KR101591500B1 - 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트 - Google Patents

Abstract

본 발명은 상단의 상대 커넥터 삽입부; 상기 커넥터 삽입부와 하방으로 연결된 지지대; 및 상기 지지대 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부와 상기 절곡부에 연장형성된 무절곡단부를 갖는 단자접촉부를 포함하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트를 제공한다.

Description

지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트{Terminal Contact for ZIF Connector}

본 발명은 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트에 관한 것으로, 보다 상세하게는 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 효과를 제공하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트에 관한 것이다.

일반적으로, 각종 반도체 및 회로기판은 제작 후, 검사과정을 거침에 따라 불량여부를 확인하게 되고, 양품의 경우만, 제품화하여 판매되고 있다.

이러한 검사를 위한 커넥터는 다수의 터미널 컨택트를 갖는 하우징이 구비되고, 회로기판에 결합됨에 따라 프로브카드의 검사용 패턴과 다수의 터미널 컨택트가 접속되며, 검사를 위한 카드를 결합시켜 카드에 대한 검사가 이루어진다.

여기서, 종래 검사용 커넥터는 프로브카드에 다수 개 구비되며, 각 커넥터는 도 1에 도시한 바와 같이 상대 커넥터(미도시)와 전기적으로 접속하는 컨택트(2)가 하우징(3)내에 안착되며, 상기 컨택트는 프로브기판(1)에 전기적으로 접속을 이루게 되어 테스트하고자 하는 디바이스의 테스트를 수행하게 된다.

이때, 종래의 컨택트(2)는 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 떨어지는 문제가 있는데, 이는 상대 커넥터와의 가압력이 떨어져 접촉력이 약하고 반복적 사용에 의해 접촉부위가 마모 내지 비가역적인 변형으로 인해 전류특성을 열화시키는 원인이 되며, 프르브 카드의 접촉패드와 접촉과정에서 컨탠트(2) 말단의 절곡부위 존재로 인해 슬라이딩이 발생하여 전기적인 접촉특성을 마찬가지로 열화시키는 원인이 되고 있다.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 효과를 제공하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트를 제공함에 있다.

상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.

(1) 상단의 상대 커넥터 삽입부; 상기 커넥터 삽입부와 하방으로 연결된 지지대; 및 상기 지지대 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부와 상기 절곡부에 연장형성된 무절곡단부를 갖는 단자접촉부를 포함하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트.

(2) 상기 (1)에 있어서,

상기 지지대 하방에 상기 단자접촉부를 지지하도록 수평으로 연장된 지지돌부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트.

(3) 상기 (1)에 있어서,

상기 지지돌부는 지지대 하방에 연장형성되며, 단자접촉부로부터 분기형성되어 포크구조를 이루는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 효과를 제공하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트를 제공할 수 있다.

도 1은 종래기술에 따른 터미널 컨택트가 안착된 지아이에프 커넥터의 단면구성도.
도 2는 본 발명 실시예에 따른 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트의 구성도.
도 3은 본 발명 실시예에 따른 터미널 컨택트가 장착되는 지아이에프 커넥터의 분리사시도.
도 4는 본 발명 실시예에 따른 터미널 컨택트가 장착된 지아이에프 커넥터의 결합상태도.

본 발명에 따른 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트는 상단의 상대 커넥터 삽입부; 상기 커넥터 삽입부와 하방으로 연결된 지지대; 및 상기 지지대 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부와 상기 절곡부에 연장형성된 무절곡단부를 갖는 단자접촉부를 포함한다.

이하 본 발명의 내용을 도 2 내지 도 4를 참조하여 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

도 2는 본 발명에 따른 커넥터용 터미널 컨택트의 일 실시예로써, 상단은 상대 커넥터의 접속단자(미도시)가 삽입되는 상대 커넥터 삽입부(10)가 형성되어 있다.

상기 커넥터 삽입부(10)는 포켓형상으로 절곡시켜 상대 커넥터의 접속단자를 수용하여 이탈되는 일이 없이 안정적으로 접속을 이루도록 한다.

상기 커넥터 삽입부(10)의 아래에는 하방으로 지지대(20)가 연결되며, 상기 지지대는 커넥터 삽입부(10)를 하우징 내에 견고하게 고정될 수 있도록 지지하며, 커넥터 삽입부(10)에 삽입고정된 상대 커넥터의 접속단자와 하부의 단자접촉부간의 전기적 신호교환을 위한 신호전달통로로써의 기능을 제공한다.

상기 단자접촉부(30)는 프로브카드에 형성된 접촉패드(미도시)와 전기적인 접속을 이루는 영역으로 상기 지지대(20) 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부(31)와 상기 절곡부(31)에 연장형성된 무절곡단부(32)를 갖는 것을 특징으로 한다.

상기 절곡부(31)는 무절곡단부(32)가 프로브 카드의 접촉패드에 전기적인 접속을 위하여 결합을 이룰 때 탄성력을 이용하여 가압하는 것에 의해 안정적으로 접속을 이루도록 한다.

상기 절곡부(31)에 연장형성된 무절곡단부(32)는 절곡부위가 형성되지 않은 일자형의 단부를 말하며, 절곡부가 형성될 경우 프로브 카드의 접촉패드와의 접촉과정에서 슬라이딩이 발생하여 접촉불량이 발생하기 쉽고 제조공정의 추가로 인한 생산단가의 상승을 초래하게 된다.

상기 일자형의 단부 혹은 첨부를 갖도록 무절곡단부(32)를 형성하는 것은 상기 무절곡단부가 탄성가압에 의해 프로브 카드의 접촉패드와의 접촉과정에서 스크래치를 가하는 방법으로 접촉을 이루도록 하여 슬라이딩 현상을 미연에 방지할 수 있도록 함에 안정적인 테스트 수행을 가능하게 할 수 있다.

또한, 본 발명은 바람직하게는 상기 지지대 하방에 상기 단자접촉부(30)를 지지하도록 수평으로 연장된 지지돌부(40)를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예로 상기 지지돌부(40)는 바람직하게는 지지대(20) 하방에 연장형성되며, 단자접촉부(30)로부터 분기형성되어 포크구조를 이루도록 한다.

상기 지지돌부(40)는 하우징내 형성된 수용부에 고정되어 상기 단자접촉부(30)가 상부에서의 가압에 의해 하방으로 탄성가압되는 과정에서 발생할 수 있는 이동을 잡아주는 기능 외에 상대 커넥터(미도시)의 하부 접촉단자가 커넥터 삽입부(10)에 삽입되는 과정에서 상방으로 가압하는 힘을 제공하게 되어 상대 커넥터와 커넥터 삽입부와의 접속력을 보다 강화해 주는 기능을 제공하게 된다.

상기와 같이 본 발명에 따른 커넥터용 터미널 컨택트는 상대방 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브 카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 장점을 제공한다.

도 3 내지 도 4는 본 발명에 따른 터미널 컨택트가 장착된 지아이에프(ZIF)형 커넥터의 구성을 보여주고 있다.

본 발명에 따른 ZIF형 커넥터는 하우징(100), 상기 하우징(100) 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트(200), 상기 하우징(100) 내에 고정장착되는 고정플레이트(310)와 상기 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 하방으로 돌출된 돌출지지부(320)가 형성된 인서트 플레이트(300), 상기 돌출지지부(320)의 단부가 관통하는 관통공(410)이 형성되고 프로브 카드(500)의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트(400)로 이루어진다.

상기 하우징(100) 내에 좌우 한쌍으로 장착되는 커넥터용 터미널 컨택트(200)는 앞에서 이미 충분히 설명하였으므로 이를 전체적으로 인용하는 것으로 하고, 이하에서는 커넥터용 터미널 컨택트(200)의 구성을 제외한 나머지 구성에 한정하여 상세하게 설명하기로 한다.

상기 본 발명에 따른 ZIF형 커넥터는 하우징(100)의 생산공정 중 상기 인서트 플레이트(300)를 금형내 삽입한 상태에서 수지재료를 주입하여 사출성형하여 일체로 제조하는 것이 바람직하다.

이 경우 하우징을 먼저 제작한 후, 인서트 플레이트를 후공정에 의해 하우징의 수납홈에 삽입하는 공정을 줄일 수 있다.

상기 본 발명에 따른 인서트 플레이트(300)를 구성하는 돌출지지부(320)는 고정플레이트의 하부에 복수개 연장형성되어 프로브 카드에 형성된 관통홀(510)을 통과한 후, 프로브 카드의 하면에 부착되는 클램핑 플레이트(400)의 관통공(410)을 통과하게 된다.

이때, 상기 클램핑 플레이트(400)는 상기 커넥터용 터미널 컨택트(200)를 프로브 카드(600)에 단단히 결속시키기 위한 것으로, 상기 관통공(410)의 직경은 상기 돌출지지부(320)의 직경보다 작게 형성되어, 돌출지지부(320)의 단부가 관통공(410)을 강제끼움 형식으로 뚫고 나가도록 체결한다.

상기와 같은 구성에 의해 상대 커넥터 및 프로브 카드와의 전기적인 접촉특성이 우수할 뿐만 아니라, 프로브카드에 접속하여 장기간의 반복적인 테스트를 수행하는 동안에도 충분한 접촉력을 제공하게 되어 신뢰성 있는 테스트 수행은 물론이거니와 수명을 연장하는 효과를 제공하게 된다.

상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

10: 상대 커넥터 삽입부
20: 지지대
30: 단자접촉부
31: 절곡부
32: 무절곡단부
100: 하우징
200: 커넥터용 터미널 컨택트
300: 인서트 플레이트
310: 고정플레이트
320: 돌출지지부
400: 클램핑 플레이트
410: 관통공
500: 프로브 카드

Claims (3)

1. 상단의 상대 커넥터 삽입부; 상기 커넥터 삽입부와 하방으로 연결된 지지대; 및 상기 지지대 하단에 하방으로 연장형성되며, 외측으로 절곡된 절곡부와 상기 절곡부에 연장형성된 무절곡단부를 갖는 단자접촉부;를 포함하고,
   상기 지지대 하방에 상기 단자접촉부를 지지하도록 수평으로 연장된 지지돌부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트.
   
2. 삭제
3. 제 1항에 있어서,
   상기 지지돌부는 지지대 하방에 연장형성되며, 단자접촉부로부터 분기형성되어 포크구조를 이루는 것을 특징으로 하는 지아이에프 커넥터용 터미널 컨택트.

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