KR20010072367A - 기록 매체 구동 장치 및 틸트 검출 방법 - Google Patents

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Abstract

광 디스크 재생 장치(10)는 광 디스크에 기록되어 있는 디지털 데이터를 판독하는 광학 픽업(11)과, 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 회로(18)와, 틸트량의 검출을 행하는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)를 구비한다. 광 디스크 재생 장치(10)는 기록 영역의 일측의 측벽이 소정 주기로 워블링되어 있는 광 디스크에 대하여 광학 픽업(11)에 의해 레이저 광을 조사하고, 진폭 검출 회로(18)에 의해 레이저 광이 워블링 부분보다도 광 디스크의 내주측 및 외주측에 위치한 경우의 귀환광에 기초하는 각 워블 성분 신호의 진폭을 검출하여 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의하여 각 워블 성분 신호의 진폭의 차분치를 틸트 지시치로서 구한다.

Description

기록 매체 구동 장치 및 틸트 검출 방법 {RECORDING MEDIUM DRIVE DEVICE AND TILT DETECTION METHOD}
예를 들면 디지털 데이터를 광학적으로 기록한 기록 매체로서, 소위 CD(Compact Disc)나 DVD(Digita1 Versati1e Disc 또는 Digita1 Video Disc) 등의 광 디스크가 널리 알려져 있다.
이러한 광 디스크에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 광 디스크 드라이브 장치는 회전 구동시킨 광 디스크에 대하여 광학 픽업에 의해 레이저 광을 집광한 미소 스폿을 원하는 위치에 조사하여 디지털 데이터를 기록 및/또는 재생한다. 이 때, 광학 픽업은 광 디스크에 안정적으로 디지털 데이터를 기록하거나 광 디스크에 기록된 디지털 데이터를 충실히 재생하기 위해서, 광 디스크의 원반면 상에 설치된 트랙에 레이저 광을 추종시켜 동작한다.
그런데, 상술한 광 디스크에 있어서는 사용 및/또는 보존 시의 온도나 습도와 같은 환경의 영향이나 취급 상태에 의한 해당 광 디스크의 휨이나 광 디스크 드라이브 장치에 있어서의 광학 픽업의 기울기에 기인하여 래디얼 틸트(radial tilt)가 발생하는 경우가 있다. 이 틸트는 재생 광학 스폿에 수차(收差)를 초래한다는 점에서 재생 신호의 왜곡이나 MTF(Modu1ation Transfer Function)의 저하, 기록 파워 효율의 저하를 야기하는 것이 알려져 있다.
또한 최근에는 광 디스크의 고 밀도화를 위해, 광 디스크 드라이브 장치에 있어서는 광학 픽업에 있어서의 대물 렌즈의 개구수(Numerica1 Aperture ; NA)를 증대시키는 경향이 나타나, 예를 들면, CD의 경우에는 NA의 값이 0.45, DVD의 경우에는 NA의 값이 0.60인 대물 렌즈를 사용하고 있다. 이와 함께 광 디스크는 그 기판 두께의 박형화가 도모되고 있다. 그 때문에 광 디스크는 휨이 발생하기 쉽게 되어 있는 데다가 NA가 크다는 점에서, 수차의 각도 의존성도 커지고 있는 것이 현상이다.
이에 대하여 광 디스크 드라이브 장치에 있어서는 틸트를 보상하기 위해서, 전용 센서를 설치하여 틸트량을 검출하고, 그 검출 신호에 기초하여 광학 픽업에 있어서의 대물 렌즈나 액튜에이터 등을 기울이는 방식의 것이 실용화되어 있다.
그러나, 종래의 광 디스크 드라이브 장치는 광 디스크가 직경이 작은 경우에는 틸트량을 검출하기 위한 센서를 설치하는 장소를 충분히 확보할 수 없어, 틸트량을 검출하는 것이 곤란했다.
본 발명은 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치 및 원반형 기록 매체를 회전 구동할 때에 생기는 틸트량을 검출하는 틸트 검출 방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 실시 형태로서 나타낸 광 디스크 재생 장치에 적용하는 광 디스크의 설명도로서, 워블을 일측에 갖는 그루브부와 랜드부를 교대로 설치한 랜드/그루브 기판의 모습을 설명한 도면.
도 2는 상기 광 디스크 재생 장치에 적용하는 광 디스크의 설명도로서, 스트레이트 그루브부와 워블 그루브부를 교대로 설치한 간헐 워블 기판의 모습을 설명한 도면.
도 3은 빔 스폿의 배치를 설명한 도면.
도 4는 틸트에 의한 레이저 광의 강도 분포의 변화를 수치 계산에 의해 구한 결과를 설명한 도면.
도 5는 워블 성분 신호와 틸트량과의 관계를 설명하는 도면으로서, 실제로 틸트량을 변화시키면서 광 디스크에 레이저 광을 조사한 경우에 있어서의 워블 성분 신호의 특성을 수치 계산에 의해 구한 결과를 설명한 도면.
도 6은 상기 광 디스크 재생 장치의 구성을 설명한 블록도.
도 7은 메인 빔 스폿과 서브 빔 스폿의 배치를 설명한 도면.
도 8은 워블 성분 신호의 샘플링 방법을 설명한 도면.
도 9는 언밸런스 현상이 생기는 원인을 설명하기 위한 도면.
도 10은 워블 성분 신호와 틸트량의 관계를 설명하는 도면으로서, 이송 오차를 주었을 경우와 주지 않았을 경우에 있어서, 틸트량을 변화시키면서 광 디스크에 레이저 광을 조사한 경우에 있어서의 워블 성분 신호의 특성과, 규격화한 워블 성분 신호의 특성을 계산에 의해 구한 결과를 설명한 도면.
도 11은 상기 광 디스크 재생 장치를 개량한 광 디스크 재생 장치에 적용하는 광 디스크의 설명도로서, 그루브부와 랜드부를 교대로 설치한 랜드/그루브 기판의 모습을 설명한 도면.
도 12는 상기 광 디스크 재생 장치에 적용하는 광 디스크의 설명도로서, 스트레이트 그루브부와 워블 그루브부를 교대로 설치한 그루브 기판의 모습을 설명한 도면.
도 13은 상기 광 디스크 재생 장치에 적용하는 광 디스크의 설명도로서, 내주측 변조 안내홈인 그루브부와 외주측 변조 안내홈인 그루브부를 교대로 설치한 랜드 기판의 모습을 설명한 도면.
도 14A는 빔 스폿의 배치를 설명하는 도면으로서, 신호 정보 기록 측벽이 레이저 광보다도 광 디스크의 내주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿의 배치를 설명한 도면.
도 14B는 빔 스폿의 배치를 설명하는 도면으로서, 신호 정보 기록 측벽이 레이저 광보다도 광 디스크의 외주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿의 배치를 설명한 도면.
도 15는 상기 광 디스크 재생 장치의 구성을 설명하는 블록도.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 종래의 광 디스크 드라이브 장치에 있어서의 틸트 검출 방식의 문제를 해결하여 광학 픽업에서 얻은 신호로부터 빠르고 또한 고정밀도로 틸트량을 검출하는 기록 매체 구동 장치 및 틸트 검출 방법을 제공하는 것을 목적으로 하는 것이다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 기록 매체 구동 장치는, 기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양 측벽 중의 일측 측벽에 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여, 그 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서, 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과, 신호 정보가 기록된 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과, 이 진폭 검출 수단에 의해 검출된 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이러한 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 원반형 기록 매체에 있어서의 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하여 틸트량을 검출한다.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은, 기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양 측벽 중의 일측 측벽에 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에, 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하여 신호 정보가 기록된 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하여, 검출한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 것을 특징으로 한다.
이러한 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은 원반형 기록 매체에 있어서의 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하여 틸트량을 검출한다.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는, 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 상기 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서, 상기 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과, 상기 메인 빔 스폿 및 상기 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이러한 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 광학 픽업 수단에 의해서, 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 원반형 기록 매체에 대하여 조사하여 틸트 검출 수단에 의해서, 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출한다.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은, 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을조사함과 동시에 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하여 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하여 검출한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 것을 특징으로 한다.
이러한 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은, 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 원반형 기록 매체에 대하여 조사하여 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출한다.
이하, 본 발명을 적용한 구체적인 실시형태에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
본 실시형태는 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치를 예를 들면 CD(Compact Disc)나 DVD(Digita1 Versati1e Disc 또는 Digita1 Video Disc), MD(Mini Disk, 소니사 상품명) 등의 디지털 데이터가 기록된 원반형 기록 매체인 광 디스크로부터 디지털 데이터를 재생하는 광 디스크 재생 장치에 적용한 것이다. 여기서는 우선, 이 광 디스크 재생 장치에 의한 틸트 검출 방법에 관한 원리에 대하여 설명한다.
본 발명을 적용하기에 적합한 광 디스크는 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이 기록 영역에 대하여 일측에 워블이 존재하는 안내홈인 그루브를 갖는 것이다. 즉, 도 1에 도시하는 광 디스크는 예를 들면 FM 변조(Frequency Modulation)된 신호 정보인 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)을 일측에 구비한 그루브부(G)와, 랜드부(L)를 교대로 설치하고, 이들 그루브부(G) 및 랜드부(L)가 각각, 트랙 Tn-1, Tn, Tn+1, Tn+2, ···을 형성하여 기록 영역으로 된 랜드/그루브기판이다. 또한, 도 2에 도시하는 광 디스크는 소위 MD-data2 포맷에 의한 것으로, 워블을 갖지 않는 무변조 안내홈인 스트레이트 그루브부(straight groove; SG)와, 더블 스파이어럴이라고 칭해져, 예를 들면 표준 선속도에 대하여 약 80kHz에서 FM 변조된 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)을 양측에 갖는 변조 안내홈인 워블 그루브부(wobb1ed groove; WG)를 교대로 설치하고, 워블 그루브부(WG)에 부여된 개개의 어드레스 정보가 2개의 트랙(TA,TB)에 대응하는 형태인 간헐 워블 기판이다.
또한, 이하의 설명에서는 도 2에 도시한 간헐 워블 기판의 광 디스크를 이용하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는 도 3에 도시한 바와 같이 워블 그루브부(WG)가 미도시한 광학 픽업으로부터의 레이저 광보다도 광 디스크의 내주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿을 스폿(SA)으로 하고, 광 디스크의 외주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿을 스폿(SB)이라 한다. 이들 빔 스폿은 모두 그 강도 분포가 가우스 분포를 나타내는 가우스 빔이다. 또한, 이하의 설명에서는 필요에 따라서, 스폿(SA)이 조사하고 있는 트랙을 트랙(TA)으로 하고, 스폿(SB)이 조사하고 있는 트랙을 트랙(TB)으로 한다.
여기서, 틸트에 의한 레이저 광의 강도 분포의 변화를 수치 계산에 의해 구한 결과를 나타내면, 도 4와 같이 된다.
광 디스크에 조사되는 스폿(SB)은 틸트에 의한 영향을 받지 않고서 정상적으로 조사된 경우, 즉, 틸트량이 "0°"인 경우에는 도 4중 실선부 C0B로 도시한 바와 같이 그 강도 분포가 광 디스크의 반경 방향에서의 트랙(TB)의 중앙 위치에서 대칭이 된다. 따라서, 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 광 디스크의 반경 방향에서의 트랙(TB)의 중앙 위치에서 대칭이 된다.
한편, 틸트에 의한 영향을 받아 수차에 의해 왜곡됨으로 인해 신호 정보 기록 측벽(W)의 방향으로 기운 상태에서 광 디스크에 조사된 스폿(SB)은 예를 들면 도 4중 파선부 C0.6B나 도 4중 쇄선부 C1.2B에 도시한 바와 같이 된다. 즉, 광 디스크에 조사되는 스폿(SB)은 틸트량이 “0.6°", “1.2°"인 경우에는 각각, 도 4중 파선부 C0.6B, 쇄선부 C1.2B에 도시한 바와 같이, 모두 그 강도 분포가 광 디스크의 반경 방향에서의 트랙(TB) 상에서 비대칭이 되어, 트랙(TB)에서의 신호 정보 기록 측벽(W)이 설치되는 측에 조사되는 레이저 광의 강도가 정상적으로 조사된 경우보다도 낮게 되고, 트랙(TB)에서의 신호 정보 기록 측벽(W)이 설치되지 않은 측에 조사되는 레이저 광의 강도가 정상적으로 조사된 경우보다도 높아진다. 그리고, 그 경향은 틸트량이 클수록 현저하게 된다. 따라서, 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 트랙(TB) 상에서 비대칭이 되고, 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광의 강도 I0.6B, I1.2B도 각각 다른 것으로 된다.
또한, 틸트에 의한 영향을 받아, 신호 정보 기록 측벽(W)의 방향으로 기운상태에서 광 디스크에 조사된 스폿(SA)은 도시하지 않으나, 그 강도 분포가 광 디스크의 반경 방향에서의 트랙(TA) 상에서 비대칭이 되어, 트랙(TA)에 있어서의 신호 정보 기록 측벽(W)이 설치되는 측에 조사되는 레이저 광의 강도가 정상적으로 조사된 경우보다도 높아지고, 트랙(TA)에서의 신호 정보 기록 측벽(W)이 설치되지 않은 측에 조사되는 레이저 광의 강도가 정상적으로 조사된 경우보다도 낮아진다. 따라서, 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 트랙(TA) 상에서 비대칭이 되어, 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광의 강도도 각각 다른 것으로 된다.
실제로 틸트량을 변화시키면서 광 디스크에 레이저 광을 조사한 경우에 있어서의 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초하는 신호의 특성을 수치 계산에 의해 구한 결과를 도 5에 도시한다. 또 여기서는 틸트량에 대한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초하는 신호인 워블 성분 신호는 신호 정보 기록 측벽(W)에 부여되어 있는 ADIP(Adress In Pre-groove)를 재생할 때에 얻어지는 신호로 하고 있다.
틸트량에 대한 스폿(SA)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초하는 신호(워블 성분 신호(SIGA))의 진폭의 변화를 나타내는 곡선을 곡선(CA)로 하고, 틸트량에 대한 스폿(SB)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초하는 신호(워블 성분 신호(SIGB))의 진폭의 변화를 나타내는 곡선을 곡선(CB)로 하면, 도 5에 도시한 바와 같이 워블 성분 신호(SIGA)의 진폭과, 워블 성분 신호(SIGB)의 진폭은 모두, 틸트량에 의존하여 틸트량이 "0°"인 경우를 중심으로 하여 대칭이 되는 경향이 보여진다. 그리고, 이들 워블 성분 신호(SIGA)와, 워블 성분 신호(SIGB)의 차분으로 나타나는 신호를 틸트 검출 신호(SIGT)로 하면, 곡선(CT)로 나타나는 바와 같이, 틸트량이 "0°"인 경우를 중심으로 하여 "약 -0.75°∼ +0.75°"의 범위에서 선형성이 있는 특성을 얻을 수 있다. 또한, 인입 범위는 "약 -1.2°∼ +1.2°"이다.
본 발명의 실시형태로서 도 6에 도시한 광 디스크 재생 장치(10)는 이와 같은 특성을 이용하여 틸트량을 검출하여 보상하는 것이다.
광 디스크 재생 장치(10)는 도 6에 도시한 바와 같이 미도시한 광 디스크에 기록되어 있는 디지털 데이터를 판독하는 광학 픽업 수단인 광학 픽업(11)과, 이 광학 픽업(11)으로부터 출력된 신호를 전류-전압 변환(IV 변환)하는 IV 변환 회로(12)와, 광학 픽업(11)을 광 디스크와의 거리가 일정하게 유지되도록 트랙킹시키거나 도시하지 않은 스핀들 모터의 회전 구동 동작을 제어하는 서보 회로(13)와, 원하는 주파수 성분의 신호를 통과하는 대역 통과 필터(BandPassFi1ter; BPF)(14)와, 광학 픽업(11)이 갖는 센서인 위치 검지부(Position Sensing Detector ; PSD)(27)로부터의 검지 신호에 기초하여 광 디스크 상의 트랙에 대한 대물 렌즈(25)의 위치를 검출하는 위치 검출 수단인 PSD 출력 검출 회로(15)와, 이 PSD출력 검출 회로(15)로부터의 검출 신호에 기초하여 게이트 펄스를 발생하는 게이트 펄스 발생 수단인 게이트 펄스 회로(16)와, 이 게이트 펄스 회로(16)로부터 발생된 게이트 펄스에 기초하여 개폐하는 스위치 수단인 스위치(17)와, 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단인 진폭 검출 회로(18)와, 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호가 트랙(TA)에서의 귀환광에 의한 것인지 트랙(TB)로부터의 귀환광에 의한 것인지를 판별하는 트랙 판별 회로(19)와, 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호로부터 광 디스크에 기록되어 있는 어드레스를 추출하여 검출하는 어드레스 검출 회로(20)와, IV 변환 회로(12)로부터 입력된 RF(Radio Frequency) 신호에 대하여 파형 등화 처리를 실시하는 파형 등화 수단인 이퀄라이저(21)와, 이퀄라이저(21)로부터 입력된 신호로부터 데이터를 추출하여 데이터 검출 능력을 판별하는 데이터 판별 수단인 데이터 판별 회로(22)와, 틸트량의 검출 등을 행하는 틸트 검출 수단인 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)와, 틸트의 보상을 위하여 광학 픽업(11)의 액튜에이터(26)를 구동시키기 위한 제어를 행하는 틸트 드라이브 회로(24)를 구비한다.
광학 픽업(11)은 레이저 다이오드(28)로부터의 레이저 광을 집광하는 대물 렌즈(25)와, 전자력에 의해 대물 렌즈(25)를 구동하는 액튜에이터(26)와, 광 디스크 상의 트랙에 대한 대물 렌즈(25)의 위치를 검지하는 위치 검지부(27)와, 레이저 광을 발광하는 레이저 다이오드(Laser Diode; LD)(28)와, 이 레이저 다이오드(28)로부터 발광된 레이저 광을 투과하고 또한 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 내부 반사하는 프리즘(29)과, 광 디스크 표면에서 반사 회절되어 프리즘(29)에 의해 입사된 귀환광을 수광하는 포토 다이오드(Photo Diode; PD)(30)를 구비한다.
대물 렌즈(25)는 레이저 다이오드(28)로부터의 레이저 광을 집광하여 도시하지 않은 광 디스크에 조사한다.
액튜에이터(26)는 코일이나 마그네트 등을 구비하여, 대물 렌즈(25)를 도시하지 않은 광 디스크 상의 원하는 위치에 트랙킹시키기 위해서, 전자력에 의해 대물 렌즈(25)를 트랙킹 구동한다.
위치 검지부(27)는 액튜에이터(26)에 부설되어 광 디스크 상의 트랙에 대한 대물 렌즈(25)의 위치를 검지하기 위한 센서이다. 위치 검지부(27)는 검지 신호를 후술하는 PSD 출력 검출 회로(15)에 출력한다.
레이저 다이오드(28)는 예를 들면 반도체 레이저로 이루어지는 발광부를 구비하여, 레이저 광을 발광한다. 레이저 다이오드(28)로부터 발광된 레이저 광은 프리즘(29)에 입사된다.
프리즘(29)은 레이저 다이오드(28)로부터 발광된 레이저 광을 입사하고 투과하여 대물 렌즈(25)에 출사함과 동시에, 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 입사하고 내부 반사하여 포토 다이오드(30)에 출사한다.
포토 다이오드(30)는 광 검출기나 광전 전환부를 구비하며, 광 디스크 표면에서 반사 회절되어 프리즘(29)에 의해 입사된 귀환광을 수광하여 전기 신호로 변환하여 후단의 IV 변환 회로(12)에 출력한다.
이러한 광학 픽업(11)은 레이저 다이오드(28)로부터 출사된 레이저 광을 도시하지 않은 광 디스크에 조사하여 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광함으로써, 광 디스크 표면의 트랙에 기록되어 있는 디지털 데이터를 판독한다. 또한, 광학 픽업(11)은 도 7에 도시한 바와 같이 실제로는 메인 빔 스폿이 되는 스폿(SA)(스폿 SB) 외에 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)을 도시하지 않은 광 디스크에 조사하고, 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하기 위한 광학계를 갖는다. 이들 서브 빔 스폿(SS1, SS2)은 각각, 메인 빔 스폿의 위치에 따라서, 스트레이트 그루브부(SG) 또는 워블 그루브부(WG) 상에 조사된다. 이들 서브 빔 스폿(SS1, SS2)이 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 트랙 판별 회로(19)에 의한 메인 빔 스폿의 트랙 판별 회로(19)에 의한 메인 빔 판별에 이용된다.
IV 변환 회로(12)는 포토 다이오드(30)로부터 출력된 신호를 전류-전압 변환한다. IV 변환 회로(12)는 변환하여 얻은 신호를 후단의 서보 회로(13) 및 대역 통과 필터(14)에 출력한다. 또, IV 변환 회로(12)는 변환하여 얻은 RF 신호를 후단의 이퀄라이저(21)에 출력한다.
서보 회로(13)는 IV 변환 회로(12)로부터 공급된 신호에 기초하여 광학 픽업(11)을 광 디스크와의 거리가 일정하게 유지되도록 포커스 구동시키거나, 도시하지 않은 스핀들 모터의 회전 구동 동작을 제어한다.
대역 통과 필터(14)는 IV 변환 회로(12)로부터 공급된 신호 중, 워블 그루브부(WG)에서의 워블 성분 신호를 추출하기 위해서, RF 신호 성분이나 그 밖의 노이즈 성분 등을 차단하여 원하는 주파수 성분의 신호를 통과시킨다. 이 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호는 후단의 스위치(17), 트랙 판별 회로(19) 및 어드레스 검출 회로(20)에 공급된다.
PSD 출력 검출 회로(15)는 위치 검지부(27)로부터 공급되는 검지 신호에 기초하여 광 디스크 상의 트랙에 대한 대물 렌즈(25)의 위치를 검출한다. PSD 출력 검출 회로(15)는 대물 렌즈(25)의 위치를 검출한 결과를 나타내는 검출 신호를 후단의 게이트 펄스 회로(16)에 출력한다.
게이트 펄스 회로(16)는 PSD 출력 검출 회로(15)로부터의 검출 신호에 기초하여 게이트 펄스를 발생한다. 구체적으로는 게이트 펄스 회로(16)는 PSD 출력 검출 회로(15)로부터의 검출 신호에 기초하여 대물 렌즈(25)가 광 디스크 상의 트랙의 중앙(제로점) 근방에 위치했다고 판별한 경우에 게이트 펄스를 발생하여 후단의 스위치(17)를 닫게 하고, 대물 렌즈(25)가 광 디스크 상의 트랙의 중앙 근방에서 떨어진 위치에 있는 것으로 판별한 경우에 후단의 스위치(17)를 개방하게 한다.
스위치(17)는 상술한 바와 같이 게이트 펄스 회로(16)로부터 발생된 게이트 펄스에 기초하여 개폐하여 대역 통과 필터(14)와 후단의 진폭 검출 회로(18)를 연결 또는 차단한다.
진폭 검출 회로(18)는 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 진폭을 검출한다. 진폭 검출 회로(18)는 검출한 진폭을 나타내는 진폭 검출 신호를 후단의 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 공급한다.
트랙 판별 회로(19)는 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호가상술한 스폿(SA)과 같이 트랙(TA)로부터의 귀환광에 의한 것인지, 스폿(SB)과 같이 트랙(TB)로부터의 귀환광에 의한 것인지를 판별한다.
트랙 판별 회로(19)는 구체적으로는 이하와 같이 하여 메인 빔 스폿의 트랙 판별을 행한다. 예를 들면, 메인 빔 스폿인 스폿(SA)이 먼저 도 7에 도시한 바와 같이 조사되어 있는 것으로 하면, 서브 빔 스폿(SS2)에 의한 귀환광에 기초한 신호는 FM 변조된 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)에 의한 영향 때문에, 소정의 주파수를 갖는다. 따라서, 이 신호를 대역 통과 필터(14)에 의해 필터링하여 얻어지는 신호는 소정의 진폭치를 갖게 된다. 한편 서브 빔 스폿(SS1)에 의한 귀환광에 기초한 신호는 직류 성분만을 포함하는 것이란 점에서 이 신호를 대역 통과 필터(14)에 의해 필터링하여 얻어지는 신호의 진폭치는 거의 "0"이 된다. 따라서, 트랙 판별 회로(19)는 서브 빔 스폿(SS1, SS2)의 각각에 의한 귀환광에 기초한 신호를 대역 통과 필터(14)에 의해 필터링하여 얻어지는 신호를 비교함으로써, 메인 빔 스폿이 스폿(SA)인지 스폿(SB)인지를 판별할 수 있게 된다. 트랙 판별 회로(19)는 트랙을 판별한 결과를 나타내는 트랙 판별 신호를 후단의 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 공급한다.
어드레스 검출 회로(20)는 대역 통과 필터(14)에 의해 통과된 워블 성분 신호로부터 광 디스크에 기록되어 있는 어드레스를 추출하여 검출한다.
이퀄라이저(21)는 IV 변환 회로(12)로부터 RF 신호를 입력하여 예를 들면 RF신호의 지터 에러의 수정 등을 위한 파형 등화 처리를 행한다. 상기 이퀄라이저(21)는 후술하는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)로부터 공급되는 틸트 에러 신호에 기초하여 게인을 조정하여 MTF(Modu1ation Transfer Function)의 저하를 보상한다. 이퀄라이저(21)는 파형 등화 처리를 실시한 신호를 후단의 데이터 판별 회로(22)에 출력한다.
데이터 판별 회로(22)는 이퀄라이저(21)로부터 입력된 신호로부터 데이터를 추출하여 예를 들면 지터 에러 등의 데이터 검출 능력을 판별한다. 데이터 판별 회로(22)는 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호를 후단의 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 공급한다.
틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)는 진폭 검출 회로(18)로부터 공급되는 워블 성분 신호의 진폭 검출 신호와, 트랙 판별 회로(19)로부터 공급되는 트랙 판별 신호와, 데이터 판별 회로(22)로부터 공급되는 데이터 판별 신호에 기초하여 틸트량을 검출한다. 또한, 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)는 검출한 틸트량을 나타내는 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정한다. 또한, 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)는 틸트 지시치와 목표치의 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위해서, 후술하는 틸트 드라이브 회로(24)를 구동하기 위한 드라이브 신호를 생성한다. 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)는 검출한 틸트 에러 신호를 이퀄라이저(21)에 공급함과 동시에, 생성한 드라이브 신호를 후단의 틸트 드라이브 회로(24)에 공급한다.
틸트 드라이브 회로(24)는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)로부터 공급된 드라이브 신호에 기초하여 제어 신호를 발생하여 틸트를 보상하는 방향으로 광학 픽업(11)의 액튜에이터(26)를 구동시킨다.
이러한 광 디스크 재생 장치(10)는 상술한 스폿(SA)과 같이 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 스폿(SB)과 같이 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)를 샘플링하여 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의해서, 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)의 차분치로 나타나는 틸트 지시치를 구하여 이 틸트 지시치를 설정된 목표치에 근접시키도록 광학 픽업(11)을 제어하여 구동한다.
여기서, 광 디스크 재생 장치(10)에 있어서는 목표치로서, 미리 임의로 설정된 값 또는 광 디스크의 제어 정보 기록 영역인 컨트롤 트랙에 기록된 값을 이용하여도 좋지만, 광 디스크 재생 장치(10)는 광 디스크의 로딩 시의 초기 동작으로서, 이하와 같은 방법에 의해 목표치를 설정할 수도 있다.
광 디스크 재생 장치(10)는 광 디스크의 로딩 시에 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의해 생성한 드라이브 신호를 틸트 드라이브 회로(24)에 공급하여 틸트 드라이브 회로(24)의 제어 하에 광학 픽업(11)의 액츄에이터(26)를 틸트량을 변화시키면서 구동시킨다. 그리고, 광 디스크 재생 장치(10)는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23).에 의해서, 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구함과 동시에 구한 틸트 지시치와, 데이터 판별 회로(22)로부터 공급되는 데이터 판별 신호에 기초한 데이터 검출 에러와의 상관을 측정하여 데이터 검출 에러가 최소가 되는 틸트 지시치를 목표치로서 설정한다.
이와 같이 하여 광 디스크 재생 장치(10)는 틸트 지시치와 데이터 검출 에러의 상관에 기초하여 최적인 목표치를 설정할 수가 있다.
또한, 광 디스크 재생 장치(10)는 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)를 샘플링 할 때에 이하와 같은 방법에 의해 샘플링함으로써, 틸트 지시치의 정밀도를 향상시킬 수도 있다. 이 방법에 대하여 도 8을 참조하여 설명한다.
일반적으로, 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 광학 픽업(11)의 구동에 따라 포토 다이오드(30) 상에서 이동하기 때문에, 워블 성분 신호도 광학 픽업(11)의 구동에 따라 변화한다. 따라서, 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의해 구해지는 틸트 지시치는 틸트 그 자체의 영향뿐만 아니라, 광학 픽업(11)의 구동에 따라 변화한다. 그래서, 광 디스크 재생 장치(10)는 광학 픽업(11)이 광 디스크 상에서 구동하는 범위 중, 워블 성분 신호의 진폭이 크고 또한 노이즈 등의 영향이 적고 선명하여, 구동에 의한 대물 렌즈(25)의 진동이적은 광 디스크 상의 트랙의 중앙(제로점) 근방에서의 워블 성분 신호를 샘플링한다.
우선, 광 디스크 재생 장치(10)는 광학 픽업(11)을 광 디스크 상에서 구동시킬 때에 PSD 출력 검출 회로(15)에 의해서, 광 디스크 상의 트랙에 대한 대물 렌즈(25)의 위치를 검출한다.
계속해서, 광 디스크 재생 장치(10)는 대물 렌즈(25)가 광 디스크 상의 트랙의 중앙(제로점) 근방에 위치하는 범위를 임계 레벨로서 미리 설정해 놓고, 이 임계 레벨의 범위 내에 대물 렌즈(25)가 위치했을 때에 게이트 펄스 회로(16)에 의해서, 스위치(17)를 닫게 하는 게이트 펄스를 발생한다.
그리고, 광 디스크 재생 장치(10)는 진폭 검출 회로(18)에 의해서, 스위치(17)가 이와 같이 제어되어 닫힘으로써 입력된 워블 성분 신호의 진폭을 검출하여 트랙 판별 회로(19)를 통해 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 각 정보를 공급한다.
광 디스크 재생 장치(10)는 이러한 처리를 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)에 대하여 행하고, 이들 워블 성분 신호(SIGA) 및 워블 성분 신호(SIGB)에 관한 정보를 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 공급한다. 또한, 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)의 판별은 트랙 판별 회로(19)에 의해 행해진다는 것은 상술한 바와 같다.
이와 같이 하여 광 디스크 재생 장치(10)는 고정밀도의 틸트 검출,보상을 행할 수 있다.
틸트량을 변화시키면서 광 디스크에 레이저 광을 조사한 경우에 있어서의 워블 그루브부(WG)로부터의 귀환광에 기초한 신호의 특성은 먼저 도 5에 도시한 바와 같이 되지만, 실제로는 곡선(CA)와 곡선(CB)의 교점에 오프셋이 발생하여 틸트량이 "0°"인 점과 다른 결과가 되는 경우가 있다. 즉, 워블 성분 신호(SIGA)의 진폭과, 워블 성분 신호(SIGB)의 진폭이 모두, 틸트량이 "0°"인 경우를 중심으로 하여 대칭이 되지 않아, 그 결과, 틸트 검출 신호(SIGT)도 틸트량이 "0°"인 경우를 중심으로 하여 대칭이 되지 않는 경우가 생긴다.
이러한 언밸런스 현상이 생기는 주된 원인은 광 디스크의 마스터를 제조할 때의 커팅 공정에 기인하는 것을 들 수 있다.
우선, 제1 원인으로서는 커팅용 레이저 광의 이송 오차에 기인하는 것이 있다. 커팅 공정에 있어서는 일반적으로 스트레이트 그루브부(SG)를 형성하기 위한 레이저 광과, 워블 그루브부(WG)를 형성하기 위한 레이저 광을 광 디스크의 마스터 상에서 병행 동작시켜, 커팅을 행한다. 제1 원인은 이러한 동작에 기인하는 것으로서, 도 9에 도시한 바와 같이 스트레이트 그루브부(SG)를 형성하기 위한 레이저광을 다음의 스트레이트 그루브부(SG)를 형성하는 위치로 이동시켰을 경우, 또는 워블 그루브부(WG)를 형성하기 위한 레이저 광을 다음의 워블 그루브부(WG)를 형성하는 위치로 이동시켰을 경우, 원래대로라면, 빔 이송 폭(Tm)은 스트레이트 그루브부(SG)를 형성하기 위한 레이저 광과 워블 그루브(WG)를 형성하기 위한 레이저 광의 간격인 빔 간격 Tp를 이용하여,
Tm = Tp ×2
로 나타나야 되지만, 빔의 이송 오차의 영향에 의해서,
Tm ≠Tp ×2 = Tp ×2 ±Δ
가 되는 것에 기인하는 것이다. 이 경우, 재생용 레이저 광을 트랙(TA)에서 다음의 트랙(TA)로 이동시켰을 경우, 혹은 트랙(TB)에서 다음의 트랙(TB)로 이동시켰을 경우, 레이저 광은 트랙의 중앙 위치에서 어긋난 위치로 이동하게 된다.
또한, 제2 원인으로서는 커팅 공정에 있어서의 워블 그루브부(WG)를 형성하기 위한 레이저 광의 변조도 오차에 기인하는 것이 있다. 커팅 공정에 있어서는 일반적으로 워블 그루브부(WG)를 형성하기 위한 레이저 광을 광 디스크의 마스터 상에서 직경 방향으로 미동시켜 워블 그루브부(WG)를 형성한다. 제2 원인은 이러한 동작에 기인하는 것으로서, 도 9에 도시한 바와 같이 스트레이트 그루브부(SG)의 그루브 폭(TSG)와, 워블 그루브부(WG)의 그루브 폭(TWG)의 사이에는 본래대로라면
TSG= TWG
의 관계가 성립하여야 하지만, 워블 그루브부(WG)의 변조도 오차의 영향에의해서,
TSG≠TWG
가 되는 것에 기인하는 것이다. 이 경우도, 재생용의 레이저 광을 트랙(TA)에서 다음의 트랙(TA)로 이동시켰을 경우, 혹은 트랙(TB)에서 다음의 트랙(TB)로 이동시켰을 경우, 레이저 광은 트랙의 중앙 위치에서 어긋난 위치로 이동하게 된다.
실제로, 트랙 피치가 0.95μm인 광 디스크에 레이저 광을 조사했을 경우로서, Δ= 40nm의 이송 오차를 제공한 경우에 있어서의 틸트량에 대한 워블 성분 신호(SIG40A, SIG40B)의 진폭의 변화를 계산한 결과는 각각, 도 10 중 곡선(C40A, C40B)이 된다. 또한, 도 10에는 비교를 위해, 트랙 피치가 0.95μm인 광 디스크에 레이저 광을 조사한 경우로서 Δ= 0으로 한 경우에 있어서의 틸트량에 대한 워블 성분 신호(SIG0A, SIG0B)의 각각의 진폭의 변화를 계산한 결과인 곡선(C0A, C0B)도 도시하고 있다.
도 10으로부터, 곡선(C0A)와 곡선(C0B)의 교점은 틸트량이 "0°"의 경우가 되지만, 곡선(C40A)와 곡선(C40B)의 교점은 틸트량이 “0°"의 경우가 되지 않고, 약 “0.2°"의 오프셋이 발생하고 있는 것을 알 수 있다.
따라서, 광 디스크 재생 장치(10)는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의해서, 틸트량에 대한 일측의 워블 성분 신호의 피크치를 타측의 워블 성분 신호의 피크치에 일치시키도록 규격화하여 오프셋을 제거한다.
즉, 틸트량에 대한 워블 성분 신호(SIGA, SIGB)의 각각의 값을 WA, WB로 나타내는 것으로 하면, 광 디스크 재생 장치(10)는 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의해서, 틸트량에 대한 워블 성분 신호(SIGA, SIGB)의 각각의 피크치(WA)max,(WB)max를 구하여,
WA×(WB)max/ (WA)max
또는
WB×(WA)max/ (WB)max
를 계산하여 규격화한 워블 성분 신호를 구한다.
구체적으로, 틸트 검출, 목표치 설정 및 드라이브 신호 생성 회로(23)에 의하여,
WB×(WA)max/(WB)max
을 계산하고, 워블 성분 신호(SIG40B)를 규격화하여 얻어진 워블 성분 신호(SIGSB)의 진폭의 변화를 계산한 결과는 각각, 도 10 중 곡선(CSB)이 된다. 도 10으로부터 알 수 있는 바와 같이 워블 성분 신호(SIG40B)를 규격화함으로써, 워블 성분 신호(SIG40A)의 진폭과, 워블 성분 신호(SIGSB)의 진폭은 틸트량이 "0°"인 경우를 중심으로 하여 대칭이 된다.
이와 같이 광 디스크 재생 장치(10)는 언밸런스 현상을 보정할 수가 있다.광 디스크 재생 장치(10)는 이 언밸런스 현상의 보정 처리를, 예를 들면, 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하기 위하여, 상술한 광 디스크의 로딩 시에 틸트 지시치와 데이터 검출 에러와의 상관을 측정할 때에 행하여 고정밀도의 틸트 검출, 보상을 행할 수 있다.
그런데, 예를 들면, 트랙(TA)와 트랙(TB)에 있어서의 워블 성분 신호의 진폭치를 기억해 놓고 나중에 연산하는 바와 같은 경우에는 통상 동작과는 달리 최저 2회전의 틸트량 검출 시간과 연산 시간을 필요로 한다는 점에서, 광 디스크에 있어서 틸트량이 작은 최내주에서 틸트량이 큰 최외주로 탐색(seek)했을 때에는 2회전 + α의 회전 대기 시간을 필요로 하여 실효 액세스 스피드를 저하해 버린다는 문제가 발생한다.
또한, 광 디스크가 1회전하는 동안에 1회의 샘플 정보에 기초하여 틸트량을 검출하는 바와 같은 경우에는 주회(周回) 변동에 추종할 수 없다고 하는 문제가 생겨, 예를 들면 600 rpm으로 회전하는 광 디스크의 경우, 시정수가 약 2초로 커져 버린다는 문제가 생긴다. 또한, 트랙(TA)와 트랙(TB)중, 어느 일측의 트랙만을 연속하여 재생하는 바와 같은 경우에는 틸트량의 검출을 할 수 없다고 하는 문제가 생긴다.
이러한 문제를 해결하기 위해서, 광 디스크 재생 장치(10)를 개량하는 것을 시도한다. 구체적으로는 광 디스크 재생 장치(10)를 개량하여 상술한 메인 빔 스폿의 트랙 판별에 이용되는 서브 빔 스폿(SS1,SS2)을 이용하여 틸트량의 검출을 행하는 것을 생각한다. 이 경우, 본 발명을 적용하기에 적합한 광 디스크는 기록 영역에 따라서, 도 11 내지 도 13에 나타내는 것으로 된다.
즉, 도 11에 나타내는 광 디스크는 도 1에 도시한 광 디스크와 마찬가지의 것으로, 예를 들면 FM 변조된 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)을 해당 광 디스크의 내주측 및 외주측 중 어느 일측에 갖는 안내홈인 그루브부(G)와, 랜드부(L)를 교대로 설치하고, 이들 그루브부(G) 및 랜드부(L)가 각각 기록 영역으로 된 랜드/그루브 기판이다. 또, 도 11에서의 광 디스크는 신호 정보 기록 측벽(W)을 해당 광 디스크의 외주측에 갖는 그루브부(G)를 설치하는 것을 보이고 있다.
또한, 도 12에 도시한 광 디스크는 도 2에 도시한 광 디스크와 마찬가지의 것으로 워블을 갖지 않는 무변조 안내홈인 스트레이트 그루브부(SG)와, 예를 들면 표준 선속도에 대하여 약 80 kHz에서 FM 변조된 신호 정보인 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)을 양측에 갖는 변조 안내홈인 워블 그루브부(WG)를 교대로 설치함과 동시에 이들 스트레이트 그루브부(SG)와 워블 그루브부(WG)에 의하여 끼워진 영역을 랜드부(L)로서 설치하고, 스트레이트 그루브부(SG) 및 워블 그루브부(WG)가 기록 영역으로 된 그루브 기판이다.
또한, 도 13에 나타내는 광 디스크는 예를 들면 FM 변조된 어드레스 정보가 부여되어 워블링된 신호 정보 기록 측벽(W)을 해당 광 디스크의 내주측의 측벽으로서 설치하는 내주측 변조 안내홈인 그루브부(IG)와, 신호 정보 기록 측벽(W)을 해당 광 디스크의 외주측의 측벽으로서 설치하는 외주측 변조 안내홈인 그루브부(OG)를 교대로 설치함과 동시에 이들 그루브부(IG)와 그루브부(OG)에 의하여 끼워진 영역을 랜드부(L)로서 설치하고, 랜드부(L)가 기록 영역으로 된 랜드 기판이다.
상술한 광 디스크 재생 장치(10)를 개량한 광 디스크 재생 장치는 이들 광 디스크에 대하여 레이저 광을 조사하여 광 디스크 상에 메인 빔 스폿(MS)과 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)을 형성한다. 이들 빔 스폿은 모두, 그 강도 분포가 가우스 분포를 나타내는 가우스 빔이다. 광 디스크 재생 장치는 광 디스크 상에 형성한 3개의 빔 스폿 중, 2개의 빔 스폿(대상 빔 스폿)에 의한 귀환광에 기초하여 틸트량의 검출을 행한다.
즉, 이 광 디스크 재생 장치는 도 11에 도시한 랜드/그루브 기판의 광 디스크의 경우에는 메인 빔 스폿(MS)과 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)중의 어느 일측의 서브 빔 스폿을 대상 빔 스폿으로 하여 이들 대상 빔 스폿에 의한 귀환광에 기초하여 틸트량의 검출을 행한다.
또한, 광 디스크 재생 장치는 도 12에 도시한 그루브 기판의 광 디스크의 경우에는 랜드부(L)에 조사되는 2개의 서브 빔 스폿(SS1,SS2)을 대상 빔 스폿으로 하여, 이들 대상 빔 스폿에 의한 귀환광에 기초하여 틸트량의 검출을 행한다.
또한, 광 디스크 재생 장치는 도 13에 도시한 랜드 기판의 광 디스크의 경우에는 그루브부(IG),(OG)에 조사되는 2개의 서브 빔 스폿(SS1,SS2)을 대상 빔 스폿으로 하여 이들 대상 빔 스폿에 의한 귀환광에 기초하여 틸트량의 검출을 행한다.
또, 이하의 설명에서는 도 11 내지 도 13에 도시한 광 디스크를 이용하는 경우에 관해서 일반적으로 설명하기 위해서, 광 디스크 재생 장치에 의해 틸트량의 검출을 행할 때에 이용하는 2개의 빔 스폿에 대하여, 메인 빔 스폿(MS)인지, 서브 빔 스폿(SS1, SS2)인지에 관계없이, 필요에 따라서, 도 14A에 도시한 바와 같이 신호 정보 기록 측벽(W)이 도시하지 않은 광학 픽업으로부터의 레이저 광보다도 광 디스크의 내주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿을 스폿(SA)으로 하고, 도 14B에 도시한 바와 같이 광 디스크의 외주측에 있는 경우에 있어서의 빔 스폿을 스폿(SB)으로 한다. 또한, 이하의 설명에서는 필요에 따라서, 스폿(SA)이 조사하고 있는 트랙을 트랙(TA)로 하고, 스폿(SB)이 조사하고 있는 트랙을 트랙(TB)로 한다.
도 15에 나타내는 광 디스크 재생 장치(50)는 먼저 도 4 및 도 5에 도시한 특성을 이용하여 광 디스크 상에 형성한 3개의 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 귀환광에 기초하여 틸트량을 검출하고, 보상하는 것이다.
광 디스크 재생 장치(50)는 도 15에 도시한 바와 같이 도시하지 않은 광 디스크에 기록되어 있는 디지털 데이터를 판독하는 광학 픽업(51)과, 그 광학 픽업(51)으로부터 출력된 신호를 전류-전압 변환하는 IV 변환 회로(52)와, 광학 픽업(51)을 광 디스크와의 거리가 일정하게 유지되도록 트랙킹시키거나, 도시하지 않은 스핀들 모터의 회전 구동 동작을 제어하는 서보 회로(53)와, 원하는 주파수 성분의 신호를 통과하는 대역 통과 필터(54)와, 그 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 피크 엔벨로프를 검출하는 피크 엔벨로프 검출 회로(55)와,대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 바텀 엔벨로프(bottom envelope)를 검출하는 바텀 엔벨로프 검출 회로(56)와, 피크 엔벨로프 검출 회로(55)에 의해 검출된 피크 엔벨로프와 바텀 엔벨로프 검출 회로(56)에 의해 검출된 바텀 엔벨로프의 차분을 취하는 감산기(57)와, 이 감산기(57)로부터의 출력에 기초하여 워블 성분 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 회로(58)와, 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호가 트랙(TA)로부터의 귀환광에 의한 것인지, 트랙(TB)로부터의 귀환광에 의한 것인지를 판별하는 트랙 판별 회로(59)와, 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호로부터 광 디스크에 기록되어 있는 어드레스를 추출하여 검출하는 어드레스 검출 회로(60)와, IV 변환 회로(52)로부터 입력된 RF 신호에 대하여 파형 등화 처리를 실시하는 이퀄라이저(61)와, 그 이퀄라이저(61)로부터 입력한 신호로부터 데이터를 추출하여 데이터 검출 능력을 판별하는 데이터 판별 회로(62)와, 후술하는 틸트 검출 회로(64)에 의해 검출되는 틸트량을 나타내는 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하는 목표치 설정 회로(63)와, 틸트량의 검출을 행하는 틸트 검출 회로(64)와, 틸트의 보상을 위해 광학 픽업(51)의 포커스 코일(67a, 67b)을 구동시키기 위한 드라이브 신호를 생성하는 드라이브 신호 생성 회로(65)를 구비한다.
광학 픽업(51)은 레이저 다이오드(69)로부터의 레이저 광을 집광하는 대물 렌즈(66)와, 그 대물 렌즈(66)를 광 디스크에 대하여 기울이기 위한 포커스 코일(67a, 67b)과, 이들 포커스 코일(67a, 67b)에 의한 전자력에 의해 대물렌즈(66)를 구동하는 액튜에이터(68)와, 레이저 광을 발광하는 레이저 다이오드(69)와, 이 레이저 다이오드(69)로부터 발광된 레이저 광을 투과하고 또한 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 내부 반사하는 프리즘(70)과, 광 디스크 표면에서 반사 회절되어 프리즘(700에 의해 입사된 귀환광을 수광하는 포토 다이오드(71)를 구비한다.
대물 렌즈(66)는 상술한 대물 렌즈(25)와 마찬가지로, 레이저 다이오드(69)로부터의 레이저 광을 집광하여 도시하지 않은 광 디스크에 조사한다.
포커스 코일(67a, 67b)은 각각, 대물 렌즈(66)를 광 디스크에 대하여 경사지게 하기 위한 것이다. 이들 포커스 코일(67a, 67b)에는 각각, 드라이브 신호 생성 회로(65)로부터 공급되는 드라이브 신호에 기초한 크기의 전류가 흐른다. 포커스 코일(67a, 67b)은 각각, 도시하지 않은 마그네트와의 효과에 의해 생긴 전자력에 의해 틸트를 보상하는 방향으로 액튜에이터(68)를 구동한다.
액튜에이터(68)는 대물 렌즈(66)를 도시하지 않은 광 디스크 상의 원하는 위치에 트랙킹시키기 위해서, 대물 렌즈(66)를 트랙킹 구동한다. 또한, 액튜에이터(68)는 포커스 코일(67a, 67b)에 의한 전자력에 의해서, 대물 렌즈(66)를 광 디스크에 대하여 기울인다.
레이저 다이오드(69)는 상술한 레이저 다이오드(28)와 마찬가지로, 예를 들면 반도체 레이저로 이루어지는 발광부를 구비하여, 레이저 광을 발광한다. 이 레이저 다이오드(69)로부터 발광된 레이저 광은 프리즘(70)에 입사된다.
프리즘(70)은 상술한 프리즘(29)과 마찬가지로, 레이저 다이오드(69)로부터발광된 레이저 광을 입사하고 투과하여 대물 렌즈(66)로 출사함과 동시에, 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 입사하여 내부 반사하여 포토 다이오드(71)에 출사한다.
포토 다이오드(71)는 상술한 포토 다이오드(30)와 마찬가지로, 광 검출기나 광전 전환부를 구비하여, 광 디스크 표면에서 반사 회절되어 프리즘(70)에 의해 입사된 귀환광을 수광하여 전기 신호로 변환하여 후단의 IV 변환 회로(52)에 출력한다.
이러한 광학 픽업(51)은 레이저 다이오드(69)로부터 출사된 레이저 광을 도시하지 않은 광 디스크에 조사하여 메인 빔 스폿(MS)을 형성하여 이 메인 빔 스폿(MS)이 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광함으로써, 광 디스크 표면의 트랙에 기록되어 있는 디지털 데이터를 판독한다. 또한, 광학 픽업(51)은 상술한 바와 같이 레이저 광을 메인 빔 스폿(MS)과 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)으로 분할하여 이들 빔 스폿을 도시하지 않은 광 디스크에 조사하여 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하기 위한 광학계를 갖는다. 서브 빔 스폿(SS1, SS2)이 광 디스크 표면에서 반사 회절된 귀환광은 트랙 판별 회로(59)에 의한 메인 빔 스폿(MS)의 트랙 판별에 이용된다. 또한, 광학 픽업(51)은 대물 렌즈(66)의 포커스 에러를 나타내는 포커스 에러 신호를 드라이브 신호 생성 회로(65)에 출력한다.
IV 변환 회로(52)는 상술한 IV 변환 회로(12)와 마찬가지로, 포토 다이오드(71)에서 출력된 신호를 전류-전압 변환한다. IV 변환 회로(52)는 변환하여 얻은 신호를 후단의 서보 회로(53) 및 대역 통과 필터(54)에 출력한다. 또한, IV 변환 회로(52)는 메인 빔 스폿(MS)에 의한 귀환광에 기초한 신호를 변환하여 얻은 RF 신호를 후단의 이퀄라이저(61)에 출력한다.
서보 회로(53)는 상술한 서보 회로(13)와 마찬가지로, IV 변환 회로(52)로부터 공급된 신호에 기초하여 광학 픽업(51)을 광 디스크와의 거리가 일정하게 유지되도록 포커스 구동시키거나, 도시하지 않은 스핀들 모터의 회전 구동 동작을 제어한다.
대역 통과 필터(54)는 IV 변환 회로(52)로부터 공급된 신호 중, 신호 정보 기록 측벽(W)으로부터의 워블 성분 신호를 추출하기 위해서, RF 신호 성분이나 그 밖의 노이즈 성분 등을 차단하고 원하는 주파수 성분의 신호를 통과시킨다. 이 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호는 후단의 피크 엔벨로프 검출 회로(55), 바텀 엔벨로프 검출 회로(56), 트랙 판별 회로(59) 및 어드레스 검출 회로(60)에 공급된다.
피크 엔벨로프 검출 회로(55)는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 피크 엔벨로프를 검출한다. 피크 엔벨로프 검출 회로(55)는 검출한 피크 엔벨로프를 후단의 감산기(57)에 출력한다.
바텀 엔벨로프 검출 회로(56)는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호의 바텀 엔벨로프를 검출한다. 바텀 엔벨로프 검출 회로(56)는 검출한 바텀 엔벨로프를 후단의 감산기(57)에 출력한다.
감산기(57)는 피크 엔벨로프 검출 회로(55)로부터 공급된 피크 엔벨로프와바텀 엔벨로프 검출 회로(56)로부터 공급된 바텀 엔벨로프의 차분을 취해, 얻어진 차분 신호를 후단의 진폭 검출 회로(58)에 출력한다.
진폭 검출 회로(58)는 감산기(57)로부터 공급된 차분 신호에 기초하여 워블 성분 신호의 진폭을 검출한다. 진폭 검출 회로(58)는 검출한 진폭을 나타내는 진폭 검출 신호를 후단의 틸트 검출 회로(64)에 출력한다.
트랙 판별 회로(59)는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 서브 빔 스폿(SS1, SS2)에 의한 워블 성분 신호에 기초하여 메인 빔 스폿(MS)의 트랙 판별을 행한다. 트랙 판별 회로(59)는 트랙을 판별한 결과를 나타내는 트랙 판별 신호를 후단의 어드레스 검출 회로(60) 및 틸트 검출 회로(64)에 출력한다.
어드레스 검출 회로(60)는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 메인 빔 스폿(MS)에 의한 워블 성분 신호로부터 광 디스크에 기록되어 있는 어드레스를 추출하여 검출한다. 이 때, 어드레스 검출 회로(60)는 트랙 판별 회로(59)로부터 공급된 트랙 판별 신호에 기초하여 검출한 어드레스가 트랙(TA)를 구성하는 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 의한 것인지, 트랙(TB)를 구성하는 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 의한 것인지를 판별한다.
이퀄라이저(61)는 상술한 이퀄라이저(21)와 마찬가지로, IV 변환 회로(52)로부터 RF 신호를 입력하여 예를 들면 RF 신호의 지터 에러의 수정 등을 위한 파형 등화 처리를 행한다. 이 이퀄라이저(61)은 후술하는 틸트 검출 회로(64)로부터 공급되는 틸트 에러 신호에 기초하여 게인을 조정하여 MTF의 저하를 보상한다. 이퀄라이저(61)는 파형 등화 처리를 실시한 신호를 후단의 데이터 판별 회로(62)에 출력한다.
데이터 판별 회로(62)는 상술한 데이터 판별 회로(22)와 마찬가지로, 이퀄라이저(61)에서 입력한 신호로부터 데이터를 추출하여 예를 들면 지터 에러 등의 데이터 검출 능력을 판별한다. 데이터 판별 회로(62)는 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호를 후단의 목표치 설정 회로(63) 및 틸트 검출 회로(64)에 출력한다.
목표치 설정 회로(63)는 데이터 판별 회로(62)로부터 공급된 데이터 판별 신호에 기초하여 틸트 검출 회로(64)에 의해 검출되는 틸트를 나타내는 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정한다. 목표치 설정 회로(63)는 설정한 목표치를 틸트 검출 회로(64)의 감산기(75)에 출력한다.
틸트 검출 회로(64)는 도시하지 않은 샘플 펄스 회로에서 발생된 샘플 펄스에 기초하여 개폐하는 스위치(72)와, 스폿(SA)과 같이 트랙(TA)으로부터의 귀환광에 의한 워블 성분 신호만의 진폭을 검출하는 진폭 검출 회로(73a)와, 스폿(SB)과 같이 트랙(TB)으로부터의 귀환광에 의한 워블 성분 신호만의 진폭을 검출하는 진폭 검출 회로(73b)와, 진폭 검출 회로(73a)에 의해 검출된 트랙(TA)에서의 귀환광에 의한 워블 성분 신호의 진폭치와, 진폭 검출 회로(73b)에 의해 검출된 트랙(TB)에서의 귀환광에 의한 워블 성분 신호의 진폭치와의 차분을 취하는 감산기(74)와, 이감산기(74)로부터 공급되는 차분치와 목표치 설정 회로(63)로부터 공급되는 목표치의 차분을 취하는 감산기(75)를 구비한다.
스위치(72)는 도시하지 않은 샘플 펄스 회로에서 발생된 샘플 펄스에 기초하여 개폐하고, 진폭 검출 회로(58)와 진폭 검출회로(73a) 또는 진폭 검출 회로(73b)를 연결 또는 차단한다.
진폭 검출 회로(73a)는 진폭 검출 회로(58)에 의해 검출된 진폭을 나타내는 진폭 검출 신호를 입력하여 트랙(TA)에서의 귀환광에 의한 워블 성분 신호만의 진폭을 검출한다. 진폭 검출 회로(73a)는 검출한 진폭치를 나타내는 진폭 신호를 후단의 감산기(74)에 출력한다.
진폭 검출 회로(73b)는 진폭 검출 회로(58)에 의해 검출된 진폭을 나타내는 진폭 검출 신호를 입력하여 트랙(TB)에서의 귀환광에 의한 워블 성분 신호만의 진폭을 검출한다. 진폭 검출 회로(73b)는 검출한 진폭치를 나타내는 진폭 신호를 후단의 감산기(74)에 출력한다.
감산기(74)는 진폭 검출 회로(73a)에서 공급된 진폭 신호가 나타내는 진폭치와, 진폭 검출 회로(73b)에서 공급된 진폭 신호가 나타내는 진폭치의 차분을 취한다. 감산기(74)는 얻어진 차분치인 틸트 지시치를 후단의 감산기(75)에 출력한다.
감산기(75)는 감산기(74)로부터 공급된 틸트 지시치와, 목표치 설정 회로(63)로부터 공급된 목표치의 차분을 취하여, 그 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호를 후단의 이퀄라이저(61) 및 드라이브 신호 생성 회로(65)에 출력한다.
이러한 틸트 검출 회로(64)는 진폭 검출 회로(58)로부터 공급되는 워블 성분 신호의 진폭 검출 신호와, 트랙 판별 회로(59)로부터 공급되는 트랙 판별 신호에 기초하여 틸트량을 검출하여 생성한 틸트 에러 신호를 이퀄라이저(61) 및 드라이브 신호 생성 회로(65)에 출력한다.
드라이브 신호 생성 회로(65)는 광학 픽업(51)으로부터 공급된 포커스 에러 신호와, 틸트 검출 회로(64)로부터 공급된 틸트 에러 신호의 합을 취하는 가산기(76)와, 광학 픽업(51)에서 공급된 포커스 에러 신호와, 틸트 검출 회로(64)로부터 공급된 틸트 에러 신호의 차분을 취하는 감산기(77)와, 가산기(76)로부터 공급된 가산치에 기초하여 포커스 코일(67a)에 흘리는 전류의 크기를 나타내는 드라이브 신호를 생성하는 드라이브 회로(78a)와, 감산기(77)로부터 공급된 차분치에 기초하여 포커스 코일(67b)에 흘리는 전류의 크기를 나타내는 드라이브 신호를 생성하는 드라이브 회로(78b)를 구비한다.
가산기(76)는 광학 픽업(51)으로부터 공급된 대물 렌즈(66)의 포커스 에러를 나타내는 포커스 에러 신호와, 틸트 검출 회로(64)로부터 공급된 틸트 에러 신호의 합을 취하여, 그 가산치를 드라이브 회로(78a)에 출력한다.
감산기(77)는 광학 픽업(51)에서 공급된 대물 렌즈(66)의 포커스 에러를 나타내는 포커스 에러 신호와, 틸트 검출 회로(64)로부터 공급된 틸트 에러 신호의 차분을 취하여, 그 차분치를 드라이브 회로(78b)에 출력한다.
드라이브 회로(78a)는, 가산기(76)로부터 공급된 가산치에 기초하여 포커스 코일(67a)에 흘리는 전류의 크기를 나타내는 드라이브 신호를 생성한다. 드라이브회로(78a)는 생성한 드라이브 신호를 포커스 코일(67a)에 출력한다.
드라이브 회로(78b)는 감산기(77)로부터 공급된 차분치에 기초하여 포커스 코일(67b)에 흘리는 전류의 크기를 나타내는 드라이브 신호를 생성한다. 드라이브 회로(78b)는 생성한 드라이브 신호를 포커스 코일(67b)에 출력한다.
이러한 드라이브 신호 생성 회로(65)는 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하여 포커스 코일(67a, 67b)에 출력한다.
이상과 같은 각 부를 구비하는 광 디스크 재생 장치(50)는 상술한 스폿(SA)과 같이 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 스폿(SB)과 같이 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)를 샘플링하여 틸트 검출 회로(64)에 의해서, 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)의 차분치로 나타나는 틸트 지시치를 구하여 이 틸트 지시치를 목표치 설정 회로(63)에 의해 설정된 목표치에 근접하도록 광학 픽업(51)을 제어하여 구동한다.
여기서, 광 디스크 재생 장치(50)에 있어서는 목표치로서, 미리 임의로 설정된 값 또는 광 디스크의 제어 정보 기록 영역인 컨트롤 트랙에 기록된 값을 이용하여도 좋지만, 광 디스크 재생 장치(50)는 상술한 광 디스크 재생 장치(10)와 마찬가지로, 광 디스크의 로딩 시의 초기 동작으로서, 이하와 같은 방법에 의해 목표치를 설정할 수도 있다..
광 디스크 재생 장치(50)는 광 디스크의 로딩 시에 드라이브 신호를 포커스 코일(67a, 67b)에 공급하여 광학 픽업(51)의 액튜에이터(68)를 변화시키면서 구동시킨다. 그리고, 광 디스크 재생 장치(50)는 틸트 검출 회로(64)에 의해서, 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구하여 이 틸트 지시치를 순차로 목표치 설정 회로(63)에 공급한다. 또한, 광 디스크 재생 장치(50)는 목표치 설정 회로(63)에 의해서, 틸트 검출 회로(64)로부터 공급되는 틸트 지시치와, 데이터 판별 회로(62)로부터 공급되는 데이터 판별 신호에 기초를 둔 데이터 검출 에러의 상관을 측정한다. 그리고, 광 디스크 재생 장치(50)는 목표치 설정 회로(63)에 의해서, 데이터 검출 에러가 최소가 되는 틸트 지시치를 목표치로서 설정한다.
이와 같이 하여 광 디스크 재생 장치(50)는 틸트 지시치와 데이터 검출 에러의 상관에 기초하여 최적의 목표치를 설정할 수가 있다.
광 디스크 재생 장치(50)는 구체적으로는 이하에 나타내는 방법에 의하여, 워블 성분 신호(SIGA)와, 워블 성분 신호(SIGB)를 샘플링하여 틸트량을 검출한다.
광 디스크 재생 장치(50)는 통상 재생시와 마찬가지로, 광학 픽업(51)에 의해 메인 빔 스폿(MS)과 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)을 광 디스크 상에 조사한다.
이 때, 스폿(SA) 및 스폿(SB)이 틸트에 의한 영향을 받지 않고 정상적으로 광 디스크에 조사되어 있는 경우, 즉, 틸트량이 “0°"인 경우에는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호는 스폿(SA)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초한 워블 성분 신호(SIGA)와, 스폿(SB)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초한 워블 성분 신호(SIGB)와는, 진폭이 상호 동등한 것으로 된다.
한편, 스폿(SA) 및 스폿(SB)이 틸트에 의한 영향을 받아, 어느 하나의 신호 정보 기록 측벽(W)의 방향으로 기운 상태에서 광 디스크에 조사되어 있는 경우에는 대역 통과 필터(54)에 의해 통과된 워블 성분 신호는 스폿(SA)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초한 워블 성분 신호(SIGA)와, 스폿(SB)에 의한 신호 정보 기록 측벽(W)에서의 귀환광에 기초한 워블 성분 신호(SIGB)와는, 진폭이 상호 다른 것으로 된다.
따라서, 워블 성분 신호(SIGA),(SIGB)의 각각의 진폭을 틸트 검출 회로(64)의 진폭 검출 회로(73a, 73b)에 의해 검출하여 감산기(74)에 공급되는 진폭 신호는 3개의 빔 스폿의 이동에 따라서 엣지형으로 진폭이 변화하게 된다.
광 디스크 재생 장치(50)는, 이러한 진폭 신호에 기초하여 틸트 검출 회로(64)의 감산기(74)에 의해 얻어진 차분치인 틸트 지시치를 검출하여 틸트 에러 신호를 생성한다. 광 디스크 재생 장치(50)는 이러한 동작을 복수회 반복한다.
이와 같이 하여 광 디스크 재생 장치(50)는 틸트량을 검출하여 보상할 수가 있다. 광 디스크 재생 장치(50)는 이와 같이 하여 틸트량을 검출함으로써, 광 디스크의 회전을 대기하는 일 없이 빠르게 틸트량을 검출할 수가 있다. 또한, 광 디스크 재생 장치(50)는 광 디스크가 1회전하는 사이에 복수의 틸트 지시치를 구한다는 점에서, 고정밀도로 틸트량을 검출할 수가 있다.
즉, 광 디스크 재생 장치(50)는 상술한 문제를 해결할 수가 있어, 복잡한 동작을 행할 필요도 없이 빠르고 또한 고정밀도로 틸트 검출, 보상을 행할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 광 디스크 재생 장치(10)는 광학 픽업(11)에 의해 광 디스크를 조사하여 그 귀환광을 검출함으로써, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 설치하는 일없이 틸트 검출, 보상을 행할 수 있다. 또한, 광 디스크 재생 장치(50)는 광학 픽업(51)에 의해 메인 빔 스폿(MS)과 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)을 광 디스크 상에 조사하여 3개의 빔 스폿 중의 2개의 빔 스폿에 의한 귀환광을 검출함으로써, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 설치하는 일 없이 틸트 검출, 보상을 행할 수 있다.
그 때문에 광 디스크 재생 장치(10),(50)는 각각, 대물 렌즈(25),(66)의 개구수(Numerica1 Aperture ; NA)를 증대시키는데 따라 박형화 그리고 소직경의 광 디스크에 대하여도, 틸트량을 검출하여 보상할 수가 있다.
또한, 본 발명은 상술한 실시형태에 한정되는 것이 아니고, 예를 들면, 광 디스크 재생 장치(10)에서, 트랙(TA)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGA)와, 트랙(TB)에 레이저 광이 조사된 경우에 있어서의 워블 성분 신호(SIGB)를 샘플링하는 방법으로서는 대물 렌즈(25)가 광 디스크 상의 트랙의 중앙(제로점) 근방에 위치한 경우에 있어서의 워블 성분 신호를 샘플링하는 것이 아니더라도 좋으며, 이러한 처리를 반드시 행할 필요는 없다.
또한, 언밸런스 현상을 보정하는 방법으로서는 틸트량에 대한 일측의 워블 성분 신호의 피크치를 타측의 워블 성분 신호의 피크치에 일치시키도록 신호의 게인을 제어하도록 하더라도 좋다.
또한, 광 디스크 재생 장치(50)에 있어서, 도 11에 도시한 광 디스크를 적용하는 경우에는 반드시 2개의 서브 빔 스폿(SS1, SS2)을 설치할 필요는 없으며, 하나의 서브 빔 스폿만이라도 좋다.
또한, 본 발명은 광 디스크로부터 디지털 데이터를 재생하는 광 디스크 재생 장치뿐만 아니라, 광 디스크에 디지털 데이터를 기록하는 기록 장치에도 적용 가능한 것은 물론 이다.
이와 같이 본 발명은 그 취지를 벗어나지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능한 것은 물론이다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양측벽의 일측 측벽에 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 그 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서, 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과, 신호 정보가 기록된 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과, 이 진폭 검출 수단에 의해 검출된 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단을 구비한다.
따라서, 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 원반형 기록 매체에 있어서의 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하여 틸트량을 검출할 수가 있어, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 설치하는 일없이 틸트 검출을 행할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은 기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양측벽의 일측 측벽에 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하여 신호 정보가 기록된 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭을 검출하고, 검출한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출한다.
따라서, 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은 원반형 기록 매체에 있어서의 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하여 틸트량을 검출할 수가 있어, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 필요로 하지 않고 틸트 검출을 행하는 것이 가능해진다.
또한, 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 이 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서, 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에. 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과, 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과, 이 진폭 검출 수단에 의해 검출된 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단을 구비한다.
따라서, 본 발명에 따른 기록 매체 구동 장치는 광학 픽업 수단에 의해서, 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 원반형 기록 매체에 대하여 조사하여 틸트 검출 수단에 의해서, 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출할 수가 있어, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 설치하는 일없이 빠르고 또한 고정밀도로 틸트 검출을 행할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하여, 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭을 검출하고, 검출한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출한다.
따라서, 본 발명에 따른 틸트 검출 방법은 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 원반형 기록 매체에 대하여 조사하여 메인 빔 스폿 및 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초한 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출할 수가 있어, 틸트 검출을 위한 전용 센서를 필요로 하지 않고 틸트 검출을 빠르고 또한 고정밀도로 행하는 것이 가능해진다.

Claims (56)

  1. 기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양 측벽 중의 일측 측벽에 상기 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 상기 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과,
    상기 신호 정보가 기록된 상기 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과,
    상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단은, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주 측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭과, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는, 상기 기록 영역으로서의 안내홈 및 랜드부가 교대로 배치되고 상기 안내홈의 일측 측벽이 해당 안내홈의 폭 방향으로 소정 주기로 변조되어 있는 상기 신호 정보 기록 측벽으로 되어, 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는, 양 측벽에서 폭 또는 위치를 변조하여 상기 신호 정보 기록 측벽으로 한 변조 안내홈과, 양 측벽을 변조하지 않은 무변조 안내홈이 교대로 배치되어, 상기 변조 안내홈과 상기 무변조 안내홈에 의해 끼워진 영역을 상기 기록 영역으로 하여, 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단은 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단은, 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치와 이 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 목표치는 미리 임의로 설정된 값인 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 목표치는 상기 원반형 기록 매체의 제어 정보 기록 영역에 기록된 값인 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호로부터 상기 기록 데이터를 추출하여 상기 기록 데이터에 대한 데이터 검출 능력을 판별하는 데이터 판별 수단을 구비하고,
    상기 틸트 검출 수단은, 상기 드라이브 신호에 기초하여 틸트량을 변화시켜상기 광학 픽업 수단을 제어하여 구동시키고, 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구함과 동시에 구해진 틸트 지시치와, 상기 데이터 판별 수단에 의해 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호에 기초하여 상기 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  10. 제6항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단에 의해 생성된 상기 드라이브 신호에 기초하여 상기 틸트 지시치가 상기 목표치에 근접하도록 상기 광학 픽업 수단을 제어하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  11. 제6항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호에 대하여 파형 등화 처리를 실시하는 파형 등화 수단을 구비하고,
    상기 파형 등화 수단은 상기 틸트 검출 수단에 의해 구해진 상기 틸트 에러 신호에 기초하여 이득 조정을 행하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체 상의 상기 기록 영역에 대한 상기 광학 픽업 수단이 갖는 대물 렌즈의 위치를 검지하는 센서에 의해 얻어진 신호에 기초하여 상기 대물 렌즈의 위치를 검출하는 위치 검출 수단과,
    상기 위치 검출 수단으로부터 공급되는 상기 대물 렌즈의 위치를 나타내는 검출 신호에 기초하여 상기 대물 렌즈가 상기 원반형 기록 매체 상의 상기 기록 영역의 폭 방향으로의 중앙 근방에 위치한 것을 판별하여 게이트 펄스를 발생하는 게이트 펄스 발생 수단과,
    상기 게이트 펄스 발생 수단에 의해 발생된 게이트 펄스에 기초하여 개폐하는 스위치 수단을 구비하고,
    상기 진폭 검출 수단은, 상기 대물 렌즈가 상기 원반형 기록 매체 상의 상기 기록 영역의 폭 방향으로의 중앙 근방에 위치한 경우에 상기 게이트 펄스 발생 수단에 의해 발생된 게이트 펄스에 기초하여 상기 스위치 수단이 폐쇄됨으로써, 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단은, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 최대치와, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 최대치 중, 어느 일측의 최대치를 타측 최대치에 일치시키도록, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호 또는 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호를 규격화하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  14. 틸트 검출 방법에 있어서,
    기록 데이터가 기록되는 기록 영역의 양 측벽 중의 일측 측벽에 상기 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하고,
    상기 신호 정보가 기록된 상기 측벽인 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하여 그 검출한 상기 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭과, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는, 상기 기록 영역으로서의 안내홈 및 랜드부가 교대로 배치되고 상기 안내홈의 일측 측벽이 해당 안내홈의 폭 방향으로 소정 주기로 변조되어 있는 상기 신호 정보 기록 측벽으로서, 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는, 양 측벽에서 폭 또는 위치를 변조하여 상기 신호 정보 기록 측벽으로 한 변조 안내홈과, 양 측벽을 변조하지 않은 무변조 안내홈이 교대로 배치되어, 상기 변조 안내홈과 상기 무변조 안내홈에 의하여 끼워진 영역을 상기 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  19. 제14항에 있어서,
    상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치와 이 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  20. 제18항에 있어서,
    상기 목표치는 미리 임의로 설정된 값인 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  21. 제18항에 있어서,
    상기 목표치는 상기 원반형 기록 매체의 제어 정보 기록 영역에 기록된 값인 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  22. 제19항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호로부터 상기 기록 데이터를 추출하여 상기 기록 데이터에 대한 데이터 검출 능력을 판별하고,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단을 상기 드라이브 신호에 기초하여 틸트량을 변화시켜 구동시켜 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구함과 동시에 구해진 틸트 지시치와, 상기 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호에 기초하여 상기 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  23. 제19항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단을 상기 드라이브 신호에 기초하여 상기 틸트 지시치가 상기 목표치에 근접하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  24. 제19항에 있어서,
    상기 틸트 에러 신호에 기초하여 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호에 대하여 실시하는 파형 등화 처리에 있어서의 이득 조정을 행하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  25. 제14항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단이 갖는 대물 렌즈의 위치를 검지하여 얻어진 신호에 기초하여 상기 원반형 기록 매체 상의 상기 기록 영역에 대한 상기 대물 렌즈의 위치를 검출하고,
    상기 대물 렌즈의 위치를 나타내는 검출 신호에 기초하여 상기 대물 렌즈가 상기 원반형 기록 매체 상의 상기 기록 영역의 폭 방향으로의 중앙 근방에 위치한 것을 판별하여 게이트 펄스를 발생하고,
    상기 게이트 펄스에 기초하여 스위치 수단을 폐쇄함으로써 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  26. 제14항에 있어서,
    상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 최대치와, 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭의 최대치 중, 어느 일측의 최대치를 타측 최대치에 일치시키도록 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호 또는 상기 레이저 광이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호를 규격화하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  27. 기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체를 회전 구동하여 상기 원반형 기록 매체에 대하여 디지털 데이터의 기록 및/또는 재생을 행하는 기록 매체 구동 장치에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단과,
    상기 메인 빔 스폿 및 상기 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하는 진폭 검출 수단과,
    상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 틸트 검출 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  28. 제27항에 있어서,
    상기 틸트 검출 수단은 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 대상 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 대상 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  29. 제27항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는 양측벽에서 폭 또는 위치를 변조하여 상기 신호 정보 기록 측벽으로 한 변조 안내홈과, 양측벽을 변조하지 않은 무변조 안내홈을 교대로 설치함과 동시에 상기 변조 안내홈과 상기 무변조 안내홈에 의하여 끼여진 영역을 랜드부로서 설치하고, 상기 변조 안내홈 및 상기 무변조 안내홈을 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  30. 제29항에 있어서,
    상기 광학 픽업 수단은 상기 변조 안내홈 또는 상기 무변조 안내홈에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔 스폿이 조사되는 상기 변조 안내홈 또는 상기 무변조 안내홈에 인접하는 2개의 상기 랜드부의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 진폭 검출 수단은 상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 2개의 서브 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 틸트 검출 수단은 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭과의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  31. 제27항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 내주측의 측벽으로서 설치하는 내주측 변조 안내홈과, 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 외주측의 측벽으로서 설치하는 외주측 변조 안내홈을 교대로 설치함과 동시에 상기 내주측 변조 안내홈과 상기 외주측 변조 안내홈에 의하여 끼여진 영역을 랜드부로서 설치하고, 상기 랜드부를 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  32. 제31항에 있어서,
    상기 광학 픽업 수단은, 상기 랜드부에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔 스폿이 조사되는 상기 랜드부에 인접하는 상기 내주측 변조 안내홈 및 상기 외주측 변조 안내홈의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 진폭 검출 수단은, 상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 2개의 서브 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 틸트 검출 수단은, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  33. 제27항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는, 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 내주측 및 외주측의 어느 일측에 갖는 안내홈과 랜드부를 교대로 설치하고, 상기 안내홈 및 상기 랜드부의 각각을 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  34. 제33항에 있어서,
    상기 광학 픽업 수단은 상기 안내홈 또는 상기 랜드부에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔 스폿이 조사되는 상기 안내홈 또는 상기 랜드부에 인접하는 랜드부 또는 안내홈의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 진폭 검출 수단은 상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 메인 빔 스폿과 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 틸트 검출 수단은 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 메인 빔 스폿이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측 또는 외주측에 위치했을 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 상기 진폭 검출 수단에 의해 검출된 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측 또는 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  35. 제27항에 있어서,
    상기 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하는 목표치 설정 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  36. 제35항에 있어서,
    상기 목표치는 미리 임의로 설정된 값인 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  37. 제35항에 있어서,
    상기 목표치는 상기 원반형 기록 매체의 제어 정보 기록 영역에 기록된 값인 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  38. 제35항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호로부터 상기 기록 데이터를 추출하여 이 기록 데이터에 대한 데이터 검출 능력을 판별하는 데이터 판별 수단과,
    상기 틸트 지시치와 이 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하는 드라이브 신호 생성 수단을 구비하고,
    상기 드라이브 신호 생성 수단은 상기 드라이브 신호에 기초하여 틸트량을 변화시켜 상기 광학 픽업 수단을 제어하여 구동시키고,
    상기 틸트 검출 수단은 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구하며,
    상기 목표치 설정 수단은 상기 틸트 검출 수단에 의해 구한 틸트 지시치와 상기 데이터 판별 수단에 의해 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호에 기초하여 상기 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  39. 제27항에 있어서,
    상기 틸트 지시치와 이 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타나는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하는 드라이브 신호 생성 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  40. 제39항에 있어서,
    상기 드라이브 신호 생성 수단에 의해 생성된 상기 드라이브 신호에 기초하여 상기 틸트 지시치가 상기 목표치에 근접하도록 상기 광학 픽업 수단을 제어하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  41. 제39항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호에 대하여 파형 등화 처리를 실시하는 파형 등화 수단을 구비하고,
    상기 파형 등화 수단은 상기 틸트 검출 수단에 의해 구해진 상기 틸트 에러 신호에 기초하여 이득 조정을 행하는 것을 특징으로 하는 기록 매체 구동 장치.
  42. 틸트 검출 방법에 있어서,
    기록 데이터와 구별 가능한 신호 정보가 기록되는 신호 정보 기록 측벽을 갖는 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하고,
    상기 메인 빔 스폿 및 상기 2개의 서브 빔 스폿 중, 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하며,
    검출한 상기 신호의 진폭에 기초하여 틸트량을 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  43. 제42항에 있어서,
    검출한 상기 2개의 대상 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 검출한 상기 2개의 대상 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  44. 제42항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는 양측벽에서 폭 또는 위치를 변조하여 상기 신호 정보 기록 측벽으로 한 변조 안내홈과, 양측벽을 변조하지 않은 무변조 안내홈을 교대로 설치함과 동시에 상기 변조 안내홈과 상기 무변조 안내홈에 의하여 끼워진 영역을 랜드부로서 설치하고, 상기 변조 안내홈 및 상기 무변조 안내홈을 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  45. 제44항에 있어서,
    상기 변조 안내홈 또는 상기 무변조 안내홈에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔 스폿이 조사되는 상기 변조 안내홈 또는 상기 무변조 안내홈에 인접하는 2개의 상기 랜드부의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 2개의 서브 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    검출한 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 검출한 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  46. 제42항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 내주측의 측벽으로서 설치하는 내주측 변조 안내홈과, 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 외주측의 측벽으로서 설치하는 외주측 변조 안내홈을 교대로 설치함과 동시에 상기 내주측 변조 안내홈과 상기 외주측 변조 안내홈에의하여 끼워진 영역을 랜드부로서 설치하고, 상기 랜드부를 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  47. 제46항에 있어서,
    상기 랜드부에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔스폿이 조사되는 상기 랜드부에 인접하는 상기 내주측 변조 안내홈 및 상기 외주측 변조 안내홈의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 2개의 서브 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    검출한 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 검출한 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 타측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  48. 제42항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체는 상기 신호 정보 기록 측벽을 해당 원반형 기록 매체의 내주측 및 외주측 중 어느 일측에 갖는 안내홈과, 랜드부를 교대로 설치하여 상기 안내홈 및 상기 랜드부의 각각을 상기 기록 데이터가 기록되는 기록 영역으로 하여 상기 신호 정보 기록 측벽에 상기 신호 정보로서의 어드레스 정보를 기록하고 있는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  49. 제48항에 있어서,
    상기 안내홈 또는 상기 랜드부에 대하여 상기 메인 빔 스폿을 조사함과 동시에 상기 메인 빔 스폿이 조사되는 상기 안내홈 또는 상기 랜드부에 인접하는 랜드부 또는 안내홈의 각각에 대하여 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측 씩을 조사하고,
    상기 2개의 대상 빔 스폿에 의한 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭으로서, 상기 메인 빔 스폿과 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측에 의한 상기 신호 정보 기록측으로부터의 귀환광에 기초하는 신호의 진폭을 검출하고,
    검출한 상기 메인 빔 스폿이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 내주측 또는 외주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제1 신호의 진폭과, 검출한 상기 2개의 서브 빔 스폿 중의 일측이 상기 신호 정보 기록 측벽보다도 상기 원반형 기록 매체의 외주측 또는 내주측에 위치한 경우에 있어서의 상기 신호 정보 기록 측벽으로부터의 귀환광에 기초하는 신호인 제2 신호의 진폭의 차분치를 상기 틸트량을 나타내는 틸트 지시치로서 구하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  50. 제42항에 있어서,
    상기 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  51. 제50항에 있어서,
    상기 목표치는 미리 임의로 설정된 값인 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  52. 제50항에 있어서,
    상기 목표치는 상기 원반형 기록 매체의 제어 정보 기록 영역에 기록된 값인 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  53. 제50항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호로부터 상기 기록 데이터를 추출하여 그 기록 데이터에 대한 데이터 검출 능력을 판별하고,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단을 상기 틸트 지시치와 상기 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타내는 틸트 에러 신호에 기초하여 생성되는 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호에 기초하여 틸트량을 변화시켜 구동시켜, 틸트량의 변화에 따른 틸트 지시치를 구함과 동시에 구해진 틸트 지시치와, 상기 데이터 검출 능력을 판별한 결과를 나타내는 데이터 판별 신호에 기초하여 상기 목표치를 설정하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  54. 제42항에 있어서,
    상기 틸트 지시치와 이 틸트 지시치에 대하여 보상하기 위한 목표치의 차분치로 나타내는 틸트 에러 신호에 기초하여 틸트를 보상하기 위한 드라이브 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  55. 제54항에 있어서,
    상기 원반형 기록 매체에 대하여 메인 빔 스폿과 2개의 서브 빔 스폿을 형성하는 레이저 광을 조사함과 동시에 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광을 수광하는 광학 픽업 수단을 상기 드라이브 신호에 기초하여 상기 틸트 지시치가 상기 목표치에 근접하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
  56. 제54항에 있어서,
    상기 틸트 에러 신호에 기초하여 상기 원반형 기록 매체의 표면에서 반사 회절된 귀환광에 기초하는 RF 신호에 대하여 실시하는 파형 등화 처리에 있어서의 이득 조정을 행하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출 방법.
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