KR20020047543A - Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 - Google Patents
Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20020047543A KR20020047543A KR1020000076014A KR20000076014A KR20020047543A KR 20020047543 A KR20020047543 A KR 20020047543A KR 1020000076014 A KR1020000076014 A KR 1020000076014A KR 20000076014 A KR20000076014 A KR 20000076014A KR 20020047543 A KR20020047543 A KR 20020047543A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- word line
- enable signal
- write
- signal
- address
- Prior art date
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 18
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 52
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000002777 columnar cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/418—Address circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
- 입력되는 X어드레스를 해독하여 상응하는 셀블럭의 X어드레스를 출력하는 X어드레스디코더와, 상기 출력되는 X어드레스를 입력으로하여 셀블럭의 해당 워드라인 인에블 신호를 생성하여 출력하는 워드라인 드라이버와, 데이터가 저장되는 셀마다 각각 연결되는 복수개의 워드라인과 이에 교차하는 복수의 비트라인을 가지는 셀블럭과, 상기 복수의 비트라인 중 어느 한쌍의 비트라인을 선택하는 컬럼셀렉터와, 리드시 상기 컬럼셀렉터의 출력을 증폭하여 출력시키는 센스 앰프와 라이트시에 데이터를 입력받아 구동신호를 발생하는 라이트 드라이버를 구비하는 SRAM 디바이스에 있어서,입력되는 리드/라이트 식별 신호에 따라 리드시에는 상기 센스앰프의 인에블 신호를 선택하고 라이트시에는 상기 라이트 드라이버의 인에블신호를 선택하여 제어신호를 생성하고 소정시간 지연후에 이 제어신호를 출력하여 상기 워드라인의 인에블 신호를 디스에블 시키는 워드라인 콘트롤부를 구비함을 특징으로하는 SRAM 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로
- 청구항 1에 있어서,상기 소정 시간은 리드 및 라이트 동작이 각각 완료되는 시간으로 설정함됨 특징으로하는 SRAM 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로.
- 청구항 1에 있어서,상기 워드라인 콘트롤 부는, 상기 라이트 드라이버의 인에블신호(WDEN)를 반전시키는 제 1 인버터(INV1)와, 이 인버터의 출력을 스위칭하는 제 1 트랜스미션게이트(T1)와, 상기 센스 앰프의 인에블신호(SEN)를 스위칭하는 제 2 트랜스 미션게이트(T2)와, 상기 리드 라이트 식별신호(RWS)를 반전시키는 제 2 인버터(INV2)와, 상기 제 1 및 제 2 트랜스미션 게이트(T1,T2)의 출력을 지연시키는 디레이(Delay)를 구비하고, 리드라이트 식별신호(RWS)에 의해, 상기 제 1 및 제 2 트랜스 미션게이트(T1,T2) 중 어느하나가 선택되어 동작되도록 상기 제 1 및 제 2 트랜스 미션 게이트의 공통접속점에, 그리고 제 2 인버터(INV2)를 경유하여 상기 제 1 및 제 2 트랜스 미션 게이트의 다른 전극에 리드라이트 식별신호(RWS)가 각각 접속되며, 상기 제 1 및 제 2 트랜스 미션의 출력이 디fp이(Delay)의 입력에 연결되도록 구성됨을 특징으로 하는 SRAM 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로.
