KR101935129B1 - Copper foil for flexible printed wiring board, and copper-clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same - Google Patents

Copper foil for flexible printed wiring board, and copper-clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same Download PDF

Info

Publication number
KR101935129B1
KR101935129B1 KR1020170010940A KR20170010940A KR101935129B1 KR 101935129 B1 KR101935129 B1 KR 101935129B1 KR 1020170010940 A KR1020170010940 A KR 1020170010940A KR 20170010940 A KR20170010940 A KR 20170010940A KR 101935129 B1 KR101935129 B1 KR 101935129B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
copper foil
copper
flexible printed
clad laminate
wiring board
Prior art date
Application number
KR1020170010940A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20170093708A (en
Inventor
신스케 반도
가즈키 감무리
Original Assignee
제이엑스금속주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 제이엑스금속주식회사 filed Critical 제이엑스금속주식회사
Publication of KR20170093708A publication Critical patent/KR20170093708A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101935129B1 publication Critical patent/KR101935129B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/04Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material
    • B32B15/08Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material of synthetic resin
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/20Layered products comprising a layer of metal comprising aluminium or copper
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • B32B27/28Layered products comprising a layer of synthetic resin comprising synthetic resins not wholly covered by any one of the sub-groups B32B27/30 - B32B27/42
    • B32B27/281Layered products comprising a layer of synthetic resin comprising synthetic resins not wholly covered by any one of the sub-groups B32B27/30 - B32B27/42 comprising polyimides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • C22C9/02Alloys based on copper with tin as the next major constituent
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • C22C9/04Alloys based on copper with zinc as the next major constituent
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • C22C9/06Alloys based on copper with nickel or cobalt as the next major constituent
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22FCHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • C22F1/08Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of copper or alloys based thereon
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0393Flexible materials
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/08PCBs, i.e. printed circuit boards

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(과제) 절곡성 및 에칭성이 우수한 플렉시블 프린트 기판용 동박을 제공한다.
(해결수단) 99.0 질량% 이상의 Cu, 잔부 불가피적 불순물로 이루어지는 동박으로서, 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 인 플렉시블 프린트 기판용 동박이다.
[PROBLEMS] To provide a copper foil for a flexible printed circuit board excellent in bending property and etching property.
(Copolymer) A copper foil comprising 99.0 mass% or more of Cu and the remainder inevitable impurities, wherein the average grain size is 0.5 to 4.0 mu m and the tensile strength is 235 to 290 MPa.

Description

플렉시블 프린트 기판용 동박, 그것을 사용한 구리 피복 적층체, 플렉시블 프린트 기판, 및 전자 기기{COPPER FOIL FOR FLEXIBLE PRINTED WIRING BOARD, AND COPPER-CLAD LAMINATE, FLEXIBLE PRINTED WIRING BOARD AND ELECTRONIC DEVICE USING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a copper foil for a flexible printed circuit board, a copper clad laminate using the same, a flexible printed circuit board,

본 발명은 플렉시블 프린트 기판 등의 배선 부재에 사용하기에 바람직한 동박, 그것을 사용한 구리 피복 적층체, 플렉시블 배선판, 및 전자 기기에 관한 것이다.The present invention relates to a copper foil suitable for use in a wiring member such as a flexible printed board, a copper clad laminate using the same, a flexible wiring board, and electronic equipment.

플렉시블 프린트 기판 (플렉시블 배선판, 이하 「FPC」라고 칭한다) 은 플렉시블성을 갖기 때문에, 전자 회로의 절곡 (折曲) 부나 가동부 (可動部) 에 널리 사용되고 있다. 예를 들어, HDD 나 DVD 및 CD-ROM 등의 디스크 관련 기기의 가동부나, 폴더식 휴대 전화기의 절곡부 등에 FPC 가 사용되고 있다.Flexible printed circuit boards (hereinafter referred to as " FPCs ") are widely used for folding or moving parts of electronic circuits because they have flexibility. For example, an FPC is used for a moving part of a disk-related device such as an HDD, a DVD and a CD-ROM, or a bent part of a folding mobile phone.

FPC 는 동박과 수지를 적층한 Copper Clad Laminate (구리 피복 적층체, 이하 CCL 이라고 칭한다) 를 에칭함으로써 배선을 형성하고, 그 위를 커버레이라고 불리는 수지층에 의해 피복한 것이다. 커버레이를 적층하는 전 (前) 단계에서, 동박과 커버레이의 밀착성을 향상시키기 위한 표면 개질 공정의 일환으로서, 동박 표면의 에칭이 실시된다. 또, 동박의 두께를 저감시켜 굴곡성을 향상시키기 위하여, 감육 (減肉) 에칭을 실시하는 경우도 있다.The FPC is formed by forming a wiring by etching a copper clad laminate (copper clad laminate, hereinafter referred to as CCL) in which a copper foil and a resin are laminated, and the upper surface is covered with a resin layer called a coverlay. As a part of the surface modification step for improving the adhesion between the copper foil and the coverlay in the previous step of laminating the coverlay, etching of the copper foil surface is carried out. In addition, in order to reduce the thickness of the copper foil to improve the bending property, a thinning etching may be performed.

그런데, 전자 기기의 소형, 박형 (薄型), 고성능화에 수반하여, 이들 기기의 내부에 FPC 를 고밀도로 실장하는 것이 요구되고 있는데, 고밀도 실장을 실시하기 위해서는, 소형화한 기기의 내부에 FPC 를 접어 구부려 수용하는, 요컨대 높은 절곡성이 필요하게 된다.[0004] However, in order to implement a high-density mounting, it is necessary to fold the FPC inside the miniaturized device to bend it In other words, a high bending property is required.

한편, IPC 굴곡성으로 대표되는 고사이클 굴곡성을 개선한 동박이 개발되고 있다 (특허문헌 1, 2).On the other hand, a copper foil improved in flexural flexibility at high cycle, which is represented by IPC bending property, has been developed (Patent Documents 1 and 2).

일본 공개특허공보 2010-100887호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2010-100887 일본 공개특허공보 2009-111203호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2009-111203

그러나, 상기 서술한 바와 같이 FPC 를 고밀도로 실장하기 위해서는, MIT 내절성 (耐折性) 으로 대표되는 절곡성의 향상이 필요하고, 종래의 동박에서는 절곡성의 개선이 충분하다고는 할 수 없다는 문제가 있다.However, in order to mount the FPC at a high density as described above, it is necessary to improve the bending property typified by the MIT bending resistance (folding endurance), and there is a problem that the conventional copper foil can not sufficiently improve the bending property .

또, 전자 기기의 소형, 박형, 고성능화에 수반하여, FPC 의 회로 폭, 스페이스 폭도 20 ∼ 30 ㎛ 정도로 미세화되어 있고, 에칭에 의해 회로를 형성할 때에 에칭 팩터나 회로 직선성이 열화되기 쉬워진다는 문제가 있어, 이 해결도 요구되고 있다.In addition, with the miniaturization, thinness and high performance of electronic devices, the circuit width and space width of the FPC are reduced to about 20 to 30 mu m, and the etching factor and the circuit linearity are liable to be deteriorated when the circuit is formed by etching There is a problem, and this solution is also required.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 절곡성 및 에칭성이 우수한 플렉시블 프린트 기판용 동박, 그것을 사용한 구리 피복 적층체, 플렉시블 프린트 기판, 및 전자 기기의 제공을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a copper foil for a flexible printed circuit board excellent in bending property and etching property, a copper clad laminate using the same, a flexible printed board, and an electronic apparatus.

본 발명자들은 다양하게 검토한 결과, 동박의 재결정 후의 결정립을 미세화함으로써, 강도를 높여 절곡성을 향상시킬 수 있는 것을 알아냈다. 이것은, 홀 페치 법칙에 의해 결정립을 미세화할수록 강도가 높아지고, 절곡성도 높아지기 때문이다. 단, 결정립을 지나치게 미세화하면 강도가 지나치게 높아져 굽힘 강성이 커지고, 스프링백이 커져 플렉시블 프린트 기판 용도에 적합하지 않다. 따라서, 결정 입경의 범위도 규정하였다.The inventors of the present invention have made various studies, and as a result, have found that the crystal grains after recrystallization of the copper foil can be finely refined to enhance the strength and improve the foldability. This is because as the crystal grains are made finer by the hole fetch rule, the strength becomes higher and the bending property becomes higher. However, if the crystal grains are excessively fine, the strength becomes excessively high, the bending rigidity becomes large, and the springback becomes large, which is not suitable for use in a flexible printed board. Therefore, the range of the crystal grain size is also specified.

또, 결정 입경을, 최근의 FPC 의 20 ∼ 30 ㎛ 정도의 회로 폭의 대략 1/10 정도로 미세화함으로써, 에칭에 의해 회로를 형성할 때의 에칭 팩터나 회로 직선성도 개선할 수 있다.In addition, by reducing the crystal grain size to about one-tenth of the circuit width of about 20 to 30 mu m of the recent FPC, the etching factor and circuit linearity when the circuit is formed by etching can also be improved.

즉, 본 발명의 플렉시블 프린트 기판용 동박은, 99.0 질량% 이상의 Cu, 잔부 불가피적 불순물로 이루어지는 동박으로서, 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 이다.That is, the copper foil for a flexible printed circuit board of the present invention is a copper foil comprising 99.0% by mass or more of Cu and the remainder inevitable impurities, and has an average crystal grain size of 0.5 to 4.0 μm and a tensile strength of 235 to 290 MPa.

본 발명의 플렉시블 프린트 기판용 동박에 있어서, JIS-H3100 (C1100) 에서 규격화한 터프 피치 동 또는 JIS-H3100 (C1011) 의 무산소동으로 이루어지는 것이 바람직하다.In the copper foil for a flexible printed circuit board of the present invention, it is preferable that it is made of tough pitch copper standardized by JIS-H3100 (C1100) or oxygen-free copper of JIS-H3100 (C1011).

또한, P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In 및 Mg 의 군에서 선택되는 1 종 이상의 첨가 원소를 합계로 0.003 ∼ 0.825 질량% 함유하여 이루어지는 것이 바람직하다.Further, it is preferable that a total of 0.003 to 0.825 mass% of at least one additive element selected from the group of P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In and Mg is contained.

300 ℃ 에서 30 분간의 열처리 후의 상기 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 상기 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 인 것이 바람직하다.It is preferable that the average crystal grain size after the heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes is 0.5 to 4.0 占 퐉 and the tensile strength is 235 to 290 MPa.

상기 동박의 편면에, 두께 25 ㎛ 의 폴리이미드 수지 필름을 적층하여 이루어지는 구리 피복 적층체를, 굽힘 반경 0.05 ㎜ 로 상기 동박이 외측이 되도록 180 도 밀착하여 구부리고, 그 후에 절곡부를 0 도로 되돌리는 시험을 3 회 반복한 후, 상기 동박을 200 배로 관찰했을 때에 균열이 시인되지 않는 것이 바람직하다.A copper clad laminate formed by laminating a polyimide resin film having a thickness of 25 占 퐉 on one surface of the copper foil was bent and bent 180 degrees so that the copper foil was outside at a bending radius of 0.05 mm, It is preferable that the crack is not visually observed when the copper foil is observed at a magnification of 200 times.

본 발명의 구리 피복 적층체는, 상기 플렉시블 프린트 기판용 동박과 수지층을 적층하여 이루어진다.The copper clad laminate of the present invention is formed by laminating the copper foil for a flexible printed circuit and a resin layer.

본 발명의 플렉시블 프린트 기판은, 상기 구리 피복 적층체를 사용하고, 상기 동박에 회로를 형성하여 이루어진다.The flexible printed board of the present invention is formed by using the copper clad laminate and forming a circuit on the copper foil.

상기 회로의 L/S 가 40/40 ∼ 15/15 (㎛/㎛) 인 것이 바람직하다. 또한, 회로의 L/S (라인 앤드 스페이스) 란, 회로를 구성하는 배선의 폭 (L : 라인) 과 이웃하는 배선의 간격 (S : 스페이스) 의 비이다. L 은 회로 중의 L 의 최소값을 채용하고, S 는 회로 중의 S 의 최소값을 채용한다.It is preferable that the L / S of the circuit is 40/40 to 15/15 (mu m / mu m). L / S (line and space) of a circuit is a ratio of the width (L: line) of the wiring constituting the circuit to the interval (S: space) of the adjacent wiring. L adopts the minimum value of L in the circuit, and S adopts the minimum value of S in the circuit.

또한, L 및 S 는 15 ∼ 40 ㎛ 이면 되고, 양자가 동일한 값일 필요는 없다. 예를 들어, L/S = 20.5/35, 35/17 등의 값을 취할 수도 있다.Further, L and S may be in the range of 15 to 40 占 퐉, and they need not be the same value. For example, L / S = 20.5 / 35, 35/17 or the like may be taken.

본 발명의 전자 기기는, 상기 플렉시블 프린트 기판을 사용하여 이루어진다.The electronic apparatus of the present invention is formed using the flexible printed circuit board.

본 발명에 의하면, 절곡성 및 에칭성이 우수한 플렉시블 프린트 기판용 동박이 얻어진다.According to the present invention, a copper foil for a flexible printed circuit board excellent in bending property and etching property is obtained.

도 1 은 CCL 의 절곡성 시험 방법을 나타내는 도면이다.1 is a view showing a test method for bending resistance of CCL.

