TW201324261A - 多點觸控定位方法 - Google Patents

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Abstract

多點觸控定位方法，用於觸控裝置，多點觸控定位方法包含有分別擷取每一感測通道之第一感測電極與第二感測電極上之第一觸控感測值與第二觸控感測值；針對每一感測通道，將相對應之第一觸控感測值與第二觸控感測值相加，以產生相對應於每一感測通道之感測總和值；根據相對應於複數個感測通道之複數個感測總和值，判斷出具有區域最大值之觸控感測通道，並定義觸控感測通道具有一觸控點；以及根據觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應第一觸控感測值、第二觸控感測值、感測總和值及座標值，計算出觸控點之位置。

Description

多點觸控定位方法
本發明係指一種多點觸控定位方法，尤指一種應用於一觸控裝置之多點觸控定位方法。
觸控顯示裝置已廣泛地運用於各種消費性電子產品中，簡單來說，觸控顯示裝置是由一顯示器及一透明觸控面板所組成，透過將透明觸控面板貼合於顯示器上，除了具備顯示器基本的顯示功能外，貼合的透明觸控面板又能提供額外的觸控功能，故已成為主流的消費性電子產品之一，其中又以投射式電容觸控顯示裝置最受歡迎。
請參考第1圖，第1圖為習知電容觸控顯示裝置10之示意圖。如第1圖所示，電容觸控顯示裝置10由觸控感應玻璃100及軟性電路板(未繪示於圖中)所組成，觸控感應玻璃100表面透過氧化銦錫(Indium Tin Oxide，ITO)交錯排列以形成感應陣列，並藉由軟性電路板來負責電訊號的傳遞工作。更進一步地，當人體(物體)接觸觸控顯示裝置時，人體和感應陣列之間形成一耦合電容，並藉由感應陣列交錯排列所形成之縱軸(X軸)感測線LA1～LAm及橫軸(Y軸)感測線LB1～LBn感測耦合電容之電容值變化，用以計算接觸點的座標位置。為了同時在橫軸及縱軸方向上擷取電容值變化，感應陣列需要堆疊兩層的氧化銦錫層，以形成縱軸感測線LA1～LAm及橫軸感測線LB1～LBn，用來提供較精準的觸控點位置判斷。然而，由於上述方式必須堆疊多層的氧化銦錫層，因此將會耗費高昂的生產成本，並且在堆疊感應陣列的過程中，也需較高的堆疊準確度，始能符合電容觸控顯示裝置10的適用範圍。
美國專利US 4087625號專利揭露另一種電容觸控顯示裝置。請參考第2A圖，第2A圖為習知一電容觸控顯示裝置20之示意圖。如第2A圖所示，感應電容陣列200改以單層的成對三角形來實現。成對三角形的結構也提供了兩層的感應陣列而能簡化為單層感應陣列的結構。由於使用單層之氧化銦錫，因此將可簡化製程複雜度並能有效降低生產成本。
此外，在美國專利公開號第2010/0309167 A1號專利中提供另一種二維座標的多點觸控設計。請參考第2B圖，第2B圖係為習知一電容觸控顯示裝置22之示意圖。相較於第2A圖中之電容觸控顯示裝置20，電容觸控顯示裝置22改變成對三角形之數量來實現單層感應陣列的結構，如第2B圖所示，以三對成對的三角形來實現感應電容陣列220，同時也將二維座標簡化為一維座標，以實現多點觸控設計。
針對單層氧化銦錫感應電容之電容觸控顯示裝置，在其結構設計上已簡化為一維座標之多點觸控設計，因此，如何能提供一種定位座標方法來提供較佳的感測精準度與觸控位置定位的效率，以進一步提高不同數量之氧化銦錫感應電容陣列之適用範圍，已成為本領域之重要課題。
因此，本發明之主要目的即在於提供一種多點觸控定位方法。
本發明揭露一種多點觸控定位方法，用於一觸控裝置，其中該觸控裝置包含複數個感測通道，每一感測通道係為交錯排列之一第一感測電極與一第二感測電極，該多點觸控定位方法包含有分別擷取每一感測通道之該第一感測電極與該第二感測電極上之一第一觸控感測值與一第二觸控感測值；針對每一感測通道，將相對應之該第一觸控感測值與該第二觸控感測值相加，以產生相對應於該每一感測通道之一感測總和值；根據相對應於該複數個感測通道之複數個感測總和值，判斷出具有區域最大值之一觸控感測通道，並定義該觸控感測通道上具有一觸控點；以及根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應第一觸控感測值、第二觸控感測值、該感測總和值及一座標值，計算出該觸控點之位置。
請參考第3圖，第3圖為本發明實施例之一單層式電容觸控顯示裝置30之示意圖。如第3圖所示，感應電容陣列32包含感測通道34_1～34_m，感測通道34_1～34_m之間彼此交錯排列且電性不相連。在單層式電容觸控顯示裝置30中，每一感測通道會包含一第一感測電極及一第二感測電極，亦即感測通道34_1包含第一感測電極A1與第二感測電極B1，感測通道34_2包含第一感測電極A2與第二感測電極B2，依此類推。較佳地，相對應之第一感測電極及第二感測電極係為成對三角形關係。各感測通道之第一感測電極與第二感測電極可以單層氧化銦錫來實現，由於其細節並非本發明之重點，不在此贅述，以求簡潔。
為了改善單層式電容觸控顯示裝置於其觸控面板的邊緣區域可能存在線性不均之區域，單層式電容觸控顯示裝置30藉由組合不同數量之成對三角形來實現單層的感應電容陣列32，以提高感應電容陣列32擷取訊號的效率及正確度。例如在其邊緣部份係以一對成對三角形之第一感測電極及第二感測電極來實現，如第3圖所示，第一感測通道34_1(34_m)之第一感測電極A1(Am)與第二感測電極B1(Bm)為一對三角形。而其他部分係以三對成對三角形之第一感測電極及第二感測電極來實現，例如感測通道34_2之第一感測電極A2與第二感測電極B2即為三對三角形，然而，要注意的是，在此所使用的成對三角形數量皆為舉例說明，非用以限制本發明。
在本實施例中，單層式電容觸控顯示裝置30可藉由偵測感應電容陣列32之感測通道34_1～34_m中的感測電極上之電容變化值(即觸控感測值)，來判斷觸控點的位置。因此，本發明所提出之多點觸控定位方法，適用於單層式電容觸控顯示裝置30，其可歸納為一多點觸控定位流程40，如第4圖所示，多點觸控定位流程40包含以下步驟：
步驟400：開始。
步驟402：分別擷取每一感測通道之第一感測電極與第二感測電極上之第一觸控感測值與第二觸控感測值。
步驟404：針對每一感測通道，將相對應之第一觸控感測值與第二觸控感測值相加，以產生相對應於該每一感測通道之感測總和值。
步驟406：根據相對應於各感測通道之感測總和值，判斷出具有區域最大值之一觸控感測通道，並定義該觸控感測通道上具有一觸控點。
步驟408：根據觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應第一觸控感測值、第二觸控感測值、感測總和值及座標值，計算出觸控點之位置。
步驟410：結束。
首先，於步驟402中，當使用者按壓單層式電容觸控顯示裝置30時，第一感測電極A1～Am與第二感測電極B1～Bm可分別依據按壓的情況，感應出不同觸控感測值。因此，在步驟402中，可分別擷取出相對應於感測通道34_1～34_m之第一感測電極之第一觸控感測值SA1～SAm與第二感測電極上之第二觸控感測值SB1～SBm。
接著，於步驟404中，針對每一感測通道，將步驟402中所擷取到的第一觸控感測值與第二觸控感測值相加，以產生該每一感測通道的感測總和值。舉例來說，感測通道34_1之感測總和值SUM1即等於對應於第一感測電極A1之第一觸控感測值與對應於第二感測電極B1之第二觸控感測值之累加結果。感測通道34_2之感測總和值SUM2即等於對應於第一感測電極A2之第一觸控感測值與對應於第二感測電極B2之第二觸控感測值之累加結果，依此類推。於步驟404中，可計算出相對應於感測通道34_1～34_m的感測總和值SUM1～SUMm。
於步驟406中，根據相對應於感測通道34_1～34_m之感測總和值，來判斷出具有區域最大值之觸控感測通道。詳細來說，可分別將步驟404所計算出的感測總和值SUM1～SUMm與一觸控臨限值進行比較。當相對應於某一感測通道的感測總和值大於觸控臨限值時，則判斷該感測通道為一候選觸控感測通道。由於通常在有觸控事件發生時，感測電極上的觸控感測值通常遠大於未發生觸控事件時的觸控感測值來得大，因此，可藉由觸控臨限值來比較篩選出可能產生觸控事件的候選觸控感測通道。也就是說，找出所有符合此條件(感測總和值大於觸控臨限值)的感測通道，並將這些感測通道判斷為候選觸控感測通道。
進一步地，針對每一所選擇出的候選觸控感測通道，若候選觸控感測通道之相鄰感測通道間沒有其他候選觸控感測通道時，則判斷該候選觸控感測通道為具有區域最大值的觸控感測通道。若候選觸控感測通道之間存在彼此相鄰之情況時，也就是說，某一候選觸控感測通道之相鄰感測通道間有其他候選觸控感測通道存在時，可將候選觸控感測通道之感測總和值逐一與相鄰候選感測通道之感測總和值相比較，並將相對應感測總和值大於其相鄰候選感測通道者判斷為具有區域最大值的觸控感測通道。換言之，在步驟406中所選擇出具有區域最大值的觸控感測通道可視為已發生觸控事件的觸控感測通道，因此可定義該觸控感測通道上具有一觸控點。至於，觸控感測通道的數量可為一個或一個以上，而且通常係依據觸控事件發生的情況而改變。此外，不論是存在單一候選觸控感測通道或是複數個候選觸控感測通道，經判斷為具有區域最大值的觸控感測通道後，皆可預設該/該些觸控感測通道，作為後續程序中進行位置運算的基準。
於步驟408中，可根據步驟406所求得的觸控感測通道作為基準，讀取觸控感測通道以及與其相鄰之感測通道所對應的第一觸控感測值、第二觸控感測值、感測總和值及座標值，以計算出觸控點的位置。詳細來說，在本實施例中，可根據觸控感測通道以及與其相鄰感測通道之相對應感測總和值及水平座標值，利用重心法來計算出觸控點之水平方向(X軸)的座標值。同樣地，可根據觸控感測通道以及與其相鄰感測通道之相對應觸控感測值、感測總和值及一內插常數值，利用重心法來計算出觸控點之垂直方向(Y軸)的座標值。如此一來，即可計算出觸控點之位置座標值。簡言之，透過步驟402至步驟406找出所有可能具有觸控點發生的觸控感測通道，再於步驟408中，以各觸控感測通道為基礎，計算出所有觸控點的位置，如此一來，經由多點觸控定位流程40即可精確地實現多點觸控的定位目的。
更進一步地，關於根據觸控感測通道以及與其相鄰感測通道之相對應感測總和值及水平座標值，利用重心法來計算出觸控點之水平方向(X軸)的座標值之實現方法，請參考第5圖。第5圖為本發明實施例之一多點觸控水平座標定位流程50之示意圖。多點觸控水平座標定位流程50包含以下步驟：
步驟500：開始。
步驟502：累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應感測總和值與水平座標值之乘積值，以產生第一累加結果。
步驟504：累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應感測總和值，以產生第二累加結果。
步驟506：將第一累加結果除以第二累加結果，以產生第一除法結果，並將第一除法結果定義為觸控點之水平座標。
步驟508：結束。
在水平方向(X軸)上，感測通道34_1～34_m分別定義有各自的水平座標，即X1～Xm。感測通道34_1～34_m所對應的水平座標可為等間隔的水平座標，例如公差為32的等差級數。多點觸控水平座標定位流程50係用來計算出觸控點之X軸的座標值，因此，可將相關的數值代入重心法公式(1)中，以求出更精準的觸控點水平座標。
其中，i為觸控感測通道之序數，(假設感測通道34_5被選為觸控感測通道，則i=5)，x i 為觸控點之水平座標。
詳細來說，重心法的運算過程係先讀取觸控感測通道的水平座標及其感測總和值，並同時讀取觸控感測通道兩側相鄰之感測通道的水平座標及其感測總和值。再來，累加觸控感測通道以及其兩個相鄰感測通道之相對應的感測總和值與水平座標值之乘積值，用來產生一第一累加結果(即累加感測總和值與水平座標值之乘積值)，以及累加觸控感測通道及其兩個相鄰感測通道之相對應的感測總和值，用來產生一第二累加結果(即累加感測總和值)。最後，將第一累加結果除以第二累加結果，用以產生一第一除法結果，而第一除法結果係定義為觸控點的水平座標。
同樣地，關於根據觸控感測通道以及與其相鄰感測通道之相對應感測總和值及一內插常數值，利用重心法來計算出觸控點之垂直方向(Y軸)的座標值之實現方法，請參考第6圖。第6圖為本發明實施例之一多點觸控垂直座標定位流程60之示意圖。多點觸控垂直座標定位流程60包含以下步驟：
步驟600：開始。
步驟602：分別累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的第一觸控感測值，以產生第三累加結果，以及分別累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的第二觸控感測值，以產生第四累加結果。
步驟604：比較第三累加結果與第四累加結果，並將第三累加結果與第四累加結果兩者中較大者，設定為區域參考值。
步驟606：累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應感測總和值，以產生第二累加結果。
步驟608：將區域參考值除以第二累加結果，以產生第二除法結果。
步驟610：將第二除法結果乘以內插常數值，以產生乘法結果，並將乘法結果定義為觸控點之垂直座標。
步驟612：結束。
多點觸控垂直座標定位流程60係用來計算出觸控點之Y軸的垂直座標值，針對垂直方向(Y軸)的座標來說，其相似於計算觸控點水平座標之方法，也是以觸控感測通道作為基準，根據觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應的第一觸控感測值、第二觸控感測值、感測總和值及內插常數值，代入重心法公式(2)中來計算出觸控點之垂直座標。
其中，i為觸控感測通道之序數，(假設感測通道34_5被選為觸控感測通道，則i=5)，y i 為觸控點之垂直座標，LR為一區域參考值，當時，則，當時，則，Yres為內插常數值。
詳細來說，多點觸控垂直座標定位流程60係先讀取觸控感測通道的感測總和值、第一觸控感測值及第二觸控感測值，並同時讀取觸控感測通道兩個相鄰之感測通道的感測總和值、第一觸控感測值及第二觸控感測值。接著，分別累加觸控感測通道以及其兩個相鄰感測通道之相對應的第一觸控感測值，以產生第三累加結果，並分別累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的第二觸控感測值，以產生第四累加結果。將第三累加結果與第四累加結果進行比較，並將第三累加結果與第四累加結果兩者中較大者，設定為區域參考值。也就是說，透過第三累加結果與第四累加結果來判斷觸控點的可能趨勢，當第三累加結果大於第四累加結果時，表示觸控點比較傾向第一感測電極之側，反之亦然。因此，於比較之後，將兩者之間較大者設定為區域參考值，例如，若第三累加結果大於第四累加結果時，則將第三累加結果設定為區域參考值；若第四累加結果大於第三累加結果時，則將第四累加結果設定為區域參考值。在此情況下，前述區域參考值之設定選取，可提供判斷觸控點的位置比較靠近第一感測電極(感應電容陣列32之上緣)或第二感測電極(感應電容陣列32之下緣)，而得以提高觸控點垂直座標的精準度。接著，累加觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的感測總和值，用來產生第二累加結果(同步驟504)。再來，將區域參考值除以第二累加結果，以產生第二除法結果。最後，將第二除法結果乘以內插常數值來產生乘法結果，而乘法結果即為觸控點的垂直座標。
值得注意的是，在本實施例中，為了追求較好的運算效率，上述重心法公式中，針對計算觸控點水平座標或觸控點垂直座標的部分，僅擷取觸控感測通道左右相鄰各一個之感測通道，以計算觸控點水平座標及觸控點垂直座標，但並不以此為限。使用者可根據需求來選擇不同數量的感測通道，並代入相似於重心法、內差法或其他可達成類似成果的計算公式中，以求出觸控點的水平座標及垂直座標。
簡言之，多點觸控定位流程40優先判斷具有局部最大值之觸控感測通道，作為重心法公式中參考的基準，並結合觸控感測通道兩個相鄰的感測通道，將其相關數值，例如水平座標、第一觸控感測值、第二觸控感測值、總和感應值及內插常數值等，代入重心法公式中來求得觸控水平座標或觸控垂直座標。
以下以兩點觸控的情況為例來說明，請同時參考第7A圖及第7B圖，第7A圖為使用者按壓單層式電容觸控顯示裝置30之示意圖，第7B圖為第7A圖之單層式電容觸控顯示裝置30之第一感測電極A1～A8與第二感測電極B1～B8感測情形之示意圖。為了方便說明，假設單層式電容觸控顯示裝置具有8個感測通道34_1～34_8及相應之第一感測電極A1～A8與第二感測電極B1～B8，且第一感測電極A1～A8與第二感測電極B1～B8均為三對成對三角形來實現。第7A圖中所示的兩隻手指(多點觸控)係代表實際發生觸控的情形。由各感測通道所擷取之觸控感測值如下：第一感測電極A1～A8之第一觸控感測值SA1～SA8，其依序分別為40、100、30、3、-3、10、30及20；第二感測電極B1～B8之第二觸控感測值SB1～SB8，其依序為40、100、30、2、-2、30、150及80。請參考第8圖，第8圖為第7B圖之第一觸控感測值和第二觸控感測值累加為感測總和值之示意圖，其相對應於感測通道34_1～34_8之感測總和值SUM1～SUM8依序為80、200、60、5、-5、40、180及100。其中，SUM1=SA1+SB1=40+40=80；SUM2=SA2+SB2=100+100=200，依此類推。另外，於水平方向(X軸)上，感測通道34_1～34_8之水平座標值X1～X8，依序為16、48、80、112、144、176、208及240，各感測通道間具有相同的水平座標間距△X為32。
依據流程40，首先，若將觸控臨限值預設為80，計算出對應於感測通道34_1～34_8之感測總和值SUM1～SUM8依序為80、200、60、5、-5、40、180及100。分別將感測總和值SUM1～SUM8與前述觸控臨限值依序進行比較，以判斷是否為有效按壓或是雜訊。在此情況下，感測總和值SUM2、SUM7及SUM8分別為200、180及100，皆超過觸控臨限值而滿足上述條件，因此將感測通道34_2、34_7及34_8選為候選觸控感測通道。由於感測通道34_2之兩相鄰感測通道皆不是候選觸控感測通道，因此，將感測通道34_2判斷為具有區域最大值之一觸控感測通道。此外，由於感測通道34_7及34_8彼此相鄰，因此，將感測總和值SUM7及SUM8進行比較，並將感測總和值較大的感測通道34_7也篩選為具有區域最大值一觸控感測通道。換言之，在本實施例中會選出兩個觸控感測通道，表示在此兩個觸控感測通道皆有觸控點的存在，因此，假設在感測通道34_2上的觸控點為T_2，其座標為(x 2，y 2)；在感測通道34_7上的觸控點為T_7，其座標為(x 7，y 7)。
首先，計算觸控點為T_2及觸控點為T_7之觸控感測通道的觸控點水平座標。如第8圖所示，感測通道34_2的水平座標X2為48以及感測總和值SUM2為200，感測通道34_7的水平座標X7為208以及感測總和值SUM7為180。感測通道34_2之兩相鄰感測通道為感測通道34_1與34_3，其相對應水平座標與感測總和值分別為X1=16、X3=80、SUM1=80及SUM3=60。感測通道34_7之兩相鄰感測通道為感測通道34_6與34_8，其相對應水平座標與感測總和值分別為X6=176、X8=240、SUM6=40及SUM8=10。因此，利用利用式(1)可以算出觸控點為T_2之水平座標為x 2=46，以及觸控點為T_7之水平座標為x 7=214。
再來，計算觸控點為T_2及觸控點為T_7之觸控感測通道的觸控點垂直座標。如第8圖所示，感測通道34_2的感測總和值SUM2為200，感測通道34_7的感測總和值SUM7為180。首先，計算出感測通道34_2以及其兩相鄰感測通道之第一觸控感測值的總和為170(40+100+30=170)，感測通道34_2以及其兩相鄰感測通道之第二觸控感測值的總和為170(40+100+30=170)，兩者相等，因此，即可將相關於觸控點為T_2之區域參考值LR設定為170。同理，計算出感測通道34_7以及其兩相鄰感測通道之第一觸控感測值的總和為60(10+30+20=60)，感測通道34_7以及其兩相鄰感測通道之第二觸控感測值的總和為260(30+150+80=260)，因此，可將相關於觸控點為T_7之區域參考值LR設定為260。假設內插常數值Yres為256，因此利用式(2)可以算出觸控點T_2之垂直座標為y 2=128，以及觸控點為T_7之垂直座標為y 7=208。
承上，感測通道34_2上的觸控點T_2之座標為(48，128)，感測通道34_7上的觸控點T_7之座標為(214，208)。簡言之，透過前述多點觸控定位的方法，可將單層式電容觸控顯示裝置30上的兩個觸控點的位置精確地計算出來。
另一方面，單層式電容觸控顯示裝置30可透過設置一濾波器，來處理觸控水平座標及觸控垂直座標，舉例來說可使用一低通濾波器，來消除觸控水平座標及觸控垂直座標的飄移現象，低通濾波器所用之方程式，如式(3)所示：
其中α、β為0到1之間的濾波器係數，n代表離散時間的時間指標，x、y為輸入座標，而X、Y為輸出座標。當濾波器係數α為1/2時，以數列C2的觸控點水平座標為示範，原始輸入觸控水平座標的時間函數為x=[46，48，45，44，46，47，46]，利用上述濾波器方程式可得到輸出觸控水平座標的時間函數為X=[46，47，46，45，45，46，46]，不難發現將從原本為±2的誤差將縮減至±1，將可減少觸控座標在時間變動下輸出座標的誤差。
綜上所述，藉由本發明提出之多點觸控定位流程，可提供單層式電容觸控顯示裝置較精準之觸控點的位置判斷，並能提高觸控點位置的計算效率，進而增加單層式電容觸控顯示裝置之適用範圍。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
10、20、22．．．電容觸控顯示裝置
100．．．觸控感應玻璃
200、220、32．．．感應電容陣列
30．．．單層式電容觸控顯示裝置
34_1～34_m．．．感測通道
40．．．多點觸控定位流程
400、402、404、406、408、410、500、502、504、506、508、510、600、602、604、606、608、610、612．．．步驟
50．．．多點觸控水平座標定位流程
60．．．多點觸控垂直座標定位流程
A1～Am．．．第一感測電極
B1～Bm．．．第二感測電極
LA1～LAm．．．縱軸感測線
LB1～LBn．．．橫軸感測線
SA1～SAm．．．第一觸控感測值
SB1～SBm．．．第二觸控感測值
SUM1～SUMm．．．感測總和值
X1～Xm．．．水平座標
△X．．．水平座標間距
第1圖為習知電容觸控顯示裝置之示意圖。
第2A圖與第2B圖分別為習知電容觸控顯示裝置之另一示意圖。
第3圖為本發明實施例之一電容觸控顯示裝置之示意圖。
第4圖為本發明實施例之一多點觸控定位流程之示意圖。
第5圖為本發明實施例之一多點觸控水平座標定位流程之示意圖。
第6圖為本發明實施例之一多點觸控垂直座標定位流程之示意圖。
第7A圖為使用者按壓單層式電容觸控顯示裝置之示意圖。
第7B圖為第7A圖中單層式電容觸控顯示裝置之觸控感測值之示意圖。
第8圖為第7B圖之第一觸控感測值和第二觸控感測值累加為感測總和值之示意圖。
40．．．多點觸控定位流程
400、402、404、406、408、410．．．步驟

Claims (11)

  1. 一種多點觸控定位方法，用於一觸控裝置，其中該觸控裝置包含複數個感測通道，每一感測通道係為交錯排列之一第一感測電極與一第二感測電極，該多點觸控定位方法包含有：分別擷取每一感測通道之該第一感測電極與該第二感測電極上之一第一觸控感測值與一第二觸控感測值；針對每一感測通道，將相對應之該第一觸控感測值與該第二觸控感測值相加，以產生相對應於該每一感測通道之一感測總和值；根據相對應於該複數個感測通道之複數個感測總和值，判斷出具有區域最大值之一觸控感測通道，並定義該觸控感測通道上具有一觸控點；以及根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應第一觸控感測值、第二觸控感測值、該感測總和值及一座標值，計算出該觸控點之位置。
  2. 如請求項1所述之多點觸控定位方法，其中根據相對應於該複數個感測通道之該複數個感測總和值，判斷出具有區域最大值之該觸控感測通道之步驟，包含有：根據相對應於該複數個感測通道之複數個感測總和值與一觸控臨限值，判斷出至少一個候選觸控感測通道；以及由該至少一個候選觸控感測通道之中選擇出具有區域最大值之該觸控感測通道。
  3. 如請求項2所述之多點觸控定位方法，其中根據相對應於該複數個感測通道之該複數個感測總和值與一觸控臨限值，判斷出至少一個候選觸控感測通道之步驟，包含有：比較每一感測通道之相對應感測總和值與該觸控臨限值，並於該相對應感測總和值大於該觸控臨限值時，判斷該感測通道為一候選觸控感測通道。
  4. 如請求項2所述之多點觸控定位方法，其中由該至少一個候選觸控感測通道之中選擇出具有區域最大值之該觸控感測通道之步驟，包含有：於該至少一個候選觸控感測通道具有彼此相鄰之情況時，比較相鄰候選感測通道之該感測總和值，並將該感測總和值大於兩相鄰候選感測通道之該候選感測通道判斷為具有區域最大值之該觸控感測通道。
  5. 如請求項2所述之多點觸控定位方法，其中由該至少一個候選觸控感測通道之中選擇出具有區域最大值之該觸控感測通道之步驟，包含有：針對每一候選觸控感測通道，於相鄰感測通道沒有存在其他候選觸控感測通道時，判斷該每一候選觸控感測通道為具有區域最大值之該觸控感測通道。
  6. 如請求項1所述之多點觸控定位方法，其中根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應第一觸控感測值、第二觸控感測值、該感測總和值及一座標值，計算出該觸控點之位置之步驟，包含有：根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應該感測總和值及一水平座標值，利用一重心法來計算出該觸控點之一第一座標；以及根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應該觸控感測值、感測總和值及一內插常數值，利用該重心法來計算出該觸控點之一第二座標。
  7. 如請求項6所述之多點觸控定位方法，其中根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應該感測總和值及一水平座標值，利用一重心法來計算出該觸控點之第一座標之步驟，包含有：累加該觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應該感測總和值與該水平座標值之乘積值，以產生一第一累加結果；累加該觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應該感測總和值，以產生一第二累加結果；以及將該第一累加結果除以該第二累加結果，以產生一第一除法結果，並將該第一除法結果定義為該觸控點之該第一座標。
  8. 如請求項6所述之多點觸控定位方法，其中根據該觸控感測通道與其相鄰感測通道之相對應該觸控感測值、感測總和值及一內插常數值，利用該重心法來計算出該觸控點之一第二座標之步驟，包含有：分別累加該觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的該第一觸控感測值，以產生一第三累加結果，以及分別累加該觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應的第二觸控感測值，以產生一第四累加結果；比較該第三累加結果與該第四累加結果，並將該第三累加結果與該第四累加結果兩者中較大者，設定為一區域參考值；累加該觸控感測通道以及其兩相鄰感測通道之相對應該感測總和值，以產生一第二累加結果；將該區域參考值除以該第二累加結果，以產生一第二除法結果；以及將該第二除法結果乘以該內插常數值，以產生一乘法結果，並將該乘法結果定義為該觸控點之該第二座標。
  9. 如請求項1所述之多點觸控定位方法，其中該觸控裝置為一單層式電容觸控顯示裝置。
  10. 如請求項9所述之多點觸控定位方法，其中該觸控裝置更包含一濾波器，用以處理該第一座標及該第二座標。
  11. 如請求項10所述之多點觸控定位方法，其中該濾波器為一低通濾器，用來消除該第一座標及該第二座標之一飄移現象。
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