KR102611222B1 - 표시 장치의 특성 보상 방법 및 시스템 - Google Patents

표시 장치의 특성 보상 방법 및 시스템 Download PDF

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Abstract

화소 보상 계수를 평가 및 사용하는 시스템 침 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 제1 시구간 동안, 표시 장치의 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 포함하고, 제2 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 포함한다.

Description

표시 장치의 특성 보상 방법 및 시스템 {METHOD AND SYSTEM OF COMPENSATING CHARACTERISTICS OF DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치의 특성 보상 방법 및 시스템에 관한 것으로서, 특히 화소 특성을 보상하는 방법 및 시스템에 관한 것이다.
본 출원은 2019년 8월 15일에 미국 특허청에 출원한 미국 특허출원번호 제62/887,463호를 우선권 주장하며, 여기에 인용함으로써 이 출원의 전체 내용을 본원에 포함한다.
전자 장치의 표시 장치, 예를 들면 컴퓨터 모니터, TV, 모바일 기기 등의 표시 장치는 복수의 화소를 포함하며, 각 화소는 화소 출력을 제어하는 트랜지스터를 포함한다. 예를 들면, 발광 다이오드(LED: light emitting diode)[보기: 유기 발광 표시 장치(organic LED display)]에서 각 화소는 발광 다이오드를 포함한다. 발광 다이오드를 통하여 흐르는 전류의 크기는 구동 트랜지스터로 제어될 수 있으며, 구동 트랜지스터의 특성은 제조 과정에서의 불균일성으로 인하여 화소에 따라 달라질 수 있고 노화(aging)로 인하여 시간에 따라서도 변할 수 있다. 이러한 변화를 보상하는 척도가 마련되지 않으면, 표시 영상 또는 비디오의 화질이 나빠질 수 있다. 이러한 변화를 보상하는 회로는 하나 이상의 조정 가능한 보상 계수를 포함할 수 있으며, 보상 계수는 각 화소에 대해서 적절하게 선택 또는 평가될 수 있다.
따라서, 화소 보상 계수를 평가하는 시스템 및 방법이 필요하다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 화소 보상 계수를 평가하는 시스템 및 방법을 제시하는 것이다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 제1 시구간 동안, 표시 장치의 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 포함하고, 제2 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 포함한다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 상기 제1 시구간 동안, 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계, 그리고 상기 제2 시구간 동안, 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제2 제어 전압을 인가하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 상기 제1 시구간 동안, 상기 제1 코드 워드에 기초하여 상기 제1 기준 전류를 생성하는 단계, 그리고 상기 제2 시구간 동안, 상기 제2 코드 워드에 기초하여 상기 제2 기준 전류를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 하나 이상의 보상 계수는, 제1 보상 계수, 그리고 제2 보상 계수를 포함하며, 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계는, 상기 제1 보상 계수에 상기 제1 코드 워드를 곱하여 제1 보상 코드 워드를 생성하는 단계, 그리고 상기 제1 보상 코드 워드에 상기 제2 보상 계수를 더하여 제2 보상 코드 워드를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 하나 이상의 보상 계수는 제3 보상 계수를 더 포함하고, 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계는, 제1 전압의 제1 부분, 제2 전압의 제2 부분을 가지는 파형을 상기 화소로 연장되어 있는 도체에 인가하는 단계를 더 포함하며, 상기 제2 전압은 상기 제2 보상 코드 워드에 비례하며, 상기 제2 전압에 대한 상기 제1 전압의 비가 상기 제3 보상 계수일 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는, 상기 제2 코드 워드 및 상기 제1 코드 워드에도 기초하여 수행될 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는, 상기 제2 화소 전류 오차 신호, 상기 제2 코드 워드와 상기 제1 코드 워드의 차이, 그리고 제1 상수 의 곱을 상기 제1 보상 계수에 더하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는, 상기 제2 화소 전류 오차 신호, 그리고 제2 상수 의 곱을 상기 제2 보상 계수에 더하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 상기 제1 시구간보다 짧고 상기 제2 시구간보다 짧은 제3 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제3 화소 전류를 제3 기준 전류와 비교하여, 상기 제3 화소 전류와 상기 제3 기준 전류의 차이를 나타내는 제3 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제3 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 더 포함하고, 상기 제1 시구간보다 짧고 상기 제2 시구간보다 짧은 제4 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제4 화소 전류를 제4 기준 전류와 비교하여, 상기 제4 화소 전류와 상기 제4 기준 전류의 차이를 나타내는 제4 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고 상기 제4 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 상기 제3 시구간 동안, 제3 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제3 제어 전압을 인가하는 단계, 그리고 상기 제4 시구간 동안, 제4 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제4 제어 전압을 인가하는 단계를 더 포함하고. 상기 제4 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는, 상기 제4 화소 전류 오차 신호, 상기 제4 코드 워드와 상기 제3 코드 워드의 차이, 그리고 제3 상수 의 곱을 상기 제3 보상 계수에 더하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 특성 보상 방법은, 제5 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제5 화소 전류를 제5 기준 전류와 비교하여, 상기 제5 화소 전류와 상기 제5 기준 전류의 차이를 나타내는 전류 차이 신호를 생성하는 단계, 상기 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘으면 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계, 그리고 상기 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘지 않으면 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 바꾸지 않고 그대로 두는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 시스템은, 화소를 포함하는 표시 장치, 그리고 화소 구동 및 감지 회로를 포함하며, 상기 시스템은, 제1 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하고, 상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며, 제2 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하고, 상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신한다.
본 발명의 한 실시예에 따른 시스템은, 상기 제1 시구간 동안, 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하고, 상기 제2 시구간 동안, 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제2 제어 전압을 인가할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 시스템은, 상기 제1 시구간 동안, 상기 제1 코드 워드에 기초하여 상기 제1 기준 전류를 생성하고, 상기 제2 시구간 동안, 상기 제2 코드 워드에 기초하여 상기 제2 기준 전류를 생성할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 하나 이상의 보상 계수는, 제1 보상 계수, 그리고 제2 보상 계수를 포함하며, 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 동작은, 상기 제1 보상 계수에 상기 제1 코드 워드를 곱하여 제1 보상 코드 워드를 생성하고, 상기 제1 보상 코드 워드에 상기 제2 보상 계수를 더하여 제2 보상 코드 워드를 생성하는 동작을 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 하나 이상의 보상 계수는 제3 보상 계수를 더 포함하고, 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 동작은, 제1 전압의 제1 부분, 제2 전압의 제2 부분을 가지는 파형을 상기 화소로 연장되어 있는 도체에 인가하는 동작을 더 포함하며, 상기 제2 전압은 상기 제2 보상 코드 워드에 비례하며, 상기 제2 전압에 대한 상기 제1 전압의 비가 상기 제3 보상 계수일 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은 상기 제2 코드 워드 및 상기 제1 코드 워드에도 기초하여 수행될 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은, 상기 제2 화소 전류 오차 신호, 상기 제2 코드 워드와 상기 제1 코드 워드의 차이, 그리고 제1 상수 의 곱을 상기 제1 보상 계수에 더하는 동작을 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은, 상기 제2 화소 전류 오차 신호, 그리고 제2 상수 의 곱을 상기 제2 보상 계수에 더하는 동작을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 시스템은, 화소를 포함하는 표시 장치, 그리고 상기 화소를 구동하고 상기 화소에 생성되는 전류를 감지하는 수단을 포함하며, 상기 시스템은, 제1 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하고, 상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며, 제2 시구간 동안, 상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하고, 상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신한다.
이와 같이 함으로써 화소 보상 계수를 평가 및 보상할 수 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 개념도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 복합 구조 블록도이다.
도 3a는 본 발명의 한 실시예에 따른 시뮬레이션 결과를 보여주는 그래프이다.
도 3b는 본 발명의 한 실시예에 따른 시뮬레이션 결과를 보여주는 그래프이다.
도 3c는 본 발명의 한 실시예에 따른 시뮬레이션 결과를 보여주는 그래프이다.
도 3d는 본 발명의 한 실시예에 따른 시뮬레이션 결과를 보여주는 그래프이다.
이제 첨부한 도면을 참고하여 뒤에서 설명할 상세한 설명은 화소 보상 계수를 평가 및 사용하는 시스템 및 방법의 실시예에 관한 것으로서, 본 발명에 의하여 구현 또는 이용될 형태를 모두 표현한 것은 아니다. 이제 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명한다. 그러나 서로 다른 실시예에서 구현되는 것과 동일한 또는 균등한 기능과 구조도 본 발명의 범위 내에 포함된다. 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.
도 1을 참고하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치(보기: 모바일 표시 장치)(105)는 행렬로 배열된 복수의 화소를 포함할 수 있다. 각 화소는 구동 회로를 포함할 수 있는데, 구동 회로의 예로는 도 1의 왼쪽에 도시한 7T1C (7-transistor 1-capacitor) 구동 회로 또는 도 1의 아래쪽에 도시한 4T1C (4-transistor 1-capacitor) 구동 회로가 있다. 4T1C 구동 회로에서는, 화소가 발광할 때, [축전기(capacitor)(115)에 의하여 게이트-소스 전압이 제어되는] 구동 트랜지스터(drive transistor)(110)가 발광 다이오드(light emitting diode)(120)에 흐르는 전류를 제어한다. 상부 패스-게이트 트랜지스터(pass-gate transistor)(125)를 사용하여 구동 트랜지스터(110)의 게이트[및 축전기(115)의 한 단자]를 전원 전압(power supply voltage)에 선택적으로 연결할 수 있으며, 하부 패스-게이트 트랜지스터(130)를 사용하여 구동 감지 도체(drive sense conductor)(135)를 소스 노드(source node)(140)에 선택적으로 연결할 수 있는데, 소스 노드(140)는 구동 트랜지스터(110)의 소스, 발광 다이오드(120)의 애노드 및 축전기(115)의 다른 단자와 연결되어 있다.
화소 구동 및 감지 회로(pixel drive and sense circuit)(145)(다음에 좀더 상세하게 설명)는 구동 감지 도체(135)와 연결될 수 있다. 화소 구동 및 감지 회로(145)는 구동 감지 도체(135)에 한 번에 하나씩 선택적으로 연결되는 구동 증폭기(drive amplifier)와 감지 회로(sensing circuit)를 포함할 수 있다. 구동 트랜지스터(110)에 전류가 흐르고 하부 패스-게이트 트랜지스터(130)가 꺼져서 구동 감지 도체(135)가 소스 노드(140)에서 분리되면, 발광 다이오드(120)에 전류가 흘러 발광하게 된다. 하부 패스-게이트 트랜지스터(130)가 켜지고 구동 감지 도체(135)가 발광 다이오드(120)의 캐소드보다 낮은 전압으로 구동되면, 발광 다이오드(120)는 역바이어스되며 구동 감지 도체(135)에 흐르는 전류가 화소 구동 및 감지 회로(145)로 흘러 감지될 수 있다.
앞서 설명한 것처럼, 게이트-소스 전압을 조절하여, 예를 들어 구동 트랜지스터(110)의 이동도(mobility) 또는 문턱 전압(threshold voltage)의 편차[보기: 표시 장치(105)의 다른 구동 트랜지스터와의 차이, 또는 시간에 따른 변화]를 보상하는 것은 바람직하다. 도 2는 화소 구동 및 감지 회로(145)의 출력(200) 및 입력(202)이 표시 장치(105) 내에 있는 비교적 긴 도체[앞으로 "열 도체(column conductor)"라 하며, 도 2에서는 저항(Rp)과 축전기(Cp)로 나타냄]를 통하여 화소의 구동 감지 도체(135)와 선택적으로 연결되는 것을 보여준다. 특정 시각에 (열 도체가 구동되고 있을 때는) 출력(200)과 (뒤에서 상세하게 설명하겠지만 화소 전류가 감지되고 있을 때는) 입력(202) 중 하나가 열 도체에 연결될 수 있다 (도 2에 도시한 점선이 이러한 연결을 나타낸다).
동작을 보면, 감마 회로(gamma circuit)(205)가 일군의 코드 워드(code word)를 생성하며, 각 코드 워드는 구동 트랜지스터(110)가 발광 다이오드(120)에 구동하는 전류에 해당한다. 3개의 보상 계수를 사용하여 코드 워드를 조절할 수 있다. 제1 보상 계수(도 2의 "A")에 코드 워드를 곱하면 제1 코드 워드가 되고, 제2 보상 계수(도 2의 "C")를 코드 워드에 더하면 제2 코드 워드가 된다. 이 두 개의 보상 단계를 사용하여 (i) 구동 트랜지스터(110)의 구동도와 명목적인(nominal) 또는 이상적인(ideal) 트랜지스터의 구동도 차이, 그리고 (ii) 구동 트랜지스터(110)의 문턱 전압과 명목적인 또는 이상적인 트랜지스터의 문턱 전압 차이를 거의 보상할 수 있다.
파형 생성 회로(210)는 제2 보상 코드 워드로부터 제3 보상 코드 워드 (도 2의 "α")를 사용하여 다음 전압을 가지는 파형을 생성할 수 있다: V(n)+α(V(n) -V(n-1))p(t). 달리 말하면, 이 파형은 제1 전압에서 제1 부분, 제2 전압에서 제2 부분을 가진다. 이 파형의 한 예가 도 3d의 "채널 RC 입력(Channel RC input)" 곡선이다. 제2 전압은 제2 보상 코드 워드에 비례할 수 있고, 트랜지스터에 인가되는 전압일 수 있다. 제1 전압은 더 크고 프리엠퍼시스(pre-emphasis)를 제공하여 표시 장치(105) 내 열 도체의 저역 필터링(low-pass filtering) 효과에 부분적으로 대응할 수 있다. 제3 보상 계수는 제2 전압에 대한 제1 전압의 비일 수 있다. 이 파형이 제1 디지털-아날로그 변환기(215)에 의하여 아날로그 파형으로 변환되고, (그 시각에 표시 장치의 열 도체와 연결되어 있는) 구동 증폭기(220)에 의하여 증폭되고, 표시 장치의 열 도체에 공급되면, 제1 부분[이 동안 구동 증폭기(220)의 출력이 α 인자만큼 커짐]은 구동 감지 도체(135)의 전압이 더욱 빠르게 희망값에 수렴하도록 할 수 있는데, 희망값은 이 파형의 제2 부분 동안 구동 증폭기(220)의 출력 전압이다.
입력(202)이 열 도체와 연결되고, (예를 들어 발광 다이오드(120)가 역바이어스되어) 발광 다이오드(120)에 전류가 구동되지 않을 때, 화소 구동 및 감지 회로(145)는 구동 트랜지스터(110)가 구동하는 전류를 감지할 수 있다. 전류 감지 모드에서, 발광 다이오드(120)는 앞서 언급한 바와 같이 역바이어스되고, 구동 트랜지스터(110)에 흐르는 전류(앞으로 "화소 전류(pixel current)"라고 함)가 화소 구동 및 감지 회로(145)의 입력(202)으로 흘러간다. 화소 구동 및 감지 회로(145)에서는, 화소 전류에서 [제2 디지털-아날로그 변환기(225)가 제어하는] 기준 전류를 뺀다. 그 차이를 적분기(227) 및 비교기(또는 "슬라이서(slicer)")(228)가 처리하여 화소 전류와 기준 전류의 차를 나타내는 신호["화소 전류 오차 신호(pixel current error signal)"라고 함]를 생성한다.
화소 전류 오차 신호에 기초하여 보상 계수를 조정함으로써, 어떠한 코드 워드가 주어지더라도 구동 트랜지스터(110)의 특성(보기: 구동도 및 문턱 전압)이 이상적인 트랜지스터의 특성인 것처럼 보상 계수 조정 후의 구동 전류가 원래 값과 더욱 같아지게 할 수 있다. 이러한 갱신이 복수의 구동 및 감지 구간[또는 "시구간(time interval)"] 동안 되풀이될 수 있는데, 각각의 구동 및 감지 구간은 새로운 (그리고 잠재적으로 다른) 코드 워드를 처리하고, 별개의 화소 전류, 별개의 기준 전류 및 별개의 화소 전류 오차 신호를 가질 수 있다. 예를 들면, (제1 코드 워드를 수신하고 처리하는) 제1 시구간이 (제2 코드 워드를 수신하고 처리하는) 제2 시구간보다 앞선다면, (i) 제2 화소 전류 오차 신호[sign(en)], (ii) 제2 코드 워드와 제1 코드 워드의 차이[sign(coden - coden -1)], (iii) 제1 상수, 이 3 개의 곱을 제1 보상 계수에 더함으로써 제1 보상 계수를 조정할 수 있다. 이를 다음과 같이 나타낼 수 있다.
An+1 = An + step1 x sign(en) x sign(coden - coden -1)
이 방정식에서, An은 조정 전 제1 보상 계수, An+1은 조정 후 제1 보상 계수, 제1 계수 "step1"은 조정 속도 상수(adjustment rate constant)로서 수렴 속도와 안정성의 균형을 맞추기 위하여 조정될 수 있다(값이 클수록 수렴 속도를 빠르게 하고 안정성을 낮춘다).
이와 비슷하게, (i) 제2 화소 전류 오차 신호[sign(en)]와 (ii) 제2 상수의 곱을 제2 보상 계수에 더함으로써 제2 보상 계수를 조정할 수 있다. 이를 다음과 같이 나타낼 수 있다.
Cn +1 = Cn + step2 x sign(en)
이 방정식에서, Cn은 조정 전 제2 보상 계수, Cn +1은 조정 후 제2 보상 계수, 제2 계수 "step2"도 조정 속도 상수로서 수렴 속도와 안정성의 균형을 맞추기 위하여 조정될 수 있다.
제1 및 제2 보상 계수를 조정하면, 구동 신호가 화소에 인가되는 시구간의 길이가 통상의 동작시보다 길어지고, 이에 따라, 제3 보상 계수(뒤에서 더욱 상세하게 설명함)의 값이 정확하지 않더라도, 구동 감지 도체(135)의 전압이 화소 구동 및 감지 회로(145)의 출력(200) 전압에 도달할 수 있는 시간을 가질 수 있다. 이와 같이 길어진 시구간을 사용하면, 제1 및 제2 보상 계수의 평가치로부터 제3 보상 계수의 평가치를 분리할 수 있다.
제3 보상 계수도 비슷한 방식으로 조정할 수 있다. 제3 보상 계수를 조정할 때에는 앞에서보다는 짧은 시구간을 사용할 수 있는데, 정상 동작 시(영상 또는 비디오를 표시할 때) 표시 장치를 구동하는 데 사용되는 시구간과 동일한 길이의 시구간을 사용할 수 있다. 예를 들면, (제3 코드 워드를 수신하고 처리하는) 제3 시구간을 사용할 수 있으며, 제3 시구간은 (제4 코드 워드를 수신하고 처리하는) 제4 시구간에 앞선다.
(i) (제4 시구간 동안 구한) 제4 화소 전류 오차 신호[sign(en)], (ii) 제4 코드 워드와 제3 코드 워드의 차이[sign(coden - coden -1)], (iii) 제3 상수, 이 3 개의 곱을 제3 보상 계수에 더함으로써 제3 보상 계수를 조정할 수 있다. 이를 다음과 같이 나타낼 수 있다.
αn +1 = αn + step3 x sign(en) x sign(coden - coden -1)
이 방정식에서, αn은 조정 전 제3 보상 계수, αn +1은 조정 후 제3 보상 계수, 제3 계수 "step3"도 조정 속도 상수로서 수렴 속도와 안정성의 균형을 맞추기 위하여 조정될 수 있다. 제1, 제2 및 제3 상수(step1, step2, and step3)는 모두 동일한 값을 가질 수도 있고, 서로 다른 값을 가질 수도 있으며, 둘은 동일한 값을, 나머지 하나는 다른 값을 가질 수도 있다.
기준 전류는 수치 드레인-소스 전류 모델(numerical drain-source current model)(230)로 생성할 수 있는데, 수치 드레인-소스 전류 모델(230)은 이상적인 트랜지스터가 구동하는 전류(Ids)의 근사치를 계산하는 회로로서, 다음과 같은 방식으로 계산한다.
Ids = K (V-Vth)2
여기에서 K는 이동도이고, V는 구동 전압이고, Vth는 문턱 전압이다. 도시한 바와 같이, 수치 드레인-소스 전류 모델(230)의 출력은 제2 디지털-아날로그 변환기(225)에 공급되어 기준 전류를 생성한다. 기준 전류의 부호를 화소 전류와 반대로 만들고, 기준 전류원과 (이번에는 화소 전류가 흐르는 열 도체와 연결되어 있는) 화소 구동 및 감지 회로(145)의 입력을 동일한 노드, 즉 적분기(227)의 입력에 연결하여, 적분기(227)로 흘러 들어가는 전류가 (i) 열 도체에서 노드로 흘러 들어가는 전류 및 (ii) 노드에서 기준 전류원으로 흘러 나오는 전류의 차이가 되도록 함으로써 화소 전류에서 기준 전류를 뺀 값을 구할 수 있다. 본 발명의 한 실시예에 따르면, 제어기(235)는 도 2에 도시한 회로의 상태 변화를 제어한다. 즉, 매 시구간이 시작될 때를 결정하고, 화소 구동 및 감지 회로(145)의 입력(202)과 출력(200)을 선택적으로 열 도체에 연결하는 데 사용하는 (점선으로 도시한) 스위치를 제어하고, 상부 패스-게이트 트랜지스터(125) 및 하부 패스-게이트 트랜지스터(130)에 제어 신호를 보낸다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 항상 제1 디지털-아날로그 변환기(215)와 제2 디지털-아날로그 변환기(225) 중 하나만 동작한다. [제1 디지털-아날로그 변환기(215)는 화소 구동 및 감지 회로(145)의 출력(200)이 열 도체와 연결되고 화소가 구동될 때 동작하고, 제2 디지털-아날로그 변환기(225)는 화소 구동 및 감지 회로(145)의 입력(202)이 열 도체와 연결되고 화소 전류가 감지될 때 동작한다.] 이러한 실시예에서, 두 개의 디지털-아날로그 변환기를 사용할 필요는 없다. 그 대신, 도 2에서 제1 디지털-아날로그 변환기(215) 및 제2 디지털-아날로그 변환기(225)가 각각 구동하는 두 개의 노드에 각각의 스위치(보기: 트랜지스터 스위치)에 의하여 연결된 하나의 디지털-아날로그 변환기를 사용하여 두 개의 기능을 수행할 수 있다. 본 발명의 한 실시예에 따르면, 기준 전류원은 축전기를 전압 램프(voltage ramp)로 구동하는 하나의 디지털-아날로그 변환기를 사용하여 구현될 수 있는데, 이는 생성될 전류량이 작을 때 매우 정확한 결과를 가져다 준다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 따라 구동 트랜지스터(110)가 구동하는 전류를 보여주는 시뮬레이션 그래프로서, 도 3a 및 도 3b는 각각 여기에서 설명한 바와 같이 제1 및 제2 보상 계수를 적정하게 보상하기 전과 후의 그래프이다. Iref 의 상승 시간(rise time)이 유한한 것은 디지털-아날로그 변환기의 상승 시간이 유한하기 때문이다. 도 3c 및 도 3d는 화소 구동 및 감지 회로(145)의 출력(200) 전압("Channel RC input"), 구동 감지 도체(135)의 전압("Channel RC output", 곡선 310) 및 구동 트랜지스터(110)의 게이트-소스 전압("VGS", 곡선 315)을 보여 주는 시뮬레이션 그래프로서, 도 3c는 제3 보상 계수가 0인 경우이고, 도 3d는 제3 보상 계수가 조정되어 구동 감지 도체(135) 전압의 안정화 시간(settling time)을 줄여 주는 경우이다. (예를 들면, 도 3c도 도시한 것처럼) 구동 감지 도체(135)의 전압이 계속 변화하더라도, 1 마이크로초 후에 VGS가 일정해지므로 열 도체도 1 마이크로초 후에 구동 트랜지스터(110)와 분리된다. 프리엠퍼시스(pre-emphasis)를 사용하지 않으면, 안정화 시간이 약 1.5 마이크로초이고, 적절하게 조정된 제3 보상 계수와 함께 프리엠퍼시스를 사용하면 안정화 시간이 0.6 마이크로초 미만인 것을 볼 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 기대 전류(desired current)와 감지 전류의 차이가 충분히 작아지면 보상 계수의 조정을 끝낼 수 있다. 예를 들면, 시구간 중 하나에서, 화소 전류를 대응하는 기준 전류와 비교하여 전류 차이 신호를 구하는, 전류 차이 신호는 화소 전류와 이에 대응하는 기준 전류와의 차이이다. 그러면, (i) 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘으면, 예를 들어 앞에서 설명한 것처럼 하나 이상의 보상 계수를 갱신할 수 있으며, (ii) 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘지 않으면, 하나 이상의 보상 계수를 바꾸지 않고 그대로 둘 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 보상 계수의 수정은 화소 전류값의 알려진 부분 집합으로 수행될 수 있는데, 이는 화소가 감지 과정의 첫머리에서 (소정 값들의 알려진 집합으로부터 선택한) 전압으로 프로그램될 수 있다는 것을 의미한다. 이와는 달리, 보상 계수의 수정이 화소에 프로그램되는 실제 영상 데이터로 수행될 수도 있다. 감지 과정은 표시 장치(105)가 영상을 표시하는 동안 수행될 수도 있고, 휴지 기간(blanking period) 동안 수행될 수도 있다. 보상 계수의 초기 수정은 공장에서 수행될 수도 있고, 해당 값들을 비휘발성 메모리에 저장할 수도 있다. 표시 장치(105)를 일부로 포함하는 장치(보기: 폰)가 켜질 때마다, 저장된 보상 계수값[보기: 저장된 공장 값(factory values) 또는 장치를 마지막으로 끄기 전에 저장된 값]을 초기값으로 사용하여 실제 수정을 수행할 수 있다. 구동 IC(도 1의 "DIC")는 표시 장치의 한 쌍의 열(column)마다 도 2 회로의 복제본을 하나씩 포함할 수 있으며, 열의 화소마다 3 개의 보상 계수가 있는 표를 포함할 수 있다. 본 발명의 한 실시예에 따르면, 보상 계수 일부는 공유될 수 있다. 즉, 구동 IC가 표시 장치의 한 열 전체에 대해서 하나의 α 값만을 유지할 수 있다.
여기에서, 제1 성분이 제2 성분에 "선택적으로 연결(selectively connected)"된다는 것은 제1 성분이 스위치(보기: 트랜지스터 스위치)를 통하여 연결되어, 스위치의 상태에 따라 제1 성분이 제2 성분과 연결되거나 분리될 수 있다는 것을 뜻한다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 수치 또는 데이터 처리 동작[예를 들면, 도 2에서 제1 디지털-아날로그 변환기(215) 및 제2 디지털-아날로그 변환기(225)의 왼쪽에 대한 동작]은 하나 이상의 처리 회로에 의하여 수행될 수 있으며, 이 처리 회로는 제어기(235)를 포함할 수 있다. "처리 회로"는 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어 또는 이들의 조합을 사용하여 구현할 수 있다. 처리 회로는 예를 들면, 응용 주문형 집적 회로(ASIC), 범용 또는 전용 중앙 처리 장치(CPU), 디지털 신호 처리기(DSP), 그래픽 처리 장치(GPU), FPGA 등의 프로그램가능 논리 장치를 포함할 수 있다. 처리 회로에서 각각의 함수는 그 기능을 수행하는 유선 하드웨어 또는 비순간(non-transitory) 저장 매체에 저장된 명령을 수행하는 CPU 등의 범용 하드웨어로 수행될 수 있다. 처리 회로는 하나의 인쇄 회로 기판(PCB)에 제작되거나 서로 연결된 PCB에 분산 배치될 수 있다. 처리 회로는 다른 처리 회로를 포함할 수 있는데, 예를 들면 PCB 상에서 서로 연결된 FPGA와 CPU를 포함할 수 있다.
"제1", "제2", "제3" 등의 용어를 여러 가지 원소, 성분, 영역, 층, 부분 등에 사용하지만, 이들은 이런 수식어에 의하여 한정되지 않는다. 이러한 용어는 어떤 원소, 성분, 영역, 층, 부분을 다른 원소, 성분, 영역, 층, 부분과 구별하기 위하여 사용하는 것이며 본 발명의 취지와 범위를 벗어나지 않는다.
설명의 편의를 위하여 도면에 도시한 어떤 부분 또는 특성에 대한 다른 부분 또는 특성의 관계를 나타내기 위하여 "아래", "밑", "위" 등 공간 관계 용어를 사용할 수 있다. 이러한 공간 관계 용어는 도면에 도시한 사용 또는 동작하는 장치의 서로 다른 위치 및/또는 방향을 나타내기 위한 것이다. 예를 들면, 도면에서 어떤 부분의 "아래" 또는 "밑"에 있는 것으로 도시한 부분은 장치가 뒤집히면 반대로 "위"에 있는 것이 된다. 그러므로 예를 들어 "아래" 및 "밑"은 위와 아래를 모두 나타낼 수 있다. 장치가 예를 들면 90도 회전하거나 다른 방향을 향할 수 있으며, 이 경우 공간 관계 용어는 이에 맞게 해석되어야 한다. 또한, 어떤 층이 다른 두 층 "사이"에 있다고 표현했을 때, 두 층 사이에 해당 층만 있을 수도 있지만 하나 이상의 다른 층이 더 있을 수 있다.
여기에서 사용된 용어는 특정 실시예를 설명할 목적으로 사용할 뿐이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 여기에서 "실질적으로", "약", "대체로" 및 이와 비슷한 표현은 근사를 나타내는 표현일 뿐 "정도"를 나타내는 것이 아니며, 당업자가 알 수 있는 측정값 또는 계산값의 고유 오차를 나타내는 데 사용한다. 여기에서 복수의 품목에 대하여 사용하는 "주 부분(major portion)"이라는 용어는 품목의 반 이상을 의미한다.
여기에서 수를 특별히 언급하지 않으면 단수 또는 복수의 경우를 모두 포함한다. 어떤 특징, 단계, 동작, 부분, 성분 등을 "포함"한다는 표현은 해당 부분 외에 다른 특징, 단계, 동작, 부분, 성분 등도 포함할 수 있다는 것을 의미한다. "및/또는"이라는 표현은 나열된 것들 중 하나 또는 둘 이상의 모든 조합을 포함한다. 나열 목록 앞에 기재한 "적어도 하나" 등의 표현은 목록 전체를 수식하는 것이지 목록 내의 각각의 것을 수식하는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시예를 설명할 때 사용하는 "수 있다"는 표현은 "본 발명의 하나 이상의 실시예"에 적용 가능하다는 것을 뜻한다. "예시적인"이라는 용어는 예 또는 도면을 나타낸다. "사용", "이용" 등은 이와 유사한 다른 표현과 함께 비슷한 의미로 사용될 수 있다.
부분, 층, 영역, 성분 등이 다른 부분, 층, 영역, 성분의 "위에" 있거나 "연결되어" 있는 것으로 기재하는 경우 "바로" 위에 있거나 또는 "직접" 연결되어 있는 경우뿐 아니라 중간에 다른 부분, 층, 영역, 성분 등이 더 끼어 있는 경우도 포함한다. 그러나 "바로 위에" 있거나 "직접 연결"되어 있는 것으로 기재하면 중간에 다른 부분이 없다는 것을 뜻한다.
여기에 기재한 수치 범위는 해당 범위 안에 포함되는 동일한 정확도의 모든 부분 범위(sub-range)를 포함한다. 예를 들면, "1.0 내지 10.0"의 범위는 최소값 1.0과 최대값 10.0 및 그 사이에 있는 모든 부분 범위, 즉, 1.0 이상의 최소값과 10.0 이하의 최대값을 가지는 부분 범위, 예를 들면 2.4 내지 7.6을 포함한다. 여기에서 언급한 최대값은 그 안에 포함되고 그보다 작은 모든 수치 한계를 포함하고, 본 명세서에 기재한 최소값은 그 안에 포함되고 그보다 큰 모든 수치 한계를 포함한다.
이상에서 화소 보상 계수를 평가 및 사용하는 시스템 및 방법의 실시예에 대하여 설명 및 도시하였지만, 당업자라면 이러한 실시예를 변경 및 수정할 수도 있다. 따라서 여기에서 제시한 원리에 따라 구성된 다른 화소 보상 계수를 평가 및 사용하는 시스템 및 방법도 본 발명에 포함된다. 본 발명은 다음의 청구범위 및 그 등가물에 의하여 정의된다.
105: 표시 장치
110: 구동 트랜지스터
115: 축전기
120: 발광 다이오드
125: 상부 패스-게이트 트랜지스터
130: 하부 패스-게이트 트랜지스터
135: 구동 감지 도체
140: 소스 노드
145: 화소 구동 및 감지 회로
200: 화소 구동 및 감지 회로의 출력
202: 화소 구동 및 감지 회로의 입력
210: 파형 생성 회로
215, 225: 디지털-아날로그 변환기
220: 구동 증폭기
227: 적분기
228: 비교기
230: 수치 드레인-소스 전류 모델
235: 제어기

Claims (20)

  1. 삭제
  2. 제1 시구간 동안,
    표시 장치의 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계
    를 포함하고,
    제2 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계
    를 포함하며,
    상기 제1 시구간 동안, 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계, 그리고
    상기 제2 시구간 동안, 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제2 제어 전압을 인가하는 단계
    를 더 포함하는 표시 장치의 특성 보상 방법.
  3. 제2항에서,
    상기 제1 시구간 동안, 상기 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 제1 기준 전류를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제2 시구간 동안, 상기 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 제2 기준 전류를 생성하는 단계
    를 더 포함하는 표시 장치의 특성 보상 방법.
  4. 제3항에서,
    상기 하나 이상의 보상 계수는,
    제1 보상 계수, 그리고
    제2 보상 계수
    를 포함하며,
    상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계는,
    상기 제1 보상 계수에 상기 제1 수신 코드 워드를 곱하여 제1 보상 코드 워드를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제1 보상 코드 워드에 상기 제2 보상 계수를 더하여 제2 보상 코드 워드를 생성하는 단계
    를 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  5. 제4항에서,
    상기 하나 이상의 보상 계수는 제3 보상 계수를 더 포함하고,
    상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 단계는, 제1 전압의 제1 부분, 제2 전압의 제2 부분을 가지는 파형을 상기 화소로 연장되어 있는 도체에 인가하는 단계를 더 포함하며,
    상기 제2 전압은 상기 제2 보상 코드 워드에 비례하며,
    상기 제2 전압에 대한 상기 제1 전압의 비가 상기 제3 보상 계수인
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  6. 제5항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는, 상기 제2 수신 코드 워드 및 상기 제1 수신 코드 워드에도 기초하여 수행되는 표시 장치의 특성 보상 방법.
  7. 제6항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호,
    상기 제2 수신 코드 워드와 상기 제1 수신 코드 워드의 차이, 그리고
    제1 상수
    의 곱을 상기 제1 보상 계수에 더하는 단계를 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  8. 제7항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호, 그리고
    제2 상수
    의 곱을 상기 제2 보상 계수에 더하는 단계를 더 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  9. 제8항에서,
    상기 제1 시구간보다 짧고 상기 제2 시구간보다 짧은 제3 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제3 화소 전류를 제3 기준 전류와 비교하여, 상기 제3 화소 전류와 상기 제3 기준 전류의 차이를 나타내는 제3 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제3 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계
    를 더 포함하고,
    상기 제1 시구간보다 짧고 상기 제2 시구간보다 짧은 제4 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제4 화소 전류를 제4 기준 전류와 비교하여, 상기 제4 화소 전류와 상기 제4 기준 전류의 차이를 나타내는 제4 화소 전류 오차 신호를 생성하는 단계, 그리고
    상기 제4 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계
    를 더 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  10. 제9항에서,
    상기 표시 장치의 특성 보상 방법은.
    상기 제3 시구간 동안, 제3 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제3 제어 전압을 인가하는 단계, 그리고
    상기 제4 시구간 동안, 제4 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제4 제어 전압을 인가하는 단계
    를 더 포함하고.
    상기 제4 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계는,
    상기 제4 화소 전류 오차 신호,
    상기 제4 수신 코드 워드와 상기 제3 수신 코드 워드의 차이, 그리고
    제3 상수
    의 곱을 상기 제3 보상 계수에 더하는 단계를 더 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  11. 제10항에서,
    제5 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제5 화소 전류를 제5 기준 전류와 비교하여, 상기 제5 화소 전류와 상기 제5 기준 전류의 차이를 나타내는 전류 차이 신호를 생성하는 단계,
    상기 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘으면 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 단계, 그리고
    상기 전류 차이 신호의 절대값이 문턱값을 넘지 않으면 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 바꾸지 않고 그대로 두는 단계
    를 더 포함하는
    표시 장치의 특성 보상 방법.
  12. 삭제
  13. 화소를 포함하는 표시 장치, 그리고
    화소 구동 및 감지 회로
    를 포함하는 시스템으로서,
    상기 시스템은,
    제1 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하고,
    상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며,
    제2 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하고,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며,
    상기 시스템은,
    상기 제1 시구간 동안, 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하고,
    상기 제2 시구간 동안, 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제2 제어 전압을 인가하는
    시스템.
  14. 제13항에서,
    상기 시스템은,
    상기 제1 시구간 동안, 상기 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 제1 기준 전류를 생성하고,
    상기 제2 시구간 동안, 상기 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 제2 기준 전류를 생성하는
    시스템.
  15. 제14항에서,
    상기 하나 이상의 보상 계수는,
    제1 보상 계수, 그리고
    제2 보상 계수
    를 포함하며,
    상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 동작은,
    상기 제1 보상 계수에 상기 제1 수신 코드 워드를 곱하여 제1 보상 코드 워드를 생성하고,
    상기 제1 보상 코드 워드에 상기 제2 보상 계수를 더하여 제2 보상 코드 워드를 생성하는
    동작을 포함하는
    시스템.
  16. 제15항에서,
    상기 하나 이상의 보상 계수는 제3 보상 계수를 더 포함하고,
    상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하는 동작은, 제1 전압의 제1 부분, 제2 전압의 제2 부분을 가지는 파형을 상기 화소로 연장되어 있는 도체에 인가하는 동작을 더 포함하며,
    상기 제2 전압은 상기 제2 보상 코드 워드에 비례하며,
    상기 제2 전압에 대한 상기 제1 전압의 비가 상기 제3 보상 계수인
    시스템.
  17. 제16항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은 상기 제2 수신 코드 워드 및 상기 제1 수신 코드 워드에도 기초하여 수행되는 시스템.
  18. 제17항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호,
    상기 제2 수신 코드 워드와 상기 제1 수신 코드 워드의 차이, 그리고
    제1 상수
    의 곱을 상기 제1 보상 계수에 더하는 동작을 포함하는
    시스템.
  19. 제18항에서,
    상기 제2 시구간 동안 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하는 동작은,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호, 그리고
    제2 상수
    의 곱을 상기 제2 보상 계수에 더하는 동작을 더 포함하는
    시스템.
  20. 화소를 포함하는 표시 장치, 그리고
    상기 화소를 구동하고 상기 화소에 생성되는 전류를 감지하는 수단
    을 포함하는 시스템으로서,
    상기 시스템은,
    제1 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제1 화소 전류를 제1 기준 전류와 비교하여, 상기 제1 화소 전류와 상기 제1 기준 전류의 차이를 나타내는 제1 화소 전류 오차 신호를 생성하고,
    상기 제1 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며,
    제2 시구간 동안,
    상기 화소에 대한 제2 화소 전류를 제2 기준 전류와 비교하여, 상기 제2 화소 전류와 상기 제2 기준 전류의 차이를 나타내는 제2 화소 전류 오차 신호를 생성하고,
    상기 제2 화소 전류 오차 신호에 기초하여 상기 화소에 대한 상기 하나 이상의 보상 계수를 갱신하며,
    상기 시스템은,
    상기 제1 시구간 동안, 제1 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제1 제어 전압을 인가하고,
    상기 제2 시구간 동안, 제2 수신 코드 워드에 기초하여 상기 화소에 제2 제어 전압을 인가하는
    시스템.
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