に沿って検査陽博
形ＩＣの搬出レーンを設け、かつ、前記の加熱搬送レー
ンの終点部と直交する検査レーンを設け、該検査レーン
の終点部付近に検食済薄形ＩＣの選別部を設け、更に上
記の選別部から前記の搬出レーンの始点ｌでの間に、加
熱搬送し一ンと平行な選別術薄形ＩＣの搬送レーンを設
けたことを特徴とする。
査のＩＣを配列搭載したパレットを搬入するレーンを設
け、上記搬入レーンと直角に薄形ＩＣを加熱搬送するレ
ーンを設け、前記搬入レーンの延長線に沿って検査陽博
形ＩＣの搬出レーンを設け、かつ、前記の加熱搬送レー
ンの終点部と直交する検査レーンを設け、該検査レーン
の終点部付近に検食済薄形ＩＣの選別部を設け、更に上
記の選別部から前記の搬出レーンの始点ｌでの間に、加
熱搬送し一ンと平行な選別術薄形ＩＣの搬送レーンを設
けたことを特徴とする。
次に、本発明の１実施例を第３図及び第４図について説
明する。
明する。
第３図は本発明の搬送装置の平面図である。
ｌは未検査の薄形ＩＣを配列して投載したパレットを搬
入するレーン、矢印ａはその搬送方向である。第４図は
パレット２の上に薄形ＩＣ３を５×８列に配列して載置
した状態の斜視図である。
入するレーン、矢印ａはその搬送方向である。第４図は
パレット２の上に薄形ＩＣ３を５×８列に配列して載置
した状態の斜視図である。
４は未検査の薄形ＩＣを所定の検査温度に予熱する為の
グリヒータで、前記の矢印ａと直角方向に薄形ＩＣを搬
送する複斂列の加熱搬送レーン４ａ 、４ｂ 、４ｃ
、４ｄ を備えている。矢印すはその搬送方向を示す。
グリヒータで、前記の矢印ａと直角方向に薄形ＩＣを搬
送する複斂列の加熱搬送レーン４ａ 、４ｂ 、４ｃ
、４ｄ を備えている。矢印すはその搬送方向を示す。
５はパレット２上の薄形ＩＣを加熱搬送レーン４ａ〜４
ｄにローディングするためのローダである。
ｄにローディングするためのローダである。
加熱搬送レーン４ａ〜４ｄＫ直父せしめて検査レーア６
を設ける。矢印Ｃはその搬送方向である。
を設ける。矢印Ｃはその搬送方向である。
上記の検査レーンの途中に検査用ソケット７、及び、検
量レーン上の薄形ＩＣを検量ソケット７に挿入する為の
プッシャ８を設けである。
量レーン上の薄形ＩＣを検量ソケット７に挿入する為の
プッシャ８を設けである。
検ｆＬ’−ン６の終点部には不良品排出用のアンローダ
９を設けである。
９を設けである。
前記の搬入レーア１の延長線上に選別済良品の搬出レー
ン１０を設ける。
ン１０を設ける。
前記検査レーン６の終点部に直交せしめ、かつ搬出レー
ンｌＯの始点部に直交せしめて選別済良品の薄形ＩＣ搬
送Ｖ−７１１を設ける。その搬送方向矢印ｄは加熱Ｆｌ
ｉ速レーン４ａ〜４ｄの搬送方向矢印すに比して平行か
つ逆向きである。
ンｌＯの始点部に直交せしめて選別済良品の薄形ＩＣ搬
送Ｖ−７１１を設ける。その搬送方向矢印ｄは加熱Ｆｌ
ｉ速レーン４ａ〜４ｄの搬送方向矢印すに比して平行か
つ逆向きである。
１２は搬送レーン１１上の選別済良品の薄形ＩＣを搬出
レーン１０上のｉ４１／ツト２に移し替えるアンローダ
である。
レーン１０上のｉ４１／ツト２に移し替えるアンローダ
である。
前記の如く搬出レーア１０を搬入レーンｌの延長線上に
設けであるので、口・−ダ５によって空にされた／ヤレ
ットをノｅレット搬送手段１３によって搬出レーア１０
の始点１で回送するのに便利である。
設けであるので、口・−ダ５によって空にされた／ヤレ
ットをノｅレット搬送手段１３によって搬出レーア１０
の始点１で回送するのに便利である。
アンローダ１２によって搬出レーンｌＯ上のノ母レット
２に搭載された選別済良品の薄形ＩＣは矢印ｅ方向に搬
出される。
２に搭載された選別済良品の薄形ＩＣは矢印ｅ方向に搬
出される。
図示を省略するが、上記と異なる実施例として、搬入Ｖ
−ンｌとローダ５、及びアンローダと搬出レーン１０を
それぞれ複数組づつ設けることもできる０ 〔発明の効果〕 以上詳述したように、本発明によれば薄形ＩＣの検査用
搬送装置である薄形■Ｃノーンドラにおいて、各搬送レ
ーンを水平に設置してしかも設置所費面積が少なく、し
かも各搬送レーンのはそれぞれ少なくとも片側をＩＣハ
ンドラの外周に面せしめているので保守整備が容易であ
るという優れた実用的効果を奏する。
−ンｌとローダ５、及びアンローダと搬出レーン１０を
それぞれ複数組づつ設けることもできる０ 〔発明の効果〕 以上詳述したように、本発明によれば薄形ＩＣの検査用
搬送装置である薄形■Ｃノーンドラにおいて、各搬送レ
ーンを水平に設置してしかも設置所費面積が少なく、し
かも各搬送レーンのはそれぞれ少なくとも片側をＩＣハ
ンドラの外周に面せしめているので保守整備が容易であ
るという優れた実用的効果を奏する。
第１図は厚形ＩＣの外観斜視図、第２図（５）及び同（
ＢＪは薄形ＩＣの外観斜視図、第３図は本発明の検査用
搬送装置の１実施例の平面図、第４図はパレット上に薄
形ＩＣを搭載した状態の斜視図である。 ｌ・・・搬入レーン、２・・・）母レット、３・・・４
形ＩＣ。 ４・・・グリヒータ、４ａ〜４ｄ・・・加熱搬送レーン
、５・・・ローダ、６・・・検査レーン、７・・・検査
用ソケット、８・・・グツシャ、９・・・不良品アンロ
ーダ、ＩＯ・・・選別済民品薄形ＩＣの搬出レーン、１
１・・・選別済民品薄形ＩＣ搬送レーン、１２・・・ア
