KR20000029381A - 반도체 집적회로 - Google Patents

반도체 집적회로 Download PDF

Info

Publication number
KR20000029381A
KR20000029381A KR1019990047114A KR19990047114A KR20000029381A KR 20000029381 A KR20000029381 A KR 20000029381A KR 1019990047114 A KR1019990047114 A KR 1019990047114A KR 19990047114 A KR19990047114 A KR 19990047114A KR 20000029381 A KR20000029381 A KR 20000029381A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
control signal
circuit
circuits
nos
memory cell
Prior art date
Application number
KR1019990047114A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100367157B1 (ko
Inventor
타케다코이치
Original Assignee
카네코 히사시
닛뽄덴끼 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 카네코 히사시, 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 filed Critical 카네코 히사시
Publication of KR20000029381A publication Critical patent/KR20000029381A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100367157B1 publication Critical patent/KR100367157B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

대기시간을 전혀 필요로 하지 않고, 결과적으로 고속 동작이 가능한 반도체 집적회로를 제공한다. 복수의 기본 블록을 구성하는 회로블록(10)의 활성선택을 위한 X 및 Y 블록 선택신호의 각 정보를 포함하는 제어신호를 각각 X방향 및 Y방향에서 전송한다. 그리고, X방향 및 Y방향에서 전송되는 제어신호중 늦게 온 쪽의 제어신호를 그대로 출력하는 수신회로(11 내지 16)를 설치한다. 이 수신회로는 제어신호가 X방향 및 Y방향의 한쪽으로부터만 전송된 경우에는 상태천이를 하지 않고, 앞의 상태를 유지하는 기능을 갖는다. 이로 인하여, 대기시간을 전혀 필요로 하지 않고, 결과적으로 고속 동작이 가능한 반도체 집적회로가 얻어진다.

Description

반도체 집적회로{SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT}
본 발명은 반도체 집적회로에 관한 것이며, 특히 복수의 기본 블록을 가지며 제1 및 제2의 선택신호에 의해 이들 기본 블록중 적어도 하나를 선택적으로 활성화 하도록 한 반도체 집적회로에 관한 것이다.
도 10에 도시하는 바와 같이, 어레이형상으로 배치된 N×M개의 기본 블록(101) 중에서 1 또는 복수개의 기본 블록이 선택되고, 그 기본 블록만에 대하여 L개의 제어신호가 전송되는 반도체 집적회로에 관하여 고려한다. 전송되는 L개의 제어신호는 기본 블록(101)을 구성하는 구성 블록을 활성화하거나 비활성화하거나 하는 순서나 시간차이를 제어한다. 또한, N×M개의 기본 블록중에서 1 또는 복수의 기본 블록을 선택하기 위하여, 블록 선택신호가 X와 Y와의 2방향에서 블록 선택 디코더(102, 103)에 의해 생성되어 전송된다.
기본 블록(101)에 있어서는 그들의 AND(논리곱)논리를 행하여, 블록 선택신호가 모두 활성화된 기본 블록만에 대하여, 제어신호 발생회로(104)로부터 L개의 제어신호가 전송된다. 기본 블록(101)에 대하여, 제어신호의 전송이 정확하게 행하여지기 위해서는, 제어신호와 블록 선택신호와의 관계는 제어신호의 활성화되어 있는 시간을 포괄하도록 블록 선택신호를 활성화할 필요가 있다. 예를 들면, 제어신호가 활성화되기 전에 블록 선택신호를 활성화하고, 제어신호가 비활성화된 후에 블록 선택신호를 비활성화한다.
