DE102015006683A1

DE102015006683A1 - Transparente Basis

Info

Publication number: DE102015006683A1
Application number: DE102015006683.8A
Authority: DE
Inventors: Masanobu Isshiki
Original assignee: Asahi Glass Co Ltd
Current assignee: AGC Inc
Priority date: 2014-05-26
Filing date: 2015-05-22
Publication date: 2015-11-26
Also published as: JP6696598B2; US20150338551A1; JP2016006498A; JP2019070857A; JP6477231B2

Abstract

Eine transparente Basis hat eine erste Fläche, die texturiert ist, und eine zweite Fläche, die texturiert ist und sich auf einer Seite der transparenten Basis befindet, die der ersten Fläche gegenüberliegt. Ein 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes Rb20° und ein 45° Indexwert der effektiven Diffusion Rb45°, die zur Evaluation der ersten und der zweiten Fläche verwendet werden, erfüllen eine Beziehung Rb20° – Rb45° ≥ 0,05.

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG
1. Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine transparente Basis, die beispielsweise für ein Abdeckungselement einer Anzeigevorrichtung oder dergleichen verwendet werden kann.
2. Beschreibung der verwandten Technik
Im Allgemeinen ist eine Anzeigevorrichtung, wie eine LCD (Flüssigkristallanzeige-)Vorrichtung, mit einem Abdeckungselement versehen. Dieses Abdeckungselement wird durch eine transparente Basis gebildet und ist angeordnet, die Anzeigevorrichtung zu schützen.
In einem Fall jedoch, in dem eine derartige transparente Basis auf der Anzeigevorrichtung bereitgestellt ist, kommt es oftmals dazu, wenn ein von der Anzeigevorrichtung angezeigtes Bild durch die transparente Basis hindurch betrachtet wird, dass reflektierte Blendlichter bzw. Spiegelungen von Objekten in der Umgebung oder ähnliches auftreten. Es wird für einen Betrachter schwer, das angezeigte Bild zu sehen wenn ein reflektiertes Blendlicht in der transparenten Basis auftritt, und das reflektierte Blendlicht kann dem Betrachter einen unangenehmen oder unkomfortablen Eindruck geben.
Um reflektierte Blendlichter zu unterdrücken gibt daher es Fälle, in denen eine Oberfläche der transparenten Basis einer Behandlung unterworfen (oder texturiert) wird, um diese blendfrei zu machen bzw. zu entspiegeln.
Der Stand der Technik kann denjenigen umfassen, der beispielsweise in der japanischen Offenlegungsschrift 2012-014051 vorgeschlagen wird.
Wie oben beschrieben wird die transparente Basis oftmals einer Behandlung unterworfen, um diese blendfrei zu machen, um das reflektierte Blendlicht, das von dem umgebenden Licht verursacht wird, zu unterdrücken.
In gegenwärtigen transparenten Basen gibt es Fälle, in denen Eigenschaften, wie eine Klarheit des transmittierten Bildes, und eine Diffusion eines reflektierten Bildes, gleichzeitig benötigt werden, zusätzlich zu dem Effekt, das von dem umgebenden Licht verursachte reflektierte Blendlicht zu unterdrücken.
Im Allgemeinen haben die Klarheit des transmittierten Bildes und die Diffusion des reflektierten Bildes jedoch komplementäre Tendenzen, und es ist schwierig, diese zwei Eigenschaften gleichzeitig zu erfüllen.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Dementsprechend ist es eine Aufgabe, in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, eine transparente Basis bereitzustellen, welche gleichzeitig eine Klarheit des transmittierten Bildes und die Diffusion des reflektierten Bildes erfüllen kann, wenn verglichen mit dem Stand der Technik.
Gemäß einer Ausführungsform umfasst eine transparente Basis eine erste Fläche bzw. Oberfläche auf, die texturiert bzw. strukturiert ist, und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche, die texturiert bzw. strukturiert ist und sich auf einer Seite der transparenten Basis befindet, die der ersten Fläche bzw. Oberfläche gegenüber liegt, wobei ein 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und ein 45° Indexwert der effektiven Diffusion R_b45°, die zur Evaluation der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche verwendet werden, eine Beziehung R_b20° – R_b45° ≥ 0,05 erfüllen, wobei ein x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° einer Zieloberfläche, die zu Evaluieren ist, in einem Zustand, in dem eine Nicht-Ziel-Oberfläche der transparenten Basis, die kein Ziel der Evaluierung ist, einer Behandlung unterworfen wurde, die eine Reflexion von Licht verhindert, nach einer Formel R_bx° = (L_strx° – L_srrx°)/L_strx° berechnet wird, indem Licht in eine Richtung strahlt, die um x° mit Bezug auf eine Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, von der Seite der Zieloberfläche der transparenten Basis, eine Luminanz eines regulären Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, gemessen wird, ein Akzeptanzwinkels des regulären Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von x – 30° bis x + 30° variiert wird, und die Luminanz eines gesamten Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, gemessen wird, wobei sich die Dickenrichtung der transparenten Basis auf eine Richtung bezieht, in der eine Dicke der transparenten Basis genommen oder gemessen wird, R_bx° einen x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes bezeichnet, L_strx° eine Luminanz des x° effektiven gesamten Reflexionsstrahls bezeichnet, L_srrx° eine Luminanz des x° effektiven regulären Reflexionsstrahls bezeichnet, und x 20 oder 45 ist.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 ist eine perspektivische Ansicht, welche schematisch ein Beispiel einer transparenten Basis in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
2 ist ein Flussdiagramm zum Erläutern, auf allgemeine Weise, eines Verfahrens zum Erlangen eines Auflösungsindexwerts der transparenten Basis;
3 ist eine Seitenansicht, welche schematisch ein Beispiel einer Messvorrichtung zeigt, welche beim Erlangen des Auflösungsindexwerts verwendet wird;
4 ist ein Graph, der ein Beispiel einer Beziehung zwischen einem beobachteten Beurteilungsergebnis (Ordinate) eines Auflösungsniveaus und einem Auflösungsindexwert T (Abszisse) zeigt, die erhalten wurden für jede transparente Basis;
5 ist ein Flussdiagramm zum Erläutern, auf allgemeine Weise, eines Verfahrens zum Erlangen eines Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis;
6 ist eine Seitenansicht, welche ein Beispiel einer Messvorrichtung zeigt, welche verwendet wird, wenn der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes erlangt wird;
7 ist ein Flussdiagramm zum Erläutern, auf allgemeine Weise, eines Verfahrens zum Erlangen eines Diffusionsindexwerts R_bx° eines x° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) effektiv reflektierten Bildes an einer ersten Oberfläche der transparenten Basis;
8 ist ein Diagramm, das eine graphische Darstellung einer Beziehung (R_b20°, R_b45°) zeigt, erhalten für Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 1 bis Bsp. 12, in Bereichen, die durch R_b20° (Abszisse) und R_b45° (Ordinate) repräsentiert werden;
9 ist ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen dem Auflösungsindexwert T (Abszisse) und dem Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° (Ordinate) des effektiv reflektierten Bildes zeigt, erhalten für die Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 1 bis Bsp. 12; und
10 ist ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen dem Auflösungsindexwert T (Abszisse) und dem Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R (Ordinate) des reflektierten Bildes zeigt, erhalten für die Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 21 bis Bsp. 23.
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Im Nachfolgenden werden Ausführungsformen der Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben.
Wie oben beschrieben gibt es in einer transparenten Basis, die einer Behandlung unterworfen wurde, um diese blendfrei zu machen bzw. zu entspiegeln, Fälle, in denen es wünschenswert ist, die Klarheit eines transmittierten Bildes und die Diffusion eines reflektierten Bildes zu verbessern. Im Allgemeinen gibt es jedoch eine Trade-Off-Beziehung zwischen der Klarheit eines transmittierten Bildes und der Diffusion eines reflektierten Bildes. Aus diesem Grund ist es derzeit relativ schwierig, gleichzeitig die Klarheit eines transmittierten Bildes und die Diffusion eines reflektierten Bildes zu verbessern
Die ”Diffusion eines reflektierten Bildes” ist eine Eigenschaft, die ein Ausmaß anzeigt, zu dem das reflektierte Bild eines Objekts (beispielsweise eine Beleuchtung), die in der Umgebung der transparenten Basis angeordnet ist, mit Bezug auf das ursprüngliche Objekt übereinstimmt. Umso größer die ”Diffusion eines reflektierten Bildes” ist, umso großer ist die Blendfreiheit bzw. Entspiegelung der transparenten Basis
Andererseits weist, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, eine transparente Basis eine erste Fläche bzw. Oberfläche und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche auf entgegengesetzten Seiten davon auf, und die erste und die zweite Oberfläche sind texturiert bzw. strukturiert. Wenn ein 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und ein 45° effektiver reflektierter Diffusionsindexwert R_b45°, die durch das nachfolgende Verfahren erhalten werden, für eine Evaluation sowohl der ersten als auch der zweiten Fläche bzw. Oberfläche verwendet werden, ist die folgende Beziehung (1) erfüllt. R_b20° – R_b45° ≥ 0,05 (1)
Ein x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist 20 oder 45) einer Zieloberfläche, die zu evaluieren ist, in einem Zustand, in dem eine Nicht-Ziel-Oberfläche, die kein Ziel der Evaluierung der transparenten Basis ist, einer Behandlung unterworfen wurde, die eine Reflexion von Licht verhindert, kann berechnet werden aus der folgenden Formel (2), indem Licht in einer Richtung strahlt bzw. scheinen gelassen wird, die um x° geneigt ist mit Bezug auf eine Dickenrichtung der transparenten Basis, von Seiten der Zieloberfläche der transparenten Basis, eine Luminanz eines regulären Reflexionsstrahl (hiernach auch bezeichnet als ein ”x° effektiver regulärer Reflexionsstrahl”), der von der Zieloberfläche reflektiert wird, gemessen wird, ein Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von x – 30° bis x + 30° variiert wird, und die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als an ”x° effektiver gesamter Reflexionsstrahl”), der von der Zieloberfläche reflektiert wird, gemessen wird. Die Dickenrichtung der transparenten Basis bezieht sich auf eine Richtung, in der eine Dicke der transparenten Basis genommen oder gemessen wird. In der Formel (2) bezeichnet R_bx° den x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes, L_strx° bezeichnet die Luminanz des x° effektiven gesamten Reflexionsstrahls, und L_srrx° bezeichnet die Luminanz des x° effektiven regulären Reflexionsstrahls. R_bx° = (L_strx° – L_srrx°)/L_strx° (2)
Obwohl in diesem Beispiel angenommen wird, dass der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, in dem Bereich von x – 30° bis x + 30° ist, kann der Akzeptanzwinkel innerhalb eines größeren Bereichs eingestellt werden, da eine Lichtmenge, die in dem größeren Bereich beobachtet wird, im Wesentlichen Null (0) ist und sich die gemessene Luminanz des x° effektiven gesamten Reflexionsstrahls L_stx° praktisch nicht ändert, wenn der Akzeptanzwinkel in dem Bereich eingestellt wird, der größer ist als der Bereich von x – 30° bis x + 30°.
Der Erfinder der vorliegenden Erfindung hat festgestellt, dass in einem Fall, in dem nur eine erste Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, welche die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, zur Blendfreiheit behandelt ist, und die transparente Basis von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche betrachtet wird, sich die Diffusion eines reflektierten Bildes verschlechtert auf Grund der Effekte der Reflexion von der zweiten Fläche bzw. Oberfläche, die nicht zur Blendfreiheit behandelt ist. Darüber hinaus hat, basierend auf dieser Feststellung, der Erfinder der vorliegenden Erfindung weiter festgestellt, dass wenn die Reflexion von der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis unterdrückt wird, die Diffusion eines reflektierten Bildes verbessert werden kann für den Fall, in dem die transparente Basis von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche betrachtet wird.
Dementsprechend sind in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert bzw. strukturiert.
