KR101685708B1 - 석영유리부재의 재생방법 - Google Patents

석영유리부재의 재생방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101685708B1
KR101685708B1 KR1020100070312A KR20100070312A KR101685708B1 KR 101685708 B1 KR101685708 B1 KR 101685708B1 KR 1020100070312 A KR1020100070312 A KR 1020100070312A KR 20100070312 A KR20100070312 A KR 20100070312A KR 101685708 B1 KR101685708 B1 KR 101685708B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
quartz glass
glass member
cleaning
deteriorated portion
deteriorated
Prior art date
Application number
KR1020100070312A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20110013242A (ko
Inventor
가츠토시 호시노
마사히데 가토
야스히로 우메츠
고스케 이마후쿠
Original Assignee
테크노 쿼츠 가부시키가이샤
도쿄엘렉트론가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 테크노 쿼츠 가부시키가이샤, 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 filed Critical 테크노 쿼츠 가부시키가이샤
Publication of KR20110013242A publication Critical patent/KR20110013242A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101685708B1 publication Critical patent/KR101685708B1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B23/00Re-forming shaped glass
    • C03B23/0086Heating devices specially adapted for re-forming shaped glass articles in general, e.g. burners
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B23/00Re-forming shaped glass
    • C03B23/20Uniting glass pieces by fusing without substantial reshaping
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/14Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
    • C03B19/1453Thermal after-treatment of the shaped article, e.g. dehydrating, consolidating, sintering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B29/00Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins
    • C03B29/02Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins in a discontinuous way
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B29/00Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins
    • C03B29/02Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins in a discontinuous way
    • C03B29/025Glass sheets
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P40/00Technologies relating to the processing of minerals
    • Y02P40/50Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
    • Y02P40/57Improving the yield, e-g- reduction of reject rates

Abstract

[과제] 본 발명은, 예를 들면 반도체 제조공정에 사용되어 소모 열화된 석영유리부재에 대해, 세정 전에 디포지트나, 소모·열화상태를 정밀하게 체크하여 오염상태에 따른 세정방법을 결정하고, 모재로의 손상을 최대한 억제하여 세정한 후, 디포지트의 잔류를 정밀하게 체크하여 재생가공 전의 석영유리부재를 엄선하고, 합리적인 재생을 행하는 동시에, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도를 강화하여, 재생가공에 있어서의 화염처리의 열응력과 변형에 의한 파손을 방지하는 동시에, 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여 생산성을 향상시켜, 품질의 안정화와 재생의 합리화를 도모할 수 있는 석영유리부재의 재생방법을 제공하는 것을 과제로 한다.
[해결수단] 상기 과제를 해결하기 위해 본 발명의 석영유리부재의 재생방법은, 소모 또는 오염 열화된 석영유리부재(1)의 인수검사 후, 상기 석영유리부재(1)를 세정하여 디포지트(5)를 제거하고, 오염 열화부를 수복하여 재생하거나, 또는 소모 또는 오염 열화상황에 따라 상기 세정 후의 석영유리부재(1)를 화염처리가공하고, 소모 또는 오염 열화부를 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재생방법에 있어서, 상기 인수검사 후의 석영유리부재(1)에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 상기 석영유리부재(1)와 디포지트(5)의 형광색의 차에 의해 오염 열화상황을 검사하여, 상기 석영유리부재(1)의 세정방법을 결정하는 것을 특징으로 한다.

Description

석영유리부재의 재생방법{Method of refurbishing a quartz glass component}
본 발명은 예를 들면 반도체 제조공정에 사용되어 소모 열화된 석영유리부재에 대해, 세정 전에 부착물이나 부생성막(이하, 이들을 디포지트(deposit)라 부른다)이나, 소모·열화상태를 정밀하게 체크하여 오염상태에 따른 세정방법을 결정하고, 모재로의 손상을 최대한 억제하여 세정한 후, 디포지트의 잔류를 정밀하게 체크하여 재생가공 전의 석영유리부재를 엄선하고, 합리적인 재생을 행하는 동시에, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도를 강화하여, 재생가공에 있어서의 화염처리의 열응력과 변형에 의한 파손을 방지하는 동시에, 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여 생산성을 향상시켜, 품질의 안정화와 재생의 합리화를 도모할 수 있는, 석영유리부재의 재생방법에 관한 것이다.
반도체나 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치의 내부 구성부품 중, 석영유리부재의 표면은 불소나 염소를 포함하는 플라즈마 환경하에서의 연속 사용에 의해 소모·열화되고, 소정량 소모된 시점에서 폐기처분되고 있었으나, 석영유리부재는 매우 고가이기 때문에, 그 개선이 요망되고 있었다.
이와 같은 요청에 응하는 것으로서, 소모·열화된 부위를 제거하고 재생하는 석영유리부재의 재생방법이 각종 제안되어 있다.
예를 들면 재생하는 석영유리부재 표면의 불소를 포함하는 유기물 등으로 되는 디포지트를 희석된 플루오르화수소산 등의 약액을 사용하거나, 또는 연삭하여 제거하고, 플라즈마 환경에 노출되어 소모·열화된 반응면과 반대면을, 산수소 버너를 사용해서 석영봉을 용융하여 육성(肉盛)하고, 이 육성측과 반대측의 반대면을 연삭하여 소정의 두께로 가다듬은 후, 세정하고, 정밀하게 기계가공하는 재생방법이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).
또한, 다른 재생방법으로서, 반응면과 반대측에 오목형상부를 형성한 재생 석영유리부재를 외주부에서 절단하여, 링형상 외주부와 에칭부분을 갖는 판형상부를 분리하고, 그 판형상부를 폐기하는 동시에, 그 판형상부와 동형의 신규 판형상부를 제작하여, 이 신규 판형상부를 링형상 외주부에 용착하여 재생하는 방법이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌 2 참조).
또한, 다른 재생방법으로서, 반응면과 반대측에 오목형상부를 형성한 재생 석영유리부재에 있어서, 판형상부의 에칭부분을 포함하는 오염층을 연삭하여 제거하고, 그 연삭면을 경면 연삭하는 동시에, 그 판형상부와 동형의 신규 판부재를 제작하여, 그 편면을 경면 연삭하고, 이 신규 판부재의 경면을, 틀부재 상에 취부한 석영유리부재의 경면부에 중합하고, 또한 판부재 상에 추를 올려 밀착하여, 이들의 석영유리부재와 판부재 등을 진공로의 가열실에 반입하고, 그 가열실을 가열하여 석영유리부재와 판부재를 용착하여 재생하는 방법이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌 3 참조).
그러나, 상기 종래의 재생방법은, 재생 석영유리부재의 디포지트를 희석된 플루오르화수소산 등의 약액을 사용하거나, 또는 연삭하여 제거하고, 그들의 잔류분을 재차 희석된 플루오르화수소산 등의 약액으로 세정 후에 화염처리 등으로 가공처리하고 있기 때문에, 세정에 의한 모재 표면의 손상이 크고, 특히 본래 재생하지 않아도 되는 부위의 형상 치수와 표면상태가 크게 변화하는 동시에, 모재 표면의 마이크로크랙 중에 잔류하고 있는 미소한 퇴적물이 완전히 제거되어 있는지 여부의 확인이 곤란해져, 가공처리 전의 석영유리부재의 품질에 일양성(一樣性)을 얻을 수 없다는 문제가 있었다.
또한, 전술한 재생방법에 있어서의 가공처리는, 반응면과 반대측의 면 일대를 육성(肉盛)하기 위해, 열응력과 그 변형이 광역에 발생하여 깨지기 쉬운 등의 문제가 있었다.
또한, 오목형상부를 형성한 석영유리부재의 재생에서는, 오염부를 제거한 기존 부재의 접합부 전역에, 일부러 신규 부품을 제작하여 용착하고 있기 때문에, 석영유리부재의 수율과 이용 효율이 낮을 뿐 아니라, 열응력과 그 변형이 광역에 발생하여 깨지기 쉽고, 화염처리가 어려우며, 또한 생산성이 낮은 등의 문제가 있었다.
일본국 특허 제4139184호 공보 일본국 특허공개 제2005-67997호 공보 일본국 특허공개 제2006-232624호 공보
본 발명은 이와 같은 문제를 해결하여, 예를 들면 반도체 제조공정에 사용되어 소모 열화된 석영유리부재에 대해, 세정 전에 디포지트나, 소모·열화상태를 정밀하게 체크하여 오염상태에 따른 세정방법을 결정하고, 모재로의 손상을 최대한 억제하여 세정한 후, 디포지트의 잔류를 정밀하게 체크하여 재생가공 전의 석영유리부재를 엄선하고, 합리적인 재생을 행하는 동시에, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도를 강화하여, 재생가공에 있어서의 화염처리의 열응력과 변형에 의한 파손을 방지하는 동시에, 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여 생산성을 향상시켜, 품질의 안정화와 재생의 합리화를 도모할 수 있는, 석영유리부재의 재생방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
청구항 1의 발명은, 소모 또는 오염 열화된 석영유리부재의 인수검사 후, 상기 석영유리부재를 세정하여 디포지트를 제거하고, 오염 열화부를 수복하여 재생하거나, 또는 소모 또는 오염 열화상황에 따라 상기 세정 후의 석영유리부재를 화염처리가공하여, 소모 또는 오염 열화부를 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재생방법에 있어서, 상기 인수검사 후의 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 오염 열화상황을 검사하여, 상기 석영유리부재의 세정방법을 결정하도록 하여, 세정 전의 석영유리부재의 오염 열화상황을 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하고, 그 오염 열화상황에 따른 세정방법을 선택하여, 합리적인 세정을 실현하도록 하고 있다.
청구항 2의 발명은, 상기 세정 후의 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 디포지트의 잔류 유무를 검사하여, 석영유리부재의 화염처리가공 여부를 결정하도록 하여, 세정 후의 석영유리부재의 디포지트의 잔류 유무를 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하고, 석영유리부재의 화염처리가공 여부를 합리적으로 결정하여, 화염처리가공하는 석영유리부재를 엄선해, 재생 석영유리부재의 품질 유지와 합리화를 도모하도록 하고 있다.
청구항 3의 발명은, 상기 세정 전 또는 세정 후의 석영유리부재에, 파장이 200~400 ㎚인 자외선을 조사하여, 확실하고 또한 실용적인 형광 특성을 나타내는 광선을 사용하도록 하고 있다.
청구항 4의 발명은, 상기 석영유리부재의 세정방법은, 상기 광선 조사에 의한 석영유리부재의 오염 열화상황에 따라, 제1차 및 제2차 세정을 조합한 세정, 또는 제1차 세정 또는 제2차 세정만을 선택하여, 오염 열화상황에 따라 세 형태의 세정을 선택하여 합리적인 세정을 실현하고, 예를 들면 오염 열화상황이 심한 경우는 제1차 세정 및 제2차 세정을 조합한 세정으로 하고, 오염 열화상황이 중간 정도인 경우는 제1차 세정 또는 제2차 세정만을 선택하여, 세정의 합리화를 도모하도록 하고 있다.
청구항 5의 발명은, 상기 제1차 세정은, 드라이아이스 입자를 압축공기 또는 질소와 함께 오염 열화된 석영유리부재에 분사하고, 상기 디포지트를 박리하도록 하여, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제한 세정을 실시하여, 디포지트를 제거하도록 하고 있다.
청구항 6의 발명은, 상기 제2차 세정은, 오염 열화된 석영유리부재를 고온 가열로에 수용하여 가열하고, 상기 디포지트를 승화 또는 회화(灰化)시키도록 하여, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제하여, 디포지트를 정밀하게 제거하도록 하고 있다.
청구항 7의 발명은, 상기 제2차 세정에 있어서, 솔라리제이션에 의한 석영유리부재의 착색을 제거하도록 하여, 석영유리부재의 외관을 회복하여 재생하도록 하고 있다.
청구항 8의 발명은, 상기 고온 가열로를 냉각하고, 상기 디포지트를 수축시켜서 박리시키도록 하여, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제하고, 디포지트를 합리적으로 제거하도록 하고 있다.
청구항 9의 발명은, 소모 또는 오염 열화된 석영유리부재의 인수검사 후, 상기 석영유리부재를 세정하여 디포지트를 제거하고, 오염 열화부를 수복하여 재생하거나, 또는 소모 또는 오염 열화상황에 따라 상기 세정 후의 석영유리부재를 화염처리가공하여, 소모 또는 오염 열화부를 수복해서 재생하는 석영유리부재의 재생방법에 있어서, 상기 석영유리부재의 인수검사 후 및 세정 후에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 소정 세정방법으로 세정하며, 또한 디포지트의 잔류를 검사하여 화염처리가공 가능해진 석영유리부재에 대해, 그 석영유리부재의 소모 열화부의 소모 열화상황에 따라, 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하여, 비소모 열화부에 소모 열화부를 대신하는 신규 재료를 용착하여 일체화해서 재생하거나, 또는 분리하지 않고 소모 열화부를 수복하여 재생하도록 하여, 석영유리부재를 합리적으로 세정하고, 또한 석영유리부재의 디포지트의 잔류를 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하여, 엄선된 화염처리가공 가능한 석영유리부재에 대해, 소모 열화부의 소모 열화상황에 따라, 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하거나, 또는 분리하지 않는 화염처리가공을 선택할 수 있도록 하고 있다.
청구항 10의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하고, 비소모 열화부에 소모 열화부를 대신하는 신규한 단재(端材)를 용착하여 일체화해서 재생하도록 하고, 폐기하는 소모 열화부를 대신하는 신규 재료로서 단재의 이용을 도모하여, 고가의 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여, 재생가공의 합리화와 재생비용의 저감을 도모하도록 하고 있다.
청구항 11의 발명은, 상기 비소모 열화부와, 신규 재료 또는 신규한 단재를 분할하고, 그들을 용착하여 일체화해서 재생하도록 하여, 합리적인 재생과 열응력 내지 변형에 대한 기계적 강도를 강화하여, 생산성의 향상과 수명의 향상을 도모하도록 하고 있다.
청구항 12의 발명은, 상기 분할한 비소모 열화부와, 신규 재료 또는 그 단재를 가열하여 표면을 평활하게 한 후, 그들을 용착하여 일체화해서 재생하도록 하여, 화염처리 전의 구성부품의 기계적 강도를 강화하고, 화염처리에 의한 열응력과 변형에 견딜 수 있도록 하여, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도의 향상을 도모하도록 하고 있다.
청구항 13의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하지 않고, 비소모 열화부와 소모 열화부를 병존시켜서 분할하여, 각 분할편의 소모 열화부를 직접 화염처리해서 석영유리를 육성하고, 그 육성한 상기 분할편을 용착해서 일체화하도록 하여, 종래와 같은 소모 열화부를 연삭하고, 그 반대측을 육성하는 번잡한 재생가공에 비해, 용이하고 또한 신속하게 가공할 수 있는 동시에, 열응력과 변형에 대한 기계적 강도의 향상을 도모하도록 하고 있다.
청구항 14의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하지 않고, 소모 열화부를 직접 화염처리하여 석영유리를 육성해서 재생하도록 하여, 종래와 같은 소모 열화부를 연삭하고, 그 반대측을 육성하는 번잡한 재생가공에 비해, 용이하고 또한 신속하게 가공할 수 있도록 하고 있다.
청구항 15의 발명은, 상기 신규 재료는, 석영유리의 링형상의 단재 또는 원판형상의 단재, 또는 그들의 분할편으로, 단재의 유효 이용을 도모할 수 있어, 재생의 합리화와 재생비용의 저감을 도모하도록 하고 있다.
청구항 16의 발명은, 상기 석영유리부재는, 반도체 또는 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치 내부의 구성부품으로, 고가이며 또한 취성재료인 석영유리부재의 세정처리 및 재생가공에 적합하다.
청구항 1의 발명은, 인수검사 후의 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 오염 열화상황을 검사하여, 상기 석영유리부재의 세정방법을 결정하기 때문에, 세정 전의 석영유리부재의 오염 열화상황을 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하여, 그 오염 열화상황에 따른 세정방법을 선택하여, 합리적인 세정을 실현할 수 있다.
청구항 2의 발명은, 상기 세정 후의 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 디포지트의 잔류 유무를 검사하여, 석영유리부재의 화염처리가공 여부를 결정하기 때문에, 세정 후의 석영유리부재의 디포지트의 잔류 유무를 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하고, 석영유리부재의 화염처리가공 여부를 합리적으로 결정하여, 화염처리가공하는 석영유리부재를 엄선하여, 재생 석영유리부재의 품질 유지와 합리화를 도모할 수 있다.
청구항 3의 발명은, 상기 세정 전 또는 세정 후의 석영유리부재에, 파장이 200~400 ㎚인 자외선을 조사하기 때문에, 확실하고 또한 실용적인 형광 특성이 얻어져, 안정한 세정방법의 선택과 디포지트의 잔류 결과를 얻을 수 있는 효과가 있다.
청구항 4의 발명은, 상기 석영유리부재의 세정방법은, 상기 광선 조사에 의한 석영유리부재의 오염 열화상황에 따라, 제1차 및 제2차 세정을 조합한 세정, 또는 제1차 세정 또는 제2차 세정만을 선택하기 때문에, 오염 열화상황에 따라 세 형태의 세정을 선택하여 합리적인 세정을 실현하고, 예를 들면 오염 열화상황이 심한 경우는 제1차 세정 및 제2차 세정을 조합한 세정으로 하고, 오염 열화상황이 중간 정도인 경우는 제1차 세정 또는 제2차 세정만을 선택하여, 세정의 합리화를 도모할 수 있다.
청구항 5의 발명은, 상기 제1차 세정은, 드라이아이스 입자를 압축공기 또는 질소와 함께 오염 열화된 석영유리부재에 분사하고, 상기 디포지트를 박리하기 때문에, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제한 세정을 실시하여, 디포지트를 제거할 수 있다.
청구항 6의 발명은, 상기 제2차 세정은, 오염 열화된 석영유리부재를 고온 가열로에 수용하여 가열하고, 상기 디포지트를 승화 또는 회화시키기 때문에, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제하여, 디포지트를 정밀하게 제거할 수 있다.
청구항 7의 발명은, 상기 제2차 세정에 있어서, 솔라리제이션에 의한 석영유리부재의 착색을 제거하기 때문에, 석영유리부재의 외관을 회복하여 재생할 수 있다.
청구항 8의 발명은, 상기 고온 가열로를 냉각하고, 상기 디포지트를 수축시켜서 박리시키기 때문에, 석영유리부재의 모재에 대한 손상을 최대한 억제하고, 디포지트를 합리적으로 제거할 수 있다.
청구항 9의 발명은, 석영유리부재의 인수검사 후 및 세정 후에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 광선을 조사하고, 소정 세정방법으로 세정하며, 또한 디포지트의 잔류를 검사하여 화염처리가공 가능해진 석영유리부재에 대해, 그 석영유리부재의 소모 열화부의 소모 열화상황에 따라, 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하여, 비소모 열화부에 소모 열화부를 대신하는 신규 재료를 용착하여 일체화해서 재생하거나, 또는 분리하지 않고 소모 열화부를 수복하여 재생하기 때문에, 석영유리부재를 합리적으로 세정하고, 또한 석영유리부재의 디포지트의 잔류를 정밀하게 또한 합리적으으로 체크하여, 엄선된 화염처리가공 가능한 석영유리부재에 대해, 소모 열화부의 소모 열화상황에 따라, 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하거나, 또는 분리하지 않는 화염처리가공을 선택할 수 있다.
청구항 10의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하고, 비소모 열화부에 소모 열화부를 대신하는 신규한 단재를 용착하여 일체화해서 재생하기 때문에, 폐기하는 소모 열화부를 대신하는 신규 재료로서 단재의 이용을 도모하고, 고가의 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여, 재생가공의 합리화와 재생비용의 저감을 도모할 수 있다.
청구항 11의 발명은, 상기 비소모 열화부와, 신규 재료 또는 신규한 단재를 분할하고, 그들을 용착하여 일체화해서 재생하기 때문에, 합리적인 재생과 열응력 내지 변형에 대한 기계적 강도를 강화하여, 생산성의 향상과 수명의 향상을 도모할 수 있다.
청구항 12의 발명은, 상기 분할한 비소모 열화부와, 신규 재료 또는 그 단재를 가열하여 표면을 평활하게 한 후, 그들을 용착하여 일체화해서 재생하기 때문에, 화염처리 전의 구성부품의 기계적 강도를 강화하여, 화염처리에 의한 열응력과 변형에 견딜 수 있어, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도의 향상을 도모할 수 있다.
청구항 13의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하지 않고, 비소모 열화부와 소모 열화부를 병존시켜서 분할하여, 각 분할편의 소모 열화부를 직접 화염처리해서 석영유리를 육성하고, 그 육성한 상기 분할편을 용착해서 일체화하기 때문에, 종래와 같은 소모 열화부를 연삭하고, 그 반대측을 육성하는 번잡한 재생가공에 비해, 용이하고 또한 신속하게 가공할 수 있는 동시에, 열응력과 변형에 대한 기계적 강도의 향상을 도모할 수 있다.
청구항 14의 발명은, 상기 석영유리부재의 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하지 않고, 소모 열화부를 직접 화염처리하여 석영유리를 육성해서 재생하기 때문에, 종래와 같은 소모 열화부를 연삭하고, 그 반대측을 육성하는 번잡한 재생가공에 비해, 용이하고 또한 신속하게 가공할 수 있다.
청구항 15의 발명은, 상기 신규 재료는, 석영유리의 링형상의 단재 또는 원판형상의 단재, 또는 그들의 분할편이기 때문에, 단재의 유효 이용을 도모할 수 있어, 재생의 합리화와 재생비용의 저감을 도모할 수 있다.
청구항 16의 발명은, 상기 석영유리부재는, 반도체 또는 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치 내부의 구성부품이기 때문에, 고가이며 또한 취성재료인 석영유리부재의 세정처리 및 재생가공에 적합한 효과가 있다.
도 1(a)는 본 발명의 제1 실시형태를 적용한 소모 열화 후의 석영유리부재의 평면도이고, 도 1(b)는 상기 도 1(a)의 A-A선에 따른 단면도이다.
도 2는 상기 제1 실시형태를 나타내는 재생공정도이다.
도 3은 상기 제1 실시형태의 개요를 나타내는 재생가공 순서도로, 도 3(a)는 재생가공 전의 오염 열화된 석영유리부재를 나타내는 사시도이고, 도 3(b)는 상기 석영유리부재의 소모부 절단 후의 비소모부(바깥 링)를 나타내는 사시도이며, 도 3(c)는 상기 소모부를 대신하는 신규 안쪽 링을 나타내는 사시도이고, 도 3(d)는 상기 바깥 링의 분할 후의 상황을 나타내는 사시도이며, 도 3(e)는 상기 신규 안쪽 링의 분할 후의 상황을 나타내는 사시도이고, 도 3(f)는 상기 내외 링의 분할 피스의 모따기(面取, chamfering) 가공의 상황을 나타내는 사시도이며, 도 3(g)는 상기 내외 링의 1조(組)의 분할 피스를 용착한 상황을 나타내는 사시도이고, 도 3(h)는 상기 내외 링의 4조의 분할 피스를 용착하여 재생 원형(原型) 링을 완성한 상황을 나타내는 사시도이다.
도 4는 도 3(h)의 B-B선에 따른 확대 단면도이다.
도 5는 도 3(h)의 C-C선에 따른 확대 단면도이다.
도 6은 도 3(h)의 D-D선에 따른 확대 단면도이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시형태를 나타내는 재생공정도이다.
도 8은 상기 제2 실시형태의 개요를 나타내는 재생가공 순서도로, 도 8(a)는 재생가공 전의 오염 열화된 석영유리부재를 나타내는 사시도이고, 도 8(b)는 상기 석영유리부재를 소모부와 비소모부를 병존시켜서 절단한 상황을 나타내는 사시도이며, 도 8(c)는 분할편의 모따기 가공의 상황을 나타내는 사시도이고, 도 8(d)는 분할편의 소모부를 육성한 상황을 나타내는 사시도이며, 도 8(e)는 육성한 4조의 분할편을 용착하여 재생 원형 링을 완성한 상황을 나타내는 사시도이다.
도 9는 도 8(e)의 E-E선에 따른 확대 단면도이다.
도 10은 도 8(e)의 F-F선에 따른 확대 단면도이다.
도 11은 도 8(e)의 G-G선에 따른 확대 단면도이다.
도 12는 본 발명의 제3 실시형태를 나타내는 재생공정도이다.
도 13은 상기 제3 실시형태의 개요를 나타내는 재생가공 순서도로, 도 13(a)는 재생가공 전의 오염 열화된 석영유리부재를 나타내는 사시도이고, 도 13(b)는 상기 석영유리부재의 소모 열화부의 일부를 육성한 상황을 나타내는 사시도이며, 도 13(c)는 소모 열화부의 전역을 육성하여 재생 원형 링을 완성한 상황을 나타내는 사시도이다.
도 14는 도 13(c)의 H-H선에 따른 확대 단면도이다.
도 15는 도 13(c)의 I-I선에 따른 확대 단면도이다.
도 16(a)는 본 발명의 제4 실시형태를 나타내는 링형상 단재의 평면도이고, 도 16(b)는 상기 도 16(a)의 J-J선에 따른 단면도이다.
도 17(a)는 본 발명의 제4 실시형태를 나타내는 원판형상 단재의 평면도이고, 도 17(b)는 상기 도 17(a)의 K-K선에 따른 단면도이다.
이하, 본 발명을 반도체나 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치 내부의 구성부품인, 석영유리부재의 재생에 적용한 도시하는 실시형태에 대해 설명하면, 도 1 내지 도 6에 있어서 1은 상기 플라즈마 처리장치 내부에 상당시간 사용되어 소모·열화된 재생 대상인 스폿페이싱(spot facing)형의 석영유리부재로, 플라즈마 환경에 노출되는 반응면(1a)과 반대측에, 직경이 큰 스폿페이싱(2)이 형성되고, 그 중앙에 통공(通孔)(3)이 형성되어 있다.
상기 실시형태의 석영유리부재(1)는, 소모 열화부(4)의 소모상황이 심하여, 사용이 불가능해 당해부를 폐기처분하고, 대신에 신규한 석영재료를 용착해서 일체화하여, 소모 열화부(4)를 수복해서 재생하는 것을 사용하고 있다.
또한, 본 발명은, 상기 스폿페이싱형의 석영유리부재(1) 외에, 후술하는 바와 같이 링형(도 16)이나 원판형(도 17)의 석영유리부재에도 적용 가능하다.
상기 반응면(1a)의 거의 전역은 플라즈마 환경에 노출되어 소모되고 또한 열화되어, 그 소모 열화부(4)와 통공(3)의 내면에 디포지트(5)가 남아 있다.
상기 디포지트(5)는, 예를 들면 산화 실리콘막의 플라즈마 에칭처리장치의 경우, 불소를 포함하는 유기물 등으로 되어 있다.
또한, 석영유리부재(1)가 장시간 플라즈마 환경에 노출되면, 솔라리제이션(So-larization)에 의해, 모재가 옅은 보라색으로 착색되어 버리는 경우가 있어, 이 착색도 후술하는 고온 가열 세정에 의해 동시에 제거한다.
상기 솔라리제이션은, 석영유리 모재에 극미량으로 함유되어 있는 금속 불순물에 기인하는 착색현상으로, 표면 부착물이 아니기에, 통상의 약액 세정으로 소실시키는 것은 불가능하다.
이에, 발명자는 석영유리 모재를 소정 온도 이상으로 가열 유지함으로써, 상기 착색이 소실되는 것을 실험으로 확인하였다.
도면 중, 6은 석영유리부재(1)의 일측 둘레면에 형성한 테이퍼면, L은 소모 열화부(4)의 외측에 마련한 절단선으로, 그 절단선(L)을 따라 석영유리부재(1)를 절단하여, 절단한 소모 열화부(4)를 포함하는 석영유리부재(1)의 내측부분을 폐기하고, 소모 열화부(4)를 포함하지 않는 외측부분을 재이용한다.
상기 석영유리부재(1)의 재생공정은 도 2와 같아, 먼저 재생이 요청된 석영유리부재(1)의 인수시에 인수검사를 행하고, 디포지트(5)나 오손(汚損), 소모 열화, 솔라리제이션에 의한 착색 유무 등을 육안 검사하여, 재생 여부를 판단한다.
상기 인수검사 후, 비파괴검사장치(도시 생략)를 사용하여, 그 장치로부터 형광작용을 나타내는, 예를 들면 파장이 200~400 ㎚인 자외선(UV)을 석영유리부재(1)에 조사하고, 석영유리부재(1)와 디포지트(5)의 형광의 차로부터, 백색광 등의 가시광으로는 확인할 수 없는 오염범위를 검사한다.
즉, 상기 자외선조사에서는, 파장이 254 ㎚인 자외선을 조사하면, 천연 석영은 파랗게 형광하고, 파장이 365 ㎚인 자외선을 조사하면, 디포지트(5)의 주성분인 유기물은 노랑, 빨강, 녹색 등으로 형광하기 때문에, 이들의 발색을 육안으로 검사함으로써, 디포지트(5)의 유무를 정밀하게 또한 합리적으으로 판단할 수 있다.
그리고, 상기 확인 후, 예를 들면 디포지트 내지 오염 열화상황이 심한 경우는, 제1차 세정 및 제2차 세정의 순서로 이송하여 세정하고, 디포지트 내지 오염 열화상황이 가벼운 정도인 경우는, 제1차 세정 또는 제2차 세정으로만 이송하여 세정한다.
실시형태에서는, 상기 제1차 세정으로서 드라이아이스 블라스트 세정을 채용하고, 제2차 세정으로서 고온 가열 세정을 채용하고 있다.
이 중, 드라이아이스 블라스트 세정은, 청정한 세정 챔버(도시 생략)에 석영유리부재(1)를 수용하고, 블라스트장치(도시 생략)를 매개로 하여, -70℃ 이하의 고순도의 드라이아이스를, 압축된 청정 공기 또는 질소와 함께 석영유리부재(1)에 분사한다.
이 실시형태에서는, 상기 드라이아이스의 분사압력을 0.2~0.5 MPa로 설정하고 있다.
그리고, 상기 석영유리부재(1)의 표면을 냉각하고, 열수축에 의한 디포지트(5)의 박리를 촉진해서, 드라이아이스가 기화되었을 때 디포지트(5)를 박리시켜, 석영유리부재(1)에 손상을 주지 않고, 디포지트(5)를 제거한다.
상기 고온 가열 세정은, 제1차 세정 후 또는 제1차 세정을 생략한 석영유리부재(1)를 고온 가열 세정로(도시 생략)에 수용하고, 그 고온 가열 세정로를 대기 또는 진공 또는 불활성가스 분위기하에서 약 700℃~1050℃로 가열하여, 미세한 디포지트(5)나 오염을 승화 또는 회화하는 동시에, 솔라리제이션에 의한 석영유리부재(1)의 옅은 보라색의 착색을 동시에 제거한다.
상기 솔라리제이션은, 석영유리 모재에 극미량으로 함유되어 있는 금속 불순물에 기인하는 착색현상으로, 표면 부착물이 아니기 때문에, 통상의 약액 세정으로 소실시키는 것은 불가능하다.
발명자는 상기 착색의 제거에 관하여, 석영유리 모재를 적어도 600℃ 이상으로 가열 유지함으로써, 소실되는 것을 실험으로 확인하였다.
따라서, 석영유리부재(1)의 표면에 디포지트(5)가 잔류하고, 또한 솔라리제이션에 의해 착색되어 있는 것을 가열 세정하는 경우, 착색이 소실되는 온도, 즉 600℃+α의 700℃ 이상으로 가열하여, 양자를 제거하도록 합리적으로 설정하고 있다.
이 경우, 디포지트(5)를 이루는 유기물은 약 400℃ 이상에서 산화되고, 솔라리제이션은 대략 700℃ 이상에서 제거되기 때문에, 상기 고온 가열 세정로의 가열온도의 하한을 700℃로 하고, 석영의 변형점은 1100℃ 근방이기 때문에, 모재의 열변형을 억제하기 위해, 상기 고온 가열 세정로의 가열온도의 상한을 1050℃로 설정하고 있다.
한편, 상기 고온 가열 세정로는, 냉각 후, 디포지트(5)와 석영유리부재(1)의 열팽창계수의 상위에 의해, 디포지트(5)를 박리한다.
이 경우, 전술한 바와 같은 소위 건식세정 외에, 산, 알칼리, 유기용제 등의 약액에 석영유리부재(1)를 침지하는 습식세정을 채용하고, 더 나아가서는 전술한 건식 및 습식세정을 조합해서 세정하는 것도 가능하다.
이렇게 하여, 디포지트(5)나 솔라리제이션에 의한 착색을 제거한 석영유리부재(1)에 대해 중간검사를 행하여, 치수와 외관을 육안 검사하는 동시에, 전술한 비파괴검사장치(도시 생략)를 사용해서, 파장이 200~400 ㎚인 자외선(UV)을 석영유리부재(1)에 조사하고, 석영유리부재(1)와 디포지트(5)의 형광색의 차로부터, 디포지트(5)의 잔류 유무와 세정이 잘 이루어졌는지 여부를, 가시광으로는 확인할 수 없는 오염범위에 걸쳐서 정밀하게 또한 합리적으으로 육안 검사한다.
그리고, 디포지트(5)의 잔류가 소정량 이하인 경우에 재생가공 가능하다고 판단하여, 재생 가능한 석영유리부재(1)를 엄선함으로써, 품질 유지 향상과 생산성의 향상, 및 재생가공의 합리화를 도모한다.
이 경우, 상기 인수검사 또는 중간검사의 결과, 소모 열화부(4)의 소모상황이 경미하여, 후술하는 재생가공을 특별히 필요로 하지 않는 석영유리부재(1)에 대해서는, 상기 일련의 세정에 의해 디포지트(5) 및/또는 솔라리제이션에 의한 착색의 제거에 의해, 소모 열화부(4)가 수복 재생되고, 그 후 필요에 따라 적절히 기계가공을 실시함으로써, 재생처리를 종료한다.
한편, 상기 인수검사 또는 중간검사의 결과, 상기 석영유리부재(1)의 소모 열화부(4)의 수복·재생을 필요로 하는 것에 대해서는, 후술하는 재생가공을 행한다.
상기 재생가공은, 석영유리부재(1)의 형상 치수, 소모 열화부(4)의 소모상황, 재생가공의 작업조건, 재생가공시간, 재생비용 등을 토대로 하여, 각종 재생가공방법이 채용된다.
이 중, 실시형태의 석영유리부재(1)는, 전술하는 바와 같이 소모 열화부(4)의 소모상황이 심하기 때문에, 소모 열화부(4)의 사용이 불가능하여 당해부를 폐기처분하고, 대신에 신규한 석영재료를 용착하여 일체화해서, 소모 열화부(4)를 수복하여 재생하는 재생가공방법을 채용하고 있다.
상기 재생가공의 개요는, 소모 열화부분과 비소모 열화부분을 분리한 후, 소모 열화부분을 신규 재료로 치환하고, 비소모 열화부분과 신규 재료를 화염처리해서 용착하여 일체화함으로써 행한다. 이 상황은 도 3과 같다.
상기 재생가공은, 먼저 석영유리부재(1)를 적절한 수단으로 절단선(L)을 따라 절단하여, 소모 열화부(4)를 포함하는 절단선(L)보다 내측의 열화부분을 폐기하고, 절단선(L)보다 외측의 비소모 열화부분을 사용한다. 실시형태의 바깥 링(7)은, 외경이 400 ㎜, 내경이 약 350 ㎜로 형성되어 있다.
그 후, 상기 바깥 링(7)을 적절한 수단에 의해 복수로 분할 절단한다.
이 경우의 분할 수는, 그 후의 화염처리나 작업조건 및 바깥 링(7)의 크기에 따라 결정되고, 실시형태와 같은 형상 치수의 것은, 도시한 바와 같이 등분으로 4분할하고, 실시형태보다 소형의 것은 2~3으로 분할하며, 대형의 것은 4분할 이상의 수로 분할한다.
도면 중, 7a는 바깥 링(7)을 분할한 바깥 링 피스이다.
한편, 상기 폐기처분되는 소모 열화부(4) 대신에, 신규한 석영유리제의 안쪽 링(8)을 준비하고, 그 안쪽 링(8)을 바깥 링(7)과 동일한 수의 복수로 분할 절단한다.
상기 안쪽 링(8)은, 절단선(L)의 직경과 대략 동일 직경으로, 가공비용을 고려한 판두께의 판재로 되며, 그 중앙에 통공(3)보다 작은 직경의 구멍을 형성한다.
이 경우, 안쪽 링(8)은 전술한 바와 같이, 신규한 석영유리재를 사용해도 되나, 신규하게 석영유리재를 제조하는 과정에서, 링형상, 원판형상 또는 판형상의 단재, 또는 그들을 분할한 단재가 발생하기 때문에, 그들을 안쪽 링(8) 또는 후술하는 안쪽 링 피스에 사용함으로써, 합리적인 재생과 재생비용의 저감을 도모할 수 있다. 따라서, 상기 단재는 신규 재료와 동일한 순도를 가지면 되고, 그 제작 시기를 불문한다.
상기 안쪽 링(8)의 분할 수는 상기 바깥 링(7)과 동일한 수로, 안쪽 링(8)을 등분으로 4분할하여 안쪽 링 피스(8a)를 형성한다.
그 후, 상기 내외 링 피스(7a, 8a)의 접합 내지 용착부 단면을, 적절한 수단에 의해 테이퍼면형상으로 모따기 가공한다.
도면 중, 7b는 바깥 링 피스(7a)의 양단부에 형성한 테이퍼형상의 모따기부, 7c는 바깥 링 피스(7a)의 내면에 형성한 테이퍼형상의 모따기부, 8b는 안쪽 링 피스(8a)의 양단부에 형성한 테이퍼형상의 모따기부, 8c는 안쪽 링 피스(7a)의 내면에 형성한 테이퍼형상의 모따기부이다. 이 상황은 도 3(f)와 같다.
그 후, 상기 내외 링 피스(7a, 8a)를 플루오르화수소산 세정 및 순수 세정하여, 이들을 구워낸 후, 어닐링(annealing)하여 내부의 변형을 제거한다.
상기 구워내기는, 산수소 버너(도시 생략)를 사용하여, 그 노즐 출구에 화염을 형성하고, 그 화염을 상기 내외 링 피스(7a, 8a)에 쬐어 약 2000℃로 가열하여, 그들 표면의 마이크로크랙을 용융해서 평활하게 형성하고, 그 기계적 강도를 강화한 후, 이들을 전기로에 반입하고 어닐링하여, 내부의 변형을 제거한다.
그리고, 내외 링 피스(7a, 8a)의 1조를 내외 위치에 배치하고, 그 서로 마주보는 모따기부(7c, 8c)와, 안쪽 링 피스(7a)의 내면과 모따기부(8c)의 대략 V자 홈형상의 용접 스페이스에, 석영봉(도시 생략)을 용융하여 용착한다. 이 상황은 도 3(g)와 같아, 내외 링 피스(7a, 8a)를 대략 부채형상으로 형성한다.
상기 용착은 산수소 버너(도시 생략)를 사용하여, 그 노즐 출구에 약 2000℃의 화염을 형성하고, 그 화염을 석영봉에 쬐어 용융하고, 용융된 석영을 용접 스페이스에 충전해서 행한다. 도면 중 9는 용융된 석영이 고화된 용착 비드이다.
그 후, 다른 조(組)의 내외 링 피스(7a, 8a)도 동일하게 용착하여, 4조의 내외 링 피스(7a, 8a)를 용착한다. 이렇게 하여 상기 4조의 내외 링 피스(7a, 8a)를 용착 후, 이들을 전기로에 반입해서 어닐링하여, 변형을 제거한 후, 플루오르화수소산 세정과 순수 세정을 순서대로 행한다.
다음으로, 상기 용착한 4조의 내외 링 피스(7a, 8a)의 단면을 링형상으로 배치하고, 그 서로 마주보는 모따기부(7b, 7b와 8b, 8b)로 형성하는 대략 V자 홈형상의 용접 스페이스에, 전술한 것과 동일하게 석영봉을 용융하여 용착한다. 도면 중, 10은 내외 링 피스(7a, 8a)의 단면을 용착한 용착 비드로, 상기 용착 비드(9)보다도 폭넓게 높이 쌓아올려 용착되어 있다.
이 상황은 도 3(h)와 같아, 4조의 내외 링 피스(7a, 8a)를 접속하여 링형상으로 형성하고, 재생 원형 링을 완성한다.
그 후, 상기 재생 원형 링을 전기로에 반입해서 어닐링하여, 변형을 제거하고 화염처리가공을 중심으로 한 가공을 종료하여, 소기의 형상 치수 및 표면 조도로 마무리하는 기계가공으로 이행한다.
상기 기계가공은, 연삭반, 머시닝센터(machining center), 선반(旋盤), 샌드블라스트기 등을 구사하여, 재생 원형 링의 두께와 내외 직경, 테이퍼면을 연삭가공하고, 소정의 형상 치수와 표면 조도로 마무리하여, 재생 원형 링의 기계가공을 종료한다.
그 후, 상기 재생 링을 세정하여, 최종 검사에서 외관 및 치수 검사를 검사하고, 최종 정밀 세정하여 일련의 재생이 종료한다.
이와 같이 상기 재생가공은, 석영유리부재(1)의 소모 열화부분과 비소모 열화부분을 분리하고, 소모 열화부분을 단재를 포함하는 신규 재료로 치환하여, 비소모 열화부분과 신규 재료를 화염처리하여 용착해서 재생가공할 때, 비소모 열화부분과 신규 재료를 분할하고, 그 분할편의 1조를 용착해서 어닐링하여, 그 복수 조를 고리형상으로 배치해서 용착하고, 일체화하여 재생 원형 링을 제작하고 있다.
따라서, 비분할의 비소모 열화부분과, 비분할의 신규 재료를 화염처리해서 용착하는 방법에 비해, 비소모 열화부분과 신규 재료에 있어서의 열응력과 그 변형을 저감하고, 용착시 또는 재생품의 사용시에 있어서의 크랙이나 깨짐을 방지하여, 재생 내지 화염처리의 용이화와 생산성의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 재생가공은, 신규 재료에 링형상 단재 또는 원판형상의 단재, 더 나아가서는 그 분할편의 단재를 사용함으로써, 각종 단재의 합리적인 이용을 촉진하고, 석영유리부재(1)의 수율을 향상시켜, 재생비용의 저감과 생산성의 향상을 도모할 수 있다.
한편, 상기 재생가공은, 비소모 열화부분과 신규 재료를 분할하여 용착하고, 잔류하는 미소한 내부 응력과 변형을 분산하여, 내부 응력과 변형의 성장을 억제해서 깨짐의 발생을 방지하고, 기계적 강도를 강화할 수 있기 때문에, 취성재료인 석영재료의 재생가공에 매우 적합하다.
도 7 내지 도 17은 본 발명의 다른 실시형태를 나타내고, 전술한 구성과 대응하는 부분에 동일 부호를 사용하고 있다.
이 중, 도 7 내지 도 11은 본 발명의 제2 실시형태의 요부(要部)를 나타내고, 이 실시형태에 있어서의 석영유리부재(1)는, 소모 열화부(4)의 소모 열화상황이 전술한 바와 같이 재생 불가능하여 폐기처분할 정도는 아니고, 당해부를 수복하면 사용 가능한 것이다.
이와 같은 석영유리부재(1)에 대한 재생공정은 도 7과 같아, 그 재생가공 전의 인수검사, 오염확인, 디포지트의 제거법, 중간검사는 전술한 실시형태와 동일하고, 재생가공에 있어서의 화염처리만 상위하며, 그 화염처리의 개요는 도 8과 같다.
즉, 상기 제2 실시형태는, 전술한 것과 동일한 스폿페이싱형의 석영유리부재(1)에 적용하여, 인수검사와 중간검사로 엄선된 석영유리부재(1)를 방사방향으로 적절한 수단으로 복수로 분할한다.
따라서, 제1 실시형태와 같이 소모 열화부(4)를 절단선(L)을 따라 원형으로 절단하는 작업을 필요로 하지 않는다. 또한, 상기 석영유리부재(1)는 스폿페이싱형에 한정되지 않고, 후술하는 링형상 또는 원판형상의 것에도 적용할 수 있다.
상기 분할의 요령은 전술한 실시형태와 마찬가지로, 분할편(1b)의 접합 내지 용착부 단부를 테이퍼면형상으로 모따기 가공하고, 이들을 플루오르화수소산 세정 및 순수 세정한 후, 이들을 구워내고, 추가적으로 어닐링하여 내부의 변형을 제거한다. 상기 구워내기는, 전술한 실시형태와 동일하게 행하여, 분할편(1b)의 기계적 강도를 강화한다.
다음으로, 상기 어닐링한 분할편(1b)의 소모 열화부(4)를 육성(肉盛)한다.
상기 육성은, 산수소 버너(도시 생략)를 사용하여, 그 노즐 출구의 약 2000℃의 화염을 석영봉에 쬐어 용융하고, 용융된 석영유리를 소모 열화부(4) 상에 충전하여 쌓아올리는 동시에, 소모된 통공(3)의 내면에도 육성한다. 이 상황은 도 8(d) 및 도 9와 같다.
실시형태의 육성부(11)는, 용융된 석영을 방사방향으로 비드형상으로 형성하고, 다른 분할편(1b)도 동일하게 육성하여, 4개의 분할편(1b)을 대략 동일 두께로 육성하고, 또한 통공(3)의 내면에도 육성부(11)를 형성한 시점에, 이들을 전기로에 반입해서 어닐링하여, 변형을 제거하고 플루오르화수소산 세정하고 순수 세정한다.
그 후, 상기 육성한 4개의 분할편(1b)을 링형상으로 배치하고, 그 서로 마주보는 모따기부(1c, 1d)에서 형성하는 대략 V자 홈형상의 용접 스페이스에, 전술하는 바와 동일하게 석영을 용융하여 용착한다.
이 상황은 도 8(e)와 같아, 4개의 분할편(1b)을 용착해서 링형상으로 형성하여, 재생 원형 링을 완성한다.
이와 같이 상기 제2 실시형태의 재생가공은, 석영유리부재(1)의 소모 열화부분과 비소모 열화부분을 분리하지 않으며, 또한 소모 열화부분을 신규 재료로 치환하지 않고, 석영유리부재(1)를 분할하여, 그 분할편(1b)의 소모 열화부분을 화염처리해서 직접 육성하고, 재생한다.
따라서, 제1 실시형태와 같은 소모 열화부(4)에 따른 분단작업과, 신규 재료인 안쪽 링(8)의 조달, 내외 링(7, 8)의 분할작업, 및 내외 링 피스(7a, 8a)의 모따기 작업과, 그들의 용착작업을 생략하고, 이것을 용이하고 또한 합리적으로 행할 수 있어, 생산성의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 제2 실시형태의 재생가공은, 분할편(1b)의 소모 열화부분을 화염처리하여 직접 육성하기 때문에, 종래와 같이 소모부를 연삭하여 제거하고, 그 반대면을 육성하는 종래의 번잡한 방법에 비해, 연삭의 수고를 삭감하여, 육성을 용이하고 또한 신속하게 행할 수 있다.
또한, 상기 육성을 석영유리부재의 일측면 전역에 육성하는 방법에 비해, 각 분할편(1b)을 육성함으로써, 열응력과 그 변형의 집중을 억제하고, 용착시에 있어서의 크랙이나 깨짐을 방지하여, 재생 내지 화염처리의 용이화와 생산성의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 재생가공은, 비소모 열화부분을 분할하여 용착하고 있기 때문에, 잔류하는 미소한 내부 응력과 변형이 분산되어, 그 저감을 도모할 수 있는 동시에, 내부 응력과 변형의 성장을 억제하여 깨짐의 발생을 방지하고, 기계적 강도를 강화할 수 있다. 따라서, 취성재료인 석영유리부재(1)의 재생가공에 매우 적합하다.
도 12 내지 도 15는 상기 제3 실시형태의 요부를 나타내고, 이 실시형태는 전술한 제2 실시형태의 응용형태에 상당한다.
이 실시형태는, 전술한 것과 동일한 스폿페이싱형의 석영유리부재(1)에 적용하여, 인수검사로 엄선된 석영유리부재(1)를 복수로 분할하지 않고, 따라서 분할편의 모따기나 구워내기, 그들의 용착을 필요로 하지 않고, 소모 열화부(4)를 직접 육성하며, 또한 통공(3)의 내면에 육성한다.
상기 육성은 제2 실시형태와 동일하게 행하며, 육성마다의 어닐링을 필요로 하지 않고, 재생 원형 링을 완성한다.
따라서, 상기 제3 실시형태의 재생가공은, 석영유리부재(1)를 분할하지 않고, 인수검사로 엄선한 석영유리부재(1)를 신속하게 육성할 수 있기 때문에, 용이하고 또한 합리적으로 재생할 수 있어, 생산성의 향상을 도모할 수 있다.
도 16 및 도 17은 본 발명의 제4 실시형태의 요부를 나타내고, 이 실시형태는 재생 대상인 석영유리부재(1)를, 스폿페이싱형의 석영유리부재 대신에, 도 16은 링형의 석영유리부재(1)에 적용하고, 도 17에서는 원판형의 석영유리부재(1)에 적용하고 있으며, 그 구체적인 재생방법은 전술한 실시형태와 동일하다.
이와 같이 본 발명의 석영유리부재의 재생방법은, 예를 들면 반도체 제조공정에 사용되어 소모 열화된 석영유리부재에 대해, 세정 전에 디포지트나, 소모·열화상태를 정밀하게 체크하여 오염상태에 따른 세정방법을 결정하고, 모재로의 손상을 최대한 억제하여 세정한 후, 디포지트의 잔류를 정밀하게 체크하여 재생가공 전의 석영유리부재를 엄선하고, 합리적인 재생을 행하는 동시에, 취성재료인 석영유리부재의 기계적 강도를 강화하여, 재생가공에 있어서의 화염처리의 열응력과 변형에 의한 파손을 방지하는 동시에, 석영유리부재의 수율 향상과 유효 이용을 도모하여 생산성을 향상시켜, 품질의 안정화와 재생의 합리화를 도모할 수 있다.
1 석영유리부재
1b 분할편
4 소모 열화부
5 디포지트
7 비소모 열화부(바깥 링)
7a 바깥 링 피스(분할편)
8 신규 재료(단재)
8a 안쪽 링 피스(분할편)
11 육성부(肉盛部)

Claims (16)

  1. 소모 또는 오염 열화된 석영유리부재를 인수검사하여, 그 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 자외선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 오염 열화상황을 검사 후, 드라이아이스 블라스트 세정 또는 고온 가열 세정하고, 그 고온 가열 세정에 의해 디포지트를 승화 또는 회화(灰化)하여, 세정 후, 석영유리부재를 소모 또는 오염 열화상황에 따라 화염처리가공하고, 소모 또는 오염 열화부를 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재생방법에 있어서, 상기 오염 열화상황 검사에 있어서의 석영유리부재의 소모 또는 오염상황에 따라 소모 또는 오염 열화부의 수복·재생을 필요로 하는 석영유리부재를 드라이아이스 블라스트 세정 후에 고온 가열 세정하고, 소모 또는 오염 열화부의 수복·재생을 특별히 필요로 하지 않는 석영유리부재는 상기 고온 가열 세정을 선택적으로 실행하며, 상기 고온 가열 세정은 대기 또는 진공 또는 불활성 가스의 분위기하에서 상기 석영유리부재를 변형점 이하에서 1050℃를 상한으로 가열하는 것을 특징으로 하는 석영유리부재의 재생방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 석영유리부재의 인수검사 시에 솔라리제이션에 의한 착색 유무를 검사하여, 상기 착색을 갖는 석영유리부재를 상기 고온 가열 세정하여 상기 착색을 제거하는 석영유리부재의 재생방법.
  3. 제2항에 있어서,
    표면에 디포지트가 잔류하고, 또한 솔라리제이션에 의한 착색이 존재하는 석영유리부재를 700℃ 이상으로, 변형점 이하의 1050℃를 상한으로 가열하여 디포지트와 솔라리제이션에 의한 착색을 제거하는 석영유리부재의 재생방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 석영유리부재는 반도체 또는 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치 내부의 구성부품인 석영유리부재의 재생방법.
  5. 소모 또는 오염 열화된 석영유리부재를 인수검사하여, 그 석영유리부재에 형광작용을 나타내는 소정 파장의 자외선을 조사하고, 그 석영유리부재와 디포지트의 형광색의 차에 의해 오염 열화상황을 검사 후, 드라이아이스 블라스트 세정 또는 고온 가열 세정하고, 그 고온 가열 세정에 의해 디포지트를 승화 또는 회화하여, 세정 후, 석영유리부재를 소모 또는 오염 열화상황에 따라 화염처리가공하고, 그 화염처리가공을 소모 열화부와 비소모 열화부를 분리하거나 또는 분리하지 않고 실행하여, 분리하는 경우는 소모 또는 오염 열화부를 동질의 신규 재료와 교환하여 비소모 열화부에 용착하고, 분리하지 않는 경우는 소모 또는 오염 열화부에 동질의 재료를 용융하여 육성(肉盛)하고 소모 또는 오염 열화부를 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재상방법에 있어서, 상기 오염 열화상황 검사에 있어서의 석영유리부재의 소모 또는 오염상황에 따라 소모 또는 오염 열화부의 수복·재생을 필요로 하는 석영유리부재를 드라이아이스 블라스트 세정 후에 고온 가열 세정하고, 소모 또는 오염 열화부의 수복·재생을 특별히 필요로 하지 않는 석영유리부재는 상기 고온 가열 세정을 선택적으로 실행하며, 상기 고온 가열 세정은 대기 또는 진공 또는 불활성 가스의 분위기하에서 상기 석영유리부재를 변형점 이하에서 1050℃를 상한으로 가열하는 한편, 상기 고온 가열 세정 후의 소모 열화부의 소모 열화상황에 따라 상기 분리한 비소모 열화부와 상기 신규 재료를 복수로 분할하여 그 각 한쌍의 분할편을 용착하여 접합 후, 복수의 접합편을 용착하여 접합하거나 또는 상기 분리하지 않는 소모 열화부와 비소모 열화부를 병존시켜서 복수로 분할하고, 그 소모 열화부를 육성하여 수복 후 복수의 분할편을 용착하여 접합하는 것을 특징으로 하는 석영유리부재의 재생방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 석영유리부재를 링형상 또는 원판형상, 또는 편면에 직경이 큰 오목한 구멍형상의 스폿페이싱(spot facing)을 형성한 스폿페이싱형으로 형성하여, 그 일측면에 소모 열화부와 비소모 열화부를 동심원형상으로 형성 가능하게 하는 석영유리부재의 재생방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 분리하는 링형상 또는 원판형상의 비소모 열화부와 상기 분리하지 않는 링형상 또는 원판형상의 석영유리부재를 복수로 분할하는 석영유리부재의 재생방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 신규 재료를 소모 열화부와 동질의 재료로, 그 단재 또는 그들의 분할편으로 제작하는 석영유리부재의 재생방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 신규 재료를 링형상 또는 원판형상의 단재 또는 그들의 분할편으로 구성하고, 그 신규 재료를 비소모 열화부의 분할편과 같은 수로 제작하는 석영유리부재의 재생방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 비소모 열화부와 신규 재료를 용착한 복수의 접합편을 링형상으로 배치하고, 그들의 접합부를 용착하고 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재생방법.
  11. 제5항에 있어서,
    상기 비소모 열화부와 분리하지 않는 소모 열화부에 육성한 복수의 분할편을 링형상으로 배치하고, 그들의 접합부를 용착하고 수복하여 재생하는 석영유리부재의 재생방법.
  12. 제5항 또는 제9항에 있어서,
    상기 비소모 열화부와 신규 재료의 복수의 분할편의 접합부와, 소모 열화부와 비소모 열화부가 병존하는 복수의 분할편의 접합부를 단면 V자 형상으로 모따기(面取, chamfering) 가공하고, 그 모따기 가공부를 접합하여 형성하는 V자 홈형상부에 석영을 용융하여 용착하는 석영유리부재의 재생방법.
  13. 제5항에 있어서,
    상기 석영유리부재는 반도체 또는 액정 디바이스를 제조하는 플라즈마 처리장치 내부의 구성부품인 석영유리부재의 재생방법.
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
KR1020100070312A 2009-07-30 2010-07-21 석영유리부재의 재생방법 KR101685708B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2009-178318 2009-07-30
JP2009178318A JP5618505B2 (ja) 2009-07-30 2009-07-30 石英ガラス部材の再生方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110013242A KR20110013242A (ko) 2011-02-09
KR101685708B1 true KR101685708B1 (ko) 2016-12-12

Family

ID=43525706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100070312A KR101685708B1 (ko) 2009-07-30 2010-07-21 석영유리부재의 재생방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8991214B2 (ko)
JP (1) JP5618505B2 (ko)
KR (1) KR101685708B1 (ko)
TW (1) TWI471274B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190044709A (ko) 2017-10-20 2019-05-02 김국광 실리카를 이용한 탕도 내화물의 프레스 제조방법

Families Citing this family (294)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10378106B2 (en) 2008-11-14 2019-08-13 Asm Ip Holding B.V. Method of forming insulation film by modified PEALD
US9394608B2 (en) 2009-04-06 2016-07-19 Asm America, Inc. Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en) 2009-08-14 2014-08-12 Asm America, Inc. Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
US9312155B2 (en) 2011-06-06 2016-04-12 Asm Japan K.K. High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10364496B2 (en) 2011-06-27 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Dual section module having shared and unshared mass flow controllers
US10854498B2 (en) 2011-07-15 2020-12-01 Asm Ip Holding B.V. Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en) 2011-10-28 2015-04-28 Asm America, Inc. Process feed management for semiconductor substrate processing
US9659799B2 (en) 2012-08-28 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Systems and methods for dynamic semiconductor process scheduling
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US9589770B2 (en) 2013-03-08 2017-03-07 Asm Ip Holding B.V. Method and systems for in-situ formation of intermediate reactive species
US9484191B2 (en) 2013-03-08 2016-11-01 Asm Ip Holding B.V. Pulsed remote plasma method and system
US9240412B2 (en) 2013-09-27 2016-01-19 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor structure and device and methods of forming same using selective epitaxial process
JP6326210B2 (ja) * 2013-09-30 2018-05-16 テクノクオーツ株式会社 石英ガラス部品及び石英ガラス部品の製造方法
US10683571B2 (en) 2014-02-25 2020-06-16 Asm Ip Holding B.V. Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en) 2014-03-18 2019-01-01 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en) 2014-08-21 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US9657845B2 (en) 2014-10-07 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Variable conductance gas distribution apparatus and method
US20180113747A1 (en) * 2014-10-29 2018-04-26 International Business Machines Corporation Overdrive mode for distributed storage networks
WO2016074750A1 (en) 2014-11-13 2016-05-19 Gerresheimer Glas Gmbh Glass forming machine particle filter, a plunger unit, a blow head, a blow head support and a glass forming machine adapted to or comprising said filter
KR102263121B1 (ko) 2014-12-22 2021-06-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 및 그 제조 방법
US10529542B2 (en) 2015-03-11 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Cross-flow reactor and method
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en) 2015-07-07 2020-03-24 Asm Ip Holding B.V. Magnetic susceptor to baseplate seal
US9960072B2 (en) 2015-09-29 2018-05-01 Asm Ip Holding B.V. Variable adjustment for precise matching of multiple chamber cavity housings
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US10322384B2 (en) 2015-11-09 2019-06-18 Asm Ip Holding B.V. Counter flow mixer for process chamber
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10468251B2 (en) 2016-02-19 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Method for forming spacers using silicon nitride film for spacer-defined multiple patterning
US10501866B2 (en) 2016-03-09 2019-12-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution apparatus for improved film uniformity in an epitaxial system
US10343920B2 (en) 2016-03-18 2019-07-09 Asm Ip Holding B.V. Aligned carbon nanotubes
US9892913B2 (en) 2016-03-24 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Radial and thickness control via biased multi-port injection settings
US10865475B2 (en) 2016-04-21 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides and silicides
US10190213B2 (en) 2016-04-21 2019-01-29 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides
TWI668195B (zh) * 2016-04-25 2019-08-11 李淑玲 Quartz fixture surface repair method
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US10032628B2 (en) 2016-05-02 2018-07-24 Asm Ip Holding B.V. Source/drain performance through conformal solid state doping
KR102592471B1 (ko) 2016-05-17 2023-10-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 배선 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10388509B2 (en) 2016-06-28 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Formation of epitaxial layers via dislocation filtering
KR20180004471A (ko) * 2016-07-04 2018-01-12 세메스 주식회사 표면 처리 방법
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US10714385B2 (en) 2016-07-19 2020-07-14 Asm Ip Holding B.V. Selective deposition of tungsten
KR102354490B1 (ko) 2016-07-27 2022-01-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US10395919B2 (en) 2016-07-28 2019-08-27 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
JP6146839B1 (ja) * 2016-08-04 2017-06-14 日本新工芯技株式会社 電極用リング
JP6146841B1 (ja) * 2016-08-04 2017-06-14 日本新工芯技株式会社 リング状電極
US10410943B2 (en) 2016-10-13 2019-09-10 Asm Ip Holding B.V. Method for passivating a surface of a semiconductor and related systems
US10643826B2 (en) 2016-10-26 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10229833B2 (en) 2016-11-01 2019-03-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10643904B2 (en) 2016-11-01 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10435790B2 (en) 2016-11-01 2019-10-08 Asm Ip Holding B.V. Method of subatmospheric plasma-enhanced ALD using capacitively coupled electrodes with narrow gap
US10134757B2 (en) 2016-11-07 2018-11-20 Asm Ip Holding B.V. Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US10340135B2 (en) 2016-11-28 2019-07-02 Asm Ip Holding B.V. Method of topologically restricted plasma-enhanced cyclic deposition of silicon or metal nitride
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR20180070971A (ko) 2016-12-19 2018-06-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en) 2016-12-28 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10655221B2 (en) 2017-02-09 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
JP6198168B1 (ja) * 2017-02-23 2017-09-20 日本新工芯技株式会社 電極用リング
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10283353B2 (en) 2017-03-29 2019-05-07 Asm Ip Holding B.V. Method of reforming insulating film deposited on substrate with recess pattern
US10103040B1 (en) 2017-03-31 2018-10-16 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for manufacturing a semiconductor device
KR102457289B1 (ko) 2017-04-25 2022-10-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10892156B2 (en) 2017-05-08 2021-01-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10446393B2 (en) 2017-05-08 2019-10-15 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming silicon-containing epitaxial layers and related semiconductor device structures
US10504742B2 (en) 2017-05-31 2019-12-10 Asm Ip Holding B.V. Method of atomic layer etching using hydrogen plasma
US10886123B2 (en) 2017-06-02 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming low temperature semiconductor layers and related semiconductor device structures
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en) 2017-07-05 2020-06-16 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10312055B2 (en) 2017-07-26 2019-06-04 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing film by PEALD using negative bias
US10605530B2 (en) 2017-07-26 2020-03-31 Asm Ip Holding B.V. Assembly of a liner and a flange for a vertical furnace as well as the liner and the vertical furnace
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en) 2017-08-09 2019-04-02 Asm Ip Holding B.V. Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
USD900036S1 (en) 2017-08-24 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10607895B2 (en) 2017-09-18 2020-03-31 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming a semiconductor device structure comprising a gate fill metal
KR102630301B1 (ko) 2017-09-21 2024-01-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en) 2017-09-22 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en) 2017-10-10 2019-06-11 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
US10910262B2 (en) 2017-11-16 2021-02-02 Asm Ip Holding B.V. Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
KR102443047B1 (ko) 2017-11-16 2022-09-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
KR102597978B1 (ko) 2017-11-27 2023-11-06 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배치 퍼니스와 함께 사용하기 위한 웨이퍼 카세트를 보관하기 위한 보관 장치
US11639811B2 (en) 2017-11-27 2023-05-02 Asm Ip Holding B.V. Apparatus including a clean mini environment
US10290508B1 (en) 2017-12-05 2019-05-14 Asm Ip Holding B.V. Method for forming vertical spacers for spacer-defined patterning
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
WO2019142055A2 (en) 2018-01-19 2019-07-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a gap-fill layer by plasma-assisted deposition
TWI799494B (zh) 2018-01-19 2023-04-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
USD903477S1 (en) 2018-01-24 2020-12-01 Asm Ip Holdings B.V. Metal clamp
US11018047B2 (en) 2018-01-25 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Hybrid lift pin
USD880437S1 (en) 2018-02-01 2020-04-07 Asm Ip Holding B.V. Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US10535516B2 (en) 2018-02-01 2020-01-14 Asm Ip Holdings B.V. Method for depositing a semiconductor structure on a surface of a substrate and related semiconductor structures
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
CN111699278B (zh) 2018-02-14 2023-05-16 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环沉积工艺在衬底上沉积含钌膜的方法
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
US10658181B2 (en) 2018-02-20 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US10510536B2 (en) 2018-03-29 2019-12-17 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing a co-doped polysilicon film on a surface of a substrate within a reaction chamber
KR102501472B1 (ko) 2018-03-30 2023-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
TW202344708A (zh) 2018-05-08 2023-11-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
TWI816783B (zh) 2018-05-11 2023-10-01 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
TW202013553A (zh) 2018-06-04 2020-04-01 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 水氣降低的晶圓處置腔室
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
KR20210027265A (ko) 2018-06-27 2021-03-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 막 및 구조체
JP2021529254A (ja) 2018-06-27 2021-10-28 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 金属含有材料ならびに金属含有材料を含む膜および構造体を形成するための周期的堆積方法
KR20200002519A (ko) 2018-06-29 2020-01-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en) 2018-07-16 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US10483099B1 (en) 2018-07-26 2019-11-19 Asm Ip Holding B.V. Method for forming thermally stable organosilicon polymer film
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en) 2018-08-09 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en) 2018-08-16 2020-11-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR20200030162A (ko) 2018-09-11 2020-03-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344A (zh) 2018-10-01 2020-04-07 Asm Ip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en) 2018-10-11 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en) 2018-10-16 2020-10-20 Asm Ip Holding B.V. Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US10381219B1 (en) 2018-10-25 2019-08-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10559458B1 (en) 2018-11-26 2020-02-11 Asm Ip Holding B.V. Method of forming oxynitride film
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
JP2020096183A (ja) 2018-12-14 2020-06-18 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR20200091543A (ko) 2019-01-22 2020-07-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
JP2020136678A (ja) 2019-02-20 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための方法および装置
KR20200102357A (ko) 2019-02-20 2020-08-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
JP2020136677A (ja) 2019-02-20 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置
TW202100794A (zh) 2019-02-22 2021-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備及處理基材之方法
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108248A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
JP2020167398A (ja) 2019-03-28 2020-10-08 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
US11447864B2 (en) 2019-04-19 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141003A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 감지기를 포함하는 기상 반응기 시스템
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP2021015791A (ja) 2019-07-09 2021-02-12 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
CN112242296A (zh) 2019-07-19 2021-01-19 Asm Ip私人控股有限公司 形成拓扑受控的无定形碳聚合物膜的方法
CN112309843A (zh) 2019-07-29 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
KR20210018759A (ko) 2019-08-05 2021-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
TW202129060A (zh) 2019-10-08 2021-08-01 荷蘭商Asm Ip控股公司 基板處理裝置、及基板處理方法
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
KR20210045930A (ko) 2019-10-16 2021-04-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 산화물의 토폴로지-선택적 막의 형성 방법
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
KR20210065848A (ko) 2019-11-26 2021-06-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP2021090042A (ja) 2019-12-02 2021-06-10 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN112992667A (zh) 2019-12-17 2021-06-18 Asm Ip私人控股有限公司 形成氮化钒层的方法和包括氮化钒层的结构
KR20210080214A (ko) 2019-12-19 2021-06-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
KR20210095050A (ko) 2020-01-20 2021-07-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
TW202146882A (zh) 2020-02-04 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
CN111243934B (zh) * 2020-03-03 2023-02-03 宁波江丰电子材料股份有限公司 一种环件连接部的翻新方法
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
KR20210116249A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법
KR20210117157A (ko) 2020-03-12 2021-09-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11898243B2 (en) 2020-04-24 2024-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride-containing layer
KR20210132605A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
KR20210143653A (ko) 2020-05-19 2021-11-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202219628A (zh) 2020-07-17 2022-05-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於光微影之結構與方法
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
US11725280B2 (en) 2020-08-26 2023-08-15 Asm Ip Holding B.V. Method for forming metal silicon oxide and metal silicon oxynitride layers
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
TW202217037A (zh) 2020-10-22 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235675A (zh) 2020-11-30 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 注入器、及基板處理設備
CN114639631A (zh) 2020-12-16 2022-06-17 Asm Ip私人控股有限公司 跳动和摆动测量固定装置
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
DE102022107445A1 (de) * 2022-03-29 2023-10-05 MTU Aero Engines AG Verfahren zum prüfen eines bauteils

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004137109A (ja) * 2002-10-17 2004-05-13 Eetekku:Kk 石英ガラス製冶工具の再生方法
WO2006092938A1 (ja) * 2005-03-01 2006-09-08 Nikon Corporation 合成石英ガラス成形体、その成形方法、及び合成石英ガラス成形体の検査方法
JP2006306675A (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd 石英ガラス製治具の再生方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2259400A (en) * 1938-08-17 1941-10-14 Robert C Switzer Flaw detection
US3501340A (en) * 1967-11-01 1970-03-17 Atomic Energy Commission Method of cleaning glass and quartz surfaces
US3702519A (en) * 1971-07-12 1972-11-14 Chemotronics International Inc Method for the removal of unwanted portions of an article by spraying with high velocity dry ice particles
US3829690A (en) * 1973-08-29 1974-08-13 E Snyder Method and apparatus for the examination of articles for defects
JPH04139184A (ja) 1990-09-28 1992-05-13 Nippon Mektron Ltd 塩化ベルベリンの製造法および家畜用抗菌剤
US5836809A (en) * 1996-10-07 1998-11-17 Eco-Snow Systems, Inc. Apparatus and method for cleaning large glass plates using linear arrays of carbon dioxide (CO2) jet spray nozzles
JP4316340B2 (ja) * 2003-08-26 2009-08-19 江信特殊硝子株式会社 石英ガラス製冶工具の再生方法
JP4547706B2 (ja) 2005-02-25 2010-09-22 江信特殊硝子株式会社 石英ガラス製冶工具の再生方法
JP4929747B2 (ja) * 2005-03-28 2012-05-09 コニカミノルタオプト株式会社 光学フィルムの製造方法
JP2008062349A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Central Glass Co Ltd ガラス板の洗浄方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004137109A (ja) * 2002-10-17 2004-05-13 Eetekku:Kk 石英ガラス製冶工具の再生方法
WO2006092938A1 (ja) * 2005-03-01 2006-09-08 Nikon Corporation 合成石英ガラス成形体、その成形方法、及び合成石英ガラス成形体の検査方法
JP2006306675A (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd 石英ガラス製治具の再生方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190044709A (ko) 2017-10-20 2019-05-02 김국광 실리카를 이용한 탕도 내화물의 프레스 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
TWI471274B (zh) 2015-02-01
JP2011032115A (ja) 2011-02-17
US8991214B2 (en) 2015-03-31
KR20110013242A (ko) 2011-02-09
JP5618505B2 (ja) 2014-11-05
US20110023543A1 (en) 2011-02-03
TW201111306A (en) 2011-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101685708B1 (ko) 석영유리부재의 재생방법
US7854974B2 (en) Tube formed of bonded silicon staves
US20050067466A1 (en) Crack repair method
JP5001524B2 (ja) 石英ガラス製治具の再生方法
CN105904151B (zh) 基于脉冲焊接和激光增材修复的薄壁零部件复合修复方法
CN102166790A (zh) 一种去除蓝宝石基片表面粗糙以及伤痕的加工方法
CN104439632B (zh) 一种薄壁滑油箱壳体的磨损缺陷修复方法
WO2008102938A1 (en) Method for manufacturing silicon matter for plasma processing apparatus
KR102101443B1 (ko) 진공로를 이용한 브레이징 용접방법 및 이에 의해 제조된 금속부품
CN105479007A (zh) 一种铸造Ti3Al系合金盘件缺陷激光焊补修复方法
KR101148510B1 (ko) 실리콘 부재들을 결합시키기 위한 플라즈마 분사
CN114101913A (zh) 叶片铸件深槽用补焊方法
KR100748376B1 (ko) 석영 도가니의 재생방법
US20180141170A1 (en) Restoration of cast iron using iron powder
CN110773839A (zh) 一种避免镍基合金弯管出现补焊裂纹的焊接工艺方法
JP5138149B2 (ja) 表面酸化物溶接溶込み強化方法及び物品
CN106431013A (zh) 一种镀膜用石英环缺陷返工的方法
US20170030195A1 (en) Method for repairing a gas turbine blade having at least one cavity
CN106521491A (zh) 一种用于激光制造高速铁路道岔台板的工艺方法
KR101492820B1 (ko) 스카핑 장치의 슈 블록 정비방법
CN107735371B (zh) 用于将不透明的熔凝石英与透明的熔凝石英连接的工艺
KR102305539B1 (ko) SiC 엣지 링
JP2001106596A (ja) 石英ルツボ再生方法
JPH09202630A (ja) 石英ガラス製治具の表面処理方法及び表面処理された治具
TWI668195B (zh) Quartz fixture surface repair method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190917

Year of fee payment: 4