KR950009612Y1 - 반도체 소자 검사기의 핑거 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

반도체 소자 검사기의 핑거

제1도는 본 고안의 사시도.

제2도는 본 고안의 작동상태도.

제3도는 종래장치를 나타낸 작동상태도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 핑거몸체 2 : 하우징

3 : 접속봉 4 : 스프링

본 고안은 반도체 소자 검사기내에 설치되어 검사기내로 투입되어온 소자의 리드에 접속하여 소자와 검사장치를 전기적으로 연결시켜주는 역할을 하는 핑거(Finger)에 관힌 것으로, 좀더 구체적으로는 핑거의 선단부가 소자의 리드에 탄력적으로 접속될 수 있게 구성된 핑거에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 검사기에 소켓을 설치하고 소자를 소켓에 삽입하여 검사하는 반도체 소자 검사기가 알리져 있으나, 이는 소자의 삽입시 또는 소자를 소켓에서 빼어낼때 리드가 구부러지기 쉽고 리드휨로 인한 불량품의 발생빈도가 많다.

또한 제3도와 같이 검사기 내에 솔레노이드나 벨브에 의해 이동하는 한쌍의 핑거(11)를 설치하고 소자가 투입되어 소정위치에 정지하면 핑거(11)가 소자 방향으로 전진하여 리드(5)에 접속되게 한 장치도 사용되고 있다.

그리나 상기한 장치는 핑거(11)가 재질자체의 텐션에 의해 리드(5)와 접속되는 구조이어서 핑거 선단부(접속부)의 마모가 심하고 솔레노이드 또는 밸브가 핑거를 밀어주는 힘에 따라 접촉 감도에 차이가 생겨 검사의 정확도가 낮아지는 문제점 있다.

본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위한것으로, 이를 첨부된 도면에 의해 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

핑거몸체(1)의 일측에 하우징(2)을 고정하고 하우징 내에 검사장치와 연결된 다수의 접속봉(3)을 스프링(4)으로 탄력설치하여서 된 것이다.

이와같이 된 본 고안은 솔레노이드 또는 밸브에 의해 핑거가 소자 방향으로 이동되어 리드와 접속할때 스프링(4)의 텐션에 의해 리드에는 일정한 힘만 가해지게 된다.

즉, 핑거 몸체(1)가 다소 강한 힘으로 밀리는 경우에는 접속봉(3)이 리드(5)와 접속할때 스프링(4)이 조금더 압축되고 반대로 핑거 몸체가 다소 약한 힘으로 밀릴때에는 스프링(4)의 압축량이 작아지므로 결국 리드(5)에는 적당한 힘이 가해지게 되며, 이에 따라 접속봉(3)의 마모가 적어지고 접촉 감도가 일정해진다.

이상에서와 같이 본 고안은 핑거를 리드에 탄력적으로 접속시켜 핑거의 마모를 방지하고 검사의 정밀도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

1. 핑거 모체(1)의 일측에 하우징(2)을 고정하고 하우징 내에 검사장치와 연결된 다수의 접속봉(3)을 스프링(4)으로 탄력설치하여서 됨을 특징으로 하는 반도체 소자 검사기의 핑거.