Gemäß Ergebnissen von Experimenten, welche durch den Erfinder der vorliegenden Erfindung ausgeführt wurden, wurde bestätigt, dass es in einem Fall, in dem sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert sind, nochmals schwieriger wird, gleichzeitig sowohl die Klarheit des transmittierten Bildes als auch die Diffusion eines reflektierten Bildes zu verbessern, wenn verglichen mit einem Fall, in dem nur eine von der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche texturiert ist. Zum Beispiel kann in dem Fall, in dem sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert sind, die Diffusion eines reflektierten Bildes sich verbessern, während die Klarheit des transmittierten Bildes sich verschlechtert, oder es kann ein umgekehrtes Verhalten beobachtet werden, in dem die Klarheit des transmittierten Bildes sich verbessert, während die Diffusion eines reflektierten Bildes sich verschlechtert.
Andererseits wurde gemäß den Ergebnissen der Experimente, welche von dem Erfinder der vorliegenden Erfindung durchgeführt wurden, bestätigt, dass sowohl die Klarheit des transmittierten Bildes als auch die Diffusion eines reflektierten Bildes gleichzeitig signifikant verbessert werden können in einem Fall, in dem sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert sind, so dass sie eine vorbestimmte Bedingung erfüllen.
Entsprechend sind in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert, um die oben beschriebene Beziehung (1) zu erfüllen, unter Verwendung des 20° Indexwerts der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und des 45° effektiven reflektierten Diffusionsindexwerts R_b45°.
Der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, in einem Zustand, in dem die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis der Behandlung unterworfen wurde, welche eine Reflexion von Licht verhindert, kann nach der folgenden Formel (3) berechnet werden, indem Licht in einer Richtung scheinen gelassen wird, die um 20° geneigt ist mit Bezug auf eine Dickenrichtung der transparenten Basis, von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, die Luminanz des regulären Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als an ”20° effektiver regulärer Reflexionsstrahl”), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, gemessen wird, der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von –10° bis +50° variiert wird, und die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls (hiernach auch als ein ”20° effektiver gesamter Reflexionsstrahl” bezeichnet), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, gemessen wird. In der Formel (3) bezeichnet R_b20° den 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes, L_str20° bezeichnet die Luminanz des 20° effektiven gesamten Reflexionsstrahls, und L_srr20° bezeichnet die Luminanz des 20° effektiven regulären Reflexionsstrahls. R_b20° = (L_str20° – L_srr20°)/L_str20° (3)
Obwohl in diesem Beispiel angenommen wird, dass der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in dem Bereich von –10° bis +50° ist, kann der Akzeptanzwinkel innerhalb eines größeren Bereichs eingestellt werden, da die Menge an Licht, die in dem größeren Bereich beobachtet werden kann, im Wesentlichen Null (0) ist, und die gemessene Luminanz des 20° effektiven gesamten Reflexionsstrahls L_st20° sich praktisch nicht ändert, wenn der Akzeptanzwinkel in dem Bereich eingestellt wird, der größer ist als der Bereich von –10° bis +50°.
Auf ähnliche Weise kann der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, in einem Zustand, in dem die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis der Behandlung unterworfen wurde, die eine Reflexion von Licht verhindert, berechnet werden nach der folgenden Formel (4), indem Licht in eine Richtung strahlt, die um 45° mit Bezug auf eine Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, die Luminanz des regulären Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als ein ”45° effektiver regulärer Reflexionsstrahl”), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, gemessen wird, der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von +15° bis +75° variiert wird, und die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als ein ”45° effektiver gesamter Reflexionsstrahl”), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, gemessen wird. In der Formel (4) bezeichnet R_b45° den 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes, L_str45° bezeichnet die Luminanz des 45° effektiven gesamten Reflexionsstrahls, und L_srr45° bezeichnet die Luminanz des 45° effektiven regulären Reflexionsstrahls. R_b45° = (L_str45° – L_srr45°)/L_str45° (4)
Obwohl in diesem Beispiel angenommen wird, dass der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in dem Bereich von +15° bis +75° ist, kann der Akzeptanzwinkel innerhalb eines größeren Bereichs eingestellt werden, da die Lichtmenge, die in dem größeren Bereich beobachtet wird, im Wesentlichen Null (0) ist und sich die gemessene Luminanz des 45° effektiven gesamten Reflexionsstrahls L_str45° sich praktisch nicht ändert, wenn der Akzeptanzwinkel in dem Bereich eingestellt wird, der größer ist als der Bereich von +15° bis +75°.
Der negative (minus, oder ”–”) Winkel, welcher eine Begrenzung des Akzeptanzwinkels des Reflexionsstrahls definiert, zeigt an, dass sich der Akzeptanzwinkel auf der Seite des einfallenden Lichts befindet, im Vergleich zu einer Normalen auf die Zieloberfläche (die erste Oberfläche in diesem Beispiel), die das Ziel der Evaluierung ist. Andererseits zeigt der positive (plus, oder ”+”) Winkel, der eine Begrenzung des Akzeptanzwinkels des Reflexionsstrahls definiert, an, dass sich der Akzeptanzwinkel nicht auf der Seite des einfallenden Lichts befindet, im Vergleich zu der Normalen auf die Zieloberfläche (die erste Oberfläche in diesem Beispiel), die das Ziel der Evaluierung ist.
Der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) auf der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, in einem Zustand, in dem die erste Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis der Behandlung unterworfen wurde, welche eine Reflexion von Licht verhindert, kann auf eine Weise ähnlich zu der obigen evaluiert werden.
Die ”Behandlung, welche eine Reflexion von Licht verhindert”, mit Bezug auf eine gewisse Fläche bzw. Oberfläche, umfasst ein Schwärzen der gewissen Fläche bzw. Oberfläche, beispielsweise indem schwarze Tinte oder ähnliches auf die gewisse Fläche bzw. Oberfläche aufgebracht wird.
Indem durch das Texturieren die Textur auf der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche ausgebildet wird, so dass die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt wird, kann gleichzeitig sowohl die Klarheit des transmittierten Bildes als auch die Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis signifikant verbessert werden wenn verglichen mit dem herkömmlichen Fall.
So lange die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt ist können die Texturen, die auf der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche ausgebildet sind, ähnlich sein oder können unterschiedlich sein
(Transparente Basis in einer Ausführungsform)
Als nächstes wird eine Beschreibung der transparenten Basis in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben.
1 ist eine perspektivische Ansicht, welche schematisch ein Beispiel der transparenten Basis (hiernach auch als eine ”erste transparente Basis” bezeichnet) in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt
Wie in 1 gezeigt weist eine erste transparente Basis 110 eine erste Fläche bzw. Oberfläche 112 und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche 132 auf gegenüberliegenden Seiten davon auf. Sowohl die erste Fläche bzw. Oberfläche 112 als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche 132 ist texturiert.
Die erste transparente Basis 110 kann aus jedem beliebigen Material gebildet sein, solange das Material transparent bzw. lichtdurchlässig ist. Die erste transparente Basis 110 kann zum Beispiel aus Glas, Plastik oder ähnlichem gebildet sein.
In einem Fall, in dem die erste transparente Basis 110 aus Glas gebildet ist, ist eine Zusammensetzung des Glases nicht auf eine bestimmte Glaszusammensetzung beschränkt. Das Glas kann zum Beispiel ein Kalk-Natron-Glas, ein Aluminosilikat-Glas oder ähnliches sein.
Darüber hinaus kann in einem Fall, in dem die erste transparente Basis 110 aus Glas gebildet ist, die erste Fläche bzw. Oberfläche 112 und/oder die zweite Fläche bzw. Oberfläche 132 chemisch gehärtet sein.
Das chemische Härten bezieht sich auf eine generische Technik, in der ein Glassubstrat in eine Salzschmelze eingetaucht wird, die ein Alkalimetall enthält, und das Alkalimetall (Ionen), das einen kleinen Ionenradius aufweist und auf einer obersten Oberfläche des Glassubstrats existiert, substituiert wird durch das Alkalimetall (Ionen), das einen großen Ionenradius aufweist und in der Salzschmelze existiert. Gemäß dem chemischen Härten wird das Alkalimetall (Ionen), das einen Ionenradius aufweist, der größer ist als derjenige des ursprünglichen Atoms, auf der behandelten Fläche bzw. Oberfläche des Glassubstrats angeordnet. Aus diesem Grund kann eine komprimierende Beanspruchung auf die Fläche bzw. Oberfläche des Glassubstrats angewandt werden, um dadurch die Stärke (insbesondere eine Bruchstärke) des Glassubstrats zu verbessern.
In einem Fall zum Beispiel, in dem das Glassubstrat Natriumionen (Na⁺) aufweist substituiert das chemische Härten die Natriumionen beispielsweise durch die Kaliumionen (K⁺). Alternativ kann in einem Fall, in dem das Glassubstrat beispielsweise Lithiumionen (Li⁺), aufweist, das chemische Härten die Lithiumionen zum Beispiel durch Natriumionen (Na⁺) und/oder Kaliumionen (K⁺) substituieren.
Andererseits ist in einem Fall, in dem die erste transparente Basis 110 aus einem Kunststoff gebildet wird, eine Zusammensetzung des Kunststoffs nicht auf eine bestimmte Kunststoffzusammensetzung beschränkt. Die erste transparente Basis 110 kann beispielsweise durch ein Polycarbonatsubstrat gebildet werden.
Abmessungen und eine Form der ersten transparenten Basis 110 sind nicht auf bestimmte Abmessungen und Formen beschränkt. Zum Beispiel kann die erste transparente Basis 110 eine quadratische Form, eine rechteckige Form, eine kreisförmige Form, eine ovale Form oder ähnliches aufweisen.
In einem Fall, in dem die erste transparente Basis 110 als eine Schutzabdeckung einer Anzeigevorrichtung verwendet wird ist die erste transparente Basis 110 vorzugsweise dünn. Zum Beispiel kann eine Dicke der ersten transparenten Basis 110 in einem Bereich von 0,2 mm bis 1,0 mm sein.
Wie oben beschrieben ist sowohl die erste Fläche bzw. Oberfläche 112 als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche 132 der ersten transparenten Basis 110 texturiert bzw. strukturiert.
Die Textur bzw. Struktur, das heißt, konkav-konvexe Formen oder Wellungen der ersten Fläche bzw. Oberfläche 112 und der zweite Fläche bzw. Oberfläche 132, können durch jedes geeignete beliebige geeignete Verfahren ausgebildet werden. Die Texturierung kann zum Beispiel durch mattieren, ätzen, sandstrahlen, läppen, Siliziumdioxid-beschichten oder ähnliches ausgebildet werden.
Die Textur, die auf der ersten Fläche bzw. Oberfläche 112 ausgebildet ist, ist so ausgebildet, dass die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt wird, wenn evaluiert unter Verwendung des 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und des 45° Indexwerts der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45°, die durch das oben beschriebene Verfahren erhalten werden. Die Textur der zweiten Fläche bzw. Oberfläche 132 kann auf ähnliche Weise ausgebildet werden, so dass die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt ist.
Indem die erste Fläche bzw. Oberfläche 112 und die zweite Fläche bzw. Oberfläche 132 der ersten transparenten Basis 110 auf diese Weise ausgebildet werden, wird es möglich, gleichzeitig sowohl die Klarheit des transmittierten Bildes als auch die Diffusion eines reflektierten Bildes zu verbessern, wenn verglichen mit dem herkömmlichen Fall.
An der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche 112 und 132 der ersten transparenten Basis 110 ist eine durchschnittliche Länge R_Sm eines Oberflächenrauheitkurvenelements auf der Fläche bzw. Oberfläche 25 μm oder weniger, bevorzugt 20 μm oder weniger, und besonders bevorzugt 15 μm oder weniger. Da die Fähigkeit, Licht zu streuen, kleiner wird, wenn die durchschnittliche Länge R_Sm einen vorbestimmten Betrag kleiner als die Wellenlänge des Lichts wird, ist darüber hinaus die durchschnittliche Länge R_Sm 1 μm oder mehr, bevorzugt 3 μm oder mehr, und werter bevorzugt 5 μm oder mehr.