도 11에, 종래의 DRAM(Dynamic random access memory)회로 (JSSCC, Vo1.28, No.11, pp.1092 내지 1098)의 제어신호의 전송방식을 도시한다. 또한, 도 11에 있어서 도 10과 동등한 부분은 동일부호로써 도시하고 있다. 도 11을 참조하면, 기본 블록(101)을 동작시키기 위하여 L개의 제어신호중에서, 예를 들면 센스 증폭기의 활성화 신호를 전송하는 경우는 Y방향의 선택신호 출력회로(103)를 사용하며, Y방향의 블록 선택을 하는 신호(RSL0, RSL1)(배선(1))의 한쪽을 미리 활성화하고, 어느 일정시간이 경과한 후에 X방향의 선택신호 출력회로(102)를 사용하여 신호(SSLO, SSL1)(배선(2))의 한쪽을 활성화한다.
신호(RSL0, RSL1)와 신호(SSLO, SSL1)와의 사이에 주어야 할 대기시간은 신호(RSL0, RSL1)의 활성화가 시작되고 나서 모든 기본 블록에 있어서 활성화가 완료하기까지의 시간에 의해 결정된다. 신호(SSLO, SSL1)는 X방향의 블록 선택신호의 정보와 센스 증폭기의 제어신호의 정보를 양쪽 포함하고 있고, 회로(102)에 있어서, X방향의 블록 선택신호와 센스 증폭기의 활성화를 제어하는 신호와의 AND논리를 행한 후의 신호이다. 이와 같이, 제어신호를 한쪽의 블록 선택신호와 동시에 전송하는 이유는, 물리적인 신호 배선의 개수뿐만 아니라, 신호의 전송에 의한 전위의 변동이 생기는 배선의 개수를 삭감하기 위해서이다.
종래 기술의 문제점은 미리 주어야 하는 대기시간이 반도체 집적회로의 대규모화에 수반하여 증대하며, 동시에 반도체 집적회로의 대기시간이나 사이클 시간을 증대시켜 버리는 점이다. 대기시간에 의한 대기시간의 증대에 관해서 언급한다. 시각(T0)에, Y방향 선택 디코더(103)에 의해 Y방향의 블록 선택신호가 출력된다. 배선(1)의 배선 지연(T1)에 의해, 모든 기본 블록에 대한 Y방향의 블록 선택 신호의 전송이 완료하는 시각은 T0+T1이 된다.
여기서 모든 기본 블록에 있어서, 제어신호가 전송되기 전에 블록 선택신호의 전송을 완료하기 위하여, 시각(T0)에 대기시간(T1)을 가한 시각(T0+T1)에, Y방향의 블록 선택신호의 정보를 포함하는 기본 블록의 제어신호를 회로(103)에서 출력한다. 배선(2)의 배선 지연(T2)에 의해, 모든 기본 블록에 대하여 제어신호의 전송이 완료하는 시각은 T0+T1+T2가 된다. 시간(T1, T2)은 전체의 규모에 의존하며, 규모의 증대에 따라 증대한다.
계속해서, 대기시간에 의한 사이클 시간의 증대에 관해서 언급한다. L개의 제어신호에 의해, 기본 블록의 활성화되고 있는 시간을 T3으로 한다. 회로(103)에 있어서 제어신호의 활성화가 시작된 시간은 T0+T1이기 때문에, 회로(103)에 있어서 모든 제어신호를 비활성화하는 시간은 T0+T1+T3이다. 그리고, 모든 기본 블록에 대하여 비활성화된 제어신호의 전송이 완료하는 시각은 배선(2)의 배선 지연(T2)에 의해 T0+T1+T2+T3이 된다.
여기서, 모든 기본 블록에 있어서, 비활성화된 제어신호가 전송된 후에 블록 선택신호를 비활성화하여야 함으로, 모든 제어신호가 비활성화된 시각(T0+T1+T3)에 대기시간(T2)을 가한 시각(T0+T1+T2+T3), Y방향의 블록 선택 디코더의 출력신호인 Y방향의 블록 선택신호를 비활성화한다.
다음 사이클의 Y방향의 선택신호는 시각(T0+T1+T2+T3) 이후라면 활성화하여도 되기 때문에, 최소의 사이클 시간은 시간(T1+T2+T3)이다. 대기시간(T1, T2)은 전체의 규모에 의존하며, 규모의 증대에 따라 증대한다.
