KR20020096779A - 패널형 디스플레이의 검사용 프로브 - Google Patents

Abstract

본 발명에 의한 패널형 디스플레이의 검사용 프로브는 디스플레이를 검사하기 위한 전기적 신호를 출력하는 제어기판과 패널형 디스플레이 사이를 연결하는 프로브에 있어서, 다수의 프로브핀을 전극고정물질에 상호 이격 배치한 뒤, 전극고정물질을 안쪽으로 하여 다수의 프로브핀을 길이 방향으로 절곡 형성하되, 제어기판과 연결되는 단자부를 상기 프로브핀의 양단부에 일체로 형성하는 것으로 이루어진다.

따라서 본 발명은 프로브핀의 선단부가 일직선적으로 형성되면서 전극고정물질로 인하여 프로브핀이 상호 접촉하지 않기 때문에, 프로브핀 상호간에 접촉하는 경우가 발생하기 어려우므로 수명을 연장할 수 있고, 프로브핀의 양단부가 제어기판과 연결되어 제어기판에 연결된 상태에서 프로브핀 자체의 단손을 검사할 수 있는 등의 효과를 발휘한다.

Description

패널형 디스플레이의 검사용 프로브{PROBE USED IN DISPLAY TEST}

본 발명은 LCD(LIQUID CRYSTAL PANEL), PDP(PLASMA DISPLAY PANEL) 등과 같은 패널형 디스플레이를 검사 및 수리할 때에 디스플레이를 점검하는 데에 사용되는 프로브(PROBE)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 프로브핀의 선단부가 일직선적으로 형성되면서 다수의 프로브핀이 용이하게 상호 이격되도록 하는 패널형 디스플레이의 검사용 프로브에 관한 것이다.

일반적으로 디스플레이의 두께를 축소하기 위하여 LCD, PDP 등과 같은 패널형 즉 박판형 디스플레이가 사용되며, 제조 과정이나 수리 과정에서 제어기판과 연결된 프로브의 프로브핀을 상기 패널형 디스플레이의 가로방향과 세로방향의 가장자리에 접촉시켜 상기 디스플레이를 검사하게 된다.

여기서 종래의 프로브는 도 4에 도시한 바와 같이, 프로브블록(101)에 다수의 프로브핀(102)이 일체로 설치되는 구조이며, 상기 프로브블록(101)이 볼트(103)에 의하여 브래킷(104)에 고정 결합된다.

그리고 상기 프로브핀(102)의 양단부가 절곡되어 각각의 단부의 끝을 평면상에 위치하게 된다.

이와 같이 이루어지는 프로브핀(102)의 한쪽 단부가 제어기판(105)의 가장자리부에 접촉됨과 더불어 다른쪽 단부가 검사하고자 하는 디스플레이(106)의 가장자리부에 접촉되며, 이에 따라 제어기판(105)의 전기적 신호가 프로브핀(102)을 통하여 디스플레이(106)를 도달하게 함으로써 이 디스플레이(106)를 검사하게 된다.

이렇게 상기 프로브핀(102)의 단부가 디스플레이(106)에 계속적으로 정확하게 접촉하기 때문에 프로브핀(102)은 우수한 강도를 보유한 텅스텐 와이어를 사용하게 되며, 디스플레이(106)에 접촉하는 프로브핀(102)의 단부 사이의 거리가 프로브핀(102)의 직경보다 좁기 때문에 다수의 프로브핀(102)을 상호 엇갈리면서 접촉하지 않도록 적층한 뒤, 두 개의 프로브핀(102) 사이에 다수의 프로브핀(102)의 단부를 위치하게 된다.

예컨대 프로브핀(102)의 직경이 0.15mm인데 디스플레이를 검사하기 위한 두개의 프로브핀(102)의 단부 끝부분 사이의 거리가 0.037mm일 경우, 두 개의 프로브핀(102) 사이의 단부 끝부분에 세 개의 프로브핀(102)의 단부 끝부분을 수작업으로 배치하게 된다.

따라서 다수의 프로브핀(102) 사이의 거리를 약 0.37mm로 배치할 수 있어 패널형 디스플레이를 용이하게 검사할 수 있는 것이다.

그러나 종래에는 텅스텐 와이어로 구성된 프로브핀의 단부 끝부분 사이의 거리가 미세하여 디스플레이의 접점 거리에 맞추어서 배열할 수 있도록 수작업으로 프로브핀을 적층하기 때문에, 제작하기가 어렵고, 숙련된 인력만이 제조할 수 있을 뿐만 아니라 불량률이 매우 높다는 단점이 있다.

또한 종래에는 텅스텐 재질의 프로브핀이 미세하게 가공되므로 사용시 휘거나 부러지기 쉽기 때문에, 교정작업이 어려울 뿐만 아니라 1회 ~ 2회 정도 교정하면 교정할 수 없는 상태가 되며, 수명이 길지 못하다는 단점이 있다.

더우기 프로브핀 자체의 파손이나 불량이 발생할 경우, 프로브를 사용하는 도중에는 프로브를 검사할 방법이 없으며, 프로브를 별도로 분리하여 이를 검사하게 된다는 불편함이 있다.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 다수의 프로브핀을 전극고정물질로 상호 이격한 상태에서 절곡 형성함으로써 다수의 프로브핀의 선단부가 일직선적으로 형성되면서 다수의 프로브핀이 용이하게 상호 이격될 수 있는 패널형 디스플레이의 검사용 프로브를 제공하는 데 있다.

이를 실현하기 위하여, 본 발명은 디스플레이를 검사하기 위한 전기적 신호를 출력하는 제어기판과 패널형 디스플레이 사이를 연결하는 프로브에 있어서, 다수의 프로브핀을 전극고정물질에 상호 이격 배치한 뒤, 전극고정물질을 안쪽으로 하여 다수의 프로브핀을 길이 방향으로 절곡 형성하되, 제어기판과 연결되는 단자부를 상기 프로브핀의 양단부에 일체로 형성하는 것으로 이루어지는 패널형 디스플레이의 검사용 프로브를 제공한다.

도 1은 본 발명에 의한 패널형 디스플레이의 검사용 프로브를 나타내는 측면도,

도 2는 도 1의 A부 확대도,

도 3은 본 발명에 의한 패널형 디스플레이의 검사용 프로브의 전개 상태를 나타내는 평면도,

도 4는 종래의 프로브가 장착된 상태를 나타내는 측면도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

1 : 프로브 1a : 프로브핀

1b : 전극고정물질 1c : 단자부

2 : 디스플레이 3 : 제어기판

4 : 프로브블록

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 더욱 상세하게 설명한다.

도 1 내지 도 3은 본 발명에 의한 패널형 디스플레이의 검사용 프로브를 나타내는 도면으로서, 본 발명은 프로브(1)는 패널형 디스플레이(2)와 제어기판(3) 사이를 연결하게 되는 바, 상기 패널형 디스플레이(2)는 박판 형상으로 이루어지며 종래와 마찬가지로 LCD, PDP 등이며, 상기 제어기판(3)은 상기 디스플레이(2)를 검사하기 위한 전기적 신호를 프로브(1)를 통하여 출력하여 디스플레이(2)의 상태를 처리하는 것이다.

본 발명에 의한 프로브(1)는 프로브핀(1a)과 전극고정물질(1b)로 구성되어프로브블록(4)에 고정 부착되며, 프로브(1)의 후단부가 상기 제어기판(3)에 연결됨과 더불어 프로브(1)의 선단부가 패널형 디스플레이(2)의 가장자리부에 접촉된다.

그리고 상기 프로브블록(4)은 볼트(5)에 의하여 브래킷(6)에 고정되는 바, 상기 프로브블록(4) 및 프로브(1)는 브래킷(6)에 고정된 상태가 되는 것이다.

즉 본 발명에 의한 프로브(1)는 다수의 프로브핀(1a)을 전극고정물질(1b)에 상호 이격 배치한 뒤, 상기 전극고정물질(1b)을 안쪽으로 하여 다수의 프로브핀(1a)을 길이 방향으로 절곡 형성하되, 상기 제어기판(3)과 연결되는 단자부(1c)를 상기 프로브핀(1a)의 양단부에 일체로 형성하는 구조로 이루어진다.