An der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche 112 und 132 der ersten transparenten Basis 110 ist ein quadratischer Mittelwert der Rauheit R_q der Oberflächenrauheit auf der Fläche bzw. Oberfläche 0,3 μm oder weniger, bevorzugt 0,25 μm oder weniger, und weiter bevorzugt 0,2 μm oder weniger. Da die Fähigkeit, Licht zu streuen, klein wird wenn der quadratische Mittelwert der Rauheit R_q zu klein wird, ist der quadratische Mittelwert der Rauheit R_q 0,05 μm oder mehr, bevorzugt 0,1 μm oder mehr, und besonders bevorzugt 0,15 μm oder mehr.
Die oben beschriebene Beziehung (1) lässt sich an der Fläche bzw. Oberfläche leichter erfüllen, welche die oben beschriebene Oberflächenrauheit aufweist, aus den hiernach beschriebenen Gründen.
In dem Fall, in dem die Textur an der Fläche bzw. Oberfläche ausreichend groß ist im Vergleich zur Wellenlänge des Lichts, hält die Annäherung durch geometrische Optik und Licht wird reflektiert gemäß lokaler Neigungen der Textur. Aus diesem Grund wird Licht in einem ähnlichen Maß gestreut, unabhängig davon, ob ein Einfallswinkel von Licht 20° oder 45° ist, und daher werden der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° annähernd gleich.
Andererseits wird, wenn die Textur an der Fläche bzw. Oberfläche nahe der Wellenlänge des Lichts kommt, und die Annäherung durch geometrische Optik nicht mehr gilt, Licht auf Grund von Interferenz gestreut, die durch eine Periode der Textur verursacht wird, zusätzlich zur Reflexion, die wie oben beschrieben durch die lokale Neigung der Textur verursacht wird. Wenn zum Beispiel die Periode der Textur an der Fläche bzw. Oberfläche, welche sich auf das einfallende Licht auswirkt, das senkrecht auf die Fläche bzw. Oberfläche einfällt, mit P bezeichnet wird, wird die Periode der Textur an der Fläche bzw. Oberfläche, welche sich auf einfallendes Licht auswirkt, das auf die Fläche bzw. Oberfläche in einem Einfallswinkel θ einfällt, P_cosθ. Mit anderen Worten variiert das Maß der Lichtstreuung und der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° werden unterschiedlich, was es einfacher macht, die oben beschriebene Beziehung (1) zu erfüllen.
Die durchschnittliche Länge R_Sm des Oberflächenrauheitkurvenelements auf der Fläche bzw. Oberfläche und der quadratische Rauheit-Mittelwert R_q der Oberflächenrauheit auf der Fläche bzw. Oberfläche können beispielsweise gemäß einem Verfahren berechnet werden, das in JIS (Japanischer Industriestandard) B0601: 2001 vorgeschlagen wird.
(Klarheit des transmittierten Bildes)
Als nächstes wird eine Beschreibung eines Index gegeben, der die Klarheit des transmittierten Bildes der transparenten Basis repräsentiert.
In diesem Beispiel wird ein ”Auflösungsindexwert” verwendet, um die Klarheit des transmittierten Bildes der transparenten Basis zu evaluieren.
Es wird nun eine Beschreibung von einem Verfahren zum Messen des ”Auflösungsindexwerts” gegeben, der ein quantitativer Index für die Klarheit des transmittierten Bildes wird, indem sich auf 2 bezogen wird.
2 ist ein Flussdiagramm zum Erläutern auf allgemeine Weise eines Verfahrens zum Erlangen des Auflösungsindexwerts der transparenten Basis.
Wie in 2 gezeigt weist das Verfahren (hiernach auch als ein „erstes Verfahren” bezeichnet) zum Erlangen des Auflösungsindexwerts der transparenten Basis die Schritte S110, S120, und S130 auf, welche die Prozesse (a1), (b1) bzw. (c1) ausführen.
Der Prozess (a1) strahlt auf eine transparente Basis, welche eine erste Fläche bzw. Oberfläche und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, ein erstes Licht von der Seite der zweiten Fläche bzw. Oberfläche in einer Richtung parallel zu einer Dickenrichtung der transparenten Basis, und misst eine Luminanz transmittierten Lichts (hiernach auch bezeichnet als ”0° transmittiertes Licht”), das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche in der Richtung parallel zur Dickenrichtung dertransparenten Basis transmittiert wird (Schritt S110).
Der Prozess (b1) variiert einen Akzeptanzwinkel θ des transmittierten Lichts, das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche transmittiert wird, in einem Bereich von –30° bis +30°, und misst die Luminanz des ersten Lichts (hiernach auch als ”gesamtes transmittiertes Licht” bezeichnet), das durch die transparente Basis transmittiert und von der ersten Fläche bzw. Oberfläche emittiert wird (Schritt S120).
Der Prozess (c1) berechnet einen Auflösungsindexwert T basierend auf der folgenden Formel (5), worin L_tt die Luminanz des gesamten transmittierten Lichts bezeichnet, und L_t0° die Luminanz von 0° transmittiertem Licht bezeichnet (Schritt S130). T = (L_tt – L_t0°)/L_tt (5)
In dem Fall, in dem nur eine von der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert ist, kann die texturierte Oberfläche die ”erste Fläche bzw. Oberfläche” sein und die Oberfläche, welche keine Textur aufweist, kann die ”zweite Fläche bzw. Oberfläche” sein in den Prozessen (a1) bis (c1) des ersten Verfahrens.
Andererseits wird in dem Fall, in dem sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert sind, wie in dieser Ausführungsform, das erste Verfahren mit Bezug auf sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche angewandt werden. Darüber hinaus kann ein größerer der zwei Auflösungsindexwerte, die berechnet werden, als ein Auflösungsindexwert T (T_max) der transparenten Basis verwendet werden.
Es wird nun eine Beschreibung von jedem der Schritte S110, S120, und S130 gegeben.
(Schritt S110)
Zuerst wird die transparente Basis, welche auf deren gegenüberliegenden Enden die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, angefertigt. Wie oben beschrieben kann die transparente Basis aus jedem geeigneten Material gemacht werden, das transparent ist. In dieser Ausführungsform sind sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert.
Als nächstes strahlt das erste Licht von der zweiten Oberflächenseite der angefertigten, transparenten Basis in der Richtung parallel zur Dickenrichtung der transparenten Basis, genauer, in einer Richtung eines Winkels θ = 0° ± 0,5° (hiernach auch als ein ”Winkel 0° Richtung” bezeichnet). Das erste Licht wird durch die transparente Basis transmittiert und wird von der ersten Fläche bzw. Oberfläche emittiert. Das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche in der Winkel 0° Richtung emittierte 0° transmittierte Licht wird gemessen, um die ”Luminanz des 0° transmittierten Lichts” zu erhalten.
(Schritt S120)
Als nächstes wird der Winkel θ, bei dem das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis emittierte Licht empfangen wird, in einem Bereich von –30° bis +30° variiert, und die Luminanz des empfangenen Lichts wird in einer Weise, die ähnlich zu Schritt S110 ist, gemessen. Als ein Ergebnis kann eine Luminanzverteilung des durch die transparente Basis transmittierten und von der ersten Fläche bzw. Oberfläche emittierten Lichts gemessen und aufsummiert werden, um die ”Luminanz des gesamten transmittierten Lichts” zu erhalten.
(Schritt S130)
Als nächstes wird der Auflösungsindexwert T berechnet basierend auf der oben beschriebenen Formel (5). Wie später beschrieben wird, ist dieser Auflösungsindexwert T mit einem Beurteilungsergebnis der Klarheit des transmittierten Bildes korreliert, das von einem Beobachter betrachtet wird, und es wurde bestätigt, dass dieser ein Verhalten repräsentiert, das nahe demjenigen menschlicher visueller Sinnesempfindungen ist. Zum Beispiel hat die transparente Basis, die einen hohen (nahe 1) Auflösungsindexwert T aufweist, eine schlechte Klarheit des transmittierten Bildes, während die transparente Basis, die einen kleinen Auflösungsindexwert T aufweist, eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes aufweist. Entsprechend kann dieser Auflösungsindexwert T als ein quantitativer Index verwendet werden, wenn die Klarheit des transmittierten Bildes der transparenten Basis beurteilt wird.
3 ist eine Seitenansicht, welche schematisch ein Beispiel einer Messvorrichtung zeigt, die beim Erlangen des durch die oben beschriebene Formel (5) beschriebenen Auflösungsindexwerts T verwendet wird.
Wie in 3 gezeigt, umfasst eine Messvorrichtung 200 eine Lichtquelle 250 und einen Detektor 270, und eine transparente Basis 210 wird innerhalb der Messvorrichtung 200 angeordnet. Die transparente Basis 210 weist eine erste Fläche bzw. Oberfläche 212 und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche 232 auf. Die Lichtquelle 250 emittiert erstes Licht 262 in Richtung auf die transparente Basis 210. Der Detektor 270 empfängt transmittiertes Licht (oder Transmissionsstrahl) 264, das von der transparenten Basis 210 emittiert wird, und erfasst die Luminanz des transmittierten Lichts 264.
Die zweite Fläche bzw. Oberfläche 232 der transparenten Basis 210 ist auf der Seite der Lichtquelle 250 angeordnet, und die erste Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210 ist auf der Seite des Detektors 270 angeordnet. Das erste Licht 262, das durch den Detektor 270 erfasst wird, ist daher das transmittierte Licht 264, das durch die transparente Basis 210 transmittiert wird.
In dieser Ausführungsform sind sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche 212 und 232 der transparenten Basis 210 texturiert. In einem Fall jedoch, in dem nur eine von der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche 212 und 232 der transparenten Basis 210 texturiert ist, wird die texturierte Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis 210 die erste Fläche bzw. Oberfläche 212. Mit anderen Worten wird in diesem Fall die texturierte Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis 210 innerhalb der Messvorrichtung 200 so angeordnet, dass sie sich auf der Seite des Detektors 270 befindet.
Darüber hinaus strahlt das erste Licht 262 im Winkel θ parallel zur Dickenrichtung der transparenten Basis 210. In der folgenden Beschreibung ist dieser Winkel θ als 0° definiert. In dieser Beschreibung ist der Winkel θ in einem Bereich von θ = 0° ± 0,5° als ein Winkel von 0° definiert, indem ein Fehler der Messvorrichtung 200 berücksichtigt wird.
In der Messvorrichtung 200 wird das erste Licht 262 von der Lichtquelle 250 in Richtung auf die transparente Basis 210 emittiert, und der Detektor 270 wird verwendet, um das transmittierte Licht 264 zu erfassen, das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210 emittiert wird. Als ein Ergebnis kann das 0° transmittiertes Licht durch den Detektor 270 erfasst werden.
Als nächstes wird der Winkel θ, zu dem der Detektor 270 das transmittierte Licht 264 empfängt, in einem Bereich von –30° bis +30° variiert, und das transmittierte Licht 264 wird durch den Detektor 270 auf eine Weise ähnlich zu der vorstehenden erfasst.
Das transmittierte Licht 264, das heißt, das gesamte transmittierte Licht, das durch die transparente Basis 210 transmittiert wird und von der ersten Fläche bzw. Oberfläche 212 emittiert wird, wird daher durch den Detektor 270 bei dem Winkel θ empfangen, der in dem Bereich von –30° bis +30° variiert wird.
Der Auflösungsindexwert T der transparenten Basis 210 kann erlangt werden basierend auf der oben beschriebenen Formel (5), unter Verwendung der Luminanz des 0° transmittierten Lichts und der Luminanz des gesamten transmittierten Lichts, die erhalten wurden.
Wie oben beschrieben wird in dem Fall, dass die transparente Basis die Textur auf sowohl der ersten als auch der zweiten Fläche bzw. Oberfläche davon ausgebildet aufweist, die oben beschriebene Operation mit Bezug auf sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche ausgeführt. Darüber hinaus wird der größere der beiden erhaltenen Auflösungsindexwerte T als der Auflösungsindexwert T (T_max) der transparenten Basis verwendet.
Die oben beschriebenen Messungen können einfach aunter Verwendung eines auf dem Markt verfügbaren Goniometers (oder Goniophotometers) ausgeführt werden.
(Eignung des Auflösungsindexwerts T)
Um die Eignung des Auflösungsindexwerts T als einen Index, der die Klarheit des transmittierten Bildes repräsentiert, zu bestätigen, wird die Klarheit des transmittierten Bildes jeder der verschiedenen transparenten Basen gemäß dem folgenden Verfahren evaluiert.
Zuerst werden transparente Basen gefertigt, welche eine zur Blendfreiheit behandelte erste Fläche bzw. Oberfläche aufweisen, welche durch ein beliebiges geeignetes Verfahren behandelt wurden. Eine zweite Fläche bzw. Oberfläche dieser transparenten Basen ist nicht zur Blendfreiheit behandelt, und daher ist die zweite Fläche bzw. Oberfläche eine nicht texturierte, glatte Oberfläche. Diese transparenten Basen sind aus Glas gemacht. Die Dicken dieser transparenten Basen sind ausgewählt aus einem Dickebereich von 0,5 mm bis 3,0 mm.
Als nächstes wird das Standardtestbild durch den Beobachter betrachtet durch jede transparente Basis, um eine Grenze sichtbarer Balken zu bestimmen, LW/PH (Linienbreite pro Bildhöhe bzw. „Line Width” pro „Picture Height”). Das Auflösungsniveau wird beurteilt, indem jede transparente Basis beobachtet wird. Ein Maximalwert der LW/PH des Standardtestbilds ist 2000.
Als nächstes wird ein Goniometer (GC500L, hergestellt von Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.) verwendet, um die oben für die Schritte S110 bis S130 beschriebenen Operationen auszuführen, und der Auflösungsindexwert T wird nach der Formel (5) für jede transparente Basis berechnet. In Schritt S120 wird ein Bereich des Akzeptanzwinkels in der Messvorrichtung 200 auf –30° bis +30° gesetzt. Der Betrag des transmittierten Lichts ist im Wesentlichen null (0) für die Akzeptanzwinkelbereiche von –90° bis –30° und +30° bis +90°, und es werden keine unerwünschten Effekte erbeigeführt, wenn der Auflösungsindexwert T unter Verwendung des Akzeptanzwinkelbereichs von –30° bis +30° berechnet wird.
4 ist ein Diagramm, das ein Beispiel einer Beziehung zwischen dem überwachten Beurteilungsergebnis (Ordinate) des Auflösungsniveaus und dem Auflösungsindexwert T (Abszisse) zeigt, die für jede transparente Basis erhalten werden.
Es kann aus der 4 gesehen werden, dass eine negative Korrelation zwischen dem beobachteten Beurteilungsergebnis des Auflösungsniveaus und dem Auflösungsindexwert T existiert. Wenn der Auflösungsindexwert T nahe 0,1 ist, ist das beobachtete Auflösungsniveau der Maximalwert von 2000 und ist für eine Mehrzahl von transparenten Basen saturiert. Da es umso besser ist, je höher das beobachtete Auflösungsniveau ist, ist damit bestätigt, dass der Auflösungsindexwert T bevorzugt kleiner als 0,4, weiter bevorzugt kleiner als 0,3, nochmals weiter bevorzugt kleiner als 0,2, und am meisten bevorzugt kleiner als 0,15 ist.
Diese Ergebnisse legen nahe, dass der Auflösungsindexwert T mit der Tendenz der Beurteilung eines Betrachters über die Klarheit des transmittierten Bildes, das beobachtet wird, korrespondiert und dass der Auflösungsindexwert T daher verwendet werden kann, um die Klarheit des transmittierten Bildes der transparenten Basis zu beurteilen. Mit anderen Worten ist es durch die Verwendung des Auflösungsindexwerts T möglich, die Klarheit des transmittierten Bildes der transparenten Basis objektiv und quantitativ zu beurteilen.
(Diffusion eines reflektierten Bildes)
Als nächstes wird eine Beschreibung von einem Index gegeben, welcher die Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis repräsentiert.
In diesem Beispiel wird ein ”Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes” verwendet, um die Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis zu evaluieren.
Es wird nun eine Beschreibung eines Verfahrens zum Messen des ”Indexwerts der Diffusion eines reflektierten Bildes” gegeben, der ein quantitativer Index der Diffusion eines reflektierten Bildes wird, indem sich auf die 5 bezogen wird.
5 ist ein Flussdiagramm, das zum Erläutern, auf allgemeine Weise, eines Verfahrens zum Erlangen des Indexwerts der Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis dient.
Wie in 5 gezeigt, weist das Verfahren (hiernach auch als ein ”zweites Verfahren” bezeichnet) zum Erlangen des Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis Schritte S210, S220, und S230 auf, welche Prozesse (a2), (b2), bzw. (c2) ausführen.
Der Prozess (a2) strahlt zweites Licht von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, welche die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, in eine Richtung, die um 20° mit Bezug zur Richtung der Dicke der transparenten Basis geneigt ist, und misst die Luminanz des regulären Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als ein ”20° regulärer Reflexionsstrahl”), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird (Schritt S210).
Der Prozess (b2) variiert den Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von –10° bis +50°, und misst die Luminanz des zweiten Lichts (hiernach auch als ein ”gesamter Reflexionsstrahl” bezeichnet), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird (Schritt S220).
Der Prozess (c2) berechnet den Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R basierend auf der folgenden Formel (6), wobei L_tr die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls bezeichnet, und L_rr20° die Luminanz des 20° regulären Reflexionsstrahls bezeichnet (Schritt S230). R = (L_tr – L_rr20°)/L_tr (6)
In dem Fall, dass nur eine von der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert ist, kann die texturierte Fläche bzw. Oberfläche die ”erste Fläche bzw. Oberfläche” sein und die Fläche bzw. Oberfläche, welche keine Textur aufweist, kann die ”zweite Fläche bzw. Oberfläche” sein in den Prozessen (a2) bis (c2) des zweiten Verfahrens.
Andererseits wird in dem Fall, in dem wie in dieser Ausführungsform sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis texturiert sind, das zweite Verfahren mit Bezug auf sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche angewandt. Darüber hinaus kann ein kleinerer der zwei Indexwerte der Diffusion eines reflektierten Bildes, die berechnet werden, als ein Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R (R_min) der transparenten Basis verwendet werden.
Es wird nun eine Beschreibung jeder der Schritte S210, S220, und S230 gegeben.
(Schritt S210)
Zuerst wird die transparente Basis, welche auf deren gegenüberliegenden Enden die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, vorbereitet.
Das Material, die Zusammensetzung oder ähnliches der transparenten Basis kann dasselbe bzw. dieselbe sein wie dasjenige bzw. diejenige, welche(s) in Schritt S110 des oben beschriebenen ersten Verfahrens verwendet wird. Eine Beschreibung des Materials, der Zusammensetzung oder dergleichen der transparenten Basis wird daher unterlassen.
Als nächstes strahlt das zweite Licht von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der angefertigten, transparenten Basis in eine Richtung, die um 20° ± 0,5° geneigt ist mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis. Das zweite Licht wird von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis reflektiert. Der 20° reguläre Reflexionsstrahl des reflektierten Lichts (oder Reflexionsstrahls) von der ersten Fläche bzw. Oberfläche wird erfasst, und die Luminanz des erfassten Strahls wird gemessen als die ”Luminanz des 20° regulären Reflexionsstrahls”.
(Schritt S220)
Als nächstes wird der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, in einem Bereich von –10° bis +50° variiert, und die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, wird auf ähnliche Weise für den ganzen Variationsbereich gemessen. Die Luminanzverteilung des zweiten Lichts, das an der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis reflektiert und von der ersten Fläche bzw. Oberfläche emittiert wird, wird aufsummiert und als die ”Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls” betrachtet.
(Schritt S230)
Der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R wird basierend auf der oben beschriebenen Formel (6) berechnet.
Dieser Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R korreliert mit einem Beurteilungsergebnis der Diffusion eines reflektierten Bildes, das von dem Beobachter beobachtet wird, und es wurde bestätigt, dass dies ein Verhalten repräsentiert, das menschlichen visuellen Sinnesempfindungen nahe kommt. Zum Beispiel weist die transparente Basis, die einen großen (nahe 1) Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R aufweist, eine zufriedenstellende Diffusion eines reflektierten Bildes auf, während die transparente Basis, die einen kleinen Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R aufweist, eine schlechte Diffusion eines reflektierten Bildes aufweist. Entsprechend kann der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R als ein quantitativer Index verwendet werden, wenn die Diffusion eines reflektierten Bildes der transparenten Basis beurteilt wird.
6 ist eine Ansicht von der Seite, welche schematisch ein Beispiel einer Messvorrichtung zeigt, die verwendet wird, wenn der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R erlangt wird, der durch die oben beschriebene Formel (6) repräsentiert wird.
Wie in 6 gezeigt umfasst eine Messvorrichtung 300 eine Lichtquelle 350 und einen Detektor 370, und eine transparente Basis 210 wird innerhalb der Messvorrichtung 300 angeordnet. Die transparente Basis 210 weist eine erste Fläche bzw. Oberfläche 212 und eine zweite Fläche bzw. Oberfläche 232 auf. Die Lichtquelle 350 emittiert zweites Licht 362 in Richtung auf die transparente Basis 210. Der Detektor 370 empfängt reflektiertes Licht (oder Reflexionsstrahl) 364, das von der transparenten Basis 210 reflektiert wird, und erfasst die Luminanz des reflektierten Lichts 364.
In dem Fall, in dem die erste Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210 die Zieloberfläche ist, die das Ziel der Evaluation ist, ist die transparente Basis 210 so angeordnet, dass die erste Fläche bzw. Oberfläche 212 davon sich auf der Seite der Lichtquelle 350 und des Detektors 370 befindet. Dementsprechend wird, in dem Fall, in dem eine der zwei Flächen bzw. Oberflächen der transparenten Basis 210 zur Blendfreiheit behandelt ist, die zur Blendfreiheit behandelte Oberfläche die erste Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210. Mit anderen Worten wird in diesem Fall die transparente Basis 210 innerhalb der Messvorrichtung 300 so angeordnet, dass die zur Blendfreiheit behandelte Fläche bzw. Oberfläche sich auf der Seite der Lichtquelle 350 und des Detektors 370 befindet.
Darüber strahlt das zweite Licht 362 in eine Richtung, die um 20° mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis 210 geneigt ist. In dieser Beschreibung ist ein Winkel im Bereich von 20° ± 0,5° definiert als ein Winkel von 20°, indem ein Fehler der Messvorrichtung 300 berücksichtigt wird.
In der Messvorrichtung 300 wird das zweite Licht 362 von der Lichtquelle 350 in Richtung auf die transparente Basis 210 emittiert, und der Detektor 370 wird verwendet, um das reflektierte Licht 364, das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210 reflektiert wird, zu erfassen. Als ein Ergebnis kann der ”20° reguläre Reflexionsstrahl” durch den Detektor 370 erfasst werden.
Als nächstes wird der Winkel ø, bei dem der Detektor 370 das reflektierte Licht 364 empfängt, in einem Bereich von –10° bis +50° variiert, und das reflektierte Licht 364 wird durch den Detektor 370 in einer Weise ähnlich zu der obigen erfasst.
Es wird daher das reflektierte Licht 364, das heißt, die Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche 212 der transparenten Basis 210 reflektiert wird, von dem Detektor 370 an dem Winkel ø, der in dem Bereich von –10° bis +50° variiert wird, empfangen und aufsummiert.
Der negative (minus, oder ”–”) Winkel, der eine Begrenzung des Akzeptanzwinkels ø des Reflexionsstrahls definiert, zeigt an, dass der Akzeptanzwinkel ø sich auf der Seite des einfallenden Lichts befindet im Vergleich zur Normalen auf die Zieloberfläche (die erste Oberfläche, die in diesem Beispiel das Evaluationsziel ist). Andererseits zeigt der positive (plus, oder ”+”) Winkel, der eine Begrenzung des Akzeptanzwinkel ø des Reflexionsstrahls definiert, an, dass sich der Akzeptanzwinkel ø nicht auf der Seite des Lichteinfalls befindet im Vergleich zur Normalen auf die Zieloberfläche (die erste Fläche bzw. Oberfläche, die in diesem Beispiel das Evaluationsziel ist), die das Ziel der Evaluation ist.
Der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R der transparenten Basis 210 kann erlangt werden basierend auf der oben beschriebenen Formel (6), unter Verwendung der erhaltenen Luminanz des 20° regulären Reflexionsstrahls und der erhaltenen Luminanz des gesamten Reflexionsstrahls.
Wie oben beschrieben wird, in dem Fall der transparenten Basis, welche die Textur auf sowohl der ersten als auch der zweiten Fläche bzw. Oberfläche davon ausgebildet hat, die oben beschriebene Operation mit Bezug auf sowohl die erste als auch die zweite Fläche bzw. Oberfläche ausgeführt. Darüber hinaus wird der kleinere der zwei Indexwerte der Diffusion eines reflektierten Bildes R, die erhalten werden, verwendet als der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R (R_min) der transparenten Basis.
Die oben beschriebenen Messungen können einfach ausgeführt werden unter Verwendung eines auf dem Markt verfügbaren Goniometers (oder Goniophotometers).
(x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx°)
Als nächstes wird ein bestimmtes Verfahren beschrieben zum Berechnen des x° Indexwerts der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist 20 oder 45 in diesem Beispiel), der ein Index ist, der sich auf die Textur von jeder der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis bezieht, indem auf 7 Bezug genommen wird.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) ein Index, der in der Lage ist, nur den Reflexionsstrahl an der Zielfläche (zum Beispiel, die erste Fläche bzw. Oberfläche), die das Ziel der Evaluation ist, in einem Zustand, in dem die Effekte der Reflexion an der Nicht-Ziel-Oberfläche (zum Beispiel, die zweite Fläche bzw. Oberfläche, welche nicht das Ziel der Evaluation ist) der transparenten Basis im Wesentlichen eliminiert sind, zu repräsentieren. Wenn wie oben beschrieben die Textur an der Fläche bzw. Oberfläche in die Nähe der Wellenlänge des Lichts kommt, wird eine Differenz eingeführt zwischen dem 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und dem 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45°, um dadurch die oben beschriebene Beziehung (1) zu erfüllen. Mit anderen Worten ist der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° ein Index, der in direkter Beziehung zur Form der Zieloberfläche stehen kann.
7 ist ein Flussdiagramm zum Erläutern auf allgemeine Weise eines Verfahrens zum Erlangen des x° Indexwerts der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) an der ersten Oberfläche der transparenten Basis.
Wie in 7 gezeigt umfasst das Verfahren (hiernach auch als ein ”erstes Verfahren” bezeichnet) zum Erlangen des x° Indexwerts der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) an der ersten Oberfläche der transparenten Basis Schritte S310, S320, S330 und S340, welche Prozesse (a3), (b3), (c3), bzw. (d3) ausführen.
Der Prozess (a3) unterwirft die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis, welche die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufweist, der Behandlung, die eine Reflexion von Licht verhindert (Schritt S310).
Der Prozess (b3) strahlt drittes Licht von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis in eine Richtung, die um x° mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, und misst eine Luminanz eines regulären Reflexionsstrahls (hiernach auch bezeichnet als ein ”x° effektiver regulärer Reflexionsstrahl”), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird (Schritt S320).
Der Prozess (c3) variiert einen Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis in einem Bereich von x – 30° bis x + 30°, und misst die Luminanz des dritten Lichts (hiernach auch als ”x° effektiver gesamter Reflexionsstrahl” bezeichnet), der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird (Schritt S330).
Der Prozess (d3) berechnet den x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° basierend auf der oben beschriebenen Formel (2) (Schritt S340).
Es wird nun jeder der Schritte S310, S320, S330 und S340 beschrieben.
(Schritt S310)
Zuerst wird die zweite Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis der Behandlung unterworfen, welche die Reflexion von Licht verhindert. Die Behandlung, welche die Reflexion von Licht verhindert, wird auf der zweiten Fläche bzw. Oberfläche ausgeführt, um die Effekte der Reflexion von den Nicht-Ziel-Oberflächen zu eliminieren, wenn die Messungen in den folgenden Schritten ausgeführt werden.
Wie oben beschrieben ist die Behandlung, welche eine Reflexion von Licht verhindert, nicht auf eine bestimmte Art von Behandlung beschränkt. Zum Beispiel kann eine Schicht aus schwarzer Tinte auf der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis vorgesehen werden, um eine Reflexion von Licht an der zweiten Fläche bzw. Oberfläche zu verhindern. Alternativ können andere Verfahren angewandt werden, um die Reflexion von Licht an der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis zu verhindern.
(Schritt S320)
Als nächstes strahlt das dritte Licht von der Seite der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis in die Richtung, die um x° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, und die Luminanz des x° effektiven regulärer Reflexionsstrahls, der von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, wird gemessen.
Zum Beispiel kann in dem Fall, in dem das dritte Licht strahlt, auf die erste Oberflächenseite der transparenten Basis in der Richtung, die um 20° mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, die Luminanz des 20° effektiven regulären Reflexionsstrahls gemessen werden, indem die Luminanz des regulären Reflexionsstrahls gemessen wird, welcher eine reguläre Reflexion an der ersten Fläche bzw. Oberfläche erfahren hat.
Darüber hinaus kann in dem Fall, in dem das dritte Licht auf die erste Oberflächenseite der transparenten Basis strahlt, in der Richtung, die um 45° mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, die Luminanz des 45° effektiven regulären Reflexionsstrahls gemessen werden, indem die Luminanz des regulären Reflexionsstrahls gemessen wird, der eine reguläre Reflexion an der ersten Fläche bzw. Oberfläche erfahren hat.
(Schritt S330)
Als nächstes wird der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis variiert im Bereich von x – 30° bis x + 30°, und die Luminanz des dritten Lichts (oder x° effektiver gesamter Reflexionsstrahl), das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, wird gemessen.
Zum Beispiel wird, in dem Fall, in dem das dritte Licht scheinen gelassen wird auf die erste Oberflächenseite der transparenten Basis in der Richtung, die um 20° mit Bezug zur Dickenrichtung der transparenten Basis geneigt ist, der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis variiert in dem Bereich von –10° bis +50°, und die Luminanz des dritten Lichts, das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, wird gemessen, um die Luminanz des 20° effektiven gesamten Reflexionsstrahls zu erhalten.
Darüber hinaus wird in dem Fall, in dem das dritte Licht auf die erste Oberflächenseite der transparenten Basis scheinen gelassen wird in der Richtung, die um 45° mit Bezug zur Richtung der Dicke der transparenten Basis geneigt ist, der Akzeptanzwinkel des Reflexionsstrahls von der ersten Fläche bzw. Oberfläche der transparenten Basis in dem Bereich von 15° bis 75° variiert, und die Luminanz des dritten Lichts, das von der ersten Fläche bzw. Oberfläche reflektiert wird, wird gemessen, um die Luminanz des 45° effektive gesamten Reflexionsstrahls zu erhalten.
(Schritt S340)
Als nächstes wird der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° an der ersten Fläche bzw. Oberfläche basierend auf der oben beschriebenen Formel (2) unter Verwendung der gemessenen Luminanzen berechnet.
Mit anderen Worten kann der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° an der ersten Fläche bzw. Oberfläche basierend auf der oben beschriebenen Formel (3) berechnet werden. Darüber hinaus kann der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° an der ersten Fläche bzw. Oberfläche basierend auf der oben beschriebenen Formel (4) berechnet werden.
Der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° an der zweiten Fläche bzw. Oberfläche, und der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° an der zweiten Fläche bzw. Oberfläche können auf ähnliche Weise mit dem oben beschriebenen dritten Verfahren erhalten werden.
Der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) jeder Zieloberfläche, der durch das oben beschriebene Verfahren erhalten wird, kann als der Index verwendet werden, der die Diffusion eines reflektierten Bildes an der Zielfläche repräsentiert, in dem Zustand, in dem die Effekte der Diffusion eines reflektierten Bildes an der Nicht-Ziel-Oberfläche eliminiert sind.
Insbesondere wird in dem Fall, in dem die oben beschriebene Beziehung (1) zwischen dem 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und dem 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° steht, angezeigt, dass die Diffusion eines reflektierten Bildes, das in dem 20° Winkel betrachtet wird, größer ist als die Diffusion eines reflektierten Bildes, das in dem 45° Winkel betrachtet wird. In einem Fall, in dem ein erstes und ein zweites Muster der transparenten Basis dieselbe Klarheit des transmittierten Bildes aufweisen und das erste Muster den 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° aufweist und das zweite Muster den 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45° aufweist ist die Diffusion eines reflektierten Bildes größer für das erste Muster, das den 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° aufweist, wenn die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt ist. Daher kann bei dem tatsächlichen Betrachtungswinkel (in einer Nähe von 0° mit Bezug zur Richtung der Dicke der transparenten Basis), zu der das Anzeigebild oder ähnliches betrachtet wird, das erste Muster eine transparente Basis bereitstellen, welche sowohl eine zufriedenstellende Diffusion eines reflektierten Bildes (das heißt, einen hohen Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R) als auch eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes (das heißt, einen geringen Auflösungsindexwert T) aufweist. Es besteht eine Tendenz, dass die Beziehung (1) nicht erfüllt wird, wenn die Zieloberfläche, die das Ziel der Evaluation ist, eine Reflexionsoberfläche mit einer großen Textur aufweist (zum Beispiel eine große konkav-konvexe Form oder Wellung), und dass die Beziehung (1) erfüllt ist, wenn die Zieloberfläche, die das Ziel der Evaluation ist, eine Reflexionsoberfläche mit einer kleinen Textur aufweist (zum Beispiel eine kleine konkav-konvexe Form oder Wellung). Wie oben beschrieben spiegelt die Beziehung (1) die Unterschiede in den Texturen oder den Oberflächenformen der Zieloberfläche der Muster der transparenten Basis wieder.
Die oben beschriebenen Messungen können auf einfache Weise ausgeführt werden unter Verwendung eines auf dem Markt verfügbaren Goniometers (oder Goniophotometers).
Als nächstes wird eine Beschreibung von Beispielen gemäß bestimmter Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung gegeben.
(Beispiel Bsp. 1)
In diesem Beispiel Bsp. 1 wird durch hiernach beschriebene Prozeduren die Textur auf beiden Fläche bzw. Oberflächen eines Glassubstrats ausgebildet.
Zuerst wird ein Glassubstrat mit einer vertikalen Länge von 100 mm, einer horizontalen Länge von 100 mm und einer Dicke von 0,7 mm vorbereitet. Das Glassubstrat kann durch Kalk-Natron-Glas gebildet werden, und es wird auf dem Glassubstrat kein chemisches Härten ausgeführt.
Als nächstes wird dieses Glassubstrat für drei (3) Minuten in eine Mattierflüssigkeit eingetaucht, um ein zusätzliches Ätzen auszuführen. Die Mattierflüssigkeit, die in dem zusätzlichen Ätzen verwendet wird, weist beispielsweise 2 Gew.-% Fluorwasserstoff und 3 Gew.-% Kaliumfluorid auf. Weiter wird nach Reinigen des Glassubstrats das gereinigte Glassubstrat für achtzehn (18) Minuten in eine Lösung eingetaucht, um ein Hauptätzen auszuführen. Die zum Hauptätzen verwendete Lösung weist beispielsweise 7,5 Gew.-% Fluorwasserstoff und 7,5 Gew.-% Chlorwasserstoff auf.
Als ein Ergebnis wird eine Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 1 erhalten, wobei auf beiden Oberflächen davon ähnliche Texturen ausgebildet sind.
(Beispiele Bsp. 2 bis Bsp. 12)
Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 2 bis Bsp. 12, welche die Texturen auf beiden Oberflächen davon ausgebildet aufweisen, werden durch ein Verfahren erhalten, das ähnlich zu demjenigen ist, das verwendet wurde, um die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 1 zu erhalten. In den Beispielen Bsp. 2 bis Bsp. 12 sind jedoch die Bedingungen des zusätzlichen Ätzens und/oder des Hauptätzens variiert, um elf (11) unterschiedliche Arten von Glasbasen herzustellen, welche Texturen aufweisen, die sich von derjenigen der Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 1 unterscheiden, die auf beiden Oberflächen davon ausgebildet sind.
(Evaluation)
Die Glasbasen, die nach dem oben beschriebenen Verfahren hergestellt wurden, werden auf die folgende Weise evaluiert.
(Messung der Oberflächenrauheit)
Eine Oberflächenrauheit (oder Oberflächentextur) der Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 1 bis Bsp. 12 wird gemessen unter Verwendung eines Oberflächentexturmessinstruments (PF-60, hergestellt von Mitaka Kohki Co., Ltd.). Der quadratische Mittelwert R_q der Oberflächenrauheit auf der Fläche bzw. Oberfläche, die mittlere Länge R_Sm des Oberflächenrauheitkurvenelements auf der Fläche bzw. Oberfläche, und eine arithmetische mittlere Rauheit Ra werden als Messindizes verwendet. Diese Messindizes können beispielsweise gemessen werden gemäß dem Verfahren, das in JIS, B0601: 2001 vorgeschlagen wird.