본 발명의 목적은 대기시간을 전혀 필요로 하지 않고, 결과적으로 고속 동작이 가능한 반도체 집적회로를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명의 실시의 형태를 도시하는 블록도.
도 2는 도 1의 기본 블록의 구성을 도시하는 도면.
도 3은 도 2의 리시버 회로의 일례를 도시하는 회로도.
도 4는 도 3의 리시버 회로의 동작을 도시하는 진리값 도표.
도 5는 도 3의 리시버 회로의 동작을 도시하는 타이밍 챠트의 예.
도 6은 X방향의 블록 선택회로로서의 제어신호 출력회로의 구성을 도시하는 도면.
도 7은 Y방향의 블록 선택회로로서의 제어신호 출력회로의 구성을 도시하는 도면.
도 8은 제어신호 출력회로의 다른 예를 도시하는 도면.
도 9는 본 발명의 실시예의 블록도.
도 10은 종래 방식의 제1의 예를 도시하는 도면.
도 11은 종래 방식의 제2의 예를 도시하는 도면이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1 기본 블록 2 X방향 제어신호 출력회로
3 Y방향 제어신호 출력회로 4, 22, 32 제어신호 발생회로
10 회로블록 11 내지 1L 리시버 회로
21 X디코더 31 Y디코더
23, 33 AND회로 111 메모리셀 어레이
112 프리차지 회로 113 센스 증폭기 회로
114 1 내지 E의 Y선택회로 115 데이터 출력회로
116 데이터 기록회로
본 발명에 의하면, 복수의 기본 블록을 가지며 제1 및 제2의 선택신호에 의해 이들 기본 블록중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하도록 한 반도체 집적회로로서,
상기 제1 및 제2의 선택신호에 상기 기본 블록의 동작 제어를 위한 동일한 제어신호를 포함하여 생성하는 제어신호 생성수단과,
상기 기본 블록의 각각에 설치되어 상기 제1 및 제2의 선택신호에 포함된 제어신호중 늦게 온 쪽의 제어신호를 그대로 도출하는 수신수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로가 얻어진다.
그리고, 상기 제어신호 생성수단은 상기 제1 및 제2의 선택신호를 각각 생성하는 수단과, 상기 제어신호를 생성하는 수단과, 이 제어신호와 상기 제1 및 제2의 선택신호의 각각의 논리곱 연산을 하여 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력을 생성하는 수단을 가지며, 이들 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력을 상기 수신수단에 입력하도록 한 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 수신수단은 상기 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력이 동일한 논리값인 경우에는 해당 논리값과 동일한 값을 출력하고, 상기 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력이 서로 다른 논리값인 경우에는 직전의 논리값을 출력하는 논리회로를 갖는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 기본 블록은 매트릭스형상으로 배열되어 있고, 상기 제1 및 제2의 선택신호는 상기 매트릭스의 X, Y방향 선택신호인 것을 특징으로 하며, 또한, 상기 제1 및 제2의 선택신호를 각각 생성하는 수단은 X 및 Y 디코더인 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 기본 블록은 적어도 메모리 셀 어레이와 상기 메모리 셀 어레이의 데이터를 증폭하는 센스 증폭기를 가지며, 상기 제어신호는 센스 증폭기 인에이블 신호인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 기본 블록은 상기 센스 증폭기로부터의 리드 데이터를 외부에 도출하는 데이터 출력회로, 상기 센스 증폭기에 라이트 데이터를 공급하는 데이터 기록회로를 가지며, 상기 제어신호는 리드 및 라이트 제어신호인 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 기본 블록은 상기 메모리 셀 어레이의 비트선의 프리차지를 하는 프리차지 회로를 가지며, 상기 제어신호는 프리차지 신호인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 작용을 언급한다. 복수의 기본 블록의 활성선택을 위한 X 및 Y 블록 선택신호의 각 정보를 포함하는 제어신호를 각각 X방향 및 Y방향으로부터 전송한다. 또한, 기본 블록에 있어서는 X방향 및 Y방향으로부터 전송되는 제어신호중 늦게 온 쪽의 제어신호를 그대로 출력하는 수신회로를 설치한다. 이 수신회로는 제어신호가 X방향 및 Y방향의 한쪽에서만 전송된 경우에는 상태천이를 하지 않고, 앞의 상태를 유지하는 기능을 갖는다. 이로 인해, 대기시간을 전혀 필요로 하지 않고, 결과적으로 고속 동작이 가능한 반도체 집적회로가 얻어진다.
<발명의 실시의 형태>
이하에 도면을 참조하면서 본 발명의 실시의 형태에 관하여 상술한다. 도 1은 본 발명의 실시의 형태의 개략 블록도이며, N×M개(N, M은 2 이상의 정수)의 기본 블록(1)이 어레이형상으로 배열된 반도체 집적회로이다. 어레이형상으로 배치된 N×M개의 기본 블록(1)과, 외부 클록신호(CLK)에 동기하여 M개의 기본 블록(1)의 행으로부터 1개 또는 복수개의 행을 활성화하고, 활성화된 기본 블록에 대하여 L개(L은 정수)의 제어신호를 전송하는 X방향 블록 선택회로(제어신호 출력회로)(2)와, 외부 클록신호(CLK)에 동기하여 N개의 기본 블록(1)의 열에서 1개 또는 복수개의 열을 활성화하고, 활성화된 기본 블록에 대하여 L개의 제어신호를 전송하는 Y방향 블록 선택회로(제어신호 출력회로)(3)에 의해 구성된다.
또한, 본 발명은 복수의 제어신호가 X, Y의 2 방향에서 전송되는 경우에 한하지 않고, 3 이상의 방향에서 전송되는 경우에도 적용된다.
도 2는 도 1의 기본 블록(1)의 일례를 도시하는 도면이다. 기본 블록(1)은 X방향에서 전송되는 L개의 제어신호(INX(i))(i는 1 내지 L의 정수)와, Y방향에서 전송되는 L개의 제어신호(INY(i))를 입력으로 하는 L개의 플립플롭형 리시버 회로(1i)와, 이들 리시버 회로(1i)에 의해 출력되는 각 신호에 의하여 제어가 행하여지는 그 밖의 회로 블록(10)으로 이루어진다. 또한, i가 동일한 제어신호(INX(i)와 INY(i))는 동일한 제어신호인 것으로 한다.
도 3(A)에 플립플롭형 리시버 회로(1i)의 일례의 회로도를 도시한다. P채널 MOS트랜지스터(T1 내지 T4)와 N채널 MOS트랜지스터(T5 내지 T8)에 의한 회로부와, P채널 MOS트랜지스터(T9, T11)와 N채널 MOS트랜지스터(T10, T12)로 이루어지며 상기 회로부의 출력을 유지하는 유지부를 갖는다. 가장, 동적(Dynamic)인 값의 유지가 가능하다면, 도 3(B)에 도시하는 바와 같이, 유지부의 트랜지스터(T9, T10)를 2개 삭감하는 형태도 가능하다.
도 4는 이 도 3에 도시한 리시버 회로의 동작을 도시하는 진리값 표이며, 도 5는 그 동작 예를 도시하기 위한 타이밍도이다. 도 5(A)는 X, Y방향의 제어신호가 모두 늦지 않고 동일 타이밍으로 리시버 회로에 입력된 경우의 리시버 회로의 출력상태를 도시한다. (B)는 X방향의 제어신호에 대하여 Y방향의 제어신호가 늦게 입력된 경우의 리시버 회로의 출력상태를 도시한다. (C)는 반대로 X방향의 제어신호가 늦은 경우의 리시버 회로의 출력상태를 도시한다. 이로 인하여, 동일한 제어신호(INX(i)와 INY(i))중 늦게 입력된 제어신호가 그대로 출력되는 것을 알 수 있다.
도 6은 도 1의 X방향의 제어신호 출력회로(2)의 예를 도시하는 도면이다. 이 회로(2)는 외부신호(CLK)에 동기하여 동작하는 X방향의 블록 선택 디코더(21)와, 외부신호(CLK)에 동기하여 L개의 제어신호를 출력하는 제어신호 발생회로(22)와, 회로(21)의 출력신호와 회로(22)의 출력신호와의 AND논리를 행하는 논리곱 회로(23)로 이루어진다.
도 7은 도 1의 Y방향의 제어신호 출력회로(3)의 예를 도시하는 도면이다. 이 회로(3)는 외부신호(CLK)에 동기하여 동작하는 Y방향의 블록 선택 디코더(31)와, 외부신호(CLK)에 동기하여 L개의 제어신호를 출력하는 제어신호 발생회로(32)와, 회로(31)의 출력신호와 회로(32)의 출력신호와의 AND논리를 행하는 논리곱 회로(33)로 이루어진다.
도 8은 도 1의 제어신호 출력회로(2, 3)의 다른 예를 도시하는 도면이며, 도 6, 7과 동등한 부분은 동일부호로써 도시하고 있다. 본 예에서는 도 6, 7에 있어서의 제어신호 발생회로(22, 32)가 동일한 제어신호를 발생하기 때문에, 양자를 공통화하여 회로의 간소화를 꾀한 것이다.
이상 언급한 본 발명에 의한 반도체 집적회로의 동작에 관해서 설명한다. 도 6, 7에 도시한 바와 같이, 기본 블록(1)을 정확하게 동작시키기 위한 L개의 제어신호를 발생하는 제어신호 발생회로로서, X방향 블록 선택회로인 제어신호 출력회로(2), Y방향 블록 선택회로인 제어신호 출력회로(3) 중 각각 탑재하거나, 혹은, 도 8에 도시하는 바와 같이, 제어신호 발생회로(4)의 출력하는 제어신호를 X방향 블록 선택회로(제어신호 출력회로)(2), Y방향 블록 선택회로(제어신호 출력회로)(3)에 각각 입력한다. 이로 인해, 선택적으로 활성화되는 기본 블록(1)에 대하여, X와 Y의 양쪽에서 기본 블록을 선택하는 신호에 대하여 동일한 제어신호의 정보를 포함하여 전송한다.
블록 선택의 정보를 포함하는 L개의 제어신호가 각각 X방향, Y방향에서 전송된다. 도 2에 도시하는 바와 같이, 동일한 제어신호의 세트를 리시버 회로(11 내지 1L)의 입력으로 한다. 따라서, 리시버 회로는 기본 블록(1)에 적어도 L개 준비하게 된다. 도 3에 도시하는 리시버 회로는 앞에서 언급한 바와 같이, 도 4 및 도 5에 도시한 동작을 행하는 것이며, 이로 인하여 X, Y방향에서 공급되는 동일한 제어신호중 늦게 입력된 제어신호를 그대로 출력하는 기능을 갖게 된다.
<실시예>
도 9는 본 발명의 실시예의 블록도이며, 도 1과 동등한 부분은 동일 부호에 의해 도시한다. 본 실시예에서는 DRAM의 반도체 집적회로에 본 발명을 적용한 것이며, L=6인 경우를 도시한다. 도 1의 기본부 블록(1)의 구성 요소인 회로 블록(10)(도 2 참조)으로서, A×B개의 메모리 셀 어레이((111))와, 해당 메모리 셀 어레이의 비트선의 프리차지를 하는 B개의 프리차지 회로(112)와, 메모리 셀 어레이의 입출력 데이터용의 B개의 센스 증폭기 회로(113)와, E개의 선택신호를 입력으로 하는 B개의 Etol(E개에서 1개를 선택)의 Y 선택회로(114)와, 메모리 셀 어레이의 리드 데이터를 판독하고 I/O 선을 개재시켜 외부에 도출하기 위한 B/E개의 데이터 출력회로(115)와, 기록 I/O선으로부터의 라이트 데이터를 입력하기 위한 B/E개의 데이터 기록회로(116)가 설치되어 있다.
이러한 구성의 회로블록(10)이 복수개 배열되어 DRAM 반도체 집적회로 장치가 구성되는 것이 일반적이다. 그리고, 본 발명에서는 이들 회로(111 내지 116)의 각각에 대응하여 리시버 회로(11 내지 16)가 각각 설치되어 있다. 메모리 셀 어레이(111)에 대응하는 A개의 리시버 회로(11)의 입력(INX(1), INY(1))에는 C개와 D개의 워드선(듀얼 워드선 방식에서는, 서브 워드 드라이버 신호선)이 각각 공급되어 메모리 셀 어레이(111)에 A개의 서브 워드 신호로서 출력된다(A=C×D로 한다).
프리차지 회로(112)에 대응하는 리시버 회로(12)의 입력(INX(2), INY(2))에는 프리차지 신호선이 공급되고, 센스 증폭기회로(113)에 대응하는 리시버 회로(13)의 입력(INX(3), INY(3))에는 센스 증폭기 인에이블 신호선이 공급되고 있다. 또한, Y선택회로(114)에 대응하는 E개의 리시버 회로(14)의 입력(INX(4), INY(4))에는 F개와 G개 (E=F×G로 한다)의 프리차지 신호선이 각각 공급되고 있다.
데이터 출력회로(115)에 대응하는 리시버 회로(15)의 입력(INX(5), INY(5))에는 리드 제어 신호선이 공급되고, 또한 데이터 기록회로(116)에 대응하는 리시버 회로(16)의 입력(INX(6), INY(6))에는 라이트 제어 신호선이 공급되고 있다. 또한, 이들 L=6 세트의 X, Y방향의 제어신호의 각각에는 위에서 언급한 바와 같이, X, Y방향 선택신호가 각각, 위에서 언급한 바와 같이 AND논리에 의해 포함되어 있는 것으로 한다.
이러한 구성으로 함으로써, X, Y의 양방향에서 동일한 제어신호가 각 리시버 회로에 공급되게 되기 때문에, 해당 리시버 회로의 기능에 의해 동일한 제어신호중 늦게 온 것이 그대로 출력되게 이루어지는 것이다.
위에서 언급한 바와 같이, 본 발명에 의하면, X 및 Y의 양방향에서 전송되는 제어신호 중에서 반드시 늦게 전송된 제어신호가 기본 블록에 대하여 입력됨으로, 종래 방식과 같이 대기시간(T1, T2)을 전혀 필요로 하지 않게 되며, 이로 인해, 대기시간에서 T1, 최소의 사이클 시간으로서 T1+T2만 고속화가 가능해진다는 효과가 있다.

Claims (8)

  1. 복수의 기본 블록을 가지며 제1 및 제2의 선택신호에 의해 이들 기본 블록중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하도록 한 반도체 집적회로로서,
    상기 제1 및 제2의 선택신호에 상기 기본 블록의 동작 제어를 위한 동일한 제어신호를 포함하여 생성하는 제어신호 생성수단과,
    상기 기본 블록의 각각에 설치되어 상기 제1 및 제2의 선택신호에 포함된 제어신호중 늦게 온 쪽의 제어신호를 그대로 도출하는 수신수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어신호 생성수단은 상기 제1 및 제2의 선택신호를 각각 생성하는 수단과, 상기 제어신호를 생성하는 수단과, 이 제어신호와 상기 제1 및 제2의 선택신호의 각각의 논리곱 연산을 하여 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력을 생성하는 수단을 가지며, 이들 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력을 상기 수신수단에 입력하도록 한 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  3. 제3항에 있어서,
    상기 수신수단은 상기 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력이 동일 논리값인 경우에는 해당 논리값과 동일한 값을 출력하고, 상기 제1 및 제2의 논리곱 연산 출력이 서로 다른 논리값인 경우에는 직전의 논리값을 출력하는 논리회로를 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  4. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기본 블록은 매트릭스형상으로 배열되어 있고, 상기 제1 및 제2의 선택신호는 상기 매트릭스의 X, Y방향 선택신호인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 및 제2의 선택신호를 각각 생성하는 수단은 X 및 Y 디코더인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 기본 블록은 적어도 메모리 셀 어레이와 상기 메모리 셀 어레이의 데이터를 증폭하는 센스 증폭기를 가지며, 상기 제어신호는 센스 증폭기 인에이블 신호인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 기본 블록은 상기 센스 증폭기로부터의 리드 데이터를 외부에 도출하는 데이터 출력회로, 상기 센스 증폭기에 라이트 데이터를 제공하는 데이터 기록회로를 또한 가지며, 상기 제어신호는 리드 및 라이트 제어신호인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 기본 블록은 상기 메모리 셀 어레이의 비트선의 프리차지를 하는 프리차지 회로를 또한 가지며, 상기 제어신호는 프리차지 신호인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
KR10-1999-0047114A 1998-10-30 1999-10-28 반도체 집적회로 KR100367157B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP??10?????3092 1998-10-30
JPJP-P-1998-00309287 1998-10-30
JP10309287A JP3127906B2 (ja) 1998-10-30 1998-10-30 半導体集積回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000029381A true KR20000029381A (ko) 2000-05-25
KR100367157B1 KR100367157B1 (ko) 2003-01-06

Family

ID=17991188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-1999-0047114A KR100367157B1 (ko) 1998-10-30 1999-10-28 반도체 집적회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6288968B1 (ko)
JP (1) JP3127906B2 (ko)
KR (1) KR100367157B1 (ko)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3192081B2 (ja) * 1996-02-28 2001-07-23 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JPH10269765A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH1166841A (ja) * 1997-08-22 1999-03-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100367157B1 (ko) 2003-01-06
JP2000138345A (ja) 2000-05-16
US6288968B1 (en) 2001-09-11
JP3127906B2 (ja) 2001-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4899312A (en) Semiconductor memory
US6078546A (en) Synchronous semiconductor memory device with double data rate scheme
KR970017659A (ko) 반도체 메모리 장치와 그 리이드 및 라이트 방법
US4984217A (en) Semiconductor memory
KR970063250A (ko) 파이프라인 동작식 반도체 메모리 장치
KR19980063365A (ko) 반도체 기억 장치
KR0154586B1 (ko) 반도체 기억장치
KR960010963B1 (ko) 테스트 기능을 가진 메모리장치
US6185151B1 (en) Synchronous memory device with programmable write cycle and data write method using the same
US4802135A (en) Semiconductor memory having multiple continuous access functions
US3962686A (en) Memory circuit
US6388937B2 (en) Semiconductor memory device
EP0920024B1 (en) Semiconductor memory device having a plurality of banks
US6762972B2 (en) Synchronous semiconductor memory device and method of processing data thereof
US4811295A (en) High speed serial input/output semiconductor memory
KR100255511B1 (ko) 이중센싱출력경로를구비한동기화메모리장치
KR20010076844A (ko) 카스 명령의 동작 지연 기능을 구비한 반도체 메모리 장치및 이에 적용되는 버퍼와 신호전송 회로
KR100403348B1 (ko) 계층적 구조를 갖는 비트라인 선택 회로
US6310818B1 (en) Semiconductor memory device and method of changing output data of the same
JP2002076879A (ja) 半導体装置
US5901109A (en) Semiconductor memory device capable of higher-speed operation and activated in synchronism with clock
KR100240870B1 (ko) 동기형 반도체 메모리 장치
US5539693A (en) Method of controlling semiconductor storage circuit
US6625067B2 (en) Semiconductor memory device for variably controlling drivability
KR100367157B1 (ko) 반도체 집적회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
AMND Amendment
G170 Publication of correction
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee