KR101897101B1 - 자가 얼라인먼트형 접속핀 - Google Patents

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KR101897101B1
KR101897101B1 KR1020170064123A KR20170064123A KR101897101B1 KR 101897101 B1 KR101897101 B1 KR 101897101B1 KR 1020170064123 A KR1020170064123 A KR 1020170064123A KR 20170064123 A KR20170064123 A KR 20170064123A KR 101897101 B1 KR101897101 B1 KR 101897101B1
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정우열
장태영
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주식회사 엔티에스
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Abstract

자가 얼라인먼트형 접속핀이 개시된다. 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀은, 테스트소켓에 장착되어 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 접속핀으로서, 제1 접촉팁을 형성하는 제1 플랜저; 커넥터 단자와 접점을 형성하는 제2 접촉팁이 제1 접촉팁과 반대쪽을 향하여 형성되는 제2 플랜저; 및 제1 플랜저와 제2 플랜저를 연결하는 압축스프링을 포함하고, 제1 플랜저와 커넥터 단자의 얼라인먼트가 불일치하더라도 제2 접촉팁이 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 압축스프링이 탄성 변형되면서 제2 플랜저와 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어지는 자가 얼라인먼트형 접속핀을 제공할 수 있게 된다.

Description

자가 얼라인먼트형 접속핀{SELF-ALIGNMENT TYPE CONNECTION PIN}
본 발명은 자가 얼라인먼트형 접속핀에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어지는 자가 얼라인먼트형 접속핀에 관한 것이다.
반도체, LCD 모듈, 이미지센서 및 카메라 모듈 등은 각 부품의 조립이 완료된 후 실제 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 정상 동작 여부 등을 확인하는 품질검사를 받는다.
제품의 불량 판정은 제품 자체의 문제이기도 하지만 간혹 검사기 및 관련 장비들의 문제로 인해서 검사가 잘못되어 양품의 제품이 불량으로 판정되기도 한다. 양품이 불량으로 판정된 제품을 다시 품질검사를 하면 양품으로 판정되겠지만 추가 품질검사로 인한 시간 손실이 발생한다.
이와 같은 문제를 방지하기 위해서는 검사기의 문제를 제때 확인하고 정비하여 검사기 불량으로 양품인 제품이 불량으로 판정되지 않도록 해야 한다.
테스트 소켓은 검사기의 신호가 반도체나 카메라 모듈 등에 전달될 수 있도록 반도체나 카메라 모듈 등을 검사기와 연결하는 장치이다. 테스트 소켓이 검사기와 카메라 모듈(또는 반도체)을 연결하기 때문에 테스트 소켓은 신호를 전달할 때 왜곡 없이 전달할 수 있는 전기적 접촉 특성이 요구된다.
이러한 요구 사항을 만족시키기 위한 종래 테스트 소켓으로는 기계적 강도와 전기전도성이 우수한 포고 핀(Pogo Pin) 소켓이나 러버(Rubber) 소켓 등이 있다. 최근에는 러버 소켓보다 전기적 접촉 안정성이 높은 포고 핀 소켓이 테스트 소켓으로 많이 사용된다.
대한민국 공개특허공보 제2016-0078698호에는 도전성 필름이 코팅된 포고 핀을 구비한 반도체 검사장치가 개시되어 있다. 공개특허공보 제2016-0078698호에 개시된 바와 같이, 포고 핀은 보드 상에 제공된 배럴과 배럴에 삽입되는 플런저를 포함한다. 배럴은 가령 속이 빈 원통형일 수 있다. 배럴은 보드에 고정 설치될 수 있다. 배럴의 내부엔 플런저와 연결되는 스프링이 내장될 수 있다.
플랜저의 팁 부분은 크라운(crown) 형태나 반구형 또는 원뿔형을 형성한다. 도 1에는 원뿔형 접촉팁(3a)을 갖는 플랜저(3)를 도시하고 있다. 원뿔형의 접촉팁(3a)은 (테스트소켓을 닫는 과정에서) 전자부품(2)의 커넥터 단자(2a)와 한 쌍의 접촉점을 형성하게 된다. 도 1에서 도시하고 있는 커넥터 단자(2a)는 대한민국 공개특허공보 제2017-0033739호에 개시된 바와 같이 공지된 기술이다.
그러나 공개특허공보 제2016-0078698호에 개시된 바와 같이, 플랜저(3)를 가지는 포고 핀은 테스트소켓에 장착된 상태에서 유동이 구속되므로, 도 2에 도시된 바와 같이, 포고 핀과 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트(alignment)가 정확히 일치하지 않는 경우, 접촉팁(3a)과 커넥터 단자(2a)는 한 개의 접촉점만을 형성하는 문제가 있었다.
대한민국 공개특허공보 제2016-0078698호 (공개일: 2016.07.05) 대한민국 공개특허공보 제2017-0033739호 (공개일: 2017.03.27)
본 발명의 목적은, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어지는 자가 얼라인먼트형 접속핀을 제공하는 것이다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 테스트소켓에 장착되어 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 접속핀으로서, 제1 접촉팁을 형성하는 제1 플랜저; 상기 커넥터 단자와 접점을 형성하는 제2 접촉팁이 상기 제1 접촉팁과 반대쪽을 향하여 형성되는 제2 플랜저; 및 상기 제1 플랜저와 상기 제2 플랜저를 연결하는 압축스프링을 포함하고, 상기 제1 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 불일치하더라도 상기 제2 접촉팁이 상기 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 상기 압축스프링이 탄성 변형되면서 상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 것을 특징으로 하는 자가 얼라인먼트형 접속핀에 의하여 달성된다.
상기 커넥터 단자는, 상기 제2 접촉팁이 접속되는 방향으로 오목한 오목부와, 상기 오목부의 양쪽에서 상기 제2 접촉팁이 접속해제되는 방향으로 벌어지는 경사부를 포함하고, 상기 제2 접촉팁은, 상기 오목부로 삽입되는 돌출부와, 상기 돌출부의 양쪽에서 상기 경사부를 가압하는 가압부를 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 제2 플랜저에는 단차부가 형성되고, 상기 테스트소켓은, 상기 제1 플랜저가 장착되는 본체와, 상기 본체와 상대이동 가능하게 형성되고 상기 단차부가 걸리는 단턱이 형성된 플로터를 포함하며, 상기 단차부는, 상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 과정에서 상기 압축스프링의 탄성 회복력에 의해 상기 단턱에 걸린 상태를 유지하도록 이루어질 수 있다.
상기 제1 플랜저는, 상기 제1 접촉팁과 반대쪽에서 상기 압축스프링의 안쪽으로 연장되는 제1 접속부를 포함하고, 상기 제2 플랜저는, 상기 제2 접촉팁과 반대쪽에서 상기 압축스프링의 안쪽으로 연장되는 제2 접속부를 포함하며, 상기 제2 접촉팁이 상기 커넥터 단자에 접속될 때 상기 압축스프링이 탄성 압축되면서 상기 제1 접속부와 상기 제2 접속부가 서로 접속되도록 이루어질 수 있다.
상기 제1 접속부와 상기 제2 접속부 중 어느 하나는 중공관으로 이루어지고, 다른 하나는 상기 중공관에 삽입되는 로드(rod)로 이루어지며, 상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 거리는 상기 중공관의 내경과 상기 로드의 외경 간 차이에 구속되도록 이루어질 수 있다.
상기 중공관의 내부에는, 삽입되는 상기 로드에 의해 탄성 압축되면서 상기 제1 플랜저와 상기 제2 플랜저를 접속시키는 접속스프링이 구비되도록 이루어질 수 있다.
본 발명에 의하면, 제2 접촉팁이 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 압축스프링이 탄성 변형되면서 제2 플랜저와 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치됨으로써, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어지는 자가 얼라인먼트형 접속핀을 제공할 수 있게 된다.
도 1 및 도 2는 종래 테스트접속핀이 테스트소켓에 장착된 상태에서 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 상태를 나타내는 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 얼라인먼트형 접속핀의 사시도.
도 4는 도 3의 자가 얼라인먼트형 접속핀의 단면도.
도 5는 도 4의 자가 얼라인먼트형 접속핀의 부분확대도.
도 6 내지 도 9는 도 3의 자가 얼라인먼트형 접속핀이 테스트소켓에 장착된 상태에서 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 상태를 나타내는 도면.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 자가 얼라인먼트형 접속핀의 단면도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하면 다음과 같다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.
본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀은, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어진다.
도 1 및 도 2는 종래 테스트접속핀이 테스트소켓에 장착된 상태에서 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 상태를 나타내는 도면, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 얼라인먼트형 접속핀의 사시도, 도 4는 도 3의 자가 얼라인먼트형 접속핀의 단면도, 도 5는 도 4의 자가 얼라인먼트형 접속핀의 부분확대도, 도 6 내지 도 9는 도 3의 자가 얼라인먼트형 접속핀이 테스트소켓에 장착된 상태에서 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 상태를 나타내는 도면, 도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 자가 얼라인먼트형 접속핀의 단면도.
테스트소켓(1)은 검사기의 신호가 반도체, 카메라모듈 등 전자부품(2)에 전달될 수 있도록 전자부품(2)을 검사기와 연결하는 장치이다. 도 6에는 전자부품(2)의 일 예로 카메라모듈이 도시되었다.
휴대폰의 카메라모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short) 테스트, 칼라 테스트 및 픽셀 테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 된다. 카메라모듈의 성능평가시 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하며, 실제로 카메라모듈이 장착되는 전자장치와 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라모듈의 이상 유무를 체크한다.
도 6에 도시된 바와 같이, 이와 같은 검사는 테스트소켓(1)의 베이스(1C) 상면에 전자부품(2)을 안착시킨 후, 전자부품(2)의 커넥터 단자(2a)에 형성된 핀들을 테스트소켓(1) 본체(1A)의 핀블록에 장착된 접속핀(10)들과 연결한 후 테스트를 진행한다.
도 6 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 커넥터 단자(2a)는, 제2 접촉팁(220)이 접속되는 방향으로 오목한 오목부(2a1)와, 오목부(2a1)의 양쪽에서 제2 접촉팁(220)이 접속해제되는 방향(위쪽)으로 벌어지는 경사부(2a2)를 포함하여 구성된다.
상기한 커넥터 단자(2a)는 대한민국 공개특허공보 제2017-0033739호에 개시된 바와 같이 공지된 기술이다. 도 6 내지 도 9에서 커넥터 단자(2a)는 접속핀(10)과의 접속구조를 용이하게 이해할 수 있도록 단순화하여 도시되었다. 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은 공개특허공보 제2017-0033739호에 개시된 커넥터 이외에도 다양한 종류의 커넥터에 접속되는데에 사용될 수 있음은 물론이다.
또한, 도 6 내지 도 9에서 테스트소켓(1)이 개략적으로 도시되었으나, 본체(1A)가 베이스(1C)의 상부를 덮거나 여는 구조인 것으로 이해되어야 한다. 전자부품(2)을 테스트할 때는 본체(1A)를 열어 베이스(1C) 위에 전자부품(2)을 안착시킨 후 본체(1A)를 닫아 핀블록에 장착된 접속핀(10)을 커넥터 단자(2a)에 접속시킨다.
핀블록은 회로기판(PCB) 아래에서 커넥터 단자(2a)를 향해 돌출된 본체(1A)의 일부(이하 '블록몸체(B)') 및 플로터(1B)를 포함하여 구성된다. 자세하게 도시되지는 않았으나, 블록몸체(B)는 본체(1A)에 위치 고정되고, 플로터(1B)는 블록몸체(B)와 상하방향으로 상대이동 가능하게 형성된다. 도시되지는 않았으나, 플로터(1B)는 도 7의 상태에서 블록몸체(B)의 간섭에 의해 아래쪽으로의 이동이 구속된 것으로 이해되어야 한다.
도시되지는 않았으나, 플로터(1B)는 스프링(미도시)에 의해 블록몸체(B)로부터 아래쪽으로 가압된다. 플로터(1B)는 테스트소켓(1)이 닫힐 때 전자부품(2) 또는 베이스(1C)의 상면에 의해 밀려 블록몸체(B) 쪽으로 다소 상승하게 된다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은, 테스트소켓(1)에 장착되어 전자부품(2)의 커넥터 단자(2a)에 접속되는 부품으로서, 커넥터 단자(2a)와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자(2a)에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어진다.
본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은, 제1 플랜저(100), 제2 플랜저(200) 및 압축스프링(300)을 포함하여 구성된다. 이하에서는 본 발명의 용이한 이해를 위해 도면에 도시된 상태에서 상하를 구분하여 설명하기로 한다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 플랜저(100)는 제1 접촉팁(121)을 형성하는 구성으로서, 상부 및 하부에 단차가 있는 원통형 외관을 형성한다. 제1 플랜저(100)는 바디(110), 팁부(120) 및 제1 접속부(130)를 포함하여 구성된다.
바디(110), 팁부(120) 및 제1 접속부(130)는 도전성 금속으로 제작된다. 바디(110)는 파이프 형태를 형성하며 팁부(120)와 제1 접속부(130)를 서로 연결한다.
팁부(120)는 바디(110)의 상단부에 결합된다. 보다 구체적으로, 팁부(120)의 하단부는 바디(110)의 상단부 개구에 삽입결합된다. 팁부(120)는 그 상단부에 제1 접촉팁(121)을 형성한다. 제1 접촉팁(121)은 크라운(crown) 형태나 반구형 또는 원뿔형을 형성할 수 있다. 팁부(120)에는 제1 접촉팁(121)의 아래에 반지름방향으로 돌출된 단차부(122)가 형성된다.
블록몸체(B)에는 제1 플랜저(100)가 위쪽으로 삽입장착되는 홀이 형성되고, 블록몸체(B)의 상면에는 회로기판(PCB)이 배치된다. 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 접속핀(10)이 홀에 삽입된 상태에서 제1 접촉팁(121)은 회로기판(PCB)에 접촉된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 제1 접속부(130)는 제1 접촉팁(121)과 반대쪽(아래쪽)에 형성된다. 제1 접속부(130)는 바디(110)보다 작은 외경을 형성한다. 따라서 제1 접속부(130)와 바디(110) 사이에는 원주방향을 따라 단차(이하 '제1 단차')가 형성된다. 압축스프링(300)의 상부는 제1 접속부(130)의 외면을 감싸는 형태를 형성한다. 압축스프링(300)의 상단은 제1 단차에 걸려 바디(110)쪽으로의 이동이 차단된다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 제2 플랜저(200)는 커넥터 단자(2a)와 접점을 형성하는 제2 접촉팁(220)이 형성되는 구성으로서, 대략 상부 및 하부에 단차가 있는 원통형 외관을 형성한다. 제2 접촉팁(220)은 제1 접촉팁(121)과 반대쪽(아래쪽)을 향하여 형성된다.
제2 플랜저(200)는 몸체(210) 및 제2 접속부(230)를 포함하여 구성된다. 몸체(210) 및 제2 접속부(230)는 도전성 금속으로 제작된다.
몸체(210)의 상부(이하 '상부몸체')는 원통 형태를 형성하고, 몸체(210)의 하부(이하 '하부몸체')는 직육면체 형태를 형성한다. 상부몸체와 하부몸체의 형태 차이에 의해 상부몸체의 하단에는 (아래를 향하는 평면을 형성하는) 단차부(211)가 수평방향으로 서로 반대쪽에 형성된다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 플로터(1B)에는 하부몸체가 아래로 통과하는 통과홀(H)이 형성된다. 단차부(211)는 통과홀(H)을 통과하지 못하고 통과홀(H) 주변(이하 '단턱(C)')에 걸려 안착된다. 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 하부몸체의 외면은 통과홀(H)의 내면과 일정간격 이격된다.
도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 몸체(210)의 하단부에는 제2 접촉팁(220)이 형성된다. 제2 접촉팁(220)은 돌출부(221) 및 가압부(222)를 포함하여 구성된다.
돌출부(221)는 오목부(2a1)로 삽입되는 부분으로, 몸체(210)의 하단부 중간에서 아래쪽으로 돌출된 형태로 형성된다. 돌출부(221)의 하단부에서 커넥터 단자(2a)와 접촉하는 양측은 라운드진 형태를 형성한다.
가압부(222)는 돌출부(221)가 오목부(2a1)로 삽입된 상태에서 경사부(2a2)를 가압하는 부분으로, 돌출부(221)의 양쪽에 각각 형성된다. 가압부(222)는 돌출부(221)로부터 멀어질수록 경사부(2a2)를 향하여 돌출된다.
도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)이 커넥터 단자(2a)에 접속되면, 돌출부(221)의 양쪽 측면이 각각 오목부(2a1)와 접촉하고, 가압부(222)가 돌출부(221)의 양쪽에서 경사부(2a2)와 각각 접촉하여, 접속핀(10)과 커넥터 단자(2a)는 총 4개의 접촉점을 형성하며, 이에 따라 접속핀(10)과 커넥터 단자(2a)가 안정된 전기적 접점을 형성하는 이점이 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 제2 접속부(230)는 제2 접촉팁(220)과 반대쪽(위쪽)에 형성된다. 제2 접속부(230)는 상부몸체보다 작은 외경을 형성한다. 따라서 제2 접속부(230)와 몸체(210) 사이에는 원주방향을 따라 단차(이하 '제2 단차')가 형성된다. 압축스프링(300)의 하부는 제2 접속부(230)의 하단부 외면을 감싸는 형태를 형성한다. 압축스프링(300)의 하단은 제2 단차에 걸려 몸체(210)쪽으로의 이동이 차단된다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 압축스프링(300)은 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200)를 연결하는 구성으로서, 도전성 금속으로 이루어져 제2 접속부(230)가 커넥터 단자(2a)에 접속된 상태에서 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200) 간 전류가 이동하는 경로를 형성한다.
상술한 바와 같이, 압축스프링(300)의 상단부는 제1 접속부(130)의 외면을 감싸는 상태에서 제1 단차에 걸려 바디(110)쪽으로의 이동이 차단되고, 압축스프링(300)의 하단부는 제2 접속부(230) 하단부의 외면을 감싸는 상태에서 제2 단차에 걸려 몸체(210)쪽으로의 이동이 차단된다.
도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은, 압축스프링(300)이 일부 압축된 상태에서 제1 플랜저(100)가 회로기판(PCB)에 의해 가로막혀 위쪽으로 이동이 차단되고, 제2 플랜저(200)의 단차부(211)는 통과홀(H)을 통과하지 못하고 단턱(C)에 걸려 안착된 상태로 핀블록에 장착된다. 제1 접촉팁(121)은 압축스프링(300)의 탄성 회복력에 의해 회로기판(PCB)에 접촉된 상태를 유지하게 된다.
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 플로터(1B)는 테스트소켓(1)이 닫힐 때 전자부품(2) 또는 베이스(1C)의 상면에 의해 밀려 블록몸체(B) 쪽으로 다소 상승하게 되는데, 이 과정에서 단차부(211)는 압축스프링(300)의 탄성 회복력에 의해 단턱(C)에 걸린 상태를 유지하게 된다.
공개특허공보 제2016-0078698호에 개시된 바와 같이, 포고 핀은 테스트 소켓에 장착된 상태에서 유동이 구속되므로, 도 2에 도시된 바와 같이, 포고 핀과 터미널의 얼라인먼트(alignment)가 정확히 일치하지 않는 경우, 접촉 팁과 타측 터미널은 한 개의 접촉점만을 형성하는 문제가 있었다.
도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은, 제1 플랜저(100)와 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트가 불일치하더라도 제2 접촉팁(220)이 커넥터 단자(2a)에 접속되는 과정에서 압축스프링(300)이 탄성 변형되면서 제2 플랜저(200)와 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트가 일치되는 이점이 있다.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자가 얼라인먼트형 접속핀(10)은, 제1 플랜저(100)와 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트가 불일치한 경우, 테스트소켓(1)이 닫힐 때 돌출부(221)가 오목부(2a1)로 바로 삽입되지 못하고 경사부(2a2)에 먼저 접촉하게 된다.
이 상태에서 본체(1A)가 베이스(1C) 쪽으로 더 이동하게 되면, 압축스프링(300)이 좌굴(buckling) 변형과 유사한 형태로 탄성 변형되면서 돌출부(221)는 경사부(2a2)와의 접촉점에서 접선방향으로 미끄러지다가, 도 9에 도시된 바와 같이, 돌출부(221)가 오목부(2a1)로 삽입되면서 돌출부(221)의 양쪽 측면이 각각 오목부(2a1)와 접촉하고, 가압부(222)가 돌출부(221)의 양쪽에서 경사부(2a2)와 각각 접촉하여, 접속핀(10)과 커넥터 단자(2a)는 총 4개의 접촉점을 형성하게 된다.
도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 제2 플랜저(200)와 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트가 일치되는 과정에서, 단차부(211)는 압축스프링(300)의 탄성 회복력에 의해 단턱(C)에 걸린 상태를 유지하게 된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 제1 접속부(130)는 제1 접촉팁(121)과 반대쪽에서 압축스프링(300)의 안쪽으로 연장되고, 제2 접속부(230)는 제2 접촉팁(220)과 반대쪽에서 압축스프링(300)의 안쪽으로 연장된다. 도 4(a)는 도 7의 상태를 나타내고, 도 4(b)는 도 9의 상태를 나타내고 있다.
도 4(b)에 도시된 바와 같이, 제2 접촉팁(220)이 커넥터 단자(2a)에 접속될 때 압축스프링(300)이 탄성 압축되면서 제1 접속부(130)와 제2 접속부(230)가 서로 접속된다.
제1 접속부(130)와 제2 접속부(230)는 (제2 접촉팁(220)이 커넥터 단자(2a)에 접속될 때) 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200)를 연결하게 되며, 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200) 간 전류가 이동하는 경로를 압축스프링(300)과 함께 형성하게 된다.
제1 접속부(130)와 제2 접속부(230) 중 어느 하나는 중공관으로 이루어지고, 다른 하나는 중공관에 삽입되는 로드(rod)로 이루어질 수 있다. 도 3 내지 도 9에는 제1 접속부(130)가 중공관으로 이루어지고, 제2 접속부(230)가 로드로 이루어진 것을 나타내고 있다. 중공관의 내부는 로드가 삽입되는 삽입공간(130a)을 형성한다. 도 4에 도시된 바와 같이, 삽입공간(130a)은 바디(110)까지 연장될 수 있다.
도 5(b)는 도 9의 상태에서 제1 접속부(130)와 제2 접속부(230)의 단면을 나타낸다. 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 접속부(130)와 제2 접속부(230) 중 어느 하나는 중공관으로 이루어지고, 다른 하나는 중공관에 삽입되는 로드로 이루어지는 경우, 제2 플랜저(200)와 커넥터 단자(2a)의 얼라인먼트가 일치되는 거리는 중공관의 내경과 로드의 외경 간 차이에 구속된다.
즉, 로드가 중공관에 삽입된 상태에서 로드는 중공관의 내경과 로드의 외경 간 차이의 절반만큼만 수평방향 어느 한쪽으로 이동할 수 있으며, 이에 따라 압축스프링(300)이 좌굴 변형과 유사한 형태로 탄성 변형되는 과정에서 압축스프링(300)의 과도한 좌굴 변형이 방지되는 이점이 있다.
도 10에 도시된 바와 같이, 중공관의 내부에는, 삽입되는 로드에 의해 탄성 압축되면서 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200)를 접속시키는 접속스프링(400)이 구비될 수 있다. 접속스프링(400)은 도전성 금속으로 이루어져 제2 접속부(230)가 커넥터 단자(2a)에 접속된 상태에서 제1 플랜저(100)와 제2 플랜저(200) 간 전류가 이동하는 경로를 형성한다.
접속스프링(400)은 돌출부(221)가 경사부(2a2)를 미끄러지는 과정과 돌출부(221)가 오목부(2a1)에 삽입되는 과정에서 탄성 압축되면서 커넥터 단자(2a) 쪽으로 탄성 회복력을 형성하여, 돌출부(221)가 경사부(2a2)와의 접촉면에 형성된 정지마찰력을 극복하여 오목부(2a1) 쪽으로 미끄러지는 힘을 제공하게 된다.
본 발명에 의하면, 제2 접촉팁이 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 압축스프링이 탄성 변형되면서 제2 플랜저와 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치됨으로써, 커넥터 단자와의 얼라인먼트(alignment)가 불일치하더라도 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 얼라인먼트가 일치되게 조정되어 다수의 안정된 접촉점을 형성하도록 이루어지는 자가 얼라인먼트형 접속핀을 제공할 수 있게 된다.
앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 일이다. 따라서, 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안되며, 변형된 실시예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
10,20 : 접속핀
100 : 제1 플랜저 200 : 제2 플랜저
110 : 바디 210 : 몸체
120 : 팁부 211 : 단차부
121 : 제1 접촉팁 220 : 제2 접촉팁
122 : 단차부 221 : 돌출부
130 : 제1 접속부 222 : 가압부
130a : 삽입공간 230 : 제2 접속부
300 : 압축스프링 400 : 접속스프링
1 : 테스트소켓
1A : 본체 1B : 플로터
B : 블록몸체 C : 단턱
PCB : 회로기판 H : 통과홀
1C : 베이스
2 : 전자부품
2a : 커넥터 다자
2a1 : 오목부
2a2 : 경사부

Claims (6)

  1. 테스트소켓에 장착되어 전자부품의 커넥터 단자에 접속되는 접속핀으로서,
    제1 접촉팁을 형성하는 제1 플랜저;
    상기 커넥터 단자와 접점을 형성하는 제2 접촉팁이 상기 제1 접촉팁과 반대쪽을 향하여 형성되는 제2 플랜저; 및
    상기 제1 플랜저와 상기 제2 플랜저를 연결하는 압축스프링을 포함하고,
    상기 제1 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 불일치하더라도 상기 제2 접촉팁이 상기 커넥터 단자에 접속되는 과정에서 상기 압축스프링이 탄성 변형되면서 상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되며,
    상기 커넥터 단자는, 상기 제2 접촉팁이 접속되는 방향으로 오목한 오목부와, 상기 오목부의 양쪽에서 상기 제2 접촉팁이 접속해제되는 방향으로 벌어지는 경사부를 포함하고,
    상기 제2 접촉팁은, 상기 오목부로 삽입되는 돌출부와, 상기 돌출부의 양쪽에서 상기 경사부를 가압하는 가압부를 포함하며,
    상기 제2 플랜저에는 단차부가 형성되고,
    상기 테스트소켓은, 상기 제1 플랜저가 장착되는 본체와, 상기 본체와 상대이동 가능하게 형성되고 상기 단차부가 걸리는 단턱이 형성된 플로터를 포함하며,
    상기 단차부는, 상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 과정에서 상기 압축스프링의 탄성 회복력에 의해 상기 단턱에 걸린 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 자가 얼라인먼트형 접속핀.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 플랜저는, 상기 제1 접촉팁과 반대쪽에서 상기 압축스프링의 안쪽으로 연장되는 제1 접속부를 포함하고,
    상기 제2 플랜저는, 상기 제2 접촉팁과 반대쪽에서 상기 압축스프링의 안쪽으로 연장되는 제2 접속부를 포함하며,
    상기 제2 접촉팁이 상기 커넥터 단자에 접속될 때 상기 압축스프링이 탄성 압축되면서 상기 제1 접속부와 상기 제2 접속부가 서로 접속되는 것을 특징으로 하는 자가 얼라인먼트형 접속핀.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 접속부와 상기 제2 접속부 중 어느 하나는 중공관으로 이루어지고, 다른 하나는 상기 중공관에 삽입되는 로드(rod)로 이루어지며,
    상기 제2 플랜저와 상기 커넥터 단자의 얼라인먼트가 일치되는 거리는 상기 중공관의 내경과 상기 로드의 외경 간 차이에 구속되는 것을 특징으로 하는 자가 얼라인먼트형 접속핀.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 중공관의 내부에는, 삽입되는 상기 로드에 의해 탄성 압축되면서 상기 제1 플랜저와 상기 제2 플랜저를 접속시키는 접속스프링이 구비되는 것을 특징으로 하는 자가 얼라인먼트형 접속핀.
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