이하, 본 발명에 관련된 동박의 실시형태에 대하여 설명한다. 또한, 본 발명에 있어서 % 는 특별히 언급하지 않는 한 질량% 를 나타내는 것으로 한다.Hereinafter, embodiments of the copper foil according to the present invention will be described. In the present invention,% means% by mass unless otherwise specified.

<조성><Composition>

본 발명에 관련된 동박은, 99.0 질량% 이상의 Cu, 잔부 불가피적 불순물로 이루어진다.The copper foil according to the present invention is composed of 99.0% by mass or more of Cu and the remainder inevitable impurities.

상기 서술한 바와 같이, 본 발명에 있어서는 동박의 재결정 후의 결정립을 미세화함으로써, 강도를 높여 절곡성을 향상시키고 있다.As described above, in the present invention, the crystal grains after the recrystallization of the copper foil are made finer, whereby the strength is increased to improve the foldability.

단, 상기한 순동계의 조성의 경우, 결정립의 미세화가 곤란하기 때문에, 냉간 압연시의 초기에 1 회만 재결정 어닐링을 실시하고, 이후에는 재결정 어닐링을 실시하지 않음으로써, 냉간 압연에 의해 가공 변형을 대량으로 도입하여 동적 재결정을 발생시켜 결정립의 미세화를 실현할 수 있다.However, in the case of the above-mentioned composition of the pure copper system, it is difficult to make fine grains finer. Therefore, recrystallization annealing is performed only once at the beginning of cold rolling, and thereafter, recrystallization annealing is not performed, It is possible to realize dynamic recrystallization and miniaturization of crystal grains.

또, 냉간 압연에 있어서의 가공 변형을 크게 하기 위해서는, 최종 냉간 압연 (어닐링과 압연을 반복하는 공정 전체 중에서, 마지막 어닐링 후에 실시하는 마무리 압연) 에서의 가공도로서, η = ln (최종 냉간 압연 전의 판두께/최종 냉간 압연 후의 판두께) = 3.5 ∼ 7.5 로 하면 바람직하다.In order to increase the processing strain in the cold rolling, it is preferable that η = ln (final cold rolling before final cold rolling) is performed in the final cold rolling (finishing rolling performed after the final annealing in the entire process of repeating annealing and rolling) Plate thickness / plate thickness after final cold rolling) = 3.5 to 7.5 is preferable.

η 가 3.5 미만인 경우, 가공시의 변형의 축적이 작고, 재결정립의 핵이 적어지기 때문에, 재결정립이 조대 (粗大) 해지는 경향이 있다. η 가 7.5 보다 큰 경우, 변형이 과잉으로 축적되어 결정립 성장의 구동력이 되고, 결정립이 조대해지는 경향이 있다. η = 5.5 ∼ 7.5 로 하면 더욱 바람직하다.When? is less than 3.5, the accumulation of deformation during processing is small and the nuclei of the recrystallized grains are small, so that the recrystallized grains tend to become coarse. When? is larger than 7.5, deformation accumulates excessively to become a driving force of crystal growth, and crystal grains tend to become coarse. It is more preferable that? = 5.5 to 7.5.

또, 결정립을 미세화시키는 첨가 원소로서, 상기 조성에 대하여, P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In 및 Mg 의 군에서 선택되는 1 종 이상의 첨가 원소를 합계로 0.003 ∼ 0.825 질량% 함유하면, 결정립의 미세화를 보다 용이하게 실현할 수 있다. 이들 첨가 원소는, 냉간 압연시에 전위 밀도를 증가시키기 때문에, 결정립의 미세화를 보다 용이하게 실현할 수 있다. 또, 냉간 압연시의 초기에 1 회만 재결정 어닐링을 실시하고, 이후에는 재결정 어닐링을 실시하지 않도록 하면, 냉간 압연에 의해 가공 변형을 대량으로 도입하여 동적 재결정을 발생시켜 결정립의 미세화를 더욱 확실히 실현할 수 있다.When the total content of the additive elements selected from the group consisting of P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In and Mg is 0.003 to 0.825 mass% , It is possible to more easily realize finer crystal grains. Since these added elements increase the dislocation density during cold rolling, the crystal grains can be more easily miniaturized. If the recrystallization annealing is carried out only once at the initial stage in the cold rolling and then the recrystallization annealing is not performed thereafter, a large amount of machining strain is introduced by cold rolling to cause dynamic recrystallization, have.

상기 첨가 원소의 합계 함유량이 0.003 질량% 미만이면 결정립의 미세화가 곤란해지고, 0.825 질량% 를 초과하면 도전율이 저하되는 경우가 있다. 또, 재결정 온도가 상승하여 수지와 적층했을 때에 재결정되지 않고, 강도가 지나치게 높아져 동박 및 CCL 의 절곡성이 열화되는 경우가 있다.When the total content of the additional elements is less than 0.003 mass%, it becomes difficult to make the crystal grains finer. When the total content is more than 0.825 mass%, the conductivity may be lowered. Further, when the recrystallization temperature rises and is laminated with the resin, it is not recrystallized, and the strength is excessively increased, so that the bending property of the copper foil and CCL may deteriorate.

또한, 동박의 재결정 후의 결정립을 미세화하는 방법으로는, 첨가 원소를 추가하는 방법 외에, 중합 압연을 하는 방법, 전해 동박에서 전해 석출을 할 때에 펄스 전류를 사용하는 방법, 또는 전해 동박에서 전해액에 티오우레아나 아교 등을 적당량 첨가하는 방법을 들 수 있다.As a method for refining the crystal grains after the recrystallization of the copper foil, there are a method of performing the rolling of the polymer, a method of using pulse current when electrolytic deposition is carried out in the electrolytic copper foil, A method of adding an appropriate amount of urea or glue or the like may be mentioned.

본 발명에 관련된 동박을, JIS-H3100 (C1100) 에서 규격화한 터프 피치 동 (TPC) 또는 JIS-H3100 (C1011) 의 무산소동 (OFC) 으로 이루어지는 조성으로 해도 된다.The copper foil according to the present invention may be a composition comprising tough pitch copper (TPC) standardized by JIS-H3100 (C1100) or oxygen-free copper (OFC) of JIS-H3100 (C1011).

또, 상기 TPC 또는 OFC 에 대하여, 상기한 첨가 원소를 함유시켜 이루어지는 조성으로 해도 된다.The TPC or OFC may be a composition containing the above-described additive element.