ンローダ、１３・・・パレット搬送手段。 特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
弁理士 秋 本 正 実
ＢＪは薄形ＩＣの外観斜視図、第３図は本発明の検査用
搬送装置の１実施例の平面図、第４図はパレット上に薄
形ＩＣを搭載した状態の斜視図である。 ｌ・・・搬入レーン、２・・・）母レット、３・・・４
形ＩＣ。 ４・・・グリヒータ、４ａ〜４ｄ・・・加熱搬送レーン
、５・・・ローダ、６・・・検査レーン、７・・・検査
用ソケット、８・・・グツシャ、９・・・不良品アンロ
ーダ、ＩＯ・・・選別済民品薄形ＩＣの搬出レーン、１
１・・・選別済民品薄形ＩＣ搬送レーン、１２・・・ア
ンローダ、１３・・・パレット搬送手段。 特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
弁理士 秋 本 正 実
Claims (1)
- 未検査の薄形ＩＣを配列搭載した・ぐレットを搬入する
Ｖ−ンを設け、上記搬入レーン−と直角に薄形ＩＣを加
熱搬送するレーンを設け、前記搬入レーンの延長線に沿
って検食済薄形ＩＣの搬出レーンを設け、かつ、前記の
加熱搬送レーンの終点部と直父する検査レーンを設け、
該検査レーンの終点部付近に検査済博形ＩＣの選別部を
設け、更に上記の選別部から前記の搬出レーンの始点ま
での間に、加熱搬送レーンと平行な選別済薄形ＩＣの搬
送レーンを設けたことを特徴とする、薄形ＩＣの検査用
搬送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59060835A JPS60206096A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 薄形ｉｃの検査用搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59060835A JPS60206096A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 薄形ｉｃの検査用搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60206096A true JPS60206096A (ja) | 1985-10-17 |
Family
ID=13153811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59060835A Pending JPS60206096A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 薄形ｉｃの検査用搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60206096A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60190039U (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-16 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | パレツト搬送式の薄形ｉｃハンドラ |
| JPH02129878U (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5960832A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | 株式会社東芝 | 真空バルブ |
| JPS5960834A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | 株式会社東芝 | 真空開閉器 |
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59060835A patent/JPS60206096A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5960832A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | 株式会社東芝 | 真空バルブ |
| JPS5960834A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | 株式会社東芝 | 真空開閉器 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60190039U (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-16 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | パレツト搬送式の薄形ｉｃハンドラ |
| JPH02129878U (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 |
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