또한 본 발명은 절곡된 프로브핀(1a)의 중앙부를 다시 아래로 절곡 형성하는 것을 포함한다.

이와 같은 본 발명의 프로브(1)는 일 예로서 다음과 같이 제조된다.

즉 본 발명의 프로브(1)는 도시하지 않았지만 우수한 도전성을 보유한 전극박판(최종적으로는 프로브핀이 됨)을 정반위에 접착물질로 부착함과 더불어 상기 전극박판 위에 감광물질을 도포하고, 다수의 프로브핀(1a)을 펼친 상태의 패턴이 인쇄된 필름 및 노광광선으로 상기 감광물질을 노광하며, 이를 에칭하여 전극박판을 상기 필름의 패턴과 동일한 모양의 프로브핀 형상으로 가변하게 된다.

그리고 상기와 같이 가변된 전극박판 즉 프로브핀(1a)을 전극고정물질(1b)로 도포한 뒤, 전극고정물질(1b)을 안쪽으로 하여 프로브핀(1a)을 길이 방향으로 절곡하고, 절곡된 부분을 다시 절곡하여 프로브(1)를 완성하게 된다.

여기서 상기 전극박판은 내마모성이 우수한 재질로 사용할 수 있는 바, 텅스텐박판 등으로 사용할 수 있고, 상기 접착물질은 왁스 또는 수지 등을 사용할 수 있다.

특히 상기 전극고정물질(1b)은 우수한 절연성이면서 유연한 재질이며, 굳은 뒤에 유연하면서 탄력적인 물질로 이루어짐이 바람직하다.

더우기 본 발명에서는 재료 상태의 전극박판이나 감광물질을 도포하기 전의 전극박판에 내마모성 전극분말(텅스텐 분말 등)을 고압분사기(미도시)로 분사하여 전극박판에 박히게 할 수 있으며, 이에 따라 전극박판의 재질을 연질의 금속도체로 형성할 수 있는 것이다.

이와 같이 이루어지는 프로브(1)는 프로브블록(4)에 고정 부착한 뒤, 볼트(5)로 브래킷(6)에 고정하고, 후단부를 제어기판(3)에 연결한 다음, 패널형 디스플레이(2)를 검사할 수 있는 것이다.

물론 제어기판(3)에는 각각의 프로브핀(1a)의 단자부(1c)가 연결되므로 각각의 프로브핀(1a)의 단손을 즉석에서 검사할 수 있다.

또한 프로브핀(1a)의 선단부가 일직선상으로 배치되므로 패널형 디스플레이(2)를 더욱 용이하게 검사할 수 있으며, 선단부의 굽힘이나 상호 접촉되는 것이 발생하지 않게 된다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 패널형 디스플레이의 검사용 프로브는 프로브핀의 선단부가 일직선적으로 형성되면서 전극고정물질로 인하여 프로브핀이 상호 접촉하지 않기 때문에, 프로브핀 상호간에 접촉하는 경우가 발생하기 어려우므로 수명을 연장할 수 있고, 프로브핀의 양단부가 제어기판과 연결되어 제어기판에 연결된 상태에서 프로브핀 자체의 단손을 검사할 수 있다는 이점이 있다.

Claims (2)

1. 디스플레이를 검사하기 위한 전기적 신호를 출력하는 제어기판과 패널형 디스플레이 사이를 연결하는 프로브에 있어서,

   다수의 프로브핀을 전극고정물질에 상호 이격 배치한 뒤, 전극고정물질을 안쪽으로 하여 다수의 프로브핀을 길이 방향으로 절곡 형성하되,

   제어기판과 연결되는 단자부를 상기 프로브핀의 양단부에 일체로 형성하는 것으로 이루어지는 패널형 디스플레이의 검사용 프로브.
2. 제1항에 있어서,

   절곡된 프로브핀의 중앙부를 다시 아래로 절곡 형성하는 것을 포함하여 이루어지는 패널형 디스플레이의 검사용 프로브.