KR100395747B1 - 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 디바이스의 리드가 패키지의 외부로 노출된 디바이스를 자중에 의해 이송시키면서 테스트부에서 테스트시 디바이스의 리드와 콘택핀을 전기적으로 접속시키는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치에 관한 것으로, 그 구조를 개선하여 콘택핀의 이동량을 항상 일정하게 유지시켜 테스트시 디바이스의 리드가 변형되는 현상을 미연에 방지할 수 있도록 한 것이다.

이를 위해, 테스트부(7)에 한 쌍의 콘택핀(10)을 설치하여 상기 콘택핀이 디바이스(9)의 리드(9a)에 접속된 상태에서 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에 있어서, 테스트부(7)에 설치된 콘택핀(10)의 양측에 회동가능하게 설치된 푸셔(12)와, 상기 일측의 푸셔에 근접되게 설치된 구동수단(13)과, 상기 구동수단의 구동에 의해 가이드레일을 따라 진퇴운동하는 슬라이더(15)와, 상기 슬라이더에 고정되어 구동수단에 의해 슬라이더가 진퇴운동함에 따라 푸셔(12)를 내측으로 오므려주는 캠판(16)으로 구성된 것이다.

Description

수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치{Contact device of handler}

본 발명은 디바이스의 리드가 패키지의 외부로 노출된 디바이스를 자중에 의해 이송시키면서 테스트부에서 테스트시 디바이스의 리드와 콘택핀을 전기적으로 접속시키는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치에 관한 것이다.

도 1은 일반적인 수직식 핸들러를 나타낸 측면도로서, 수직식 핸들러는 튜브형상의 슬리브(Sleeve)내에 테스트할 디바이스를 채운 다음 이를 일정각도 기울여 슬리브내의 디바이스가 자중에 의해 이송되도록 한 것으로 그 동작을 간략하게 설명하면 다음과 같다.

슬리브(1)내에 테스트할 디바이스를 채운 다음 이를 로딩부(2)의 스택커(Stacker)(3)사이에 차례로 적재하여 놓으면 별도의 이송수단이 스택커(3)의 하부로부터 디바이스가 채워진 슬리브(1)를 1개씩 분리하여 일정각도 회동운동하는 스윙암(Swing Arm)(4)으로 수평 이송시키게 된다.

상기한 동작으로 디바이스가 채워진 슬리브(1)가 스윙암(4)으로 이송됨을 센서(도시는 생략함)가 감지하여 상기 스윙암(4)을 설정된 각도만큼 회동시키면 슬리브는 삽입편(5)의 후방에 위치된 스프링의 탄발력에 의해 이송트랙(6)측으로 밀려개구부가 이송트랙과 일치된다.

이에 따라, 슬리브내에 채워져 있던 디바이스가 자중에 의해 슬리브의 개구부를 통해 빠져 나와 이송트랙(6)을 따라 테스트부(7)로 이송되어 디바이스의 리드가 테스트부에 설치된 콘택핀에 전기적으로 접속되므로 설정된 시간동안 테스트가 이루어지게 된다.

이와 같이 테스트부(7)에서 설정된 시간동안 테스트가 이루어지고 나면 디바이스는 테스트 결과에 따라 소팅블럭(도시는 생략함)에 의해 여러개로 나뉘어진 어느 하나의 송출트랙(8)으로 송출되므로 빈 슬리브(1a)내에 담겨지게 된다.

상기한 바와 같이 슬리브(1)내에 담겨진 디바이스를 자중에 의해 이송시키면서 테스트부(7)에서 설정된 시간동안 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에서 디바이스의 리드를 콘택핀에 접속시키는 디바이스 콘택장치의 구조를 도 2에 나타내었다.

테스트부(7)에 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속하는 한 쌍의 콘택핀(10)이 대향되게 설치되어 있고 상기 각각의 콘택핀의 일측에는 상기 콘택핀(10)을 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주는 실린더(11)가 설치되어 있다.

따라서 1개의 디바이스(9)가 자중에 의해 이송트랙(6)을 통해 테스트부(7)측으로 이송되어 스토퍼(도시는 생략함)에 의해 이송이 제어되면 디바이스(9)의 리드(9a)가 콘택핀(10)과 일치하게 된다.

이와 같이 1개의 디바이스(9)가 이송됨이 센서(도시는 생략함)에 의해 감지되면 콘택핀(10)의 일측에 설치된 실린더(11)가 구동하여 콘택핀(10)을 상호 내측으로 밀어주게 되므로 콘택핀이 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속되고, 이에 따라 설정된 시간동안 테스트가 이루어지게 된다.

그러나 이러한 종래의 장치는 다음과 같은 문제점이 있었다.

첫째, 각각의 실린더(11)가 구동하여 콘택핀(10)을 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주게 되므로 실린더의 발란스가 불일치할 경우에는 콘택핀(10)을 디바이스의 리드(9a)와 접속시 디바이스의 리드가 변형되어 양품의 디바이스를 불량으로 오판정하는 경우가 발생되었다.

둘째, 450mil의 디바이스를 테스트하다가 크기가 작은 375mil의 디바이스를 테스트하기 위해서는 실린더(11)의 스트로크를 가변시켜야 되었으므로 콘택핀(10)의 일측으로 설치되어 있던 실린더(11)를 반드시 교체하여야 되었고, 이에 따라 실린더의 교체에 따른 가공오차 및 조립공차 등에 의해 실린더(11)의 발란스가 불일치할 우려가 있었다.