- 청구항 3에 있어서,상기 워드라인 콘트롤부는, 상기 입력신호(WDEN, SEN, RWS)를 입력받아 생성되는 펄스 워드라인 콘트롤신호(PWC)를 상기 X어드레스 디코더(20)에 입력되도록 하여 X어드레스 디코더(20)의 출력을 디스에블 시키도록 구성됨을 특징으로 하는 SRAM 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0076014A KR100379545B1 (ko) | 2000-12-13 | 2000-12-13 | Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 |
JP2001357146A JP4025537B2 (ja) | 2000-12-13 | 2001-11-22 | Sramデバイスのワードライン制御回路 |
US10/013,353 US6512718B2 (en) | 2000-12-13 | 2001-12-13 | Circuit for controlling wordline in SRAM |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0076014A KR100379545B1 (ko) | 2000-12-13 | 2000-12-13 | Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020047543A true KR20020047543A (ko) | 2002-06-22 |
KR100379545B1 KR100379545B1 (ko) | 2003-04-10 |
Family
ID=19703022
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0076014A KR100379545B1 (ko) | 2000-12-13 | 2000-12-13 | Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6512718B2 (ko) |
JP (1) | JP4025537B2 (ko) |
KR (1) | KR100379545B1 (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6850456B2 (en) * | 2003-06-26 | 2005-02-01 | International Business Machines Corporation | Subarray control and subarray cell access in a memory module |
US20060171243A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Atsushi Kawasumi | Memory array circuit with word line timing control for read operations and write operations |
KR100712539B1 (ko) | 2005-11-23 | 2007-04-30 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 칼럼 디코더 및 반도체 메모리장치의 칼럼 선택 라인 신호 발생 방법 |
JP2007299485A (ja) * | 2006-05-01 | 2007-11-15 | Toshiba Corp | 半導体メモリ |
US8619477B2 (en) * | 2010-07-20 | 2013-12-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Two-port SRAM write tracking scheme |
US9340325B2 (en) * | 2014-01-16 | 2016-05-17 | Josephine Pontoriero | Apparatus to facilitate separation of layers of material |
US9606742B1 (en) | 2015-12-14 | 2017-03-28 | Oracle International Corporation | Variable pulse widths for word line activation using power state information |
US10522218B2 (en) | 2017-11-15 | 2019-12-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods and apparatuses to reduce power dissipation in a static random access memory (SRAM) device |
CN117095719B (zh) * | 2023-08-25 | 2024-06-11 | 广州市粤港澳大湾区前沿创新技术研究院 | 一种控制电路及存储器 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100300622B1 (ko) * | 1993-01-29 | 2001-11-22 | 사와무라 시코 | 반도체 기억장치 |
US5812482A (en) * | 1996-11-13 | 1998-09-22 | Integrated Silicon Solution Inc. | Wordline wakeup circuit for use in a pulsed wordline design |
US6055203A (en) * | 1997-11-19 | 2000-04-25 | Waferscale Integration | Row decoder |
KR100316713B1 (ko) * | 1999-06-26 | 2001-12-12 | 윤종용 | 반도체 메모리 장치 및 이에 적합한 구동신호 발생기 |
-
2000
- 2000-12-13 KR KR10-2000-0076014A patent/KR100379545B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-11-22 JP JP2001357146A patent/JP4025537B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-13 US US10/013,353 patent/US6512718B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6512718B2 (en) | 2003-01-28 |
KR100379545B1 (ko) | 2003-04-10 |
JP4025537B2 (ja) | 2007-12-19 |
JP2002197871A (ja) | 2002-07-12 |
US20020071323A1 (en) | 2002-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100507379B1 (ko) | 워드라인 구동 회로 | |
KR100271626B1 (ko) | 비트라인 센스앰프의 오버드라이빙방법 | |
KR19980075716A (ko) | 메모리 소자의 소모 전력 자동 감소 회로 | |
US9087564B2 (en) | Semiconductor storage having different operation modes | |
JP2007172715A (ja) | 半導体記憶装置およびその制御方法 | |
KR100945804B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR20020047543A (ko) | Sram 디바이스의 워드라인 콘트롤 회로 | |
KR100459228B1 (ko) | 불휘발성 강유전체 메모리 장치 및 그 구동방법 | |
KR100663771B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
JP2007018584A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2511910B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100924331B1 (ko) | 반도체 메모리 소자의 센스앰프 전원 공급 회로 | |
US20030086320A1 (en) | Semiconductor device having integrated memory and logic | |
US8659321B2 (en) | Semiconductor device having sense amplifier | |
KR101171254B1 (ko) | 비트라인 센스앰프 제어 회로 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치 | |
KR100813553B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 전압 생성 회로 | |
KR100316521B1 (ko) | 반도체 메모리의 오버 드라이브 회로 | |
US6473347B2 (en) | Semiconductor device having memory with effective precharging scheme | |
KR100640786B1 (ko) | 반도체 기억 소자의 워드 라인 인에이블 회로 및 방법 | |
KR100428684B1 (ko) | 제어신호의 마스킹을 고려한 반도체 기억장치 | |
KR100567528B1 (ko) | 슈도 에스램의 프리차지 제어 회로 | |
KR100562980B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR100498186B1 (ko) | 데이터 리드의 오동작을 방지하기 위한페이지액티브회로를 구비한 의사 에스램 | |
KR100239882B1 (ko) | 기입 동작시 소모되는 전류를 줄이기 위한 워드라인 구동회로 및 이를 이용한 sram 장치 | |
KR100253285B1 (ko) | 번-인 모드를 고려한 자동 전력 감소 펄스폭 제어회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130225 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140221 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150223 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160223 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170223 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180223 Year of fee payment: 16 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |