KR102181444B1 - 난의 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

난의 검사 장치(1)는, 복수의 조사부(2, 3)와 복수의 촬상부(4, 5)와 판정부(10)를 구비하고 있다. 복수의 조사부(2, 3)는, 난(E)의 일방의 단부측부터 난(E)을 향하여 광을 조사하는 제1의 조사부(2)와, 난의 타방(E)의 단부측부터 난(E)을 향하여 광을 조사하는 제2의 조사부(3)를 포함한다. 복수의 촬상부(4, 5)는, 난의 타방(E)의 단부측에서 난(E)을 촬영하는 제1의 촬상부(4)와, 난(E)의 일방의 단부측에서 난(E)을 촬영하는 제2의 촬상부(5)를 포함한다. 제1의 촬상부(4)는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3) 중의 일방이 난(E)을 향하여 광을 조사할 때에, 난(E)을 촬영한다. 제2의 촬상부(5)는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3) 중의 타방이 난(E)을 향하여 광을 조사할 때에, 난(E)을 촬영한다. 판정부(10)는 난(E)의 표면 상태를 판정한다.

Description

난의 검사 장치
본 발명은, 난(卵)의 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 난의 표면 상태를 판정하는 난의 검사 장치에 관한 것이다.
시장에 출하되는 난은, 선별 포장 장치에서 중량 등의 물리적 성상에 응하여 선별된 후, 투명한 합성 수지제의 팩 등으로 포장된다. 이 선별 포장에 앞서서, 또는, 병행하여, 난은 여러가지의 검사를 받는다. 한 예로서는, 난의 표면 상태(알껍질(卵殼)의 물리적 성상), 구체적으로는, 난의 표면에 갈라짐·잔금이 생겨 있는 것, 또는, 난의 표면에 분변(糞) 오염이 부착한 것 등을 선별하기 위한 검사를 들 수 있다.
예를 들면, 특허 문헌 1에 기재되어 있는 난의 검사 장치는, 조명 장치와 촬상 장치와 판정부를 구비하고 있다. 조명 장치는, 롤러상에 전후 방향 및 좌우 방향으로 나열되어 있고, 난의 장축을 축으로 하여 회전시키면서 반송되는 난을 향하여 직하로부터 광을 조사한다. 촬상 장치는, 난을 직상에서 촬영한다. 판정부는, 촬영된 화상에 의거하여, 난의 표면 상태를 판정한다.
특허 문헌 1 : 일본국 특개평11-326202호 공보
상술한 바와 같은 난의 검사 장치에서는, 난의 몸통 주변의 표면 상태에 관해 검사를 행할 수는 있지만, 난의 예단측(銳端側) 또는 둔단측(鈍端側)에 존재하는 갈라짐, 잔금, 또는, 오염의 부착 등에 대해는 못 볼 우려가 있다. 난의 단부까지 관찰하는 경우에는, 난을 촬영하는 촬상 장치의 방향을 비스듬히 향하게 하는 것이 생각된다. 그러나, 단지, 이와 같은 배치만으로는, 조명 장치로부터 조사되는 광이 난의 외측에서 누설되어 촬상 장치에 들어가, 희게 찍힌 부분이 난의 갈라짐이라고 잘못 판정하는 것이 상정된다.
본 발명은, 상기 상정되는 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것이고, 그 목적은, 난의 예단측 또는 둔단측에, 갈라짐, 잔금, 또는, 오염의 부착 등 난의 표면 상태의 결함이 존재하는지의 여부를 검사할 수 있는 난의 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 관한 난의 검사 장치는, 복수의 조사부(照射部)와 복수의 촬상부와 판정부를 구비하고 있다. 복수의 조사부는, 난을 향하여 광을 조사한다. 복수의 촬상부는, 난을 투과한 광을 포함하는, 광이 조사된 난을 촬영한다. 판정부는, 촬상부에 의해 촬영된 난의 화상에 의거하여, 난의 표면 상태를 판정한다. 조사부는, 난의 일방의 단부측부터 광을 조사하는 제1의 조사부와, 난의 타방의 단부측부터 광을 조사하는 제2의 조사부를 포함한다. 복수의 촬상부는, 난의 타방의 단부측에서 난을 촬영하는 제1의 촬상부와, 난의 일방의 단부측에서 난을 촬영하는 제2의 촬상부를 포함한다. 제1의 촬상부는, 제1의 조사부 및 제2의 조사부 중의 일방이 난을 향하여 광을 조사할 때에, 난을 촬영한다. 제2의 촬상부는, 제1의 조사부 및 제2의 조사부 중의 타방이 난을 향하여 광을 조사할 때에, 난을 촬영한다.
또한, 난의 검사 장치에서는, 난을 회전시키면서 반송하는 반송부와, 반송부의 하방에 배치되어, 광의 반사를 억제하는 반사 방지부를 구비하고, 조사부는, 반송부의 하방에 배치되어 있는 것이 바람직하다.
