KR101312340B1 - Probe and fixture - Google Patents

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기요시 누마타
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Abstract

(과제) 기판의 미세화 및 복잡화에 대응할 수 있을 뿐만 아니라, 검사시에는 강한 압력을 제공하고 또한 비검사시에는 약한 압력을 제공 할 수 있는 미세한 접촉자 및 이 접촉자를 사용한 검사용 치구의 제공.
(해결수단) 피검사대상이 되는 복수의 검사점을 구비하는 피검사물과, 상기 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치를 전기적으로 접속하는 검사용 치구로서, 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부를 복수 구비하는 전극체와, 전극부와 검사점을 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자와, 검사용 접촉자는, 양단에 개구부를 구비하고, 선단 개구부가 전극부의 표면과 접촉하는 도전성의 통상부재와, 통상부재의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 통상부재 내부에 배치되며, 후단이 검사점에 접촉하는 도전성의 봉상부재와, 통상부재와 봉상부재를 전기적으로 접속하는 고정부를 구비하고, 통상부재는, 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제1홈부와, 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제2홈부를 구비하고, 제1홈부 또는 제2홈부 중의 어느 하나가, 봉상부재가 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때에, 수축 한계에 도달하는 것을 특징으로 한다.
(Problem) The provision of a micro contactor and an inspection jig using the contactor, which can not only cope with the miniaturization and complexity of the substrate, but also provide a strong pressure during inspection and a weak pressure during non-inspection.
(Measures) An inspection jig for electrically connecting an inspection object having a plurality of inspection points to be inspected and an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points, wherein the electrode portion is electrically connected to the inspection device. A plurality of electrode bodies, an inspection contact for electrically connecting the electrode portion and the inspection point, and an inspection contact have openings at both ends, and a conductive ordinary member having a tip opening contacting the surface of the electrode portion, The conductive member is disposed inside the normal member while protruding from the rear end opening of the member, and has a conductive rod-like member whose rear end contacts the inspection point, and a fixing part for electrically connecting the normal member and the rod-shaped member. The first groove portion in which the spiral grooves extending in the longitudinal direction are formed in the wall portion, and the spiral grooves stretching in the longitudinal direction in the wall portion of the ordinary member. A second groove portion that is provided, and the first time any one of the first groove or the second groove has, to be conducted to check the stick-shaped member is in contact with the test point, it characterized in that it reaches the contraction limit.

Description

검사용 접촉자 및 검사용 치구{PROBE AND FIXTURE}Inspection contact and inspection jig {PROBE AND FIXTURE}

본 발명은 피검사물(被檢査物)의 검사대상부(檢査對象部) 상에 미리 설정된 검사점(檢査点)과 이 검사를 실시하는 검사장치(檢査裝置)를 전기적으로 접속하는 검사용 치구(檢査用治具) 및 검사용 치구에 사용되는 검사용 접촉자(檢査用接觸子)에 관한 것이다.
The present invention is an inspection jig for electrically connecting an inspection point set in advance on an inspection target portion of an object to be inspected and an inspection device that performs this inspection. The present invention relates to an examination contactor used in an examination tool and an examination jig.

검사용 접촉자가 부착된 검사용 치구는, 검사장치로부터 이 검사용 접촉자를 경유하여 피검사물이 구비하는 검사대상부의 소정의 검사위치에 전류 또는 전기신호를 공급함과 동시에 검사대상부로부터 전기신호를 검출함으로써, 검사대상부의 전기적 특성을 검출하거나 동작시험 등을 실시한다.The inspection jig with the inspection contact is supplied from the inspection device to the predetermined inspection position of the inspection target portion provided by the inspection object via the inspection contact, and at the same time detects the electrical signal from the inspection target portion. In this case, the electrical characteristics of the inspection subject are detected or operation tests are performed.

피검사물로는, 예를 들면 프린트 배선 기판, 플렉시블 기판, 세라믹 다층배선 기판, 액정 디스플레이, 플라즈마 디스플레이용 전극판, 반도체 패키지용 패키지 기판, 필름 캐리어 등의 다양한 기판이나, 반도체 웨이퍼, 반도체칩, CSP(Chip size package) 등의 반도체장치가 있다.Examples of the inspection object include various substrates such as printed wiring boards, flexible substrates, ceramic multilayer wiring boards, liquid crystal displays, plasma display electrode plates, semiconductor package package substrates, film carriers, semiconductor wafers, semiconductor chips, and CSPs. And a semiconductor device such as a chip size package.

본 명세서에서는 상기의 피검사물을 총칭하여 "피검사물"이라고 하고, 피검사물에 형성된 검사대상부를 "검사부"라고 한다. 또한 검사부에는 이 검사부의 전기적 특성을 실제로 검사하기 위한 검사점이 설정되고, 이 검사점에 접촉자를 압접(押接)함으로써 검사부와 도통상태(導通狀態)가 된다.In this specification, the above-mentioned test object is collectively called "the test object", and the test target part formed in the test object is called an "inspection part". In addition, an inspection point is set in the inspection portion for actually inspecting the electrical characteristics of the inspection portion, and the contact point is press-contacted to this inspection point, thereby bringing into contact with the inspection portion.

이러한 검사용 치구는 접촉자의 일단이 배선(검사부)상의 검사점에 압접되고, 그 타단이 기판검사장치와 전기적으로 접속된 전극부에 압접된다. 그리고 이 검사용 치구를 통하여 배선의 전기적 특성을 측정하기 위한 전류나 전압이 기판검사장치로부터 공급됨과 동시에, 배선으로부터 검출되는 전기적 신호를 기판검사장치로 송신하게 된다.In this inspection jig, one end of the contactor is pressed against the inspection point on the wiring (inspection portion), and the other end is pressed against the electrode portion electrically connected to the substrate inspection apparatus. Through this inspection jig, a current or voltage for measuring electrical characteristics of the wiring is supplied from the board inspection apparatus, and an electrical signal detected from the wiring is transmitted to the substrate inspection apparatus.

이러한 검사용 치구는, 그 예로 특허문헌1에 개시된 치구를 들 수 있다. 특허문헌1의 검사용 치구에는 도전성 가동체(導電性可動體, 접촉자)에 코일스프링(Coiled spring)이 장착되어 있다. 이러한 검사용 치구에서는, 접촉자가 홀더에 장착될 때에 코일스프링이 수축함으로써 도전부쪽으로 눌리게 되어, 도전부와 접촉자 간의 양호한 접촉상태가 제공된다.The jig | tool disclosed by patent document 1 is mentioned as such an inspection jig | tool. In the inspection jig of Patent Document 1, a coiled spring is attached to a conductive movable body (contactor). In such an inspection jig, when the contactor is mounted on the holder, the coil spring contracts and is pressed toward the conductive portion, thereby providing a good contact state between the conductive portion and the contactor.

또한 접촉자는 검사점의 표면에 형성된 산화막 등의 절연층을 부수고 검사점과 접촉하여 도통하기 위하여, 접촉자가 검사점에 접촉한 후에 코일스프링이 소정량(소정의 길이) 수축함으로써 소정의 압력을 얻을 수 있도록 조정되어 있다.In addition, the contactor obtains a predetermined pressure by contracting the coil spring by a predetermined amount (a predetermined length) after the contactor comes into contact with the inspection point so as to break an insulating layer such as an oxide film formed on the surface of the inspection point and contact with the inspection point. It is adjusted to be.

특히 최근엔 기판에 검사점이 많이 설정되기 때문에 이들 검사점과 대응해야 하는 접촉자도 다수 홀더에 장착된다. 이 때문에 상기 설명과 같이 접촉자수가 증가하면 수축되는 코일스프링도 증가하므로 홀더에는 큰 힘이 부하된다. 큰 힘이 부하된 홀더는 이 코일스프링의 힘에 의하여 전체가 휘어버리는 문제점이 있었다. 한편 홀더에 가해지는 힘을 저감시키기 위해서 코일스프링의 탄성력을 저하시키는 방법을 고려할 수 있으나, 이 경우 소정의 길이만큼 수축되었을 때에 코일스프링이 검사자가 원하는 압력을 제공할 수 없게 되고, 접촉자와 검사점이 충분한 압력으로 접촉하여 도통할 수 없게 되는 문제점이 있었다.
In particular, since a lot of inspection points are set on the substrate recently, a number of contactors that must correspond to these inspection points are also mounted in the holder. For this reason, as described above, when the number of contacts increases, the coil spring that contracts also increases, so that a large force is applied to the holder. The holder loaded with a large force had a problem that the whole bent by the force of the coil spring. In order to reduce the force applied to the holder, a method of reducing the elastic force of the coil spring may be considered, but in this case, when the coil spring is contracted by a predetermined length, the coil spring may not provide the pressure desired by the inspector, There was a problem in that it could not be contacted with sufficient pressure.

일본국 공개특허 특개2003-215160호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2003-215160

본 발명은 기판의 미세화 및 복잡화에 대응할 수 있을 뿐만 아니라, 검사시에는 강한 압력을 제공하고, 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있는 미세한 접촉자 및 이 접촉자를 이용한 검사용 치구를 제공한다.
The present invention not only can cope with the miniaturization and complexity of the substrate, but also provides a micro contactor and an inspection jig using the contactor that can provide a strong pressure during inspection and a weak pressure during non-inspection.

청구항1에 기재되어 있는 발명은,According to an aspect of the present invention,

피검사대상이 되는 복수의 검사점을 구비하는 피검사물과, 해당 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치를 전기적으로 접속하는 검사용 치구로서,An inspection jig for electrically connecting an inspection object having a plurality of inspection points to be inspected and an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points,

상기 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(電極部)를 복수 구비하는 전극체(電極體)와,An electrode body having a plurality of electrode portions electrically connected to the inspection apparatus;

상기 전극부와 상기 검사점을 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자와,An inspection contact for electrically connecting the electrode portion and the inspection point;

상기 검사용 접촉자를 지지하는 지지체(支持體)를A support for supporting the inspection contact

구비하고,Respectively,

상기 검사용 접촉자는,The contact for inspection,

양단에 개구부(開口部)를 구비하고 선단 개구부가 상기 전극부의 표면과 접촉하는 도전성의 통상부재(筒狀部材)와,A conductive ordinary member having openings at both ends and having a tip opening contacting the surface of the electrode portion;

상기 통상부재의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 통상부재 내부에 배치되고, 후단이 상기 검사점에 접촉하는 도전성의 봉상부재(棒狀部材)와,A conductive rod-shaped member disposed inside the normal member while protruding from the rear end opening of the normal member, the rear end of which is in contact with the inspection point;

상기 통상부재와 상기 봉상부재를 전기적으로 접속하는 고정부(固定部)를A fixing portion for electrically connecting the ordinary member and the rod-shaped member

구비하고,Respectively,

상기 지지체는,The support,

상기 선단 개구부를 상기 전극체로 안내하는 제1안내구멍을 구비하는 제1판상부재(板狀部材)와,A first plate member having a first guide hole for guiding the tip opening portion to the electrode body;

상기 봉상부재의 후단을 상기 검사점으로 안내하는 제2안내구멍을 구비하는 제2판상부재를A second plate-like member having a second guide hole for guiding a rear end of the rod-like member to the inspection point;

구비하고,Respectively,

상기 통상부재는,The ordinary member,

상기 전극부의 표면과 접촉하는 선단 개구부를 구비하면서 상기 봉상부재의 선단부가 내부에 수용되는 상통부(上筒部)와,A top portion having a tip opening portion in contact with the surface of the electrode portion and having a tip portion of the rod-shaped member housed therein;

상기 상통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 상통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축(長軸)방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제1홈부와,A first groove portion formed to have the same diameter as the upper portion and connected to the upper portion, and having a spiral groove extending in a long axis direction in a wall portion of the ordinary member;

상기 제1홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제1홈부와 통하도록 연결되는 중통부(中筒部)와,A middle barrel portion formed to have the same diameter as the first groove portion and connected to the first groove portion;

상기 중통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 중통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제2홈부와,A second groove portion which is formed to have the same diameter as the middle barrel portion and is connected to communicate with the middle barrel portion and has a spiral groove extending in the longitudinal direction in the wall portion of the ordinary member;

상기 제2홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 상기 고정부를 구비하는 하통부(下筒部)를It is formed to have the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, the lower cylinder portion having the fixing portion

구비하고,Respectively,

상기 봉상부재가 상기 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 상기 제1홈부 또는 상기 제2홈부 중의 어느 하나가 수축(收縮) 한계에 도달하는 것을 특징으로 하는 검사용 치구를When the rod-shaped member is in contact with the inspection point when the inspection is carried out, the inspection jig, characterized in that any one of the first groove portion or the second groove portion reaches the shrinkage limit.

제공한다.to provide.

청구항2에 기재되어 있는 발명은,The invention described in claim 2,

상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치(Pitch)가 서로 다른 것을 특징으로 하는 청구항1에 기재된 검사용 치구를 제공한다.It provides a test jig according to claim 1, characterized in that pitches of spirals of the first groove portion and the second groove portion are different from each other.

청구항3에 기재되어 있는 발명은,The invention described in claim 3,

상기 제1홈부의 홈폭이 상기 제2홈부의 홈폭과 다른 것을 특징으로 하는 청구항1 또는 2에 기재되어 있는 검사용 치구를 제공한다.It provides a test jig according to claim 1 or 2, wherein the groove width of the first groove portion is different from the groove width of the second groove portion.

청구항4에 기재되어 있는 발명은,The invention described in claim 4,

피검사대상이 되는 피검사물의 복수의 검사점과, 상기 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치에 전기적으로 접속되는 검사용 치구의 전극체에 복수 구비된 전극부를 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자로서,An inspection contact for electrically connecting a plurality of inspection points of an object to be inspected and a plurality of electrode portions provided in an electrode body of an inspection jig electrically connected to an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. ,

상기 검사용 접촉자는,The contact for inspection,

선단 개구부가 상기 전극부와 접촉하는 전극단이 되는 외측 통체(外側筒體)와,An outer cylinder whose tip opening portion is an electrode end in contact with the electrode portion,

상기 외측 통체의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 외측 통체 내부에 전기적으로 접속되고 동축(同軸)으로 배치되고, 후단부가 상기 검사점에 압접되는 검사단(檢査端)이 되는 도전성의 내측 통체(內側筒體)를A conductive inner cylinder that protrudes from the rear end opening of the outer cylinder and is electrically connected to the inside of the outer cylinder and disposed coaxially, and the rear end of the outer cylinder is an inspection end that is pressed against the inspection point. )

구비하고,Respectively,

상기 외측 통체는,The outer cylinder is,

상기 전극단이 되는 선단 개구부를 구비하는 외측 상통부와,An outer upper cylindrical portion having a tip opening which becomes the electrode end;

상기 외측 상통부와 동일한 직경이고 선단 개구부가 상기 외측 상통부의 후단 개구부와 통하도록 연결되면서 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상(筒狀)의 제1홈부와,A first first groove portion having the same diameter as that of the outer upper cylindrical portion and having a spiral groove formed at an edge thereof in a axial direction, the leading end opening being connected to the rear opening of the outer upper cylindrical portion;

상기 제1홈부와 동일한 직경이고 상기 제1홈부의 후단 개구부와 통하도록 연결되는 외측 중통부를An outer barrel portion having the same diameter as the first groove portion and connected to communicate with a rear opening of the first groove portion;

구비하고,Respectively,

상기 외측 중통부와 동일한 직경이고 상기 외측 중통부와 통하도록 연결되고, 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상의 제2홈부와,A normal second groove portion having the same diameter as the outer barrel portion and connected to communicate with the outer barrel portion, and having a spiral groove formed at an edge thereof in a long axis direction;

상기 제2홈부와 동일한 직경이고 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 고정부를 구비하는 외측 하통부를The outer lower cylinder portion having the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, and having a fixing portion.

구비하고,Respectively,

상기 내측 통체는,The inner cylinder is,

상기 검사단이 되는 후단부를 구비하는 내측 하통부와,An inner lower barrel portion having a rear end portion to be the inspection end;

상기 외측 통체의 내부에 배치되는 내측 상통부를An inner upper barrel disposed inside the outer cylinder

구비하고,Respectively,

상기 고정부는,The fixing part,

상기 외측 통체와 상기 내측 통체를 전기적으로 접속하면서 고정하고,Fixed while electrically connecting the outer cylinder and the inner cylinder,

상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치가 다른 것을 특징으로 하는 검사용 접촉자를Inspection contact, characterized in that the pitch of the spiral of the first groove portion and the second groove portion is different

제공한다.
to provide.

청구항1 및 4에 기재된 발명에 의하면, 나선상의 홈부를 2군데 구비한 도전성의 통상부재의 내부에, 도전성의 봉상부재가 동축으로 배치되면서 전기적으로 접속되어 고정되어 있기 때문에, 이들 통상부재와 봉상부재는 하나의 검사용 접촉자로서 기능하게 된다. 통상부재에 형성된 홈부는 통상부재에 일체적으로 형성되어 있고, 장축방향으로 수축하는 탄성부로서 기능한다. 즉 이 검사용 접촉자는 통상부재와 봉상부재와 고정부로만 형성되도록 되어있다. 이로써 코일스프링을 사용하는 검사용 접촉자보다 부품수를 저감할 수 있고, 검사용 접촉자를 간소하게 형성할 수 있다. 또한 이 검사용 접촉자는, 검사시에는 강한 압력을 제공하면서, 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있는 미세한 접촉자 및 이 접촉자를 사용한 검사용 치구를 제공한다. 청구항2에 기재된 발명에 의하면, 제1홈부와 제2홈부의 나선 피치를 다르게 함으로써 검사시와 비검사시의 압력의 차이를 간단히 발생시킬 수 있다. 청구항3에 기재된 발명에 의하면, 제1홈부와 제2홈부의 홈폭을 다르게 함으로써 검사시와 비검사시의 압력의 차이를 간단히 발생시킬 수 있다.
According to the invention of Claims 1 and 4, since the electrically conductive rod-like member is electrically connected and fixed while being disposed coaxially inside the electrically conductive ordinary member having two spiral groove portions, these ordinary members and the rod-like member are fixed. Will function as a test contact. The groove portion formed in the ordinary member is formed integrally with the ordinary member and functions as an elastic portion that contracts in the major axis direction. In other words, the contact for inspection is formed only of the ordinary member, the rod-shaped member, and the fixed portion. Thereby, the number of parts can be reduced rather than the inspection contact which uses a coil spring, and the inspection contact can be formed simply. The inspection contact also provides a fine contact and an inspection jig using the contactor, which can provide a strong pressure during the inspection and a weak pressure during the non-inspection. According to the invention as set forth in claim 2, it is possible to easily generate a difference in pressure at the time of inspection and non-inspection by varying the spiral pitch of the first groove portion and the second groove portion. According to the invention described in claim 3, it is possible to easily generate a difference in pressure at the time of inspection and non-inspection by varying the groove width of the first groove portion and the second groove portion.

도1은 본 발명에 관한 검사용 치구를 나타내는 개략적인 구성도이다.
도2는 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 개략적인 단면도이다.
도3은 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 통상부재의 개략적인 단면도이다.
도4는 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 봉상부재의 개략적인 단면도이다.
도5는 본 발명에 관한 검사용 접촉자가 장착된 상태를 나타내는 개략적인 단면도이다.
도6은 본 발명에 관한 검사용 치구의 검사시 동작상태를 나타내는 개략적인 단면도이다.
1 is a schematic configuration diagram showing an inspection jig according to the present invention.
2 is a schematic cross-sectional view of an inspection contact according to the present invention.
3 is a schematic cross-sectional view of a normal member of an inspection contact according to the present invention.
4 is a schematic cross-sectional view of the rod-like member of an inspection contact according to the present invention.
5 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a test contact is mounted according to the present invention.
6 is a schematic cross-sectional view showing an operation state during inspection of the inspection jig according to the present invention.

본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태를 설명한다. 도1은 본 발명에 관한 검사용 치구의 제1실시형태를 나타내는 개략적인 구성도이다. 본 발명에 관한 검사용 치구(1)는 복수의 접촉자(2), 이들 접촉자(2)를 다침(多針) 형태로 고정하는 지지체(3), 이 지지체(3)를 지지하면서 각 접촉자(2)와 접촉하여 도통상태가 되는 전극부(41)를 구비하는 전극체(4), 전극부(41)로부터 전기적으로 접속되어 연장되는 도선부(5)를 구비한다. 또한 도1에서는 복수의 접촉자(2)로서 3개의 접촉자가 나타나고 동시에 각각에 대응하는 3개의 도선부(5)가 나타나있지만, 이들은 3개에 한정되는 것이 아니라 검사대상으로 설정되는 검사점의 개수에 따라 결정할 수 있다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The best mode for carrying out the present invention will be described. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of an inspection jig according to the present invention. The inspection jig 1 according to the present invention includes a plurality of contacts 2, a support 3 which fixes these contacts 2 in a multiplied form, and each contactor 2 while supporting the support 3. ), An electrode body 4 having an electrode portion 41 which is brought into a conductive state, and a conductor portion 5 electrically connected to and extending from the electrode portion 41. In addition, in Fig. 1, three contacts are shown as a plurality of contacts 2 and three conductors 5 corresponding to each of them are shown at the same time. Can be decided accordingly.

본 발명은 도전성의 통상부재에 형성된 홈부가 탄성부로서 기능하는 것을 이용하고, 적어도 2군데에 형성한 홈부의 탄성특성을 변화시킴으로써 검사에 필요한 접촉압과, 전극부(41)와 상시접촉을 위한 압접력을 공급할 수 있는 것을 특징으로 하고 있다. 본 발명과 같이 검사용 접촉자를 구성함으로써 기판의 미세화 및 복잡화에 대응할 수 있을 뿐만 아니라, 부품수를 저감하여 간소화할 수 있고, 또한 검사시에는 검사점에 큰 접촉압을 제공하면서, 비검사시에는 지지체에 작은 접촉압을 제공할 수 있다.According to the present invention, the groove portion formed in the conductive ordinary member functions as an elastic portion, and the contact pressure necessary for the inspection and the constant contact with the electrode portion 41 are varied by changing the elastic characteristics of the groove portion formed in at least two places. It is characterized by being able to supply a pressure contact force. By constructing a contactor for inspection as in the present invention, it is possible not only to cope with the miniaturization and complexity of the substrate, but also to reduce and simplify the number of parts, and to provide a large contact pressure at the inspection point during inspection, It is possible to provide a small contact pressure to the support.

본 발명의 검사용 치구에 사용되는 검사용 접촉자(2)에 대하여 설명한다. 도2는 본 발명에 관한 검사용 접촉자(2)의 개략적인 단면도이다. 검사용 접촉자(2)는 일단이 검사점에 접촉하여 도통하고, 타단이 후술하는 전극부(41)에 접촉하여 도통함으로써 검사점과 전극부를 전기적으로 접속한다.The inspection contact 2 used for the inspection jig of the present invention will be described. 2 is a schematic cross-sectional view of the inspection contact 2 according to the present invention. One end of the inspection contact 2 is electrically connected to the inspection point, and the other end is electrically connected to the electrode portion 41, which will be described later.

이러한 검사용 접촉자(2)는 통상부재(21)와 봉상부재(22)로 구성된다(도2 참조). 통상부재(21)는 양단에 개구부(21a, 2lb)를 구비하고, 일방의 선단 개구부(21a)가 전극부(41)의 표면과 접촉한다. 이 통상부재(21)는 도전성의 소재로 형성되는데, 예를 들면 구리, 니켈 또는 이들 합금으로 형성할 수 있다.This inspection contact 2 is composed of a normal member 21 and a rod-shaped member 22 (see Fig. 2). The ordinary member 21 is provided with openings 21a and 2lb at both ends, and one tip opening portion 21a is in contact with the surface of the electrode portion 41. The ordinary member 21 is formed of a conductive material, for example, copper, nickel or an alloy thereof.

도3은 본 발명에 관한 통상부재의 개략적인 단면도이다. 이 통상부재(21)는, 도3에 나타나 있는 바와 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하고 있다. 상통부(21c)는 전극부(41)의 표면과 접촉하는 선단 개구부(21a)를 구비하면서, 후술하는 봉상부재(22)의 후단부(22a)를 내부에 수용한다. 이 상통부(21c)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다.3 is a schematic cross-sectional view of a conventional member according to the present invention. As shown in Fig. 3, the ordinary member 21 includes an upper cylinder portion 21c, a first groove portion 21d, a middle cylinder portion 21e, a second groove portion 21f, and a lower cylinder portion 21g. . The upper cylinder portion 21c has a tip opening portion 21a in contact with the surface of the electrode portion 41, and accommodates the rear end portion 22a of the rod-shaped member 22 described later. The upper cylinder portion 21c is a part of the ordinary member 21, and its outer diameter and inner diameter are the same as those of the ordinary member 21.

제1홈부(21d)는 상통부(21c)와 동일한 직경으로 형성되면서, 상통부(21c)와 통하도록 연결되고, 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 통상부재(21)의 벽부에 형성되어 만들어진다. 이 제1홈부(21d)는 통상부재(21)의 벽면에 형성되므로, 외경(外俓) 및 내경(內俓)이 통상부재(21)와 같은 형상이 된다.The first groove portion 21d is formed to have the same diameter as the upper cylinder portion 21c, is connected to communicate with the upper cylinder portion 21c, and a spiral groove extending in the longitudinal direction is formed in the wall portion of the ordinary member 21. . Since the first groove 21d is formed on the wall surface of the ordinary member 21, the outer diameter and the inner diameter are the same as those of the normal member 21.

중통부(21e)는 제1홈부(21d)와 동일한 직경으로 형성되면서, 제1홈부(21d)와 통하도록 연결된다. 이 중통부(21e)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다.The middle barrel portion 21e is formed to have the same diameter as the first groove portion 21d and is connected to communicate with the first groove portion 21d. The middle barrel portion 21e is a part of the ordinary member 21, and the outer diameter and the inner diameter are the same as those of the normal member 21.

제2홈부(21f)는 중통부(21e)와 동일한 직경으로 형성되면서, 중통부(21e)와 통하도록 연결되고, 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 통상부재(21)의 벽부에 형성되어 만들어진다. 이 제2홈부(21f)는 통상부재(21)의 벽면에 형성되므로, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이 된다.The second groove portion 21f is formed to have the same diameter as the barrel portion 21e, is connected to communicate with the barrel portion 21e, and a spiral groove extending in the longitudinal direction is formed in the wall portion of the ordinary member 21. . Since the second groove portion 21f is formed on the wall surface of the ordinary member 21, the outer diameter and the inner diameter become the same shape as the normal member 21.

하통부(21g)는 제2홈부(21f)와 동일한 직경으로 형성되면서, 제2홈부(21f)와 통하도록 연결된다. 하통부(21g)는 후술하는 봉상부재(22)와 통상부재(21)를 고정함과 동시에 전기적으로 접속하기 위한 고정부(23)를 구비한다. 이 하통부(21g)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다. 또한 이 하통부(21g)는 후단 개구부(2lb)를 구비하고 있다.The lower tube portion 21g is formed to have the same diameter as the second groove portion 21f and is connected to communicate with the second groove portion 21f. The lower cylinder portion 21g includes a fixing portion 23 for fixing the rod-like member 22 and the ordinary member 21 to be described later and electrically connecting the same. The lower cylinder portion 21g is a part of the ordinary member 21, and the outer diameter and the inner diameter are the same as those of the normal member 21. Moreover, this lower cylinder part 21g is provided with rear end opening part 2lb.

통상부재(21)는, 상기 설명과 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하여 형성되고, 각 부가 통상부재(21)를 구성하게 된다.As described above, the ordinary member 21 is provided with an upper barrel portion 21c, a first groove portion 21d, a middle barrel portion 21e, a second groove portion 21f, and a lower cylinder portion 21g. The ordinary member 21 is constituted.

제1홈부(21d)는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때(검사시)에 수축 한계에 도달한다. 이는 제1홈부(21d)에 형성된 홈에 의한 공간이, 제1홈부(21d)가 수축함으로 인해 없어진 상태가 되어, 수축 한계에 도달하게 되는 것이다. 수축 한계에 도달한 제1홈부(21d)는 더 이상 수축하지 않기 때문에 상통부(21c), 중통부(21e), 하통부(21g)와 같이 기능하게 된다.The first groove portion 21d reaches the shrinkage limit when the rod-shaped member 22 contacts the inspection point and is examined (at the time of inspection). This is because the space formed by the groove formed in the first groove 21d is in a state where the first groove 21d is deflated, thereby reaching a contraction limit. Since the first groove portion 21d reaching the shrinkage limit no longer contracts, the first groove portion 21d functions as the upper cylinder portion 21c, the middle cylinder portion 21e, and the lower cylinder portion 21g.

상기의 설명과 같이, 검사시에 제1홈부(21d)는 수축 한계에 도달하지만, 제2홈부(21f)는 수축 한계에 도달하지 않는다. 이는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉할 때에 제2홈부(21f)의 수축량에 여유를 갖게함으로써 검사점(범프) 높이의 불균일을 제2홈부(21f)의 수축에 의해 흡수할 수 있기 때문이다.As described above, the first groove 21d reaches the shrinkage limit during the inspection, but the second groove 21f does not reach the shrinkage limit. This is because the non-uniformity of the inspection point (bump) height can be absorbed by the contraction of the second groove 21f by allowing the shrinkage amount of the second groove 21f to have a margin when the rod-shaped member 22 contacts the inspection point. to be.

봉상부재(22)가 검사점에 접촉하지 않을 때(비검사시), 검사용 접촉자(2)는 후술하는 지지체(3)에 지지된 상태이기 때문에, 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 수축된 상태가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계 가까이까지 수축된 상태이고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 된다. 즉 비검사시에는, 제1홈부(21d)는 크게 수축되고 제2홈부(21f)는 약간 수축된다. 검사시에는, 제1홈부(21d)는 더 이상 수축되지 않고(수축 한계에 도달하기 때문에), 제2홈부(21f)만 수축되게 된다.When the rod-shaped member 22 does not contact the inspection point (non-inspection), the inspection contact 2 is supported by the support 3, which will be described later, so that the first groove 21d and the second groove portion ( 21f) is in a contracted state. At this time, the first groove 21d is contracted to near the contraction limit, and the second groove 21f is slightly contracted. In other words, during the non-inspection, the first groove 21d is greatly contracted and the second groove 21f is slightly contracted. At the time of inspection, the first groove 21d is no longer contracted (since the shrinkage limit is reached), and only the second groove 21f is contracted.

제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 상기와 같이 검사시와 비검사시에 있어서 기능이 다른데, 이 기능의 차이를 구비하기 위해서 나선의 피치를 다르게 형성한다. 통상부재의 1실시형태의 개략적인 단면도를 나타내는 도3에서는, 제1홈부(21d)의 나선 피치(d1)와 제2홈부(21f)의 나선 피치(d2)가 다르게 형성되어 있다. 이 도3에서는 제1홈부(21d)의 나선 피치(d1)가 짧고, 제2홈부(21f)의 나선 피치가 길어지도록 상대적으로 형성되어 있다. 또한 도3에서는 제1홈부(21d)를 형성하는 벽면의 폭과 제2홈부(21f)를 형성하는 벽면의 폭이 같은 길이로 형성되어 있다. 또 이들 나선폭은 특별히 한정되는 것은 아니고 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 기능을 발휘할 수 있으면 임의로 조정할 수 있다.The first groove portion 21d and the second groove portion 21f have different functions at the time of inspection and non-inspection as described above, so that the pitch of the spiral is formed differently in order to have a difference in this function. In Fig. 3 showing a schematic sectional view of one embodiment of the ordinary member, the spiral pitch d1 of the first groove 21d and the spiral pitch d2 of the second groove 21f are formed differently. In FIG. 3, the spiral pitch d1 of the first groove 21d is short, and the spiral pitch d1 of the second groove 21f is relatively long. 3, the width of the wall surface forming the first groove portion 21d and the width of the wall surface forming the second groove portion 21f are the same length. These spiral widths are not particularly limited and can be arbitrarily adjusted as long as the functions of the first groove 21d and the second groove 21f can be exerted.

제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 상기의 설명과 같이 검사시와 비검사시에 수축할 수 있는 수축량(수축 길이)의 차이에 의해 그 기능이 다르게 형성되어 있다. 즉 비검사시의 수축량은 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 영향을 받지만, 검사시의 수축량은 제1홈부(21d)가 수축 한계이므로 제2홈부(21f)의 영향만 받게 된다. 이를 위해 제2홈부(21f)의 홈폭이 제1홈부(21d)의 홈폭보다 넓게 형성된다. 이러한 형성에 의하여 비검사시에는 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축되고, 검사시에는 제2홈부(21f)만 추가로 수축할 수 있게 된다.As described above, the first groove portion 21d and the second groove portion 21f are formed differently by a difference in the amount of shrinkage (contraction length) that can be contracted at the time of inspection and non-inspection. That is, the amount of shrinkage at the time of non-inspection is affected by the first groove 21d and the second groove 21f, but the amount of shrinkage at the time of inspection is only affected by the second groove 21f since the first groove 21d is the limit of shrinkage. do. To this end, the groove width of the second groove portion 21f is formed to be wider than the groove width of the first groove portion 21d. By this formation, the first groove portion 21d and the second groove portion 21f are contracted during the non-inspection, and only the second groove portion 21f can be additionally contracted during the inspection.

상기의 설명에서는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 제1홈부(21d)가 수축 한계에 도달하는 경우를 설명했지만, 제1홈부(21d) 대신에 제2홈부(21f)가 수축 한계에 도달하여도 상관없다. 본 발명에서는 제1홈부(21d) 또는 제2홈부(21f) 중 어느 하나가 수축 한계에 도달하면 된다.In the above description, the case where the first groove portion 21d reaches the shrinkage limit when the rod-shaped member 22 contacts the inspection point and the inspection is performed is described. However, instead of the first groove portion 21d, the second groove portion ( 21f) may reach the shrinkage limit. In the present invention, either the first groove 21d or the second groove 21f may reach the shrinkage limit.

본 발명의 통상부재(21)는 상기와 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하고 있는데, 이러한 통상부재(21)를 제조하기 위하여 하기의 제조방법을 채용할 수 있다.The ordinary member 21 of the present invention has an upper cylinder portion 21c, a first groove portion 21d, a middle cylinder portion 21e, a second groove portion 21f, and a lower cylinder portion 21g as described above. In order to manufacture the member 21, the following manufacturing method can be employ | adopted.

(1)우선 통상부재의 중공부(中空部)를 형성하는 심선(芯線, 도시하지 않음)를 준비한다. 아울러 이 심선으로는 통상부재의 내경을 규정하는, 원하는 굵기의, 도전성을 구비하는 심선(예를 들면, 지름 30μm, 스테인레스강(SUS))을 사용한다.(1) First, a core wire (not shown) forming a hollow portion of the ordinary member is prepared. In addition, as this core wire, the core wire which has electroconductivity (for example, diameter 30 micrometers, stainless steel (SUS)) of the desired thickness which prescribes the inner diameter of a normal member is used.

(2)계속하여, 심선(스테인레스 선)에 포토레지스트 피막을 도포하여 이 심선의 둘레면을 덮는다. 상기 포토레지스트의 원하는 부분을 노광, 현상, 가열처리하여 나선상의 마스크를 형성한다. 이때, 예를 들면 심선을 중심축을 따라 회전시켜, 레이저로 노광하여 나선상의 마스크가 형성되도록 할 수 있다. 본 발명의 통상부재를 형성하기 위해서는, 제1 및 제2홈부를 형성하기 위한 2군데의 마스크가 소정의 위치에 형성되게 된다.(2) Subsequently, a photoresist film is applied to the core wire (stainless wire) to cover the peripheral surface of the core wire. The desired portion of the photoresist is exposed, developed, and heated to form a spiral mask. At this time, for example, the core wire may be rotated along a central axis, and exposed by laser to form a spiral mask. In order to form the ordinary member of the present invention, two masks for forming the first and second grooves are formed at predetermined positions.

(3)계속하여, 이 심선에 니켈 도금을 실시한다. 이때 심선이 도전성이기 때문에 포토레지스트 마스크가 형성되지 않은 부분은 니켈도금이 된다.(3) Subsequently, this core wire is nickel plated. At this time, since the core wire is conductive, the portion where the photoresist mask is not formed is nickel plated.

(4)계속하여, 포토레지스트 마스크를 제거하여 심선을 뽑아 원하는 길이의 통상부재를 형성한다. 심선을 완전히 뽑은 후에 통체를 절단하여도 좋다.(4) Subsequently, the photoresist mask is removed to remove the core wire to form a normal member of a desired length. The cylinder may be cut after the core wire is completely removed.

도4는 본 발명에 관한 봉상부재를 나타내는 개략적인 단면도이다. 봉상부재(22)는 그 후단부(22b)가 검사점에 접촉하는 도전성의 부재다. 봉상부재(22)는 가늘고 긴 형상을 구비하고 있고, 예를 들면 원기둥형이나 원통형으로 형성된다. 이 봉상부재(22)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)로부터 돌출되고 통상부재(21) 내부에 배치된다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)는 통상부재(21)의 내부에 배치되게 되는데, 통상부재(21)의 상통부(21c) 내에 배치되는 것이 바람직하다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)가 상통부(21c) 내부에 배치되게 되므로, 제1홈부(21d)나 제2홈부(21f)의 부분을 관통하게 되고, 이들 홈부가 신축하는 가이드로서 기능하게 된다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)는 후술하는 전극체(4)와 접촉하지 않도록 조정된다.4 is a schematic cross-sectional view showing a rod-like member according to the present invention. The rod-like member 22 is a conductive member whose rear end portion 22b is in contact with the inspection point. The rod-shaped member 22 has an elongate shape, for example, is formed in a cylindrical shape or a cylindrical shape. The rod-shaped member 22 protrudes from the rear end opening 2lb of the ordinary member 21 and is disposed inside the ordinary member 21. The tip portion 22a of the rod-shaped member 22 is disposed inside the normal member 21, but is preferably disposed in the upper portion 21c of the normal member 21. Since the tip portion 22a of the rod-like member 22 is disposed inside the upper cylinder portion 21c, it penetrates the portion of the first groove portion 21d or the second groove portion 21f, and functions as a guide that the groove portion stretches. Done. The tip portion 22a of the rod-shaped member 22 is adjusted so as not to contact the electrode body 4 described later.

봉상부재(22)의 후단부(22b)는 검사점에 직접적으로 접촉한다. 이 후단부(22b)의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니고, 왕관형, 첨예형, 삼각뿔형 등의 형상을 선택할 수 있다. 봉상부재(22)의 후단부(22b)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)로부터 돌출되는데, 이 후단부(22b)의 돌출길이는 적어도 후술하는 지지체(3)의 제2판상부재(32)의 두께보다 길게 설치된다. 봉상부재(22)는 도전성 소재로 형성되는데, 예를 들면 구리(Cu), 니켈(Ni)이나 이들의 합금을 채용할 수 있다.The rear end 22b of the rod-shaped member 22 is in direct contact with the inspection point. The shape of this rear end 22b is not specifically limited, and shapes, such as a crown type, a sharp type, and a triangular pyramid, can be selected. The rear end 22b of the rod-shaped member 22 protrudes from the rear end opening 2lb of the ordinary member 21, and the protruding length of the rear end 22b is at least the second plate-like member of the support 3 to be described later ( It is installed longer than the thickness of 32). The rod-shaped member 22 is formed of a conductive material. For example, copper (Cu), nickel (Ni), or an alloy thereof may be employed.

고정부(23)는 통상부재(21)와 봉상부재(22)를 전기적으로 접속한다. 고정부(23)는 통상부재(21)의 하통부(21g)에 형성되고, 봉상부재(22)의 후단부(22b)쪽에 형성된다. 이 고정부(23)는, 예를 들면 코킹(caulking), 레이저 용접, 아크 용접이나 접착제 등으로 형성할 수 있으며, 통상부재(21)와 봉상부재(22)를 전기적으로 접속할 수 있으면서 통상부재(21)와 봉상부재(22)의 형상을 크게 변형시키지 않는 고정방법이라면 채용할 수 있다.The fixing part 23 electrically connects the normal member 21 and the rod-shaped member 22. The fixing part 23 is formed in the lower cylinder part 21g of the normal member 21, and is formed in the rear end part 22b side of the rod-shaped member 22. As shown in FIG. The fixing portion 23 can be formed by, for example, caulking, laser welding, arc welding, adhesive, or the like. The ordinary member 21 can be electrically connected to the rod-shaped member 22 while being electrically connected. 21) and the rod-shaped member 22 can be adopted as long as it is a fixing method that does not significantly deform the shape.

검사용 치구(1)는 검사용 접촉자(2)를 지지하는 지지체(3)를 구비하여 구성된다. 지지체(3)는 절연소재로 형성된다. 지지체(3)는 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)를, 후술하는 전극체(4)의 전극부(41)로 안내하는 제1안내구멍(31h)을 구비하는 제1판상부재(31)를 구비하고 있다. 지지체(3)는 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 검사점으로 안내하는 제2안내구멍(32h)을 구비하는 제2판상부재(32)를 구비하고 있다.The inspection jig 1 includes a support 3 that supports the inspection contact 2. The support 3 is formed of an insulating material. The support 3 has a first plate member 31 having a first guide hole 31h for guiding the tip opening portion 21a of the ordinary member 21 to the electrode portion 41 of the electrode body 4 described later. ). The support body 3 is equipped with the 2nd plate-shaped member 32 provided with the 2nd guide hole 32h which guides the rear end part 22b of the rod-shaped member 22 to an inspection point.

제1판상부재(31)의 제1안내구멍(31h)은 제1판상부재(31)의 두께 방향으로 일정한 지름을 구비하는 관통구멍으로 형성되고, 이 관통구멍의 외경은 통상부재(21)의 상통부(21c)의 외경보다 약간 크게 형성된다. 이 제1안내구멍(31h)에 의하여 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)가 전극체(4)에 설치된 소정의 전극부(41)로 안내된다.The first guide hole 31h of the first plate-like member 31 is formed as a through hole having a constant diameter in the thickness direction of the first plate-like member 31, and the outer diameter of the through-hole is It is formed slightly larger than the outer diameter of the upper cylinder portion 21c. The tip opening 21a of the normal member 21 is guided to the predetermined electrode portion 41 provided in the electrode body 4 by the first guide hole 31h.

제1판상부재(31)의 두께는 상통부(21c)의 길이보다 짧게 형성되는 것이 바람직하다. 이는 신축하는 제1홈부(21d)와 제1판상부재(31)가 접촉하여 마모가 발생하는 것을 막기 위함이다.It is preferable that the thickness of the first plate-shaped member 31 is shorter than the length of the upper cylinder portion 21c. This is to prevent the occurrence of abrasion due to contact between the first and second grooves 21d and the first plate-shaped member 31 that are stretched.

제2판상부재(32)는 제1판상부재(31)와 소정의 간격을 두고 배치되고, 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 검사점으로 안내하기 위한 제2안내구멍(32h)을 구비하고 있다. 제2판상부재(32)의 두께는 검사시에 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 검사점에 접촉할 수 있는 충분한 길이로 조정된다.The second plate member 32 is arranged at a predetermined interval from the first plate member 31, and is used to guide the rear end 22b of the rod-shaped member 22 of the inspection contact 2 to the inspection point. Two guide holes 32h are provided. The thickness of the second plate-shaped member 32 is adjusted to a length sufficient to allow the rear end 22b of the rod-shaped member 22 to contact the inspection point at the time of inspection.

제2안내구멍(32h)은 제2판상부재(32)의 두께 방향으로 관통하는 일정한 지름을 구비하여 형성되고, 봉상부재(22)의 외경보다는 크고 통상부재(21)의 외경보다는 작은 외경으로 형성된다. 이렇게 제2안내구멍(32h)이 형성됨으로써, 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 삽입하면 검사용 접촉자(2)의 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)가 제2판상부재(32)의 표면과 전극체(4)로 협지되어, 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 제2판상부재(32)로부터 돌출한 상태가 된다.The second guide hole 32h is formed to have a constant diameter penetrating in the thickness direction of the second plate-like member 32 and is formed to have an outer diameter larger than the outer diameter of the rod-shaped member 22 and smaller than the outer diameter of the normal member 21. do. As the second guide hole 32h is formed in this way, when the inspection contactor 2 is inserted into the support 3, the rear end opening 2lb of the normal member 21 of the inspection contactor 2 becomes the second plate-shaped member ( It is pinched by the surface of 32 and the electrode body 4, and the rear end part 22b of the rod-shaped member 22 of the inspection contact 2 will be in the state which protruded from the 2nd plate-shaped member 32. As shown in FIG.

제2판상부재(32)는 전극부(41)로부터 소정의 간격(L)을 두고 배치되는데, 이 소정의 간격(L)은 무부하 상태의 통상부재(21)의 장축방향의 길이보다 짧게 설정된다. 이 소정의 간격(L)과 통상부재(21)의 자연상태의 길이의 차이가 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 수축량이 된다. 또 이 소정의 간격(L)에 의하여 제1홈부(21d)는 수축한계 직전 정도로 수축된 상태가 되도록 설정되고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 되도록 설정된다. 또한 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)가 검사점에 접촉한 경우에는 통상부재(21)가 소정의 간격(L)보다 더욱 짧은 길이가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계에 도달하고, 제2홈부(21f)가 수축되게 된다.The second plate member 32 is arranged at a predetermined distance L from the electrode portion 41, which is set shorter than the length in the major axis direction of the normal member 21 in the no-load state. . The difference between the predetermined distance L and the length of the natural state of the ordinary member 21 is the amount of shrinkage of the first groove 21d and the second groove 21f. Moreover, by this predetermined space | interval L, the 1st groove part 21d is set so that it may shrink | contract to the extent just before a shrinkage limit, and the 2nd groove part 21f is set so that it may become a slightly contracted state. In addition, when the rod-shaped member 22 of the inspection contact 2 comes into contact with the inspection point, the normal member 21 is shorter in length than the predetermined interval L. At this time, the first groove 21d reaches the shrinkage limit, and the second groove 21f is contracted.

이렇게 형성함으로써, 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 장착할 때, 통상부재(21)의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 수축되어 가압상태가 되고, 통상부재(21)가 전극부(41)와 제2판상부재(32)를 각각 가압한 상태로 장착된다.By forming in this way, when attaching the inspection contact 2 to the support 3, the first groove 21d and the second groove 21f of the ordinary member 21 are contracted to be in a pressurized state. 21 is mounted while pressing the electrode portion 41 and the second plate-like member 32, respectively.

도5에서는 제2안내구멍(32h)이 일정한 지름을 구비하는 관통구멍으로 나타나 있지만, 같은 축 상에 배치되는, 2개의 다른 외경을 구비한 2개의 구멍(상공(上孔)과 하공(下孔), 도시하지 않음)을 관통구멍으로 할 수도 있다. 이 경우에 상공은 통상부재(21)의 외경보다 약간 큰 지름을 구비하여 제2판상부재(32)로부터 전극부쪽으로 배치되고, 하공은 통상부재(21)의 외경보다 작고 봉상부재(22)의 외경보다 약간 큰 지름을 구비하여 제2판상부재(32)로부터 검사점쪽으로 배치된다. 이렇게 상공과 하공을 형성함으로써 검사용 접촉자(2)를 제1안내구멍(31h)으로부터 삽입하여 지지체(3)에 장착시켰을 때, 하공의 지름과 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)의 외경의 차이를 이용하여 통상부재(21)를 결합하고, 봉상부재(22)만 제2안내구멍(32h)으로부터 돌출하도록 배치할 수도 있다.In Fig. 5, the second guide hole 32h is shown as a through hole having a constant diameter, but two holes (upper and lower) having two different outer diameters disposed on the same axis. ) And not shown) may be used as the through hole. In this case, the upper air has a diameter slightly larger than the outer diameter of the ordinary member 21, and is disposed from the second plate-shaped member 32 toward the electrode portion, and the lower hole is smaller than the outer diameter of the normal member 21 and the rod-shaped member 22 It has a diameter slightly larger than the outer diameter and is disposed toward the inspection point from the second plate-like member 32. By forming the upper and lower holes in this way, when the inspection contact 2 is inserted from the first guide hole 31h and mounted on the support 3, the diameter of the lower hole and the outer diameter of the rear end opening 2lb of the ordinary member 21 are formed. By using the difference between the ordinary member 21, the rod-like member 22 may be arranged so as to protrude from the second guide hole (32h).

도5에 나타나는 실시형태에서는 제1판상부재(31)와 제2판상부재(32)가 소정의 간격을 두고 배치되어 있는데, 제1판상부재(31)와 제2판상부재(32)의 사이에 제3판상부재(도시하지 않음)를 설치할 수도 있다. 이 제3판상부재는 하나 또는 둘 이상의 판상부재를 적층하여 상기 간격에 의한 공간에 배치할 수 있다. 이 경우에, 예를 들면 제3판상부재는 제1판상부재(31)와 같은 판상부재를 복수로 적층하여 형성할 수도 있다. 또한 제3판상부재에 형성되는 관통구멍은 검사용 접촉자(2)의 통상부재(21)가 관통할 수 있는 크기를 구비하고 있으면, 그 단면형상은 특별히 한정되지 않는다.In the embodiment shown in FIG. 5, the first plate-like member 31 and the second plate-like member 32 are arranged at a predetermined interval, and are arranged between the first plate-like member 31 and the second plate-like member 32. A third plate member (not shown) may be provided. The third plate member may be disposed in a space by the gap by stacking one or more plate members. In this case, for example, the third plate member may be formed by stacking a plurality of plate members such as the first plate member 31. In addition, as long as the through-hole formed in the 3rd plate-shaped member has the magnitude | size which can penetrate the normal member 21 of the inspection contact 2, the cross-sectional shape is not specifically limited.

전극체(4)는 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(41)을 복수 구비하고 있다. 이 전극체(4)가 구비하는 전극부(41)는 각 검사용 접촉자(2)에 대응하도록 배치되어 있다. 이 전극부(41)는 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 압접되어 도통상태가 된다.The electrode body 4 is equipped with the electrode part 41 electrically connected with the test | inspection apparatus. The electrode part 41 which this electrode body 4 has is arrange | positioned so that it may correspond to each inspection contact 2. The electrode portion 41 is in pressure contact with the tip opening portion 21a of the normal member 21 to be in a conductive state.

전극부(41)는 가는 도선으로 형성되어 있고, 도5에서는 그 도선의 절단면과 전극체(4)의 표면이 하나의 면이 되도록 배치되어 있다. 이 도선의 절단면이 전극부(41)가 되고, 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 압접된다. The electrode portion 41 is formed of a thin conductive wire, and in FIG. 5, the cut surface of the conductive wire and the surface of the electrode body 4 are disposed so as to be one surface. The cut surface of this lead becomes the electrode part 41, and is pressed against the front-end opening 21a of the normal member 21. As shown in FIG.

이상이 본 발명의 제1실시형태의 검사용 치구(1)의 구성에 대한 설명이다.The above is description of the structure of the inspection jig 1 of 1st Embodiment of this invention.

검사용 치구(1)를 조립하기 위하여 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 장착하는 경우를 설명한다. 지지체(3)를 검사용 치구(1)에 부착할 때는, 먼저 지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입한다. 지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입할 때는 먼저 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 제1안내구멍(31h)에 통과시킨다. 다음에 제2안내구멍(32h)으로 이 후단부(22b)를 삽입하여 통과시킨다.The case where the inspection contact 2 is attached to the support 3 in order to assemble the inspection jig 1 will be described. When attaching the support 3 to the test fixture 1, the test contact 2 is first inserted into the support 3. When inserting the inspection contact 2 into the support 3, first, the rear end 22b of the rod-shaped member 22 of the inspection contact 2 is passed through the first guide hole 31h. Next, this rear end 22b is inserted into the second guide hole 32h and passed through.

지지체(3)에 삽입된 검사용 접촉자(2)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)에 의하여 지지체(3)에 결합된다. 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 봉상부재(22)의 후단부(22b)는 제1안내구멍(31h)과 제2안내구멍(32h)로부터 각각 바깥쪽으로 돌출되도록 배치된다.The inspection contact 2 inserted into the support 3 is coupled to the support 3 by a rear opening 2lb of the ordinary member 21. The tip opening portion 21a of the ordinary member 21 and the rear end portion 22b of the rod-shaped member 22 are arranged to protrude outward from the first guide hole 31h and the second guide hole 32h, respectively.

지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입하면, 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)가 소정의 전극부(41)를 누르도록 제1판상부재(31)를 전극체(4)에 접촉시킨다. 이때 통상부재(21)는 전극부(41)에 압접되기 때문에 각각의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축되어 가압상태가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계에 가까운 단계까지 수축된 상태가 되고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 된다. 이렇게 하여 검사용 접촉자(2)를 구비하는 검사용 치구(1)가 완성된다.When the inspection contact 2 is inserted into the support 3, the first plate-like member 31 is moved to the electrode body 4 so that the tip opening portion 21a of the ordinary member 21 presses the predetermined electrode portion 41. Contact with. At this time, since the normal member 21 is pressed against the electrode portion 41, each of the first groove portion 21d and the second groove portion 21f is contracted to be in a pressurized state. At this time, the first groove 21d is in a contracted state until the stage close to the shrinkage limit, and the second groove 21f is in a slightly contracted state. In this way, the inspection jig | tool 1 provided with the inspection contact 2 is completed.

다음으로 검사용 치구(1)를 검사에 사용할 경우(검사시)에 대해 설명한다. 도6은 검사용 접촉자를 사용한 검사용 치구의 검사시 상태를 나타내는 개략적인 단면도이다. 검사시에는 검사용 치구(1)를 검사장치(도시하지 않음)에 장착하고, 도선(5)이 검사장치의 제어수단과 전기적으로 접속하게 된다. 검사장치는, 예를 들면 피검사물(8)을 재치하는 재치대를 xyz축방향으로 각각 이동시키는 이동수단을 구비하고 있어서, 피검사물(8)의 복수의 검사점(81)에 소정의 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 압접되도록 재치대를 xyz축방향으로 이동시켜서 검사한다.Next, the case where the inspection jig 1 is used for inspection (at the time of inspection) is demonstrated. 6 is a schematic cross-sectional view showing a state during inspection of an inspection jig using an inspection contact; At the time of inspection, the inspection jig 1 is attached to an inspection apparatus (not shown), and the conducting wire 5 is electrically connected to the control means of the inspection apparatus. The inspection apparatus includes, for example, moving means for moving the mounting table on which the inspected object 8 is placed in the xyz axis direction, respectively, for a predetermined inspection to the plurality of inspected points 81 of the inspected object 8. The mounting table is moved in the xyz axis direction and inspected so that the rear end portion 22b of the rod-shaped member 22 of the contactor 2 is press-contacted.

검사장치가 소정의 검사점(81)에 원하는 검사용 접촉자(2)의 후단부(22b)를 접촉할 수 있도록 재치대의 위치결정이 이루어지면, 각 검사점(81)에 각 검사용 접촉자(2)의 후단부(22b)가 접촉하여 도통하도록 이동된다. 이때 소정의 검사점(81)에 원하는 후단부(22b)가 접촉하면, 우선 후단부(22b)가 압접되므로 통상부재(21)의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축된다. 이 경우, 수축량 한계 직전인 제1홈부(21d)는 수축 한계가 되고, 제2홈부(21f)가 수축된다. 따라서 비검사시에는 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 작용하고, 검사시에는 제2홈부(21f)가 작용하게 된다. 즉 비검사시에 지지체(3)의 제2판상부재(32)에 가해지는 하중은, 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)로부터 발생하기 때문에, 검사시의 하중보다 작은 하중으로 할 수 있다. 검사시에는 강한 압력을 제공하면서 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있다.
When the mounting table is positioned so that the inspection apparatus can contact the rear end 22b of the desired inspection contact 2 at the predetermined inspection point 81, each inspection contact 2 is placed at each inspection point 81. The rear end 22b of) is moved in contact with and conducting. At this time, when the desired rear end 22b comes into contact with the predetermined inspection point 81, the rear end 22b is first press-contacted so that the first groove 21d and the second groove 21f of the normal member 21 are contracted. . In this case, the first groove portion 21d immediately before the shrinkage limit becomes the shrinkage limit, and the second groove portion 21f is contracted. Therefore, the first groove 21d and the second groove 21f act on the non-inspection, and the second groove 21f on the inspection. That is, since the load applied to the second plate-shaped member 32 of the support body 3 at the time of non-inspection is generated from the first groove portion 21d and the second groove portion 21f, the load smaller than the load at the time of inspection should be set. Can be. It can provide a strong pressure at the time of inspection and a weak pressure at the time of non-inspection.

1: 검사용 치구
2: 검사용 접촉자
21: 통상부재
22: 봉상부재
23: 고정부
3: 지지체
31: 제1판상부재
31h: 제1안내구멍
32: 제2판상부재
32h: 제2안내구멍
4: 전극체
41: 전극부
5: 도선
8: 피검사물
81: 검사점
1: jig for inspection
2: contactor for inspection
21: Normal member
22: rod member
23: fixing part
3: Support
31: first plate member
31h: 1st guide hole
32: second plate member
32h: 2nd guide hole
4: Electrode body
41: electrode portion
5: lead wire
8: Test object
81: checkpoint

Claims (4)

피검사대상이 되는 복수의 검사점(檢査点)을 구비하는 피검사물(被檢査物)과, 해당 검사점간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치(檢査裝置)를 전기적으로 접속하는 검사용 치구(檢査用 治具)로서,
상기 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(電極部)를 복수 구비하는 전극체(電極體)와,
상기 전극부와 상기 검사점을 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자와,
상기 검사용 접촉자를 지지하는 지지체(支持體)를
구비하고,
상기 검사용 접촉자(檢査用 接觸子)는,
양단에 개구부(開口部)를 구비하고 선단 개구부가 상기 전극부의 표면과 접촉하는 도전성의 통상부재(筒狀部材)와,
상기 통상부재의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 통상부재 내부에 배치되고, 후단이 상기 검사점에 접촉하는 도전성의 봉상부재(棒狀部材)와,
상기 통상부재와 상기 봉상부재를 전기적으로 접속하는 고정부(固定部)를
구비하고,
상기 지지체는,
상기 선단 개구부를 상기 전극체로 안내하는 제1안내구멍을 구비하는 제1판상부재(板狀部材)와,
상기 봉상부재의 후단을 상기 검사점으로 안내하는 제2안내구멍을 구비하는 제2판상부재를
구비하고,
상기 통상부재는,
상기 전극부의 표면과 접촉하는 선단 개구부를 구비하면서 상기 봉상부재의 선단부가 내부에 수용되는 상통부(上筒部)와,
상기 상통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 상통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향(長軸方向)으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제1홈부와,
상기 제1홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제1홈부와 통하도록 연결되는 중통부(中筒部)와,
상기 중통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 중통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제2홈부와,
상기 제2홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 상기 고정부를 구비하는 하통부(下筒部)를
구비하고,
상기 봉상부재가 상기 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 상기 제1홈부 또는 상기 제2홈부 중의 어느 하나가 수축(收縮) 한계에 도달하는 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
Inspection jig electrically connecting an inspection object having a plurality of inspection points to be inspected and an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. As a 治 具),
An electrode body having a plurality of electrode portions electrically connected to the inspection apparatus;
An inspection contact for electrically connecting the electrode portion and the inspection point;
A support for supporting the inspection contact
Respectively,
The inspection contact (檢査 用 接觸 子),
A conductive ordinary member having openings at both ends and having a tip opening contacting the surface of the electrode portion;
A conductive rod-shaped member disposed inside the normal member while protruding from the rear end opening of the normal member, the rear end of which is in contact with the inspection point;
A fixing portion for electrically connecting the ordinary member and the rod-shaped member
Respectively,
Wherein the support comprises:
A first plate member having a first guide hole for guiding the tip opening portion to the electrode body;
A second plate-like member having a second guide hole for guiding a rear end of the rod-like member to the inspection point;
Respectively,
The normal member,
A top portion having a tip opening portion in contact with the surface of the electrode portion and having a tip portion of the rod-shaped member housed therein;
A first groove portion formed to have the same diameter as that of the upper cylinder portion and connected to the upper cylinder portion, and having a spiral groove extending in a long axis direction in a wall portion of the ordinary member;
A middle barrel portion formed to have the same diameter as the first groove portion and connected to the first groove portion;
A second groove portion which is formed to have the same diameter as the middle barrel portion and is connected to communicate with the middle barrel portion and has a spiral groove extending in the longitudinal direction in the wall portion of the ordinary member;
It is formed to have the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, the lower cylinder portion having the fixing portion
Respectively,
An inspection jig, wherein either the first groove portion or the second groove portion reaches a shrinkage limit when the rod-shaped member contacts the inspection point to perform the inspection.
제1항에 있어서,
상기 제1홈부와 상기 제2홈부는 나선의 피치가 서로 다른 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
The method of claim 1,
The jig for inspection, characterized in that the pitch of the spiral is different from the first groove portion and the second groove portion.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 제1홈부의 홈폭은 상기 제2홈부의 홈폭과 다른 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
3. The method according to claim 1 or 2,
The groove width of the first groove portion is different from the groove width of the second groove portion.
피검사대상이 되는 피검사물의 복수의 검사점과, 상기 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치에 전기적으로 접속되는 검사용 치구의 전극체에 복수 구비된 전극부를 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자로서,
상기 검사용 접촉자는,
선단 개구부가 상기 전극부와 접촉하는 전극단이 되는 외측 통체(外側筒體)와,
상기 외측 통체의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 외측 통체 내부에 전기적으로 접속되고 동축(同軸)으로 배치되고, 후단부가 상기 검사점에 압접되는 검사단(檢査端)이 되는 도전성의 내측 통체(內側筒體)를
구비하고,
상기 외측 통체는,
상기 전극단이 되는 선단 개구부를 구비하는 외측 상통부와,
상기 외측 상통부와 동일한 직경이고 선단 개구부가 상기 외측 상통부의 후단 개구부와 통하도록 연결되면서 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상(筒狀)의 제1홈부와,
상기 제1홈부와 동일한 직경이고 상기 제1홈부의 후단 개구부와 통하도록 연결되는 외측 중통부를
구비하고,
상기 외측 중통부와 동일한 직경이고 상기 외측 중통부와 통하도록 연결되고, 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상의 제2홈부와,
상기 제2홈부와 동일한 직경이고 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 고정부를 구비하는 외측 하통부를
구비하고,
상기 내측 통체는,
상기 검사단이 되는 후단부를 구비하는 내측 하통부와,
상기 외측 통체의 내부에 배치되는 내측 상통부를
구비하고,
상기 고정부는,
상기 외측 통체와 상기 내측 통체를 전기적으로 접속하면서 고정하고,
상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치가 서로 다른 것을 특징으로 하는 검사용 접촉자.
An inspection contact for electrically connecting a plurality of inspection points of an object to be inspected and a plurality of electrode portions provided in an electrode body of an inspection jig electrically connected to an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. ,
The contact for inspection,
An outer cylinder whose tip opening portion is an electrode end in contact with the electrode portion,
A conductive inner cylinder which protrudes from the rear end opening of the outer cylinder, is electrically connected to the inside of the outer cylinder, is disposed coaxially, and the rear end is an inspection end that is pressed against the inspection point. )
Respectively,
The outer cylinder is,
An outer upper cylindrical portion having a tip opening which becomes the electrode end;
A first first groove portion having the same diameter as that of the outer upper cylindrical portion and having a spiral groove formed at an edge thereof in a axial direction, the leading end opening being connected to the rear opening of the outer upper cylindrical portion;
An outer barrel portion having the same diameter as the first groove portion and connected to communicate with a rear opening of the first groove portion;
Respectively,
A normal second groove portion having the same diameter as the outer barrel portion and connected to communicate with the outer barrel portion, and having a spiral groove formed at an edge thereof in a long axis direction;
The outer lower cylinder portion having the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, and having a fixing portion.
Respectively,
The inner cylinder is,
An inner lower barrel portion having a rear end portion to be the inspection end;
An inner upper barrel disposed inside the outer cylinder
Respectively,
The fixing unit includes:
Fixed while electrically connecting the outer cylinder and the inner cylinder,
Inspection contact, characterized in that the pitch of the spiral of the first groove portion and the second groove portion is different from each other.
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