JP2008170344A - 防眩性の評価方法及び測定装置 - Google Patents

防眩性の評価方法及び測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008170344A
JP2008170344A JP2007004941A JP2007004941A JP2008170344A JP 2008170344 A JP2008170344 A JP 2008170344A JP 2007004941 A JP2007004941 A JP 2007004941A JP 2007004941 A JP2007004941 A JP 2007004941A JP 2008170344 A JP2008170344 A JP 2008170344A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measurement
sample
received
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007004941A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoyuki Shimoda
知之 下田
Masaaki Eguchi
正昭 江口
Yukihiko Yamaguchi
幸彦 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
Priority to JP2007004941A priority Critical patent/JP2008170344A/ja
Publication of JP2008170344A publication Critical patent/JP2008170344A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

【課題】試料の防眩性を測定する。
【解決手段】 試料11をステージ12にセットする。ステージ12をステージ移動機構14で移動させ、試料11の非擦傷領域を測定位置に位置させる。投光器15は、平行光を検査光として入射角θ1で試料11または基準反射板13に照射する。受光器16は、試料で反射した光を受光し、その受光量に応じた信号を出力する。この受光器16を正反射光を測定する測定位置を中心に所定の角度範囲で回動させて、試料11の非擦傷領域をからの反射光を測定し、防眩性を示す値を求める。
【選択図】図1

Description

本発明は、反射防止フィルム等の防眩性を測定・評価する防眩性の評価方法及び測定装置に関するものである。
コンピュータのモニタやテレビ等のディスプレイの表示面の多くには、表示されている画像の視認性を高めるために、その表面に入射する入射光を拡散させて反射させることにより、映り込みを防止する防眩性(アンチグレア)や反射光を互い干渉させることで反射光量を低減する反射防止性を付与した反射防止フィルムが設けられている。
防眩性は、例えば特許文献1のように透明フィルムの表面に微細な凹凸構造を有する防眩層を形成する手法が知られており、シリカ,樹脂ビーズ等の光透過性拡散材を光透過性バインダ樹脂に分散した塗工液をフィルム表面に塗布して防眩層を作成される。また、反射性は、例えばフィルム表面に一層以上の薄膜層を形成し、入射する光を薄膜層の表面及び裏面で反射させ、それらの各光を干渉させて互いに打ち消すことにより実現するものが知られている(例えば特許文献2)。
特開2002−182005号公報 特開平11−174971号公報
しかしながら、上記のように反射防止フィルム等の防眩性を評価を目視で評価する官能評価する方法が採用されるが、官能評価では検査者の個人差により評価にバラツキが生じやすいほか、同じ検査者であっても体調等によって検査結果にバラツキが生じやすく、客観的な評価ができないといった問題があった。。
本発明は上記問題を解消するためになされたもので、容易に反射防止フィルム等の防眩性を測定し、客観的に評価することができる防眩性の評価方法及び測定装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の防眩性の評価方法では、投光側光学系で平行光とした検査光を測定位置に配された試料の表面に対して所定の入射角で照射する投光器と、光軸方向から入射する光のうちの光軸と平行な光成分を取り出す受光側光学系を有し、この受光側光学系で取り出した光を受光し、その受光量に応じた受光信号を出力するとともに、受光側光学系の光軸が前記測定位置を通り、前記測定位置を中心に入射面内で回動自在にされた受光器とを用い、試料の測定点に検査光を照射しながら、前記検査光の正反射光を受光する回動位置を挟む所定の角度範囲で前記受光器を回動させ、この所定の角度範囲における各角度の受光量を受光信号に基づき測定する変角測定ステップと、この変角測定ステップで得られる受光量に基づき、受光量のピーク値の半分の値となる前記受光器の角度幅を求め、この角度幅から測定対象の試料の防眩性に関する値を求めるステップを有するものである。
請求項2記載の防眩性の評価方法では、試料上の「2m+1」個(m=1,2・・・)の測定点について、前記受光器を検査光の正反射光を受光する回動位置としたときの受光量をそれぞれ測定する正反射光測定ステップを有し、この正反射光測定ステップで得られる各受光量のうちの「m+1」番目の大きさの受光量となる測定点を変角測定ステップの測定点とするものである。また、請求項3記載の防眩性の評価方法では、投光側光学系及び受光側光学系を、テレセントリック光学系としたものである。
請求項4記載の防眩性の測定装置では、試料を平坦に保持するステージと、光源からの検査光を平行光にする投光側光学系を有し、この投光側光学系からの検査光を測定位置に配された試料の表面に対して所定の入射角で照射する投光器と、光軸方向から入射する光のうちの光軸と平行な光成分を取り出す受光側光学系を有し、この受光側光学系で取り出された光を受光し、その受光量に応じた受光信号を出力するとともに、受光側光学系の光軸が前記測定位置を通り、前記測定位置を中心に入射面内で回動自在に設けられた受光器と、前記検査光の正反射光を受光する回動位置を挟む所定の角度範囲で前記受光器を回動させる回動手段と、前記所定の角度範囲で前記受光器を回動させた際の受光信号に基づき受光量のピーク値の半分の値となる前記受光器の角度幅を求め、この角度幅から測定対象の試料の防眩性に関する値を求める算出手段を備えたものである。
請求項5記載の防眩性の測定装置では、ステージを移動させる移動手段を備え、算出手段を、前記移動手段を介して前記ステージを移動させて、「2m+1」個(m=1,2・・・)の測定点について、受光器を検査光の正反射光を受光する回動位置としたときの受光量をそれぞれ測定し、この測定で得られる各受光量のうちの「m+1」番目の大きさの受光量となる測定点について前記受光量のピーク値の半分の値となる角度幅を求めるようにしたものである。請求項6記載の防眩性の測定装置では、投光側光学系及び受光側光学系を、テレセントリック光学系としたものである。
図1に本発明を実施した測定装置の概略を示す。測定装置10は、検査対象のフィルムである試料11の耐擦傷性、反射防止性,防眩性の測定を行う。ステージ12の上面には、試料11を固定できるようにしてあるとともに、基準反射板13を取り付けてある。ステージ12は、水平面内で移動自在であり、ステージ移動機構14により移動される。このステージ12の移動により、投光器15,受光器16による測定位置に試料11,基準反射板12の任意の点を移動して測定点とすることができる。
検査対象としての試料11は、図2に一例を示すように、透明なフィルムL1の表面に反射防止機能,防眩機能を有する反射防止膜L2が形成されており、この反射防止膜L2の耐擦傷性、反射防止性,防眩性を測定する。耐擦傷性について測定する必要がある場合には、測定時に試料11として後述するように擦傷領域を部分的に形成したものを用いる。なお、試料11としては、図2に限られるものではなく、種々のフィルムを用いることができる。
ステージ12の上方に、一定の強さの検査光を測定位置に向けて照射する投光器15と、その測定位置の試料11,基準反射板13の表面で反射された検査光を受光する受光器16とを配してある。投光器15は、支持部材18に取り付けられ、水平面に対して入射角θ1となるように、試料10,基準反射板13に検査光を照射する。なお、この例では、ステージ12を水平に配し、上方より測定を行うが、これらの位置関係は相対的なものであり、ステージ12を垂直に配したりしてもよい。
受光器16は、角度調節器19を介して支持部材18に取り付けられており、試料11,基準反射板13で反射された検査光(以下、反射検査光という)のうち、検査光を含む垂直な面すなわち入射面内で水平面の法線Nとのなす角度(以下、受光方向角度という)θ2方向に射出される反射検査光を受光する。
角度調節器19は、測定位置(測定点)を中心にして受光器16を入射面内で回動することにより、受光器16の受光方向角度θ2を変化させることができる。受光方向角度θ2は、後述の変角測定動作では、この角度調節器19によって、試料11で正反射した検査光を受光する角度(θ2=θ1)を中心に±Δθの範囲で変化させる。角度調節器19は、駆動モータ21によって駆動される。
この例においては、入射角θ1を30°,Δθを5°としてあり、受光方向角度θ2は25〜30°の範囲で、0.2°ステップで変化する。なお、投光器15と受光器16とは、試料10の表面で正反射した検査光を受光する角度を挟んだ角度範囲で検査光を受光するようになっていることが重要である。また、入射角θ1が「30°」に限定されるものではないが、20°〜45°の範囲内で設定することが好ましい。また、Δθは、5°に限られるものではなく、試料の特性などに応じて適宜設定することができる。
制御部22は、この測定装置10を統括的に制御し、測定シーケンスを実行させる。評価部23は、受光器16からの受光信号に基づいて、試料11の反射防止性,防眩性,耐擦傷性を示す値を算出する。
図3に投光器15の構成を示す。投光器15内には、検査光の光源としてのLED(発光ダイオード)25を設けてある。LED25は、検査光としての白色の光を出力する。なお、検査光の色ないし波長は、任意に選択することができ、また光源としてはLEDに限られず、ランプ等を用いてもよい。
LED25の前方に、LED25側から順番に平凸レンズ26,ピンホール板27,平凸レンズ28,絞り板29を配してある。各平凸レンズ26,28の光軸は一致し、その光軸上にピンホール板27に形成したピンホール27aと絞り板29に形成した絞り開口29aの中心が配されるようになっている。平凸レンズ26,28の光軸と法線Nのなす角度が入射角θ1となる。
平凸レンズ26は、LED25から出力される検査光を集光する。この検査光が集光される位置にピンホール27aを配してある。ピンホール板27と平凸レンズ28とは、ピンホール27aが平凸レンズ28の前側焦点の位置となるように配された周知のテレセントリック光学系を構成しており、LED25から出力された検査光から平行光を取り出して射出する。絞り開口29aは、検査光の光束の径を調節する。この絞り開口29aを通過した検査光が投光器15から試料11または基準反射板13に照射される。
なお、ピンホール27aの径は、この例においては直径0.4mmとしてあるが、小さくするほど取り出される検査光の平行度を高くすることができる。また、絞り開口29aは、直径3mmとしたが、これについては適宜に設定できる。
図4に受光器16の構成を示す。受光器16は、試料側から順番に、絞り板31,平凸レンズ32,ピンホール板33,平凸レンズ34,受光素子35を配してある。平凸レンズ32,34の光軸は一致し、その光軸上に絞り開口26aとピンホール28aの中心が配されている。平凸レンズ27,29の光軸と法線Nのなす角度が受光方向角度θ2となり、この光軸が測定位置を通るようにしてある。
絞り板31には、受光する反射検査光の光束の径を調整する絞り開口31aを形成してあり、この絞り開口31aを通った反射検査光が平凸レンズ32に入射する。平凸レンズ32は、絞り開口31aからの反射検査光を集光する。この平凸レンズによる反射検査光の集光位置にピンホール33aが配してある。ピンホール33aと平凸レンズ34とは、ピンホール33aが平凸レンズ34の前側焦点の位置となるように配されたテレセントリック光学系であり、光軸方向から入射する反射検査光のうちの光軸と平行な光成分を取り出す。
なお、絞り開口31aは、その直径を1mmとしてあるが適宜に調整できる。また、ピンホール33aの径を小さくするほど取り出される反射検査光の平行度を高くすることができ、この例では直径を0.4mmとしてある。
受光素子35は、平凸レンズ34から射出される反射検査光を受光し、その受光量に応じた信号レベルの受光信号を出力する。受光素子35としては、この例ではPMT(光電子増倍管)を用いているが、フォトダイオード,フォトトランジスタ等の各種のものを採用することができる。
図5にステージ上面に試料11を取り付けた状態を示す。ステージ12の上面には、基準反射板13と、試料11を位置決めするための一対の試料枠37とを設けてある。基準反射板13としては、反射率が既知であるものを用いており、この基準反射板13に対する測定結果を基準にして試料11の反射率を求める。
試料11としては、所定サイズ、この例では125mm×35mmの長方形にカットされたものを用いる。試料11は、各試料枠37に押し付けることにより位置決めされてステージ12上に載置される。このようして試料11が載置されるステージ12の部分には、試料11の周縁に沿うようにして溝39を形成してあり、その溝39の底部には複数の吸気孔39aを設けてある。各吸気孔39aは、図示しない排気ポンプに接続されている。これにより、試料11をステージ12上の所定位置に載置してから排気ポンプを作動させると、試料11が吸着されてステージ12上に固定される。
試料11は、そのほぼ中央に擦傷領域11aが形成され、それ以外の領域分は非擦傷領域11bとなっている。擦傷領域11aは、種々の手法で形成することができるが、この例では試料11の表面を「プラスチック消しゴム」または「スチールウール」を用いて所定の押圧力で擦ることによって形成する。
なお、試料11に検査光を照射した際に、試料11の裏面やステージ11の表面で検査光の反射があると、その反射した光成分が受光信号のノイズとなり正確な測定を行えなくなる。このため、試料11の裏面あるいはステージ11の表面に無反射塗装をする等して反射率を十分に低くすることが好ましい。また、反射率が十分に低い粘着性のあるシートを試料11の裏面に密着させることによっても、ノイズとなる反射を効果的に低減することができる。
この測定装置10では、1個の試料11について、基準反射板13に対する基準反射率測定シーケンスと、擦傷領域11aに対する擦傷領域測定シーケンスと、非擦傷領域11bに対する非擦傷領域測定シーケンスとを行う。また、測定動作として、1個の測定点について、受光方向角度θ2を入射角θ1と同じ大きさにして、正反射される反射検査光を測定する正反射光測定動作と、所定の角度範囲すなわち「θ1−Δθ」〜「θ1+Δθ」の範囲で受光方向角度θ2を変化させて、各角度について反射検査光を測定する変角測定動作とがある。
基準反射率測定シーケンスは、既知の反射率に対する受光量を取得するためのシーケンスであり、測定位置に基準反射板13を移動させ、この基準反射板13について正反射光測定動作を行い、受光信号の信号レベル(以下、受光信号レベルという)を取得する。
擦傷領域測定シーケンス,非擦傷領域測定シーケンスは、いずれもシーケンスに対応する領域内から任意に選ばれる複数の測定点のそれぞれについて正反射光測定動作を行う第1サブシーケンスと、この第1サブシーケンスの測定結果から決められる1個の代表測定点に対して変角測定動作を行う第2サブシーケンスとを行う。
図6に評価部23を機能ブロックで示す。代表点決定手段23aは、第1サブシーケンスで得られる各測定点の受光信号レベルに基づいて代表測定点を決定し、その代表測定点の情報を制御部22に送る。制御部22は、この代表測定点が第2サブシーケンスでの測定点となるようにステージ移動機構14を介してステージ12を移動させる。
上記のように複数の測定点を測定し、それらから1個の代表測定点を決定することにより、試料11をステージ12に吸着して固定した際に、試料11の下に埃等を巻き込んでしまい正しい測定が行われない測定点の測定を排除し、適正に測定を行うことができる代表測定点を決定する。代表測定点の決定の手法としては、種々のものを採用できるが、この例では、15個の測定点について正反射光測定動作を行い、レベルの中央すなわち大きい方(または小さい方)から8番目の受光信号レベルとなる測定点を代表測定点としている。
なお、測定点は、15点に限るものではなく、例えば擦傷領域内については、「2n+1」個(n=1,2・・・)の測定点について正反射光測定動作を行い、得られる「2n+1」個の受光量のうちの「n+1」番目の大きさの受光量となる測定点を代表測定点に決定すればよい。同様に、非擦傷領域内についても「2m+1」個(n=1,2・・・)の測定点について正反射光測定動作を行い、「m+1」番目の大きさの受光量となる測定点を代表測定点に決定すればよい。また、擦傷領域,非擦傷領域の測定数が異なっていてもかまわない。測定点の個数は、少なくてもよいが、15点あるいはこれ以上の測定母数から1点の代表測定点を決定することが好ましい。さらには、いずれの位置を測定点とするかは、例えば任意に選んだ適当な位置を予め決めておいてもよく、その都度ランダムに決定してもよい。さらに、正しい測定が行われない測定点を排除するために、他の手法により代表測定点を決定してもよい。
反射率算出手段23bは、試料11の反射防止性を示す値として反射率を算出するものであり、非擦傷領域測定シーケンスの第1サブシーケンスで決定される代表測定点の受光信号レベルと、基準反射率測定シーケンスので得られる受光信号レベルと、既知の基準反射板13の反射率とを用いて試料11の反射率を算出する。具体的には、試料11の反射率をRmとし、基準反射板13の反射率をRs(%),基準反射率測定シーケンスの正反射光測定動作で得られる受光信号レベルをVs、非擦傷領域11bの代表測定点に対する正反射光測定動作で得られる受光信号レベルをVmとしたときに、反射率算出式「Rm=Rs・(Vm/Vs)」によって求める。
官能値算出手段23cは、試料11の耐擦傷性を示す値(以下、擦傷官能値)を算出する。官能値算出手段23cは、擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーシーケンスで得られる各受光信号レベルの和をS1、非擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーシーケンスで得られる各受光信号レベルの和をS2としたときに、官能値算出式「P=(S1−S2)/S2」で擦傷官能値Pを求める。
耐擦傷性はどの程度つき易いかを示すものであり、これは一定の条件で擦傷領域を形成したときの擦傷領域の傷付きの程度といえる。図7に示すように、擦傷領域11aは、擦傷の程度が高くなるほど反射防止性が弱まって反射光の強度が強くなるため、擦傷領域11aの受光方向角度θ2と光強度(受光量)との関係を示す曲線Caは、非擦傷領域11bの曲線Cbよりも上方になる。そして、曲線Cbの積分値に対する曲線Caの積分値と曲線Cbの積分値の差の比が擦傷領域11aと非擦傷領域11bの見た目の光量差、すなわちコントラストに比例した値となる。各曲線Ca,Cbの積分値は、各領域11a,11bについて変角測定動作を行ったときの受光量の和であり、これは受光信号レベルの和として求めることができるので、上記のように擦傷官能値Pを算出している。
このように算出される擦傷官能値Pは、図8に示すように目視結果とほぼ合致する結果を得ることができる。なお、図8では、測定装置10で算出する擦傷官能値と目視での擦傷官能値とを比較するために、擦傷官能値Pに適当な係数を乗算してある。また、いずれの擦傷官能値も数字が小さいほど傷が付き目立ちにくく、耐擦傷性が高いことを意味する。
防眩性比算出部23dは、試料11の防眩性を示す防眩性比を算出する。防眩性は、試料表面に入射した平行な検査光が正反射角度からどの程度広がって拡散反射したかによって評価できる。このため、図7に示されるように、非擦傷領域11bの受光方向角度θ2と光強度との関係を示す曲線Cbの半値幅、すなわち光強度がピーク値に対して1/2となる各受光方向角度θ2の幅をθhとしたときに、防眩性比算出式「G=θh/10°」によって防眩性比Gを求める。
次に上記構成の作用について説明する。測定を行う場合には、まず試料11に擦傷領域11aを形成し、その試料11を試料枠37で位置決めしてステージ12に載置してから、排気ポンプ作動させて固定する。
試料11の固定後に基準反射率測定シーケンスが開始される。このシーケンスが開始されると、ステージ12の移動により、測定位置に基準反射板13がセットされる。次に、制御部22の制御の下で駆動モータ21により角度調節器19が駆動され、受光器16が正反射した反射検査光を受光する位置に回動される。すなわち、受光方向角度θ2が入射角θ1と同じ大きさとなる回動位置に受光器16が回動される。
上記のように受光器16を回動した後に、平行光とされた検査光が投光器15から基準反射板13に入射角θ1で照射され、基準反射板13の表面で正反射した反射検査光が受光器16によって受光される。そして、この受光器16が受光した反射検査光の受光量に応じた受光信号が評価部23に送られ、その受光信号レベルが基準反射受光信号レベルとして保持され、基準反射率測定シーケンスが終了する。
基準反射率測定シーケンスに続いて非擦傷領域測定シーケンスの第1サブシーケンスが開始される。第1サブシーケンスでは、受光方向角度θ2が入射角θ1と同じ大きさとなる回動位置に受光器16を維持したまま、ステージ12の移動により測定位置に試料11の非擦傷領域11bの第1測定点がセットされる。第1測定点がセットされると、平行光とされた検査光が投光器15から第1測定点に照射されて、その第1測定点で正反射した反射検査光が受光器16によって受光される。そして、このようにして非擦傷領域11bの第1測定点について正反射光測定動作を行って得られる受光信号レベルが評価部23に保持される。
非擦傷領域11bの第1測定点に対する正反射光測定動作が完了すると、再びステージ12が移動され、測定位置には第1測定点とは異なる位置の非擦傷領域11b内の第2測定点がセットされる。この後、投光器15からの検査光がその第2測定に照射されて反射検査光が受光器16によって受光され、得られる受光信号レベルが評価部23に保持される。以降同様にして、ステージ12を移動させて測定点を非擦傷領域11b内で変えながら第3〜第15測定点の受光信号レベルを取得して保持する。
第15測定点の受光信号レベルを取得した後、評価部23によって15個の受光信号レベルのうちの中間(大きい方または小さいほうから8番目)の受光信号レベルに対応する測定点の情報が代表測定点の情報として制御部22に送られ、第1サブシーケンスが終了し、第2サブシーケンスが開始される。
制御部22は、代表測定点の情報を受け取ると、その情報に基づき代表測定点とされた非擦傷領域11b内の測定点を再び測定位置とするようにステージ12を移動させ、また受光方向角度θ2が角度「θ1−Δθ」となるように角度調節器19を駆動してから、変角測定動作を開始する。
まず、「θ1−Δθ」において、検査光を代表測定点に照射してその反射検査光を受光し、そのときの受光信号レベルを評価部23で取得して保持する。次に、受光方向角度θ2を0.2°増やした位置に受光器16を回動し、この位置で反射検査光を受光した受光信号レベルを取得して保持する。以降同様に、受光方向角度θ2を「θ1+Δθ」まで0.2°ステップで順次に増やしていき、各角度で得られる反射検査光を受光した受光信号レベルを取得して保持する。
受光方向角度θ2を「θ1+Δθ」として得られる受光信号レベルを取得することにより、非擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーケンスが終了し、また非擦傷領域測定シーケンスが終了して、擦傷領域測定シーケンスが開始される。
擦傷領域測定シーケンスの第1,第2サブシ−ケンスは、測定点が擦傷領域11a内とされる点で非擦傷領域測定シーケンスとは異なるが、非擦傷領域測定シーケンスの第1,第2サブシ−ケンスと同様にして行われる。したがって、第1サブシーケンスによって擦傷領域11a内から代表測定点が決定され、その代表測定点について受光方向角度θ2を「θ1−Δθ」から「θ1+Δθ」まで0.2°ステップで変化させた際の各受光信号レベルが評価部23に取得されて保持される。
上記のようにして擦傷領域測定シーケンスが完了すると、最初に行った基準反射率測定シーケンスで取得した基準反射受光信号レベルと、非擦傷領域測定シーケンスの第1サブシーケンスで取得している非擦傷領域11bの代表測定点の受光信号レベルと、予め設定されている基準反射板13の反射率Rsとを上記反射率算出式に適用し、試料11の反射率Rmを評価部23が算出する。また、擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーシーケンスで得られる各受光信号レベルの和をS1、非擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーシーケンスで得られる各受光信号レベルの和をS2として、上記の官能値算出式で擦傷官能値Pが評価部23によって求められる。
さらには、非擦傷領域測定シーケンスの第2サブシーシーケンスで得られる各受光信号レベルからピーク値を抽出し、このピーク値の1/2となる各受光方向角度θ2の幅をθhとして上記防眩性比算出式で防眩性比Gが求められる。なお、ピーク値の1/2となる各受光方向角度θ2が必ずしも測定されているとは限らないので、各受光信号レベルを用いて補間処理を行ってθhを算出してもよい。
なお、非擦傷領域、擦傷領域の各測定点に対して変角測定動作をそれぞれ行った測定結果をそれぞれ保持し、測定結果のうちの入射角θ1と同じ受光方向角度θ2の各測定点の測定値から代表測定点を決定し、その代表測定点について保持されている測定結果を用いて、反射率Rm,擦傷官能値P,防眩性比Gを求めるようにしてもよい。このようにすれば、代表測定点とした試料11上の測定点を測定位置に再度セットさせる必要がなく、代表測定点に再移動することによる位置ずれの影響をなくすことができる。
図9,図10に実測結果の例を示す。なお、図9,図10では、図7と同様に、擦傷領域11aの代表測定点における受光方向角度θ2と光強度との関係を曲線Caで、非擦傷領域11bの代表測定点における受光方向角度θ2と光強度とを曲線Cbで示してある。
図9示す試料Aでは、非擦傷領域11bについての曲線Cbの半値幅が1°程度と小さく、このため防眩性比Gが小さくなるので防眩性が低いという評価結果が得られた。また図10に示す試料Bでは、半値幅が4°程以上と大きく、防眩性Gが大きくなることから防眩性が高いという評価結果が得られた。さらには、試料Bに比べて試料Aの方が曲線Caと曲線Cbの各積分値の差が大きく耐擦傷性が低いとの評価になった。そして、これらは、実際の目視による結果とほぼ合致するものであった。
上記実施形態では、平行光を用いて測定を行っているが、耐擦傷性の測定を行う場合には拡散光を照射してもよい。なお、以下に説明する他は上記実施形態と同じであるから、同じ構成部材には同一の符号を付してその説明を省略する。
図11に示すように、投光器41は、光源(図示省略)からの光を拡散する拡散板42を設けてある。投光器41の試料側端部には、開口43を設けてあり、この開口43から拡散板42によって拡散光とされた検査光が試料11に向けて照射される。開口43は、直径が6mmの円形とし、試料11(測定位置)から開口を臨む開口角θ3を約7°としてある。なお、開口43の径などは適宜設定できるが、開口角θ3は7°よりも大きいときに測定能力が低下するので7°以下とするのが好ましい。なお、平行光の検査光を照射する投光器に、このように検査光を拡散させて拡散光に変換するアダプタを着脱できるように構成してもよい。
この投光器41は、スチールウールを使用して試料11に擦傷領域11aを形成した場合で、耐擦傷性を測定するために用いられる。すなわち、スチールウールを使用して擦傷領域11aを形成した試料11について耐擦傷性を測定する場合には、拡散光を用いて擦傷領域11a,非擦傷領域11bのそれぞれについて投光器41で拡散光である検査光を照射して、変角測定動作を行う。
スチールウールを使用して試料11に擦傷領域11aを形成した場合には、擦傷が深い溝状に形成されるため、その溝の表面で検査光の反射が生じる。このため、例えば検査光として平行光を照射した状態で、受光部16で試料11からの正反射光を受光するようにすると、擦傷領域11a内で受光量が大きくバラツキ、非擦傷領域11b内の受光量よりも小さくなったり大きくなったりすることがある。しかしながら、上記のように検査光として拡散光を用いた場合には、擦傷領域11a内で受光量が非擦傷領域11bの受光量よりも常に大きくすることができ、耐擦傷性の測定を行うことができる。
上記各実施形態では、反射防止性能,防眩性能,耐擦傷性のそれぞれを測定・評価しているが、これらのうちのいずれか1つあるいは2つの組み合せだけを測定するように、一部の機能,シーケンス,測定動作を省略して構成することもできる。したがって、例えば防眩性能あるいは耐擦傷性を測定する測定装置とすることもできる。
本発明を実施した測定装置の構成を示すブロック図を含む概略の正面図である。 試料としてのフィルムの層構造を示す断面図である。 投光器の構成を示す概略の断面図である。 受光器の構成を示す概略の断面図である。 ステージ上に試料をセットした状態を示す平面図である。 評価部を示す機能ブロック図である。 擦傷部と非擦傷部の射出方向角度との光強度の関係を示すグラフである。 測定装置で得られる擦傷官能値と目視による目視官能値との対応を示すグラフである。 防眩性の低い試料の測定結果を示すグラフである。 防眩性の高い試料の測定結果を示すグラフである。 拡散光を試料に照射するようにした例を示す概略の部分断面図である。
符号の説明
10 測定装置
11 試料
12 ステージ
13 基準反射板
14 ステージ移動機構
15 投光器
16 受光器
19 角度調節器
23 評価部

Claims (6)

  1. 投光側光学系で平行光とした検査光を測定位置に配された試料の表面に対して所定の入射角で照射する投光器と、光軸方向から入射する光のうちの光軸と平行な光成分を取り出す受光側光学系を有し、この受光側光学系で取り出した光を受光し、その受光量に応じた受光信号を出力するとともに、受光側光学系の光軸が前記測定位置を通り、前記測定位置を中心に入射面内で回動自在にされた受光器とを用い、
    試料の測定点に検査光を照射しながら、前記検査光の正反射光を受光する回動位置を挟む所定の角度範囲で前記受光器を回動させ、この所定の角度範囲における各角度の受光量を受光信号に基づき測定する変角測定ステップと、
    この変角測定ステップで得られる受光量に基づき、受光量のピーク値の半分の値となる前記受光器の角度幅を求め、この角度幅から測定対象の試料の防眩性に関する値を求めるステップを有することを特徴とする防眩性の評価方法。
  2. 試料上の「2m+1」個(m=1,2・・・)の測定点について、前記受光器を検査光の正反射光を受光する回動位置としたときの受光量をそれぞれ測定する正反射光測定ステップを有し、
    この正反射光測定ステップで得られる各受光量のうちの「m+1」番目の大きさの受光量となる測定点を変角測定ステップの測定点とすることを特徴とする請求項1記載の防眩性の評価方法。
  3. 前記投光側光学系及び前記受光側光学系は、テレセントリック光学系であることを特徴とする請求項1または2記載の防眩性の評価方法。
  4. 試料を平坦に保持するステージと、
    光源からの検査光を平行光にする投光側光学系を有し、この投光側光学系からの検査光を測定位置に配された試料の表面に対して所定の入射角で照射する投光器と、
    光軸方向から入射する光のうちの光軸と平行な光成分を取り出す受光側光学系を有し、この受光側光学系で取り出された光を受光し、その受光量に応じた受光信号を出力するとともに、受光側光学系の光軸が前記測定位置を通り、前記測定位置を中心に入射面内で回動自在に設けられた受光器と、
    前記検査光の正反射光を受光する回動位置を挟む所定の角度範囲で前記受光器を回動させる回動手段と、
    前記所定の角度範囲で前記受光器を回動させた際の受光信号に基づき受光量のピーク値の半分の値となる前記受光器の角度幅を求め、この角度幅から測定対象の試料の防眩性に関する値を求める算出手段を備えたことを特徴とする防眩性の測定装置。
  5. 前記ステージを移動させる移動手段を備え、前記算出手段は、前記移動手段を介して前記ステージを移動させて、「2m+1」個(m=1,2・・・)の測定点について、前記受光器を検査光の正反射光を受光する回動位置としたときの受光量をそれぞれ測定し、この測定で得られる各受光量のうちの「m+1」番目の大きさの受光量となる測定点について前記受光量のピーク値の半分の値となる角度幅を求めることを特徴とする請求項4記載の防眩性の測定装置。
  6. 前記投光側光学系及び前記受光側光学系は、テレセントリック光学系であることを特徴とする請求項4または5のいずれか1項に記載の防眩性の測定装置。
JP2007004941A 2007-01-12 2007-01-12 防眩性の評価方法及び測定装置 Pending JP2008170344A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007004941A JP2008170344A (ja) 2007-01-12 2007-01-12 防眩性の評価方法及び測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007004941A JP2008170344A (ja) 2007-01-12 2007-01-12 防眩性の評価方法及び測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008170344A true JP2008170344A (ja) 2008-07-24

Family

ID=39698572

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007004941A Pending JP2008170344A (ja) 2007-01-12 2007-01-12 防眩性の評価方法及び測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008170344A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013528808A (ja) * 2010-06-04 2013-07-11 ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション 縁部方向のフォトルミネセンスを使用して半導体材料の妨害不純物を測定する方法
JP2015172556A (ja) * 2014-03-12 2015-10-01 キヤノン株式会社 測定装置および測定方法
WO2015174132A1 (ja) * 2014-05-14 2015-11-19 旭硝子株式会社 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
KR101691493B1 (ko) * 2015-09-03 2017-01-02 서강대학교산학협력단 평행빔 간섭계용 시료 카트리지 및 이를 이용한 바이오칩
CN106872362A (zh) * 2017-01-18 2017-06-20 浙江大学 用于可见近红外光谱检测的led光源装置及其应用
CN110320176A (zh) * 2019-07-04 2019-10-11 中南林业科技大学 一种用于近红外光谱检测的可调光源装置及控制方法
JP2019184320A (ja) * 2018-04-04 2019-10-24 日本電気硝子株式会社 透明物品の評価方法、及び透明物品の製造方法
CN114061907A (zh) * 2020-07-29 2022-02-18 合肥维信诺科技有限公司 光晕量化系统及方法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013528808A (ja) * 2010-06-04 2013-07-11 ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション 縁部方向のフォトルミネセンスを使用して半導体材料の妨害不純物を測定する方法
KR20130093519A (ko) * 2010-06-04 2013-08-22 헴로크세미컨덕터코포레이션 에지-온 광발광을 사용하여 반도체 재료의 벌크 불순물을 측정하는 방법
KR101890772B1 (ko) * 2010-06-04 2018-08-22 헴로크 세미컨덕터 오퍼레이션즈 엘엘씨 에지-온 광발광을 사용하여 반도체 재료의 벌크 불순물을 측정하는 방법
US9261464B2 (en) 2010-06-04 2016-02-16 Hemlock Semiconductor Corporation Applying edge-on photoluminescence to measure bulk impurities of semiconductor materials
JP2015172556A (ja) * 2014-03-12 2015-10-01 キヤノン株式会社 測定装置および測定方法
JPWO2015174132A1 (ja) * 2014-05-14 2017-04-20 旭硝子株式会社 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
WO2015174132A1 (ja) * 2014-05-14 2015-11-19 旭硝子株式会社 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
JP2018163160A (ja) * 2014-05-14 2018-10-18 Agc株式会社 透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
KR101691493B1 (ko) * 2015-09-03 2017-01-02 서강대학교산학협력단 평행빔 간섭계용 시료 카트리지 및 이를 이용한 바이오칩
CN106872362A (zh) * 2017-01-18 2017-06-20 浙江大学 用于可见近红外光谱检测的led光源装置及其应用
CN106872362B (zh) * 2017-01-18 2023-12-12 浙江大学 用于可见近红外光谱检测的led光源装置及其应用
JP2019184320A (ja) * 2018-04-04 2019-10-24 日本電気硝子株式会社 透明物品の評価方法、及び透明物品の製造方法
CN110320176A (zh) * 2019-07-04 2019-10-11 中南林业科技大学 一种用于近红外光谱检测的可调光源装置及控制方法
CN110320176B (zh) * 2019-07-04 2021-07-13 中南林业科技大学 一种用于近红外光谱检测的可调光源装置及控制方法
CN114061907A (zh) * 2020-07-29 2022-02-18 合肥维信诺科技有限公司 光晕量化系统及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008170344A (ja) 防眩性の評価方法及び測定装置
TWI658261B (zh) 用於特徵化彎曲部件的稜鏡耦合系統及方法
TWI224187B (en) Apparatus for measuring film thickness formed on object, apparatus and method of measuring spectral reflectance of object, and apparatus and method of inspecting foreign material on object
US9383311B2 (en) Non-scanning SPR system
US10690480B2 (en) Film thickness measuring method and film thickness measuring device
JP5472096B2 (ja) サンプルの平面の反射表面を検査する撮像光学検査装置及び方法
JP2012132861A (ja) 光学測定装置
US9007590B2 (en) Apparatus for measuring transmittance
WO2012036075A1 (ja) 屈折率測定装置、及び屈折率測定方法
TW201534886A (zh) 光學膜之檢查裝置及方法
JP2009229239A (ja) 粒子径測定装置および測定方法
KR20160004099A (ko) 결함 검사 장치
JP6542906B2 (ja) 少なくとも部分的に透明な物体の表面に関連する表面データおよび/または測定データを決定するための方法および装置
JP2022153463A (ja) 表面検査のための撮像システム
KR101006983B1 (ko) 패널 검사장치
KR20160010226A (ko) 표면 검사 광학장치 및 표면 검사방법
JP2008170342A (ja) 光学性能測定装置及び光学性能測定方法
Becker 29‐3: High‐Resolution Scatter Analysis of Anti‐Glare Layer Reflection
JP2008170343A (ja) 耐擦傷性の評価方法及び測定装置
TW200907330A (en) Coaxial lighting surface defect inspection device and method thereof
JP2014149175A (ja) 光学測定装置
JP2013246161A (ja) 分光光度計及び分光測定方法
JP5184842B2 (ja) 着色膜厚測定方法及び装置
KR20130080269A (ko) 변위측정장치 및 이를 이용한 변위계측방법
TWM421499U (en) Optical inspection system