본 발명에 관한 난의 검사 장치에 의하면, 난의 예단측 또는 둔단측에, 갈라짐, 잔금, 또는, 오염의 부착 등 난의 표면 상태의 결함이 존재하는지의 여부를 검사할 수 있다.
도 1은 실시 형태에 관한 난의 검사 장치를 적용한 난의 선별 시스템의 구성의 한 예를 도시하는 블록도.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 관한 난의 검사 장치를 도시하는 부분 평면도.
도 3은 동 실시 형태에서, 난의 검사 장치의 동작을 설명하기 위한,
도 2에 도시하는 난의 검사 장치를 반송 방향에서 본 부분 측면도.
도 4는 동 실시 형태에서, 도 2에 도시하는 난의 검사 장치에서의 반송부를 하측에서 본 부분 하면도.
도 5는 동 실시 형태에서, 난의 검사 장치에 의해 얻어지는 난의 화상의 한 예를 모식적으로 도시하는 도면.
도 6은 동 실시 형태에서, 난의 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 제1의 부분 측면도.
도 7은 동 실시 형태에서, 난의 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 제2의 부분 측면도.
이하, 본 발명의 한 실시 형태에 관한 난의 검사 장치에 관해, 도 1∼도 7을 이용하여 설명한다. 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)는, 난의 중량 등의 물리적 성상에 응하여 난을 선별하기 위한 난의 선별 시스템 중에서 사용된다.
도 1에 도시하는 바와 같이, 난의 선별 시스템(100)은, 예를 들면, 원란(原卵) 공급부(101)와 방향 정렬부(102)와 파란(破卵) 검출부(103)와 세란부(洗卵部)(104)와 건조부(105)와 선별 집합부(106)를 구비하고 있다. 원란 공급부(101)에는, 원란이 공급된다. 방향 정렬부(102)에서는, 공급된 복수의 난(E)의 방향이 정돈된다 파란 검출부(103)에서는, 방향이 정돈된 난(E) 중, 주로 알껍질이 갈라진 난(이하, 「파란」이라고 기재한다.)이 검출된다. 한 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)는, 파란 검출부(103)에 대응한다. 세란부(104)에서는, 파란 이외의 난(E)이 온수 등을 이용하여 세정된다. 건조부(105)에서는, 세정 후의 난(E)의 표면을 건조시킨다. 선별 집합부(106)에서는, 세정·건조된 난(E)의 물리적 성상을 공지의 분광 분석 처리 기술 또는 음향 처리 기술을 이용하여 검출하고, 잔금난(ひぴ卵), 오염난(汚卵), 혈난(血卵), 부패난(腐敗卵) 또는 극소난, 극대난 등의 계란 거래 규격 외의 난이 선별 대상으로부터 제외된다. 선별 집합부(106)에서는, 난의 무게가 계측되고, 그 계측 결과에 의거하여 농림 규격의 중량 구분마다 선별이 행하여진다. 파란 검출부(103)(난의 검사 장치(1))를 제외한, 원란 공급부(101), 방향 정렬부(102), 세란부(104), 건조부(105) 및 선별 집합부(106)에 관해서는, 기지의 것을 여러가지 적용하는 것이 가능하다.
파란 검출부(103)에 대응하는 난의 검사 장치(1)는, 난(E)을 세정한 세란부 및 난(E)을 건조시키는 건조부의 상류측에 배치되어 있다. 이하, 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)에 관해 상세히 기술한다.
도 2 및 도 3에 도시하는 바와 같이, 난의 검사 장치(1)는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)와, 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)와, 판정부(10)를 구비한다. 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)는, 광을 난(E)을 향하여 조사한다. 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)는, 광이 조사된 난(E)을 촬영한다. 판정부(10)는, 촬영된 난(E)의 화상에 의거하여 난(E)의 표면 상태를 판정한다. 난의 검사 장치(1)에서는, 반송부(6)에 의해 회전하면서 하류측으로 운반되는 난(E)이 검사된다. 또한, 난의 검사 장치(1)의 일련의 동작 등은, 제어부(11)에 의해 제어된다.
도 2∼도 4, 도 6 및 도 7에 도시하는 바와 같이, 제1의 조사부(2)는, 난(E)의 일방의 단부(E1)측부터 난(E)을 향하여 광을 조사한다. 제2의 조사부(3)는, 난(E)의 타방의 단부(E2)측부터 난(E)을 향하여 광을 조사한다. 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)는, 반송부(6)의 하방에 배치되어 있고, 적외광을 난(E)의 하면측을 향하여 조사한다. 본 실시 형태에서는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로서, 예를 들면, 750㎚∼850㎚의 파장의 적외광을 조사하는 LED(Light Emitting Diode)가 사용되고 있다.
제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)에 의한 광의 조사는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)의 상류측에 마련된, 난(E)의 유무를 검지하는 센서(7)로부터의 신호에 의거하여 실행된다. 센서(7)는, 난(E)의 상방에 배치되어 있고, 반송부(6)에 의해 상류측부터 반송되어 온 난(E)을 검지한다. 센서(7)에 의해 검지된 난(E)이 소정의 위치까지 반송되면, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로부터 광이 조사된다. 그때문에, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)는, 간헐적으로 점등한다.
도 2 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)에서는, 3개의 제1의 조사부(2)가, 반송 방향에 따라 소정의 간격으로써 나열되어 있다. 제1의 조사부(2)로부터 반(半)피치 어긋난 위치에, 3개의 제2의 조사부(3)가, 반송 방향에 따라 소정의 간격으로써 나열되어 있다. 제1의 조사부(2)는, 6열의 반송부(6)에서의 각 열의 좌우 방향 중심(C)부터 일방측으로 어긋난 위치에 배치되어 있다. 제2의 조사부(3)는, 각 열의 좌우 방향 중심(C)부터 타방측으로 어긋난 위치에 배치되어 있다. 즉, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)는, 난(E)의 반송 방향에 따라 지그재그로 배치되어 있다.
또한, 제1의 조사부(2)의 각각은, 후술하는 제1의 촬상부(4)에 의해 촬영하는 화상(P) 내에서, 반송부(6)에 재치된 난(E)에 의해 차단되는 위치에 설정되어 있다. 제2의 조사부(3)의 각각은, 후술하는 제2의 촬상부(5)에 의해 촬영하는 화상(P) 내에서, 반송부(6)에 재치된 난(E)에 의해 차단되는 위치에 설정되어 있다. 이 난의 검사 장치(1)에서는, 촬상부가, 제1의 촬상부(4)와 제2의 촬상부(5)를 구비하고, 조사부가, 제1의 조사부(2)와 제2의 조사부(3)를 구비하고 있다. 제1의 촬상부(4)는 난(E)의 타방의 단부(E2)측에서 난(E)을 촬영한다. 제2의 촬상부(5)는, 난(E)의 일방의 단부(E1)측에서 난(E)을 촬영한다. 제1의 조사부(2)는, 제1의 촬상부(4)와 반송부(6)에 재치된 난(E)(또는, 후술하는 반송부(6)의 개구부(63)을 잇는 선의 연장선상에 배치되어 있다. 제2의 조사부(3)는, 제2의 촬상부(5)와 반송부(6)에 재치된 난(E)(또는, 후술하는 반송부(6)의 개구부(63)를 잇는 선의 연장선상에 배치되어 있다.
도 2, 도 3, 도 6 및 도 7에 도시하는 바와 같이, 난의 검사 장치(1)는, 제1의 촬상부(4)와 제2의 촬상부(5)를 구비한다. 제1의 촬상부(4)는, 난(E)의 타방의 단부(E2)측에서 난(E)을 촬영한다. 제2의 촬상부(5)는, 난(E)의 일방의 단부(E1)측에서 난(E)을 촬영한다. 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)는, 반송부(6), 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)에 대해 경사 상방에 배치되어 있다. 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)는, 난(E)의 상면측을 촬영하는 것이 가능하다. 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)에서는, 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)로서, 근적외(近赤外) 영역에 감도를 가진 CCD 카메라(Charge Coupled Device)가 사용되고 있다. 이에 의해, 난(E)을 투과한 적외광을 포함하는, 적외광이 조사된 난(E)의 화상(P)을 취득할 수 있다. 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)에서는, 3열분의 난(E)이 시야에 들어가도록 설정되어 있다. 이 난의 검사 장치(1)에서는, 예를 들면, 2대의 제1의 촬상부(4)와 2대의 제2의 촬상부(5)가 각각 배치되어 있다. 또한, 대수로서는 이것으로 한정되지 않는다.
도 5는, 도 3에 도시되어 있는 난(E)을, 제1의 촬상부(4)와 제2의 촬상부(5)에 의하여 촬영하는 화상(P)의 한 예를 모식적으로 도시한다. 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)에서는, 3행×3열분의 난에 대응하는 화상(P)을 얻을 수 있다. 여기서는, 설명을 위해, 화상(P)으로부터 픽업한 6개분의 난의 화상이 도시되어 있다. 도 5에서는, 왼쪽부터 차례로, 홀 난(E3), 함몰난(陷沒卵)(E4), 오픈 크랙난(E5), 분변 오염난(E6), 내용물(中身) 부착난(E7), 내상(內傷)·점반난(点斑卵)(E8)의 화상이 모식적으로 도시되어 있다. 홀 난(E3) 및 오픈 크랙 난(E5)과 같이, 알껍질 표면에 큰 구멍이 생겨 있는 난은 폐기 대상이 된다. 한편 함몰난(E4)은, 구멍이 열려 있지 않는 한은 폐기하지 않도록 설정하는 것도 가능하다. 분변 오염난(E6), 내용물 부착난(E7)(다른 난으로부터 누설된 노른자나 흰자가 부착한 난) 및 내상·점반난(E8)은, 폐기하지 않도록 설정되어 있다.
판정부(10)(도 2 참조)에서는, 촬상된 화상(P)에 의거하여 난(E)의 표면의 상태가 판정된다. 또한, 판정부(10)의 구체적인 양태는, 이하에 설명하는 양태로 한정되는 것이 아니고, 여러가지의 화상 처리 수법을 적용하여도 좋다.
난의 검사 장치(1)를 제어하는 제어부(11)는, 프로세서, 메모리, 입력 인터페이스, 출력 인터페이스 등을 갖는 마이크로 컴퓨터 시스템이다. 제어부(11)의 메모리에는, 촬영된 화상(P)을 수치화하는 그레이값과 비교하기 위한 소정의 임계치가 기억되어 있다. 소정의 임계치로서는, 예를 들면, 적외광이 조사된 난의 화상(P)에 대해, 「갈라짐」 또는 「분변 오염 부착」 등을 판정하는 임계치가 생각된다.
촬영된 화상(P)의 그레이값이, 소정의 임계치보다도 작은(어두운) 범위 내에 수습되면, 난에는 「갈라짐」이 없다고 판정할 수 있다. 한편 촬영된 화상(P)의 그레이값이, 소정의 임계치보다도 큰(밝은) 부분이 있으면, 그 부분에 「갈라짐」이 있는 난이라고 판정할 수 있다. 즉, 화상(P) 중이 밝은 영역은, 적외광의 투과가 보다 많은 부분이라고 말할 수 있다.
난에게 조사된 적외광은, 알껍질을 투과하고 알껍질 내에서 산란된다. 알껍질 내에서 산란한 적외광이 재차 알껍질을 투과함으로써, 난(E) 전체가 발광체와 같이 적외광을 방출하게 된다. 이때, 난(E)의 갈라진 부분에서는, 갈라지지 않는 부분에 비하여, 알껍질이 갈라져 있는 분만큼, 적외광의 투과가 보다 많아진다. 이 때문에, 갈라진 부분에서는, 갈라지지 않은 부분에 비하여, 화상(P) 중에서 밝게 표시되게 된다.
각 화상(P)에 대해 화상 처리를 행할 때의 구체적인 한 방법으로서는, 각 화상(P)을 소정의 임계치를 이용하여 2치화하면 좋다. 이에 의해, 화상(P) 중에 「갈라짐」이 있으면, 그 부분이 다른 것 보다도 밝은(흰) 영역이 되어 나타난다. 판정부(10)에서는, 밝은 영역이 조금이라도 존재하는 경우에 「갈라짐」이 있다고 판단하여도 좋고, 판정 영역에 대한 밝은 영역의 면적 비율이 임계치를 초과하는 경우에, 「갈라짐」이 있다고 판단하여도 좋다. 또한, 「분변 오염 부착」에 대해서도 다른 임계치를 이용하여 같은 처리를 행하면, 그 부분이 다른 것 보다도 어두운(검은) 영역이 되어 나타난다.
도 2 및 도 3에 도시하는 바와 같이, 난의 검사 장치(1)에서의 반송부(6)에서는, 복수의 난(E)을 정렬시킨 상태에서 난(E)이 반송된다. 반송부(6)는, 롤러(62) 및 롤러 축(61)을 구비하고 있다. 롤러(62)는, 장구형상(つづみ狀)이다. 롤러(62)는, 롤러 축(61)에 반송 방향과 직교하는 방향으로 복수 부착되어 있다. 반송 방향으로 서로 이웃하는 롤러(62)와 롤러(62) 사이에, 난(E)이 유지되게 된다. 이 위치에는, 상하 방향으로 관통하는 개구부(63)(도 2 참조)가 형성되어 있다. 난(E)은, 롤러(62)의 회전 방향과는 반대 방향으로 회전하다. 또한, 도 4에서는, 롤러 축(61) 및 롤러(62)는, 2점 쇄선에 의해 도시되어 있다.
도 3 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 반송부(6)의 하방에는, 쓰레기 또는 난(E)의 내용물 등이, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)산에 직접 떨어지는 것을 방지하기 위한 보호부재(8)가 마련되어 있다. 보호부재(8)는, 판형상이고, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)가 배치된 영역 전체를 덮도록 배치되어 있다. 보호부재(8)는, 적외광을 투과한 소재를 사용하여 형성되어 있다. 도 3에서는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로부터 조사된 광의 경로가, 점선의 화살표에 의해 모식적으로 도시되어 있다.
또한, 도 2∼도 4에 도시하는 바와 같이, 반송부(6)의 하방에는, 흑색의 반사 억제부(9)가 마련되어 있다. 반사 억제부(9)는, 보호부재(8)의 상면측에 마련되어 있다. 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로부터 조사되고, 반송부(6)에 도달한 광 중, 난(E) 또는 반송부(6)의 하측에서 반사된 광이, 반사 억제부(9)에 의해 약해져서, 재차 반송부(6)에 까지 도달하는 것을 억제할 수 있다. 도 2∼도 4에서는, 반사 억제부(9)는, 도트에 의해 도시되어 있다. 반사 억제부(9)는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로부터 난(E)을 향하여 조사된 광의 경로를 차단하지 않도록 배치되어 있다. 반사 억제부(9)는, 반송 방향에 따라, 복수개의 띠형상(帶狀)으로 마련되어 있다.
다음에, 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)에서의 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)와 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)에 대한 제어의 한 예에 관해 설명한다.
우선, 검사하여야 할 난(E)의 유무를 검지한다. 구체적으로는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로부터 소정 거리를 띄어서 상류측에 배치된 센서를 이용하여, 반송 방향으로 이웃하는 롤러(62)와 롤러(62)의 사이에 난(E)이 재치되어 있는지의 여부가 검출된다. 검출 결과의 신호가 출력된다.
검사하여야 할 난(E)이 있다고 검출되면, 그 난(E)이, 제1의 조사부(2)의 바로 위의 위치에 까지 반송된 시점에서, 도 6에 도시하는 바와 같이, 제1의 조사부(2)가 점등하고, 적외광이 난(E)을 향하여 조사된다. 그때, 조사된 적외광이, 제1의 촬상부(4) 또는 제2의 촬상부(5)에 직접 들어가면 난(E)의 촬영에 부적합함을 주게 된다. 이 때문에, 알껍질의 적절한 범위 내에 조사할 수 있도록, 제1의 조사부(2)에 의한 적외광의 조사 위치 또는 조사 타이밍 등을 설정하는 것이 바람직하다. 적외광의 조사에 맞추어서, 제1의 촬상부(4)에 의해, 적외광이 조사된 난(E)이 촬영된다. 또한, 이때, 제2의 조사부(3)는 소등시켜져 있다.
그 후, 반송부(6)에 의해, 난(E)이 제2의 조사부(3)의 바로 위의 위치에 까지 반송된 시점에서, 도 7에 도시하는 바와 같이, 제2의 조사부(3)가 점등하고, 적외광이 난(E)을 향하여 조사된다. 적외광의 조사에 맞추어서, 제2의 촬상부(5)에 의해, 적외광이 조사된 난(E)이 촬영된다. 또한, 이때, 제1의 조사부(2)는 소등시켜져 있다.
즉, 난의 검사 장치(1)에서는, 제1의 촬상부(4)는, 제1의 조사부(2)로부터 난(E)을 향하여 적외광이 조사되고, 또한, 제2의 조사부(3)로부터는 난(E)을 향하여 적외광이 조사되지 않은 때에, 난(E)의 타방의 단부(E2)측에서 난(E)을 촬영한다. 한편 제2의 촬상부(5)는, 제1의 조사부(2)로부터는 난(E)을 향하여 적외광이 조사되지 않고, 또한, 제2의 조사부(3)로부터 난(E)을 향하여 적외광이 조사되어 있을 때에, 난(E)의 일방의 단부(E1)측에서 난(E)을 촬영한다.
또한, 이들의 공정은, 회전하면서 이동하는 1개의 난(E)에 대해, 제1의 촬상부(4)에 의해 3회의 촬영이 행하여지고, 제2의 촬상부(5)에 의해 3회의 촬영이 행하여진다. 따라서 하나의 난에 대해, 촬영이 합계 6회 반복되게 된다. 이에 의해, 난(E)의 전둘레에 걸쳐서 표면 상태를 검사하는 것이 가능해진다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시 형태에 관한 난의 검사 장치(1)는, 복수의 조사부와 복수의 촬상부와 판정부(10)를 구비하고 있다. 복수의 조사부는, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)를 구비하고 있다. 복수의 촬상부는, 제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)를 구비하고 있다. 제1의 조사부(2)는, 난(E)의 일방의 단부(E1)측부터 난(E)을 향하여 적외광을 조사한다. 제2의 조사부(3)는, 난(E)의 타방의 단부(E2)측부터 난(E)을 향하여 적외광을 조사한다. 제1의 촬상부(4)는, 제1의 조사부(2)로부터 난(E)을 향하여 적외광이 조사되고 있을 때에, 난(E)의 타방의 단부(E2)측에서 난(E)을 촬영한다. 제2의 촬상부(5)는, 제2의 조사부(3)로부터 난(E)을 향하여 적외광이 조사되고 있을 때에, 난(E)의 일방의 단부(E1)측에서 난(E)을 촬영한다.
이에 의해, 난(E)의 예단측 또는 둔단측의 표면에, 갈라짐, 잔금, 또는, 오염의 부착 등의 결함이 존재하는지의 여부를 검사할 수 있다. 특히, 난(E)은, 롤러(62)에 의해 난(E)의 장축을 축으로 하여 회전하면서 반송되고, 난(E)의 전둘레에 걸쳐서 계속해서 검사된다. 또한, 제1의 촬상부(4)에서는, 난(E)의 타방의 단부(E2)로부터 난(E)의 몸통 주변에 걸친 영역이 촬영된다. 또한, 제2의 촬상부(5)에서는, 난(E)의 일방의 단부(E1)로부터 난(E)의 몸통 주변에 걸친 영역이 촬영된다. 이 때문에, 난(E)의 몸통 주변 부근의 균열 등에 대해서도 검사하는 것이 가능하다. 이와 같이 하여, 종래, 파란, 또는, 알껍질이 갈라진 부분에서 난의 내용물이 누출한 리크란 등에 관해, 사람손에 의해 육안으로 확인하고 있던 부분을 자동화에 의해 확인할 수 있기 때문에, 인건비의 삭감도 가능해진다.
상술한 난의 검사 장치(1)에서는, 특히, 난(E)의 단부(E1)측에 제1의 조사부(2)가 배치되어 있다. 그 난(E)의 단부(E1)측과는 반대측의 단부(E2)측에 제1의 촬상부(4)가 배치되어 있다. 제1의 촬상부(4)와 제1의 조사부(2)의 사이를 잇는 선상에, 난(E)이 위치하게 된다. 이 배치에 의해, 제1의 조사부(2)에 의해 광이 조사된 난(E)을 제1의 촬상부(4)에 의해 촬영한 때에는, 제1의 조사부(2)로부터 조사된 광 중, 제1의 조사부(2)로부터 제1의 촬상부(4)를 향하여 진행된 광의 성분이, 난(E)에 의해 차단되게 된다. 이 때문에, 제1의 조사부(2)로부터 조사된 광이, 제1의 촬상부(4)에 직접 들어가는 것을 저지할 수 있다. 이에 의해, 제1의 조사부(2)로부터 조사된 광이 제1의 촬상부(4)에 직접 들어가는 것에 기인하여, 난(E)에 균열 등이 있다는 잘못된 판정이 이루어지는 것을 없앨 수 있다.
또한, 난(E)의 단부(E2)측에 제2의 조사부(3)가 배치되어 있다. 그 난(E)의 단부(E2)측과는 반대측의 단부(E1)측에 제2의 촬상부(5)가 배치되어 있다. 제2의 촬상부(5)와 제2의 조사부(3)의 사이를 잇는 선상에, 난(E)이 위치하게 된다. 이 배치에 의해, 제2의 조사부(3)에 의해 광이 조사된 난(E)을 제2의 촬상부(5)에 의해 촬영한 때에는, 제2의 조사부(3)로부터 조사된 광 중, 제2의 조사부(3)로부터 제2의 촬상부(5)를 향하여 진행된 광의 성분이, 난(E)에 의해 차단되게 된다. 이 때문에, 제2의 조사부(3)로부터 조사된 광이, 제2의 촬상부(5)에 직접 들어가는 것을 저지할 수 있다. 이에 의해, 제2의 조사부(3)로부터 조사된 광이 제2의 촬상부(5)에 직접 들어가는 것에 기인하여, 난(E)에 균열 등이 있다는 잘못된 판정이 이루어지는 것을 없앨 수 있다.
또한, 상술한 난의 검사 장치(1)에서는, 반송부(6)의 하방에 배치된 보호부재(8)의 상면측에 흑색의 반사 억제부(9)가 마련되어 있다. 이 배치에 의해, 제1의 조사부(2) 또는 제2의 조사부(3)로부터 조사되어, 반송부(6)에 도달하고, 난(E) 등의 하측에서 반사된 광 중, 보호부재(8)의 상면에 도달하여 반사하는 광의 성분이, 반사 억제부(9)에 의해 약해져서, 재차 반송부(6)에 까지 도달하는 것을 억제할 수 있다. 이에 의해, 보호부재(8)의 상면에서 반사한 광의 성분이, 미광(迷光)으로서 제1의 촬상부(4) 또는 제2의 촬상부(5)에 들어가는 것을 억제할 수가 있어서, 판정 정밀도의 저하를 방지할 수 있다. 또한, 반사 억제부(9)는, 제1의 조사부(2) 또는 제2의 조사부(3)로부터 조사된 광을 조이는(絞る) 기능도 갖게 된다.
또한, 상술한 난의 검사 장치(1)는, 난의 선별 시스템(100)에서, 파란 검출부(103)로서, 세란부(104) 및 건조부(105)의 상류측에 배치되어 있다(도 1 참조). 이 때문에, 파란 또는 리크란 등이, 세란부(104) 또는 건조부(105)에 반송되기 전에 선별되어 배제할 수 있다. 이에 의해, 파란 등에 의해 세란부(104) 또는 건조부(105)가 오염 등 되는 것을 미연에 막을 할 수 있고, 청소의 수고도 줄일 수 있다.
또한, 본 발명은 상술한 실시 형태로 한정되지 않는다.
난의 검사 장치(1)로서는, 파란인지의 여부의 검사 이외의 검사에 적용하여도 좋다. 또한, 난의 검사 장치를, 필요에 응하여 난의 선별 시스템(100)(도 1 참조) 내에 놓여야 할 위치에 배치하여도 좋다. 즉, 난의 검사 장치(1)를, 세란부(104)의 상류측에 배치하는 경우만이 아니고, 예를 들면, 난의 검사 장치(1)를 세란부(104)의 하류측으로서 건조부(105)의 상류측에 배치하여도 좋다. 또한, 난의 검사 장치(1)를, 건조부(105)의 하류측에 배치하여도 좋다.
난의 선별 시스템(100)에 대해서도, 파란 검출부(103)로서의 난의 검사 장치(1) 이외의 부분에 관해서는, 필요에 응하여 여러가지 변경하는 것이 가능하다. 또한, 난의 검사 장치(1)를, 세란부 및 건조부를 구비하고 있지 않은 난의 선별 시스템에 적용하여도 좋다.
제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)로서, 소정의 광을 난을 향하여 조사할 수 있으면, 여러가지 변경이 가능하다. 예를 들면, 난을 투과하는 광을 조사하는 조사부가 바람직하고, 구체적으로는, 가시광∼적외광의 성분을 포함하는 광을 조사하는 조사부가 바람직하다. 적외광으로서는, 예를 들면, 750㎚∼1500㎚ 정도의 파장을 갖는 근적외광이 바람직하고, 그 파장의 범위 중에서도, 780㎚∼870㎚ 정도의 파장을 갖는 근적외광이 보다 바람직하다. 파장이 780㎚보다도 짧은 적외광에서는, 알껍질색의 영향을 받아, 난에 광이 들어가기 어렵고, 따라서 난을 투과하는 광도 적어지기 때문에, 배경에 대한 난의 콘트라스트가 나빠질 우려가 있다. 한편 파장이 870㎚보다도 긴 적외광에서는, 노른자 및 흰자에 포함되는 수분에 적외광이 흡수되고 버려, 난을 투과하는 광도 적어지기 때문에, 배경에 대한 난의 콘트라스트가 나빠질 우려가 있다. 또한, 조사부로서는, 광을 굴절시켜서 집속시키는 렌즈 등을 구비한 조사부를 이용하여도 좋다. 또한, 광의 확산의 각도를 제한하는 조리개 등을 구비한 조사부를 이용하여도 좋다.
또한, 제1의 조사부(2) 및 제2의 조사부(3)의 배치로서는, 상술한 배치로 한정되지 않는다. 예를 들면, 난의 일방(타방)의 단부와는 롤러 축(61) 방향으로 떨어진 위치로부터, 롤러(62)와 롤러(62)의 사이에 위치하는 개구부를 향하여, 광을 비스듬히 위로 조사할 수 있는 조사부의 배치로 하여도 좋다. 구체적으로는, 조사 대상이 되는 난이 재치된 롤러와는, 롤러 축방향으로 떨어진 위치에 조사부를 배치하고, 그 조사부로부터 난의 몸통 주변을 향하여 광을 조사하도록 하여도 좋다. 또한, 이 경우에는, 반사 억제부(9)의 위치를 적절히 바꿀 필요가 있다. 또한, 조사 대상의 난 이외의 난의 하측에 조사부를 배치하고, 그 조사부로부터 난의 몸통 주변을 향하여 광을 조사하도록 하여도 좋다.
또한, 조사부로부터 조사된 광이, 조사 대상이 되는 난 이외의 난에 의해 차단되는 경우에는, 조사부와, 그 조사부의 조사 대상이 되는 난을 촬영하는 촬상부를, 난에서의 같은 단부측에 배치하여도 좋다. 또한, 조사부로부터 조사되는 광이, 난 이외의 차폐물에 의해 차단되는 경우에도, 조사부와, 그 조사부의 조사 대상이 되는 난을 촬영하는 촬상부를, 난에서의 같은 단부측에 배치하여도 좋다. 즉, 본 발명에 관한 난의 검사 장치(1)는, 난의 타방의 단부측에 배치된 제2의 조사부로부터 광이 조사되고 있는 난을, 난의 타방의 단부측에서 촬영하는 제1의 촬상부와, 난의 일방의 단부측에 배치된 제1의 조사부로부터 광이 조사된 난을, 난의 일방의 단부측에서 촬영하는 제2의 촬상부를 구비하고 있어도 좋다.
제1의 조사부(2)와 제2의 조사부(3)는, 반송 방향에 거의 직교하는 방향에 따라 나열하여 있어도 좋다.
제1의 촬상부(4)에 의한 촬영과 제2의 촬상부(5)에 의한 촬영이, 타이밍적으로 겹쳐지지 않는다면, 제1의 조사부(2)가 점등하고 있는 타이밍과, 제2의 조사부(3)가 점등하고 있는 타이밍이, 일부 중복되어 있어도 좋다. 또한, 제1의 조사부(2)의 전부를 동일한 타이밍에 점등시켜도 좋다. 또한, 제1의 조사부(2)를 복수의 그룹으로 나누고, 그룹마다 타이밍을 어긋내어 점등시켜도 좋다. 제2의 조사부(3)에 대해서도 마찬가지이다.
제1의 촬상부(4) 및 제2의 촬상부(5)로서는, 난의 화상을 촬영할 수 있으면 상술한 예로 한정되는 것이 아니다. 또한, 제1의 촬상부(4)와 제2의 촬상부(5)에 의해 촬영된 난의 화상을 모식적으로 도시하였지만, 도시는 한 예에 지나지 않는다.
판정부(10)에서는, 촬상된 난의 화상의 명도차(콘트라스트)에 의거하여, 난의 표면의 상태를 판정하여도 좋다. 예를 들면, 난의 화상 중에 휘도가 크게 변화하고 있는 점(에지)이 있으면, 그 부분에 「갈라짐」 또는 「분변 오염 부착」이 있다고 판정할 수 있다. 또한, 에지의 검출을 행하기 전에, 이 분야에서 잘 알려지는 전처리를 화상에 시행하여도 좋다.
반송부(6)로서는, 난을 회전시키면서 반송하는 반송부로 한정되지 않는다. 또한, 난의 장축을 반송 방향과 교차하는 방향으로 배치하여 난을 반송하는 반송부로 한정되지 않는다. 또한, 반송부(6)의 열수로서는 6열로 한정되지 않는다.
반사 억제부(9)로서는, 난(E) 또는 반송부(6)의 하면측에서 반사된 광을 약하게 하는 것이 가능한 소재나 형상을 구비하고 있으면, 상술한 양태로 한정되지 않는다. 또한, 반사 억제부(9)를 배치하는 장소도, 반송부(6)의 하방이라면 보호부재(8)의 상면으로는 한정되지 않는다.
금회 개시된 실시의 형태는 예시이고 이것으로 제한된 것이 아니다. 본 발명은 상기에서 설명한 범위가 아니라, 청구의 범위에 의해 나타나고, 청구의 범위와 균등한 의미 및 범위에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.
[산업상의 이용 가능성]
본 발명은, 난의 표면 상태를 판정하는 난의 검사 장치에 이용할 수 있다.
1 : 난의 검사 장치
2 : 제1의 조사부
3 : 제2의 조사부
4 : 제1의 촬상부
5 : 제2의 촬상부
6 : 반송부
8 : 보호부재
9 : 반사 억제부
10 : 판정부
11 : 제어부
61 : 롤러 축
62 : 롤러
63 : 개구부
100 : 난의 선별 시스템
101 : 원란 공급부
102 : 방향 정렬부
103 : 파란 검출부
104 : 세란부
105 : 건조부
106 : 선별 집합부
P : 화상
E : 난

Claims (2)

  1. 난을 향하여 광을 조사하는 복수의 조사부와,
    상기 난을 투과한 상기 광을 포함하는, 상기 광이 조사된 상기 난을 촬영하는 복수의 촬상부와,
    상기 촬상부에 의해 촬영된 상기 난의 화상에 의거하여, 상기 난의 표면 상태를 판정하는 판정부와,
    상기 난을 반송하는 반송부를 구비하고,
    복수의 상기 조사부는,
    상기 난의 예단측 및 둔단측 중 어느 하나의 단부측부터 상기 광을 조사하는 제1의 조사부와,
    상기 난의 상기 예단측 및 상기 둔단측 중 다른 하나의 단부측부터 상기 광을 조사하는 제2의 조사부를 포함하고,
    복수의 상기 촬상부는,
    상기 난의 상기 예단측 및 상기 둔단측 중 상기 다른 하나의 단부측에서 상기 난을 촬영하는 제1의 촬상부와,
    상기 난의 상기 예단측 및 상기 둔단측 중 상기 어느 하나의 단부측에서 상기 난을 촬영하는 제2의 촬상부를 포함하고,
    상기 제1의 촬상부는, 상기 제1의 조사부가 상기 난을 향하여 상기 광을 조사할 때에, 상기 난의 상기 예단측 및 상기 둔단측 중 상기 다른 하나의 단부측부터 상기 난의 몸통 주변에 걸친 영역을 촬영하고,
    상기 제2의 촬상부는, 상기 제2의 조사부가 상기 난을 향하여 상기 광을 조사할 때에, 상기 난의 예단측 및 둔단측 중 상기 어느 하나의 단부측부터 상기 난의 몸통 주변에 걸친 영역을 촬영하고,
    상기 제1의 조사부는, 상기 제1의 촬상부에 의해 촬영하는 화상 내에서, 상기 반송부에 재치된 난에 의해 차단되는 위치에 설정되어 있고,
    상기 제2의 조사부는, 상기 제2의 촬상부에 의해 촬영하는 화상 내에서, 상기 반송부에 재치된 난에 의해 차단되는 위치에 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 난의 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 반송부의 하방에 배치되어, 상기 광의 반사를 억제하는 반사 방지부를 구비하고,
    상기 반송부는, 상기 난을 회전시키면서 반송시키고,
    상기 제1의 조사부 및 상기 제2의 조사부는, 상기 반송부의 하방에 배치된 것을 특징으로 하는 난의 검사 장치.
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