KR20020057057A - 고전압 레귤레이션 회로 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
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- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
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- G05F1/462—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
- G05F1/467—Sources with noise compensation
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Abstract
Description
Claims (10)
- 노이즈가 입력되면 일정한 전류를 고전압 레귤레이터의 저항 양단에 흐르도록 하여 고전압을 레귤레이션하는 고전압 레귤레이션회로와;출력전압이 노이즈에 의해 소정 레벨이하로 떨어지는 것을 감지하여 고전압 레귤레이션 동작을 제어하는 고전압 레벨감지부와;전류소스를 구비하여 일정한 전류를 고전압 레귤레이션회로에 제공하는 전류미러부로 구성된 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 고전압 레귤레이션회로는정상시에는 고전압 레귤레이터내의 차동 증폭기를 이용하여 저항분배방식으로 출력전압을 레귤레이션하는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 고전압 레벨감지부는출력전압이 정해진 레벨로 셋업될 때 감지동작을 개시하는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 고전압 레귤레이션회로는고전압과 접지사이에 직렬 접속된 제1MOS트랜지스터, 제1,제2저항 및 제2MOS트랜지스터와, 제1MOS트랜지스터에 접속된 차동 증폭기를 갖는 고전압 레귤레이터와;제1MOS트랜지스터와 병렬 접속된 제1패스 트랜지스터와;제2MOS트랜지스터와 병렬 접속된 제2패스 트랜지스터와;차동증폭기의 출력단자와 접지사이에 접속된 제3MOS트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 반전된 레벨 감지신호에 따라 제2MOS트랜지스터의 동작을 제어하기 위한 제4MOS트랜지스터를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 레벨 감지신호에 따라 제2패스 트랜지스터의 동작을 제어하기 위한 제5MOS트랜지스터를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 고전압은전원전압보다 높은 전압인 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제1-제3MOS트렌지스터와 제1,제2패스 트랜지스터는NMOS트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제1,제2MOS트랜지스터는 레벨감지신호가 액티브될 때 턴오프되고, 제1,제2패스 트랜지스터는 레벨감지신호가 액티브될 때 턴온되는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제2패스 트랜지스터에는레벨감지신호가 액티브될 때 전류미러부의 전류소스와 동일한 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 고전압 레귤레이션 회로.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000087296A KR100364428B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 고전압 레귤레이션 회로 |
US10/028,671 US6559628B2 (en) | 2000-12-30 | 2001-12-28 | High voltage regulation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000087296A KR100364428B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 고전압 레귤레이션 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020057057A true KR20020057057A (ko) | 2002-07-11 |
KR100364428B1 KR100364428B1 (ko) | 2002-12-11 |
Family
ID=19704127
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000087296A KR100364428B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 고전압 레귤레이션 회로 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6559628B2 (ko) |
KR (1) | KR100364428B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101508391B1 (ko) * | 2008-02-25 | 2015-04-06 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 전압 레귤레이터 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI265672B (en) * | 2004-12-29 | 2006-11-01 | Inventec Corp | Testing device for output power source of memory |
JP5085233B2 (ja) * | 2007-08-28 | 2012-11-28 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 基準電圧発生回路及びタイマ回路 |
JP5674594B2 (ja) * | 2010-08-27 | 2015-02-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び半導体装置の駆動方法 |
US9374048B2 (en) | 2013-08-20 | 2016-06-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Signal processing device, and driving method and program thereof |
KR102267237B1 (ko) | 2014-03-07 | 2021-06-18 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 전자 기기 |
TWI652885B (zh) * | 2014-08-20 | 2019-03-01 | 力智電子股份有限公司 | 電源管理裝置、直流對直流控制電路及其晶片致能方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3840797A (en) * | 1970-12-28 | 1974-10-08 | Us Navy | Related power supply |
JPH0744648B2 (ja) * | 1982-12-08 | 1995-05-15 | 池上通信機株式会社 | 高圧安定回路 |
US4912393A (en) * | 1986-03-12 | 1990-03-27 | Beltone Electronics Corporation | Voltage regulator with variable reference outputs for a hearing aid |
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-
2000
- 2000-12-30 KR KR1020000087296A patent/KR100364428B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-12-28 US US10/028,671 patent/US6559628B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101508391B1 (ko) * | 2008-02-25 | 2015-04-06 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 전압 레귤레이터 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6559628B2 (en) | 2003-05-06 |
US20020084775A1 (en) | 2002-07-04 |
KR100364428B1 (ko) | 2002-12-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20001230 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20021029 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20021128 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20021129 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20051019 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20061026 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20071025 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20081027 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20091028 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20101025 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111024 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20111024 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121022 Year of fee payment: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20121022 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |