CN106461502A - 评价透明基体的光学特性的方法及透明基体 - Google Patents

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Abstract

一种评价透明基体的光学特性的方法，其中，顺序不同地具有如下步骤：把握进行了防眩光处理的透明基体的定量化的防眩性指标值R的步骤；及把握所述透明基体的定量化的眩光指标值G的步骤。

Description

评价透明基体的光学特性的方法及透明基体
技术领域
本发明涉及评价透明基体的光学特性的方法。
背景技术
通常，在具有像素的LCD(Liquid Crystal Display：液晶显示器)装置那样的显示装置上，为了进行该显示装置的保护，配置有由透明基体构成的保护罩。
然而，在显示装置上设置有这样的透明基体的情况下，在经由透明基体来观察显示装置的显示图像时，经常存在产生放置于周边的物品映入的情况。当透明基体产生这样的映入时，显示图像的观察者难以观察显示图像，而且会接受不舒适的印象。
因此，为了抑制这样的映入，有时对于透明基体的表面应用防眩光处理。
需要说明的是，在专利文献1中示出使用特殊的装置来评价向显示装置的映入的方法。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-147343号公报
发明内容
发明要解决的课题
如前所述，为了抑制周围光的映入，对透明基体经常实施防眩光处理。
然而，在实际的透明基体中，除了周围光的映入的抑制效果之外，有时也想要同时把握防眩性及眩光等特性。
然而，到目前为止，还不太知晓评价透明基体的防眩性和眩光这两方的方法。尤其是关于透明基体的眩光，到目前为止评价方法难以说是充分确立，存在定量地评价本身困难的问题。
需要说明的是，作为透明基体的眩光评价装置，最近，SMS-1000装置(Display-Messtechnik&Systeme公司制)引起关注。在该SMS-1000装置中，通过经由固体摄像元件拍摄到的透明基体的一部分的图像(亮度)的解析，能够评价透明基体的眩光。
然而，根据本申请发明者们的见解，确认到在基于SMS-1000装置的评价中经常得不到适当的眩光的测定结果的情况。即，在目视观察下，虽然未看到有意的眩光，但是在基于SMS-1000装置的评价中，存在判断为透明基体表现出显著的眩光的情况和产生其相反的结果的情况。
这样，目前也需要适当地把握透明基体的防眩性及眩光这两方的技术。
本发明鉴于这样的背景而作出，在本发明中，目的在于提供一种能够适当地评价防眩光处理后的透明基体的防眩性及眩光这两方的评价方法。
用于解决课题的方案
在本发明中，提供一种评价透明基体的光学特性的方法，其特征在于，顺序不同地具有如下步骤：
取得透明基体的定量化的防眩性指标值的步骤，所述透明基体具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理；及
取得所述透明基体的定量化的眩光指标值的步骤，
所述定量化的防眩性指标值通过如下步骤得到：
(a)从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成20°的方向照射第一光，并测定由所述第一表面反射的20°正反射光的亮度的步骤；
(b)使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的全部反射光的亮度的步骤；及
(c)根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R的步骤，
防眩性指标值R＝
(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)，
所述定量化的眩光指标值通过如下的步骤得到：
(A)将所述透明基体以使所述第二表面位于显示装置侧的方式配置在所述显示装置上的步骤；
(B)在使所述显示装置打开的状态下，使用固体摄像元件拍摄所述透明基体，取得第一图像的步骤，且在将所述固体摄像元件与所述透明基体之间的距离设为d、将所述固体摄像元件的焦距设为f时，拍摄时的距离指数r(＝d/f)为8以上的步骤；
(C)根据所述取得的第一图像形成第一亮度分布的步骤；
(D)使所述透明基体沿着与所述第二表面大致平行的方向移动，使所述透明基体相对于所述显示装置移动的步骤；
(E)重复进行所述(B)及(C)的步骤，根据取得的第二图像形成第二亮度分布的步骤；
(F)根据所述第一亮度分布与所述第二亮度分布的差分，求出差分亮度分布ΔS的步骤；
(G)根据所述差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔSave及标准差σ，并且根据以下的式(2)得到输出值A的步骤，
输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔSave 式(2)
(H)在基准用的防眩光处理后的透明基体实施所述(A)～(G)的步骤，并取代输出值A而得到参照输出值Q的步骤，且该(H)的步骤是在所述(A)～(G)的步骤之前实施或者与所述(A)～(G)的步骤并列地实施的步骤；及
(I)根据以下的式(3)求出眩光指标值G的步骤，
眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q) 式(3)。
另外，在本发明中，提供一种透明基体，具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理，其特征在于，
在利用前述的本发明的方法评价时，
所述防眩性指标值R为0.4以上，
所述眩光指标值G为0.6以下。
发明效果
在本发明中，能够提供一种可适当地评价防眩光处理后的透明基体的防眩性及眩光这两者的评价方法。
附图说明
图1是概略地表示本发明的一实施方式的评价透明基体的防眩性的方法的流程的图。
图2是示意性地表示在取得防眩性指标值时使用的测定装置的一例的图。
图3是概略性地表示本发明的一实施方式的评价透明基体的眩光的方法的流程的图。
图4是示意性地表示在评价透明基体的眩光的方法的一工序中得到的第一图像的图。
图5是示意性地表示在评价透明基体的眩光的方法的一工序中得到的第一亮度分布的图。
图6是标绘了在各种透明基体中得到的防眩性指标值R(横轴)与眩光指标值G(纵轴)的关系的一例的图。
图7是示意性地表示本发明的一实施方式的透明基体的图。
图8是表示在各透明基体中得到的基于目视的防眩性的等级(纵轴)与防眩性指标值R(横轴)之间的关系的一例的坐标图。
图9是表示在各透明基体中得到的眩光指标值G(纵轴)与基于目视的眩光的等级(横轴)之间的关系的一例的坐标图。
具体实施方式
以下，详细说明本发明。
如前所述，在防眩光处理后的透明基体中，有时想要把握防眩性和眩光这两特性。然而，目前，几乎还未看到能够客观地评价透明基体的防眩性和眩光这两方的方法。
尤其是作为对透明基体实施防眩光处理的方法，存在各种方法，因此防眩光处理后的透明基体的表面也存在各种形态。将这样的具有各种表面的透明基体的防眩性及眩光以相同指标一样地评价的情况极其困难。
例如，最近，作为透明基体的眩光评价装置，SMS-1000装置受到关注。然而，根据本申请发明者们的见解，确认到在基于SMS-1000装置的评价中，经常得不到适当的眩光的测定结果。即，即便在目视观察中未看到有意的眩光的透明基体，在基于SMS-1000装置的评价中，也存在判断为透明基体表现出较大的眩光的情况和产生其相反的结果的情况。
这样，即便仅着眼于透明基体的眩光，仍然难以说是确立了充分有效的测定方法。此外，实际情况是几乎不存在着眼于透明基体的防眩性和眩光这两方的评价方法。
相对于此，在本发明中，提供一种评价透明基体的光学特性的方法，其特征在于，顺序不同地具有如下步骤：
取得透明基体的定量化的防眩性指标值的步骤，所述透明基体具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理；及
取得所述透明基体的定量化的眩光指标值的步骤，
所述定量化的防眩性指标值通过如下步骤得到：
(a)从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成20°的方向照射第一光，并测定由所述第一表面反射的20°正反射光的亮度的步骤；
(b)使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的全部反射光的亮度的步骤；及
(c)根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R的步骤，
防眩性指标值R＝
(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)，
所述定量化的眩光指标值通过如下的步骤得到：
(A)将所述透明基体以使所述第二表面位于显示装置侧的方式配置在所述显示装置上的步骤；
(B)在使所述显示装置打开的状态下，使用固体摄像元件拍摄所述透明基体，取得第一图像的步骤，且在将所述固体摄像元件与所述透明基体之间的距离设为d、将所述固体摄像元件的焦距设为f时，拍摄时的距离指数r(＝d/f)为8以上的步骤；
(C)根据所述取得的第一图像形成第一亮度分布的步骤；
(D)使所述透明基体沿着与所述第二表面大致平行的方向移动，使所述透明基体相对于所述显示装置移动的步骤；
(E)重复进行所述(B)及(C)的步骤，根据取得的第二图像形成第二亮度分布的步骤；
(F)根据所述第一亮度分布与所述第二亮度分布的差分，求出差分亮度分布ΔS的步骤；
(G)根据所述差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔSave及标准差σ，并且根据以下的式(2)得到输出值A的步骤，
输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔSave 式(2)
(H)在基准用的防眩光处理后的透明基体实施所述(A)～(G)的步骤，并取代输出值A而得到参照输出值Q的步骤，且该(H)的步骤是在所述(A)～(G)的步骤之前实施或者与所述(A)～(G)的步骤并列地实施的步骤；及
(I)根据以下的式(3)求出眩光指标值G的步骤，
眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q) 式(3)。
在本发明的评价透明基体的光学特性的方法中，如以下详细所示，无论防眩光处理的方法如何，都能够适当地评价进行了防眩光处理后的透明基体的防眩性及眩光这两方。
另外，在本发明的方法中，使用数值化的值作为透明基体的防眩性及眩光。因此，关于防眩性及眩光，与观察者的主观或成见无关而能够客观且定量地判断上述的光学特性。
(关于本发明的评价透明基体的光学特性的方法的一实施方式)
接下来，参照附图，说明在本发明的方法中能够使用的分别评价透明基体的防眩性及眩光的方法的一实施方式。
(防眩性评价方法)
图1概略性地示出本发明的一实施方式的评价透明基体的防眩性的方法的流程。
如图1所示，该评价透明基体的防眩性的方法(以下，也称为“第一方法”)包括如下步骤：
(a)从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧，沿着相对于所述透明基体的厚度方向成20°的方向照射第一光，并测定由所述第一表面正反射的光(以下，也称为“20°正反射光”)的亮度的步骤(步骤S110)；
(b)使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的第一光(以下，也称为“全部反射光”)的亮度的步骤(步骤S120)；及
(c)根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R的步骤(步骤S130)。
防眩性指标值R＝
(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)
以下，对各步骤进行说明。
(步骤S110)
首先，准备具有彼此相对的第一及第二表面的透明基体。
透明基体只要透明，就可以由任意材料构成。透明基体也可以是例如玻璃或塑料等。
在透明基体由玻璃构成的情况下，玻璃的组成没有特别限定。玻璃也可以是例如钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃。
另外，在透明基体由玻璃构成的情况下，也可以对第一及/或第二表面进行化学强化处理。
在此，化学强化处理是指使玻璃基板浸渍在包含碱金属的熔融盐中，将在玻璃基板的最表面存在的离子半径小的碱金属(离子)置换为在熔融盐中存在的离子半径大的碱金属(离子)的技术的总称。在化学强化处理法中，在被处理的玻璃基板的表面配置离子半径比原来的原子大的碱金属(离子)。因此，能够向玻璃基板的表面施加压缩应力，由此玻璃基板的强度(尤其是破裂强度)提高。
例如，在玻璃基板包含钠离子(Na+)的情况下，通过化学强化处理，将该钠离子置换为例如钾离子(K+)。或者，例如，在玻璃基板包含锂离子(Li+)的情况下，也可以通过化学强化处理，将该锂离子置换为例如钠离子(Na+)及/或钾离子(K+)。
另一方面，在透明基体由塑料构成的情况下，塑料的组成没有特别限定。透明基体也可以是例如聚碳酸酯基板。
需要说明的是，在步骤S110之前，实施对透明基体的第一表面进行防眩光处理的步骤。防眩光处理的方法没有特别限定。防眩光处理也可以是例如磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理或硅涂层处理等。
在本发明的一实施方式的防眩性测定方法中，使用表示透明基体的防眩性的定量的指标值(防眩性指标值R)，能够一样地评价各种透明基体。因此，作为防眩光处理的方法，可以采用各种方法。
防眩光处理后的透明基体的第一表面也可以具有例如0.05μm～1.0μm的范围的表面粗糙度(算术平均粗糙度Ra)。
接下来，从准备的透明基体的第一表面侧朝向相对于透明基体的厚度方向成20°±0.5°的方向照射第一光。第一光由透明基体的第一表面反射。在该反射光中，接受20°正反射光，测定其亮度，作为“20°正反射光的亮度”。
(步骤S120)
接下来，使由第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，实施同样的操作。此时，测定由透明基体的第一表面反射而从第一表面出射的第一光的亮度分布并进行总计，作为“全部反射光的亮度”。
(步骤S130)
接下来，根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R：
防眩性指标值R＝
(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)
如后所述，确认到该防眩性指标值R与基于观察者的目视的防眩性的判断结果相关，显示接近于人的视觉的行迹的情况。例如，防眩性指标值R显示较大的值(接近于1的值)的透明基体的防眩性优异，反之防眩性指标值R显示较小的值的透明基体处于防眩性差的倾向。因此，该防眩性指标值R可以使用作为判断透明基体的防眩性时的定量的指标。
图2示意性地示出取得前述的式(1)表示的防眩性指标值R时使用的测定装置的一例。
如图2所示，测定装置300具有光源350及检测器370，在测定装置300内配置透明基体210。透明基体210具有第一表面212及第二表面214。光源350朝向透明基体210放射第一光362。检测器370接受在第一表面212反射的反射光364，并检测其亮度。
需要说明的是，透明基体210以使第一表面212位于光源350及检测器370侧的方式配置。因此，检测器370检测的第一光是由透明基体210反射的反射光364。而且，在透明基体210的一方的表面被进行防眩光处理的情况下，该防眩光处理的表面成为透明基体210的第一表面212。即，这种情况下，透明基体210以使防眩光处理的表面位于光源350及检测器370侧的方式配置在测定装置300内。
另外，第一光362以相对于透明基体210的厚度方向倾斜了20°的角度照射。需要说明的是，在本申请中，考虑到测定装置的误差，将20°±0.5°的范围定义为角度20°。
在这样的测定装置300中，从光源350朝向透明基体210照射第一光362，使用以使受光角度φ成为20°的方式配置的检测器370，检测由透明基体210的第一表面212反射的正反射光364。由此，检测“20°正反射光”。
接下来，在检测器370中，使测定反射光364的受光角度φ在-20°～+60°的范围内变化，实施同样的操作。
并且，在受光角度φ＝-20°～+60°的范围内，检测由透明基体210的第一表面212反射的反射光364(称为全部反射光)的亮度分布，并进行总计。
在此，受光角度φ的负(-)表示该受光角度与成为评价对象的对象表面(在上述例中为第一表面)的法线相比处于入射光侧的情况，正(+)表示该受光角度与对象表面的法线相比不处于入射光侧的情况。
根据得到的20°正反射光的亮度及全部反射光的亮度，通过前述的式(1)，能够取得透明基体210的防眩性指标值R。需要说明的是，这样的测定通过使用市售的测角器(变角光度计)能够容易地实施。
需要说明的是，第一光的照射角度从60°～5°的范围能够适当选择。但是，在本申请中，从基于目视观察的防眩性评价与定量评价表现良好的相关的观点出发，选择20°作为第一光的照射角度。
(关于眩光指标值)
图3概略性地示出本发明的一实施方式的评价透明基体的眩光的方法的流程。
如图3所示，该评价透明基体的眩光的方法(以下，也称为“第二方法”)包括如下步骤：
(A)将具有第一及第二表面的透明基体以使第二表面位于显示装置侧的方式配置在所述显示装置上的步骤(步骤S210)；
(B)在使所述显示装置打开的状态下，使用固体摄像元件拍摄所述透明基体，取得第一图像的步骤，且在将所述固体摄像元件与所述透明基体之间的距离设为d、将所述固体摄像元件的焦距设为f时，拍摄时的距离指数r(＝d/f)为8以上的步骤(步骤S220)；
(C)根据所述取得的第一图像形成第一亮度分布的步骤(步骤S230)；
(D)使所述透明基体沿着与所述第二表面大致平行的方向移动，使所述透明基体相对于所述显示装置移动的步骤(步骤S240)；
(E)重复进行所述(B)及(C)的步骤，根据取得的第二图像形成第二亮度分布的步骤(步骤S250)；
(F)根据所述第一亮度分布与所述第二亮度分布的差分，求出差分亮度分布ΔS的步骤(步骤S260)；
(G)根据所述差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔSave及标准差σ，并且根据以下的式(2)得到输出值A的步骤(步骤S270)；
输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔSave 式(2)
(H)在基准用的防眩光处理后的透明基体实施所述(A)～(G)的步骤，取代输出值A而得到参照输出值Q的步骤(步骤S280)；
(I)根据以下的式(3)求出眩光指标值G的步骤(步骤S290)。
眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q)式(3)
以下，详细说明各步骤。
(步骤S210)
首先，准备具有彼此相对的第一及第二表面的透明基体。透明基体的第一表面被进行防眩光处理。
需要说明的是，透明基体的材质、组成等与在前述的步骤S110中所示的情况相同，因此这里不再进一步说明。
但是，如前所述，以往，难以通过相同指标一样地评价下述透明基体的眩光，所述透明基体具有不仅是由于例如蚀刻处理内的条件变更那样的单一的防眩光处理方法之间而不同的各种表面，而且由于存在多个的防眩光处理方法而不同的各种表面。
然而，在本发明的一实施方式的眩光评价方法中，如以后所示，使用表示透明基体的眩光的定量的指标值(眩光指标值G)，能够一样地评价各种透明基体。因此，需要留意的是，本发明的一实施方式的眩光评价方法作为选择防眩光处理的处理方法的手段也有用。
接下来，准备显示装置。显示装置只要是具有像素(pixel)的结构即可，没有特别限定。显示装置也可以是例如LCD装置、OLED(Organic Light Emitting Diode：有机发光二极管)装置、PDP(Plasma Display Panel：等离子显示器)装置或者平板型显示装置等。显示装置的析像度优选为例如132ppi以上，更优选为186ppi以上，进一步优选为264ppi以上。
接下来，在显示装置上配置透明基体。此时，透明基体以第二表面位于显示装置侧的方式配置在显示装置上。
(步骤S220)
接下来，在使显示装置打开的状态(即显示图像的状态)下，使用固体摄像元件，从第一表面侧拍摄透明基体，取得配置在显示装置上的透明基体的图像(第一图像)。
固体摄像元件与透明基体之间的距离d设定为规定的值。
需要说明的是，在本申请中，使用距离指数r作为对应于固体摄像元件与透明基体之间的距离d的指标。在此，距离指数r使用固体摄像元件的焦距f及固体摄像元件与透明基体之间的距离d，由以下的式(4)表示：
距离指数r＝(固体摄像元件与透明基体之间的距离d)/
(固体摄像元件的焦距f) 式(4)
需要说明的是，在本申请中，距离指数r为8以上。
这是因为，若距离指数r小于8，则固体摄像元件与透明基体之间的距离d变小，容易受到透明基体的防眩光处理后的第一表面的形态的影响。因此，通过使距离指数r为8以上，能够在有意地抑制了由应用的防眩光处理的方法的不同引起的第一表面的形态的差异的影响的状态下，一样地评价利用各种方法进行了防眩光处理后的透明基体的眩光。
距离指数r优选为9以上，更优选为10以上。
显示于显示装置的图像是单一色(例如绿色)的图像，优选显示在显示装置的显示图像面整体上。这是为了极力减小由显示色的差异引起的观察方法的差异等的影响。
作为固体摄像元件，可以利用例如电荷耦合元件(CCD)、互补性金属氧化膜半导体(CMOS)。无论采用哪个的情况下，都优选使用具有高像素数的数码相机等。
通过该步骤，能得到例如图4示意性地表示的第一图像410。在图4所示的例子中，在第一图像410中，观察到与显示装置的一部分的排列成3行×3列的9个像素对应的区域(以下，称为对应区域420-1～420-9)明亮。
需要说明的是，在图4中，为了明确化，将各对应区域420-1～420-9彼此以充分分离的状态示出。然而，需要留意的是，在实际的图像中，各对应区域420-1～420-9间的距离更窄，相邻的对应区域彼此有时明亮的部分局部重合。
(步骤S230)
接下来，对于在步骤S220中拍摄到的第一图像410进行图像解析，形成第一亮度分布。第一亮度分布在XY平面上形成作为立体性的映射。
图5示意性地示出该步骤得到的第一亮度分布的一例。
如图5所示，第一亮度分布430在与第一图像410的各对应区域420-1～420-9对应的区域分别具有大致正态分布形状的亮度分布成分q1～q9。更一般而言，第一亮度分布430通过i个的多个亮度分布成分qi的集合表示(i为2以上的整数)。
需要留意的是，在图5中，为了避免描绘变得复杂，亮度分布成分q1～q9二维性地(即非立体性地)表示。
需要说明的是，为了提高第一亮度分布430的精度，也可以增加在步骤S220中拍摄的第一图像410的张数，在该步骤S230中，对于各个第一图像410实施同样的图像解析。这种情况下，然后，通过对各图像解析结果进行平均化，能得到精度更高的第一亮度分布430。
(步骤S240)
接下来，使透明基体沿着与第二表面平行的方向滑动，使透明基体相对于显示装置相对移动。移动距离优选小于10mm，例如，也可以为数mm。
(步骤S250)
接下来，重复进行所述步骤S220～步骤S230。即，在使显示装置打开的状态下，利用固体摄像元件取得第二图像，并且根据第二图像形成第二亮度分布。
在该步骤中，也可以为了增加第二亮度分布的精度而增加利用固体摄像元件拍摄的第二图像的张数。然后，对于各个第二图像实施图像解析，对各图像解析结果进行平均化，由此能得到精度更高的第二亮度分布。
由此，能得到由多个亮度分布成分si(在此i为2以上的整数)的集合表示的第二亮度分布。需要说明的是，亮度分布成分si由与亮度分布成分qi相同的个数构成。
(步骤S260)
接下来，根据第一亮度分布与第二亮度分布的差分，推算差分亮度分布ΔS。差分亮度分布ΔS与第一亮度分布及第二亮度分布同样地，通过大致正态分布形状的亮度分布成分ti(在此i为2以上的整数)的集合表示。
(步骤S270)
接下来，使用由步骤S260得到的差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔSave及标准差σ。
在此，平均亮度分布ΔSave可以通过对在差分亮度分布ΔS中包含的i个亮度分布成分ti的绝对值进行平均化来求出。而且，标准差σ可以使用差分亮度分布ΔS中包含的i个亮度分布成分ti、平均亮度分布ΔSave，根据以下的式(5)求出。
【数学式1】
根据得到的平均亮度分布ΔSave及标准差σ，通过以下的式(2)，推算输出值A。
输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔSave 式(2)
(步骤S280)
接下来，使用基准(标准)用的防眩光处理后的透明基体，实施前述的步骤S210～步骤S270的步骤。由此，取代所述式(2)的输出值A而取得参照输出值Q。
眩光指标值通过与如后述的(3)式那样得到的参照输出值Q的比率来表示，因此参照输出值Q强烈地要求测定再现性，需要远大于各测定的误差。为了简单地准备赋予适当的参照输出值Q的基准(标准)用的防眩光处理后的透明基体，只要选定对于钠钙玻璃进行了基于磨砂/蚀刻的防眩光处理后的平板状的玻璃中，60度光泽值尽可能大，且粗糙度曲线要素的平均长度RSm为70μm以上且小于120μm，作为市售品能够获得的透明基体即可。
在此，60度光泽值可以通过遵照JIS-Z8741的方法测定作为镜面光泽度。60度光泽值例如为110以上，更优选为120以上。粗糙度曲线要素的平均长度RSm可以通过遵照JISB0601(2001)的方法进行测定。粗糙度曲线要素的平均长度RSm例如为70μm以上，更优选为80μm以上，且小于120μm，优选小于110μm。
在本发明的一实施方式中，作为满足上述的条件的基准用的防眩光处理后的透明基体，选定了60度光泽值为140％且表粗糙度曲线要素的平均长度RSm为85μm的VRD140防眩光处理玻璃(旭硝子株式会社制)。
需要说明的是，该步骤S280也可以使用评价用的防眩光处理后的透明基体，在实施前述的步骤S210～步骤S270之前实施。或者，该步骤S280也可以与评价用的防眩光处理后的透明基体的步骤S210～步骤S270的实施并列地实施。
(步骤S290)
接下来，使用输出值A及参照输出值Q，根据以下的式(3)，求出眩光指标值G：
眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q) 式(3)
该眩光指标值G如后所述与基于观察者的目视的眩光的判断结果相关，确认到显示接近于人的视觉的行迹的情况。例如，眩光指标值G大的透明基体的眩光显著，反之眩光指标值G小的透明基体处于抑制眩光的倾向。因此，该眩光指标值G可以使用作为判断透明基体的眩光时的定量性指标。
以上，参照图3～图5，说明了评价透明基体的眩光的方法的一例。但是，在本发明中，评价透明基体的眩光的方法并不局限于此。
例如，在前述的流程中，在步骤S260与步骤S270之间，根据差分亮度分布ΔS，也可以实施将由来于所述显示装置的成分进行滤波除去的步骤(步骤S265)。取代差分亮度分布ΔS而使用通过该操作得到的实效差分亮度分布ΔSe，来实施步骤S270，由此能够进一步提高得到的眩光指标值G的精度。
但是，该步骤S265只要在需要时进行即可，未必非要实施。
需要说明的是，以上说明的评价透明基体的眩光的方法通过使用例如SMS-1000装置(Display-Messtechnik&Systeme公司制)能够容易地实施。
通过使用以上说明那样的防眩性指标值R及眩光指标值G，能够定量地评价防眩光处理后的透明基体的光学特性。
(基于2个指标的评价)
接下来，说明同时评价透明基体的2个光学特性的方法及其效果。
在图6中示出标绘了在通过各种方法进行了防眩光处理后的透明基体中得到的防眩性指标值R(横轴)与眩光指标值G(纵轴)的关系的图的一例。在此，本数据取得用的眩光评价的拍摄时的距离指数r＝10.8。
在图6中，横轴的防眩性指标值R越大，而且纵轴的眩光指标值越小，透明基体的防眩性越提高，越能抑制透明基体的眩光。
需要说明的是，在图6中，为了参考，兼具良好的防眩性和良好的眩光防止性的理想的透明基体的区域由显示为ideal的○标记表示。
在此，仅考虑单一的光学的特性例如眩光防止性而从各种透明基体之中选定候补透明基体的情况下，图6的阴影所示的区域C中包含的透明基体成为同样的选定。即，在这样的方法中，防眩性差的透明基体包含在选定候补透明基体中。同样，仅考虑防眩性而选定透明基体的情况下，同样地选定图6的阴影所示的区域D中包含的透明基体，眩光防止性差的透明基体包含在选定候补中。
相对于此，在使用图6那样的眩光指标值G与防眩性R的相关图的情况下，能够一次考虑两方的光学特性而选定适当的透明基体。即，在这样的选定方法中，根据目的及用途等能够适当地选定透明基体，即，关于眩光防止性和防眩性，以能够发挥最良好的特性的方式选定透明基体。
这样，在本发明的一实施例的方法中，能够一次定量地考虑2个光学特性，因此能够根据使用目的或用途等而更适当地选定透明基体。
另外，在本发明的方法中，作为透明基体的防眩性指标值R及眩光指标值G，使用数值化了的值。因此，关于防眩性及眩光，与观察者的主观或成见无关而能够客观且定量地判断上述的光学特性。
(本发明的一实施方式的透明基体)
接下来，参照图7，说明本发明的一实施方式的透明基体。
图7示意性地表示本发明的一实施方式的透明基体(以下，仅称为“透明基体”)900。
透明基体900由玻璃构成。玻璃的组成并未特别限定，玻璃也可以是例如钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃。
透明基体900具有第一表面902及第二表面904，第一表面902被进行防眩光处理。
防眩光处理的方法没有特别限定。防眩光处理也可以是例如磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理或硅涂层处理等。透明基体的第一表面902也可以具有例如0.05μm～1.0μm的范围的表面粗糙度(算术平均粗糙度Ra)。
另外，透明基体900的第一表面902及/或第二表面904也可以被进行化学强化处理。
透明基体900的尺寸及形状没有特别限定。例如，透明基体900也可以是正方形形状、矩形形状、圆形形状或椭圆形形状等。
需要说明的是，在使用透明基体900作为显示装置的保护罩的情况下，透明基体900的厚度优选较薄。例如，透明基体900的厚度也可以是0.2mm～2.0mm的范围。
在此，透明基体900具有使用前述的第一方法(步骤S110～步骤S130)测定的防眩性指标值R为0.4以上这样的特征。而且，该透明基体900具有使用前述的第二方法(步骤S210～步骤S290。包括步骤S265)测定作为距离指数r＝8的眩光指标值G为0.6以下这样的特征。
防眩性指标值R优选为0.6以上，更优选为0.8以上。
另外，眩光指标值G优选为0.5以下，更优选为0.4以下，进一步优选为0.3以下。
实施例
接下来，说明使用各种透明基体实施的防眩性评价及眩光评价的结果。
(关于防眩性评价)
利用以下的方法评价通过各种方法对第一表面进行了防眩光处理后的透明基体的防眩性。
作为防眩光处理，采用了磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理或硅涂层处理。而且，透明基体使用了铝硅酸盐玻璃。
首先，从第一表面(即被进行防眩光处理后的表面)侧通过目视观察各透明基体，以等级1～等级12的12等级评价了防眩性。需要说明的是，观察方向是相对于透明基体的厚度方向成20°的方向。
接下来，使用变角光度计(GC5000L：日本电色工业公司制)，实施前述的步骤S110～步骤S130所示那样的操作，根据式(1)，推算了各透明基体的防眩性指标值R。
图8示出在各透明基体中得到的基于目视的防眩性的评价等级(纵轴)与防眩性指标值R(横轴)之间的关系的一例。
根据图8可知，两者之间存在正的相关关系。
其结果暗示了防眩性指标值R与基于观察者的目视的反射像扩散性的评价等级的倾向相对应，因此使用防眩性指标值R能够判断透明基体的反射像扩散性的情况。换言之，也可以说是通过使用防眩性指标值R能够客观且定量地判断透明基体的反射像扩散性。
(关于眩光的评价)
接下来，使用前述的防眩性评价所使用的各种透明基体，通过以下的方法评价了上述的透明基体的眩光。
首先，将各透明基体直接配置在显示装置(iPad(注册商标)、析像度264ppi)上。此时，以使各透明基体的第一表面(即被进行了防眩光处理的表面)位于观察者侧的方式将透明基体配置在显示装置上。需要说明的是，从显示装置显示的图像为绿色单色的图像，图像的尺寸为19.6cm×14.6cm。
接下来，在此状态下，从第一表面侧目视观察各透明基体，以等级0～等级10的11等级评价了眩光。等级0表示几乎未看到眩光的情况，等级10表示眩光极其显著的情况。而且，之间的等级值处于数值越大则眩光越变大的倾向。
接下来，使用SMS-1000装置(Display-Messtechnik&Systeme公司制)，实施前述的步骤S210～步骤S290(包括步骤S265)所示的操作，根据式(3)，推算了各透明基体的眩光指标值G。需要说明的是，作为基准用的进行了防眩光处理的透明基体，使用VRD140防眩光处理玻璃(旭硝子株式会社制)。
显示装置使用前述的iPad(注册商标)，固体摄像元件与透明基体之间的距离d设为540mm。该距离d由距离指数r表示的话，相当于r＝10.8。
图9示出在各透明基体中得到的眩光指标值G(纵轴)与基于目视的眩光的等级(横轴)之间的关系的一例。
根据图9可知，两者之间存在正的相关关系。
其结果暗示了眩光指标值G与基于观察者的目视的眩光的判定结果的倾向相对应，因此，使用眩光指标值G能够判断透明基体的眩光的情况。换言之，可以说是通过使用眩光指标值G能够客观且定量地判断透明基体的眩光。
这样，确认到能够使用防眩性指标值R及眩光指标值G分别作为透明基体的防眩性及眩光的定量的指标的情况。
工业实用性
本发明能够利用于例如LCD装置、OLED装置、PDP装置及平板型显示装置那样的各种显示装置等中设置的透明基体的光学特性评价。
另外，本申请主张基于在2014年5月14日提出申请的日本国专利申请2014-100343号的优先权，并将该日本国申请的全部内容通过参照而援引于本申请。
标号说明
210 透明基体
212 第一表面
214 第二表面
300 测定装置
350 光源
362 第一光
364 反射光
370 检测器
410 第一图像
420-1～420-9 对应区域
430 第一亮度分布
900 透明基体
902 第一表面
904 第二表面
qi 亮度分布成分

Claims (10)

1.一种评价透明基体的光学特性的方法，其特征在于，
顺序不同地具有如下步骤：
取得透明基体的定量化的防眩性指标值的步骤，所述透明基体具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理；及
取得所述透明基体的定量化的眩光指标值的步骤，
所述定量化的防眩性指标值通过如下步骤得到：
(a)从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成20°的方向照射第一光，并测定由所述第一表面反射的20°正反射光的亮度的步骤；
(b)使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的全部反射光的亮度的步骤；及
(c)根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R的步骤，
防眩性指标值R＝
(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)，
所述定量化的眩光指标值通过如下的步骤得到：
(A)将所述透明基体以使所述第二表面位于显示装置侧的方式配置在所述显示装置上的步骤；
(B)在使所述显示装置打开的状态下，使用固体摄像元件拍摄所述透明基体，取得第一图像的步骤，且在将所述固体摄像元件与所述透明基体之间的距离设为d、将所述固体摄像元件的焦距设为f时，拍摄时的距离指数r(＝d/f)为8以上的步骤；
(C)根据所述取得的第一图像形成第一亮度分布的步骤；
(D)使所述透明基体沿着与所述第二表面大致平行的方向移动，使所述透明基体相对于所述显示装置移动的步骤；
(E)重复进行所述(B)及(C)的步骤，根据取得的第二图像形成第二亮度分布的步骤；
(F)根据所述第一亮度分布与所述第二亮度分布的差分，求出差分亮度分布ΔS的步骤；
(G)根据所述差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔSave及标准差σ，并且根据以下的式(2)得到输出值A的步骤，
输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔSave 式(2)
(H)在基准用的防眩光处理后的透明基体实施所述(A)～(G)的步骤，并取代输出值A而得到参照输出值Q的步骤，且该(H)的步骤是在所述(A)～(G)的步骤之前实施或者与所述(A)～(G)的步骤并列地实施的步骤；及
(I)根据以下的式(3)求出眩光指标值G的步骤，
眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q) 式(3)。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
在所述(G)的步骤之前，实施如下所述步骤：从所述差分亮度分布ΔS之中，将由来于所述显示装置的成分滤波除去，得到实效差分亮度分布ΔSe的步骤，
在所述(G)的步骤中，取代所述差分亮度分布ΔS而使用所述实效差分亮度分布ΔSe。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，
使用测角器取得所述防眩性指标值。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，
所述显示装置是选自由LCD装置、OLED装置、PDP装置及平板型显示装置构成的组中的一个装置。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于，
所述显示装置具有132ppi以上的析像度。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，
所述透明基体由钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃构成。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
所述透明基体的第一及第二表面中的至少一方被进行化学强化处理。
8.根据权利要求1～7中任一项所述的方法，其特征在于，
所述防眩光处理通过对于所述透明基体的第一表面应用选自由磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理及硅涂层处理构成的组中的至少一个处理方法来实施。
9.一种透明基体，具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理，所述透明基体的特征在于，
在利用所述权利要求1～5中任一项记载的方法评价时，
所述防眩性指标值R为0.4以上，
所述眩光指标值G为0.6以下。
10.一种透明基体，具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理，所述透明基体的特征在于，
在利用所述权利要求1～5中任一项记载的方法评价时，
所述防眩性指标值R为0.4以上，
所述眩光指标值G为0.3以下。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6399237B2 (ja) * 2015-11-20 2018-10-03 Ａｇｃ株式会社 膜付き曲げ基材およびその製造方法、ならびに画像表示装置
JP6969156B2 (ja) * 2016-05-30 2021-11-24 Ａｇｃ株式会社 印刷層付き板およびその製造方法、および表示装置
JP6973250B2 (ja) * 2018-04-04 2021-11-24 日本電気硝子株式会社 透明物品の評価方法、及び透明物品の製造方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW438965B (en) * 1999-02-19 2001-06-07 Dainippon Printing Co Ltd Method and apparatus for quantitatively evaluating scintillation and method of producing antiglare film
US20060036020A1 (en) * 2001-12-17 2006-02-16 Hiroshi Takahashi Anti-glare film, and optical member and liquid crystal display apparatus using the same
JP2008058081A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Fujifilm Corp 防眩性評価装置、防眩性評価基準設定方法および防眩性評価方法
CN101156089A (zh) * 2005-03-30 2008-04-02 大日本印刷株式会社 防眩性光学叠层体
JP2009086410A (ja) * 2007-10-01 2009-04-23 Konica Minolta Opto Inc 防眩フィルム、その製造装置、防眩性反射防止フィルム、偏光板、及び表示装置
CN101484829A (zh) * 2006-06-20 2009-07-15 住友化学株式会社 防眩膜及图像显示装置
CN101630118A (zh) * 2008-07-17 2010-01-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 镜头模组眩光检测设备及其检测方法
CN102967442A (zh) * 2011-08-31 2013-03-13 株式会社东芝 用于评价不舒适眩光的方法以及不舒适眩光的评价程序

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002082206A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Toppan Printing Co Ltd 防眩性反射防止フィルム
JP4377578B2 (ja) * 2001-12-17 2009-12-02 ダイセル化学工業株式会社 防眩性フィルム、それを用いた光学部材及び液晶表示装置
JP3766342B2 (ja) * 2002-03-26 2006-04-12 富士写真フイルム株式会社 防眩フィルムのギラツキ評価装置
KR100622243B1 (ko) * 2004-02-17 2006-09-14 오므론 가부시키가이샤 광학식 측정 장치 및 광학식 측정 방법
JP2007147343A (ja) 2005-11-25 2007-06-14 Sharp Corp 防眩度の評価方法、及び防眩度評価装置
CN102707478B (zh) * 2006-06-30 2014-10-15 日本板硝子株式会社 液晶板用玻璃基板和包括该玻璃基板的液晶板
KR101383402B1 (ko) * 2006-08-09 2014-04-08 키모토 컴파니 리미티드 방현성 부재, 이를 사용한 표시장치 및 스크린
JP2008170344A (ja) * 2007-01-12 2008-07-24 Fujifilm Corp 防眩性の評価方法及び測定装置
JP2009085665A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Toyo Ink Mfg Co Ltd 防眩性評価装置及び防眩性評価方法
JP5439769B2 (ja) * 2008-09-04 2014-03-12 大日本印刷株式会社 光学シートの製造方法
JP4966395B2 (ja) * 2010-04-14 2012-07-04 大日本印刷株式会社 動画像と静止画像との混用に適した液晶表示装置の黒彩感及び画像の切れの改善方法
CN103119478B (zh) * 2010-10-04 2015-10-14 大日本印刷株式会社 防眩性膜、防眩性膜的制造方法、偏振片和图像显示装置
TWM471589U (zh) * 2013-08-06 2014-02-01 Kupo Co Ltd 電子裝置之螢幕光學保護貼結構
TWM473299U (zh) * 2013-11-19 2014-03-01 Yao-Chang Wang 螢幕保護貼

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW438965B (en) * 1999-02-19 2001-06-07 Dainippon Printing Co Ltd Method and apparatus for quantitatively evaluating scintillation and method of producing antiglare film
US20060036020A1 (en) * 2001-12-17 2006-02-16 Hiroshi Takahashi Anti-glare film, and optical member and liquid crystal display apparatus using the same
CN101156089A (zh) * 2005-03-30 2008-04-02 大日本印刷株式会社 防眩性光学叠层体
CN101484829A (zh) * 2006-06-20 2009-07-15 住友化学株式会社 防眩膜及图像显示装置
JP2008058081A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Fujifilm Corp 防眩性評価装置、防眩性評価基準設定方法および防眩性評価方法
JP2009086410A (ja) * 2007-10-01 2009-04-23 Konica Minolta Opto Inc 防眩フィルム、その製造装置、防眩性反射防止フィルム、偏光板、及び表示装置
CN101630118A (zh) * 2008-07-17 2010-01-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 镜头模组眩光检测设备及其检测方法
CN102967442A (zh) * 2011-08-31 2013-03-13 株式会社东芝 用于评价不舒适眩光的方法以及不舒适眩光的评价程序

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
娄俊杰: "《现用现查——电脑硬件原理与故障篇》", 30 April 2001, 中国铁道出版社 *

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Faure et al. LBQS 1429-0053: A binary quasar rather than a lensed quasar
Pettersson et al. Miniature 3D microscope and reflectometer for space exploration

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