KR101872007B1 - 테스트 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템 - Google Patents

Abstract

테스트 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템이다. 본 발명의 테스트 보드 시스템은 인쇄회로기판(PCB); 상기 인쇄회로기판 상에 형성되며, 디바이스 가이드홈, 신호 수신 수단, 신호 송신 수단을 포함하는 피검 소켓으로서, 상기 디바이스 가이드홈는 피검사 디바이스(DUT)를 장착할 수 있으며, 상기 신호 수신 수단은 상기 디바이스 가이드홈에 장착되는 상기 피검사 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 신호를 수신하며, 상기 신호 송신 수단은 상기 피검사 디바이스에 대한 테스트 결과를 나타내는 측정 신호를 송신하며, 결과 전송 케이블의 일단이 부착될 수 있는 상기 피검 소켓; 및 서로 전기적으로 연결되는 제1 착탈홈와 제2 착탈홈을 구비하는 신호 출력 유닛으로서, 상기 제1 착탈홈은 상기 결과 전송 케이블의 다른 일단이 부착될 수 있으며, 상기 제2 착탈홈은 상기 피검 소켓의 상기 신호 송신 유닛으로부터 제공되는 상기 측정 신호를 외부의 신호 분석 수단으로 전송하기 위한 출력 케이블이 부착될 수 있는 상기 신호 출력 유닛을 구비한다. 이때, 상기 결과 전송 케이블은 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 타입이다. 본 발명의 테스트 보드 시스템에 의하면, 전체적으로 피검사 디바이스(DUT)에 대한 테스트의 정확도가 크게 향상된다.

Description

테스트 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템{TEST BOARD SYSTEM FOR IMPROVING TEST ACCURACY}

본 발명은 피검사 디바이스(DUT; Device Under Test)가 장착되어 테스트될 수 있는 테스트 보드 시스템에 관한 것으로서, 특히, 피검사 디바이스에 대한 테스트의 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템에 관한 것이다.

일반적으로, 반도체 제조업체는 패키지 레벨로 생산된 반도체 장치에 대하여 테스트를 진행하여 양호 또는 불량의 판정을 행한다. 여기서, 테스트 대상이 되는 패키지 레벨의 반도체 장치는 '피검사 디바이스(DUT: Device Under Test)'라고 하며, 이러한 DUT는 테스트 보드 시스템을 구성하는 인쇄회로기판(PCB: Printed Citcuit Board)에 설치되는 피검 소켓에 장착된다.

그리고 외부 테스트 장치의 신호 제공 수단으로부터 제공되는 테스트 신호가 DUT에 제공되며, 이러한 테스트 신호에 대하여 결과 정보를 포함하는 측정 신호가 생성되어, 테스트 장치의 신호 분석 수단에 제공된다. 그리고 신호 분석 수단에 제공되는 측정 신호를 통하여, DUT에 대한 양호 또는 불량이 판정된다.

이때, DUT에 대한 테스트 결과로서 발생되는 측정 신호는 피검 소켓의 신호 송신 수단, 상기 피검 소켓의 신호 송신 수단과 전기적으로 연결되는 인쇄회로기판의 신호 출력 유닛을 거쳐, 상기 테스트 장치에 제공된다.

한편, 최근의 반도체 장치의 동작 속도는 점점 빨라지고 있다. 특히, SoC 형태의 반도체 장치는 수 Gbps 이상의 속도로 동작하며, 이에 따라, DUT에 대한 테스트 역시 초고속으로 진행된다.

그런데, 기존의 테스트 보드 시스템에서는, 피검 소켓의 신호 송신 수단과 인쇄회로기판의 신호 출력 유닛 사이의 전기적 연결은 인쇄회로기판의 표면 또는 내부에 형성되는 내부 회로 배선을 통하여 이루어지는데, 이러한 내부 회로 배선에는 매우 큰 값의 기생 캐패시턴스가 발생될 수 있다.

그러므로, 기존의 테스트 보드 시스템에서는, 테스트 장치의 신호 분석 수단에 제공되는 측정 신호가 인쇄회로기판의 기생 캐패시턴스 등으로 인하여 왜곡될 수 있으므로, DUT의 양호 또는 불량을 정확히 판정할 수 없는 문제점이 발생한다.

그러므로, 측정 신호의 왜곡을 저감시켜, DUT에 대한 테스트 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템이 요구된다.

본 발명의 목적은 상기 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 측정 신호의 왜곡을 저감시켜, 피검사 디바이스에 대한 테스트의 정확도를 향상시키는 테스트 보드 시스템을 제공하는 데 있다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일면은 테스트 보드 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 테스트 보드 시스템은 인쇄회로기판(PCB); 상기 인쇄회로기판 상에 형성되며, 디바이스 가이드홈, 신호 수신 수단, 신호 송신 수단을 포함하는 피검 소켓으로서, 상기 디바이스 가이드홈는 피검사 디바이스(DUT)를 장착할 수 있으며, 상기 신호 수신 수단은 상기 디바이스 가이드홈에 장착되는 상기 피검사 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 신호를 수신하며, 상기 신호 송신 수단은 상기 피검사 디바이스에 대한 테스트 결과를 나타내는 측정 신호를 송신하며, 결과 전송 케이블의 일단이 부착될 수 있는 상기 피검 소켓; 및 서로 전기적으로 연결되는 제1 착탈홈와 제2 착탈홈을 구비하는 신호 출력 유닛으로서, 상기 제1 착탈홈은 상기 결과 전송 케이블의 다른 일단이 부착될 수 있으며, 상기 제2 착탈홈은 상기 피검 소켓의 상기 신호 송신 유닛으로부터 제공되는 상기 측정 신호를 외부의 신호 분석 수단으로 전송하기 위한 출력 케이블이 부착될 수 있는 상기 신호 출력 유닛을 구비한다. 이때, 상기 결과 전송 케이블은 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 타입이다.

상기와 같은 구성의 본 발명의 테스트 보드 시스템에서는, 측정 신호가 기생 캐패시턴스가 작은 플렉시블 플랫 케이블에 의하여 전송된다. 이에 따라, 본 발명의 테스트 보드 시스템에 의하면, 테스트 결과를 포함하는 측정 신호(XMES)의 왜곡이 저감되어, 전체적으로 피검사 디바이스(DUT)에 대한 테스트의 정확도가 크게 향상된다.

본 발명에서 사용되는 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 보드 시스템을 나타내는 도면이며, 도 2는 도 1의 테스트 보드 시스템에서 신호를 전송하는 배선의 형태를 강조한 모식도이다.
도 3은 도 1의 테스트 보드 시스템에서, 내부 회로 배선에 기생 캐패시턴스가 발생할 수 있음을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 1의 테스트 보드 시스템의 효과를 설명하기 위한 도면이다.

본 발명과 본 발명의 동작상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 보드 시스템을 나타내는 도면이며, 도 2는 도 1의 테스트 보드 시스템에서 신호를 전송하는 배선의 형태를 강조한 모식도이다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 인쇄회로기판(PCB:Printed Circuit Board)(100), 피검 소켓(200) 및 신호 출력 유닛(300)을 구비한다.

상기 인쇄회로기판(100)은 다양한 회로들(미도시), 예를 들면, 집적 회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 납땜되는 얇은 판으로서, 절연체(예, 에폭시 또는 베이클라이트 수지)로 생성된 얇은 기판에 도전체(예, 메탈)로 구성되는 회로 배선들이 형성된다. 이때, 상기 인쇄회로기판(100)은 다양한 신호의 전송을 위하여, 도 3에 도시되는 바와 같이, 복수개의 절연층들(DIL1 내지 DIL4)과 복수개의 도전층들(MET1 내지 MET3)로 형성된다.

이때, 상기 도전층들(MET1 내지 MET3)은 신호 전송을 위한 내부 회로 배선으로 작용하며, 복수개의 절연층들(DIL1 내지 DIL4)은 유전체로 작용할 수도 있다.

이 경우, 설계자가 의도하지 않은 기생 캐패시턴스들(CA_P<1>, CA_P<2>)이 발생할 수 있으며, 이러한 기생 캐패시턴스들(CA_P<1>, CA_P<2>)은 상기 도전층들(MET1 내지 MET3)로 구성되는 내부 회로 배선을 통하여 전송되는 신호에 파형 왜곡이 발생하는 요인으로 작용할 수 있다.

본 발명은 내부 회로 배선을 통하여 발생될 수 있는 신호의 파형 왜곡을 완화하기 위한 것임에 유의한다.

상기 피검 소켓(200)은 상기 인쇄회로기판(100) 상에 형성되고 디바이스 가이드홈(210), 신호 수신 수단(220) 및 신호 송신 수단(230)을 포함한다.

이때, 상기 디바이스 가이드홈(210)은 피검사 디바이스(DUT)를 안내하여 장착할 수 있다. 상기 신호 수신 수단(220)은 상기 디바이스 가이드홈(210)에 장착되는 상기 피검사 디바이스(DUT)를 테스트하기 위한 테스트 신호(XTEST)를 수신한다. 그리고 상기 신호 송신 수단(230)은 상기 피검사 디바이스(DUT)에 대한 테스트 결과를 나타내는 측정 신호(XMES)를 송신하며, 또한, 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 일단이 부착될 수 있다.

상기 신호 출력 유닛(300)은 서로 전기적으로 연결되는 제1 착탈홈(310)과 제2 착탈홈(330)을 구비한다. 이때, 상기 제1 착탈홈(310)은 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 다른 일단이 부착될 수 있다. 그리고 상기 제2 착탈홈(330)은 상기 피검 소켓(200)의 상기 신호 송신 수단(230)으로부터 제공되는 상기 측정 신호(XMES)를 외부의 신호 분석 수단(MS_MOR)으로 전송하기 위한 출력 케이블(CAB_UT)이 부착될 수 있다.

한편, 본 발명의 테스트 보드 시스템에서, 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)은 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 타입이다. 즉, 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable)은 평형의 다심(多心) 케이블로서, 상당한 간격을 가지는 수 내지 수십 가닥의 가는 도선의 옆으로 접착되어 납작한 띠모양을 형성한다.

이러한 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable)로 구현되는 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)은, 상기 인쇄회로기판(100)의 내부 회로 배선에 비하여, 발생되는 기생 캐패시턴스는 현저히 작은 값이다.

이에 따라, 플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable)로 구현되는 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)에 의하여 상기 측정 신호(XMES)를 전송하는 본 발명의 테스트 보드 시스템은, 상기 인쇄회로기판(100)의 내부 회로 배선에 의하여 신호를 전송하는 테스트 보드 시스템에 비하여, 전송되는 신호 즉, 측정 신호(XMES)의 왜곡 현상이 현저히 감소된다.

즉, 도 4에 도시되는 바와 같이, 본 발명의 테스트 보드 시스템에서의 상기 신호 분석 수단(MS_MOR)에서 분석되는 상기 측정 신호(XMES)의 파형은, 기존 기술에 비하여, 피검 소켓(200)의 신호 송신 수단(230)에서의 측정 신호(XMES)의 파형에 근접하게 된다.

다시 기술하자면, 본 발명의 테스트 보드 시스템에서의 논리 확인 가능 구간폭(t11, t21)은, 기존 기술에서의 논리 확인 가능 구간(t12, t22)에 비하여, 현저히 증가한다.

그 결과, 본 발명의 테스트 보드 시스템에 의하면, 측정 신호(XMES)의 왜곡을 저감시켜, 피검사 디바이스(DUT)에 대한 테스트의 정확도가 크게 향상된다.

바람직하기로는, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 상기 피검 소켓(200)의 상기 신호 송신 수단(230)으로 상기 신호 출력 유닛(300)의 상기 제1 착탈홈(310)에 상기 측정 신호(XMES)를 전송하기 위한 결과 내부 회로 배선(LINRS)을 더 구비한다.

이때, 상기 결과 내부 회로 배선(LINRS)은 상기 인쇄회로기판(100)의 표면 및/또는 내부에 미리 배선되어 형성된다.
이와 같이, 본 발명의 테스트 보드 시스템이 상기 결과 내부 회로 배선(LINRS)을 더 구비함으로써, 저속으로 동작하는 피검사 디바이스(DUT)를 테스트하는 경우에는, FFC 타입의 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)을 부착하는 번거로움없이 테스트를 진행할 수 있다.

더욱 바람직하기로는, 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 일단이 상기 피검 소켓(200)의 상기 신호 송신 수단(230)에 부착되거나, 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 다른 일단이 상기 신호 출력 유닛(300)의 상기 제1 착탈홈(310)에 부착되는 경우, 상기 결과 내부 회로 배선(LINRS)에 의한 상기 측정 신호(XMES)의 전송은 디스에이블된다. 이러한 작용을 수행하는 구성은 당업자라면 용이하게 구현할 수 있으므로, 본 명세서에서는, 설명의 간략화를 위하여 이에 대한 구체적인 기술은 생략된다.
이와 같이, 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)에 따라, 상기 결과 내부 회로 배선(LINRS)에 의한 상기 측정 신호(XMES)의 전송은 디스에이블됨으로써, 본 발명의 테스트 보드 시스템의 사용상의 편의는 크게 향상된다. 즉, 저속으로 동작하는 피검사 디바이스(DUT)를 테스트하는 경우에는, FFC 타입의 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 부착없이, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 바로 사용가능하다. 그리고, 고속으로 동작하는 피검사 디바이스(DUT)를 테스트하는 경우에는, FFC 타입의 상기 결과 전송 케이블(CAB_RES)의 부착함으써, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 바로 사용가능하다.

삭제

또한, 바람직하기로는, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 입력 케이블(CAB_IN)이 부착될 수 있는 신호 입력 유닛(400)을 더 구비한다.

이와 같은 신호 입력 유닛(400)에 의하여, 본 발명의 테스트 보드 시스템은 상기 피검 소켓(200)의 상기 신호 수신 수단(210)으로 제공되는 상기 테스트 신호(XTEST)를 외부의 신호 제공 수단(MS_SUP)으로부터 효율적으로 수신할 수 있다.

참고로, 외부의 상기 신호 분석 수단(MS_MOR)과 상기 신호 제공 수단(MS_SUP)은 별개로 구성될 수도 있으며, 또한, 하나의 테스트 장치로 구현될 수도 있다.

정리하면, 본 발명의 테스트 보드 시스템에서는, 측정 신호가 기생 캐패시턴스가 작은 플렉시블 플랫 케이블에 의하여 전송된다. 이에 따라, 본 발명의 테스트 보드 시스템에 의하면, 테스트 결과를 포함하는 측정 신호(XMES)의 왜곡이 저감되어, 전체적으로 피검사 디바이스(DUT)에 대한 테스트의 정확도가 크게 향상된다.

본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (4)

1. 테스트 보드 시스템에 있어서,
   인쇄회로기판(PCB);
   상기 인쇄회로기판 상에 형성되며, 디바이스 가이드홈, 신호 수신 수단, 신호 송신 수단을 포함하는 피검 소켓으로서, 상기 디바이스 가이드홈는 피검사 디바이스(DUT)를 장착할 수 있으며, 상기 신호 수신 수단은 상기 디바이스 가이드홈에 장착되는 상기 피검사 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 신호를 수신하며, 상기 신호 송신 수단은 상기 피검사 디바이스에 대한 테스트 결과를 나타내는 측정 신호를 송신하며, 결과 전송 케이블의 일단이 부착될 수 있는 상기 피검 소켓; 및
   서로 전기적으로 연결되는 제1 착탈홈와 제2 착탈홈을 구비하는 신호 출력 유닛으로서, 상기 제1 착탈홈은 상기 결과 전송 케이블의 다른 일단이 부착될 수 있으며, 상기 제2 착탈홈은 상기 피검 소켓의 상기 신호 송신 유닛으로부터 제공되는 상기 측정 신호를 외부의 신호 분석 수단으로 전송하기 위한 출력 케이블이 부착될 수 있는 상기 신호 출력 유닛을 구비하며,
   상기 결과 전송 케이블은
   플렉시블 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 타입이며,
   상기 테스트 보드 시스템은
   상기 PCB 기판의 표면 및 내부 중의 적어도 어느 하나에 배선되어 형성되는 결과 내부 회로 배선으로서, 상기 피검 소켓의 상기 신호 송신 수단에서 상기 신호 출력 유닛의 상기 제1 착탈홈에 상기 측정 신호를 전송하기 위한 상기 결과 내부 회로 배선을 더 구비하며,
   상기 결과 내부 회로 배선에 의한 상기 측정 신호의 전송은
   상기 피검 소켓의 상기 신호 송신 수단에 대한 상기 결과 전송 케이블의 일단의 부착 및 상기 신호 출력 유닛의 상기 제1 착탈홈에 대한 상기 결과 전송 케이블의 다른 일단의 부착 중의 적어도 어느 하나에 의하여, 디스에이블되는 것을 특징으로 하는 테스트 보드 시스템.
   
2. 삭제
3. 삭제
4. 제1 항에 있어서, 상기 테스트 보드 시스템은
   상기 피검 소켓의 상기 신호 수신 수단으로 제공되는 상기 테스트 신호를 외부의 신호 제공 수단으로부터 수신하기 위한 입력 케이블이 부착될 수 있는 신호 입력 유닛을 더 구비하며,
   상기 신호 입력 유닛은
   상기 피검 소켓의 상기 신호 수신 수단과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 보드 시스템.
   

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