KR200145604Y1

KR200145604Y1 - 완충형 검사 접촉기

Info

Publication number: KR200145604Y1
Application number: KR2019960039507U
Authority: KR
Inventors: 김경률
Original assignee: 구본준; 엘지반도체주식회사
Priority date: 1996-11-12
Filing date: 1996-11-12
Publication date: 1999-06-15
Also published as: KR19980026611U

Abstract

본 고안은 검사 접촉기에 관한 것으로 특히, 소켓 패드와 디바이스의 리드선을 강하게 접촉시키기 위한 소정 개수의 압박부재와, 압박부재에 일단이 고정되어 있는 소정 개수의 탄성부재와, 소정 개수의 요홈이 배면에 형성되어 있으며 탄성부재의 다른 일단이 요홈에 고정되어 있는 압박부재 지지부, 및 압박부재 지지부를 진행시켜 압박부재가 디바이스의 리드선을 강압할 수 있도록하는 푸쉬암을 포함하는 것을 특징으로 하는 완충형 검사 접촉기를 제공하면, 디바이스의 리드선과 검사용 소켓 패드간의 접촉이 불안정하게 될 수 있다는 문제점과 푸쉬암의 진행거리가 불규칙적이기 때문에 발생될 수 있는 디바이스의 손상과 비접촉에 따른 검사 능율의 저하를 해소할 수 있다는 효과가 있다.

Description

완충형 검사 접촉기

제1도는 종래 검사 접촉기의 구성 예시도.

제2도는 본 고안에 따른 검사 접촉기의 구성 예시도

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 푸쉬암 2 : 압박부재 지지부

3 : 탄성부재 4 : 압박부재

5 : 디바이스 6 : 소켓 패드

7 : 검사용 소켓

본 고안은 검사 접촉기에 관한 것으로 특히, 푸쉬 암 타입의 핸들러를 사용하는 경우 검사 대상인 디바이스의 안정적인 접촉을 위한 완충형 검사 접촉기에 관한 것이다.

일반적으로, 종래의 검사 접촉기는 첨부한 제1도에 도시되어 있는 바와같이, 패키지 화 되어진 디바이스(C)를 검사용 장치의 소켓(E)에 안착하여 검사 과정을 진행하여야 하는데, 이때 상기 소켓(E)에 구비되어 있는 검사용 소켓 패드(D)와 상기 디바이스(C)의 리드선을 강하게 접속시켜야하기 때문에 참조번호 A와 B로 구성되는 강제 접촉 기구를 사용하였다.

상기와 같은 종래의 검사 접촉기에서는 참조번호 B에 대응하는 접촉보디가 직접적으로 디바이스의 리드선과 닿게 됨으로 오랜시간 계속적인 사용을 통해 부분적인 마모현상이 생길수 있어 디바이스의 리드선과 검사용 소켓 패드(D)간의 접촉이 불안정하게 될 수 있다는 문제점이 발생되었다.

또한, 푸쉬암의 진행거리가 너무 짧은 경우에도 정확한 접촉이 이루어지지 않으며, 너무 길어지는 경우 디바이스나 검사용 소켓에 무리를 줄수 있다는 문제점이 발생되었다.

상기와 같은 문제점을 해소하기 위한 본 고안의 목적은 종래의 접촉 보디가 푸쉬암과 고정되어 있고 푸쉬암의 푸쉬동작의 진행거리가 고정되어 있어 발생한다는 점에 창안하여 접촉 보디 부분에서 실제적으로 검사용 소켓 패드(D)와 상기 디바이스(C)의 리드선을 강하게 접속시키기 위한 압력 제공 부분을 탄성소재로 완충 가능하도록 함으로써 부분적인 마모현상이 생겼다 하더라도 일정압력을 제공할 수 있도록하는 완충형 검사 접촉기를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 특징은, 페키지 화 되어진 디바이스의 리드선을 검사용 소켓에 구비되어 있는 소켓 패드에 강제 접촉 시키기 위한 접촉기에 있어서, 상기 소켓 패드와 상기 디바이스의 리드선을 강하게 접촉시키기 위한 소정 개수의 압박부재와, 상기 압박부재에 일단이 고정되어 있는 소정 개수의 탄성부재와, 소정 개수의 요홈이 배면에 형성되어 있으며 상기 탄성부재의 다른 일단이 요홈에 고정되어 있는 압박부재 지지부, 및 상기 압박부재 지지부를 진행시켜 상기 압박부재가 상기 디바이스의 리드선을 강압할 수 있도록하는 푸쉬암을 포함하는 데 있다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 설명한다.

제2도는 본 고안에 따른 검사 접촉기의 구성 예시도로서, 패키지화 되어진 디바이스(5)와, 상기 디바이스(5)를 검사하기 위한 검사용 소켓(7)과, 상기 디바이스(5)의 리드선과 상기 검사용 소켓(7)을 연결하기 위한 소켓 패드(6)와, 상기 소켓 패드(6)와 상기 디바이스(5)의 리드선을 강하게 접촉시키기 위한 소정 개수의 압박부재(4)와, 상기 압박부재(4)에 일단이 고정되어 있는 소정 개수의 탄성부재(3)와, 소정 개수의 요홈이 배면에 형성되어 있으며 상기 탄성부재(3)의 다른 일단이 요홈에 고정되어 있는 압박부재 지지부(2), 및 상기 압박부재 지지부(2)를 진행시켜 상기 압박부재(4)가 상기 디바이스(5)의 리드선을 강압할 수 있도록하는 푸쉬암(1)으로 구성되어 있다.

또한, 상기 압박부재(4)에는 디바이스(5)의 리드선을 압박하는 구성 이외에 디바이스 자체를 일정하게 압박할 수 있는 압박부재도 구비되어진다.

상기와 같이 구성되는 본 고안에 따른 완충형 검사 접촉기의 바람직한 동작예를 설명하면 다음과 같다.

검사용 소켓(7)에 검사하고자 하는 디바이스(5)가 안착된 상태에서 푸쉬암(1)이 아래로 진행한다.

상기 푸쉬암(1)이 하강함에 따라 상기 푸쉬암(1)에 고정되어 있는 압박부재 지지부(2) 역시 하강하게 되는데, 그에 따라 압박부재(4)는 디바이스(5)를 압박하게 된다.

상기 압박부재(4)가 상기 디바이스(5)를 압박하는 강도는 상기 압박부재(4)의 일단에 연결되어 있는 탄성부재(3)의 탄성력과 상기 푸쉬암(1)의 하강거리에 따라 좌우된다.

이때, 상기 탄성부재(3)는 본 고안의 실시예에서는 스프링을 사용하게 된다.

그에따라, 압박부재(4)가 디바이스(5)의 리드선에 의해 부분적인 마모가 발생되었다 하더라도 탄성부재(3)에 의해 리드선과 소켓 패드간에는 일정한 압력의 접촉이 유지되게 된다.

상기와 같은 본 고안에 따른 완충형 검사 접촉기를 제공하면, 디바이스의 리드선과 검사용 소켓 패드간의 접촉이 불안정하게 될 수 있다는 문제점과 푸쉬암의 진행거리가 불규칙적이기 때문에 발생될 수 있는 디바이스의손상과 비접촉에 따른 검사 능율의 저하를 해소할 수 있다는 효과가 있다.

Claims

페키지 화 되어진 디바이스의 리드선을 검사용 소켓에 구비되어 있는 소켓 패드에 강제 접촉 시키기 위한 접촉기에 있어서, 상기 소켓 패드와 상기 디바이스의 리드선을 강하게 접촉시키기 위한 소정 개수의 압박부재와; 상기 압박부재에 일단이 고정되어 있는 소저 개수의 탄성부재와; 소정 개수의 요홈이 배면에 형성되어 있으며 상기 탄성부재의 다른 일단이 요홈에 고정되어 있는 압박부재 지지부; 및 상기 압박부재 지지부를 진행시켜 상기 압박부재가 상기 디바이스의 리드선을 강압할 수 있도록하는 푸쉬암을 포함하는 것을 특징으로 하는 완충형 검사 접촉기.
제1항에 있어서, 상기 탄성부재는 스프링으로 구성하는 것을 특징으로 하는 완충형 검사 접촉기.
제1항에 있어서, 상기 압박부재들 중에는 디바이스 자체를 압박하는 압박부재가 구비되어 있는 것을 특징으로 하는 완충형 검사 접촉기.