KR102321551B1 - 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체 - Google Patents

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체 Download PDF

Info

Publication number
KR102321551B1
KR102321551B1 KR1020167031511A KR20167031511A KR102321551B1 KR 102321551 B1 KR102321551 B1 KR 102321551B1 KR 1020167031511 A KR1020167031511 A KR 1020167031511A KR 20167031511 A KR20167031511 A KR 20167031511A KR 102321551 B1 KR102321551 B1 KR 102321551B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
transparent substrate
glare
luminance distribution
index value
treatment
Prior art date
Application number
KR1020167031511A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170008224A (ko
Inventor
미노루 다마다
유스케 고바야시
Original Assignee
에이지씨 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에이지씨 가부시키가이샤 filed Critical 에이지씨 가부시키가이샤
Publication of KR20170008224A publication Critical patent/KR20170008224A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102321551B1 publication Critical patent/KR102321551B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서, 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치 (R) 를 파악하는 스텝과, 상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치 (G) 를 파악하는 스텝을 무순서로 갖는 방법.

Description

투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체{METHOD FOR EVALUATING OPTICAL CHARACTERISTIC OF TRANSPARENT SUBSTRATE, AND TRANSPARENT SUBSTRATE}
본 발명은 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 화소를 갖는 LCD (Liquid Crystal Display) 장치와 같은 표시 장치 상에는, 그 표시 장치의 보호를 위해서 투명 기체로 구성된 보호 커버가 배치된다.
그러나, 표시 장치 상에 이와 같은 투명 기체를 설치했을 경우, 투명 기체를 개재하여 표시 장치의 표시 영상을 시인하려고 했을 때, 종종 주변에 놓여져 있는 것의 비침이 발생하는 경우가 있다. 투명 기체에 그러한 비침이 발생하면, 표시 영상의 시인자는, 표시 영상을 시인하기가 어려워지는 데다 불쾌한 인상을 받게 된다.
그래서, 이와 같은 비침을 억제하기 위해, 투명 기체의 표면에 대하여 안티글레어 처리가 적용되는 경우가 있다.
또한, 특허문헌 1 에는, 특수한 장치를 사용하여, 표시 장치에 대한 비침을 평가하는 방법이 나타나 있다.
일본 공개특허공보 2007-147343호
전술한 바와 같이, 주위 광의 비침을 억제하기 위해서, 투명 기체에는 종종 안티글레어 처리가 실시된다.
그런데, 실제의 투명 기체에서는, 주위 광의 비침의 억제 효과 외에, 방현성 및 번쩍거림 등의 특성도 동시에 파악하고 싶은 경우가 있다.
그러나, 지금까지 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방을 평가하는 방법은, 그다지 알려지지 않았다. 특히, 투명 기체의 번쩍거림에 대해서는, 지금까지 평가 수법이 충분히 확립되어 있다고는 하기 어렵고, 정량적으로 평가하는 것 자체가 어렵다는 문제가 있다.
또한, 투명 기체의 번쩍거림 평가 장치로서, 최근 SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik ＆ Systeme 사 제조) 가 주목받고 있다. 이 SMS-1000 장치에서는, 고체 촬상 소자를 개재하여 촬영된 투명 기체의 일부의 화상 (휘도) 의 해석에 의해, 투명 기체의 번쩍거림을 평가할 수 있다.
그러나, 본원 발명자들의 지견에 의하면, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 종종 적정한 번쩍거림의 측정 결과가 얻어지지 않는 것이 확인되고 있다. 즉, 육안 관찰에서는, 유의한 번쩍거림이 확인되지는 않지만, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 투명 기체가 현저한 번쩍거림을 나타낸다고 판단되는 경우와, 그 반대의 결과가 생기는 경우가 존재한다.
이와 같이, 현재도 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 파악하는 기술을 필요로 하고 있다.
본 발명은 이와 같은 배경을 감안하여 이루어진 것으로, 본 발명에서는, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능한 평가 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명에서는, 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서,
제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과,
상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,
상기 정량화된 방현성 지표치는,
(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝과
방현성 지표치 (R) =
(전체 반사광의 휘도 －20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도)
식 (1)
에 의해 얻어지고,
상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,
(A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,
(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,
(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,
(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,
(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,
출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,
(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝과,
번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법이 제공된다.
또, 본 발명에서는, 제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체로서,
전술한 본 발명에 의한 방법으로 평가했을 때에,
상기 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이고,
상기 번쩍거림 지표치 (G) 가 0.6 이하인 것을 특징으로 하는 투명 기체가 제공된다.
본 발명에서는, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능한 평가 방법을 제공할 수 있다.
도 1 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2 는 방현성 지표치를 취득할 때에 사용되는, 측정 장치의 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 3 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4 는 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일 공정에 있어서 얻어진, 제 1 화상을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 5 는 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일 공정에 있어서 얻어진, 제 1 휘도 분포를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 6 은 각종 투명 기체에 있어서 얻어진, 방현성 지표치 (R) (가로축) 와 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 의 관계의 일례를 플롯한 도면이다.
도 7 은 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 8 은 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 육안에 의한 방현성의 레벨 (세로축) 과, 방현성 지표치 (R) (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸 그래프이다.
도 9 는 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 와, 육안에 의한 번쩍거림의 레벨 (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸 그래프이다.
이하, 본 발명에 대하여 상세하게 설명한다.
전술한 바와 같이, 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서, 방현성과 번쩍거림의 양 특성을 파악하고 싶은 경우가 있다. 그러나, 현상황에서는, 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방을 객관적으로 평가할 수 있는 방법은 거의 확인되지 않는다.
특히, 투명 기체에 안티글레어 처리를 시공하는 수단으로는, 다양한 방법이 존재하기 때문에, 안티글레어 처리된 투명 기체의 표면도, 다양한 형태의 것이 존재한다. 이와 같은 다양한 표면을 갖는 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림을 동일한 지표로 일률적으로 평가하기는 매우 어렵다.
예를 들어, 최근 투명 기체의 번쩍거림 평가 장치로서, SMS-1000 장치가 주목받고 있다. 그러나, 본원 발명자들의 지견에 의하면, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 종종 적정한 번쩍거림의 측정 결과가 얻어지지 않는 것이 확인되고 있다. 즉, 육안 관찰에서는, 유의한 번쩍거림이 확인되지 않는 투명 기체라도, SMS-1000 장치에 의한 평가에서는, 투명 기체가 큰 번쩍거림을 나타낸다고 판단되는 경우와, 그 반대의 결과가 생기는 경우가 존재한다.
이와 같이, 투명 기체의 번쩍거림에만 주목해도, 아직 충분히 유효한 측정 수법이 확립되어 있다고는 하기 어렵다. 또한, 투명 기체의 방현성과 번쩍거림의 양방에 주목한 평가 수법에 관해서는, 거의 존재하지 않는 것이 실정이다.
이에 대하여, 본 발명에서는, 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서,
제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과,
상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,
상기 정량화된 방현성 지표치는,
(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝과
방현성 지표치 (R) =
(전체 반사광의 휘도 －20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)
에 의해 얻어지고,
상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,
(A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,
(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,
(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,
(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,
(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,
출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,
(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝과,
번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법이 제공된다.
본 발명에 의한 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법에서는, 이하에 상세하게 나타내는 바와 같이, 안티글레어 처리의 방법에 의하지 않고, 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 양방을 적정하게 평가하는 것이 가능해진다.
또, 본 발명에 의한 방법에서는, 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림으로서, 수치화된 값이 사용된다. 이 때문에, 방현성 및 번쩍거림에 관해서, 관찰자의 주관이나 선입관에 구애되지 않고, 이들 광학 특성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단 가능하다.
(본 발명에 의한 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법의 일 실시형태에 대하여)
다음에 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 방법에 사용될 수 있는, 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 각각을 평가하는 방법의 일 실시형태에 대하여 설명한다.
(방현성 평가 방법)
도 1 에는 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸다.
도 1 에 나타내는 바와 같이, 이 투명 기체의 방현성을 평가하는 방법 (이하, 「제 1 방법」이라고도 칭한다) 은,
(a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 정반사하는 광 (이하, 「20˚정반사광」이라고도 한다) 의 휘도를 측정하는 스텝 (스텝 S110) 과,
(b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 제 1 광 (이하, 「전체 반사광」이라고도 한다) 의 휘도를 측정하는 스텝 (스텝 S120) 과,
(c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝 (스텝 S130)
방현성 지표치 (R) =
(전체 반사광의 휘도 －20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)
을 갖는다.
이하, 각 스텝에 대하여 설명한다.
(스텝 S110)
우선, 서로 대향하는 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체가 준비된다.
투명 기체는 투명하기만 하면, 어떠한 재료로 구성되어도 된다. 투명 기체는, 예를 들어 유리 또는 플라스틱 등이어도 된다.
투명 기체가 유리로 구성되는 경우, 유리의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 유리는, 예를 들어 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리여도 된다.
또, 투명 기체가 유리로 구성되는 경우, 제 1 및/또는 제 2 표면은 화학 강화 처리되어도 된다.
여기서, 화학 강화 처리란, 알칼리 금속을 포함하는 용융염 중에 유리 기판을 침지시켜, 유리 기판의 최표면에 존재하는 이온 반경이 작은 알칼리 금속 (이온) 을, 용융염 중에 존재하는 이온 반경이 큰 알칼리 금속 (이온) 으로 치환하는 기술의 총칭을 말한다. 화학 강화 처리법에서는, 처리된 유리 기판의 표면에는 원래의 원자보다 이온 반경이 큰 알칼리 금속 (이온) 이 배치된다. 이 때문에, 유리 기판의 표면에 압축 응력을 부여할 수 있고, 이로써 유리 기판의 강도 (특히 균열 강도) 가 향상된다.
예를 들어, 유리 기판이 나트륨 이온 (Na＋) 을 포함하는 경우, 화학 강화 처리에 의해, 이 나트륨 이온은 예를 들어 칼륨 이온 (K＋) 으로 치환된다. 또는, 예를 들어 유리 기판이 리튬 이온 (Li＋) 을 포함하는 경우, 화학 강화 처리에 의해, 이 리튬 이온은, 예를 들어 나트륨 이온 (Na＋) 및/또는 칼륨 이온 (K＋) 으로 치환되어도 된다.
한편, 투명 기체가 플라스틱으로 구성되는 경우, 플라스틱의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 투명 기체는, 예를 들어 폴리카보네이트 기판이어도 된다.
또한, 스텝 S110 전에, 투명 기체의 제 1 표면을 안티글레어 처리하는 스텝이 실시된다. 안티글레어 처리의 방법은 특별히 한정되지 않는다. 안티글레어 처리는, 예를 들어 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리 등이어도 된다.
본 발명의 일 실시형태에 의한 방현성 측정 방법에서는, 투명 기체의 방현성을 나타내는 정량적인 지표치 (방현성 지표치 (R)) 를 사용하여, 각종 투명 기체를 일률적으로 평가할 수 있다. 따라서, 안티글레어 처리의 방법으로서 각종 방법을 채용할 수 있다.
안티글레어 처리 후의 투명 기체의 제 1 표면은, 예를 들어 0.05 ㎛ ∼ 1.0 ㎛ 의 범위의 표면 조도 (산술 평균 조도 (Ra)) 를 가져도 된다.
다음으로, 준비된 투명 기체의 제 1 표면측으로부터, 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚±0.5˚의 방향을 향해, 제 1 광이 조사된다. 제 1 광은, 투명 기체의 제 1 표면에서 반사된다. 이 반사광 중, 20˚정반사광을 수광하고, 그 휘도를 측정하여, 「20˚정반사광의 휘도」라고 한다.
(스텝 S120)
다음으로, 제 1 표면에서 반사되는 반사광의 수광 각도를 －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 동일한 조작을 실시한다. 이 때, 투명 기체의 제 1 표면에서 반사되어, 제 1 표면으로부터 출사되는 제 1 광의 휘도 분포를 측정하고 합계내어, 「전체 반사광의 휘도」라고 한다.
(스텝 S130)
다음으로, 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정한다 :
방현성 지표치 (R) =
(전체 반사광의 휘도 －20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)
이 방현성 지표치 (R) 는, 후술하는 바와 같이, 관찰자의 육안에 의한 방현성의 판단 결과와 상관되며, 사람의 시감 (視感) 에 가까운 거동을 나타내는 것이 확인되어 있다. 예를 들어, 방현성 지표치 (R) 가 큰 값 (1 에 가까운 값) 을 나타내는 투명 기체는, 방현성이 우수하고, 반대로 방현성 지표치 (R) 가 작은 값을 나타내는 투명 기체는, 방현성이 떨어지는 경향이 있다. 따라서, 이 방현성 지표치 (R) 는, 투명 기체의 방현성을 판단할 때의 정량적 지표로서 사용 가능하다.
도 2 에는, 전술한 식 (1) 로 나타내는 방현성 지표치 (R) 를 취득할 때에 사용되는, 측정 장치의 일례를 모식적으로 나타낸다.
