KR20020021714A - 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템 - Google Patents

독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20020021714A
KR20020021714A KR1020000054430A KR20000054430A KR20020021714A KR 20020021714 A KR20020021714 A KR 20020021714A KR 1020000054430 A KR1020000054430 A KR 1020000054430A KR 20000054430 A KR20000054430 A KR 20000054430A KR 20020021714 A KR20020021714 A KR 20020021714A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
strobe signal
data strobe
signal
memory
Prior art date
Application number
KR1020000054430A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100360408B1 (ko
Inventor
이재형
이동양
Original Assignee
윤종용
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자 주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1020000054430A priority Critical patent/KR100360408B1/ko
Priority to US09/886,718 priority patent/US6459651B1/en
Priority to TW090117087A priority patent/TW564437B/zh
Priority to CNB011255331A priority patent/CN1214396C/zh
Priority to JP2001266417A priority patent/JP3670604B2/ja
Publication of KR20020021714A publication Critical patent/KR20020021714A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100360408B1 publication Critical patent/KR100360408B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/1084Data input buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1045Read-write mode select circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1066Output synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Abstract

메모리 시스템에서 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있게 하는 싱크로너스 디램 및 이를 구비하는 메모리 시스템이 제공된다. 상기 싱크로너스 디램은, 기입동작시 입력 데이터를 마스킹하기 위한 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고, 독출동작시에는 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력한다. 상기 싱크로너스 디램은, 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 수신되는 상기 데이터 마스킹 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력하는 데이터 마스킹 신호 입력버퍼, 및 내부에서 발생되는 내부 데이터 스트로브 신호를 버퍼링하여 상기 데이터 마스킹 핀으로 출력하는 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼를 더 구비한다. 또한 상기 싱크로너스 디램은, 외부에서 제어 가능한 모드 레지스터를 더 구비하고, 상기 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼는 상기 모드 레지스터의 출력신호에 의해 제어된다.

Description

독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력하는 데이터 마스킹 핀을 갖는 반도체 메모리장치 및 이를 구비하는 메모리 시스템{Semiconductor memory device having data masking pin for outputting the same signal as data strobe signal during read operation and memory system including the same}
본 발명은 반도체 메모리장치 및 이를 채용하는 메모리 시스템에 관한 것으로, 특히 메모리 시스템에서 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있게 하는 싱크로너스 디램 및 이를 구비하는 메모리 시스템에 관한 것이다.
시스템 성능의 향상을 위해 반도체 메모리장치, 특히 디램은 지속적으로 고집적화 및 고속화되어 가는 추세이다. 즉 좀더 많은 데이터를 좀더 빠른 속도로 처리하는 디램이 요구되고 있다. 이에 따라 고속동작을 위해 시스템 클럭에 동기되어 동작하는 싱크로너스 디램이 개발되었으며, 싱크로너스 디램의 등장으로 데이터 전송속도가 획기적으로 증가되었다.
그러나 싱크로너스 디램에서는 시스템 클럭의 한 싸이클 내에서 데이터의 입출력이 이루어져야 하므로, 싱크로너스 디램과 디램 콘트롤러 간의 대역폭(Bandwidth), 즉 단위시간당 메모리장치로부터 입출력되는 데이터의 양을 증가시키는 데 한계가 있다. 따라서 근래에는 데이터 전송속도를 더 증가시키기 위해, 데이터 스트로브 신호의 상승에지 및 하강에지에 모두 동기되어 데이터가 입출력되는 DDR(Dual Data Rate) 싱크로너스 디램이 개발되었다.
도 1은 DDR 싱크로너스 디램을 채용하는 메모리 시스템의 개략적인 블락도이다.
도 1을 참조하면, DDR 싱크로너스 디램을 채용하는 메모리 시스템에서는, 클럭 드라이버(17)에서 발생되는 시스템 클럭(CK)이 메모리 모듈들(13)상의 DDR 싱크로너스 디램들(15)로 전송된다. 어드레스(ADD)와 명령(COM)은 기입동작 및 독출동작시 메모리 콘트롤러(11)로부터 메모리 모듈들(13)상의 DDR 싱크로너스 디램들(15)로 단 방향으로 전송된다.
데이터(DQ)와 데이터 스트로브 신호(DQS)는 기입동작시에는 메모리 콘트롤러(11)로부터 메모리 모듈들(13)상의 DDR 싱크로너스 디램들(15)로 전송되고 독출동작시에는 메모리 모듈들(13)상의 DDR 싱크로너스 디램들(15)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송된다. 즉 데이터(DQ)와 데이터 스트로브 신호(DQS)는 양방향으로 전송된다. 한편 데이터 마스킹 신호(DM)는 기입동작시 메모리 콘트롤러(11)에서 발생되어 메모리 모듈들(13) 상의 DDR 싱크로너스 디램들(15)로 전송된다.
데이터 스트로브 신호(DQS)는 데이터(DQ)의 입출력을 스트로빙하기 위한 신호이고, 데이터 마스킹 신호(DM)는 기입동작시 DDR 싱크로너스 디램들(15)에 입력되는 소정의 데이터를 마스킹하기 위한 신호이다. 일반적으로 데이터 스트로브 신호(DQS) 및 데이터 마스킹 신호(DM)는 x4 구조(Organization)를 갖는 싱크로너스 디램에서는 4비트의 데이터당 1개씩 할당되고 x8 구조를 갖는 싱크로너스 디램에서는 8비트의 데이터당 1개씩 할당된다.
따라서 도 1에 도시된 메모리 시스템에서, 도 2에 도시된 바와 같이 x4 구조를 갖는 싱크로너스 디램들을 채용하는 모듈(이하 x4 모듈이라 함)과 x8 구조를 갖는 싱크로너스 디램들을 채용하는 모듈(이하 x8 모듈이라 함)이 혼용되지 않는 경우에는, 데이터(DQ)와 데이터 스트로브 신호(DQS) 사이의 관계는 항상 일정하다.즉 메모리 모듈들(13-1 내지 13-4)이 모두 X4 모듈인 경우에는 데이터(DQ)가 N비트이면 데이터 스트로브 신호(DQS)는 N/4개이고, 메모리 모듈들(13-1 내지 13-4)이 모두 X8 모듈인 경우에는 데이터(DQ)가 N비트이면 데이터 스트로브 신호(DQS)는 N/8개이다.
다시말해 각 메모리 모듈(13-1 내지 13-4)로부터 데이터를 독출하고자 할 경우 각 메모리 모듈(13-1 내지 13-4)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송되는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 동일하며, 결국 메모리 콘트롤러(11)가 각 메모리 모듈(13-1 내지 13-4)로부터 독출되는 데이터를 받기 위해 사용해야 하는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 동일하다. 따라서 메모리 콘트롤러(11)는 동일한 수의 데이터 스트로브 신호(DQS)를 사용하여 쉽게 각 메모리 모듈(13-1 내지 13-4)로부터 독출되는 데이터를 받아들일 수 있다.
그러나 도 1에 도시된 메모리 시스템에서 도 3에 도시된 바와 같이 x4 모듈과 x8 모듈이 혼용될 경우에는, 데이터(DQ)와 데이터 스트로브 신호(DQS) 사이의 관계가 일정하지 않다. 여기에서 메모리 모듈들(13-5,13-8)이 X4 모듈이고 메모리 모듈들(13-6,13-7)이 X8 모듈이라고 가정한다.
이 경우에는 각 메모리 모듈(13-5 내지 13-8)로부터 데이터를 독출하고자 할 경우, X4 모듈들, 즉 메모리 모듈들(13-5,13-8)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송되는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수와 X8 모듈들, 즉 메모리 모듈들(13-6,13-7)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송되는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 서로 다르다. 결국 메모리 콘트롤러(11)가 X4 모듈들(13-5,13-8)로부터 독출되는 데이터를 받기 위해 사용해야 하는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수와 메모리 콘트롤러(11)가 X8 모듈들(13-6,13-7)로부터 독출되는 데이터를 받기 위해 사용해야 하는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 서로 다르다.
예컨데 X4 모듈들(13-5,13-8)로부터 N비트의 데이터(DQ)를 독출할 경우에는 N/4개(set0, set1)의 데이터 스트로브 신호(DQS)가 X4 모듈들(13-5,13-8)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송되는 반면에, X8 모듈들(13-6,13-7)로부터 N비트의 데이터(DQ)를 독출할 경우에는 N/8개(set0)의 데이터 스트로브 신호(DQS)가 X8 모듈들(13-6,13-7)로부터 메모리 콘트롤러(11)로 전송된다.
이로 인하여 메모리 시스템에서 X4 모듈들과 X8 모듈들이 혼용될 경우에는, 메모리 콘트롤러는 모듈들로부터 데이터 독출시 어떤 데이터 스트로브 신호를 이용하여 데이터를 받아들여야 할지 판단하기가 어렵게 된다. 그러므로 지금까지 메모리 시스템에서는 불가피하게 동일한 구조를 갖는 메모리 모듈들만이 채용되어 왔다.
따라서 본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는, 메모리 시스템에서 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있게 하는 싱크로너스 디램을 제공하는 데 있다.
본 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는, 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있는 메모리 시스템을 제공하는 데 있다.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 DDR 싱크로너스 디램을 채용하는 메모리 시스템의 개략적인 블락도이다.
도 2는 종래의 메모리 시스템에서 동일한 구조를 갖는 모듈들만이 사용될 경우 데이터와 데이터 스트로브 신호 사이의 관계를 나타내는 도면이다.
도 3은 종래의 메모리 시스템에서 서로 다른 구조를 갖는 모듈들이 혼용될 경우 데이터와 데이터 스트로브 신호 사이의 관계를 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 메모리 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 싱크로너스 디램에서 데이터 마스킹 신호 및 데이터 스트로브 신호 입출력과 관련된 부분을 나타내는 회로도이다.
도 6은 종래의 싱크로너스 디램과 본 발명에 따른 싱크로너스 디램에서 신호들의 차이를 보이기 위한 타이밍도이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 기입동작시 입력 데이터를 마스킹하기 위해 메모리 콘트롤러로부터 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고, 독출동작시에는 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 본 발명에 따른 싱크로너스 디램이 제공된다.
상기 본 발명에 따른 싱크로너스 디램은, 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 수신되는 상기 데이터 마스킹 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력하는 데이터 마스킹 신호 입력버퍼, 및 내부에서 발생되는 내부 데이터 스트로브 신호를 버퍼링하여 상기 데이터 마스킹 핀으로 출력하는 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼를 더 구비한다.
또한 상기 본 발명에 따른 싱크로너스 디램은, 외부에서 제어 가능한 모드 레지스터를 더 구비하고, 상기 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼는 상기 모드 레지스터의 출력신호에 의해 제어되는 것이 바람직하다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여, 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 각각의 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터를 입출력하는 적어도 하나의 제1 메모리 모듈, 상기 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 각각의 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터를 입출력하는 적어도 하나의 제2 메모리 모듈, 및 상기 제1 및 제2 메모리 모듈들을 제어하고 상기 제1 및 제2 메모리 모듈들과 데이터를 주고 받는 메모리 콘트롤러를 구비하고, 상기 제1 메모리 모듈의 구조와 상기 제2 메모리 모듈의 구조가 서로 다른 것을 특징으로 하는 본 발명에 따른 메모리 시스템이 제공된다.
상기 제1 메모리 모듈의 구조는 X4 구조이고 상기 제2 메모리 모듈의 구조는 X8 구조, X16 구조, 및 X32 구조중 하나이다.
상기 제2 메모리 모듈에 채용되는 반도체 메모리장치들 각각은, 기입동작시 입력 데이터를 마스킹하기 위해 상기 메모리 콘트롤러로부터 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고, 특히 독출동작시에는 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 상기 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력한다. 또한 상기 반도체 메모리장치들의 데이터 마스킹 핀들은 상기 데이터 스트로브 신호를 전송하는 데이터 스트로브 라인들에 연결된다.
본 발명과 본 발명의 동작 상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 4는 본 발명에 따른 메모리 시스템을 설명하기 위한 도면이다. 여기에서 메모리 모듈들(43-5,43-8)은 X4 모듈이고 메모리 모듈들(43-6,43-7)은 X8 모듈이라고 가정한다. 상기 메모리 모듈들(43-5 내지 43-8)은 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 각각의 데이터 스트로브 신호(DQS)에 응답하여 데이터를 입출력한다.
도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는 X8 모듈들(43-6,43-7)의 데이터 마스킹 핀들(45)이 데이터 스트로브 신호(DQS)를 전송하는 데이터 스트로브 라인들(set1)에 연결된다. 좀더 상세하게는 X8 모듈들의 데이터 마스킹 핀들(45)이 종래에는 X8 모듈들(43-6,43-7)에 연결되지 않았던 데이터 스트로브 라인들(set1)에 연결된다.
한편 X8 모듈들(43-6,43-7) 상에 장착되는 X8 싱크로너스 디램들은, 기입동작시 소정의 입력 데이터를 마스킹하기 위한 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고, 특히 독출동작시에는 데이터 마스킹 핀을 통해 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력하도록 구성된다. X8 모듈들(43-6,43-7) 상에 장착되는 X8 싱크로너스 디램들의 데이터 마스킹 핀들은 X8 모듈들(43-6,43-7)의 데이터 마스킹 핀들(45)에 연결된다.
따라서 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는, X8 모듈들(43-6,43-7)로부터 N비트의 데이터(DQ)를 독출할 경우에 X8 모듈들(43-6,43-7)의 데이터 스트로브 핀들로부터 출력되는 N/8개(set0)의 데이터 스트로브 신호(DQS)와 X8 모듈들(43-6,43-7)의 데이터 마스킹 핀들(45)로부터 출력되는 N/8개(set1)의 데이터 스트로브 신호(DQS)가 메모리 콘트롤러(41)로 전송된다.
또한 X4 모듈들(43-5,43-8)로부터 N비트의 데이터(DQ)를 독출할 경우에는 X4 모듈들(43-5,43-8)의 데이터 스트로브 핀들로부터 출력되는 N/4개(set0, set1)의 데이터 스트로브 신호(DQS)가 메모리 콘트롤러(41)로 전송된다.
이에 따라 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는, X4 모듈들(43-5,43-8)과 X8 모듈들(43-6,43-7)이 혼용될 경우에도 독출동작시 각 메모리 모듈(43-5 내지 43-8)로부터 메모리 콘트롤러(41)로 전송되는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 동일하다. 즉 독출동작시 메모리 콘트롤러(41)가 각 메모리 모듈(43-6 내지 43-8)로부터 독출되는 데이터를 받기 위해 사용해야 하는 데이터 스트로브 신호(DQS)의 수가 동일하다.
따라서 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는, X4 모듈들과 X8 모듈들이 혼용될 경우에도 독출동작시 메모리 콘트롤러(41)가 동일한 수의 데이터 스트로브 신호(DQS)를 사용하여 각 메모리 모듈들(43-5 내지 43-8)로부터 독출되는 데이터를 쉽게 받아들일 수 있다.
한편 기입동작시 X8 모듈들(43-6,43-7)로 기입되는 소정의 입력 데이터를 마스킹할 때는 메모리 콘트롤러(41)에서 발생된 데이터 마스킹 신호가 X8 모듈들(43-6,43-7)의 데이터 마스킹 핀들(45)을 통해 입력되어 정상적으로 데이터 마스킹 기능이 수행될 수 있다.
도 5는 도 4에 도시된 메모리 시스템에 채용되는 본 발명에 따른 X8 싱크로너스 디램에서 데이터 마스킹 신호 및 데이터 스트로브 신호 입출력과 관련된 부분을 나타내는 회로도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 X8 싱크로너스 디램은, 데이터 스트로브 핀(51), 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(52), 데이터 스트로브 신호 입력버퍼(53), 데이터 마스킹 핀(54), 및 데이터 마스킹 신호 입력버퍼(55)를 구비한다. 또한 본 발명에 따른 싱크로너스 디램은, 도 4에 도시된 메모리 시스템에서 X4 모듈들과 X8 모듈들이 혼용되어 사용될 수 있도록 하기 위해 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(56) 및 모드 레지스터(57)을 더 구비한다.
데이터 스트로브 신호 출력버퍼(52)는 독출동작시 내부에서 발생되는 내부 데이터 스트로브 신호(IDQS)를 버퍼링하여 데이터 스트로브 핀(51)으로 출력한다. 데이터 스트로브 신호 입력버퍼(53)는 기입동작시 도 4에 도시된 메모리 콘트롤러(41)에서 발생된 데이터 스트로브 신호(DQS)를 데이터 스트로브 핀(51)을 통해 수신하고 수신된 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력한다.
데이터 마스킹 신호 입력버퍼(55)는 기입동작시 메모리 콘트롤러(41)에서 발생된 데이터 마스킹 신호(DM)를 데이터 마스킹 핀(54)을 통해 수신하고 수신된 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력한다. 특히 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(56)는 독출동작시 내부 데이터 스트로브 신호(IDQS)를 버퍼링하여 데이터 마스킹 핀(54)으로 출력한다. 즉 독출동작시에, 데이터 스트로브 핀(51)을 통해 출력되는 신호와 동일한 신호가 데이터 마스킹 핀(54)을 통해 출력된다.
여기에서 데이터 스트로브 핀(51)을 통해 출력되는 신호와 데이터 마스킹 핀(54)을 통해 출력되는 신호의 위상차를 가능한 줄이기 위해서는 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(52)와 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(56)가 동일한 회로로 구성되는 것이 바람직하다.
한편 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(56)는 외부에서 조절이 가능한 모드 레지스터(57)의 출력신호에 의해 제어되는 것이 바람직하며, 이에 따라 데이터 스트로브 신호 출력버퍼(52)가 선택적으로 제어될 수 있다.
도 6은 종래의 X8 싱크로너스 디램과 도 5에 도시된 본 발명에 따른 X8 싱크로너스 디램에서 신호들의 차이를 보이기 위한 타이밍도이다.
도 6을 참조하면, 기입동작시에는 종래의 싱크로너스 디램의 데이터 마스킹 핀(DM)을 통해 입력되는 신호와 본 발명에 따른 싱크로너스 디램의 데이터 마스킹 핀(DM)을 통해 입력되는 신호가 동일하다.
그러나 독출동작시에는 종래의 싱크로너스 디램에서는 데이터 마스킹 핀(DM)의 상태가 돈케어(Don't care) 상태인 반면에 본 발명에 따른 싱크로너스 디램에서는 데이터 스트로브 핀(DQS)을 통해 출력되는 신호와 동일한 신호가 데이터 마스킹 핀(DM)을 통해 출력된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 X8 싱크로너스 디램은, 독출동작시 데이터 스트로브 핀을 통해 출력되는 신호와 동일한 신호를 데이터 마스킹 핀을 통해 출력함으로써 메모리 시스템에서 X4 싱크로너스 디램과 X8 싱크로너스 디램이 혼용될 수 있게 하는 장점이 있다.
또한 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는, 상기 본 발명에 따른 X8 싱크로너스 디램이 채용되고 X8 싱크로너스 디램들의 데이터 마스킹 핀들, 즉 X8 모듈들의 데이터 마스킹 핀들이 데이터 스트로브 라인들에 연결됨으로써, X4 모듈들과 X8 모듈들이 혼용될 경우에 독출동작시 각 메모리 모듈로부터 메모리 콘트롤러로 전송되는 데이터 스트로브 신호의 수가 동일해 진다. 따라서 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는, X4 모듈들과 X8 모듈들이 혼용될 경우에도 독출동작시 메모리 콘트롤러가 동일한 수의 데이터 스트로브 신호를 사용하여 각 메모리 모듈들로부터 독출되는 데이터를 쉽게 받아들일 수 있는 장점이 있다.
이상에서는 X4 및 X8 모듈을 포함하는 메모리 시스템 및 X4 및 X8 싱크로너스 디램에 대하여 한정적으로 설명하였으나 본 발명의 개념이 X4, X8, X16, X32등에 확장되어 적용될 수 있음은 자명하다. 또한 상기한 실시예에서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 싱크로너스 디램은 메모리 시스템에서 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있게 하는 장점이 있으며, 또한 본 발명에 따른 메모리 시스템에서는 서로 다른 구조를 갖는 메모리 모듈들이 혼용될 수 있는 장점이 있다.

Claims (13)

  1. 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터를 입출력하는 반도체 메모리장치에 있어서,
    기입동작시 입력 데이터를 마스킹하기 위해 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고,
    독출동작시에는 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 상기 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치는 상기 시스템 클럭의 상승에지 및 하강에지에 동기되어 동작하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치는,
    상기 데이터 마스킹 핀을 통해 수신되는 상기 데이터 마스킹 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력하는 데이터 마스킹 신호 입력버퍼; 및
    내부에서 발생되는 내부 데이터 스트로브 신호를 버퍼링하여 상기 데이터 마스킹 핀으로 출력하는 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치는,
    외부에서 제어 가능한 모드 레지스터를 더 구비하고,
    상기 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼는 상기 모드 레지스터의 출력신호에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  5. 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 각각의 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터를 입출력하는 적어도 하나의 제1 메모리 모듈;
    상기 시스템 클럭에 동기되어 동작하고 각각의 데이터 스트로브 신호에 응답하여 데이터를 입출력하는 적어도 하나의 제2 메모리 모듈; 및
    상기 제1 및 제2 메모리 모듈들을 제어하고 상기 제1 및 제2 메모리 모듈들과 데이터를 주고 받는 메모리 콘트롤러를 구비하고,
    상기 제1 메모리 모듈의 구조와 상기 제2 메모리 모듈의 구조가 서로 다른 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1 및 제2 메모리 모듈들은 상기 시스템 클럭의 상승에지 및 하강에지에 동기되어 동작하는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  7. 제5항에 있어서, 상기 제1 메모리 모듈의 구조는 X4 구조이고 상기 제2 메모리 모듈의 구조는 X8 구조인 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  8. 제5항에 있어서, 상기 제1 메모리 모듈의 구조는 X4 구조이고 상기 제2 메모리 모듈의 구조는 X16 구조인 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  9. 제5항에 있어서, 상기 제1 메모리 모듈의 구조는 X4 구조이고 상기 제2 메모리 모듈의 구조는 X32 구조인 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  10. 제5항에 있어서, 상기 제2 메모리 모듈에 채용되는 반도체 메모리장치들 각각은,
    기입동작시 입력 데이터를 마스킹하기 위해 상기 메모리 콘트롤러로부터 데이터 마스킹 신호를 수신하는 데이터 마스킹 핀을 구비하고, 독출동작시에는 상기 데이터 마스킹 핀을 통해 상기 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  11. 제10항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치들의 데이터 마스킹 핀들은 상기 데이터 스트로브 신호를 전송하는 데이터 스트로브 라인들에 연결되는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  12. 제10항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치들 각각은,
    상기 데이터 마스킹 핀을 통해 수신되는 상기 데이터 마스킹 신호를 버퍼링하여 내부회로로 출력하는 데이터 마스킹 신호 입력버퍼; 및
    내부에서 발생되는 내부 데이터 스트로브 신호를 버퍼링하여 상기 데이터 마스킹 핀으로 출력하는 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
  13. 제12항에 있어서, 상기 반도체 메모리장치들 각각은,
    외부에서 제어 가능한 모드 레지스터를 더 구비하고,
    상기 보조 데이터 스트로브 신호 출력버퍼는 상기 모드 레지스터의 출력신호에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
KR1020000054430A 2000-09-16 2000-09-16 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템 KR100360408B1 (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020000054430A KR100360408B1 (ko) 2000-09-16 2000-09-16 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템
US09/886,718 US6459651B1 (en) 2000-09-16 2001-06-21 Semiconductor memory device having data masking pin and memory system including the same
TW090117087A TW564437B (en) 2000-09-16 2001-07-12 Semiconductor memory device having data masking pin and memory system including the same
CNB011255331A CN1214396C (zh) 2000-09-16 2001-08-10 具有数据掩蔽引脚的半导体存储装置及包括该装置的存储系统
JP2001266417A JP3670604B2 (ja) 2000-09-16 2001-09-03 半導体メモリ装置及びメモリシステム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020000054430A KR100360408B1 (ko) 2000-09-16 2000-09-16 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20020021714A true KR20020021714A (ko) 2002-03-22
KR100360408B1 KR100360408B1 (ko) 2002-11-13

Family

ID=19688936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020000054430A KR100360408B1 (ko) 2000-09-16 2000-09-16 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6459651B1 (ko)
JP (1) JP3670604B2 (ko)
KR (1) KR100360408B1 (ko)
CN (1) CN1214396C (ko)
TW (1) TW564437B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100670656B1 (ko) * 2005-06-09 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6570944B2 (en) 2001-06-25 2003-05-27 Rambus Inc. Apparatus for data recovery in a synchronous chip-to-chip system
US6889335B2 (en) * 2001-04-07 2005-05-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Memory controller receiver circuitry with tri-state noise immunity
US6681301B1 (en) * 2001-10-02 2004-01-20 Advanced Micro Devices, Inc. System for controlling multiple memory types
US6785189B2 (en) * 2002-09-16 2004-08-31 Emulex Design & Manufacturing Corporation Method and apparatus for improving noise immunity in a DDR SDRAM system
KR100532956B1 (ko) * 2003-06-28 2005-12-01 주식회사 하이닉스반도체 Ddr sdram에서의 링잉 현상 방지 방법
KR100548563B1 (ko) * 2003-06-30 2006-02-02 주식회사 하이닉스반도체 Ddr sdram 에서의 라이트 링잉 현상을 마스크하기위한 데이타 패스 제어 장치 및 방법
KR100596450B1 (ko) 2003-12-11 2006-07-03 삼성전자주식회사 동작모드에 따라 데이터 스트로브 타입을 선택적으로사용할 수 있는 반도체 메모리 장치
US7370170B2 (en) * 2004-04-27 2008-05-06 Nvidia Corporation Data mask as write-training feedback flag
KR100634436B1 (ko) * 2004-09-23 2006-10-16 삼성전자주식회사 멀티 칩 시스템 및 그것의 부트코드 페치 방법
KR100624297B1 (ko) * 2004-11-15 2006-09-19 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 소프트웨어 레지스터 업데이트 방법및 회로
JP2006155387A (ja) 2004-11-30 2006-06-15 Yamaha Corp コンピュータシステム
US8090897B2 (en) 2006-07-31 2012-01-03 Google Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US8077535B2 (en) 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US7590796B2 (en) * 2006-07-31 2009-09-15 Metaram, Inc. System and method for power management in memory systems
US8130560B1 (en) 2006-11-13 2012-03-06 Google Inc. Multi-rank partial width memory modules
US9507739B2 (en) 2005-06-24 2016-11-29 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8796830B1 (en) 2006-09-01 2014-08-05 Google Inc. Stackable low-profile lead frame package
US8244971B2 (en) 2006-07-31 2012-08-14 Google Inc. Memory circuit system and method
US8327104B2 (en) 2006-07-31 2012-12-04 Google Inc. Adjusting the timing of signals associated with a memory system
US8089795B2 (en) 2006-02-09 2012-01-03 Google Inc. Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities
US8397013B1 (en) 2006-10-05 2013-03-12 Google Inc. Hybrid memory module
US20080028136A1 (en) 2006-07-31 2008-01-31 Schakel Keith R Method and apparatus for refresh management of memory modules
US8359187B2 (en) 2005-06-24 2013-01-22 Google Inc. Simulating a different number of memory circuit devices
US9542352B2 (en) 2006-02-09 2017-01-10 Google Inc. System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits
US8111566B1 (en) 2007-11-16 2012-02-07 Google, Inc. Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface
US9171585B2 (en) 2005-06-24 2015-10-27 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US7386656B2 (en) 2006-07-31 2008-06-10 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit
US10013371B2 (en) 2005-06-24 2018-07-03 Google Llc Configurable memory circuit system and method
US8055833B2 (en) 2006-10-05 2011-11-08 Google Inc. System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage
US8335894B1 (en) 2008-07-25 2012-12-18 Google Inc. Configurable memory system with interface circuit
US8060774B2 (en) 2005-06-24 2011-11-15 Google Inc. Memory systems and memory modules
US7392338B2 (en) 2006-07-31 2008-06-24 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for autonomously performing power management operations in conjunction with a plurality of memory circuits
US8041881B2 (en) 2006-07-31 2011-10-18 Google Inc. Memory device with emulated characteristics
US8081474B1 (en) 2007-12-18 2011-12-20 Google Inc. Embossed heat spreader
US8438328B2 (en) 2008-02-21 2013-05-07 Google Inc. Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs
US8386722B1 (en) 2008-06-23 2013-02-26 Google Inc. Stacked DIMM memory interface
US20080082763A1 (en) 2006-10-02 2008-04-03 Metaram, Inc. Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof
DE112006002300B4 (de) 2005-09-02 2013-12-19 Google, Inc. Vorrichtung zum Stapeln von DRAMs
US9632929B2 (en) 2006-02-09 2017-04-25 Google Inc. Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits
US7724589B2 (en) 2006-07-31 2010-05-25 Google Inc. System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits
KR100813533B1 (ko) * 2006-09-13 2008-03-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 데이터 마스크 방법
KR100851545B1 (ko) * 2006-12-29 2008-08-11 삼성전자주식회사 커맨드 및 어드레스 핀을 갖는 낸드 플래시 메모리 및그것을 포함한 플래시 메모리 시스템
US8209479B2 (en) 2007-07-18 2012-06-26 Google Inc. Memory circuit system and method
US8080874B1 (en) 2007-09-14 2011-12-20 Google Inc. Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween
CN101527163B (zh) * 2008-03-07 2012-05-23 瑞昱半导体股份有限公司 存储器控制器及其信号同步方法
US8116144B2 (en) * 2008-10-15 2012-02-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Memory module having a memory device configurable to different data pin configurations
KR20100101449A (ko) * 2009-03-09 2010-09-17 삼성전자주식회사 메모리 장치, 그것의 마스크 데이터 전송 방법 및 입력 데이터 정렬 방법
DE202010017690U1 (de) 2009-06-09 2012-05-29 Google, Inc. Programmierung von Dimm-Abschlusswiderstandswerten
US8526247B2 (en) * 2010-09-02 2013-09-03 Mircon Technology, Inc. Memories and methods for sharing a signal node for the receipt and provision of non-data signals
KR101796116B1 (ko) 2010-10-20 2017-11-10 삼성전자 주식회사 반도체 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈, 메모리 시스템 및 그 동작방법
KR101157031B1 (ko) * 2010-11-17 2012-07-11 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 반도체 시스템
JP6190697B2 (ja) * 2013-11-07 2017-08-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
KR20170111572A (ko) * 2016-03-29 2017-10-12 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이의 동작 방법
US10692566B2 (en) 2016-11-18 2020-06-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Interface method of memory system, interface circuitry and memory module
KR102538706B1 (ko) * 2019-01-08 2023-06-02 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
CN112099733B (zh) * 2020-08-26 2022-05-13 瑞芯微电子股份有限公司 一种dram内存时序配置方法和装置
KR20220155518A (ko) 2021-05-14 2022-11-23 삼성전자주식회사 전자 장치, 호스트의 동작 방법, 메모리 모듈의 동작 방법, 및 메모리 장치의 동작 방법

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100364127B1 (ko) * 1997-12-29 2003-04-11 주식회사 하이닉스반도체 칩-세트
KR100287183B1 (ko) * 1999-01-16 2001-04-16 윤종용 안정적인 데이터 마스킹 스킴을 갖는 반도체 메모리장치 및 이의 데이터 마스킹 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100670656B1 (ko) * 2005-06-09 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
US7349290B2 (en) 2005-06-09 2008-03-25 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
KR100360408B1 (ko) 2002-11-13
CN1345070A (zh) 2002-04-17
JP2002132580A (ja) 2002-05-10
US20020034119A1 (en) 2002-03-21
US6459651B1 (en) 2002-10-01
CN1214396C (zh) 2005-08-10
TW564437B (en) 2003-12-01
JP3670604B2 (ja) 2005-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100360408B1 (ko) 독출동작시 데이터 스트로브 신호와 동일한 신호를출력하는 데이터 마스킹핀을 갖는 반도체 메모리장치 및이를 구비하는 메모리 시스템
US6795906B2 (en) Memory controller, interface device and method using a mode selection signal to support different types of memories
US7701800B2 (en) Multi-port memory device with serial input/output interface
US7024518B2 (en) Dual-port buffer-to-memory interface
US7499356B2 (en) Semiconductor memory device
KR100588599B1 (ko) 메모리 모듈 및 메모리 시스템
US6738880B2 (en) Buffer for varying data access speed and system applying the same
KR100252048B1 (ko) 반도체 메모리장치의 데이터 마스킹 회로 및 데이터 마스킹방법
US7327613B2 (en) Input circuit for a memory device
US20020129215A1 (en) Memory system having point-to-point bus configuration
KR20040106303A (ko) 프리페치 길이보다 짧은 버스트 길이를 갖는 메모리 시스템
US20050278490A1 (en) Memory access control apparatus and method of controlling memory access
KR20000077262A (ko) 캐시의 사용이 선택될 수 있는 반도체 메모리 디바이스
US20070242553A1 (en) Multi-port memory device with serial input/output interface and control method thereof
KR100295046B1 (ko) 개선된싱크로너스디램과로직이하나의칩에병합된반도체장치
KR100281952B1 (ko) 데이터 전송 메모리 장치
KR20090066916A (ko) 반도체 메모리 입출력 장치
US7898880B2 (en) Dual port memory device, memory device and method of operating the dual port memory device
US20050243641A1 (en) Input circuit for memory device
US8495327B2 (en) Memory device synchronization
US7298666B2 (en) Device for distributing input data for memory device
US6757752B2 (en) Micro controller development system
USRE35978E (en) Control circuit of dynamic random access memory
KR100331557B1 (ko) 순차적 전송 기능을 갖는 출력단 및 이를 내장하는 반도체 메모리 장치를 구비하는 메모리 시스템
KR19980056135A (ko) 듀얼포트로 동작하는 싱크로너스 디램

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120925

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130930

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141001

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151001

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160930

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180927

Year of fee payment: 17