KR20130011964A - Probe and fixture - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 피검사물(被檢査物)의 검사대상부(檢査對象部) 상에 미리 설정된 검사점(檢査点)과 이 검사를 실시하는 검사장치(檢査裝置)를 전기적으로 접속하는 검사용 치구(檢査用治具) 및 검사용 치구에 사용되는 검사용 접촉자(檢査用接觸子)에 관한 것이다.
The present invention is an inspection jig for electrically connecting an inspection point set in advance on an inspection target portion of an object to be inspected and an inspection device that performs this inspection. The present invention relates to an examination contactor used in an examination tool and an examination jig.
검사용 접촉자가 부착된 검사용 치구는, 검사장치로부터 이 검사용 접촉자를 경유하여 피검사물이 구비하는 검사대상부의 소정의 검사위치에 전류 또는 전기신호를 공급함과 동시에 검사대상부로부터 전기신호를 검출함으로써, 검사대상부의 전기적 특성을 검출하거나 동작시험 등을 실시한다.The inspection jig with the inspection contact is supplied from the inspection device to the predetermined inspection position of the inspection target portion provided by the inspection object via the inspection contact, and at the same time detects the electrical signal from the inspection target portion. In this case, the electrical characteristics of the inspection subject are detected or operation tests are performed.
피검사물로는, 예를 들면 프린트 배선 기판, 플렉시블 기판, 세라믹 다층배선 기판, 액정 디스플레이, 플라즈마 디스플레이용 전극판, 반도체 패키지용 패키지 기판, 필름 캐리어 등의 다양한 기판이나, 반도체 웨이퍼, 반도체칩, CSP(Chip size package) 등의 반도체장치가 있다.Examples of the inspection object include various substrates such as printed wiring boards, flexible substrates, ceramic multilayer wiring boards, liquid crystal displays, plasma display electrode plates, semiconductor package package substrates, film carriers, semiconductor wafers, semiconductor chips, and CSPs. And a semiconductor device such as a chip size package.
본 명세서에서는 상기의 피검사물을 총칭하여 "피검사물"이라고 하고, 피검사물에 형성된 검사대상부를 "검사부"라고 한다. 또한 검사부에는 이 검사부의 전기적 특성을 실제로 검사하기 위한 검사점이 설정되고, 이 검사점에 접촉자를 압접(押接)함으로써 검사부와 도통상태(導通狀態)가 된다.In this specification, the above-mentioned test object is collectively called "the test object", and the test target part formed in the test object is called an "inspection part". In addition, an inspection point is set in the inspection portion for actually inspecting the electrical characteristics of the inspection portion, and the contact point is press-contacted to this inspection point, thereby bringing into contact with the inspection portion.
이러한 검사용 치구는 접촉자의 일단이 배선(검사부)상의 검사점에 압접되고, 그 타단이 기판검사장치와 전기적으로 접속된 전극부에 압접된다. 그리고 이 검사용 치구를 통하여 배선의 전기적 특성을 측정하기 위한 전류나 전압이 기판검사장치로부터 공급됨과 동시에, 배선으로부터 검출되는 전기적 신호를 기판검사장치로 송신하게 된다.In this inspection jig, one end of the contactor is pressed against the inspection point on the wiring (inspection portion), and the other end is pressed against the electrode portion electrically connected to the substrate inspection apparatus. Through this inspection jig, a current or voltage for measuring electrical characteristics of the wiring is supplied from the board inspection apparatus, and an electrical signal detected from the wiring is transmitted to the substrate inspection apparatus.
이러한 검사용 치구는, 그 예로 특허문헌1에 개시된 치구를 들 수 있다. 특허문헌1의 검사용 치구에는 도전성 가동체(導電性可動體, 접촉자)에 코일스프링(Coiled spring)이 장착되어 있다. 이러한 검사용 치구에서는, 접촉자가 홀더에 장착될 때에 코일스프링이 수축함으로써 도전부쪽으로 눌리게 되어, 도전부와 접촉자 간의 양호한 접촉상태가 제공된다.The jig | tool disclosed by patent document 1 is mentioned as such an inspection jig | tool. In the inspection jig of Patent Document 1, a coiled spring is attached to a conductive movable body (contactor). In such an inspection jig, when the contactor is mounted on the holder, the coil spring contracts and is pressed toward the conductive portion, thereby providing a good contact state between the conductive portion and the contactor.
또한 접촉자는 검사점의 표면에 형성된 산화막 등의 절연층을 부수고 검사점과 접촉하여 도통하기 위하여, 접촉자가 검사점에 접촉한 후에 코일스프링이 소정량(소정의 길이) 수축함으로써 소정의 압력을 얻을 수 있도록 조정되어 있다.In addition, the contactor obtains a predetermined pressure by contracting the coil spring by a predetermined amount (a predetermined length) after the contactor comes into contact with the inspection point so as to break an insulating layer such as an oxide film formed on the surface of the inspection point and contact with the inspection point. It is adjusted to be.
특히 최근엔 기판에 검사점이 많이 설정되기 때문에 이들 검사점과 대응해야 하는 접촉자도 다수 홀더에 장착된다. 이 때문에 상기 설명과 같이 접촉자수가 증가하면 수축되는 코일스프링도 증가하므로 홀더에는 큰 힘이 부하된다. 큰 힘이 부하된 홀더는 이 코일스프링의 힘에 의하여 전체가 휘어버리는 문제점이 있었다. 한편 홀더에 가해지는 힘을 저감시키기 위해서 코일스프링의 탄성력을 저하시키는 방법을 고려할 수 있으나, 이 경우 소정의 길이만큼 수축되었을 때에 코일스프링이 검사자가 원하는 압력을 제공할 수 없게 되고, 접촉자와 검사점이 충분한 압력으로 접촉하여 도통할 수 없게 되는 문제점이 있었다.
In particular, since a lot of inspection points are set on the substrate recently, a number of contactors that must correspond to these inspection points are also mounted in the holder. For this reason, as described above, when the number of contacts increases, the coil spring that contracts also increases, so that a large force is applied to the holder. The holder loaded with a large force had a problem that the whole bent by the force of the coil spring. In order to reduce the force applied to the holder, a method of reducing the elastic force of the coil spring may be considered, but in this case, when the coil spring is contracted by a predetermined length, the coil spring may not provide the pressure desired by the inspector, There was a problem in that it could not be contacted with sufficient pressure.
본 발명은 기판의 미세화 및 복잡화에 대응할 수 있을 뿐만 아니라, 검사시에는 강한 압력을 제공하고, 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있는 미세한 접촉자 및 이 접촉자를 이용한 검사용 치구를 제공한다.
The present invention not only can cope with the miniaturization and complexity of the substrate, but also provides a micro contactor and an inspection jig using the contactor that can provide a strong pressure during inspection and a weak pressure during non-inspection.
청구항1에 기재되어 있는 발명은,The invention described in claim 1,
피검사대상이 되는 복수의 검사점을 구비하는 피검사물과, 해당 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치를 전기적으로 접속하는 검사용 치구로서,An inspection jig for electrically connecting an inspection object having a plurality of inspection points to be inspected and an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points,
상기 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(電極部)를 복수 구비하는 전극체(電極體)와,An electrode body having a plurality of electrode portions electrically connected to the inspection apparatus;
상기 전극부와 상기 검사점을 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자와,An inspection contact for electrically connecting the electrode portion and the inspection point;
상기 검사용 접촉자를 지지하는 지지체(支持體)를A support for supporting the inspection contact
구비하고,Respectively,
상기 검사용 접촉자는,The contact for inspection,
양단에 개구부(開口部)를 구비하고 선단 개구부가 상기 전극부의 표면과 접촉하는 도전성의 통상부재(筒狀部材)와,A conductive ordinary member having openings at both ends and having a tip opening contacting the surface of the electrode portion;
상기 통상부재의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 통상부재 내부에 배치되고, 후단이 상기 검사점에 접촉하는 도전성의 봉상부재(棒狀部材)와,A conductive rod-shaped member disposed inside the normal member while protruding from the rear end opening of the normal member, the rear end of which is in contact with the inspection point;
상기 통상부재와 상기 봉상부재를 전기적으로 접속하는 고정부(固定部)를A fixing portion for electrically connecting the ordinary member and the rod-shaped member
구비하고,Respectively,
상기 지지체는,The support,
상기 선단 개구부를 상기 전극체로 안내하는 제1안내구멍을 구비하는 제1판상부재(板狀部材)와,A first plate member having a first guide hole for guiding the tip opening portion to the electrode body;
상기 봉상부재의 후단을 상기 검사점으로 안내하는 제2안내구멍을 구비하는 제2판상부재를A second plate-like member having a second guide hole for guiding a rear end of the rod-like member to the inspection point;
구비하고,Respectively,
상기 통상부재는,The ordinary member,
상기 전극부의 표면과 접촉하는 선단 개구부를 구비하면서 상기 봉상부재의 선단부가 내부에 수용되는 상통부(上筒部)와,A top portion having a tip opening portion in contact with the surface of the electrode portion and having a tip portion of the rod-shaped member housed therein;
상기 상통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 상통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축(長軸)방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제1홈부와,A first groove portion formed to have the same diameter as the upper portion and connected to the upper portion, and having a spiral groove extending in a long axis direction in a wall portion of the ordinary member;
상기 제1홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제1홈부와 통하도록 연결되는 중통부(中筒部)와,A middle barrel portion formed to have the same diameter as the first groove portion and connected to the first groove portion;
상기 중통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 중통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제2홈부와,A second groove portion which is formed to have the same diameter as the middle barrel portion and is connected to communicate with the middle barrel portion and has a spiral groove extending in the longitudinal direction in the wall portion of the ordinary member;
상기 제2홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 상기 고정부를 구비하는 하통부(下筒部)를It is formed to have the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, the lower cylinder portion having the fixing portion
구비하고,Respectively,
상기 봉상부재가 상기 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 상기 제1홈부 또는 상기 제2홈부 중의 어느 하나가 수축(收縮) 한계에 도달하는 것을 특징으로 하는 검사용 치구를When the rod-shaped member is in contact with the inspection point when the inspection is carried out, the inspection jig, characterized in that any one of the first groove portion or the second groove portion reaches the shrinkage limit.
제공한다.to provide.
청구항2에 기재되어 있는 발명은,The invention described in
상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치(Pitch)가 서로 다른 것을 특징으로 하는 청구항1에 기재된 검사용 치구를 제공한다.It provides a test jig according to claim 1, characterized in that pitches of spirals of the first groove portion and the second groove portion are different from each other.
청구항3에 기재되어 있는 발명은,The invention described in
상기 제1홈부의 홈폭이 상기 제2홈부의 홈폭과 다른 것을 특징으로 하는 청구항1 또는 2에 기재되어 있는 검사용 치구를 제공한다.It provides a test jig according to
청구항4에 기재되어 있는 발명은,The invention described in
피검사대상이 되는 피검사물의 복수의 검사점과, 상기 검사점 간의 전기적 특성을 검사하는 검사장치에 전기적으로 접속되는 검사용 치구의 전극체에 복수 구비된 전극부를 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자로서,An inspection contact for electrically connecting a plurality of inspection points of an object to be inspected and a plurality of electrode portions provided in an electrode body of an inspection jig electrically connected to an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. ,
상기 검사용 접촉자는,The contact for inspection,
선단 개구부가 상기 전극부와 접촉하는 전극단이 되는 외측 통체(外側筒體)와,An outer cylinder whose tip opening portion is an electrode end in contact with the electrode portion,
상기 외측 통체의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 외측 통체 내부에 전기적으로 접속되고 동축(同軸)으로 배치되고, 후단부가 상기 검사점에 압접되는 검사단(檢査端)이 되는 도전성의 내측 통체(內側筒體)를A conductive inner cylinder that protrudes from the rear end opening of the outer cylinder and is electrically connected to the inside of the outer cylinder and disposed coaxially, and the rear end of the outer cylinder is an inspection end that is pressed against the inspection point. )
구비하고,Respectively,
상기 외측 통체는,The outer cylinder is,
상기 전극단이 되는 선단 개구부를 구비하는 외측 상통부와,An outer upper cylindrical portion having a tip opening which becomes the electrode end;
상기 외측 상통부와 동일한 직경이고 선단 개구부가 상기 외측 상통부의 후단 개구부와 통하도록 연결되면서 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상(筒狀)의 제1홈부와,A first first groove portion having the same diameter as that of the outer upper cylindrical portion and having a spiral groove formed at an edge thereof in a axial direction, the leading end opening being connected to the rear opening of the outer upper cylindrical portion;
상기 제1홈부와 동일한 직경이고 상기 제1홈부의 후단 개구부와 통하도록 연결되는 외측 중통부를An outer barrel portion having the same diameter as the first groove portion and connected to communicate with a rear opening of the first groove portion;
구비하고,Respectively,
상기 외측 중통부와 동일한 직경이고 상기 외측 중통부와 통하도록 연결되고, 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상의 제2홈부와,A normal second groove portion having the same diameter as the outer barrel portion and connected to communicate with the outer barrel portion, and having a spiral groove formed at an edge thereof in a long axis direction;
상기 제2홈부와 동일한 직경이고 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 고정부를 구비하는 외측 하통부를The outer lower cylinder portion having the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, and having a fixing portion.
구비하고,Respectively,
상기 내측 통체는,The inner cylinder is,
상기 검사단이 되는 후단부를 구비하는 내측 하통부와,An inner lower barrel portion having a rear end portion to be the inspection end;
상기 외측 통체의 내부에 배치되는 내측 상통부를An inner upper barrel disposed inside the outer cylinder
구비하고,Respectively,
상기 고정부는,The fixing part,
상기 외측 통체와 상기 내측 통체를 전기적으로 접속하면서 고정하고,Fixed while electrically connecting the outer cylinder and the inner cylinder,
상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치가 다른 것을 특징으로 하는 검사용 접촉자를Inspection contact, characterized in that the pitch of the spiral of the first groove portion and the second groove portion is different
제공한다.
to provide.
청구항1 및 4에 기재된 발명에 의하면, 나선상의 홈부를 2군데 구비한 도전성의 통상부재의 내부에, 도전성의 봉상부재가 동축으로 배치되면서 전기적으로 접속되어 고정되어 있기 때문에, 이들 통상부재와 봉상부재는 하나의 검사용 접촉자로서 기능하게 된다. 통상부재에 형성된 홈부는 통상부재에 일체적으로 형성되어 있고, 장축방향으로 수축하는 탄성부로서 기능한다. 즉 이 검사용 접촉자는 통상부재와 봉상부재와 고정부로만 형성되도록 되어있다. 이로써 코일스프링을 사용하는 검사용 접촉자보다 부품수를 저감할 수 있고, 검사용 접촉자를 간소하게 형성할 수 있다. 또한 이 검사용 접촉자는, 검사시에는 강한 압력을 제공하면서, 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있는 미세한 접촉자 및 이 접촉자를 사용한 검사용 치구를 제공한다. 청구항2에 기재된 발명에 의하면, 제1홈부와 제2홈부의 나선 피치를 다르게 함으로써 검사시와 비검사시의 압력의 차이를 간단히 발생시킬 수 있다. 청구항3에 기재된 발명에 의하면, 제1홈부와 제2홈부의 홈폭을 다르게 함으로써 검사시와 비검사시의 압력의 차이를 간단히 발생시킬 수 있다.
According to the invention of
도1은 본 발명에 관한 검사용 치구를 나타내는 개략적인 구성도이다.
도2는 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 개략적인 단면도이다.
도3은 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 통상부재의 개략적인 단면도이다.
도4는 본 발명에 관한 검사용 접촉자의 봉상부재의 개략적인 단면도이다.
도5는 본 발명에 관한 검사용 접촉자가 장착된 상태를 나타내는 개략적인 단면도이다.
도6은 본 발명에 관한 검사용 치구의 검사시 동작상태를 나타내는 개략적인 단면도이다.1 is a schematic configuration diagram showing an inspection jig according to the present invention.
2 is a schematic cross-sectional view of an inspection contact according to the present invention.
3 is a schematic cross-sectional view of a normal member of an inspection contact according to the present invention.
4 is a schematic cross-sectional view of the rod-like member of an inspection contact according to the present invention.
5 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a test contact is mounted according to the present invention.
6 is a schematic cross-sectional view showing an operation state during inspection of the inspection jig according to the present invention.
본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태를 설명한다. 도1은 본 발명에 관한 검사용 치구의 제1실시형태를 나타내는 개략적인 구성도이다. 본 발명에 관한 검사용 치구(1)는 복수의 접촉자(2), 이들 접촉자(2)를 다침(多針) 형태로 고정하는 지지체(3), 이 지지체(3)를 지지하면서 각 접촉자(2)와 접촉하여 도통상태가 되는 전극부(41)를 구비하는 전극체(4), 전극부(41)로부터 전기적으로 접속되어 연장되는 도선부(5)를 구비한다. 또한 도1에서는 복수의 접촉자(2)로서 3개의 접촉자가 나타나고 동시에 각각에 대응하는 3개의 도선부(5)가 나타나있지만, 이들은 3개에 한정되는 것이 아니라 검사대상으로 설정되는 검사점의 개수에 따라 결정할 수 있다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The best mode for carrying out the present invention will be described. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of an inspection jig according to the present invention. The inspection jig 1 according to the present invention includes a plurality of
본 발명은 도전성의 통상부재에 형성된 홈부가 탄성부로서 기능하는 것을 이용하고, 적어도 2군데에 형성한 홈부의 탄성특성을 변화시킴으로써 검사에 필요한 접촉압과, 전극부(41)와 상시접촉을 위한 압접력을 공급할 수 있는 것을 특징으로 하고 있다. 본 발명과 같이 검사용 접촉자를 구성함으로써 기판의 미세화 및 복잡화에 대응할 수 있을 뿐만 아니라, 부품수를 저감하여 간소화할 수 있고, 또한 검사시에는 검사점에 큰 접촉압을 제공하면서, 비검사시에는 지지체에 작은 접촉압을 제공할 수 있다.According to the present invention, the groove portion formed in the conductive ordinary member functions as an elastic portion, and the contact pressure necessary for the inspection and the constant contact with the
본 발명의 검사용 치구에 사용되는 검사용 접촉자(2)에 대하여 설명한다. 도2는 본 발명에 관한 검사용 접촉자(2)의 개략적인 단면도이다. 검사용 접촉자(2)는 일단이 검사점에 접촉하여 도통하고, 타단이 후술하는 전극부(41)에 접촉하여 도통함으로써 검사점과 전극부를 전기적으로 접속한다.The
이러한 검사용 접촉자(2)는 통상부재(21)와 봉상부재(22)로 구성된다(도2 참조). 통상부재(21)는 양단에 개구부(21a, 2lb)를 구비하고, 일방의 선단 개구부(21a)가 전극부(41)의 표면과 접촉한다. 이 통상부재(21)는 도전성의 소재로 형성되는데, 예를 들면 구리, 니켈 또는 이들 합금으로 형성할 수 있다.This
도3은 본 발명에 관한 통상부재의 개략적인 단면도이다. 이 통상부재(21)는, 도3에 나타나 있는 바와 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하고 있다. 상통부(21c)는 전극부(41)의 표면과 접촉하는 선단 개구부(21a)를 구비하면서, 후술하는 봉상부재(22)의 후단부(22a)를 내부에 수용한다. 이 상통부(21c)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다.3 is a schematic cross-sectional view of a conventional member according to the present invention. As shown in Fig. 3, the
제1홈부(21d)는 상통부(21c)와 동일한 직경으로 형성되면서, 상통부(21c)와 통하도록 연결되고, 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 통상부재(21)의 벽부에 형성되어 만들어진다. 이 제1홈부(21d)는 통상부재(21)의 벽면에 형성되므로, 외경(外俓) 및 내경(內俓)이 통상부재(21)와 같은 형상이 된다.The
중통부(21e)는 제1홈부(21d)와 동일한 직경으로 형성되면서, 제1홈부(21d)와 통하도록 연결된다. 이 중통부(21e)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다.The
제2홈부(21f)는 중통부(21e)와 동일한 직경으로 형성되면서, 중통부(21e)와 통하도록 연결되고, 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 통상부재(21)의 벽부에 형성되어 만들어진다. 이 제2홈부(21f)는 통상부재(21)의 벽면에 형성되므로, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이 된다.The
하통부(21g)는 제2홈부(21f)와 동일한 직경으로 형성되면서, 제2홈부(21f)와 통하도록 연결된다. 하통부(21g)는 후술하는 봉상부재(22)와 통상부재(21)를 고정함과 동시에 전기적으로 접속하기 위한 고정부(23)를 구비한다. 이 하통부(21g)는 통상부재(21)의 일부이며, 외경 및 내경이 통상부재(21)와 같은 형상이다. 또한 이 하통부(21g)는 후단 개구부(2lb)를 구비하고 있다.The
통상부재(21)는, 상기 설명과 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하여 형성되고, 각 부가 통상부재(21)를 구성하게 된다.As described above, the
제1홈부(21d)는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때(검사시)에 수축 한계에 도달한다. 이는 제1홈부(21d)에 형성된 홈에 의한 공간이, 제1홈부(21d)가 수축함으로 인해 없어진 상태가 되어, 수축 한계에 도달하게 되는 것이다. 수축 한계에 도달한 제1홈부(21d)는 더 이상 수축하지 않기 때문에 상통부(21c), 중통부(21e), 하통부(21g)와 같이 기능하게 된다.The
상기의 설명과 같이, 검사시에 제1홈부(21d)는 수축 한계에 도달하지만, 제2홈부(21f)는 수축 한계에 도달하지 않는다. 이는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉할 때에 제2홈부(21f)의 수축량에 여유를 갖게함으로써 검사점(범프) 높이의 불균일을 제2홈부(21f)의 수축에 의해 흡수할 수 있기 때문이다.As described above, the
봉상부재(22)가 검사점에 접촉하지 않을 때(비검사시), 검사용 접촉자(2)는 후술하는 지지체(3)에 지지된 상태이기 때문에, 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 수축된 상태가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계 가까이까지 수축된 상태이고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 된다. 즉 비검사시에는, 제1홈부(21d)는 크게 수축되고 제2홈부(21f)는 약간 수축된다. 검사시에는, 제1홈부(21d)는 더 이상 수축되지 않고(수축 한계에 도달하기 때문에), 제2홈부(21f)만 수축되게 된다.When the rod-shaped
제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 상기와 같이 검사시와 비검사시에 있어서 기능이 다른데, 이 기능의 차이를 구비하기 위해서 나선의 피치를 다르게 형성한다. 통상부재의 1실시형태의 개략적인 단면도를 나타내는 도3에서는, 제1홈부(21d)의 나선 피치(d1)와 제2홈부(21f)의 나선 피치(d2)가 다르게 형성되어 있다. 이 도3에서는 제1홈부(21d)의 나선 피치(d1)가 짧고, 제2홈부(21f)의 나선 피치가 길어지도록 상대적으로 형성되어 있다. 또한 도3에서는 제1홈부(21d)를 형성하는 벽면의 폭과 제2홈부(21f)를 형성하는 벽면의 폭이 같은 길이로 형성되어 있다. 또 이들 나선폭은 특별히 한정되는 것은 아니고 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 기능을 발휘할 수 있으면 임의로 조정할 수 있다.The
제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 상기의 설명과 같이 검사시와 비검사시에 수축할 수 있는 수축량(수축 길이)의 차이에 의해 그 기능이 다르게 형성되어 있다. 즉 비검사시의 수축량은 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 영향을 받지만, 검사시의 수축량은 제1홈부(21d)가 수축 한계이므로 제2홈부(21f)의 영향만 받게 된다. 이를 위해 제2홈부(21f)의 홈폭이 제1홈부(21d)의 홈폭보다 넓게 형성된다. 이러한 형성에 의하여 비검사시에는 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축되고, 검사시에는 제2홈부(21f)만 추가로 수축할 수 있게 된다.As described above, the
상기의 설명에서는 봉상부재(22)가 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 제1홈부(21d)가 수축 한계에 도달하는 경우를 설명했지만, 제1홈부(21d) 대신에 제2홈부(21f)가 수축 한계에 도달하여도 상관없다. 본 발명에서는 제1홈부(21d) 또는 제2홈부(21f) 중 어느 하나가 수축 한계에 도달하면 된다.In the above description, the case where the
본 발명의 통상부재(21)는 상기와 같이 상통부(21c), 제1홈부(21d), 중통부(21e), 제2홈부(21f), 하통부(21g)를 구비하고 있는데, 이러한 통상부재(21)를 제조하기 위하여 하기의 제조방법을 채용할 수 있다.The
(1)우선 통상부재의 중공부(中空部)를 형성하는 심선(芯線, 도시하지 않음)를 준비한다. 아울러 이 심선으로는 통상부재의 내경을 규정하는, 원하는 굵기의, 도전성을 구비하는 심선(예를 들면, 지름 30μm, 스테인레스강(SUS))을 사용한다.(1) First, a core wire (not shown) forming a hollow portion of the ordinary member is prepared. In addition, as this core wire, the core wire which has electroconductivity (for example, diameter 30 micrometers, stainless steel (SUS)) of the desired thickness which prescribes the inner diameter of a normal member is used.
(2)계속하여, 심선(스테인레스 선)에 포토레지스트 피막을 도포하여 이 심선의 둘레면을 덮는다. 상기 포토레지스트의 원하는 부분을 노광, 현상, 가열처리하여 나선상의 마스크를 형성한다. 이때, 예를 들면 심선을 중심축을 따라 회전시켜, 레이저로 노광하여 나선상의 마스크가 형성되도록 할 수 있다. 본 발명의 통상부재를 형성하기 위해서는, 제1 및 제2홈부를 형성하기 위한 2군데의 마스크가 소정의 위치에 형성되게 된다.(2) Subsequently, a photoresist film is applied to the core wire (stainless wire) to cover the peripheral surface of the core wire. The desired portion of the photoresist is exposed, developed, and heated to form a spiral mask. At this time, for example, the core wire may be rotated along a central axis, and exposed by laser to form a spiral mask. In order to form the ordinary member of the present invention, two masks for forming the first and second grooves are formed at predetermined positions.
(3)계속하여, 이 심선에 니켈 도금을 실시한다. 이때 심선이 도전성이기 때문에 포토레지스트 마스크가 형성되지 않은 부분은 니켈도금이 된다.(3) Subsequently, this core wire is nickel plated. At this time, since the core wire is conductive, the portion where the photoresist mask is not formed is nickel plated.
(4)계속하여, 포토레지스트 마스크를 제거하여 심선을 뽑아 원하는 길이의 통상부재를 형성한다. 심선을 완전히 뽑은 후에 통체를 절단하여도 좋다.(4) Subsequently, the photoresist mask is removed to remove the core wire to form a normal member of a desired length. The cylinder may be cut after the core wire is completely removed.
도4는 본 발명에 관한 봉상부재를 나타내는 개략적인 단면도이다. 봉상부재(22)는 그 후단부(22b)가 검사점에 접촉하는 도전성의 부재다. 봉상부재(22)는 가늘고 긴 형상을 구비하고 있고, 예를 들면 원기둥형이나 원통형으로 형성된다. 이 봉상부재(22)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)로부터 돌출되고 통상부재(21) 내부에 배치된다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)는 통상부재(21)의 내부에 배치되게 되는데, 통상부재(21)의 상통부(21c) 내에 배치되는 것이 바람직하다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)가 상통부(21c) 내부에 배치되게 되므로, 제1홈부(21d)나 제2홈부(21f)의 부분을 관통하게 되고, 이들 홈부가 신축하는 가이드로서 기능하게 된다. 봉상부재(22)의 선단부(22a)는 후술하는 전극체(4)와 접촉하지 않도록 조정된다.4 is a schematic cross-sectional view showing a rod-like member according to the present invention. The rod-
봉상부재(22)의 후단부(22b)는 검사점에 직접적으로 접촉한다. 이 후단부(22b)의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니고, 왕관형, 첨예형, 삼각뿔형 등의 형상을 선택할 수 있다. 봉상부재(22)의 후단부(22b)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)로부터 돌출되는데, 이 후단부(22b)의 돌출길이는 적어도 후술하는 지지체(3)의 제2판상부재(32)의 두께보다 길게 설치된다. 봉상부재(22)는 도전성 소재로 형성되는데, 예를 들면 구리(Cu), 니켈(Ni)이나 이들의 합금을 채용할 수 있다.The
고정부(23)는 통상부재(21)와 봉상부재(22)를 전기적으로 접속한다. 고정부(23)는 통상부재(21)의 하통부(21g)에 형성되고, 봉상부재(22)의 후단부(22b)쪽에 형성된다. 이 고정부(23)는, 예를 들면 코킹(caulking), 레이저 용접, 아크 용접이나 접착제 등으로 형성할 수 있으며, 통상부재(21)와 봉상부재(22)를 전기적으로 접속할 수 있으면서 통상부재(21)와 봉상부재(22)의 형상을 크게 변형시키지 않는 고정방법이라면 채용할 수 있다.The fixing
검사용 치구(1)는 검사용 접촉자(2)를 지지하는 지지체(3)를 구비하여 구성된다. 지지체(3)는 절연소재로 형성된다. 지지체(3)는 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)를, 후술하는 전극체(4)의 전극부(41)로 안내하는 제1안내구멍(31h)을 구비하는 제1판상부재(31)를 구비하고 있다. 지지체(3)는 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 검사점으로 안내하는 제2안내구멍(32h)을 구비하는 제2판상부재(32)를 구비하고 있다.The inspection jig 1 includes a
제1판상부재(31)의 제1안내구멍(31h)은 제1판상부재(31)의 두께 방향으로 일정한 지름을 구비하는 관통구멍으로 형성되고, 이 관통구멍의 외경은 통상부재(21)의 상통부(21c)의 외경보다 약간 크게 형성된다. 이 제1안내구멍(31h)에 의하여 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)가 전극체(4)에 설치된 소정의 전극부(41)로 안내된다.The
제1판상부재(31)의 두께는 상통부(21c)의 길이보다 짧게 형성되는 것이 바람직하다. 이는 신축하는 제1홈부(21d)와 제1판상부재(31)가 접촉하여 마모가 발생하는 것을 막기 위함이다.It is preferable that the thickness of the first plate-shaped
제2판상부재(32)는 제1판상부재(31)와 소정의 간격을 두고 배치되고, 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 검사점으로 안내하기 위한 제2안내구멍(32h)을 구비하고 있다. 제2판상부재(32)의 두께는 검사시에 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 검사점에 접촉할 수 있는 충분한 길이로 조정된다.The
제2안내구멍(32h)은 제2판상부재(32)의 두께 방향으로 관통하는 일정한 지름을 구비하여 형성되고, 봉상부재(22)의 외경보다는 크고 통상부재(21)의 외경보다는 작은 외경으로 형성된다. 이렇게 제2안내구멍(32h)이 형성됨으로써, 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 삽입하면 검사용 접촉자(2)의 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)가 제2판상부재(32)의 표면과 전극체(4)로 협지되어, 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 제2판상부재(32)로부터 돌출한 상태가 된다.The
제2판상부재(32)는 전극부(41)로부터 소정의 간격(L)을 두고 배치되는데, 이 소정의 간격(L)은 무부하 상태의 통상부재(21)의 장축방향의 길이보다 짧게 설정된다. 이 소정의 간격(L)과 통상부재(21)의 자연상태의 길이의 차이가 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)의 수축량이 된다. 또 이 소정의 간격(L)에 의하여 제1홈부(21d)는 수축한계 직전 정도로 수축된 상태가 되도록 설정되고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 되도록 설정된다. 또한 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)가 검사점에 접촉한 경우에는 통상부재(21)가 소정의 간격(L)보다 더욱 짧은 길이가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계에 도달하고, 제2홈부(21f)가 수축되게 된다.The
이렇게 형성함으로써, 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 장착할 때, 통상부재(21)의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)는 수축되어 가압상태가 되고, 통상부재(21)가 전극부(41)와 제2판상부재(32)를 각각 가압한 상태로 장착된다.By forming in this way, when attaching the
도5에서는 제2안내구멍(32h)이 일정한 지름을 구비하는 관통구멍으로 나타나 있지만, 같은 축 상에 배치되는, 2개의 다른 외경을 구비한 2개의 구멍(상공(上孔)과 하공(下孔), 도시하지 않음)을 관통구멍으로 할 수도 있다. 이 경우에 상공은 통상부재(21)의 외경보다 약간 큰 지름을 구비하여 제2판상부재(32)로부터 전극부쪽으로 배치되고, 하공은 통상부재(21)의 외경보다 작고 봉상부재(22)의 외경보다 약간 큰 지름을 구비하여 제2판상부재(32)로부터 검사점쪽으로 배치된다. 이렇게 상공과 하공을 형성함으로써 검사용 접촉자(2)를 제1안내구멍(31h)으로부터 삽입하여 지지체(3)에 장착시켰을 때, 하공의 지름과 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)의 외경의 차이를 이용하여 통상부재(21)를 결합하고, 봉상부재(22)만 제2안내구멍(32h)으로부터 돌출하도록 배치할 수도 있다.In Fig. 5, the
도5에 나타나는 실시형태에서는 제1판상부재(31)와 제2판상부재(32)가 소정의 간격을 두고 배치되어 있는데, 제1판상부재(31)와 제2판상부재(32)의 사이에 제3판상부재(도시하지 않음)를 설치할 수도 있다. 이 제3판상부재는 하나 또는 둘 이상의 판상부재를 적층하여 상기 간격에 의한 공간에 배치할 수 있다. 이 경우에, 예를 들면 제3판상부재는 제1판상부재(31)와 같은 판상부재를 복수로 적층하여 형성할 수도 있다. 또한 제3판상부재에 형성되는 관통구멍은 검사용 접촉자(2)의 통상부재(21)가 관통할 수 있는 크기를 구비하고 있으면, 그 단면형상은 특별히 한정되지 않는다.In the embodiment shown in FIG. 5, the first plate-
전극체(4)는 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(41)을 복수 구비하고 있다. 이 전극체(4)가 구비하는 전극부(41)는 각 검사용 접촉자(2)에 대응하도록 배치되어 있다. 이 전극부(41)는 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 압접되어 도통상태가 된다.The
전극부(41)는 가는 도선으로 형성되어 있고, 도5에서는 그 도선의 절단면과 전극체(4)의 표면이 하나의 면이 되도록 배치되어 있다. 이 도선의 절단면이 전극부(41)가 되고, 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 압접된다. The
이상이 본 발명의 제1실시형태의 검사용 치구(1)의 구성에 대한 설명이다.The above is description of the structure of the inspection jig 1 of 1st Embodiment of this invention.
검사용 치구(1)를 조립하기 위하여 검사용 접촉자(2)를 지지체(3)에 장착하는 경우를 설명한다. 지지체(3)를 검사용 치구(1)에 부착할 때는, 먼저 지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입한다. 지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입할 때는 먼저 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)를 제1안내구멍(31h)에 통과시킨다. 다음에 제2안내구멍(32h)으로 이 후단부(22b)를 삽입하여 통과시킨다.The case where the
지지체(3)에 삽입된 검사용 접촉자(2)는 통상부재(21)의 후단 개구부(2lb)에 의하여 지지체(3)에 결합된다. 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)와 봉상부재(22)의 후단부(22b)는 제1안내구멍(31h)과 제2안내구멍(32h)로부터 각각 바깥쪽으로 돌출되도록 배치된다.The
지지체(3)에 검사용 접촉자(2)를 삽입하면, 통상부재(21)의 선단 개구부(21a)가 소정의 전극부(41)를 누르도록 제1판상부재(31)를 전극체(4)에 접촉시킨다. 이때 통상부재(21)는 전극부(41)에 압접되기 때문에 각각의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축되어 가압상태가 된다. 이때 제1홈부(21d)는 수축 한계에 가까운 단계까지 수축된 상태가 되고, 제2홈부(21f)는 약간 수축된 상태가 된다. 이렇게 하여 검사용 접촉자(2)를 구비하는 검사용 치구(1)가 완성된다.When the
다음으로 검사용 치구(1)를 검사에 사용할 경우(검사시)에 대해 설명한다. 도6은 검사용 접촉자를 사용한 검사용 치구의 검사시 상태를 나타내는 개략적인 단면도이다. 검사시에는 검사용 치구(1)를 검사장치(도시하지 않음)에 장착하고, 도선(5)이 검사장치의 제어수단과 전기적으로 접속하게 된다. 검사장치는, 예를 들면 피검사물(8)을 재치하는 재치대를 xyz축방향으로 각각 이동시키는 이동수단을 구비하고 있어서, 피검사물(8)의 복수의 검사점(81)에 소정의 검사용 접촉자(2)의 봉상부재(22)의 후단부(22b)가 압접되도록 재치대를 xyz축방향으로 이동시켜서 검사한다.Next, the case where the inspection jig 1 is used for inspection (at the time of inspection) is demonstrated. 6 is a schematic cross-sectional view showing a state during inspection of an inspection jig using an inspection contact; At the time of inspection, the inspection jig 1 is attached to an inspection apparatus (not shown), and the
검사장치가 소정의 검사점(81)에 원하는 검사용 접촉자(2)의 후단부(22b)를 접촉할 수 있도록 재치대의 위치결정이 이루어지면, 각 검사점(81)에 각 검사용 접촉자(2)의 후단부(22b)가 접촉하여 도통하도록 이동된다. 이때 소정의 검사점(81)에 원하는 후단부(22b)가 접촉하면, 우선 후단부(22b)가 압접되므로 통상부재(21)의 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 수축된다. 이 경우, 수축량 한계 직전인 제1홈부(21d)는 수축 한계가 되고, 제2홈부(21f)가 수축된다. 따라서 비검사시에는 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)가 작용하고, 검사시에는 제2홈부(21f)가 작용하게 된다. 즉 비검사시에 지지체(3)의 제2판상부재(32)에 가해지는 하중은, 제1홈부(21d)와 제2홈부(21f)로부터 발생하기 때문에, 검사시의 하중보다 작은 하중으로 할 수 있다. 검사시에는 강한 압력을 제공하면서 비검사시에는 약한 압력을 제공할 수 있다.
When the mounting table is positioned so that the inspection apparatus can contact the
1: 검사용 치구
2: 검사용 접촉자
21: 통상부재
22: 봉상부재
23: 고정부
3: 지지체
31: 제1판상부재
31h: 제1안내구멍
32: 제2판상부재
32h: 제2안내구멍
4: 전극체
41: 전극부
5: 도선
8: 피검사물
81: 검사점1: jig for inspection
2: contactor for inspection
21: Normal member
22: rod member
23: fixing part
3: Support
31: first plate member
31h: 1st guide hole
32: second plate member
32h: 2nd guide hole
4: electrode body
41: electrode portion
5: lead wire
8: Test object
81: checkpoint
Claims (4)
상기 검사장치와 전기적으로 접속되는 전극부(電極部)를 복수 구비하는 전극체(電極體)와,
상기 전극부와 상기 검사점을 전기적으로 접속하는 검사용 접촉자와,
상기 검사용 접촉자를 지지하는 지지체(支持體)를
구비하고,
상기 검사용 접촉자(檢査用 接觸子)는,
양단에 개구부(開口部)를 구비하고 선단 개구부가 상기 전극부의 표면과 접촉하는 도전성의 통상부재(筒狀部材)와,
상기 통상부재의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 통상부재 내부에 배치되고, 후단이 상기 검사점에 접촉하는 도전성의 봉상부재(棒狀部材)와,
상기 통상부재와 상기 봉상부재를 전기적으로 접속하는 고정부(固定部)를
구비하고,
상기 지지체는,
상기 선단 개구부를 상기 전극체로 안내하는 제1안내구멍을 구비하는 제1판상부재(板狀部材)와,
상기 봉상부재의 후단을 상기 검사점으로 안내하는 제2안내구멍을 구비하는 제2판상부재를
구비하고,
상기 통상부재는,
상기 전극부의 표면과 접촉하는 선단 개구부를 구비하면서 상기 봉상부재의 선단부가 내부에 수용되는 상통부(上筒部)와,
상기 상통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 상통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향(長軸方向)으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제1홈부와,
상기 제1홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제1홈부와 통하도록 연결되는 중통부(中筒部)와,
상기 중통부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 중통부와 통하도록 연결되고, 상기 통상부재의 벽부에 장축방향으로 신축하는 나선상의 홈이 형성되는 제2홈부와,
상기 제2홈부와 동일한 직경으로 형성되면서 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 상기 고정부를 구비하는 하통부(下筒部)를
구비하고,
상기 봉상부재가 상기 검사점에 접촉하여 검사가 실시될 때, 상기 제1홈부 또는 상기 제2홈부 중의 어느 하나가 수축(收縮) 한계에 도달하는 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
Inspection jig electrically connecting an inspection object having a plurality of inspection points to be inspected and an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. As a 治 具),
An electrode body having a plurality of electrode portions electrically connected to the inspection apparatus;
An inspection contact for electrically connecting the electrode portion and the inspection point;
A support for supporting the inspection contact
Respectively,
The inspection contact (檢査 用 接觸 子),
A conductive ordinary member having openings at both ends and having a tip opening contacting the surface of the electrode portion;
A conductive rod-shaped member disposed inside the normal member while protruding from the rear end opening of the normal member, the rear end of which is in contact with the inspection point;
A fixing portion for electrically connecting the ordinary member and the rod-shaped member
Respectively,
Wherein the support comprises:
A first plate member having a first guide hole for guiding the tip opening portion to the electrode body;
A second plate-like member having a second guide hole for guiding a rear end of the rod-like member to the inspection point;
Respectively,
The normal member,
A top portion having a tip opening portion in contact with the surface of the electrode portion and having a tip portion of the rod-shaped member housed therein;
A first groove portion formed to have the same diameter as that of the upper cylinder portion and connected to the upper cylinder portion, and having a spiral groove extending in a long axis direction in a wall portion of the ordinary member;
A middle barrel portion formed to have the same diameter as the first groove portion and connected to the first groove portion;
A second groove portion which is formed to have the same diameter as the middle barrel portion and is connected to communicate with the middle barrel portion and has a spiral groove extending in the longitudinal direction in the wall portion of the ordinary member;
It is formed to have the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, the lower cylinder portion having the fixing portion
Respectively,
An inspection jig, wherein either the first groove portion or the second groove portion reaches a shrinkage limit when the rod-shaped member contacts the inspection point to perform the inspection.
상기 제1홈부와 상기 제2홈부는 나선의 피치가 서로 다른 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
The method of claim 1,
The jig for inspection, characterized in that the pitch of the spiral is different from the first groove portion and the second groove portion.
상기 제1홈부의 홈폭은 상기 제2홈부의 홈폭과 다른 것을 특징으로 하는 검사용 치구.
The method according to claim 1 or 2,
The groove width of the first groove portion is different from the groove width of the second groove portion.
상기 검사용 접촉자는,
선단 개구부가 상기 전극부와 접촉하는 전극단이 되는 외측 통체(外側筒體)와,
상기 외측 통체의 후단 개구부로부터 돌출되면서 상기 외측 통체 내부에 전기적으로 접속되고 동축(同軸)으로 배치되고, 후단부가 상기 검사점에 압접되는 검사단(檢査端)이 되는 도전성의 내측 통체(內側筒體)를
구비하고,
상기 외측 통체는,
상기 전극단이 되는 선단 개구부를 구비하는 외측 상통부와,
상기 외측 상통부와 동일한 직경이고 선단 개구부가 상기 외측 상통부의 후단 개구부와 통하도록 연결되면서 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상(筒狀)의 제1홈부와,
상기 제1홈부와 동일한 직경이고 상기 제1홈부의 후단 개구부와 통하도록 연결되는 외측 중통부를
구비하고,
상기 외측 중통부와 동일한 직경이고 상기 외측 중통부와 통하도록 연결되고, 가장자리에 장축방향으로 형성된 나선상의 홈을 구비하는 통상의 제2홈부와,
상기 제2홈부와 동일한 직경이고 상기 제2홈부와 통하도록 연결되고, 고정부를 구비하는 외측 하통부를
구비하고,
상기 내측 통체는,
상기 검사단이 되는 후단부를 구비하는 내측 하통부와,
상기 외측 통체의 내부에 배치되는 내측 상통부를
구비하고,
상기 고정부는,
상기 외측 통체와 상기 내측 통체를 전기적으로 접속하면서 고정하고,
상기 제1홈부와 상기 제2홈부의 나선의 피치가 서로 다른 것을 특징으로 하는 검사용 접촉자.An inspection contact for electrically connecting a plurality of inspection points of an object to be inspected and a plurality of electrode portions provided in an electrode body of an inspection jig electrically connected to an inspection device for inspecting electrical characteristics between the inspection points. ,
The contact for inspection,
An outer cylinder whose tip opening portion is an electrode end in contact with the electrode portion,
A conductive inner cylinder which protrudes from the rear end opening of the outer cylinder, is electrically connected to the inside of the outer cylinder, is disposed coaxially, and the rear end is an inspection end that is pressed against the inspection point. )
Respectively,
The outer cylinder is,
An outer upper cylindrical portion having a tip opening which becomes the electrode end;
A first first groove portion having the same diameter as that of the outer upper cylindrical portion and having a spiral groove formed at an edge thereof in a axial direction, the leading end opening being connected to the rear opening of the outer upper cylindrical portion;
An outer barrel portion having the same diameter as the first groove portion and connected to communicate with a rear opening of the first groove portion;
Respectively,
A second ordinary groove portion having the same diameter as the outer barrel portion and connected to communicate with the outer barrel portion and having a spiral groove formed at an edge thereof in a long axis direction;
The outer lower cylinder portion having the same diameter as the second groove portion and connected to communicate with the second groove portion, and having a fixing portion.
Respectively,
The inner cylinder is,
An inner lower barrel portion having a rear end portion to be the inspection end;
An inner upper barrel disposed inside the outer cylinder
Respectively,
The fixing unit includes:
Fixed while electrically connecting the outer cylinder and the inner cylinder,
Inspection contact, characterized in that the pitch of the spiral of the first groove portion and the second groove portion is different from each other.
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