본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 그 구조를 개선하여 콘택핀의 이동량을 항상 일정하게 유지시켜 테스트시 디바이스의 리드가 변형되는 현상을 미연에 방지할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 테스트부에 한 쌍의 콘택핀을 설치하여 상기 콘택핀이 디바이스의 리드에 접속된 상태에서 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에 있어서, 테스트부에 설치된 콘택핀의 양측에 회동가능하게 설치된 푸셔와, 상기 일측의 푸셔에 근접되게 설치된 구동수단과, 상기 구동수단의 구동에 의해 가이드레일을 따라 진퇴운동하는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 고정되어 구동수단에 의해 슬라이더가 진퇴운동함에 따라 푸셔를 내측으로 오므려주는 캠판으로 구성된 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치가 제공된다.

도 1은 일반적인 수직식 핸들러를 나타낸 측면도

도 2는 종래의 장치를 개략적으로 나타낸 평면도

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예를 나타낸 정면도로서,

도 3a는 콘택핀이 상호 벌어진 상태도

도 3b는 캠판에 의해 콘택핀이 내측으로 오므러들어 디바이스의 리드와 콘택된 상태도

도 4은 도 3a의 평면도

도 5는 본 발명의 다른 실시예를 나타낸 정면도

도면중 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 콘택핀 12 : 푸셔

13 : 구동수단 14 : 가이드레일

15 : 슬라이더 16 : 캠판

이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 3 내지 도 5을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예를 나타낸 정면도이고 도 4은 도 3a의 평면도로서, 본 발명의 구성 중 종래의 구성과 동일한 부분은 그 설명을 생략하고 동일부호를 부여하기로 한다.

본 발명은 테스트부(7)에 설치된 콘택핀(10)의 양측으로 푸셔(12)가 회동가능하게 설치되어 있고 상기 일측의 푸셔(12)와 근접된 위치에는 공압실린더와 같은 구동수단(13)이 설치되어 있다.

그리고 상기 구동수단(13)의 일측에 고정된 가이드레일(14)에 슬라이더(15)가 진퇴운동가능하게 결합되어 있고 상기 슬라이더(15)에는 구동수단(13)에 의해 슬라이더(15)가 진퇴운동함에 따라 푸셔(12)를 내측으로 오므려주는 캠판(16)이 설치되어 있다.

상기 캠판(16)을 슬라이더(15)와 일체로 형성하여도 무관하지만, 테스트할 디바이스(9)의 규격에 따라 신속한 작업이 이루어지도록 캠판(16)을 다른 실시예로 도시한 도 5와 같이 교체 가능하게 설치하는 것이 보다 바람직하다.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 테스트할 디바이스(9)가 이송트랙(6)을 따라 이송되어 도 3a와 같이 테스트부(7)에 도달함이 센서에 의해 감지되면 푸셔(12)의 일측에 설치된 구동수단(13)이 동작하게 되므로 슬라이더(15)가 가이드레일(14)을 따라 전진하게된다.

이와 같이 슬라이더(15)가 가이드레일(14)을 따라 전진하면 상기 슬라이더(15)에 고정된 캠판(16)의 캠면(16a)에 푸셔(12)가 위치되어 있어 상기 푸셔(12)가 내측으로 회동하면서 도 3b와 같이 콘택핀(10)을 일정한 압력으로 오므려주게 되므로 콘택핀(10)이 동시에 디바이스(9)의 리드(9a)와 전기적으로 접속되고, 이에 따라 설정된 시간동안 디바이스의 테스트가 이루어지게 된다.

상기한 동작으로 콘택핀(10)이 내측으로 오므려진 상태에서 설정된 시간동안 테스트가 이루어지고 나면 구동수단(13)의 재구동으로 슬라이더(15)가 초기상태로 환원되므로 푸셔(12)는 콘택핀(10)의 자체 탄성력에 의해 외측으로 벌어지게 되고, 이에 따라 콘택핀(10)이 디바이스(9)의 리드(9a)로부터 이탈되므로 디바이스의 이송을 제어하고 있던 스토퍼를 후퇴시키면 테스트 완료된 디바이스가 송출트랙(8)을 따라 송출된다.

상기한 바와 같은 테스트는 이송트랙(6)을 따라 디바이스(9)가 공급되는 동안 동일하게 진행됨은 이해 가능한 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 캠판(16)에 형성된 캠면(16a)에 의해 콘택핀(10)을 항상 일정한 압력으로 디바이스(9)의 리드(9a)측으로 밀어주게 되므로 테스트시 디바이스의 리드가 변형되는 현상을 미연에 방지하게 됨은 물론 규격이 다른 디바이스(9)를 테스트하고자 할 경우에는 슬라이더(15)로부터 캠판(16)만을 교체하면 되므로 신속한 테스트작업이 가능해지게 되는 효과를 얻게 된다.

Claims (3)

1. 테스트부에 한 쌍의 콘택핀을 설치하여 상기 콘택핀이 디바이스의 리드에 접속된 상태에서 테스트를 실시하는 수직식 핸들러에 있어서, 테스트부에 설치된 콘택핀의 양측에 회동가능하게 설치된 푸셔와, 상기 일측의 푸셔에 근접되게 설치된 구동수단과, 상기 구동수단의 구동에 의해 가이드레일을 따라 진퇴운동하는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 고정되어 구동수단에 의해 슬라이더가 진퇴운동함에 따라 푸셔를 내측으로 오므려주는 캠판으로 구성된 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 구동수단은 로드가 슬라이더에 고정된 공압실린더인 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 슬라이더에 캠판이 디바이스 규격에 따라 교체 가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치.