도 2 에 나타내는 바와 같이, 측정 장치 (300) 는, 광원 (350) 및 검출기 (370) 를 갖고, 측정 장치 (300) 내에 투명 기체 (210) 가 배치된다. 투명 기체 (210) 는, 제 1 표면 (212) 및 제 2 표면 (214) 을 갖는다. 광원 (350) 은, 투명 기체 (210) 를 향해, 제 1 광 (362) 을 방사한다. 검출기 (370) 는, 제 1 표면 (212) 에 있어서 반사되는 반사광 (364) 을 수광하고, 그 휘도를 검출한다.
또한, 투명 기체 (210) 는, 제 1 표면 (212) 이 광원 (350) 및 검출기 (370) 측이 되도록 배치된다. 따라서, 검출기 (370) 가 검출하는 제 1 광은, 투명 기체 (210) 에서 반사된 반사광 (364) 이다. 또, 투명 기체 (210) 의 일방의 표면이 안티글레어 처리되어 있는 경우, 이 안티글레어 처리되어 있는 표면이, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 이 된다. 즉, 이 경우, 투명 기체 (210) 는, 안티글레어 처리되어 있는 표면이 광원 (350) 및 검출기 (370) 측이 되도록 하여, 측정 장치 (300) 내에 배치된다.
또, 제 1 광 (362) 은, 투명 기체 (210) 의 두께 방향에 대하여, 20˚경사진 각도로 조사된다. 또한, 본원에서는, 측정 장치의 오차를 고려하여, 20˚±0.5˚의 범위를, 각도 20˚로 정의한다.
이와 같은 측정 장치 (300) 에 있어서, 광원 (350) 으로부터 투명 기체 (210) 를 향해 제 1 광 (362) 을 조사하고, 수광 각도 (φ) 가 20˚가 되도록 배치된 검출기 (370) 를 사용하여, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 에서 반사되는 정반사광 (364) 을 검출한다. 이로써, 「20˚정반사광」이 검출된다.
다음으로, 검출기 (370) 에 있어서, 반사광 (364) 을 측정하는 수광 각도 (φ) 를, －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 동일한 조작을 실시한다.
그리고, 수광 각도 (φ) = －20˚∼ ＋60˚의 범위에서, 투명 기체 (210) 의 제 1 표면 (212) 에서 반사된 반사광 (364) (전체 반사광이라고 한다) 의 휘도 분포를 검출하여, 합계낸다.
여기서, 수광 각도 (φ) 의 마이너스 (－) 는, 당해 수광 각도가, 평가 대상이 되는 대상 표면 (상기 예에서는 제 1 표면) 의 법선보다, 입사광측에 있는 것을 나타내고, 플러스 (＋) 는, 당해 수광 각도가, 대상 표면의 법선에 비해 입사광측에 없는 것을 나타낸다.
얻어진 20˚정반사광의 휘도 및 전체 반사광의 휘도로부터, 전술한 식 (1) 에 의해, 투명 기체 (210) 의 방현성 지표치 (R) 를 취득할 수 있다. 또한, 이와 같은 측정은, 시판되는 고니오미터 (변각 광도계) 를 사용함으로써 용이하게 실시할 수 있다.
또한, 제 1 광의 조사 각도는 60˚∼ 5˚의 범위에서 적절히 선택할 수 있다. 단, 본원에서는, 육안 관찰에 의한 방현성 평가와 정량 평가가 양호한 상관을 나타내는 관점에서, 제 1 광의 조사 각도로서 20˚를 선택하고 있다.
(번쩍거림 지표치에 대하여)
도 3 에는, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 플로우를 개략적으로 나타낸다.
도 3 에 나타내는 바와 같이, 이 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법 (이하, 「제 2 방법」이라고도 칭한다) 은,
(A) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체를, 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝 (스텝 S210) 과,
(B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝 (스텝 S220) 과,
(C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝 (스텝 S230) 과,
(D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 대략 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝 (스텝 S240) 과,
(E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝 (스텝 S250) 과,
(F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝 (스텝 S260) 과,
(G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝 (스텝 S270) 과,
출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
(H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝 (스텝 S280) 과,
(I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝 (스텝 S290) 과,
번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
를 갖는다.
이하, 각 스텝에 대하여 상세하게 설명한다.
(스텝 S210)
우선, 서로 대향하는 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체가 준비된다. 투명 기체는, 제 1 표면이 안티글레어 처리되어 있다.
또한, 투명 기체의 재질, 조성 등은, 전술한 스텝 S110 에 있어서 나타낸 것과 동일하기 때문에, 여기서는 더 이상 설명하지 않는다.
단, 전술한 바와 같이, 종래, 예를 들어 에칭 처리 내에서의 조건 변경과 같은, 단일의 안티글레어 처리 방법간뿐만 아니라, 복수 존재하는 안티글레어 처리 방법에 따라 상이한 다양한 표면을 갖는 투명 기체의 번쩍거림을 동일한 지표로 일률적으로 평가하기는 어려웠다.
그러나, 본 발명의 일 실시형태에 의한 번쩍거림 평가 방법에서는, 이후에 나타내는 바와 같이, 투명 기체의 번쩍거림을 나타내는 정량적인 지표치 (번쩍거림 지표치 (G)) 를 사용하여, 각종 투명 기체를 일률적으로 평가 가능하다. 따라서, 본 발명의 일 실시형태에 의한 번쩍거림 평가 방법은, 안티글레어 처리의 처리 방법을 선택하는 수단으로도 유용한 것에 유의할 필요가 있다.
다음으로, 표시 장치가 준비된다. 표시 장치는, 화소 (픽셀) 를 갖는 것이기만 하면, 특별히 한정되지 않는다. 표시 장치는, 예를 들어 LCD 장치, OLED (Organic Light Emitting Diode) 장치, PDP (Plasma Display Panel) 장치, 또는 태블릿형 표시 장치 등이어도 된다. 표시 장치의 해상도는, 예를 들어 132 ppi 이상이 바람직하고, 186 ppi 이상이 보다 바람직하고, 264 ppi 이상이 더욱 바람직하다.
다음으로, 표시 장치 상에 투명 기체가 배치된다. 이 때는, 투명 기체는 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 표시 장치 상에 배치된다.
(스텝 S220)
다음으로, 표시 장치를 ON 으로 한 상태 (즉 화상을 표시시킨 상태) 에서, 고체 촬상 소자를 사용하여, 투명 기체를 제 1 표면측으로부터 촬영하여, 표시 장치 상에 배치된 투명 기체의 화상 (제 1 화상) 을 취득한다.
고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 는, 소정의 값으로 설정된다.
또한, 본원에서는, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 에 대응하는 지표로서 거리 지수 (r) 를 사용한다. 여기서, 거리 지수 (r) 는, 고체 촬상 소자의 초점 거리 (f) 및 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 를 사용하여, 이하의 식 (4) 로 나타내어진다 :
거리 지수 (r) = (고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d))/(고체 촬상 소자의 초점 거리 (f)) 식 (4)
또한, 본원에서는, 거리 지수 (r) 는 8 이상이다.
이는 거리 지수 (r) 가 8 보다 작아지면, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 가 작아져, 투명 기체의 안티글레어 처리된 제 1 표면의 형태의 영향을 받기 쉬워지기 때문이다. 따라서, 거리 지수 (r) 를 8 이상으로 함으로써, 적용된 안티글레어 처리 방법의 상이에 의한 제 1 표면의 형태의 차이의 영향을 유의하게 억제한 상태에서, 각종 방법으로 안티글레어 처리된 투명 기체의 번쩍거림을 일률적으로 평가하는 것이 가능해진다.
거리 지수 (r) 는 9 이상인 것이 바람직하고, 10 이상인 것이 보다 바람직하다.
표시 장치에 표시시키는 이미지는, 단일 색 (예를 들어 녹색) 이미지로서, 표시 장치의 표시 화면 전체에 표시되는 것이 바람직하다. 표시 색의 차이에 의한 시인 방식의 차이 등의 영향을 최대한 작게 하기 위해서이다.
고체 촬상 소자로는, 예를 들어 전하 결합 소자 (CCD) 나 상보성 금속 산화막 반도체 (CMOS) 를 이용할 수 있다. 어느 것을 채용하는 경우에도, 고화소수를 갖는 디지털 카메라 등을 사용하는 것이 바람직하다.
이 스텝에 의해, 예를 들어 도 4 에 모식적으로 나타내는 바와 같은 제 1 화상 (410) 이 얻어진다. 도 4 에 나타내는 예에서는, 제 1 화상 (410) 에 있어서, 표시 장치의 일부의 3 행 × 3 열에 배열된 9 개의 픽셀에 대응한 영역 (이하, 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 이라고 한다) 이 밝게 시인되고 있다.
또한, 도 4 에서는, 명확화를 위해, 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 끼리가 충분히 이간된 상태로 나타나 있다. 그러나, 실제의 화상에서는, 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 간의 거리는 보다 좁아, 인접하는 대응 영역끼리에서 밝은 부분이 일부 서로 겹치는 경우도 있는 것에 유의할 필요가 있다.
(스텝 S230)
다음으로, 스텝 S220 에 있어서 촬영된 제 1 화상 (410) 이 화상 해석되어, 제 1 휘도 분포가 형성된다. 제 1 휘도 분포는, XY 평면 상에 입체적인 맵으로서 형성된다.
도 5 에는, 이 스텝에서 얻어지는 제 1 휘도 분포의 일례를 모식적으로 나타낸다.
도 5 에 나타내는 바와 같이, 제 1 휘도 분포 (430) 는, 제 1 화상 (410) 의 각 대응 영역 (420-1 ∼ 420-9) 에 대응하는 영역의 각각에, 대략 정규 분포 형상의 휘도 분포 성분 (q1 ∼ q9) 을 갖는다. 보다 일반적으로는 제 1 휘도 분포 (430) 는, i 개의 복수의 휘도 분포 성분 (qi) 의 집합으로 표시된다 (i 는 2 이상의 정수).
도 5 에서는, 묘사가 복잡해지는 것을 피하기 위해서, 휘도 분포 성분 (q1 ∼ q9) 은, 2 차원적으로 (즉 비입체적으로) 나타나 있는 것에 유의할 필요가 있다.
또한, 제 1 휘도 분포 (430) 의 정밀도를 높이기 위해서, 스텝 S220 에 있어서 촬영되는 제 1 화상 (410) 의 장수를 늘리고, 이 스텝 S230 에서는, 각각의 제 1 화상 (410) 에 대하여 동일한 화상 해석을 실시해도 된다. 이 경우, 그 후 각 화상 해석 결과를 평균화함으로써, 보다 정밀도가 높은 제 1 휘도 분포 (430) 가 얻어진다.
(스텝 S240)
다음으로, 투명 기체를 제 2 표면과 평행한 방향으로 슬라이드시켜, 투명 기체를 표시 장치에 대하여 상대 이동시킨다. 이동 거리는, 10 ㎜ 미만인 것이 바람직하고, 예를 들어 수 ㎜ 여도 된다.
(스텝 S250)
다음으로, 상기 스텝 S220 ∼ 스텝 S230 을 반복한다. 즉, 표시 장치를 ON 으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자에 의해 제 2 화상을 취득함과 함께, 제 2 화상으로부터 제 2 휘도 분포를 형성한다.
이 스텝에 있어서도, 제 2 휘도 분포의 정밀도를 높이기 위해서, 고체 촬상 소자로 촬영되는 제 2 화상의 장수를 늘려도 된다. 그 후, 각각의 제 2 화상에 대하여 화상 해석을 실시하여, 각 화상 해석 결과를 평균화함으로써, 보다 정밀도가 높은 제 2 휘도 분포가 얻어진다.
이로써, 복수의 휘도 분포 성분 (si) (여기서 i 는 2 이상의 정수) 의 집합으로 표현되는 제 2 휘도 분포가 얻어진다. 또한, 휘도 분포 성분 (si) 은, 휘도 분포 성분 (qi) 과 동일한 수로 구성된다.
(스텝 S260)
다음으로, 제 1 휘도 분포와 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 가 산정된다. 차분 휘도 분포 (ΔS) 는, 제 1 휘도 분포 및 제 2 휘도 분포와 마찬가지로, 대략 정규 분포 형상의 휘도 분포 성분 (ti) (여기서 i 는 2 이상의 정수) 의 집합으로 표현된다.
(스텝 S270)
다음으로, 스텝 S260 에서 얻어진 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 사용하여, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 이 산정된다.
여기서, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 는, 차분 휘도 분포 (ΔS) 에 포함되는 i 개의 휘도 분포 성분 (ti) 의 절대치를 평균화함으로써 구할 수 있다. 또, 분산 (σ) 은, 차분 휘도 분포 (ΔS) 에 포함되는 i 개의 휘도 분포 성분 (ti) 과 평균 휘도 분포 (ΔSave) 를 사용하여, 이하의 식 (5) 로부터 구할 수 있다.
Figure 112016110038026-pct00001
얻어진 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 으로부터, 이하의 식 (2) 에 의해 출력치 (A) 가 산정된다
출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
(스텝 S280)
다음으로, 기준 (레퍼런스) 용 안티글레어 처리된 투명 기체를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 까지의 스텝을 실시한다. 이로써, 상기 식 (2) 의 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 가 취득된다.
번쩍거림 지표치는 후술하는 식 (3) 대로 얻어진 참조 출력치 (Q) 와의 비율로 나타내어지기 때문에, 참조 출력치 (Q) 는 측정 재현성이 강하게 요구되고, 측정마다의 오차보다 충분히 큰 것이 필요하게 된다. 적절한 참조 출력치 (Q) 를 부여하는 기준 (레퍼런스) 용 안티글레어 처리된 투명 기체를 간편하게 준비하려면, 소다라임 유리를 프로스트·에칭에 의한 안티글레어 처리를 한 평판상의 유리이고, 60 도 그로스치가 가능한 한 크고, 또한 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 가 70 ㎛ 이상 120 ㎛ 미만인 것으로서, 시판품으로서 입수 가능한 것을 선정하면 된다.
여기서 60 도 그로스치는 JIS-Z8741 에 준거한 방법에 의해 경면 광택도로서 측정할 수 있다. 60 도 그로스치는 예를 들어 110 이상이며, 120 이상이 보다 바람직하다. 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 는 JIS B0601 (2001) 에 준거한 방법에 의해 측정할 수 있다. 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 는 예를 들어 70 ㎛ 이상이며, 80 ㎛ 이상이 보다 바람직하고, 또한 120 ㎛ 미만이며, 110 ㎛ 미만이 바람직하다.
본 발명의 일 실시형태에 있어서는, 상기와 같은 조건을 만족하는 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로서, 60 도 글로스치가 140 ％, 또한 표면 조도 곡선 요소의 평균 길이 (RSm) 가 85 ㎛ 인, VRD140 안티글레어 처리 유리 (아사히 가라스 주식회사 제조) 를 선정하였다.
또한, 이 스텝 S280 은, 평가용 안티글레어 처리된 투명 기체를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 을 실시하기 전에 실시되어도 된다. 또는, 이 스텝 S280 은, 평가용 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서의 스텝 S210 ∼ 스텝 S270 의 실시와 병렬로 실시되어도 된다.
(스텝 S290)
다음으로, 출력치 (A) 및 참조 출력치 (Q) 를 사용하여, 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 가 구해진다 :
번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
이 번쩍거림 지표치 (G) 는, 후술하는 바와 같이, 관찰자의 육안에 의한 번쩍거림의 판단 결과와 상관되며, 사람의 시감에 가까운 거동을 나타내는 것이 확인되어 있다. 예를 들어, 번쩍거림 지표치 (G) 가 큰 투명 기체는, 번쩍거림이 현저하고, 반대로 번쩍거림 지표치 (G) 가 작은 투명 기체는, 번쩍거림이 억제되는 경향이 있다. 따라서, 이 번쩍거림 지표치 (G) 는, 투명 기체의 번쩍거림을 판단할 때의 정량적 지표로서 사용할 수 있다.
이상, 도 3 ∼ 도 5 를 참조하여, 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법의 일례에 대하여 설명하였다. 단, 본 발명에 있어서, 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법은, 이것에 한정되는 것은 아니다.
예를 들어, 전술한 플로우에 있어서, 스텝 S260 과 스텝 S270 사이에, 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 상기 표시 장치에서 유래하는 성분을 필터 제거하는 스텝 (스텝 S265) 을 실시해도 된다. 차분 휘도 분포 (ΔS) 대신에, 이 조작에 의해 얻어지는 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 를 사용하여, 스텝 S270 을 실시함으로써, 얻어지는 번쩍거림 지표치 (G) 의 정밀도를 더 한층 향상시킬 수 있다.
단, 이 스텝 S265 는, 필요할 때에 행해지면 되고, 반드시 실시할 필요는 없다.
또한, 이상 설명한 투명 기체의 번쩍거림을 평가하는 방법은, 예를 들어 SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik ＆ Systeme 사 제조) 를 사용함으로써 용이하게 실시할 수 있다.
이상 설명한 바와 같은 방현성 지표치 (R), 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용함으로써, 안티글레어 처리된 투명 기체의 광학 특성을 정량적으로 평가하는 것이 가능해진다.
(2 개의 지표에 의한 평가)
다음으로, 투명 기체의 2 개의 광학 특성을 동시에 평가하는 방법 및 그 효과에 대하여 설명한다.
도 6 에는, 각종 방법으로 안티글레어 처리된 투명 기체에 있어서 얻어진, 방현성 지표치 (R) (가로축) 와 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 의 관계를 플롯한 도면의 일례를 나타낸다. 여기서, 본 데이터 취득을 위한 번쩍거림 평가에 있어서의 촬영시의 거리 지수 (r) = 10.8 이다.
도 6 에 있어서, 가로축의 방현성 지표치 (R) 가 클수록, 또 세로축의 번쩍거림 지표치가 작을수록, 투명 기체의 방현성은 향상되어 투명 기체의 번쩍거림은 억제된다.
또한, 도 6 에는, 참고를 위해, 양호한 방현성과 양호한 번쩍거림 방지성을 겸비한, 이상적인 투명 기체의 영역이 ideal 로 표시된 ○ 표시로 나타내어져 있다.
여기서, 단일의 광학적 특성, 예를 들어 번쩍거림 방지성만을 고려하여, 각종 투명 기체 중에서 후보 투명 기체를 선정했을 경우, 도 6 의 해칭으로 나타내어진 영역 (C) 에 포함되는 투명 기체가 고르게 선정되게 된다. 즉, 그러한 방법에서는, 방현성이 떨어지는 투명 기체가 선정 후보 투명 기체에 포함되어 버린다. 마찬가지로, 방현성만을 고려하여, 투명 기체를 선정했을 경우, 도 6 의 해칭으로 나타내어진 영역 (D) 에 포함되는 투명 기체가 고르게 선정되어, 번쩍거림 방지성이 떨어지는 투명 기체가 선정 후보에 포함되어 버린다.
이에 대하여, 도 6 과 같은 번쩍거림 지표치 (G) 와 방현성 (R) 의 상관도를 사용했을 경우, 한 번에 양방의 광학 특성을 고려하여, 적정한 투명 기체를 선정하는 것이 가능해진다. 즉, 이와 같은 선정 방법에서는, 목적 및 용도 등에 따라 투명 기체를 적정하게 선정할 수 있어, 즉 번쩍거림 방지성과 방현성에 관해서, 가장 양호한 특성을 발휘할 수 있도록 투명 기체를 선정하는 것이 가능해진다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 의한 방법에서는, 2 개의 광학적 특성을 한 번에 정량적으로 고려할 수 있기 때문에, 사용 목적이나 용도 등에 따라 투명 기체를 보다 적정하게 선정하는 것이 가능해진다.
또, 본 발명에 의한 방법에서는, 투명 기체의 방현성 지표치 (R), 번쩍거림 지표치 (G) 로서 수치화된 값이 사용된다. 이 때문에, 방현성 및 번쩍거림에 관해서, 관찰자의 주관이나 선입관에 구애되지 않고, 이들 광학 특성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단 가능하다.
(본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체)
다음으로, 도 7 을 참조하여, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체에 대하여 설명한다.
도 7 에는, 본 발명의 일 실시형태에 의한 투명 기체 (이하, 간단히 「투명 기체」라고 칭한다) (900) 를 모식적으로 나타낸다.
투명 기체 (900) 는, 유리로 구성된다. 유리의 조성은 특별히 한정되지 않고, 유리는, 예를 들어 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리여도 된다.
투명 기체 (900) 는, 제 1 표면 (902) 및 제 2 표면 (904) 을 갖고, 제 1 표면 (902) 은 안티글레어 처리되어 있다.
안티글레어 처리의 방법은 특별히 한정되지 않는다. 안티글레어 처리는, 예를 들어 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리 등이어도 된다. 투명 기체의 제 1 표면 (902) 은, 예를 들어 0.05 ㎛ ∼ 1.0 ㎛ 의 범위의 표면 조도 (산술 평균 조도 (Ra)) 를 가져도 된다.
또, 투명 기체 (900) 는, 제 1 표면 (902) 및/또는 제 2 표면 (904) 이 화학 강화 처리되어 있어도 된다.
투명 기체 (900) 의 치수 및 형상은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 투명 기체 (900) 는, 정방 형상, 사각 형상, 원 형상, 또는 타원 형상 등이어도 된다.
또한, 투명 기체 (900) 를 표시 장치의 보호 커버로서 사용하는 경우, 투명 기체 (900) 의 두께는 얇은 것이 바람직하다. 예를 들어, 투명 기체 (900) 의 두께는, 0.2 ㎜ ∼ 2.0 ㎜ 의 범위여도 된다.
여기서, 투명 기체 (900) 는, 전술한 제 1 방법 (스텝 S110 ∼ 스텝 S130) 을 사용하여 측정되는 방현성 지표치 (R) 가 0.4 이상이라는 특징을 갖는다. 또, 이 투명 기체 (900) 는, 전술한 제 2 방법 (스텝 S210 ∼ 스텝 S290. 스텝 S265 를 포함한다) 을 사용하여, 거리 지수 (r) = 8 로서 측정되는 번쩍거림 지표치 (G) 가, 0.6 이하라는 특징을 갖는다.
방현성 지표치 (R) 는, 0.6 이상인 것이 바람직하고, 0.8 이상인 것이 보다 바람직하다.
또, 번쩍거림 지표치 (G) 는, 0.5 이하인 것이 바람직하고, 0.4 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.3 이하인 것이 더욱 바람직하다.
실시예
다음으로, 각종 투명 기체를 사용하여 실시한, 방현성 평가 및 번쩍거림 평가의 결과에 대하여 설명한다.
(방현성 평가에 대하여)
각종 방법으로 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 방현성을 이하와 같은 방법으로 평가하였다.
안티글레어 처리로서, 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 또는 실리카 코트 처리를 채용하였다. 또, 투명 기체에는 알루미노실리케이트 유리를 사용하였다.
우선, 각 투명 기체를, 제 1 표면 (즉 안티글레어 처리된 표면) 측으로부터 육안으로 관찰하여, 방현성을 레벨 1 ∼ 레벨 12 까지의 12 단계로 평가하였다. 또한, 관찰 방향은, 투명 기체의 두께 방향에 대하여, 20˚의 방향으로 하였다.
다음으로, 변각 광도계 (GC5000L : 니혼 덴쇼쿠 공업사 제조) 를 사용하여, 전술한 스텝 S110 ∼ 스텝 S130 에 나타낸 바와 같은 조작을 실시하고, 식 (1) 로부터 각 투명 기체의 방현성 지표치 (R) 를 산정하였다.
도 8 에는, 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 육안에 의한 방현성의 평가 레벨 (세로축) 과, 방현성 지표치 (R) (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸다.
도 8 로부터, 양자간에는 정 (正) 의 상관 관계가 있는 것을 알 수 있다.
이 결과는, 방현성 지표치 (R) 가 관찰자의 육안에 의한 반사 이미지 확산성의 평가 레벨의 경향과 대응되고, 따라서 방현성 지표치 (R) 를 사용하여, 투명 기체의 반사 이미지 확산성을 판단할 수 있는 것을 시사한다. 바꾸어 말하면, 방현성 지표치 (R) 를 사용함으로써, 투명 기체의 반사 이미지 확산성을 객관적이고 또한 정량적으로 판단할 수 있다고 할 수 있다.
(번쩍거림의 평가에 대하여)
다음으로, 전술한 방현성 평가에서 사용한 각종 투명 기체를 사용하여, 이들 투명 기체의 번쩍거림을 이하와 같은 방법으로 평가하였다.
우선, 각 투명 기체를 표시 장치 (iPad (등록상표), 해상도 264 ppi) 상에 직접 배치한다. 이 때는, 각 투명 기체의 제 1 표면 (즉 안티글레어 처리된 표면) 이 관찰자측이 되도록 하여, 투명 기체를 표시 장치 상에 배치하였다. 또한, 표시 장치로부터 표시되는 이미지는, 녹색 단색의 이미지로 하고, 이미지의 치수는 19.6 ㎝ × 14.6 ㎝ 로 하였다.
다음으로, 이 상태에서, 각 투명 기체를 제 1 표면측으로부터 육안으로 관찰하여, 번쩍거림을 레벨 0 ∼ 레벨 10 까지의 11 단계로 평가하였다. 레벨 0 은, 번쩍거림이 거의 관찰되지 않는 것을 나타내고, 레벨 10 은, 번쩍거림이 매우 현저한 것을 나타낸다. 또, 이 사이의 레벨치는, 수치가 클수록 번쩍거림이 커지는 경향이 있다.
다음으로, SMS-1000 장치 (Display-Messtechnik ＆ Systeme 사 제조) 를 사용하여, 전술한 스텝 S210 ∼ 스텝 S290 (스텝 S265 를 포함한다) 에 나타낸 바와 같은 조작을 실시하고, 식 (3) 으로부터 각 투명 기체의 번쩍거림 지표치 (G) 를 산정하였다. 또한, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로는, VRD140 안티글레어 처리 유리 (아사히 가라스 주식회사 제조) 를 사용하였다.
표시 장치에는, 전술한 iPad (등록상표) 를 사용하고, 고체 촬상 소자와 투명 기체 사이의 거리 (d) 는, 540 ㎜ 로 하였다. 이 거리 (d) 는, 거리 지수 (r) 로 나타내면, r = 10.8 에 상당한다.
도 9 에는, 각 투명 기체에 있어서 얻어진, 번쩍거림 지표치 (G) (세로축) 와, 육안에 의한 번쩍거림의 레벨 (가로축) 사이의 관계의 일례를 나타낸다.
도 9 로부터, 양자간에는 정의 상관 관계가 있는 것을 알 수 있다.
이 결과는, 번쩍거림 지표치 (G) 가 관찰자의 육안에 의한 번쩍거림의 판정 결과의 경향과 대응되고, 따라서 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용하여, 투명 기체의 번쩍거림을 판단할 수 있는 것을 시사한다. 바꾸어 말하면, 번쩍거림 지표치 (G) 를 사용함으로써, 투명 기체의 번쩍거림을 객관적이고 또한 정량적으로 판단할 수 있다고 할 수 있다.
이와 같이, 방현성 지표치 (R) 및 번쩍거림 지표치 (G) 를, 각각 투명 기체의 방현성 및 번쩍거림의 정량적인 지표로서 사용 가능한 것이 확인되었다.
산업상 이용가능성
본 발명은, 예를 들어 LCD 장치, OLED 장치, PDP 장치, 및 태블릿형 표시 장치와 같은, 각종 표시 장치 등에 설치되는 투명 기체의 광학 특성 평가에 이용할 수 있다.
또, 본원은 2014년 5월 14일에 출원한 일본국 특허출원 2014-100343호에 기초하는 우선권을 주장하는 것으로, 동 일본국 출원의 전체 내용을 본원에 참조에 의해 원용한다.
210 투명 기체
212 제 1 표면
214 제 2 표면
300 측정 장치
350 광원
362 제 1 광
364 반사광
370 검출기
410 제 1 화상
420-1 ∼ 420-9 대응 영역
430 제 1 휘도 분포
900 투명 기체
902 제 1 표면
904 제 2 표면
qi 휘도 분포 성분

Claims (10)

  1. 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법으로서,
    제 1 및 제 2 표면을 갖고, 상기 제 1 표면이 안티글레어 처리된 투명 기체의 정량화된 방현성 지표치를 취득하는 스텝과,
    상기 투명 기체의 정량화된 번쩍거림 지표치를 취득하는 스텝을 무순서로 갖고,
    상기 정량화된 방현성 지표치는,
    (a) 제 1 및 제 2 표면을 갖는 투명 기체의 상기 제 1 표면측으로부터, 상기 투명 기체의 두께 방향에 대하여 20˚의 방향으로 제 1 광을 조사하고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 20˚정반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
    (b) 상기 제 1 표면에 의해 반사되는 반사광의 수광 각도를 －20˚∼ ＋60˚의 범위에서 변화시키고, 상기 제 1 표면에서 반사되는 전체 반사광의 휘도를 측정하는 스텝과,
    (c) 이하의 식 (1) 로부터, 방현성 지표치 (R) 를 산정하는 스텝
    방현성 지표치 (R) =
    (전체 반사광의 휘도 －20˚정반사광의 휘도)/(전체 반사광의 휘도) 식 (1)
    에 의해 얻어지고,
    상기 정량화된 번쩍거림 지표치는,
    (A) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면이 표시 장치측이 되도록 하여, 상기 표시 장치 상에 배치하는 스텝과,
    (B) 상기 표시 장치를 온으로 한 상태에서, 고체 촬상 소자를 사용하여 상기 투명 기체를 촬영하여, 제 1 화상을 취득하는 스텝으로서, 상기 고체 촬상 소자와 상기 투명 기체 사이의 거리를 d 로 하고, 상기 고체 촬상 소자의 초점 거리를 f 로 했을 때, 촬영시의 거리 지수 (r (=d/f)) 는, 8 이상인 스텝과,
    (C) 상기 취득된 제 1 화상으로부터, 제 1 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
    (D) 상기 투명 기체를, 상기 제 2 표면과 평행한 방향으로 움직이게 하여, 상기 투명 기체를 상기 표시 장치에 대하여 이동시키는 스텝과,
    (E) 상기 (B) 및 (C) 의 스텝을 반복하여, 취득된 제 2 화상으로부터, 제 2 휘도 분포를 형성하는 스텝과,
    (F) 상기 제 1 휘도 분포와 상기 제 2 휘도 분포의 차분으로부터, 차분 휘도 분포 (ΔS) 를 구하는 스텝과,
    (G) 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 평균 휘도 분포 (ΔSave) 및 분산 (σ) 을 산정함과 함께, 이하의 식 (2) 로부터, 출력치 (A) 를 얻는 스텝과,
    출력치 (A) = 분산 (σ)/평균 휘도 분포 (ΔSave) 식 (2)
    (H) 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝을, 기준용 안티글레어 처리된 투명 기체로 실시하고, 출력치 (A) 대신에 참조 출력치 (Q) 를 얻는 스텝으로서, 그 (H) 의 스텝은, 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝 전, 또는 상기 (A) ∼ (G) 의 스텝과 병렬로 실시되는 스텝과,
    (I) 이하의 식 (3) 으로부터, 번쩍거림 지표치 (G) 를 구하는 스텝
    번쩍거림 지표치 (G) = (출력치 (A))/(참조 출력치 (Q)) 식 (3)
    에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 (G) 의 스텝 전에, 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 로부터, 상기 표시 장치에서 유래하는 성분을 필터 제거하여, 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 를 얻는 스텝이 실시되고,
    상기 (G) 의 스텝에서는, 상기 차분 휘도 분포 (ΔS) 대신에, 상기 실효 차분 휘도 분포 (ΔSe) 가 사용되는 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방현성 지표치는, 고니오미터를 사용하여 취득되는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 표시 장치는, LCD 장치, OLED 장치, PDP 장치, 및 태블릿형 표시 장치로 이루어지는 군에서 선택된 하나인 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 표시 장치는, 132 ppi 이상의 해상도를 갖는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 투명 기체는, 소다라임 유리 또는 알루미노실리케이트 유리로 구성되는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 투명 기체는, 제 1 및 제 2 표면 중 적어도 일방이 화학 강화 처리되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 안티글레어 처리는, 상기 투명 기체의 제 1 표면에 프로스트 처리, 에칭 처리, 샌드 블라스트 처리, 랩핑 처리, 및 실리카 코트 처리로 이루어지는 군에서 선택된 적어도 하나의 처리 방법을 적용함으로써 실시되는 방법.
  9. 삭제
  10. 삭제
KR1020167031511A 2014-05-14 2015-03-16 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체 KR102321551B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014100343 2014-05-14
JPJP-P-2014-100343 2014-05-14
PCT/JP2015/057694 WO2015174132A1 (ja) 2014-05-14 2015-03-16 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170008224A KR20170008224A (ko) 2017-01-23
KR102321551B1 true KR102321551B1 (ko) 2021-11-03

Family

ID=54479679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167031511A KR102321551B1 (ko) 2014-05-14 2015-03-16 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법 및 투명 기체

Country Status (5)

Country Link
JP (2) JP6341210B2 (ko)
KR (1) KR102321551B1 (ko)
CN (2) CN106461502B (ko)
TW (2) TWI744576B (ko)
WO (1) WO2015174132A1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107533161B (zh) * 2015-11-20 2020-08-04 Ａｇｃ株式会社 带膜的弯曲基材及其制造方法以及图像显示装置
JP6969156B2 (ja) * 2016-05-30 2021-11-24 Ａｇｃ株式会社 印刷層付き板およびその製造方法、および表示装置
JP6973250B2 (ja) * 2018-04-04 2021-11-24 日本電気硝子株式会社 透明物品の評価方法、及び透明物品の製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004126495A (ja) * 2001-12-17 2004-04-22 Daicel Chem Ind Ltd 防眩性フィルム、それを用いた光学部材及び液晶表示装置
JP2009086410A (ja) 2007-10-01 2009-04-23 Konica Minolta Opto Inc 防眩フィルム、その製造装置、防眩性反射防止フィルム、偏光板、及び表示装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4484177B2 (ja) * 1999-02-19 2010-06-16 大日本印刷株式会社 面ぎらの定量的評価方法及び防眩性フィルムの製造方法
JP2002082206A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Toppan Printing Co Ltd 防眩性反射防止フィルム
KR100949870B1 (ko) * 2001-12-17 2010-03-25 다이셀 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 방현성 필름, 및 이를 이용한 광학 부재 및 액정디스플레이 장치
JP3766342B2 (ja) * 2002-03-26 2006-04-12 富士写真フイルム株式会社 防眩フィルムのギラツキ評価装置
KR100622243B1 (ko) * 2004-02-17 2006-09-14 오므론 가부시키가이샤 광학식 측정 장치 및 광학식 측정 방법
KR101408637B1 (ko) * 2005-03-30 2014-06-17 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 방현성 광학 적층체
JP2007147343A (ja) 2005-11-25 2007-06-14 Sharp Corp 防眩度の評価方法、及び防眩度評価装置
JP4844254B2 (ja) * 2006-06-20 2011-12-28 住友化学株式会社 防眩フィルム及び画像表示装置
US8049860B2 (en) * 2006-06-30 2011-11-01 Nippon Sheet Glass Company, Ltd. Glass substrate for reflective mirror, reflective mirror including the glass substrate, glass substrate for liquid crystal panel, and liquid crystal panel including the glass substrate
CN101501535B (zh) * 2006-08-09 2010-12-22 木本股份有限公司 防眩性构件及使用其的显示装置、以及屏幕
JP2008058081A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Fujifilm Corp 防眩性評価装置、防眩性評価基準設定方法および防眩性評価方法
JP2008170344A (ja) * 2007-01-12 2008-07-24 Fujifilm Corp 防眩性の評価方法及び測定装置
JP2009085665A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Toyo Ink Mfg Co Ltd 防眩性評価装置及び防眩性評価方法
CN101630118B (zh) * 2008-07-17 2012-05-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 镜头模组眩光检测设备及其检测方法
JP5439769B2 (ja) * 2008-09-04 2014-03-12 大日本印刷株式会社 光学シートの製造方法
JP4966395B2 (ja) * 2010-04-14 2012-07-04 大日本印刷株式会社 動画像と静止画像との混用に適した液晶表示装置の黒彩感及び画像の切れの改善方法
KR101788357B1 (ko) * 2010-10-04 2017-10-19 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 방현성 필름, 방현성 필름의 제조 방법, 편광판 및 화상 표시 장치
JP5715532B2 (ja) * 2011-08-31 2015-05-07 株式会社東芝 不快グレア評価方法及び不快グレア評価プログラム
TWM471589U (zh) * 2013-08-06 2014-02-01 Kupo Co Ltd 電子裝置之螢幕光學保護貼結構
TWM473299U (zh) * 2013-11-19 2014-03-01 Yao-Chang Wang 螢幕保護貼

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004126495A (ja) * 2001-12-17 2004-04-22 Daicel Chem Ind Ltd 防眩性フィルム、それを用いた光学部材及び液晶表示装置
JP2009086410A (ja) 2007-10-01 2009-04-23 Konica Minolta Opto Inc 防眩フィルム、その製造装置、防眩性反射防止フィルム、偏光板、及び表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106461502B (zh) 2020-01-24
JP2018163160A (ja) 2018-10-18
TW201543019A (zh) 2015-11-16
KR20170008224A (ko) 2017-01-23
JP6341210B2 (ja) 2018-06-13
TW201913060A (zh) 2019-04-01
JPWO2015174132A1 (ja) 2017-04-20
CN110057547A (zh) 2019-07-26
TWI656332B (zh) 2019-04-11
WO2015174132A1 (ja) 2015-11-19
JP6583479B2 (ja) 2019-10-02
CN106461502A (zh) 2017-02-22
TWI744576B (zh) 2021-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102161958B1 (ko) 투명 기체의 광학 특성을 평가하는 방법
US9411180B2 (en) Apparatus and method for determining sparkle
JP6583479B2 (ja) 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
CN103502166A (zh) 具有低显示器闪耀的防眩光表面的玻璃
US20220011478A1 (en) Textured region of a substrate to reduce specular reflectance incorporating surface features with an elliptical perimeter or segments thereof, and method of making the same
US9927557B2 (en) Eyeglass lens
US20160011106A1 (en) Method for evaluating optical characteristics of transparent substrate, and optical device
US10310142B2 (en) Optical device
WO2013077282A1 (ja) 液晶表示パネルの検査方法
JP2014224735A (ja) 透明基体のぎらつきを評価する方法
JP6696598B2 (ja) 透明基体
JP2009236621A (ja) 防眩フィルムのぎらつき評価方法及びぎらつき評価装置
JP2018132496A (ja) 透明物品の評価方法
US11520085B2 (en) Transparent substrate
WO2023283058A1 (en) Anti-glare substrate for a display article with a textured region including one or more surfaces at two, three, or four elevations, and surfaces features providing at least a portion of the one or more surfaces, and method of making the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant