JP6696598B2 - 透明基体 - Google Patents

Description

本発明は、例えば、表示装置のカバー部材等に使用される透明基体に関する。

一般に、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）装置のような表示装置の上には、該表示装置の保護のため、透明基体で構成されたカバー部材が配置される。

しかしながら、表示装置上にこのような透明基体を設置した場合、透明基体を介して表示装置の表示画を視認しようとした際に、しばしば、周辺に置かれているものの映り込みが生じる場合がある。透明基体にそのような映り込みが生じると、表示画の視認者は、表示画を視認することが難しくなる上、不快な印象を受けるようになる。

そこで、このような映り込みを抑制するため、透明基体の表面に対して、アンチグレア処理（凹凸形成処理）が適用される場合がある。

特開２０１２−１４０５１号公報

前述のように、周囲光の映り込みを抑制するため、透明基体には、しばしば、アンチグレア処理が実施される。

ところで、実際の透明基体では、周囲光の映り込みの抑制効果の他、透過像鮮明性および反射像拡散性などの特性も同時に必要となる場合がある。

しかしながら、一般に、透過像鮮明性と反射像拡散性は、相反する傾向にあり、両特性を両立することは難しいという問題がある。

本発明は、このような背景に鑑みなされたものであり、本発明では、従来に比べて、透過像鮮明性と反射像拡散性の両方に優れる透明基体を提供することを目的とする。

本発明では、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体であって、
前記第１および第２の表面には、凹凸形状が形成されており、
前記第１および第２のそれぞれの表面において、以下の方法で得られる２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°を用いて評価した場合、

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

を満たすことを特徴とする透明基体が提供される。

ここで、前記第１および第２の表面のうち、評価対象となる対象表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ｘは２０または４５である）は、
当該透明基体の前記第１および第２の表面のうち、非評価対象となる非対象表面に、光の反射を防止する処理を施した状態で、
当該透明基体の前記対象表面側から、当該透明基体の厚さ方向に対してｘ°傾斜した方向に光を照射し、前記対象表面で反射する正反射光（ｘ°実質正反射光という）の輝度を測定し、
前記対象表面で反射する反射光の受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°の範囲で変化させ、前記対象表面で反射する全反射光（ｘ°実質全反射光という）の輝度を測定することにより、
以下の（２）式

ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°＝
（ｘ°実質全反射光の輝度−ｘ°実質正反射光の輝度）／
（ｘ°実質全反射光の輝度） （２）式

から算出される。ここでは受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°としたが、これよりも広い角度範囲を測定しても、その範囲では観測される光量がほぼゼロなので結果は変わらない。

ここで、本発明では、前記第１および／または前記第２の表面において、
粗さ曲線要素の平均長さＲＳｍは、２５μｍ以下であり、
二乗平均平方根粗さＲｑは、０．３μｍ以下であっても良い。

また、当該透明基体は、以下の方法で得られる解像度指標値Ｔが０．１未満であっても良い。

ここで、前記解像度指標値Ｔは、
当該透明基体の前記第２の表面側から、当該透明基体の厚さ方向と平行な方向に第２の光を照射し、前記第１の表面から当該透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（０°透過光という）の輝度を測定し、
前記第２の光の前記第１の表面に対する受光角度を−３０°〜＋３０°の範囲で変化させ、前記第１の表面側から透過する全透過光の輝度を測定し、
以下の（３）式から

解像度指標値Ｔ１＝
（全透過光の輝度−０°透過光の輝度）／（全透過光の輝度） （３）式

前記第１の表面における解像度指標値Ｔ１を算定し、
同様の測定を前記第２の表面に対して実施し、前記第２の表面における解像度指標値Ｔ２を算定し、
Ｔ１とＴ２のうち、大きい方の値を解像度指標値Ｔとして採用することにより得られる。

また、当該透明基体は、ガラスであっても良い。ここでは−３０°〜＋３０°の範囲としたが、これよりも広い角度範囲を測定しても、その範囲では観測される光量がほぼゼロなので結果は変わらない。

本発明では、従来に比べて、透明基体の透過像鮮明性と反射像拡散性の両方に優れる透明基体を提供することができる。

本発明の一実施例による透明基体を概略的に示した図である。 透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。 解像度指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。 各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果（縦軸）と、解像度指標値Ｔ（横軸）の間の関係の一例を示したグラフである。 透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。 反射像拡散性指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。 透明基体の第１の表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）を取得する方法のフローを概略的に示した図である。 Ｒｂ２０°（横軸）とＲｂ４５°（縦軸）で表される領域に、例１〜例１２に係るガラス基体のそれぞれにおいて得られた、（Ｒｂ２０°，Ｒｂ４５°）の関係をプロットしたグラフである。 例１〜例１２に係るそれぞれのガラス基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°（縦軸）の関係を示したグラフである。 例２１〜２３に係るそれぞれのガラス基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）の関係を示したグラフである。

以下、本発明について詳しく説明する。

前述のように、アンチグレア処理された透明基体において、透過像鮮明性と反射像拡散性の両特性を向上させたい場合がある。しかしながら、一般に、透過像鮮明性と反射像拡散性は、トレードオフの関係にあり、現状では、透明基体の透過像鮮明性と反射像拡散性の両方を高めることは比較的難しいという問題がある。

ここで、「反射像拡散性」とは、透明基体の周辺に置かれている物体（例えば照明）の反射像が、元の物体とどの程度一致しているかを表す特性である。「反射像拡散性」が高いほど、透明基体の防眩性が高くなる。

これに対して、本発明では、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体であって、
前記第１および第２の表面には、凹凸形状が形成されており、
前記第１および第２のそれぞれの表面において、以下の方法で得られる２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°を用いて評価した場合、

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

を満たすことを特徴とする透明基体が提供される。

ここで、評価対象となる対象表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ｘは２０または４５である）は、
当該透明基体の非評価対象となる非対象表面に、光の反射を防止する処理を施した状態で、
当該透明基体の前記対象表面側から、当該透明基体の厚さ方向に対してｘ°傾斜した方向に光を照射し、前記対象表面で反射する正反射光（ｘ°実質正反射光という）の輝度を測定し、
前記対象表面で反射する反射光の受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°の範囲で変化させ、前記対象表面で反射する全反射光（ｘ°実質全反射光という）の輝度を測定することにより、
以下の（２）式

ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°＝
（ｘ°実質全反射光の輝度−ｘ°実質正反射光の輝度）／
（ｘ°実質全反射光の輝度） （２）式

から算出される。ここでは受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°としたが、これよりも広い角度範囲を測定しても、その範囲では観測される光量がほぼゼロなので結果は変わらない。

本願発明者らは、第１および第２の表面を有する透明基体において、第１の表面にのみアンチグレア処理を施工した場合、第１の表面側から透明基体を視認した際に、アンチグレア処理されていない第２の表面からの反射の影響により、反射像拡散性が低下することを見出した。また、この知見に基づき、透明基体の第２の表面からの反射を抑制することで、第１の表面側から透明基体を視認した際の、反射像拡散性を高め得ることを見出した。

そこで、本発明では、透明基体の第１および第２の表面に、凹凸形状を形成することを特徴とする。

ただし、本願発明者らの実験結果では、透明基体の第１および第２の両表面を凹凸形状とした場合、一方の表面のみに凹凸形状を形成した場合に比べて、透過像鮮明性の向上と反射像拡散性の向上の両特性を満たすことがよりいっそう難しくなることが認められている。例えば、透明基体の両表面に凹凸形状を形成した場合、反射像拡散性が改善されても透過像鮮明性が低下したり、またはその逆の挙動、すなわち透過像鮮明性が改善されても反射像拡散性が低下したりする。

その一方で、本願発明者らの実験によれば、透明基体の第１の表面と第２の表面に、所定の条件を満たすように凹凸形状を形成した場合、透過像鮮明性と反射像拡散性の両方を、有意に向上させることができることが認められた。

そこで、本発明では、第１および第２のそれぞれの表面において、２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°を用いたとき、以下の（１）式

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

が満たされるような凹凸形状が形成されることを特徴とする。

ここで、透明基体第１の表面における２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°は、透明基体の第２の表面に、光の反射を防止する処理を施した状態で、
第１の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して２０°傾斜した方向に光を照射し、第１の表面で反射する正反射光（２０°実質正反射光）の輝度を測定するとともに、
第１の表面で反射する反射光の受光角度を−１０°〜＋５０°の範囲で変化させ、第１の表面で反射する全反射光（２０°実質全反射光）の輝度を測定することにより、
以下の（４）式

２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°＝
（２０°実質全反射光の輝度−２０°実質正反射光の輝度）／
（２０°実質全反射光の輝度） （４）式

から算出される。ここでは受光角度を−１０°〜＋５０°としたが、これよりも広い角度範囲を測定しても、その範囲では観測される光量がほぼゼロなので結果は変わらない。

同様に、透明基体第１の表面における４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°は、透明基体の第２の表面に、光の反射を防止する処理を施した状態で、
第１の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して４５°傾斜した方向に光を照射し、第１の表面で反射する正反射光（４５°実質正反射光）の輝度を測定するとともに、
第１の表面で反射する反射光の受光角度を＋１５°〜＋７５°の範囲で変化させ、第１の表面で反射する全反射光（４５°実質全反射光）の輝度を測定することにより、
以下の（５）式

４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°＝
（４５°実質全反射光の輝度−４５°実質正反射光の輝度）／
（４５°実質全反射光の輝度） （５）式

から算出される。ここでは受光角度を＋１５°〜＋７５°としたが、これよりも広い角度範囲を測定しても、その範囲では観測される光量がほぼゼロなので結果は変わらない。

ここで、受光角度のマイナス（−）は、当該受光角度が、評価対象となる対象表面（上記例では第１の表面）の法線よりも、入射光側にあることを表し、プラス（＋）は、当該受光角度が、対象表面の法線に比べて、入射光側にないことを表す。

透明基体第２の表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ｘは２０または４５である）も、透明基体の第１の表面に光の反射を防止する処理を施した状態で、同様に評価することができる。

ある表面に対する「光の反射を防止する処理」には、例えば、該表面に黒色インク等を塗布して、該表面を黒色化することが含まれる。

前述の（１）式を満たすように、第１の表面および第２の表面に凹凸形状を構成することにより、透明基体の透過像鮮明性と反射像拡散性の両方を、従来に比べて有意に向上させることができる。

なお、前述の（１）式を満たしている限り、第１の表面および第２の表面の凹凸形状が同様であってもよいし、同様でなくてもよい。

（本発明の一実施例による透明基体について）
次に、図面を参照して、本発明の一実施例による透明基体について説明する。

図１には、本発明の一実施例による透明基体（以下、単に「第１の透明基体」と称する）１１０を模式的に示す。

図１に示すように、第１の透明基体１１０は、対向する両表面、すなわち第１の表面１１２および第２の表面１３２を有し、両表面１１２、１３２は、凹凸形状を有する。

第１の透明基体１１０は、透明である限り、いかなる材料で構成されても良い。第１の透明基体１１０は、例えば、ガラスまたはプラスチック等であっても良い。

第１の透明基体１１０がガラスで構成される場合、ガラスの組成は特に限られない。ガラスは、例えば、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスであっても良い。

また、第１の透明基体１１０がガラスで構成される場合、第１の表面１１２および／または第２の表面１３２は、化学強化処理されても良い。

ここで、化学強化処理とは、アルカリ金属を含む溶融塩中にガラス基板を浸漬させ、ガラス基板の最表面に存在するイオン半径の小さなアルカリ金属（イオン）を、溶融塩中に存在するイオン半径の大きなアルカリ金属（イオン）と置換する技術の総称を言う。化学強化処理法では、処理されたガラス基板の表面には、元の原子よりもイオン半径の大きなアルカリ金属（イオン）が配置される。このため、ガラス基板の表面に圧縮応力を付与することができ、これによりガラス基板の強度（特にワレ強度）が向上する。