Die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 erhaltenen Ergebnisse sind aufgeführt in einer Spalte ”Messergebnisse der Oberflächenrauheit” der folgenden Tabelle 1. Tabelle 1:

Beispiel	Messergebnisse der Oberflächenrauheit		Auflösungsindexwert T	x° im Wesentlichen reflektierter Bilddiffusionsindexwert R_bx°		R_b20° – R_b45°
Beispiel	R_q (μm)	R_Sm (μm)	Auflösungsindexwert T	R_b20°	R_b45°	R_b20° – R_b45°
Bsp. 1	0,21	13,9	0,17	0,9	0,82	0,07
Bsp. 2	0,19	15,2	0,14	0,86	0,79	0,07
Bsp. 3	0,17	15,3	0,11	0,80	0,58	0,22
Bsp. 4	1,55	114	0,87	0,95	0,95	0
Bsp. 5	0,95	105	0,80	0,93	0,93	0,01
Bsp. 6	0,55	106	0,62	0,88	0,88	0,01
Bsp. 7	0,70	63,9	0,82	0,93	0,93	0
Bsp. 8	0,24	58,4	0,51	0,85	0,86	–0,01
Bsp. 9	0,16	41,2	0,30	0,80	0,80	0
Bsp. 10	0,98	148	0,78	0,92	0,91	0
Bsp. 11	0,13	85,4	0,20	0,64	0,60	0,03
Bsp. 12	0,3	44,9	0,57	0,91	0,91	0

Es werden an der ersten Fläche bzw. Oberfläche und an der zweiten Fläche bzw. Oberfläche in jeder der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 im Wesentlichen die gleichen Ergebnisse erhalten. Dementsprechend zeigt die Tabelle 1 nur die Ergebnisse, die an einer von der ersten und der zweiten Oberfläche erhalten wurden.
Es kann aus der Tabelle 1 gesehen werden, dass die Texturen auf der ersten und auf der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 relativ klein sind und mit einer Periode, die kürzer ist im Verbleich zu der Periode der Texturen, die auf der ersten und zweiten Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12 ausgebildet sind.
(Messung des Auflösungsindexwerts T)
Der Auflösungsindexwert T von jeder der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 wird durch das Verfahren gemessen, das oben mit Bezug auf die 2 beschrieben wurde.
Ein Goniometer (GC500L hergestellt von Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.) wird für diese Messung verwendet.
Der Auflösungsindexwert T wird mit Bezug auf die erste und die zweite Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasen gemessen. Darüber hinaus wird der größere der zwei gemessenen Auflösungsindexwerte T, die für jede Glasbasis erhalten werden, als der Auflösungsindexwert T (T_max) von jeder Glasbasis betrachtet.
Die Auflösungsindexwerte T, die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 erhalten werden, sind in der Spalte ”Auflösungsindexwert T” der Tabelle 1 aufgeführt.
Wie aus der Tabelle 1 ersichtlich, werden relativ kleine Auflösungsindexwerte T (T_max) von weniger als 0,2 für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 erhalten. Es kann daher gesehen werden, dass die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes erhalten können.
(Evaluation von R_b20° – R_b45°)
Der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 werden mittels des oben mit Beziehung auf die 7 beschriebenen Verfahren gemessen. Ein Goniometer (GC500L hergestellt von Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.) wird für die Messung verwendet.
Der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° wird mit Bezug auf die erste Fläche bzw. Oberfläche in einem Zustand gemessen, in dem schwarze Tinte auf die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufgebracht ist, um Licht zu absorbieren, für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12.
Als nächstes wird der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45), gemessen mit Bezug zur ersten Oberfläche der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12, verwendet, um einen Wert R_b20° – R_b45° zu berechnen.
Der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und der 45° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b45°, gemessen für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12, sind in einer Spalte ”x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx°” der Tabelle 1. Darüber hinaus wird der Wert von R_b20° – R_b45°, der berechnet wurde für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12, in einer Spalte ”R_b20° – R_b45°” der Tabelle 1 dargestellt.
Evaluationen ähnlich zu den oben beschriebenen werden mit Bezug auf die zweite Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12, in einem Zustand, in dem die schwarze Tinte auf die erste Fläche bzw. Oberfläche aufgetragen ist, um Licht zu absorbieren. Als ein Ergebnis wird bestätigt, dass die Evaluationsergebnisse, die mit Bezug auf die zweite Fläche bzw. Oberfläche erhalten wurden, annähernd dieselben sind wie die im Vorstehenden beschriebenen Evaluationsergebnisse, die mit Bezug auf die erste Fläche bzw. Oberfläche erhalten wurden.
8 ist ein Diagramm, das eine graphische Darstellung einer Beziehung (R_b20°, R_b45°) zeigt, die für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 erhalten wurde, in Bereichen, die durch R_b20° (Abszisse) und R_b45° (Ordinate) repräsentiert sind. Punkte für die Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 werden mit Symbolen ”o” und Punkte für die Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12 werden mit Symbolen ”•” angezeigt.
In 8 zeigt eine fette durchgezogene Linie eine Beziehung R_b45° = R_b20° + 0,05 an. Dementsprechend entspricht ein durch Schraffierung angezeigter Bereich S in 8 einem Bereich, in dem die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt ist.
Aus 8 kann gesehen werden, dass die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12 die Beziehung (R_b20°, R_b45°) in einem Bereich haben, in dem die oben beschriebene Beziehung (1) nicht erfüllt ist. Andererseits kann auch gesehen werden, dass die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 die Beziehung (R_b20°, R_b45°) in dem Bereich haben, in dem die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt ist.
9 ist ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen dem Auflösungsindexwert T (Abszisse) und dem Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° (Ordinate) des effektiv reflektierten Bildes zeigt, erhalten für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12. Punkte für die Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 sind durch Symbole ”o” angezeigt, und Punkte für die Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12 sind durch Symbole ”•” angezeigt.
Aus der 9, ist ersichtlich, dass jeder der Punkte für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3 sich in einem Bereich auf der oberen linken Seite befindet mit Bezug auf jeden der Punkte für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12. Mit anderen Worten ist ersichtlich, dass der Auflösungsindexwert T klein ist und der 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° groß ist für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3, wenn verglichen mit denjenigen der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 12.
Aus diesen Ergebnissen kann erachtet werden, dass die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 3, welche die Fläche bzw. Oberfläche aufweisen, deren Wert R_b20° – R_b45° die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllt, eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes und eine zufriedenstellende Diffusion eines reflektierten Bildes aufweisen, wenn verglichen mit den Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 4 bis Bsp. 1, welche die Oberfläche mit dem Wert von R_b20° – R_b45° aufweist, der die oben beschriebene Beziehung (1) nicht erfüllt.
(Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23)
Glasbasen gemäß den Beispielen Bsp. 21 bis Bsp. 23, welche die Texturen auf beiden Fläche bzw. Oberflächen davon aufweisen, werden mit einem Verfahren erhalten, das ähnlich izu dem ist, das verwendet wird, um die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 1 zu erhalten.
In den Beispielen Bsp. 21 bis Bsp. 23 sind jedoch Bedingungen für das Hilfsätzen/oder das Hauptätzen verändert, um drei (3) Arten von Glasbasen herzustellen welche Texturen aufweisen, die sich unterscheiden von derjenigen der Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 1, die auf beiden Oberflächen davon ausgebildet ist.
Die Bedingungen für das zusätzliche Ätzen und das Hauptätzen für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 23 sind dieselben wie diejenigen für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 21.
Wenn jedoch die Glasbasis gemäß dem Prüfer Bsp. 23 hergestellt wird, wird ein Maskenfilm auf die zweite Fläche bzw. Oberfläche aufgeheftet, bevor das zusätzliche Ätzen und das Hauptätzen ausgeführt werden, um die Textur nur auf der ersten Fläche bzw. Oberfläche auszubilden.
(Evaluation)
(Messung der Oberflächenrauheit & Messung des Auflösungsindexwerts T)
Die Messung der Oberflächenrauheit und die Messung des Auflösungsindexwerts T für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23 wird mit denselben Verfahren wie bei den Messungen ausgeführt, die für die Glasbasen gemäß der oben beschriebenen Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 verwendet werden. In dem Fall der Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 23 wird die erste Fläche bzw. Oberfläche als die Zieloberfläche verwendet, und die Messung der Oberflächenrauheit und die Messung des Auflösungsindexwerts T werden mit Bezug auf die erste Fläche bzw. Oberfläche ausgeführt.

Die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23 erhaltenen Ergebnisse sind in einer Spalte ”Messergebnisse der Oberflächenrauheit” der nachstehenden Tabelle 2 aufgeführt. Darüber hinaus sind die Auflösungsindexwerte T, die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23 erhalten werden, in einer Spalte ”Auflösungsindexwert T” der Tabelle 2 aufgeführt. Tabelle 2

Beispiel	Messergebnisse Oberflächenrauheit		Auflösungsindexwert T	R_b20° – R_b45°	Indexwert R der Diffusion des reflektierten Bildes
Beispiel	R_q (μm)	R_Sm (μm)	Auflösungsindexwert T	R_b20° – R_b45°	Indexwert R der Diffusion des reflektierten Bildes
Bsp. 21	0,13	19,8	0,09	erfüllt Beziehung (1)	0,73
Bsp. 22	0,16	41,2	0,20	erfüllt Beziehung (1) nicht	0,62
Bsp. 23	0,12	19,2	0,07		0,39

Wie aus der Tabelle 2 ersichtlich werden relativ kleine Auflösungsindexwerte T (T_max) von weniger als 0,1 für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 und Bsp. 23 erhalten. Es ist daher ersichtlich, dass die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 und Bsp. 23 eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes erreichen können. Andererseits ist der Auflösungsindexwert T (T_max), der für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 22 erhalten wird, ungefähr 0,2, und es ist ersichtlich, dass die Klarheit des transmittierten Bildes für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 22 nicht so zufriedenstellend ist wie die Auflösungsindexwerte T (T_max) für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 und Bsp. 23.
(Evaluation von R_b20° – R_b45°)
Der x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° (x ist in diesem Beispiel 20 oder 45) der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23 werden mittels einem Verfahren ähnlich zu demjenigen gemessen, das für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 1 bis Bsp. 12 verwendet wurde.
Als ein Ergebnis wird bestätigt, dass die Beziehung von R_b20° und R_b45° die oben beschriebene Beziehung (1) sowohl für die erste als auch für die zweite Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 21 erfüllt. Andererseits wird bestätigt, dass die Beziehung von R_b20° und R_b45° die oben beschriebene Beziehung (1) für keine von der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 22 erfüllt.
(Messung des Indexwerts der Diffusion eines reflektierten Bildes)
Die Indexwerte der Diffusion eines reflektierten Bildes R der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 22 werden nach dem oben in Verbindung mit 5 beschriebenen Verfahren gemessen. Für die Messung wird ein Goniometer (GC500L, hergestellt von Nippon Denshoku Industrtes Co., Ltd.) verwendet.
Der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R wird für jede der ersten und der zweiten Fläche bzw. Oberfläche der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 und Bsp. 22 gemessen. Darüber hinaus wird ein kleinerer der zwei Indexwerte der Diffusion eines reflektierten Bildes R, die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 und Bsp. 22 erhalten werden, als der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R (R_min) der Glasbasis verwendet.
Andererseits wird mit Bezug auf die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 23 die Messung mit Bezug zur ersten Fläche bzw. Oberfläche ausgeführt, die mit der Textur ausgebildet ist und sich auf der Seite des Detektors befindet, um den Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R der Glasbasis zu erhalten.
Die Indexwerte der Diffusion eines reflektierten Bildes R, die für jede der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 21 bis Bsp. 23 erhalten werden, sind in einer Spalte ”Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R” der Tabelle 2 aufgeführt.
10 ist ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen dem Auflösungsindexwert T (Abszisse) und dem Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R (Ordinate) des reflektierten Bildes zeigt, erhalten für die Glasbasen gemäß Beispielen Bsp. 21 bis Bsp. 23. Punkte für das Beispiel Bsp. 21 sind durch Symbole ”o” angezeigt, Punkte für das Beispiel Bsp. 22 sind durch Symbole ”•” angezeigt, und Punkte für das Beispiel Bsp. 23 sind durch Symbole ”A” angezeigt.
Aus 10 ist ersichtlich, dass jeder der Punkte für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 21 sich in einem Bereich auf der oberen linken Seite befindet mit Bezug auf jeden der Punkte für die Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 22 und Bsp. 23. Mit anderen Worten ist ersichtlich, dass der Auflösungsindexwert T klein ist und der Indexwert der Diffusion eines reflektierten Bildes R groß ist für die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 21, wenn verglichen mit denjenigen der Glasbasen gemäß der Beispiele Bsp. 22 und Bsp. 23. Die Glasbasis gemäß dem Beispiel Bsp. 21 besitzt daher eine zufriedenstellende Klarheit des transmittierten Bildes und eine zufriedenstellende Diffusion eines reflektierten Bildes.
Dementsprechend wird, indem die Textur auf der ersten und der zweiten Oberfläche der Glasbasis ausgebildet wird, derart, dass sowohl die erste als auch die zweite Oberfläche die oben beschriebene Beziehung (1) erfüllen, bestätigt, dass eine Glasbasis bereitgestellt werden kann, die eine Klarheit des transmittierten Bildes und eine Diffusion eines reflektierten Bildes aufweist, die beide zufriedenstellender sind als diejenigen des herkömmlichen Falls.
Bestimmte Ausführungsformen können als ein Abdeckungselement oder ähnliches verwendet werden, das auf verschiedenen Arten von Anzeigevorrichtungen bereitgestellt ist, wie einer LCD (Flüssigkristallanzeige) Vorrichtung, einer OLED (organische Leuchtdiode oder) Vorrichtung, einem PDP („Plasma Display Panel” bzw. Plasmabildschirm), und einer Anzeigevorrichtung vom Tablett-Typ.
Gemäß bestimmter Ausführungsformen ist es möglich, eine transparente Basis bereitzustellen, die gleichzeitig die Klarheit des transmittierten Bildes und die Diffusion eines reflektierten Bildes erfüllen kann, wenn verglichen mit dem Stand der Technik.
Weiter ist die vorliegende Erfindung nicht auf diese Ausführungsformen und praktischen Beispiele beschränkt, sondern es können verschiedene Variationen, Modifikationen und Substitutionen gemacht werden, ohne den Bereich der vorliegenden Erfindung zu verlassen.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
Zitierte Patentliteratur

JP 2012-014051 [0005]

Zitierte Nicht-Patentliteratur

JIS (Japanischer Industriestandard) B0601: 2001 [0061]
JIS, B0601: 2001 [0153]

Claims

Eine transparente Basis, aufweisend: eine erste Fläche, die texturiert ist; und eine zweite Fläche, die texturiert ist und sich auf einer Seite der transparenten Basis befindet, die der ersten Fläche gegenüberliegt, wobei ein 20° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_b20° und ein 45° effektiver reflektierter Diffusionsindexwert R_b45°, die verwendet werden zur Evaluation der ersten und der zweiten Fläche, eine Beziehung R_b20° – R_b45° ≥ 0,05 erfüllen, wobei ein x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes R_bx° einer zu evaluierenden Zieloberfläche, in einem Zustand, in dem eine Nicht-Ziel-Oberfläche, die kein Ziel der Evaluierung der transparenten Basis ist, einer Behandlung unterworfen wurde, die eine Reflektion von Licht verhindert, berechnet wird nach einer Formel R_bx° = (L_strx° – L_srrx°)/L_strx° durch Strahlen von Licht in eine Richtung, die um x° geneigt ist mit Bezug auf eine Dickenrichtung der transparenten Basis von der Zieloberflächenseite der transparenten Basis, Messen einer Luminanz eines regulären Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, Variieren eines Akzeptanzwinkels des regulären Reflexionsstrahls, der von der Zieloberflächenseite reflektiert wird, in einem Bereich von x – 30° bis x + 30°, und Messen der Luminanz eines gesamten Reflexionsstrahls, der von der Zieloberfläche reflektiert wird, wobei sich die Dickenrichtung der transparenten Basis auf eine Richtung bezieht, in welcher eine Dicke der transparenten Basis genommen oder gemessen wird, R_bx° einen x° Indexwert der effektiven Diffusion eines reflektierten Bildes bezeichnet, L_strx° eine Luminanz des x° effektiven gesamten Reflexionsstrahls bezeichnet, L_srrx° eine Luminanz des x° effektiven regulären Reflexionsstrahls bezeichnet, und x 20 oder 45 ist.
Transparente Basis nach Anspruch 1, wobei eine durchschnittliche Länge R_Sm eines Oberflächenrauheitkurvenelements auf zumindest einer von der ersten und der zweiten Fläche 25 μm oder weniger beträgt, und ein quadratischer Rauheit-Mittelwert R_q der zumindest einen von der ersten und der zweiten Oberflächenrauheit auf der Fläche 0,3 μm oder weniger beträgt.
Transparente Basis nach Anspruch 1 oder 2, wobei ein Auflösungsindexwert T der transparenten Basis weniger als 0,2 ist, wobei ein Auflösungsindexwert T1 der ersten Fläche berechnet wird basierend auf einer Formel T1 = (L_tt – L_t0°)/L_tt durch Strahlen von Licht von der zweiten Fläche in eine Richtung parallel zur Dickenrichtung der transparenten Basis, Messen einer Luminanz L_t0° des 0° transmittierten Lichts, welches durch die erste Fläche in der Richtung parallel zur Dickenrichtung der transparenten Basis transmittiert wird, Variieren eines Akzeptanzwinkels des Lichts, das von der zweiten Fläche strahlt, mit Bezug zur ersten Fläche in einem Bereich von –30° bis +30°, und Messen einer Luminanz L_tt des gesamten reflektierten Lichts, das von der ersten Fläche transmittiert wird, wobei ein Auflösungsindexwert T2 der zweiten Fläche ähnlich zu dem Auflösungsindexwert T1 berechnet wird, und wobei der Auflösungsindexwert T ein größerer der Auflösungsindexwerte T1 und T2 ist.
Transparente Basis nach Anspruch 3, wobei der Auflösungsindexwert T der transparenten Basis weniger als 0,15 ist.
Transparente Basis nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die transparente Basis aus Glas gefertigt ist.