<평균 결정 입경>&Lt; Average crystal grain size &

동박의 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛ 이다. 평균 결정 입경이 0.5 ㎛ 미만이면, 강도가 지나치게 높아져 굽힘 강성이 커지고, 스프링백이 커져 플렉시블 프린트 기판 용도에 적합하지 않다. 평균 결정 입경이 4.0 ㎛ 를 초과하면, 결정립의 미세화가 실현되지 않고, 강도를 높여 절곡성을 향상시키는 것이 곤란해짐과 함께, 에칭 팩터나 회로 직선성이 열화되어 에칭성이 저하된다.The average grain size of the copper foil is 0.5 to 4.0 mu m. If the average crystal grain size is less than 0.5 占 퐉, the strength becomes too high, the bending rigidity becomes large, and the spring back becomes large, which is not suitable for use in a flexible printed board. If the average crystal grain size exceeds 4.0 占 퐉, grain refinement can not be realized, and it is difficult to improve the folding property by increasing the strength, and the etching factor and circuit linearity are deteriorated and the etching property is deteriorated.

평균 결정 입경의 측정은, 오차를 피하기 위하여, 박 표면을 100 ㎛ × 100 ㎛ 의 시야에서 3 시야 이상을 관찰하여 실시한다. 박 표면의 관찰은, SIM (Scanning Ion Microscope) 또는 SEM (Scanning Electron Microscope) 을 사용하고, JIS H 0501 에 기초하여 평균 결정 입경을 구할 수 있다.In order to avoid an error, the average crystal grain size is measured by observing the surface of the foil in a field of 100 占 퐉 占 100 占 퐉 over three fields. The surface of the foil can be observed using a SIM (Scanning Ion Microscope) or an SEM (Scanning Electron Microscope), and the average crystal grain size can be determined based on JIS H 0501.

단, 쌍정은, 별개의 결정립으로 간주하여 측정한다.However, the twin crystal is regarded as a separate crystal grain and is measured.

<인장 강도 (TS)>&Lt; Tensile Strength (TS) &gt;

동박의 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 이다. 상기 서술한 바와 같이, 결정립을 미세화함으로써 인장 강도가 향상된다. 인장 강도가 235 ㎫ 미만이면, 강도를 높여 절곡성을 향상시키는 것이 곤란해진다. 인장 강도가 290 ㎫ 를 초과하면, 강도가 지나치게 높아져 굽힘 강성이 커지고, 스프링백이 커져 플렉시블 프린트 기판 용도에 적합하지 않다.The tensile strength of the copper foil is 235 to 290 MPa. As described above, the tensile strength is improved by making the crystal grains finer. If the tensile strength is less than 235 MPa, it is difficult to improve the folding performance by increasing the strength. If the tensile strength exceeds 290 MPa, the strength becomes excessively high, the flexural rigidity becomes large, and the spring back becomes large, which is not suitable for use in a flexible printed board.

인장 강도는, IPC-TM650 에 준거한 인장 시험에 의해, 시험편 폭 12.7 ㎜, 실온 (15 ∼ 35 ℃), 인장 속도 50.8 ㎜/min, 게이지 길이 50 ㎜ 이고, 동박의 압연 방향 (또는 MD 방향) 과 평행한 방향으로 인장 시험하였다.The tensile strength was measured by a tensile test according to IPC-TM650 using a specimen having a width of 12.7 mm, a room temperature (15 to 35 캜), a tensile speed of 50.8 mm / min and a gauge length of 50 mm, And a tensile test was performed in a direction parallel to the test piece.

<300 ℃ 에서 30 분간의 열처리>&Lt; Heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes>

동박을 300 ℃ 에서 30 분간의 열처리 후의 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 이어도 된다.The average grain size of the copper foil after heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes may be 0.5 to 4.0 占 퐉 and the tensile strength may be 235 to 290 MPa.

본 발명에 관련된 동박은 플렉시블 프린트 기판에 사용되며, 그 때, 동박과 수지를 적층한 CCL 은, 200 ∼ 400 ℃ 에서 수지를 경화시키기 위한 열처리를 실시하기 때문에, 재결정에 의해 결정립이 조대화될 가능성이 있다.Since the copper foil according to the present invention is used in a flexible printed circuit board and CCL in which a copper foil and a resin are laminated is subjected to a heat treatment for curing the resin at 200 to 400 ° C, .

따라서, 수지와 적층하기 전후에, 동박의 평균 결정 입경 및 인장 강도가 바뀐다. 그래서, 본원의 청구항 1 에 관련된 플렉시블 프린트 기판용 동박은, 수지와 적층 후의 구리 피복 적층체가 된 후의, 수지의 경화 열처리를 받은 상태의 동박을 규정하고 있다.Therefore, before and after lamination with the resin, the average crystal grain size and tensile strength of the copper foil are changed. Thus, the copper foil for a flexible printed circuit according to claim 1 of the present application defines a copper foil in a state of being subjected to a curing heat treatment of a resin after being laminated with a resin to form a copper clad laminate.

한편, 본원의 청구항 4 에 관련된 플렉시블 프린트 기판용 동박은, 수지와 적층하기 전의 동박에 상기 열처리를 실시했을 때의 상태를 규정하고 있다. 이 300 ℃ 에서 30 분간의 열처리는, CCL 의 적층시에 수지를 경화 열처리시키는 온도 조건을 모방한 것이다.On the other hand, the copper foil for a flexible printed circuit according to claim 4 of the present application defines a state in which the copper foil before lamination with the resin is subjected to the heat treatment. The heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes mimics the temperature condition in which the resin is subjected to a curing heat treatment at the time of CCL lamination.

본 발명의 동박은, 예를 들어 이하와 같이 하여 제조할 수 있다. 먼저, 구리 잉곳에 상기 첨가물을 첨가하여 용해, 주조한 후, 열간 압연하고, 냉간 압연과 어닐링을 실시하고, 상기 서술한 최종 냉간 압연을 실시함으로써 박을 제조할 수 있다.The copper foil of the present invention can be produced, for example, as follows. First, the additive may be added to a copper ingot, followed by melting and casting, followed by hot rolling, cold rolling and annealing, and then performing the above-mentioned final cold rolling to produce a foil.

<구리 피복 적층체 및 플렉시블 프린트 기판>&Lt; Copper clad laminate and flexible printed board &gt;

또, 본 발명의 동박에 (1) 수지 전구체 (예를 들어 바니시라고 불리는 폴리이미드 전구체) 를 캐스팅하고 열을 가하여 중합시키는 것, (2) 베이스 필름과 동종의 열가소성 접착제를 사용하여 베이스 필름을 본 발명의 동박에 라미네이트하는 것에 의해, 동박과 수지 기재의 2 층으로 이루어지는 구리 피복 적층체 (CCL) 가 얻어진다. 또, 본 발명의 동박에 접착제를 도착 (塗着) 한 베이스 필름을 라미네이트함으로써, 동박과 수지 기재와 그 사이의 접착층의 3 층으로 이루어지는 구리 피복 적층체 (CCL) 가 얻어진다. 이들 CCL 제조시에 동박이 열처리되어 재결정화된다.(1) casting a resin precursor (for example, a polyimide precursor called varnish) and polymerizing it by applying heat; (2) using a thermoplastic adhesive of the same kind as the base film, By laminating the copper foil of the present invention, a copper clad laminate (CCL) composed of two layers of a copper foil and a resin substrate is obtained. In addition, a copper clad laminate (CCL) composed of three layers of a copper foil, a resin substrate, and an adhesive layer therebetween is obtained by laminating a base film on which an adhesive has arrived (applied) to the copper foil of the present invention. During the production of these CCLs, the copper foil is heat-treated and recrystallized.

이것들에 포토리소그래피 기술을 사용하여 회로를 형성하고, 필요에 따라 회로에 도금을 실시하고, 커버레이 필름을 라미네이트함으로써 플렉시블 프린트 기판 (플렉시블 배선판) 이 얻어진다.A circuit is formed by using these photolithography techniques, a circuit is plated if necessary, and a coverlay film is laminated to obtain a flexible printed circuit board (flexible wiring board).

따라서, 본 발명의 구리 피복 적층체는, 동박과 수지층을 적층하여 이루어진다. 또, 본 발명의 플렉시블 프린트 기판은, 구리 피복 적층체의 동박에 회로를 형성하여 이루어진다.Therefore, the copper clad laminate of the present invention is formed by laminating a copper foil and a resin layer. The flexible printed board of the present invention is formed by forming a circuit on a copper foil of a copper clad laminate.

수지층으로는, PET (폴리에틸렌테레프탈레이트), PI (폴리이미드), LCP (액정 폴리머), PEN (폴리에틸렌나프탈레이트) 을 들 수 있지만 이것에 한정되지 않는다. 또, 수지층으로서, 이것들의 수지 필름을 사용해도 된다.Examples of the resin layer include PET (polyethylene terephthalate), PI (polyimide), LCP (liquid crystal polymer), and PEN (polyethylene naphthalate). As the resin layer, these resin films may be used.

수지층과 동박의 적층 방법으로는, 동박의 표면에 수지층이 되는 재료를 도포하여 가열 성막해도 된다. 또, 수지층으로서 수지 필름을 사용하고, 수지 필름과 동박 사이에 이하의 접착제를 사용해도 되고, 접착제를 사용하지 않고 수지 필름을 동박에 열압착해도 된다. 단, 수지 필름에 여분의 열을 가하지 않는다는 점에서는, 접착제를 사용하는 것이 바람직하다.As a method of laminating the resin layer and the copper foil, a material to be a resin layer may be coated on the surface of the copper foil to be heated. Further, a resin film may be used as the resin layer, the following adhesive may be used between the resin film and the copper foil, or the resin film may be thermally pressed to the copper foil without using an adhesive. However, it is preferable to use an adhesive in order not to apply extra heat to the resin film.

수지층으로서 필름을 사용한 경우, 이 필름을, 접착제층을 개재하여 동박에 적층하면 된다. 이 경우, 필름과 동일 성분의 접착제를 사용하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 수지층으로서 폴리이미드 필름을 사용하는 경우에는, 접착제층도 폴리이미드계 접착제를 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 여기서 말하는 폴리이미드 접착제란 이미드 결합을 포함하는 접착제를 가리키며, 폴리에테르이미드 등도 포함한다.When a film is used as the resin layer, the film may be laminated on the copper foil with the adhesive layer interposed therebetween. In this case, it is preferable to use an adhesive of the same component as the film. For example, when a polyimide film is used as the resin layer, it is preferable to use a polyimide-based adhesive as the adhesive layer. In addition, the polyimide adhesive referred to herein refers to an adhesive containing an imide bond, and also includes a polyetherimide and the like.

또한, 본 발명은 상기 실시형태에 한정되지 않는다. 또, 본 발명의 작용 효과를 나타내는 한, 상기 실시형태에 있어서의 구리 합금이 그 밖의 성분을 함유해도 된다.The present invention is not limited to the above embodiment. The copper alloy in the above embodiment may contain other components as long as it exhibits the function and effect of the present invention.

예를 들어, 동박의 표면에, 조화 처리, 방청 처리, 내열 처리, 또는 이것들의 조합에 의한 표면 처리를 실시해도 된다.For example, the surface of the copper foil may be subjected to surface treatment by roughening treatment, rust-preventive treatment, heat-resistant treatment, or a combination thereof.

실시예Example

다음으로, 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이것들에 한정되는 것은 아니다. 순도 99.9 % 이상의 전기 구리에, 표 1 에 나타내는 원소를 각각 첨가하고, Ar 분위기에서 주조하여 주괴를 얻었다. 주괴 중의 산소 함유량은 15 ppm 미만이었다. 이 주괴를 900 ℃ 에서 균질화 어닐링 후, 열간 압연하여 두께 30 ㎜ 로 한 후, 14 ㎜ 까지 냉간 압연을 실시한 후, 1 회의 어닐링을 실시한 후에 표면을 면삭하여, 표 1 에 나타내는 가공도 η 로 최종 냉간 압연을 하여 최종 두께 17 ㎛ 의 박을 얻었다. 얻어진 박에 300 ℃ × 30 분의 열처리를 가하고, 동박 샘플을 얻었다.Next, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited thereto. Elements shown in Table 1 were added to an electric copper having a purity of 99.9% or more, and cast in an Ar atmosphere to obtain an ingot. The oxygen content of the ingot was less than 15 ppm. The ingot was subjected to homogenization annealing at 900 DEG C, hot rolled to a thickness of 30 mm, cold rolled to 14 mm, annealed once, and then the surface was subjected to machining to obtain a final cold Rolled to obtain a foil having a final thickness of 17 mu m. The resulting foil was subjected to a heat treatment at 300 ° C for 30 minutes to obtain a copper foil sample.

<A. 동박 샘플의 평가><A. Evaluation of Copper Samples>

1. 도전율1. Conductivity

상기 열처리 후의 각 동박 샘플에 대하여, JIS H 0505 에 기초하여 4 단자법에 의해, 25 ℃ 의 도전율 (%IACS) 을 측정하였다.The conductivity (% IACS) at 25 ° C was measured for each copper foil sample after the heat treatment by the four-terminal method based on JIS H 0505.

도전율이 75 %IACS 이상이면 도전성이 양호하다.When the conductivity is 75% IACS or more, the conductivity is good.

2. 입경2. Particle Size

상기 열처리 후의 각 동박 샘플 표면을 SEM (Scanning Electron Microscope) 을 사용하여 관찰하고, JIS H 0501 에 기초하여 평균 입경을 구하였다. 단, 쌍정은 별개의 결정립으로 간주하여 측정을 실시하였다. 측정 영역은, 표면의 100 ㎛ × 100 ㎛ 로 하였다.The sample surface of each copper foil after the heat treatment was observed using an SEM (Scanning Electron Microscope), and the average particle size was determined based on JIS H 0501. However, the twin crystal was regarded as a separate crystal grain and measurement was performed. The measurement area was 100 mu m x 100 mu m on the surface.

3. 동박의 절곡성 (MIT 내절성)3. Insulation resistance of copper foil (MIT bending resistance)

상기 열처리 후의 각 동박 샘플에 대하여, JIS P 8115 에 기초하여 MIT 내절 횟수 (왕복 절곡 횟수) 를 측정하였다. 단, 절곡 클램프의 R 은 0.38, 하중은 500 g 으로 하였다.For each copper foil sample subjected to the heat treatment, the number of times of MIT breakage (the number of reciprocating bending) was measured based on JIS P 8115. However, R of the bending clamp was 0.38 and the load was 500 g.

MIT 내절 횟수가 75 회 이상이면 동박의 절곡성이 양호하다.If the number of times of MIT insertion is more than 75 times, the bending property of the copper foil is good.

4. 동박의 인장 강도4. Tensile strength of copper foil

상기 열처리 후의 각 동박 샘플에 대하여, IPC-TM650 에 준거한 인장 시험에 의해 상기 조건으로 인장 강도를 측정하였다.The tensile strength of each copper foil sample after the heat treatment was measured under the above conditions by a tensile test according to IPC-TM650.

<B. CCL 의 평가><B. Evaluation of CCL>

5. CCL 의 절곡성5. CCL's folding

최종 냉간 압연 후에 상기 열처리를 실시하지 않는 동박 샘플 (열처리 전의 동박) 의 편면에 구리 조화 도금을 실시하였다. 구리 조화 도금욕으로서 Cu : 10-25 g/ℓ, 황산 : 20-100 g/ℓ 의 조성을 사용하고, 욕온 20-40 ℃, 전류 밀도 30-70 A/dm2 로 1-5 초 전기 도금하고, 구리 부착량을 20 g/dm2 로 하였다.After the final cold rolling, copper plating was performed on one side of the copper foil sample (copper foil before heat treatment) not subjected to the heat treatment. The copper plating bath is electroplated with a composition of Cu: 10-25 g / l and sulfuric acid: 20-100 g / l for 1-5 seconds at a bath temperature of 20-40 ° C and a current density of 30-70 A / dm 2, The amount of copper adhered was 20 g / dm &lt; 2 &gt;.

동박 샘플의 조화 도금면에 폴리이미드 필름 (우베 코산 주식회사 제조의 제품명 「유필렉스 VT」, 두께 25 ㎛) 을 적층하고, 가열 프레스 (4 ㎫) 로 300 ℃ × 30 분의 열처리를 가하여 첩합 (貼合) 하고, CCL 샘플을 얻었다. 절곡 시험에 사용한 CCL 샘플의 치수는 압연 방향 (길이 방향) 이 50 ㎜, 폭 방향이 12.7 ㎜ 이다.A polyimide film (product name: &quot; Yufilex VT &quot;, product of Ube Kosan Co., Ltd., thickness: 25 占 퐉) was laminated on the roughened surface of the copper foil sample and subjected to a heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes in a hot press (4 MPa) , And a CCL sample was obtained. The dimensions of the CCL sample used in the bending test were 50 mm in the rolling direction (longitudinal direction) and 12.7 mm in the width direction.

도 1 에 나타내는 바와 같이, 이 CCL 샘플 (30) 을 동박면이 외측이 되도록 하여 0.1 ㎜ 두께의 판 (20) (JIS-H3130 (C1990) 에서 규격화한 티탄구리판) 을 사이에 끼우고, 길이 방향의 중앙에서 2 개로 접고, 압축 시험기 (10) (시마즈 제작소사 제조의 제품명 「오토그래프 AGS」) 의 하형 (10a) 과 상형 (10b) 사이에 배치하였다.As shown in Fig. 1, the CCL sample 30 was sandwiched by a 0.1 mm thick plate 20 (a titanium copper plate standardized by JIS-H3130 (C1990)) so that the copper foil faced the outside, And placed between the lower mold 10a and the upper mold 10b of the compression tester 10 (product name "Autograph AGS" manufactured by Shimadzu Corporation).

이 상태에서 상형 (10b) 을 내려 CCL 샘플 (30) 을 2 개로 접은 부분에서 판 (20) 에 밀착되도록 접어 구부렸다 (도 1(a)). 즉시 CCL 샘플 (30) 을 압축 시험기 (10) 로부터 꺼내고, 2 개로 접은 부분의 「가로 방향 V 자」상의 절곡 선단부 (30s) 를, 마이크로스코프 (키엔스사 제조의 제품명 「원샷 3D 측정 마이크로스코프 VR-3000」을 사용하여, 배율 200 배로 동박면의 균열 유무를 육안으로 확인하였다. 또한, 절곡 선단부 (30s) 는 굽힘 반경 0.05 ㎜ 의 180 도 밀착 구부림에 상당한다.In this state, the upper mold 10b was lowered and folded so as to come into close contact with the plate 20 at a portion where the CCL sample 30 was folded in two (Fig. 1 (a)). The CCL sample 30 is immediately taken out of the compression tester 10 and the bending tip portion 30s of the "transverse V-shaped" portion of the two folded portions is placed on a microscope (product name: "one shot 3D measurement microscope VR- 3000 "was used to visually confirm whether or not the copper foil surface was cracked at a magnification of 200. The bent tip end 30s corresponds to a 180-degree close bending with a bending radius of 0.05 mm.

균열이 확인된 경우에는 시험을 종료하고, 도 1(a) 의 압축을 실시한 횟수를 CCL 의 절곡 횟수로 하였다.In the case where cracks were confirmed, the test was ended, and the number of times of compression in Fig. 1 (a) was determined as the number of times of CCL bending.

균열이 확인되지 않은 경우에는, 도 1(b) 에 나타내는 바와 같이, 절곡 선단부 (30s) 가 상향이 되도록 하여, CCL 샘플 (30) 을 압축 시험기 (10) 의 하형 (10a) 과 상형 (10b) 사이에 배치하고, 이 상태에서 상형 (10b) 을 내려 절곡 선단부 (30s) 를 열었다.The CCL sample 30 is inserted into the lower mold 10a and the upper mold 10b of the compression tester 10 so that the bent tip 30s is upward as shown in Fig. 1 (b) And in this state, the upper die 10b is lowered to open the bent leading end 30s.

그리고, 도 1(a) 의 절곡을 다시 실시하고, 동일하게 절곡 선단부 (30s) 의 균열 유무를 육안으로 확인하였다. 이하, 동일하게 도 1(a) ∼ (b) 의 공정을 반복하고, 절곡 횟수를 결정하였다.Then, the bending of Fig. 1 (a) was carried out again, and the presence or absence of cracking of the bent tip portion 30s was visually confirmed. 1 (a) to 1 (b) were repeated in the same manner, and the number of times of bending was determined.