例えば、ガラス基板がナトリウムイオン（Ｎａ^＋）を含む場合、化学強化処理により、このナトリウムイオンは、例えばカリウムイオン（Ｋ^＋）と置換される。あるいは、例えば、ガラス基板がリチウムイオン（Ｌｉ^＋）を含む場合、化学強化処理により、このリチウムイオンは、例えばナトリウムイオン（Ｎａ^＋）および／またはカリウムイオン（Ｋ^＋）と置換されても良い。

一方、第１の透明基体１１０がプラスチックで構成される場合、プラスチックの組成は特に限られない。第１の透明基体１１０は、例えばポリカーボネート基板であっても良い。

第１の透明基体１１０の寸法および形状は、特に限られない。例えば、第１の透明基体１１０は、正方形状、矩形状、円形状、または楕円形状等であっても良い。

第１の透明基体１１０を表示装置の保護カバーとして使用する場合、第１の透明基体１１０の厚さは、薄いことが好ましい。例えば、第１の透明基体１１０の厚さは、０．２ｍｍ〜１．０ｍｍの範囲であっても良い。

前述のように、第１の透明基体１１０において、第１の表面１１２および第２の表面１３２は、いずれも凹凸形状を有する。

第１の表面１１２および第２の表面１３２において、凹凸形状は、いかなる方法により形成されても良い。凹凸形状は、例えば、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、またはシリカコート処理等により、形成しても良い。

ここで、第１の表面１１２に形成された凹凸形状は、前述の方法で得られる２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°で評価した際に

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

を満たすように形成される。第２の表面１３２の凹凸形状も、同様に形成される。

第１の透明基体１１０において、第１の表面１１２および第２の表面１３２をこのように形成することにより、従来に比べて、透過像鮮明性と反射像拡散性の両方を、ともに向上させることが可能になる。

第１の透明基体１１０の第１および第２の表面１１２、１３２において、表面の粗さ曲線要素の平均長さＲＳｍは２５μｍ以下であり、２０μｍ以下でもよく、１５μｍ以下であることがより好ましい。また、ＲＳｍが光の波長に比べて一定以上小さくなると、光を散乱する能力が弱くなるので、ＲＳｍは１μｍ以上であり、３μｍ以上でもよく、５μｍ以上であることがより好ましい。

第１の透明基体１１０の第１および第２の表面１１２、１３２において、二乗平均平方根粗さＲｑは０．３μｍ以下であり、０．２５μｍ以下でもよく、０．２μｍ以下であることがより好ましい。また、Ｒｑが小さくなりすぎると光を散乱する能力が弱くなるので、Ｒｑは０．０５μｍ以上であり、０．１μｍ以上でもよく、０．１５μｍ以上であることがより好ましい。

このような表面粗さを有する表面では、前述の（１）式を達成し易くなる。その理由を以下に説明する。

表面の凹凸形状が光の波長に比べて十分に大きい場合、幾何光学近似がなりたつため、凹凸形状の局所的な傾きに応じて光は反射される。そのため光の入射角度が２０°でも４５°でも同程度に散乱されるので、Ｒｂ２０°とＲｂ４５°はほぼ等しい値となる。

一方、表面の凹凸形状が光の波長に近くなり、幾何光学近似が成り立たない領域になると、前述の凹凸形状の局所的な傾きによる反射に加えて、光は凹凸形状の周期によって干渉を受けて散乱される。例えば垂直入射される光が感じる周期がＬであるとすると、入射角度θで入射される光はＬｃｏｓθの周期を感じることになり、散乱の程度が変化し、Ｒｂ２０°とＲｂ４５°の値に差が出るため、前述の（１）式を満たしやすくなる。

ここで、表面の粗さ曲線要素の平均長さＲＳｍおよび二乗平均平方根粗さＲｑは、いずれもＪＩＳ Ｂ０６０１：２００１により規定されている方法で得られる値である。

（透過像鮮明性について）
次に、透明基体の透過像鮮明性を表す指標について説明する。

本願では、透明基体の透過像鮮明性を評価する際に、「解像度指標値」を使用する。

以下、図２を参照して、この透過像鮮明性の定量的な指標となる「解像度指標値」の測定方法について説明する。

図２には、透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。

図２に示すように、この透明基体の解像度指標値を取得する方法（以下、単に「第１の方法」と称する）は、
（ａ）第１および第２の表面を有する透明基体の前記第２の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第１の光を照射し、前記第１の表面から前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（以下、「０°透過光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ１１０）と、
（ｂ）前記第１の表面から透過する透過光の受光角度θを、−３０°〜＋３０°の範囲で変化させ、透明基体を透過して、第１の表面から出射される第１の光（以下、「全透過光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ１２０）と、
（ｃ）以下の（６）式から

解像度指標値Ｔ＝
（全透過光の輝度−０°透過光の輝度）／（全透過光の輝度） （６）式

解像度指標値Ｔを算定するステップ（ステップＳ１３０）と、
を有する。

ここで、一方の表面のみが凹凸形状を有する透明基体の場合、第１の方法における前述の工程において、凹凸形状を有する表面が「第１の表面」とされ、凹凸形状を有しない表面が「第２の表面」とされる。

一方、本願発明のような、両表面が凹凸形状有する透明基体の場合、第１の表面および第２の表面のそれぞれに対して、前述の第１の方法が実施される。また、得られた２つの解像度指標値のうち、大きい方の値が、その透明基体の解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）として採用される。

以下、各ステップについて説明する。

（ステップＳ１１０）
まず、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体が準備される。前述のように、透明基体は、透明である限り、いかなる材料で構成されても良い。本発明の透明基体の第１および第２の表面は、いずれも凹凸形状を有する。

次に、透明基体の第２の表面側から、透明基体の厚さ方向と平行な方向、具体的には角度θ＝０°±０．５°の方向（以下、「角度０°の方向」ともいう）に、第１の光が照射される。第１の光は、透明基体を透過し、第１の表面から出射される。第１の表面から角度０°の方向に出射された０°透過光を受光し、その輝度を測定して、「０°透過光の輝度」とする。

（ステップＳ１２０）
次に、第１の表面から出射された光を受光する角度θを、−３０°〜＋３０°の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。これにより、透明基体を透過して、第１の表面から出射される光の輝度分布を測定して合計し、「全透過光の輝度」とする。

（ステップＳ１３０）
次に、以下の（６）式から、解像度指標値Ｔを算定する：

解像度指標値Ｔ＝
（全透過光の輝度−０°透過光の輝度）／（全透過光の輝度） （６）式

この解像度指標値Ｔは、後述するように、観察者の目視による透過像鮮明性の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、解像度指標値Ｔが大きな（１に近い）値を示す透明基体は、透過像鮮明性が劣り、逆に解像度指標値Ｔが小さな値を示す透明基体は、良好な透過像鮮明性を有する。従って、この解像度指標値Ｔは、透明基体の透過像鮮明性を判断する際の定量的指標として、使用できる。

図３には、前述の（６）式で表される解像度指標値Ｔを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。

図３に示すように、測定装置２００は、光源２５０および検出器２７０を有し、測定装置２００内に、透明基体２１０が配置される。透明基体２１０は、第１の表面２１２および第２の表面２３２を有する。光源２５０は、透明基体２１０に向かって、第１の光２６２を放射する。検出器２７０は、透明基体２１０から出射される透過光２６４を受光し、その輝度を検出する。

透明基体２１０は、第２の表面２３２が光源２５０の側となり、第１の表面２１２が検出器２７０の側となるように配置される。従って、検出器２７０が検出する第１の光は、透明基体２１０を透過した透過光２６４である。

なお、本発明の透明基体２１０は両方の表面に凹凸形状を有するが、前述のように、透明基体２１０の一方の表面のみが凹凸形状を有する場合、この凹凸形状を有する表面が、透明基体２１０の第１の表面２１２となる。すなわち、この場合、透明基体２１０は、凹凸形状を有する表面が検出器２７０の側となるようにして、測定装置２００内に配置される。

また、第１の光２６２は、透明基体２１０の厚さ方向と平行な角度θで照射される。以降、この角度θを０°と規定する。本願では、測定装置の誤差を考慮して、θ＝０°±０．５°の範囲を、角度０°と定義する。

このような測定装置２００において、光源２５０から透明基体２１０に向かって第１の光２６２を照射し、検出器２７０を用いて透明基体２１０の第１の表面２１２側から出射される透過光２６４を検出する。これにより、０°透過光が検出される。

次に、検出器２７０が透過光２６４を受光する角度θについて、−３０°〜＋３０°の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。

これにより、検出器２７０を用いて、−３０°〜＋３０°までの範囲で、透明基体２１０を透過して、第１の表面２１２から出射される透過光２６４、すなわち全透過光を検出する。

得られた０°透過光の輝度および全透過光の輝度から、前述の（６）式により、透明基体２１０の解像度指標値Ｔを取得できる。

前述のように、両表面が凹凸形状を有する透明基体の場合、それぞれの表面に対して、このような操作が実施される。そして、得られた２つの解像度指標値Ｔのうち、大きい方の値が、その透明基体の解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）として採用される。

このような測定は、市販のゴニオメータ（変角光度計）を使用することにより、容易に実施可能である。

（解像度指標値Ｔの妥当性について）
以上説明した解像度指標値Ｔの透過像鮮明性の指標としての妥当性を確認するため、各種透明基体の透過像鮮明性を、以下のような方法で評価した。

まず、第１の表面が各種方法でアンチグレア処理された透明基体を準備した。第２の表面は、アンチグレア処理されておらず、従って、平滑な平面である。透明基体は、いずれもガラス製とした。透明基体の厚さは、０．５ｍｍ〜３．０ｍｍの範囲から選定した。

また、プラスチック製の標準テストチャート（高精細度解像度チャートＩ型：大日本印刷社製）を準備した。

次に、各透明基体を標準テストチャートの上方に配置した。この際には、透明基体の第１の表面（すなわちアンチグレア処理された表面）の側が、標準テストチャートと反対の側となるようにして透明基体を配置した。透明基体と標準テストチャートとの間隔は、１ｃｍとした。

次に、透明基体を介して標準テストチャートを目視観察し、視認できるバーの限界（Ｔｖ本数）を評価した。これにより、各透明基体に対して、目視による解像レベルを判定した。本標準テストチャートのＴｖ本数の最大値は２０００本である。

次に、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を用いて、前述のステップＳ１１０〜ステップＳ１３０に示したような操作を実施して、（６）式から、各透明基体の解像度指標値Ｔを算定した。ステップＳ１２０において、本測定装置での受光角度の範囲は、−３０°〜＋３０°とした。−９０°〜−３０°および＋３０°〜＋９０°の透過光量はほぼ０であるため、本測定範囲であっても解像度指標値Ｔを算出するに当たって大きな影響は生じない。

図４には、各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果（縦軸）と、解像度指標値Ｔ（横軸）の間の関係の一例を示す。

図４から、両者の間には、負の相関関係があることがわかる。解像度指標値Ｔが０．１付近においては、目視による解像度レベルが最大値２０００で飽和しているものが複数あった。目視による解像度レベルは高いほうがよいので、解像度指標値Ｔは０．４未満が好ましく、０．３未満がより好ましく、０．２未満がさらに好ましく、０．１５未満が最も好ましい。

この結果は、解像度指標値Ｔが観察者の目視による透過像鮮明性の判断傾向と対応し、従って解像度指標値Ｔを用いて、透明基体の透過像鮮明性を判断可能であることを示唆するものである。換言すれば、解像度指標値Ｔを使用することにより、透明基体の透過像鮮明性を、客観的かつ定量的に判断することができる。

（反射像拡散性について）
次に、透明基体の反射像拡散性を表す指標について説明する。

本願では、透明基体の反射像拡散性を評価する際に、「反射像拡散性指標値」を使用する。

以下、図５を参照して、この反射像拡散性の定量的な指標となる「反射像拡散性指標値」の測定方法について説明する。

図５には、透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。

図５に示すように、この透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法（以下、単に「第２の方法」と称する）は、
（Ａ）第１および第２の表面を有する透明基体の前記第１の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して２０°の方向に第２の光を照射し、前記第１の表面で正反射する光（以下、「２０°正反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ２１０）と、
（Ｂ）前記第１の表面により反射される反射光の受光角度を−１０°〜＋５０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される第２の光（以下、「全反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ２２０）と、
（Ｃ）以下の（７）式から

反射像拡散性指標値Ｒ＝
（全反射光の輝度−２０°正反射光の輝度）／（全反射光の輝度） （７）式

反射像拡散性指標値Ｒを算定するステップ（ステップＳ２３０）と、
を有する。

ここで、一方の表面のみが凹凸形状を有する透明基体の場合、第２の方法における前述の工程において、凹凸形状を有する表面が「第１の表面」とされ、凹凸形状を有しない表面が「第２の表面」とされる。

一方、本願発明のような、両表面が凹凸形状有する透明基体の場合、第１の表面および第２の表面のそれぞれに対して、前述の第２の方法が実施される。また、得られた２つの反射像拡散性指標値のうち、小さい方の値が、その透明基体の反射像拡散性指標値Ｒ（Ｒ_ｍｉｎ）として採用される。

以下、各ステップについて説明する。

（ステップＳ２１０）
まず、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体が準備される。

透明基体の材質、組成等は、前述の第１の方法のステップＳ１１０において示したものと同様であるため、ここではこれ以上説明しない。

次に、準備された透明基体の第１の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して２０°±０．５°の方向に向かって、第２の光が照射される。第２の光は、透明基体の第１の表面で反射される。この反射光のうち、２０°正反射光を受光し、その輝度を測定して、「２０°正反射光の輝度」とする。

（ステップＳ２２０）
次に、第１の表面により反射される反射光の受光角度を−１０°〜＋５０°の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。この際に、透明基体の第１の表面で反射して、第１の表面から出射される第２の光の輝度分布を測定して合計し、「全反射光の輝度」とする。

（ステップＳ２３０）
次に、以下の（７）式から、反射像拡散性指標値Ｒを算定する：

反射像拡散性指標値Ｒ＝
（全反射光の輝度−２０°正反射光の輝度）／（全反射光の輝度） （７）式

この反射像拡散性指標値Ｒは、観察者の目視による反射像拡散性の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、反射像拡散性指標値Ｒが大きな値（１に近い値）を示す透明基体は、反射像拡散性に優れ、逆に反射像拡散性指標値Ｒが小さな値を示す透明基体は、反射像拡散性が劣る傾向にある。従って、この反射像拡散性指標値Ｒは、透明基体の反射像拡散性を判断する際の定量的指標として、使用することができる。

図６には、前述の（７）式で表される反射像拡散性指標値Ｒを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。

図６に示すように、測定装置３００は、光源３５０および検出器３７０を有し、測定装置３００内に、透明基体２１０が配置される。透明基体２１０は、第１の表面２１２および第２の表面２３２を有する。光源３５０は、透明基体２１０に向かって、第２の光３６２を放射する。検出器３７０は、透明基体２１０から反射される反射光３６４を受光し、その輝度を検出する。

透明基体２１０は、第１の表面２１２を評価対象となる対象表面とする場合、第１の表面２１２が光源３５０および検出器３７０の側となるように配置される。従って、透明基体２１０の一方の表面がアンチグレア処理されている場合、このアンチグレア処理されている表面が、透明基体２１０の第１の表面２１２となる。すなわち、この場合、透明基体２１０は、アンチグレア処理されている表面が光源３５０および検出器３７０の側となるようにして、測定装置３００内に配置される。

また、第２の光３６２は、透明基体２１０の厚さ方向に対して、２０°傾斜した角度で照射される。なお、本願では、測定装置の誤差を考慮して、２０°±０．５°の範囲を、角度２０°と定義する。

このような測定装置３００において、光源３５０から透明基体２１０に向かって第２の光３６２を照射し、検出器３７０を用いて、透明基体２１０の第１の表面２１２で反射される反射光３６４を検出する。これにより、「２０°正反射光」の輝度が検出される。

次に、検出器３７０が反射光３６４を測定する角度φにおいて、−１０°〜＋５０°の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。

この際に、検出器３７０を用いて、−１０°〜＋５０°の範囲で、透明基体２１０の第１の表面２１２で反射された反射光３６４、すなわち全反射光の輝度を検出し、合計する。

ここで、受光角度φが負の値は、当該受光角度が、対象表面（上記例では評価対象である第１の表面）の法線よりも、入射光側にあることを表し、受光角度φが正の値は、当該受光角度が、対象表面の法線よりも、入射光側にないことを表す。

得られた２０°正反射光の輝度および全反射光の輝度から、前述の（７）式により、透明基体２１０の反射像拡散性指標値Ｒを取得できる。

前述のように、第１および第２の表面の両方が凹凸形状を有する透明基体の場合、それぞれの表面に対して、このような操作が実施される。そして、得られた２つの反射像拡散性指標値Ｒのうち、小さい方の値が、その透明基体の反射像拡散性指標値Ｒ（Ｒ_ｍｉｎ）として採用される。

このような測定は、市販のゴニオメータ（変角光度計）を使用することにより、容易に実施可能である。

（ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°について）
次に、図７を参照して、透明基体のそれぞれの表面における凹凸形状に関係する重要な指標値となる、ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）の具体的な算出方法について説明する。

以下の説明から明らかなように、ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）は、透明基体の非対象表面（非対象表面：例えば非評価対象である第２の表面）での反射の影響が実質的に排除された状態で、評価対象となる対象表面（例えば第１の表面）での反射光のみを表すことができる指標である。前述の通り、凹凸形状の周期が光の波長に近づくとＲｂ２０°とＲｂ４５°の値に差がうまれ、（１）式を満たすことが分かっている。すなわち、Ｒｂｘ°は、対象表面の形状との直接的な関係づけが可能な指標である。

図７には、透明基体の第１の表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）を取得する方法のフローを概略的に示す。

図７に示すように、この透明基体の第１の表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）を取得する方法（以下、単に「第３の方法」と称する）は、
（ｉ）第１および第２の表面を有する透明基体の第２の表面に、光の反射を防止する処理を実施するステップ（ステップＳ３１０）と、
（ｉｉ）透明基体の第１の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対してｘ°の方向に第３の光を照射し、前記第１の表面で正反射する光（以下、「ｘ°実質正反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ３２０）と、
（ｉｉｉ）前記第１の表面により反射される反射光の受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される第３の光（以下、「ｘ°実質全反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ３３０）と、
（ｉｖ）以下の（２）式から

ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°＝
（ｘ°実質全反射光の輝度−ｘ°実質正反射光の輝度）／
（ｘ°実質全反射光の輝度） （２）式

ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°を算定するステップ（ステップＳ３４０）と、
を有する。

以下、各ステップについて説明する。

（ステップＳ３１０）
まず、透明基体の第２の表面に、光の反射を防止する処理が実施される。この処理は、以降のステップで実施される各測定において、非対象表面からの反射の影響を排除するために実施される。

前述のように、光の反射を防止する処理の種類は、特に限られない。例えば、透明基体の第２の表面に黒色インク層を設置して、この表面からの光の反射を防止しても良い。あるいは、別の方法で、第２の表面からの光の反射を防止しても良い。

（ステップＳ３２０）
次に、透明基体の評価対象表面、すなわち第１の表面の側から、前記透明基体の厚さ方向に対してｘ°（ｘは２０または４５）の方向に第３の光を照射し、前記第１の表面で正反射する光（以下、「ｘ°実質正反射光」ともいう）の輝度が測定される。

例えば、透明基体の第１の表面の側に、厚さ方向に対して２０°の方向に第３の光を照射した場合、第１の表面で正反射する光の輝度を測定することにより、２０°実質正反射光の輝度が測定される。

また、透明基体の第１の表面の側に、厚さ方向に対して４５°の方向に第３の光を照射した場合、第１の表面で正反射する光の輝度を測定することにより、４５°実質正反射光の輝度が測定される。

（ステップＳ３３０）
次に、第１の表面で反射される反射光の受光角度を、ｘ−３０°〜ｘ＋３０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される第３の光（以下、「ｘ°実質全反射光」ともいう）の輝度を測定する。

例えば、透明基体の第１の表面の側に、厚さ方向に対して２０°の方向に第３の光を照射した場合、第１の表面で反射される反射光の受光角度を、−１０°〜５０°の範囲で変化させ、第１の表面で反射される第３の光の輝度を測定することにより、２０°実質全反射光の輝度が測定される。

また、透明基体の第１の表面の側に、厚さ方向に対して４５°の方向に第３の光を照射した場合、第１の表面で反射される反射光の受光角度を、１５°〜７５°の範囲で変化させ、第１の表面で反射される第３の光の輝度を測定することにより、４５°実質全反射光の輝度が測定される。

（ステップＳ３４０）
次に、得られた結果を用いて、以下の（２）式から

ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°＝
（ｘ°実質全反射光の輝度−ｘ°実質正反射光の輝度）／
（ｘ°実質全反射光の輝度） （２）式

第１の表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°が算定される。

すなわち、以下の（８）式から

２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°＝
（２０°実質全反射光の輝度−２０°実質正反射光の輝度）／
（２０°実質全反射光の輝度） （８）式

第１の表面における２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°が得られ、以下の（９）式から

４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°＝
（４５°実質全反射光の輝度−４５°実質正反射光の輝度）／
（４５°実質全反射光の輝度） （９）式

第１の表面における４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°が得られる。

第２の表面における２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°も、対象表面を第２の表面として、同様の方法を実施することにより得ることができる。

このようにして得られた各表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）は、非対象表面における反射像拡散性の影響を排除した状態で、対象表面における反射像拡散性を推し量る指標として使用することができる。

特に、２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°と４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°の間に、

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

が成立する場合、４５°で見た反射像拡散性よりも２０°で見た反射像拡散性が高いことを意味する。同じ透過像鮮明性で同じＲｂ４５°のサンプルがあった場合、（１）式を満たせば、Ｒｂ２０°がより高くなるので、実際に画面を見る角度（厚さ方向に対して０°付近）では、良好な反射像拡散性（高い反射像拡散性指標値Ｒ）と良好な透過像鮮明性（低い解像度指標値Ｔ）とを兼ね備える透明基体を提供することができる。評価対象である対象表面の反射面の凹凸形状が大きいと（１）式を満たさず、小さいと（１）式を満たす傾向があり、前述したとおり、（１）式は表面形状の相違を反映するものと言える。

このような測定は、市販のゴニオメータ（変角光度計）を使用することにより、容易に実施できる。

次に、本発明の実施例について説明する。

（例１）
以下の手順により、ガラス基板の両表面に凹凸形状を形成した。

まず、縦１００ｍｍ×横１００ｍｍ×厚さ０．７ｍｍのガラス基板を準備した。ガラス基板は、ソーダライムガラスであり、化学強化処理は実施していない。

次に、このガラス基板を、２ｗｔ％フッ化水素および３ｗｔ％フッ化カリウムを含むフロスト処理液に３分間浸漬して、予備エッチング処理を行った。さらに、ガラス基板を洗浄後、７．５ｗｔ％フッ化水素および７．５ｗｔ％塩化水素を含む水溶液中に１８分間浸漬した（本エッチング処理）。

これにより、両表面に同様の凹凸形状を有するガラス基体（例１に係るガラス基体）が得られた。

（例２〜例１２）
例１と同様の方法で、両表面に凹凸形状を有するガラス基体（例２〜例１２に係るガラス基体）を製造した。ただし、例２〜例１２では、予備エッチング処理および／または本エッチング処理における条件を変化させることにより、例１の場合とは表面凹凸形態が異なる１１種類のガラス基体を製造した。

（評価）
前述の方法で製造した各ガラス基体を用いて、以下の評価を行った。

（表面粗さ測定）
表面粗さ計（ＰＦ−６０：三鷹光器社製）を用いて、例１〜例１２に係るガラス基体の表面粗さを測定した。測定指標は、二乗平均平方根粗さＲｑ、表面の粗さ曲線要素の平均長さＲＳｍ、および算術平均粗さＲａとした。これらの測定にあたっては、ＪＩＳ Ｂ０６０１：２００１に準拠して実施した。

各例に係るガラス基体において得られた結果を、表１の「表面粗さ測定結果」の欄にまとめて示す。

いずれの例に係るガラス基体においても、第１の表面と第２の表面において、ほぼ同様の結果が得られた。従って、表１には、何れか一方の表面で得られた結果のみが示されている。

これらの結果から、例１〜例３に係るガラス基体では、例４〜例１２に係るガラス基体に比べて、比較的微細な凹凸が短い周期で形成されていることがわかる。

（解像度指標値Ｔの測定）
前述の図２に示したような方法で、各例に係るガラス基体における解像度指標値Ｔを測定した。測定には、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を使用した。

解像度指標値Ｔの測定は、それぞれの表面に対して実施した。また、得られた２つの解像度指標値のうち、大きい方の値を、そのガラス基体の解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）として採用した。

前述の表１の「解像度指標値Ｔ」の欄には、各例に係るガラス基体において得られた結果をまとめて示した。

この結果から、例１〜例３に係るガラス基体では、０．２未満の比較的小さな解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）が得られており、これらの例に係るガラス基体では、良好な透過像鮮明性が得られていることがわかる。

（Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°の評価）
前述の図７に示したような方法で、例１〜例１２に係るガラス基体におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）を測定した。測定には、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を使用した。

測定は、第２の表面に黒色インクを塗布して光吸収する状態として、第１の表面に対して実施した。

次に、各例に係るガラス基体の第１の表面において得られたｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ここで、ｘは２０または４５である）を使用して、Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°の値を算出した。

前述の表１の「ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°」および「Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°」の欄には、それぞれ、各例に係るガラス基体において得られたＲｂ２０°、Ｒｂ４５°、およびＲｂ２０°−Ｒｂ４５°の値をまとめて示した。

各例に係るガラス基体において、同様の評価を、第１の表面に黒色インクを塗布した状態で、第２の表面に対して実施した。その結果、第２の表面においても、第１の表面とほぼ同様の結果が得られることが確認された。

図８には、Ｒｂ２０°（横軸）とＲｂ４５°（縦軸）で表される領域に、例１〜例１２に係るガラス基体のそれぞれにおいて得られた、（Ｒｂ２０°，Ｒｂ４５°）の関係をプロットしたグラフを示す。

図８において、直線は、Ｒｂ４５°＝Ｒｂ２０°＋０．０５の関係を示している。従って、図８のハッチング領域Ｓは、（１）式

Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°≧０．０５ （１）式

を満たす領域に対応する。

この図から、例４〜例１２に係るガラス基体は、（Ｒｂ２０°，Ｒｂ４５°）の関係が、前述の（１）式を満たさない領域にあるのに対して、例１〜例３に係るガラス基体は、（Ｒｂ２０°，Ｒｂ４５°）の関係が、前述の（１）式を満たす領域にあることがわかる。

図９には、例１〜例１２に係るそれぞれのガラス基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°（縦軸）の関係を示す。

この図９から、例１〜例３に係るガラス基体の各点は、例４〜例１２に係るガラス基体の各点に比べて、左上側、すなわち解像度指標値Ｔが小さく、２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°が大きいことを示す領域に存在することがわかる。

この結果から、Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°の値が前述の（１）式を満たすような表面を有する、例１〜例３に係るガラス基体は、（１）式を満たさない表面を有する例４〜例１２に係るガラス基体に比べて、良好な透過像鮮明性および良好な反射像拡散性を発揮し得ると予想される。

（例２１〜例２３）
前述の例１と同様の方法で、両表面に凹凸形状を有するガラス基体（例２１〜例２３に係るガラス基体）を製造した。

ただし、例２１〜例２２では、予備エッチング処理および／または本エッチング処理における条件を変化させることにより、例１の場合とは表面凹凸形態が異なるガラス基体を製造した。

例２３に係るガラス基体の予備エッチング処理および本エッチング処理条件は、例２１に係るガラス基体と同様である。ただし、例２３に係るガラス基体の製造の際には、予備エッチング処理および本エッチング処理の前に、第２の表面に、マスク用のフィルムを貼り付け、第１の表面にのみ、凹凸形状を形成した。

（評価）
（表面粗さ測定および解像度指標値Ｔの測定）
前述の例１〜例１２の場合と同様の方法で、例２１〜例２３に係るガラス基体の表面粗さ測定、および解像度指標値Ｔの測定を実施した。なお、例２３に係るガラス基体においては、第１の表面を対象表面として、表面粗さ測定および解像度指標値Ｔの測定を実施した。

以下の表２の「表面粗さ測定結果」および「解像度指標値Ｔ」の欄には、例２１〜例２３に係るガラス基体の表面粗さ測定および解像度指標値Ｔの測定の結果をまとめて示した。

この結果から、例２１および例２３に係るガラス基体では、０．１未満の比較的小さな解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）が得られており、これらのガラス基体では、良好な透過像鮮明性が得られていることがわかる。これに対して、例２２に係るガラス基体では、解像度指標値Ｔ（Ｔ_ｍａｘ）は０．２程度であり、例２１および例２３に係るガラス基体に比べて、良好な透過像鮮明性が得られていないことがわかる。

（Ｒｂ２０°−Ｒｂ４５°の評価）
前述の例１〜例１２の場合と同様の方法で、例２１および例２２に係るガラス基体におけるＲｂ２０°−Ｒｂ４５°の値を算出した。

その結果、例２１に係るガラス基体の場合、第１および第２のいずれの表面でも、Ｒｂ２０°とＲｂ４５°の関係が、前述の（１）式を満たすことがわかった。一方、例２２に係るガラス基体の場合、第１および第２のいずれの表面も、Ｒｂ２０°とＲｂ４５°の関係が、前述の（１）式を満たさないことがわかった。

（反射像拡散性指標値の測定）
前述の図５に示したような方法で、例２１〜例２３に係るガラス基板における反射像拡散性指標値Ｒを測定した。測定には、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を使用した。

例２１および例２２に係るガラス基体では、それぞれの表面に対して、反射像拡散性指標値Ｒの測定を実施した。また、得られた２つの反射像拡散性指標値のうち、小さい方の値を、そのガラス基体の反射像拡散性指標値Ｒ（Ｒ_ｍｉｎ）として採用した。

これに対して、例２３に係るガラス基体では、凹凸形状を有する第１の表面が検出器側になるようにして測定を行い、反射像拡散性指標値Ｒを得た。

前述の表２の「反射像拡散性指標値Ｒ」の欄には、各例に係るガラス基体において得られた反射像拡散性指標値Ｒの測定結果をまとめて示した。

図１０には、例２１〜２３に係るそれぞれのガラス基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）の関係を示す。

図１０から、例２１に係るガラス基体のプロット点は、例２２および例２３に係るガラス基体に比べて左上の領域に存在し、解像度指標値Ｔが小さく、反射像拡散性指標値Ｒが大きくなっていることがわかる。すなわち、例２１に係るガラス基体は、良好な透過像鮮明性および良好な反射像拡散性を有する。

このように、第１の表面および第２の表面がともに前述の（１）式を満たすように、第１の表面および第２の表面に凹凸形状を形成することにより、従来に比べて、透過像鮮明性および反射像拡散性がともに良好なガラス基体を提供できることがわかった。

本発明は、例えば、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置のような、各種表示装置等に設置されるカバー部材等に利用することができる。

１１０ 第１の透明基体
１１２ 第１の表面
１３２ 第２の表面
２００ 測定装置
２１０ 透明基体
２１２ 第１の表面
２３２ 第２の表面
２５０ 光源
２６２ 第１の光
２６４ 透過光
２７０ 検出器
３００ 測定装置
３５０ 光源
３６２ 第２の光
３６４ 反射光
３７０ 検出器

Claims (5)

1. 相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体であって、
   前記第１および第２の表面には、凹凸形状が形成されており、
   前記第１および第２のそれぞれの表面において、以下の方法で得られる２０°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ２０°および４５°実質反射像拡散性指標値Ｒｂ４５°がそれぞれ、０．８〜０．９および０．５８〜０．８２であり、
   以下の方法で得られる解像度指標値Ｔが０．１１〜０．１７である、透明基体：
   ここで、前記第１および第２の表面のうち、評価対象となる対象表面におけるｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°（ｘは２０または４５である）は、
   当該透明基体の前記第１および第２の表面のうち、非評価対象となる非対象表面に、光の反射を防止する処理を施した状態で、
   当該透明基体の前記対象表面側から、当該透明基体の厚さ方向に対してｘ°傾斜した方向に光を照射し、前記対象表面で反射する正反射光（ｘ°実質正反射光という）の輝度を測定し、
   前記対象表面で反射する反射光の受光角度をｘ−３０°〜ｘ＋３０°の範囲で変化させ、前記対象表面で反射する全反射光（ｘ°実質全反射光という）の輝度を測定することにより、
   以下の（２）式
   
   ｘ°実質反射像拡散性指標値Ｒｂｘ°＝
   （ｘ°実質全反射光の輝度−ｘ°実質正反射光の輝度）／
   （ｘ°実質全反射光の輝度） （２）式
   
   から算出される。
   また、前記解像度指標値Ｔは、
   当該透明基体の前記第２の表面側から、当該透明基体の厚さ方向と平行な方向に第２の光を照射し、前記第１の表面から当該透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（０°透過光という）の輝度を測定し、
   前記第２の光の前記第１の表面に対する受光角度を−３０°〜＋３０°の範囲で変化させ、前記第１の表面側から透過する全透過光の輝度を測定し、
   以下の（３）式から
   
   解像度指標値Ｔ１＝
   （全透過光の輝度−０°透過光の輝度）／（全透過光の輝度） （３）式
   
   前記第１の表面における解像度指標値Ｔ１を算定し、
   同様の測定を前記第２の表面に対して実施し、前記第２の表面における解像度指標値Ｔ２を算定し、
   Ｔ１とＴ２のうち、大きい方の値を解像度指標値Ｔとして採用することにより得られる。
2. 前記第１および／または前記第２の表面において、
   粗さ曲線要素の平均長さＲＳｍは、２５μｍ以下であり、
   二乗平均平方根粗さＲｑは、０．３μｍ以下であることを特徴とする請求項１に記載の透明基体。
3. 当該透明基体は、前記解像度指標値Ｔが０．１未満であることを特徴とする請求項１または２に記載の透明基体。
4. 当該透明基体は、ガラスであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一つに記載の透明基体。
5. 当該透明基体の少なくとも一方の表面の少なくとも一部に黒色インクが塗布されている、請求項１乃至４のいずれか一つに記載の透明基体。

Images