CCL 의 절곡 횟수가 3 회 이상이면 CCL 의 절곡성이 양호하다.If the bending number of the CCL is 3 or more, the bending property of the CCL is good.

6. 에칭성6. Etchability

상기 CCL 샘플의 동박 부분에 L/S (라인/스페이스) = 40/40 ㎛, 35/35 ㎛, 25/25 ㎛, 20/20 ㎛ 및 15/15 ㎛ 의 단책상의 회로를 형성하였다. 비교로서, 시판되는 압연 동박 (터프 피치 동박) 과 동일하게 회로를 형성하였다. 그리고, 에칭 팩터 (회로의 (에칭 깊이/상하의 평균 에칭 폭) 으로 나타내는 비), 및 회로의 직선성을 마이크로스코프에 의해 육안으로 판정하고, 이하의 기준으로 평가하였다. 평가가 ○ 이면 좋다.A circuit of a desk having L / S (line / space) = 40/40 탆, 35/35 탆, 25/25 탆, 20/20 탆 and 15/15 탆 was formed on the copper foil portion of the CCL sample. As a comparison, a circuit was formed in the same manner as a commercially available rolled copper foil (tough pitch copper foil). Then, the linearity of the circuit and the linearity of the circuit (the ratio represented by the etching depth / upper and lower average etching widths) of the circuit and the linearity of the circuit were visually determined by a microscope and evaluated by the following criteria. The evaluation is OK.

○ : 시판되는 압연 동박에 비해 에칭 팩터 및 회로의 직선성이 양호?: Good etching property and circuit linearity as compared with commercial rolled copper foil

△ : 시판되는 압연 동박에 비해 에칭 팩터 및 회로의 직선성이 동등?: The etching property and the linearity of the circuit are equal to those of a commercial rolled copper foil

× : 시판되는 압연 동박에 비해 에칭 팩터 및 회로의 직선성이 열등하다X: Inferior in linearity of etch factor and circuit compared to commercially available rolled copper foil

얻어진 결과를 표 1 에 나타낸다.The obtained results are shown in Table 1.

Figure 112017008299392-pat00001
Figure 112017008299392-pat00001

표 1 로부터 분명한 바와 같이, 동박의 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 인 각 실시예의 경우, 절곡성 및 에칭성이 우수하였다. 또한, 실시예 1 은 최종 냉간 압연의 마지막 1 패스에서 중합 압연을 실시하였다.As is apparent from Table 1, in each of the examples in which the mean grain size of the copper foil was 0.5 to 4.0 mu m and the tensile strength was 235 to 290 MPa, the bending property and the etching property were excellent. Further, in Example 1, the rolling was performed in the last pass of the final cold rolling.

한편, 최종 냉간 압연에서의 가공도 η 가 3.5 미만인 비교예 1, 4 의 경우, 동박의 평균 결정 입경이 4.0 ㎛ 를 초과하고, 인장 강도가 235 ㎫ 미만이 되어, 동박 및 CCL 의 절곡성이 열등하였다. 또한, 비교예 4 의 경우, 동박의 평균 결정 입경이 4.0 ㎛ 보다 약간 큰 4.5 ㎛ 이기 때문에, 에칭성은 양호하였다.On the other hand, in the case of Comparative Examples 1 and 4 in which the working degree? In the final cold rolling was less than 3.5, the average crystal grain size of the copper foil exceeded 4.0 占 퐉 and the tensile strength became less than 235 MPa, Respectively. In addition, in the case of Comparative Example 4, the average crystal grain size of the copper foil was 4.5 탆, which was slightly larger than 4.0 탆.

첨가 원소의 합계 함유량이 하한값 미만인 비교예 3 의 경우, 첨가 원소에 의한 재결정립의 미세화가 충분하지 않아, 동박의 평균 결정 입경이 4.0 ㎛ 를 대폭적으로 초과하여 조대화되고, 인장 강도가 235 ㎫ 미만이 되어, 동박 및 CCL 의 절곡성 및 에칭성이 열등하였다. 첨가 원소의 합계 함유량이 상한값을 초과한 비교예 2 의 경우, 도전율이 열등하였다.In the case of Comparative Example 3 in which the total content of the added elements is less than the lower limit value, refinement of the recrystallized grains by the additive element is insufficient and the average crystal grain size of the copper foil is considerably exceeded to 4.0 탆, and the tensile strength is less than 235 MPa So that the copper foil and the CCL were inferior in bending property and etching property. In the case of Comparative Example 2 in which the total content of the added elements exceeded the upper limit value, the conductivity was inferior.

첨가 원소의 합계 함유량이 상한값을 초과한 비교예 5 의 경우, 재결정 온도가 높아져 300 ℃ 의 열처리에서는 재결정되지 않고, 도전율이 저하됨과 함께, 인장 강도가 290 ㎫ 를 초과하여 높아졌다. 그 때문에, 동박 및 CCL 의 절곡성이 대폭적으로 열화되었다.In the case of Comparative Example 5 in which the total content of the added elements exceeded the upper limit value, the recrystallization temperature became high and the recrystallization was not performed in the heat treatment at 300 캜, and the conductivity decreased and the tensile strength increased to more than 290 MPa. Therefore, the bending properties of the copper foil and the CCL were considerably deteriorated.

Claims (9)

99.0 질량% 이상의 Cu, 잔부 불가피적 불순물로 이루어지는 동박으로서,
평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 인 플렉시블 프린트 기판용 동박.
Cu of at least 99.0% by mass, and a remainder inevitable impurities,
An average crystal grain size of 0.5 to 4.0 mu m and a tensile strength of 235 to 290 MPa.
제 1 항에 있어서,
JIS-H3100 (C1100) 에서 규격화한 터프 피치 동 또는 JIS-H3100 (C1011) 의 무산소동으로 이루어지는 플렉시블 프린트 기판용 동박.
The method according to claim 1,
A copper foil for a flexible printed circuit board made of tough pitch copper standardized by JIS-H3100 (C1100) or oxygen-free copper of JIS-H3100 (C1011).
제 1 항에 있어서,
추가로 P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In 및 Mg 의 군에서 선택되는 1 종 이상의 첨가 원소를 합계로 0.003 ∼ 0.825 질량% 함유하여 이루어지는 플렉시블 프린트 기판용 동박.
The method according to claim 1,
Further comprising 0.003 to 0.825 mass% of a total of one or more additional elements selected from the group consisting of P, Ti, Sn, Ni, Be, Zn, In and Mg.
제 1 항에 있어서,
300 ℃ 에서 30 분간의 열처리 후의 상기 평균 결정 입경이 0.5 ∼ 4.0 ㎛, 또한 상기 인장 강도가 235 ∼ 290 ㎫ 인 플렉시블 프린트 기판용 동박.
The method according to claim 1,
The average crystal grain size after the heat treatment at 300 占 폚 for 30 minutes is 0.5 to 4.0 占 퐉 and the tensile strength is 235 to 290 ㎫.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 동박의 편면에, 두께 25 ㎛ 의 폴리이미드 수지 필름을 적층하여 이루어지는 구리 피복 적층체를, 굽힘 반경 0.05 ㎜ 로 상기 동박이 외측이 되도록 180 도 밀착하여 구부리고, 그 후에 절곡부를 0 도로 되돌리는 시험을 3 회 반복한 후, 상기 동박을 200 배로 관찰했을 때에 균열이 시인되지 않는 플렉시블 프린트 기판용 동박.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
A copper clad laminate formed by laminating a polyimide resin film having a thickness of 25 占 퐉 on one surface of the copper foil was bent and bent 180 degrees so that the copper foil was outside at a bending radius of 0.05 mm, Is repeated three times and the copper foil is observed at a magnification of 200, so that no crack is visible.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 기재된 플렉시블 프린트 기판용 동박과 수지층을 적층하여 이루어지는 구리 피복 적층체.A copper clad laminate obtained by laminating a copper foil for a flexible printed circuit board and a resin layer according to any one of claims 1 to 4. 제 6 항에 기재된 구리 피복 적층체를 사용하고, 상기 동박에 회로를 형성하여 이루어지는 플렉시블 프린트 기판.A flexible printed board comprising the copper clad laminate according to claim 6 and a circuit formed on the copper foil. 제 7 항에 있어서,
상기 회로의 L/S 가 40/40 ∼ 15/15 (㎛/㎛) 인 플렉시블 프린트 기판.
8. The method of claim 7,
Wherein the circuit has an L / S of 40/40 to 15/15 (mu m / mu m).
제 7 항에 기재된 플렉시블 프린트 기판을 사용한 전자 기기.An electronic device using the flexible printed circuit board according to claim 7.
KR1020170010940A 2016-02-05 2017-01-24 Copper foil for flexible printed wiring board, and copper-clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same KR101935129B1 (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2016-020758 2016-02-05
JP2016020758 2016-02-05
JPJP-P-2016-063232 2016-03-28
JP2016063232A JP6294376B2 (en) 2016-02-05 2016-03-28 Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170093708A KR20170093708A (en) 2017-08-16
KR101935129B1 true KR101935129B1 (en) 2019-01-03

Family

ID=59628333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170010940A KR101935129B1 (en) 2016-02-05 2017-01-24 Copper foil for flexible printed wiring board, and copper-clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6294376B2 (en)
KR (1) KR101935129B1 (en)
TW (1) TWI633195B (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6328679B2 (en) * 2016-03-28 2018-05-23 Jx金属株式会社 Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic device
JP6793138B2 (en) 2018-01-22 2020-12-02 Jx金属株式会社 Copper foil for flexible printed circuit boards, copper-clad laminates using it, flexible printed circuit boards, and electronic devices
JP6827022B2 (en) * 2018-10-03 2021-02-10 Jx金属株式会社 Copper foil for flexible printed circuit boards, copper-clad laminates using it, flexible printed circuit boards, and electronic devices
JP7394017B2 (en) 2020-05-14 2023-12-07 Jx金属株式会社 Metal alloy manufacturing method
JP7158434B2 (en) 2020-05-14 2022-10-21 Jx金属株式会社 Copper alloy ingot, copper alloy foil, and method for producing copper alloy ingot
JP7027602B1 (en) * 2020-12-23 2022-03-01 Jx金属株式会社 Surface-treated copper foil, copper-clad laminate and printed wiring board
JP7014884B1 (en) 2020-12-23 2022-02-01 Jx金属株式会社 Surface-treated copper foil, copper-clad laminate and printed wiring board

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015061950A (en) * 2012-04-10 2015-04-02 Jx日鉱日石金属株式会社 Rolled copper foil, copper clad laminate, flexible printed wiring board, and method of producing the same

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4162087B2 (en) * 2003-08-22 2008-10-08 日鉱金属株式会社 Highly flexible rolled copper foil and method for producing the same
JP5235080B2 (en) * 2007-09-28 2013-07-10 Jx日鉱日石金属株式会社 Copper alloy foil and flexible printed circuit board using the same
JP5588607B2 (en) * 2007-10-31 2014-09-10 三井金属鉱業株式会社 Electrolytic copper foil and method for producing the electrolytic copper foil
JP5752536B2 (en) * 2011-08-23 2015-07-22 Jx日鉱日石金属株式会社 Rolled copper foil
JP2014152352A (en) * 2013-02-06 2014-08-25 Sh Copper Products Corp Composite copper foil and production method thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015061950A (en) * 2012-04-10 2015-04-02 Jx日鉱日石金属株式会社 Rolled copper foil, copper clad laminate, flexible printed wiring board, and method of producing the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170093708A (en) 2017-08-16
TW201734220A (en) 2017-10-01
TWI633195B (en) 2018-08-21
JP6294376B2 (en) 2018-03-14
JP2017141501A (en) 2017-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101935129B1 (en) Copper foil for flexible printed wiring board, and copper-clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same
KR101935128B1 (en) Copper foil for flexible printed wiring board, copper-clad laminate using the same, flexible printed wiring board and electronic device
TWI588273B (en) Copper alloy foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board and electronic equipment
JP6781562B2 (en) Copper foil for flexible printed circuit boards, copper-clad laminates using it, flexible printed circuit boards, and electronic devices
KR102470725B1 (en) Copper foil for flexible printed circuit, and copper clad laminate, flexible printed circuit and electronic device using copper foil
TWI687526B (en) Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board and electronic equipment
KR102049636B1 (en) Copper foil for flexible printed wiring board, copper-clad laminate using the same, flexible printed wiring board and electronic device
CN107046763B (en) Copper foil for flexible printed board and copper-clad laminate using same
TWI663270B (en) Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic device
JP6348621B1 (en) Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic device
CN107046768B (en) Copper foil for flexible printed board, copper-clad laminate using same, flexible printed board, and electronic device
KR102285062B1 (en) Copper foil for flexible printed circuit board, copper-clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic equipment
KR102115086B1 (en) Copper foil for flexible printed circuit, copper clad laminate using the same, flexible printed circuit and electronic device
JP2019194360A (en) Copper foil for flexible printed wiring board, and copper clad laminate, flexible printed wiring board and electronic device using the same
JP6712561B2 (en) Rolled copper foil for flexible printed circuit board, copper clad laminate using the same, flexible printed circuit board, and electronic device
WO2022138513A1 (en) Surface-treated copper foil, copper-cladded laminate plate, and printed wiring board
JP2022100207A (en) Surface-treated copper foil, copper-clad laminate, and printed wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant