KR101305204B1 - 광픽업 장치 및 광디스크 장치 - Google Patents

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카츠히로 세오
요시키 오카모토
노리유키 카토
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소니 주식회사
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Abstract

간단한 구성으로 안정한 서보제어를 행할 수 있게 한다. 광검출부의 수광부가, 스폿(180)을, 디스크의 탄젠셜 방향으로 분할하도록 2개의 영역을 늘어선 구성으로 되고, 스폿(180)은, 스폿(180)의 중심을 지나는 래디얼 방향과 평행한 선분에 대하여 비대칭한 형상이 되는 동시에, 스폿(180)의 중심을 지나는 탄젠셜 방향과 평행한 선분에 대하여 비대칭한 형상으로 된다. 래디얼 방향으로의 광빔의 스폿 위치의 이동이, 수광부에 형성되는 스폿의 형상의 변화가 되어 나타나므로, 수광부의 영역 K와 L로부터 출력되는 신호의 차분을 연산함으로써 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것이 가능해 진다. 본 발명은, 광학 픽업에 적용할 수 있다.
광픽업, 광디스크, 서보제어, 비대칭 스폿 형상, 렌즈 시프트 신호

Description

광픽업 장치 및 광디스크 장치{OPTICAL PICKUP AND OPTICAL DISC APPARATUS}
도 1은 본 발명을 적용한 광디스크 장치의 일 실시예에 따른 구성예를 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명을 적용한 광픽업 장치의 일 실시예에 따른 구성예를 나타낸 블록도이다.
도 3은 광빔의 스폿의 형상을 설명하는 도면이다.
도 4는 차광판의 구성예를 설명하는 도면이다.
도 5는 도 2의 광검출부의 수광부의 예를 나타낸 도면이다.
도 6은 도 5의 스폿이 래디얼 방향으로 이동했을 경우의 예를 나타낸 도면이다.
도 7은 도 2의 광검출부의 수광부의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 8은 도 2의 광검출부의 수광부의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명을 적용한 광픽업 장치의 다른 구성예를 나타낸 블록도이다.
도 10은 도 9의 회절격자의 구성예를 도시한 도면이다.
도 11은 도 9의 광검출부의 수광부의 예를 나타낸 도면이다.
도 12는 도 9의 광검출부의 수광부의 예를 나타낸 도면이다.
도 13은 도 9의 광검출부의 수광부의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 14는 도 9의 회절격자의 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도 15는 도 9의 회절격자의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도１６은 도 9의 회절격자의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도１７은 도 9의 회절격자의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도１８은 본 발명을 적용한 광픽업 장치의 또 다른 구성예를 나타낸 블록도이다.
도 19는 본 발명을 적용한 광픽업 장치의 또 다른 구성예를 나타낸 블록도이다.
도２０은 도 2, 도１８, 또는 도 19의 광검출부의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다.
도２１은 도１８ 또는 도 19의 회절격자의 구성예를 도시한 도면이다.
도２２는 도２１의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다.
도２３은 도１８ 또는 도 19의 회절격자의 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도２４는 도２３의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다.
도２５는 도２３의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도２６은 도２３의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도２７은 도１８ 또는 도 19의 회절격자의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도２８은 도２７의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다.
도２９는 도１８ 또는 도 19의 회절격자의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다.
도 30은 도２９의 회절격자에 대응해서 설치되는 광검출부의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
20: 광디스크 장치 21: 광학 픽업부
100: 광픽업 장치 101: 광기록매체
121: 발광소자 122: 편향 빔 스플리터
123: 콜리메이터 렌즈 124: ＱＷＰ
125: 대물렌즈 126: 차광판
127: 광검출부 300: 광픽업 장치
301: 광검출장치 341: 지지부
342: 스페이서 343: 복합 렌즈
344: 편광 빔 스플리터 361: 발광소자
362: 절곡 미러 364: 광검출부
365: 광검출부 371: 수광부
372: 수광부 500: 광픽업 장치
501: 광기록매체 521: 발광소자
522: 편향 빔 스플리터 523: 콜리메이터 렌즈
524: ＱＷＰ 525: 대물렌즈
526: 회절격자 527: 광검출부
541: 절곡 미러 542: 광검출부
621: 회절격자 661: 회절격자
701: 회절격자 741: 회절격자
본 발명은, 광픽업 장치 및 광디스크 장치에 관한 것으로서, 특히, 간단한 구성으로 안정한 서보제어를 행할 수 있게 하는 광픽업 장치 및 광디스크 장치에 관한 것이다.
고밀도·대용량의 기억매체로서, 최근, ＤＶＤ(Digital Versatile Disc) 등의 고밀도·대용량의 광디스크가 실용화되어, 동영상과 같은 대량의 정보를 취급할 수 있는 정보매체로서 널리 보급되고 있다.
종래부터, 광디스크에 대한 정보의 기록 또는 판독 등을 행하는 광디스크 장치에 있어서의 광픽업에서는, 광디스크에 광빔을 조사하고, 광디스크의 정보기록면에서 반사된 빔을, 복수개 영역으로 분할된 광검출부로 수광하고, 각 영역에서 수광한 빛에 대응해서 광검출부에서 출력되는 신호에 의거하여 푸시풀법 등에 의해 트랙킹 에러 신호를 검출하고 있다.
그렇지만, 1빔만을 사용해서 행하는 푸시풀법에서는, 렌즈 시프트의 영향으 로, 트래킹에 오차가 생겨버리는 일이 있다.
따라서, 트랙킹 에러 신호의 오차를 저감하는 기술이 제안되어 있다. 예를 들면 소위 디프렌셜 푸시풀법에 의하면, 메인 빔과 2개의 서브 빔을, 트랙과 직교하는 방향을 따라 미리 설정된 양만큼 벗어나게 배치하고, 메인 빔으로부터 얻어진 트랙킹 에러 신호를 제1 푸시풀 신호로 하고, 2개의 서브 빔으로부터 얻어진 트랙킹 에러 신호를 제2 푸시풀 신호로 하여 제1 푸시풀 신호와 제2 푸시풀 신호를 차동 연산함에 의해 트랙킹 에러 신호가 얻어지게 된다.
즉, 디프렌셜 푸시풀법에 의하면, 렌즈 시프트의 영향이 캔슬되어, 오차가 적은 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해진다.
또한 광기록매체의 트랙 구조에 의해 회절된 회절광이 존재하지 않는 영역을, 광기록매체의 래디얼 방향으로 2(또는 4) 분할한 광빔을, 회절격자에 의해 회절시켜 광검출부로 이끌고, 래디얼 방향의 광강도의 차이를 검출함에 의해, 대물렌즈의 렌즈 시프트 검출을 행하는 기술도 제안되어 있다(예를 들면 특허문헌 1 참조).
[특허문헌 1] 일본국 공개특허공보 특개 2004-281026호 공보
그렇지만, 종래의 기술에서는, 회절격자를 사용해서 메인 빔과 서브 빔을 생성하기 때문에, 빛의 이용 효율이 저하하고, 광원으로부터 출사되는 빔의 강도를 상승시킬 필요가 있어, 장치의 구성을 변경할 필요가 있다.
또한 정확하게 렌즈 시프트 검출을 행하기 위해서는, 서브 빔의 푸시풀 신호가, 메인 빔과 역위상이 되도록, 서브 빔의 위치를 조정할 필요가 있어, 디스크의 내주로부터 외주까지 서브 빔의 푸시풀 성분의 위상의 차이가 생기지 않도록 하기 위해서는, 메인 빔과 서브 빔의 간격을 크게 넓힐 수 없어, 예를 들면 다층 기록 매체(광디스크)에 대한 정보의 기록 또는 판독을 행하는 경우, 다른 층으로부터의 미광에 의해, 트랙킹 에러 신호의 특성이 악화될 우려가 있다.
특허문헌 1의 기술에 있어서, 다층 광기록매체의 기록 또는 재생시에 있어서, 다른 층에서의 미광의 영향을 받지 않기 위해서, 회절광을, 비회절광(0차광)으로부터 완전하게 분리하기 위해서는, 회절격자의 격자간격을 좁게 할 필요가 있어, 가공도 위치조정도 어려워질 뿐만 아니라, 층 간격이 좁아지는 것과 같은 경우(예를 들면, 4층 광기록매체나 8층 광기록매체 등), 회절광 자체의 기타 층 미광의 영향도 발생하여, 트랙킹 에러 신호에 오차를 일으키는 일이 있다.
또한 광검출부의 수가 증가하여, 신호 출력을 위한 회로 규모도 커지고, 소비 전력도 증가한다.
본 발명은 이러한 상황을 감안하여 이루어진 것으로서, 간단한 구성으로 안정한 서보제어를 행할 수 있게 하는 것이다.
본 발명의 제1 측면은, 디스크로서 구성되는 광기록매체의 트래킹을 행하는 광픽업 장치로서, 상기 광기록매체를 향해서 광빔을 조사하는 발광 수단과, 상기 발광 수단으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈와, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출수단을 구비하고, 상기 광검출수단에 의해 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상을, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭으로 하고, 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어장치에 의해, 상기 광검출수단으로부터 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출되는 광픽업 장치이다.
본 발명의 제1 측면에 있어서는, 광기록매체를 향해서 광빔이 조사되고, 상기 발광 수단으로부터 조사된 상기 광빔이, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광되고, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔이 수광되고, 수광된 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호가 출력된다. 또한 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭으로 하고, 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어장치에 의해, 상기 광검출수단으로부터 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출된다.
본 발명의 제2 측면은, 디스크로서 구성되는 광기록매체의 트래킹을 행하고, 상기 광기록매체에 대한 데이터의 기록 또는 재생을 행하는 광디스크 장치로서, 상기 광기록매체를 향해서 광빔을 조사하는 발광 수단과, 상기 발광 수단으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈와, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출수단과, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭인 형상의 상기 광빔의 스폿에 대응해서 상기 광검출수단으로부터 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호를 검출하고, 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어부를 구비하는 광디스크 장치이다.
본 발명의 제2 측면에 있어서는, 상기 광기록매체를 향해서 광빔이 조사되고, 조사된 상기 광빔이, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광되고, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔이 수광되고, 수광된 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호가 출력된다. 또한 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭인 형상의 상기 광빔의 스폿에 대응해서 출력되는 신호에 의거하여 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 상기 디스크에 대한 추종이 제어된다.
[실시예]
이하에서 본 발명의 실시예에 관하여 설명하지만, 본 발명의 구성 요건과, 명세서 또는 도면에 기재된 실시예의 대응관계를 예시하면, 다음과 같아진다. 이 기재는, 본 발명을 서포트하는 실시예가, 명세서 또는 도면에 기재되어 있는 것을 확인하기 위한 것인다. 따라서, 명세서 또는 도면 중에는 기재되어 있지만, 본 발명의 구성 요건에 대응하는 실시예로서, 여기에는 기재되지 않고 있는 실시예가 있 었다고 하더라도, 그것은, 그 실시예가, 그 구성 요건에 대응하는 것이 아닌 것을 의미하는 것은 아니다. 반대로, 실시예가 구성 요건에 대응하는 것으로서 여기에 기재되어 있었다고 하더라도, 그것은, 그 실시예가, 그 구성 요건 이외의 구성 요건에는 대응하지 않다는 것을 의미하는 것도 아니다.
본 발명의 제1 측면의 광픽업 장치는, 디스크로서 구성되는 광기록매체(예를 들면 도 2의 광기록매체(101))의 트래킹을 행하는 광픽업 장치로서, 상기 광기록매체를 향해서 광빔을 조사하는 발광 수단(예를 들면 도 2의 발광소자(121))와, 상기 발광 수단으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈(예를 들면 도 2의 대물렌즈(125))와, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출수단(예를 들면 도 2의 광검출부(127))를 구비하고, 상기 광검출수단에 의해 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상을, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭으로 하고, 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어장치에 의해, 상기 광검출수단으로부터 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출된다.
이 광픽업 장치는, 상기 광검출수단이 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선(예를 들면 도 5에 도시된 것과 같이 늘어선) 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고, 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 수광부의 영역이, 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 적어도 3개 늘어서고(예를 들면 도 11 에 도시된 것과 같이 늘어서고), 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 별도의 소정의 연산을 행함으로써 포커스 에러 신호가 더 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광빔이 상기 광기록매체로부터 상기 광검출수단을 향하는 광로중에, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 차광하는 차광판(예를 들면 도 2의 차광판(126))이 설치되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광빔이 상기 광기록매체로부터 상기 광검출수단을 향하는 광로중에, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 회절시키는 회절격자(예를 들면 도 9의 회절격자(381))가 설치되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광빔의 일부이며, 상기 회절격자에 의해 회절되지 않는 부분의 광빔이, 상기 회절격자에서 회절된 광빔과 함께 상기 광검출수단에 의해 수광되어(예를 들면 도 30에 도시된 것과 같이 수광되어), 상기 광검출수단이 수광한 각각의 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 회절격자는, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 회절시키는 영역을, 적어도 2개 이상 갖고(예를 들면 도２１, 도２３, 도２７의 회절격자), 각각의 영역에서 회절된 광빔이 상기 광검출수단에 의해 수광되어, 상기 광검출수단이 수광한 각각의 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광검출수단에 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되는 형상(예를 들면 도 8에 표시되는 형상)으도 되어 있도록 할 수 있다.
상기 광검출수단의 수광부는, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되는 형상의 영역을, 적어도 2개이상 갖고(예를 들면 도２０의 수광부), 각각의 영역에서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광검출수단이 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 디스크의 탄젠셜 방향과, 래디얼 방향으로 늘어선(예를 들면, 도 7에 도시된 것과 같이 늘어선) 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고, 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 별도의 소정의 연산을 행함으로써 푸시풀 신호가 검출되고, 상기 렌즈 시프트 신호와, 상기 푸시풀 신호에 의거하여 트랙킹 에러 신호가 검출되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 광빔이 상기 광기록매체로부터 상기 광검출수단을 향하는 광로중에, 상기 광빔을 제1 광빔과, 제2 광빔으로 분할하는 광빔 분할 수단(예를 들면 도 9의 편광 빔 스플리터(344))이 설치되고, 상기 제1 광빔이, 상기 광검출수단의 제1 수광부(예를 들면 도 9의 수광부(371))에 의해 수광되어, 상기 제2 광빔이 상기 광검출수단의 제2 수광부(예를 들면 도 9의 수광부(372))에 의해 수광되도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 제1 수광부가, 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선(예를 들면 도 11 에 도시된 것과 같이 늘어선) 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고, 상기 제2 수광부가, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 늘어선(예를 들면 도 12에 도시된 것과 같이 늘어선) 복수의 사각형의 영역으로 이루어지도록 할 수 있다.
이 광픽업 장치는, 상기 제2 수광부가, 상기 디스크의 탄젠셜 방향과, 래디얼 방향으로 늘어선(예를 들면 도 13에 도시된 것과 같이 늘어선) 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고, 상기 제2 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써, 상기 대물렌즈의 상기 디스크의 탄젠셜 방향의 이동에 대응하는 신호가 더 검출되도록 할 수 있다.
본 발명의 제2 측면의 광디스크 장치는, 디스크로서 구성되는 광기록매체(예를 들면 도 1의 광기록매체(101))의 트래킹을 행하고, 상기 광기록매체에 대한 데이터의 기록 또는 재생을 행하는 광디스크 장치(예를 들면 도 1의 광디스크 장치(20))로서, 상기 광기록매체를 향해서 광빔을 조사하는 발광 수단(예를 들면 도 2의 발광소자(121))과, 상기 발광 수단으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 광기록매체의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈(예를 들면 도 2의 대물렌즈(125))와, 상기 광빔이 상기 광기록매체의 기록면에 있어서 반사한 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출수단(예를 들면 도 2의 광검출부(127))과, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭인 형상의 상기 광빔의 스폿에 대응해서 상기 광검출수단으로부터 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호를 검출하고, 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어부(예를 들면 도 1의 제어회로 24)를 구비한다.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 실시예에 관하여 설명한다.
도 1은, 본 발명을 적용한 광디스크 장치(20)의 구성예를 나타낸 블록도이다. 이 예에 있어서, 광학 픽업부(21)는, 예를 들면, DVD(Digital Versatile Disc) 등으로서 구성되는 광기록매체(101)에 대하여 빛(레이저빛)을 출사하고, 그 반사광을, 복수의 수광부를 가지는 수광소자로 검출하고, 수광소자의 각 수광부의 검출 신호를 연산 회로(22)에 출력하도록 이루어져 있다.
연산 회로(22)은, 광학 픽업부(21)로부터의 검출 신호로부터, 재생 신호, 포 커스 에러 신호, 또는 트랙킹 에러 신호 등의 신호를 산출한 후, 재생 신호를 재생회로(23)에 출력하고, 포커스 에러 신호 또는 트랙킹 에러 신호 등의 신호를, 제어회로(24)에 출력하도록 이루어져 있다.
재생회로(23)은, 연산 회로(22)로부터 공급된 재생 신호를 이퀄라이즈한 후, 2진화하고, 다시 에러 정정하면서 복조한 신호를, 소정의 장치(도시 생략)에 출력하도록 이루어져 있다.
제어회로(24)는, 연산 회로(22)에 의해 공급된 포커스 에러 신호에 대응하여, 포커스 서보용 액추에이터(26)를 제어하고, 예를 들면 광학 픽업부(21)의 대물렌즈를 광축방향으로 이동시킴으로써, 포커스 에러를 보정하고, 또한 연산 회로(22)에서 공급된 트랙킹 에러 신호에 따라, 트래킹 서보용 액추에이터(27)를 제어하여, 예를 들면 대물렌즈를 광기록매체(101)의 반경방향으로 이동시킴으로써, 트랙킹 에러를 보정하도록 이루어져 있다. 또한, 포커스 서보용 액추에이터(26)과 트래킹 서보용 액추에이터(27)는, 실제로는 1개의 액추에이터로서 구성되고, 후술하는 대물렌즈가 그 액추에이터에 탑재되게 된다.
또한 제어회로(24)는, 모터(29)을 제어하고, 광기록매체(101)을 소정의 속도로 회전시키도록 이루어져 있다.
도 2은, 도 1의 광학 픽업부(21)의 상세한 구성예를 나타내는 도면이고, 본 발명을 적용한 광픽업 장치의 일 실시예에 관련되는 구성예를 나타낸 블록도이다.
동 도면에 있어서, 광픽업 장치(100)은, 광기록매체(101)에 대한 정보의 기록을 행하는 동시에, 광기록매체(101)에 기록된 정보를 판독한다.
발광소자(121)은, 예를 들면 반도체 레이저로 구성되어 광빔을 출사한다. 발광소자(121)로부터 출사된 광빔(조사광)은, 편광 빔 스플리터(BS)(122)를 통과하고, 콜리메이터 렌즈(123)에 입사된다.
콜리메이터 렌즈(123)은, 발산 빛인 광빔을 평행 광빔으로 변하게 한다. 콜리메이터 렌즈(123)을 통과한 평행 광빔은, QWP(quarter wave plate)(124)에 입사된다.
QWP(124)은, 콜리메이터 렌즈(123)로부터 입사된 광빔을, 원편광으로 변환하고, QWP(124)을 통과한 광빔은, 대물렌즈(125)에 입사된다.
대물렌즈(125)은, QWP(124)로부터 도달한 광빔을, 광기록매체(101)의 기록면 (도 2에 있어서 사선으로표시되는 면)에 수속시킨다.
광기록매체(101)의 기록면에서 반사한 광빔은, 대물렌즈(125)로 평행 광빔으로 이루어지며, QWP(124)을 다시 통과한다. 이에 따라 광기록매체(101)로부터 반사된 광빔은, 조사 광과는 90도 편광방향이 다른 직선편광으로 변환되고, 콜리메이터 렌즈(123)을 통과한 후, 편광 빔 스플리터(122)에 입사된다.
편광 빔 스플리터(122)에 입사한 광빔은, 거기에서 반사하고, 광검출부(127)을 향한다. 이 때, 광빔은, 차광판(126)을 통과해서 광검출부(127)에 도달하게 된다.
광검출부(127)는, 수광면에 수광소자가 배치되고, 수광소자가 수광한 빛에 대응하는 전기신호를 출력한다.
도 3은, 차광판(126)의 편광 빔 스플리터(122)측의 면(도면 중 좌측의 면)에 있어서 형성되는 광빔의 스폿의 예를 나타낸 도면이다. 동 도면에 도시된 것과 같이 광빔의 스폿(170)은, 거의 원형의 형상으로 되어 있고, 스폿(170)의 중심을 지나는 선분에 대하여 대칭이 되는 형상으로 되어 있다.
스폿(170)에 있어서의 영역 171A와 171B은, 광기록매체(101)의 기록면에서 반사한 메인 빔의 0차광과 ±1차광이 중첩되는 영역이 된다. 광빔이 광기록매체(101) 위에서 반사할 때, 트랙 홈에 의해 ±1차 회절광과 0차광이 발생한다. 이 때, 트랙의 위치에 따라 ±1차 회절광과 0차광의 위상차가 변화되므로, 영역 171A와 171B에 있어서는, 광 진폭의 변조가 생긴다.
도 4은, 차광판(126)의 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 도시된 것과 같이 차광판(126)은, 차광 영역 126A와 차광 영역 126B에 있어서 빛을 차단하고, 그 이외의 영역에 있어서는 빛을 투과시키는 구성으로 된다. 따라서, 차광판(126)을 통과한 광빔은, 그 스폿(170)에 있어서 도면 중 좌측 상측의 일부와, 우측 하측의 일부가 없는 형상이 되어, 원형과는 다른 형상이 된다.
도 5는, 광검출부(127)의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다. 이 예에서는, 광검출부(127)의 수광부에 있어서, 전술한 차광판(126)을 통과한 광빔의 스폿(180)이 형성되어 있다. 또한 광검출부(127)의 수광부는, 스폿(180)을, 디스크형으로 구성된 광기록매체(101)의 래디얼 방향과 직행하는 탄젠셜 방향으로 분할하도록 2개의 영역을 늘어서고 설치된다. 상기한 바와 같이, 차광판(126)을 통과한 광빔은, 그 스폿에 있어서 일부가 없는 형상이 되므로, 스폿(180)은, 스폿(180)의 중심을 지나는 래디얼 방향과 평행한 선분에 대하여 비대칭인 형상이 되는 동시에, 스 폿(180)의 중심을 지나는 탄젠셜 방향과 평행한 선분에 대하여 비대칭의 형상이 되고 있다.
또한, 스폿(180)에 있어서의 영역 181A와 181B은, 전술한 영역 171A와 171B에 대응하고 있고, 역시 광기록매체(101)의 기록면에서 반사한 광빔의 0차광과 ± 1차광이 중첩되는 영역이 된다.
영역 181A와 181B에 있어서는 ±1차 회절광과 0차광의 위상차가 변화되고, 광진폭의 변조가 생기므로, 영역 181A와 181B의 광강도에 대응해서 광검출부(127)로부터 출력되는 전기신호에 있어서는, 수광부의 래디얼 방향의 광강도가 변조됨으로써 생기는 ＡＣ 성분이 포함되게 된다. 이 ＡＣ성분은, 상기한 바와 같이 디스크의 트랙 구조에 의해 생기는 회절광의 위상이, 스폿 위치에 의해 변동함으로써 생기는 것으로, 디스크의 트랙 피치를 1주기로 하는 진폭변조의 신호이며, 소위 푸시풀 신호로 불리는 것이다. 또한 푸시풀 신호에 의거하여 트랙킹 에러 신호가 생성되어, 트랙킹 에러를 보정하기 위한 제어신호의 생성에 사용할 수 있다.
그렇지만, 예를 들면 대물렌즈(125)의 이동에 따라 발생하는 렌즈 시프트에 의해, 푸시풀 신호에 DC 오프셋이 포함되는 일이 있어, 정확하게 트랙킹 에러 신호를 생성하기 위해서는, 이 DC 오프셋을 캔슬할 필요가 있다.
렌즈 시프트는, 예를 들면 디스크가 회전할 때, 회전중심과 디스크의 트랙 중심의 편심에 따라, 대물렌즈가 추종함에 의해 발생하므로, 광기록매체(101)에서 반사한 광빔의 스폿 위치의 래디얼 방향으로의 이동을 검출하면 렌즈 시프트 신호를 생성하는 것이 가능해 진다. 이때, 렌즈 시프트 신호는, 전술한 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ오프셋에 대응한다.
본 발명에 있어서는, 예를 들면 도 5에 도시된 것과 같은, 탄젠셜 방향으로 분할되어서 늘어선 수광부를 가지는 광검출부에 의해, DC오프셋(소위 렌즈 시프트 신호)을 검출한다.
도6은, 렌즈 시프트가 발생했을 경우의 광검출부(127)의 수광부에 있어서 형성되는 스폿의 예를 나타낸 도면이다. 도 6에 표시되는 스폿(180)은, 도 5의 경우와 비교해서 스폿의 중심위치가 래디얼 방향(도면 중 약간 우측 방향)으로 이동하고 있다. 그리고, 스폿(180)이 래디얼 방향으로 이동한 것에 의해, 스폿(180)에 있어서, 차광판(126)의 차광 영역 126A와 126B에 의해 차광되는 부분의 형상(크기)도 도 5의 경우와 다른 것이 된다.
즉, 렌즈 시프트가 발생하고 있지 않는 도 5의 경우, 스폿(180)의 2개로 분할된 수광부의 영역 중, 도면 중 상측의 영역 K에 형성되는 부분의 면적과, 도면 중 하측의 영역 L에 형성되는 부분의 면적은 거의 같게 되어 있다. 이에 대하여 렌즈 시프트가 발생한 도 6의 경우, 스폿(180)의 2개로 분할된 수광부의 영역 중, 도면 중 상측의 영역 K에 형성되는 부분의 면적은, 도면 중 하측의 영역 L에 형성되는 부분의 면적보다도 커지고 있다.
이렇게, 렌즈 시프트의 발생에 따르는 디스크의 래디얼 방향으로의 광빔의 스폿 위치의 이동이, 수광부에 형성되는 스폿의 형상의 변화가 되어서 나타나므로, 광검출부(127)의 수광부의 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분을 연산함으로써 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것이 가능해 진다. 지금의 경우, 영역 K과 영역 L로 부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K과 L이라고 하면, 렌즈 시프트 신호 LS의 값은 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS=K-L
이렇게, 본 발명에 있어서는, 광검출부(127)에 있어서 수광되는 스폿(180)이, 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭한 형상이 되어 있으므로, 탄젠셜 방향으로 분할되어서 늘어선 수광부를 가지는 광검출부에 의해, 소위 렌즈 시프트 신호를 검출 할 수 있다. 예를 들면 포커스 에러 신호를 검출하기 위한 광검출기 등은, 수광부가 탄젠셜 방향으로 복수개 영역에 분할되어서 형성되는 일이 많다. 본 발명에 의하면, 포커스 에러 신호를 검출하기 위한 광검출기 등을 사용해서 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것도 가능해 지므로, 저렴한 구성으로 정확한 트랙킹 에러의 보정을 행하는 것이 가능해 진다.
여기에서는, 광픽업 장치(100)에 의해 렌즈 시프트 신호의 검출을 행하는 예에 관하여 설명했지만, 광검출부(127)의 수광부의 구성을 변경하고, 트랙킹 에러 신호를 검출시키도록 하는 것도 가능하다.
광픽업 장치(100)에 의해 트랙킹 에러 신호를 검출시키도록 할 경우, 광검출부(127)의 수광부를 도 7에 도시된 것과 같이 구성하면 된다. 도 7의 예에서는, 도 5의 경우와 다르게, 광검출부(127)의 수광부가 탄젠셜 방향으로 2분할되고, 다시 래디얼 방향으로도 2분할됨으로써 4개의 영역으로 분할되어 있다. 4개의 영역 K 내지 N의 각각으로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K 내지 N이라고 하면, 트랙킹 에러 신호 TRK의 값은, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산의 다음식에 의해 구할 수 있 다.
TRK = (K+L)-(M +N)-k{(K+N)-(L+M)}
여기에서, 값 k은, 미리 설정된 소정의 계수로 된다.
즉, 래디얼 방향으로 분할된 영역의 각각으로부터 출력되는 신호의 차분에 의해 푸시풀 신호가 검출되고, 탄젠셜 방향으로 분할된 영역의 각각으로부터 출력되는 신호의 차분에 의해 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 렌즈 시프트 신호에 소정의 계수를 곱해서 푸시풀 신호와의 차분을 연산함으로써 푸시풀 신호에 포함되는 DC 오프셋이 캔슬되어, 정확한 트랙킹 에러 신호가 생성된다.
예를 들면 종래의 디프렌셜 푸시풀법에 의해, 트랙킹 에러를 검출할 경우, 메인 빔으로부터 얻어진 푸시풀 신호(디프렌셜 푸시풀법에 있어서의 제1 푸시풀 신호)와, 서브 빔으로부터 얻어진 푸시풀 신호(디프렌셜 푸시풀법에 있어서의 제2 푸시풀 신호)의 차동 연산을 행함으로써 트랙킹 에러 신호가 검출된다.
즉, 디프렌셜 푸시풀법에 있어서는, 메인 빔으로부터 얻어진 푸시풀 신호와 서브 빔으로부터 얻어진 푸시풀 신호의 차동 연산을 행함으로써 ＤＣ오프셋(렌즈 시프트 신호)을 캔슬하는 연산을 행한다.
그렇지만, 종래의 디프렌셜 푸시풀법을 사용할 경우, 서브 빔에도 푸시풀 성분이 포함되어 있어, 렌즈 시프트 검출을 행하기 위해서는, 서브 빔의 푸시풀 신호가, 메인 빔과 역위상이 되도록, 서브 빔의 위치를 조정할 필요가 있어, 디스크의 내주로부터 외주까지 서브 빔의 푸시풀 성분의 위상의 차이가 생기지 않도록 하기 위해서, 메인 빔과 서브 빔의 간격을 크게 넓힐 수 없어, 예를 들면 다층 기록 매 체인 광디스크에 대한 정보의 기록 또는 판독을 행할 경우, 다른 층으로부터의 미광에 의해, 렌즈 시프트 신호나 트랙킹 에러 신호의 특성이 악화될 우려가 있다.
이에 대하여 본 발명에서는, 서브 빔을 생성하지 않고, 렌즈 시프트 신호를 검출할 수 있으므로, 다층 기록 매체인 광디스크에 대한 정보의 기록 또는 판독을 행할 경우라도, 다른 층으로부터의 미광의 영향을 회피할 수 있다.
이상에 있어서는, 차광판(126)에 의해, 광검출부(127)의 수광부에 형성되는 스폿(180)을, 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭한 형상으로 하는 예에 관하여 설명했지만, 광검출부(127)의 수광부의 형상이 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭이 되도록 하여도 된다.
도8은, 광검출부(127)의 수광부의 다른 구성예를 도시한 도면이다. 이 예에서는, 도 5의 경우와 다르게, 탄젠셜 방향으로 2분할된 영역 중, 영역 K은, 도면 중 좌측 상측이 없는 형상으로 되고, 영역 L은, 도면 중 우측 하측이 없는 형상으로 된다.
이와 같이 함으로써 도 6을 참조해서 전술한 경우와 마찬가지로, 렌즈 시프트가 발생했을 경우, 스폿(180)의 2개로 분할된 수광부의 영역 중, 도면 중 상측의 영역 K에 형성되는 부분의 면적과, 도면 중 하측의 영역 L에 형성되는 부분의 면적이 다르게 되어, 역시 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분을 연산함으로써 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
다음에 도 2의 광픽업 장치(100)의 다른 구성예에 관하여 설명한다.
도 9는, 도 2의 광픽업 장치(100)의 다른 구성예인 광픽업 장치(300)의 구성 예를 도시한 도면이다. 동 도면에 있어서, 콜리메이터 렌즈(323) 내지 대물렌즈(325)은, 각각 도 2의 콜리메이터 렌즈(123) 내지 대물렌즈(125)와 같으므로 상세한 설명은 생략한다.
도 9의 광픽업 장치(300)에 있어서는, 도 2의 경우와 다르게, 집적화된 광학 디바이스인 광검출장치(301)가 설치되어 있다. 광검출장치(301)은, 지지부(341), 스페이서(342), 복합 렌즈(343), 및 편광 빔 스플리터(344)가 일체화되어서 구성된다.
지지부(341)에는, 발광소자(361)가 설치되어 있고, 발광소자(361)로부터 조사된 광빔은, 절곡 미러(362)에 있어서, 대략 20%의 투과광과 대략 80%의 반사광으로 분리된다. 투과광은, 절곡 미러(362)을 투과한 후, 반사 리드(363)에서 반사되고, 광검출부(364)에 입사되어, 광검출부(364)의 수광부에서 출력되는 신호가 발광소자(361)의 오토 파워 콘트롤(APC)이나, 레이저 노이즈 캔슬(LNC)에 사용되도록 되어 있다.
한편, 절곡 미러(362)에서 반사된 반사광은, 지지부(341)에 설치된 개구부(341a)를 통과하여, 스페이서(342)에 의해 지지부(341)에 고정되어 있는 복합 렌즈(343)에 입사한다. 그 후에 절곡 미러(362)에서 반사된 반사광의 광빔(왕로의 광빔)은, 편광 빔 스플리터(344)를, 거의 반사되지 않고 통과하고, 콜리메이터 렌즈(323), QWP(324), 및 대물렌즈(325)를 통해 광기록매체(101)의 기록면 위에 집광된다.
그리고 광빔은, 광기록매체(101)의 기록면 상에서 반사하여, 다시, 대물렌 즈(325), QWP(324), 및 콜리메이터 렌즈(323)를 통과하고, 편광 빔 스플리터(344)에 입사한다. 광픽업 장치(100)의 경우와 마찬가지로, 광기록매체(101)의 기록면 상에서 반사한 귀로의 광빔은, ＱＷＰ(324)를 2회 통과하고 있으므로, 왕로의 광빔과 편광방향이 직교하도록 이루어져 있다. 예를 들면 왕로의 광빔이 P편광일 경우, 귀로의 광빔은, S편광이 된다. 편광 빔 스플리터에 입사된 귀로의 광빔은, 대략 100% 반사되어, 하프미러(391)을 향한다. 하프미러(391)는, 입사한 광빔의 약 50%을 투과시켜서 전반사 미러(392)를 향하게 하는 동시에, 입사한 광빔의 약 50%을 반사시켜서 복합 렌즈(343)을 향하게 한다.
하프미러(391)에서 반사된 광빔은, 복합 렌즈(343)에 설치된 회절격자(381)를 통과하고, 스페이서(342)의 내부의 광검출부(365)의 수광부(371)에 의해 수광된다. 한편, 하프미러(391)를 투과한 광빔은, 전반사 미러(392)에 의해 대략 100% 반사되어서 복합 렌즈(343)을 통과하고, 스페이서(342)의 내부의 광검출부(365)의 수광부(372)에 의해 수광된다.
도10은, 회절격자(381)의 구성예를 나타낸 도면이다. 동 도면에 있어서는, 회절격자(381) 위에서 형성되는 귀로의 광빔의 스폿(420)이 표시되어 있어, 스폿(420)에 있어서의 영역 421A와 421B은, 광기록매체(101)의 기록면에서 반사한 메인 빔의 0차광과 ± 1차광이 중첩되는 영역으로 된다.
회절격자(381)는, 도면 중 물결 형태의 해칭으로 표시되고 있고, 도면 중 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부가 없는 사각형과 같은 형상으로 되고, 회절된 광빔의 스폿(420)이 디스크의 래디얼 방향과 탄젠셜 방향으로 함께 비 대칭한 형상이 되어 회절되도록 구성되어 있다.
회절격자(381)을 통과하는 광빔의 ±1차광을 발생시키고, 발생시킨 ±1차광 중 어느 한쪽이 광검출부(365)의 수광부(371)에 있어서 후초점이 되도록 이루어져 있으며, 다른 한쪽은, 수광부(371)에 있어서 전초점이 되도록 이루어져 있다. 또한 회절격자(381)는, 실린드리칼 렌즈와 동일한 효과가 얻어지는 구성으로 되어 있으며, 회절격자(381)을 통과한 광빔의 스폿은, 디스크의 탄젠셜 방향으로 잡아 늘려지도록 이루어져 있다.
또한 귀로의 광빔의 스폿(420)에 있어서, 회절격자(381)을 통과하지 않는 부분의 빛은, 수광부(371)로 이끌어지디 않도록 이루어져 있으며, 수광부(371)에 이끌어지는 회절격자(381)을 통과한 광빔의 ±1차광의 스폿은, 회절격자(381)의 형상에 따라, 디스크의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭한 형상이 된다. 즉, 원래 원형이 되는 스폿(420)의 영역 420A와 420B이 없는 상태의 광빔이 수광부(371)로 이끌어지게 된다.
도11은, 수광부(371)의 구성예를 도시한 도면이다. 수광부(371)은, 회절격자(381)를 통과한 광빔의 ±1차광 중의 전초점이 되는 광빔을 수광하는 수광부(371-1)과, 회절격자(381)을 통과한 광빔의 ±1차광의 중 후초점이 되는 광빔을 수광하는 수광부(371-2)로 나뉘어 구성되어 있다. 수광부 371-1은, 3분할된 영역 K, 영역 W 및 영역 L이 디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선 구성으로 되어 있으며, 수광부 371-2는, 3분할된 영역 N, 영역 Z 및 영역 M이 디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선 구성으로 되어 있다.
또한, 동 도면에는, 수광부 371-1과 수광부 371-2의 각각에 의해 수광되는 광빔의 스폿 431과 스폿 432이 표시되어 있다. 전술한 회절격자(381)의 실린드리칼 렌즈의 효과에 의해, 스폿 431과 스폿 432는, 각각 탄젠셜 방향의 길이만이 주어지고, 래디얼 방향의 길이가 거의 0이 되도록 하는 형상으로 되어 있다. 다만, 상기한 바와 같이, 스폿 431과 스폿 432는, 각각 회절격자(381)의 형상에 따라, 디스크의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭한 형상이 된다.
따라서, 도 6을 참조해서 전술한 경우와 마찬가지로, 렌즈 시프트가 발생한 경우, 스폿 431 또는 432의 분할된 수광부의 영역 중에서, 영역 K 및 영역 M에 형성되는 부분의 면적과, 영역 L 및 영역 N에 형성되는 부분의 면적이 다르게 되어, 역시 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분을 연산함으로써 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
도 12는, 수광부(372)의 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 도시된 것과 같이, 수광부(372)는, 2분할된 영역 A와 영역 B가 디스크의 래디얼 방향으로 늘어선 구성으로 되어 있다. 또한 동 도면에는, 수광되는 광빔의 스폿(460)이 표시되어 있다. 또한, 스폿(460)에 있어서의 영역 461A와 461B는, 전술한 영역 421A와 421B에 대응하고 있고, 역시 광기록매체(101)의 기록면에서 반사한 광빔의 0차광과 ± 1차광이 중첩되는 영역으로 된다.
광픽업 장치(300)에 있어서는, 수광부 372로부터 출력되는 신호에 의거하여 푸시풀 신호가 검출되고, 수광부 371로부터 출력되는 신호에 의거하여 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋이 캔슬됨으로써, 정확한 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
즉, 영역 A, 영역 B, 영역 K, 영역 W, 영역 L, 영역 N, 영역 Z, 및 영역 M의 각각으로부터 출력되는 신호의 값을, A, B, K, W, L, N, Z, 및 M으로 나타내면, 렌즈 시프트 신호의 값 ＬＳ는, 다음 식에 의해 구해진다.
LS = (K + M)-(L + N)
이에 따라 트랙킹 에러 신호의 값 TRK은, 다음 식에 의해 구해진다.
TRK = (A - B) - k{(K + M)-(L + N)}
또한 상기한 바와 같이, 수광부 371-1은, 회절격자(381)을 통과한 광빔의 ±1차광 중의 전초점이 되는 광빔을 수광하고, 수광부 371-2는, 회절격자(381)를 통과한 광빔의 ±1차광 중의 후초점이 되는 광빔을 수광하므로, 스폿 사이즈 검출법에 의해 포커스 에러 신호를 검출하는 것도 가능해 진다.
즉, 포커스 에러 신호의 값 FE는, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
FE = Z + (K + L)-{(W +(M + N))}
더구나, 수광부(372)로부터 출력되는 신호에 의거하여 ＲＦ 신호의 값 ＲＦ를 다음 식에 의해 구할 수 있다.
RF = (A + B)
이와 같이, 본 발명의 광픽업 장치(300)에 의하면, 간단하고도 저렴한 구성으로, 정확한 트랙킹 에러 신호와 포커스 에러 신호를 검출할 수 있고, 더욱 양호한 ＲＦ 신호의 검출도 가능해 진다.
그런데, 이상에서는 렌즈 시프트의 발생에 의해, 광빔의 스폿이 래디얼 방향으로 이동하는 것을 검출함으로써, 렌즈 시프트 신호를 검출하는 예에 관하여 설명했지만, 실제로 디스크를 트래킹할 경우, 예를 들면 디스크 틸트 등의 발생에 따라, 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동하는 일이 있다.
본 발명에 있어서는, 상기한 바와 같이, 탄젠셜 방향으로 분할된 수광부의 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분에 의거하여 렌즈 시프트 신호를 검출하도록 하고 있다. 따라서, 디스크 틸트 등에 의해 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동하면, 그 이동에 따라 수광부의 각 영역에 형성되는 스폿의 면적이 다르기 때문에, 렌즈 시프트의 발생에 상관없이 탄젠셜 방향으로 분할된 수광부의 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분이 변화되어 버리게 된다. 즉, 디스크 틸트 등이 발생하면 렌즈 시프트 신호에 노이즈가 생겨 버린다.
이와 같은, 디스크 틸트 등에 의한 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동에 따르는 렌즈 시프트 신호의 노이즈는, 다음과 같이 해서 제거할 수 있다.
광픽업 장치(300)에 있어서 디스크 틸트 등에 의한 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동에 따르는 렌즈 시프트 신호의 노이즈를 제거할 경우, 광검출부(365)의 수광부(372)를, 도 13에 도시된 것과 같이 구성한다.
도13은, 광검출부(365)의 수광부(372)의 다른 구성예를 나타내는 도면으로, 동 도면에 있어서는, 도 12의 경우와 다르게, 수광부(372)가 탄젠셜 방향으로 2분할되고, 다시 래디얼 방향으로도 2분할됨으로써 4개의 영역 A 내지 D로 분할되어 있다. 이때, 지금의 경우도, 수광부(371)의 구성은, 도 11에 표시되는 구성과 동일 하게 되어, 광검출부(365)는, 수광부 371과 수광부 372의 각 영역으로부터 A 내지 D, K, W, L, N, Z, 및 M으로 표시되는 값의 신호를 출력하는 것으로 한다.
이러한 구성으로 함으로써, 트랙킹 에러 신호의 값 ＴＲＫ은 다음 식에 의해, 더욱 정확하게 구하는 것이 가능해 진다.
TRK = (A+C)- (B+D) -α[{(K+M)-(L+N)}-β{(A+B)-(C+D)}]
이때, α, β는 각각 미리 설정된 소정의 계수라고 한다.
이러한 연산을 행함으로써, 수광부 372에 있어서 수광되는 탄젠셜 방향의 빛의 강도(스폿의 면적) 밸런스의 어긋남이 렌즈 시프트 신호의 노이즈로서 검출되고, 수광부 371로부터 출력되는 신호에 의거하여 생성되는 렌즈 시프트 신호의 노이즈가 캔슬되게 된다. 따라서, 트랙킹 에러 신호를 더욱 정확하게 검출하는 것이 가능해 진다.
도 14는, 회절격자(381)의 다른 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 있어서는, 도 10의 경우와 다르게, 회절격자(381)가, 도면 중 좌측 상측의 일부만이 없는 사각형과 같은 형상으로 되어 있다. 그리고, 회절격자(381)에 입사하여, 회절되는 광빔의 스폿(420)은, 역시 디스크의 래디얼 방향과 탄젠셜 방향으로 함께 비대칭한 형상이 되어 회절되도록 구성되어 있다. 즉, 원래 원형이 되는 스폿(420)의 영역 420C가 없는 상태의 광빔이 수광부(371)로 이끌리게 된다.
회절격자(381)를, 이러한 형상으로 구성함에 의해, 광빔의 손실을 적게 할 수 있다. 예를 들면 같은 스폿을 사용해서 RF 신호를 검출할 경우, RF 신호의 열화를 억제할 수 있다.
도 15는, 회절격자(381)의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 있어서는, 도 10의 경우와 마찬가지로, 회절격자(381)가, 도면 중 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부가 없는 사각형과 같은 형상으로 되어 있지만, 도 10의 경우와 다르게, 없는 부분의 면적이 더욱 커져 있다. 지금의 경우, 원래 원형이 되는 스폿(420)의 영역 420D와 420E가 없는 상태의 광빔이 수광부(371)로 이끌리게 된다.
즉, 도 10의 경우, 사각형 안에서 도면 중 좌측 상측이 없는 부분의 도면 중 우측쪽의 단부(변))은, 스폿(420)의 중심을 지나는 탄젠셜 방향의 선분과 거의 같은 위치에 있었던 것에 대해서, 도 15의 경우, 사각형 안에서 도면 중 좌측 상측이 없는 부분의 도면 중 우측의 단부는, 도 10의 경우와 래디얼 방향의 위치가 다르며, 도 10의 경우와 비교하여, 도면 중 보다 우측으로 위치하고 있다. 또한 도 10의 경우, 사각형 안에서 도면 중 우측 하측이 없는 부분의 도면 중 좌측의 단부(변)은, 스폿(420)의 중심을 지나는 탄젠셜 방향의 선분과 거의 같은 위치에 있었던 것에 대해서, 도 15의 경우, 사각형 안에서 도면 중 우측 하측이 없는 부분의 도면 중 우측의 단부는, 도 10의 경우와 래디얼 방향의 위치가 다르며, 도 10의 경우와 비교하여, 도면 중 보다 좌측에 위치하고 있다.
회절격자(381)를, 이러한 형상으로 구성함에 의해, 광빔의 스폿이 래디얼 방향으로 이동했을 경우, 탄젠셜 방향으로 분할된 수광부의 각 영역에서 각각 수광되는 스폿의 면적의 차이가 더욱 커진다. 따라서, 검출되는 렌즈 시프트 신호의 진폭이 보다 커져, 렌즈 시프트 신호의 감도를 향상시킬 수 있다.
도16은, 회절격자(381)의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 있어서는, 도 10의 경우와 마찬가지로, 회절격자(381)가, 도면 중 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부가 없는 사각형과 같은 형상으로 되어 있지만, 없는 부분의 형상이 도 10의 경우와 다르다. 지금의 경우, 원래 원형이 되는 스폿(420)의 영역 420F와 420G이 없는 상태의 광빔이 수광부(371)로 이끌리게 된다.
즉, 도 10의 경우, 사각형 안에서 도면 중 좌측 상측이 없는 부분 및 도면 중 우측 하측이 없는 부분은, 각각 장방형과 같은 형상으로 되어 있던 것에 대해서, 도１６의 경우, 사각형 안에서 도면 중 좌측 상측이 없는 부분 및 도면 중 우측 하측이 없는 부분은, 각각 도면 중 우측 하측의 모서리 및 도면 중 좌측 상측의 모서리가 예각이 되고, 스폿(420)의 중심에 보다 가까이 위치하고 있다.
회절격자(381)을, 이러한 형상으로 구성함에 의해, 디포커스에 의해 수광부에서 수광되는 스폿의 크기가 변화되었을 경우, 예를 들면 도 11과 같이 탄젠셜 방향으로 분할된 수광부의 각 영역에서 각각 수광되는 스폿의 면적의 차이의 변화가 현저하게 변화되는 것이 억제된다.
예를 들면 도 10에 도시된 것과 같은 회절격자(381)을 통과한 광빔은, 원래 원형인 스폿(420)의 영역 420A와 420B에 대응하는 부분(도면 중 좌측 상측과 우측 하측)이 없는 형상이 되어서 수광부에 스폿을 형성한다. 도 10에 도시된 것과 같은 회절격자(381)를 통과한 광빔이 도 11에 도시된 것과 같은 수광부 371-1(또는 371-2)로 수광될 경우, 디포커스에 의해 수광되는 스폿의 크기가 변화되었을 때, 수광부에 탄젠셜 방향으로 늘어선 영역 중, 중앙에 위치하는 영역 W(또는 Z)에 있어서 는, 수광되는 스폿이 없는 부분이 포함되거나, 포함되지 않게 되므로, 영역 W(또는 Z)에 있어서 수광되는 스폿의 면적은, 소정의 디포커스량을 경계로 해서 크게 다르게 된다.
이러한 경우, 검출되는 포커스 에러 신호도, 소정의 디포커스량을 경계로 크게 변화되게 되어, 정확하게 포커스 에러를 보정할 수 없는 일도 있을 수 있다.
이에 대하여 도１６에 도시된 것과 같은 회절격자(381)을 통과한 광빔이 도 11에 도시된 것과 같은 수광부 371-1로 수광될 경우, 디포커스에 의해 수광되는 스폿의 크기가 변화되어도, 수광부에 탄젠셜 방향으로 늘어선 영역 중, 중앙에 위치하는 영역 W에 있어서, 수광되는 스폿이 없는 부분(영역 420F와 420G에 대응하는 부분)이 항상 포함되게 되므로, 검출되는 포커스 에러 신호도, 소정의 디포커스량을 경계로 크게 변화되는 일이 없이, 보다 선형으로 변화되어 가게 되므로, 포커스 에러 신호의 특성(직선성)을 더욱 향상시킬 수 있다.
도17은, 회절격자(381)의 또 다른 구성예를 도시한 도면이다. 동 도면에 있어서는, 도 10의 경우와 마찬가지로, 회절격자(381)가, 도면 중 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부가 없는 사각형과 같은 형상으로 되어 있지만, 도 10의 경우와 다르게, 없는 부분의 면적이 도 10의 경우와 비교해서 더욱 작아져 있다. 지금의 경우, 원래 원형이 되는 스폿(420)의 영역 420H와 420I가 없는 상태의 광빔이 수광부(371)로 이끌리게 된다.
회절격자(381)를, 이러한 형상으로 구성함에 의해, 디포커스에 의해 수광부에서 수광되는 스폿의 크기가 변화되었을 경우, 수광부에서 수광되는 스폿의 면적 에 있어서 없는 부분이 차지하는 비율이 현저하게 변화되는 것이 억제된다.
예를 들면 도 10에 도시된 것과 같은 회절격자(381)를 통과한 광빔은, 원래 원형인 스폿(420)의 영역 420A와 420B에 대응하는 부분(도면 중 좌측 상측과 우측 하측)이 없는 형상이 되어서 수광부에 스폿을 형성한다. 도 10에 도시된 것과 같은 회절격자(381)을 통과하는 광빔의 스폿(420)이 디포커스에 의해 더욱 큰 스폿(보다 반경이 큰 스폿)이 되었을 경우, 그 스폿 중에서는, 없는 부분의 비율이 보다 높은 것이 된다. 한편, 광빔의 스폿(420)이 디포커스에 의해 더욱 작은 스폿(보다 반경이 작은 스폿)이 되었을 경우, 그 스폿 중에서는, 없는 부분의 비율이 보다 작은 것이 된다.
이러한 경우, 검출되는 포커스 에러 신호에 있어서, 예를 들면 Ｆａｒ측에 디포커스 했을 경우와, Ｎｅａｒ측에 디포커스 했을 경우에서, 신호의 피크가 되는 값이 크게 다르게 되어, 정확하게 포커스 에러를 보정할 수 없는 일도 있을 수 있다.
이에 대하여, 도１７에 도시된 것과 같은 회절격자(381)을 통과하는 광빔의 스폿(420)은, 디포커스에 의해 더욱 큰 스폿(보다 반경이 큰 스폿)이 되었을 경우에도, 보다 작은 스폿(보다 반경이 작은 스폿)이 되었을 경우에도, 그 스폿 중에서는, 없는 부분(영역 420H와 영역 420I에 대응하는 부분)이 차지하는 비율이 거의 일정하게 유지되게 된다. 따라서, 검출되는 포커스 에러 신호의 피크 특성을 보다 향상시킬 수 있다.
이때, 도 14 내지 도17은, 회절격자(381)의 구성예로서 설명했지만, 예를 들 면 차광판 또는 광검출부의 수광부를 도 14 내지 도１７에 대응하는 형상으로서 구성하도록 하여도 된다.
차광판을 도 14 내지 도１７에 대응하는 형상으로서 구성할 경우, 도 14 내지 도１７의 회절격자(381)가 없는 부분(회절격자가 없는 부분)에 대응하는 위치에 차광부를 배치하도록 하면 된다. 또한 검출부의 수광부를 도 14 내지 도１７에 대응하는 형상으로서 구성할 경우, 도 14 내지 도１７의 회절격자(381)의 형상과 같은 형상의 수광부를 배치하면 된다.
이상에 있어서는, 포커스 에러 신호를 검출하는 광픽업 장치로서 도 9에 표시되는 광픽업 장치(300)을 예로서 설명했지만, 도 9의 광픽업 장치(300)과 같이 집적화된 광학 디바이스를 사용하지 않고, 포커스 에러 신호를 검출하는 광픽업 장치를 구성해도 된다.
도18은, 집적화된 광학 디바이스를 사용하지 않고 구성된 광픽업 장치의 예를 나타낸 도면이다. 동 도면에 있어서, 발광소자(521) 내지 대물렌즈(525)는, 각각 도 2의 발광소자(121) 내지 대물렌즈(125)와 같으므로 상세한 설명은 생략한다.
도１８의 광픽업 장치(500)에는, 도 2의 차광판(126) 대신에 회절격자(526)가 설치된다. 회절격자(526)은, 회절격자(526)을 통과하는 광빔의 ±1차광을 발생시키고, 발생시킨 ±1차광 중 어느 한쪽이 광검출부(527)의 수광부에 있어서 후초점의 스폿으로서 수광되도록 이루어져 있으며, 다른 한쪽은, 광검출부(527)의 수광부에 있어서 전초점의 스폿으로서 수광되도록 이루어져 있다.
따라서, 도１８의 광픽업 장치(500)에 있어서는, 도 2의 광픽업 장치(100)와 마찬가지로, 렌즈 시프트 신호를 검출할 수 있는 동시에, 스폿 사이즈 검출법에 의해 포커스 에러 신호를 검출할 수도 있다.
도 19는, 도１８의 광픽업 장치(500)의 다른 구성예를 도시한 도면이다. 도 19의 예에서는, 광픽업 장치(500)에, 절곡 미러(541)와, 광검출부(542)가 더 설치된다.
절곡 미러(541)는, 편광 빔 스플리터(522)에서 반사되고, 광검출부(527)로 향하는 빛을, 대략 50%의 투과광과 대략 50%의 반사광으로 분리시키고, 투과광은, 절곡 미러(541)을 투과한 후, 회절격자(526)을 통해 광검출부(527)의 수광부에 의해 수광되고, 반사광은, 절곡 미러(541)을 투과한 후, 광검출부(542)의 수광부에 의해 수광되도록 이루어져 있다.
따라서, 도 19의 광픽업 장치(500)에 있어서는, 스폿 사이즈 검출법에 의해 포커스 에러 신호를 검출하는 것이 가능하고, 또한 광검출부(542)의 수광부에서 출력되는 신호에 의거하여 푸시풀 신호가 검출되고, 광검출부(527)의 수광부에서 출력되는 신호에 의거하여 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋이 캔슬됨으로써, 정확한 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
도 10, 도 14 내지 17을 참조해서 전술한 회절격자의 구성은, 각각, 도１８ 또는 도 19의 회절격자(526)의 구성으로서 적용하는 것도 가능하다. 또한 도 11을 참조해서 전술한 수광부의 구성은, 도１８ 또는 도 19의 광검출부(527)의 수광부의 구성으로서 적용하는 것도 가능하고, 도 12과 도 13을 참조해서 전술한 수광부의 구성은, 각각 도 19의 광검출부(542)의 수광부의 구성으로서 적용하는 것도 가능하다.
도20은, 도 2의 광검출부(127)의 수광부의 다른 구성, 또는 도 19의 광검출부(542)의 수광부의 다른 구성예를 도시한 도면이다. 또는 도１８ 또는 도 19의 광검출부(527)의 수광부의 구성예로 되도록 하여도 된다. 여기에서는, 도２０을, 도 19의 광검출부(542)의 수광부의 구성예로서 설명한다.
이때, 동 도면에는, 수광하는 광빔의 스폿의 형상이 줍척되어 표시되어 있다. 이 예에서는, 광검출부(527)의 수광부에 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1 및 영역 L2이 설치되어 있다. 예를 들면 도 5에 있어서, 수광부의 탄젠셜 방향으로 2분할된 영역 중, 영역 K가, 도２０의 영역 K1과 L2에 대응하고, 도 5의 영역 K에서 수광되는 스폿(180)의 도면 중 좌측 상측이 없는 부분이 도２０의 영역 L2에 대응하고 있다. 마찬가지로, 도 5에 있어서, 도 5의 영역 L이, 도２０의 영역 L1과 K2에 대응하고, 도 5의 영역 L에서 수광되는 스폿(180)의 도면 중 우측 하측이 없는 부분이 도２０의 영역 K2에 대응하고 있다.
도 6을 참조해서 상기한 바와 같이, 렌즈 시프트가 발생했을 경우, 광검출부(542)의 수광부에 있어서 형성되는 스폿의 중심위치가 래디얼 방향으로 이동하므로, 수광부의 각 영역에 형성되는 스폿의 면적이 다르게 된다. 즉, 렌즈 시프트가 발생하지 않고 있을 경우, 도２０의 영역 K1에 형성되는 부분의 면적과, 영역 L1에 형성되는 부분의 면적은 거의 동일하고, 또한, 영역 K2과 형성되는 부분의 면적과, 영역 L2에 형성되는 부분의 면적도 거의 같아진다. 이에 대하여, 예를 들면, 도면 중 우측 방향으로 스폿이 이동하는 것과 같은 렌즈 시프트가 발생했을 경우, 도２０의 영역 K1에 형성되는 부분의 면적이, 영역 L1에 형성되는 부분의 면적보다 커지고, 또한, 영역 K2에 형성되는 부분의 면적이, 영역 L2에 형성되는 부분의 면적보다 커진다.
이와 같이, 렌즈 시프트의 발생에 따르는 디스크의 래디얼 방향으로의 광빔의 스폿 위치의 이동이, 수광부에 형성되는 스폿의 형상의 변화가 되어 나타나므로, 광검출부(542)의 수광부의 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분을 연산함으로써 렌즈 시프트 신호를 검출하는 것이 가능해 진다. 지금의 경우, 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 및 영역 L2로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K1, K2, L1, 및 L2라고 하면, 렌즈 시프트 신호 LS의 값은 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS = (K1- L1)+(K2- L2)
예를 들면 도 5에 도시된 것과 같이 광검출부(542)의 수광부를 구성했을 경우, 전술한 식에 있어서의 「(K2- L2)」에 의해 산출되는 값이 렌즈 시프트 신호 ＬＳ에 포함되지 않게 되어, 검출된 렌즈 시프트 신호 ＬＳ의 진폭이 그다지 커지지 않어, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 렌즈 시프트 신호에 의거하여 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋을 캔슬하는 경우에, 정확한 ＤＣ 오프셋을 산출할 수 없을 가능성이 있다.
이에 대하여, 광검출부(542)의 수광부를, 도２０에 도시된 것과 같이 구성했을 경우, 검출된 렌즈 시프트 신호 ＬＳ의 진폭이 충분하게 커지고, 그 결과, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 렌즈 시프트 신호에 의거하여 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋을 캔슬하여, 정확한 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
또한 도２０에 있어서, 예를 들면 도면 중 점선으로 나타내는 바와 같은 배선에 의해, 광검출부(542)의 수광부의 영역 K1과 K2를 결선하고, 또한 영역 L1과 L2를 결선함으로써 각 영역으로부터 얻어진 신호의 값을, 다음 식으로 표시되는 값 K 및 L로서 얻도록 하는 것도 가능하다.
K = K1+ K2
L = L1+ L2
그리고, 렌즈 시프트 신호 ＬＳ를, 다음 식과 같이 산출하도록 하여도 된다.
LS = K - L
즉, 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 및 영역 L2로부터 각각 출력되는 전류값를, 전압값으로 변환하고, 각각의 전압값을 연산해서 렌즈 시프트 신호를 연산하는 것이 아니라, 영역 K1 및 영역 K2의 2개의 영역으로부터 출력되는 전류값을 전압값으로 변환하고, 영역 L1 및 영역 L2의 2개의 영역으로부터 출력되는 전류값을 전압값으로 변환하고, 그것들의 전압값을 연산해서 렌즈 시프트 신호를 연산하도록 하여도 된다. 이렇게 함으로써 전류값을 전압값으로 변환하는 I/V 변환 회로의 수를 절감할 수 있다.
또한 도１８ 또는 도 19의 회절격자(526)의 구성을, 도２１에 도시된 것과 같은 구성으로 해도 된다. 이때, 동 도면에는, 자신을 통과하는 광빔의 스폿의 형상이 중첩되어 표시되어 있다. 도２１의 회절격자(621)은, 그 영역이, 영역 621A 내지 621C으로 나뉘어 구성되고 있어, 영역 621A 내지 621C의 각각에서 회절된 광빔의 ±1차광이, 각각 광검출부(527)의 수광부의 다른 위치에 있어서 수광되도록 이루어져 있다.
도２２은, 도２１의 회절격자(621)에 대응해서 설치되는 광검출부(527)의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다. 지금의 경우, 광픽업 장치(500)의 광검출부가, 광검출부 527-1 및 527-2에 의해 구성되어 있는 것으로 한다.
도２２의 광검출부 527-1은, 그 수광부가, 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 및 영역 L2의 4개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K1 및 영역 L1에 있어서, 회절격자(621)의 영역 621A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광의 중 어느 한쪽으로서, 예를 들면 +1차광의 스폿(640A)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 K2에 있어서, 회절격자(621)의 영역 621C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중의 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(640C)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 L2에 있어서, 회절격자(621)의 영역 621B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(640B)을 수광하도록 이루어져 있다.
또한 도２２의 광검출부 527-2은, 그 수광부가, 영역 K3, 영역 K4, 영역 L3, 및 영역 L4의 4개의 영역으로 분할되고 있고, 영역 K3 및 영역 L3에 있어서, 회절격자(621)의 영역 621A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(646A)를 수광하도록 이루어져 있고, 영역 K4에 있어서, 회절격자(621)의 영역 621C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(646C)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 L4에 있어서, 회절격 자(621)의 영역 621B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(646B)을 수광하도록 이루어져 있다.
광검출부 527-1의 수광부의 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1,및 영역 L2로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K1, K2, L1, 및 L2로 하고, 광검출부 527-2의 수광부의 영역 K3, 영역 K4, 영역 L3, 및 영역 L4로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K3, K4, L3, 및 L4로 하면, 회절격자(621)의 영역 621A에서 회절된 광빔에 근거하는 렌즈 시프트 신호 LS1의 값을, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS1 = (K1- L1) + (K3- L3)
또한 회절격자(621)의 영역 621B 및 영역 621C에서 회절된 광빔에 근거하는 렌즈 시프트 신호 LS2의 값을, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS2 = (K2- L2) + (K4- L4)
그리고, 이것들 2개의 렌즈 시프트 신호 ＬＳ1과 ＬＳ2에 의해, 최종적으로 구해지는 렌즈 시프트 신호 LS가 다음 식에 의해 산출된다.
LS = LS1 + LS2
이렇게, 2개의 렌즈 시프트 신호 ＬＳ1과, ＬＳ2에 의거하여 렌즈 시프트 신호 ＬＳ를 구하는 것에 의해, 역시, 검출된 렌즈 시프트 신호 ＬＳ의 진폭을, 충분하게 크게할 수 있고, 그 결과, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 렌즈 시프트 신호에 의거하여 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋을 캔슬하여, 정확한 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해 진다.
또한 도２２에 있어서, 예를 들면 배선에 의해, 광검출부 527-1 및 527-2의 수광부의 영역 K1 내지 K4을 결선하고, 또한 영역 L1 내지 L4를 결선함으로써 각 영역으로부터 얻어진 신호의 값을, 다음 식으로 표시되는 값 K 및 L로서 얻도록 하는 것도 가능하다.
K = K1+ K2+ K3+ K4
L = L1+ L2+ L3+ L4
그리고, 렌즈 시프트 신호 ＬＳ를, 다음식과 같이 산출하도록 하여도 된다.
LS = K - L
즉, 영역 K1 내지 K4, 및 영역 L1 내지 L4로부터 각각 출력되는 전류값을 전압값으로 변환하고, 각각의 전압값을 연산해서 렌즈 시프트 신호를 연산하는 것이 아니라, 영역 K1 내지 K4의 4개의 영역으로부터 출력되는 전류값을 전압값으로 변환하고, 영역 L1 내지 L4의 4개의 영역으로부터 출력되는 전류값을 전압값으로 변환하고, 그것들의 전압값을 연산해서 렌즈 시프트 신호를 연산하도록 하여도 된다. 이렇게 함으로써 전류값을 전압값으로 변환하는 I/V 변환 회로의 수를 절감할 수 있다.
또는 도２１의 회절격자(621) 대신에, 도２３의 회절격자(661)가 설치되도록 하여도 된다. 또한, 동 도면에는, 회절격자(621)을 통과하는 광빔의 스폿의 형상이 중첩되어 표시되어 있다. 회절격자(661)는, 실린드리칼 렌즈와 동일한 효과가 얻어진 구성으로 되어 있으며, 회절격자(621)을 통과한 광빔의 스폿은, 디스크의 탄젠셜 방향으로 잡아 늘려지도록 이루어져 있다. 이에 따라 광검출부의 수광부를 보다 작게 구성하는 것이 가능해 진다.
회절격자(661)은, 그 영역이, 영역 661A 내지 661C으로 나뉘어져 구성되고 있고, 영역 661A 내지 661C의 각각에서 회절된 광빔의 ±1차광이, 각각 광검출부(527)의 수광부의 다른 위치에 있어서 수광되도록 이루어져 있다.
도２４은, 도２３의 회절격자(661)에 대응해서 설치되는 광검출부(527)의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다. 지금의 경우, 역시 광픽업 장치(500)의 광검출부가, 광검출부 527-1 및 527-2에 의해 구성되어 있는 것으로 한다.
도２４의 광검출부 527-1은, 그 수광부가, 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 영역 L2 및 영역 W의 5개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K1, 영역 L1 및 영역 W에 있어서, 회절격자(661)의 영역 661A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(680A)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 K2에 있어서, 회절격자(661)의 영역 661B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(680B)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 L2에 있어서, 회절격자(661)의 영역 661C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(680C)을 수광하도록 이루어져 있다.
또한 도２４의 광검출부 527-2은, 그 수광부가, 영역 N1, 영역 N2, 영역 M1, 영역 M2,및 영역 Z의 5개의 영역으로 분할되고 있어, 영역 M1, 영역 N1 및 영역 Z에 있어서, 회절격자(661)의 영역 661A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(686A)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 N2에 있어서, 회절격자(661)의 영역 661C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(686C)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 M2에 있어 서, 회절격자(661)의 영역 661B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(686B)을 수광하도록 이루어져 있다.
또한, 전술한 회절격자(661)의 실린드리칼 렌즈의 효과에 의해, 스폿 680A 내지 680C, 및 스폿 686A 내지 686C은, 각각 탄젠셜 방향의 길이만이 주어지고, 래디얼 방향의 길이가 거의 0이 되도록 하는 형상으로 되어 있다.
도２３과 도２４을 참조해서 전술한 구성으로 함으로써, 도 11을 참조해서 전술한 경우와 마찬가지로, 스폿 사이즈 검출법에 의해 포커스 에러 신호를 검출하는 것도 가능해 진다. 광검출부 527-1의 수광부의 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 영역 L2, 및 영역 W로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K1, K2, L1, L2, 및 W로 하고, 광검출부 527-2의 수광부의 영역 N1, 영역 N2, 영역 M1, 영역 M2, 및 영역 Z로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 N1, N2, M1, M2, 및 Z로 하면, 포커스 에러 신호의 값 FE는, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
FE = Z + (K1+ L2)+(K2+ L1) - {(W +(M1+ N2)+(M2+ N1))}
도 11을 참조해서 전술한 경우에 있어서는, 얻어진 포커스 에러 신호에 있어서 그다지 양호한 피크 특성은 기대할 수 없다. 도 10에 도시된 것과 같은 회절격자(381)를 통과한 광빔은, 원래 원형인 스폿(420)의 영역 420A와 420B에 대응하는 부분(도면 중 좌측 상측과 우측 하측)이 없는 형상이 되어서 수광부에 스폿을 형성하므로, 디포커스에 의해 더욱 큰 스폿(보다 반경이 큰 스폿)이 되었을 경우, 그 스폿 중에서는, 없는 부분의 비율이 보다 높은 것으로 되는 한편, 보다 작은 스폿(보다 반경이 작은 스폿)이 되었을 경우, 그 스폿 중에서는, 없는 부분의 비율이 보다 작은 것이 되어, 검출되는 포커스 에러 신호에 있어서, 예를 들면 Ｆａｒ측에 디포커스 했을 경우와, Ｎｅａｒ측에 디포커스 했을 경우에서, 신호의 피크가 되는 값이 크게 다른 것이 되기 때문이다.
이에 대하여, 도２３과 도２４에 도시된 것과 같은 구성으로고 했을 경우, 회절격자(661)의 영역 661B과 영역 661C을 통과해서 수광부에서 수광된 스폿 680B, 680C, 686B, 및 686C도, 포커스 에러 신호의 값의 산출에 사용할 수 있도록 했으므로, 검출되는 포커스 에러 신호의 피크 특성을 보다 향상시킬 수 있다.
또한 도２３과 도２４을 참조해서 전술한 구성의 경우, 렌즈 시프트 신호 LS는, 다음식에 의해 구할 수 있다.
LS =(K1+ M1)-(L1+ N1)+(K2+ M2)-(L2+ N2)
더구나, 배선에 의해, 영역 K1과 영역 K2을 결선하고, 영역 L1과 영역 L2을 결선하고, 영역 M1과 영역 M2을 결선하고, 영역 N1과 영역 N2을 결선함으로써 각 영역으로부터 얻어진 신호의 값을, 다음식으로 표시되는 값 K, L, M, 및 N으로서 얻도록 하는 것도 가능하다.
K = K1+ K2
L = L1+ L2
M = M1+ M2
N = N1+ N2
그리고, 렌즈 시프트 신호 ＬＳ를, 다음 식과 같이 산출하도록 하여도 된다.
LS = (K + M)-(L + N)
이와 같이 함으로써 역시 전류값을 전압값으로 변환하는 I/V 변환 회로의 수를 절감할 수 있다.
따라서, 상기한 것과 같이, 디스크 틸트 등의 발생에 따라, 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동하면, 그 이동에 따라 수광부의 각 영역에 형성되는 스폿의 면적이 다르기 때문에, 렌즈 시프트의 발생에 상관없이 탄젠셜 방향으로 분할된 수광부의 각 영역으로부터 출력되는 신호의 차분이 변화되어 버리므로, 디스크 틸트 등이 발생하면 렌즈 시프트 신호에 노이즈가 생기는 일이 있다.
이러한, 디스크 틸트 등에 의한 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동에 따르는 렌즈 시프트 신호의 노이즈를 억제하기 때문에, 도２４의 광검출부 527-1 및 527-2의 수광부를, 도２５ 에 도시된 것과 같이 구성하는 것도 가능하다.
도２５에 있어서는, 광검출부 527-1의 수광부에 있어서, 도２４에서는 1개의 영역으로, 영역 W로 되어 있는 것이, 영역 W1 내지 W4의 4개의 영역으로 분할되어 있다. 또한 광검출부 527-2의 수광부에 있어서, 도２４에서는 1개의 영역으로, 영역 Z로 되어 있던 것이, 영역 Z1 내지 Z4의 4개의 영역으로 분할되어 있다.
수광부의 구성을 도２５에 도시된 것과 같이 한 경우, 렌즈 시프트 신호는, 다음과 같이 해서 산출된다. 광검출부 527-1의 수광부의 영역 K1, 영역 K2, 영역 L1, 영역 L2, 및 영역 W1 내지 W4로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K1, K2, L1, L2, 및 W1 내지 W4로 하고, 광검출부 527-2의 수광부의 영역 N1, 영역 N2, 영역 M1, 영역 M2, 및 영역 Z1 내지 Z4로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 N1, N2, M1, M2, 및 Z1 내지 Z4로 하여, 다음과 같이 값 A 내지 D를 연산한다.
A = K1+W1+K2+W3
B = L1+W2+L2+W4
C = M1+Z1+M2+Z3
D = N1+Z2+N2+Z4
그리고, 렌즈 시프트 신호의 값 ＬＳ를, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
ＬＳ = (A+C)- (B+D)
이와 같이 함으로써 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동했을 경우, 그 이동에 따라 수광부의 각 영역에 형성되는 스폿의 면적의 변화에 의한 렌즈 시프트 신호의 값의 변화가 억제되도록 할 수 있다.
또는 광검출부 527-1 및 527-2의 수광부가, 도２５ 대신에 도２６과 같이 구성되도록 하여도 된다. 이렇게 함으로써 광검출부의 수광부의 구성을 더욱 간단한 것으로 할 수 있다.
도２６의 구성의 경우, 렌즈 시프트 신호는 다음과 같이 해서 구해진다. 즉, 값 A 내지 D를 다음과 같이 연산한다.
A = K1+W1+K2
B = L1+W2+L2
C = M1+Z1+M2
D = N1+Z2+N2
그리고, 렌즈 시프트 신호의 값 ＬＳ를, 다음식에 의해 구할 수 있다.
ＬＳ = (A+C)- (B+D)
이와 같이 함으로써 역시 광빔의 스폿이 탄젠셜 방향으로 이동했을 경우, 그 이동에 따라 수광부의 각 영역에 형성되는 스폿의 면적의 변화에 의한 렌즈 시프트 신호의 값의 변화가 억제되도록 할 수 있는 동시에, 도２５의 경우와 비교하여, 광검출부의 수광부의 구성을 보다 간단한 것으로 할 수 있어, 장치의 제조 비용을 억제하는 것도 가능해 진다.
또는 도２３의 회절격자(661) 대신에 도２７의 회절격자(701)가 설치되도록 하여도 된다. 또한, 동 도면에는, 회절격자(661)을 통과하는 광빔의 스폿의 형상이 중첩되어 표시되어 있다. 회절격자 701는, 회절격자 661의 경우와 마찬가지로, 그 영역이, 영역 701A 내지 701C로 나뉘어 구성되고 있고, 영역 701A 내지 701C의 각각에서 회절된 광빔의 ±1차광이, 각각 광검출부(527)의 수광부의 다른 위치에 있어서 수광되도록 이루어져 있지만, 영역 701B과 영역 701C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광이, 회절격자(661)의 경우와는 다른 위치에서 수광되도록 이루어져 있다.
이때, 회절격자(701)는, 역시 실린드리칼 렌즈와 동일한 효과가 얻어지는 구성으로 되어 있고, 회절격자(701)을 통과한 광빔의 스폿은, 디스크의 탄젠셜 방향으로 잡아 늘려지도록 이루어져 있다.
도28은, 도２７의 회절격자(701)에 대응해서 설치되는 광검출부(527)의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다. 지금의 경우, 역시 광픽업 장치(500)의 광검출부가, 광검출부 527-1 및 527-2에 의해 구성되어 있는 것으로 한다.
도２８의 광검출부 527-1은, 그 수광부가, 영역 K, 영역 L 및 영역 W의 3개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K, 영역 L 및 영역 W에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로서, 예를 들면 +1차광의 스폿(720A)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 K에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(720B)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 L에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(720C)을 수광하도록 이루어져 있다.
또한 도２８의 광검출부 527-2는, 그 수광부가, 영역 N, 영역 M, 및 영역 Z의 3개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 M, 영역 N 및 영역 Z에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(726A)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 N에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701C에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(726C)을 수광하도록 이루어져 있고, 영역 M에 있어서, 회절격자(701)의 영역 701B에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(726B)을 수광하도록 이루어져 있다.
광검출부 527-1의 수광부의 영역 K, 영역 L, 및 영역 W로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K, L, 및 W로 하고, 광검출부 527-2의 수광부의 영역 N, 영역 M, 및 영역 Z로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 N, M, 및 Z로 하면, 렌즈 시프트 신호의 값 ＬＳ는, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS = (K + M)-(L + N)
이렇게, 도２７ 및 도２８의 구성에 의하면, 도２３ 내지 도２６을 참조해서 전술한 경우와 비교하여, 광검출부의 수광부의 구성을 더욱 단순한 것으로 할 수 있다.
단, 도２７ 및 도２８의 구성을 사용했을 경우, 디포커스의 정도가 커지면, 도２７에 도시된 회절격자(701)의 영역 701B과 701C에 의해 회절된 광빔의, 예를 들면 +1차광의 스폿 720B은, 광검출부 527-1의 수광부의 도면 중 좌측 대각선 상측으로 이동하고, 영역 K의 외측에 위치하게 되며, 또한 스폿 720C는, 광검출부 527-1의 수광부의 도면 중 좌측 대각선 아래측으로 이동하고, 영역 L의 외측에 위치하게 되는 경우가 있다. 따라서, 디포커스의 정도가 크다고 예상되는 경우 등은, 도２３ 내지 도２６을 참조해서 전술한 구성을 사용하는 것이 바람직하다.
도２１, 도２３, 및 도２７에 있어서는, 각각 도면 중의 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부의 영역이 소정의 방향으로 광빔을 회절시키는 회절격자일 경우의 예에 관하여 설명했지만, 예를 들면 도 10의 경우와 마찬가지로, 회절격자의 도면 중의 좌측 상측의 일부와, 도면 중 우측 하측의 일부의 영역에서는, 광빔이 회절되지 않도록 하여도 된다.
도２９는, 예를 들면 도２１에 도시된 회절격자(621) 대신에 사용되는 회절격자 741의 구성예를 도시한 도면이다. 이때, 동 도면에는, 자신을 통과하는 광빔의 스폿의 형상이 중첩되어 표시되어 있다. 동 도면에 도시된 것과 같이, 회절격자(741)은, 도면 중의 좌측 상측의 일부이며, 도２１의 영역 621B에 대응하는 영역 741B과, 도면 중 우측 하측의 일부의 영역이며, 도２１의 영역 621C에 대응하는 영역 741C에서는, 광빔이 회절되지 않도록 이루어져 있다.
도30은, 도２９의 회절격자(741)에 대응해서 설치되는 광검출부(527)의 수광부의 구성예를 도시한 도면이다. 지금의 경우, 광픽업 장치(500)의 광검출부가, 광검출부 527-1, 527-2, 및 527-3에 의해 구성되어 있는 것으로 한다.
도 30의 광검출부 527-1은, 그 수광부가, 영역 K1, 및 영역 L1의 2개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K1 및 영역 L1에 있어서, 회절격자(741)의 영역 741A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 +1차광의 스폿(760A)을 수광하도록 이루어져 있다.
또한 도 30의 광검출부 527-2은, 그 수광부가, 영역 K3, 및 영역 L3의 2개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K3 및 영역 L3에 있어서, 회절격자(741)의 영역 741A에 의해 회절된 광빔의 ±1차광 중 어느 한쪽으로, 예를 들면 -1차광의 스폿(766A)을 수광하도록 이루어져 있다.
더구나, 도 30의 광검출부 527-3은, 그 수광부가, 영역 K2, 및 영역 L2의 2개의 영역으로 분할되어 있고, 영역 K2 및 영역 L2에 있어서, 각각 회절격자(741)의 영역 741C과 영역 741B를 통과한 광빔의 스폿 762C과 스폿 762B를 수광하도록 이루어져 있다.
광검출부 527-1내지 527-3의 수광부의 영역 K1 내지 영역 K3, 영역 L1 내지 영역 L3로부터 출력되는 신호의 값을, 각각 K1 내지 K3, L1 내지 L3로 하면, 회절격자(741)의 영역 741A에서 회절된 광빔에 근거하는 렌즈 시프트 신호 LS1의 값을, 다음 식에 의해 구할 수 있다.
LS1 = (K1- L1)+(K3- L3)
또한 회절격자(741)의 영역 741B 및 영역 741C을 통과한 광빔에 근거하는 렌즈 시프트 신호 LS2의 값을, 다음식에 의해 구할 수 있다.
LS2 = (K2- L2)
그리고, 이들 2개의 렌즈 시프트 신호 ＬＳ1과 ＬＳ2에 의해, 최종적으로 구해지는 렌즈 시프트 신호 LS가 다음식에 의해 산출된다.
LS = LS1+ LS2
이렇게, 2개의 렌즈 시프트 신호 ＬＳ1과, ＬＳ2에 의거하여 렌즈 시프트 신호 ＬＳ를 구하는 것에 의해, 역시, 검출된 렌즈 시프트 신호 ＬＳ의 진폭을, 충분하게 크게할 수 있고, 그 결과, 디프렌셜 푸시풀법과 같은 연산에 의해, 렌즈 시프트 신호에 의거하여 푸시풀 신호에 포함되는 ＤＣ 오프셋을 캔슬하여, 정확한 트랙킹 에러 신호를 검출하는 것이 가능해지는 동시에, 도２１과 도２２을 참조해서 전술한 경우와 비교하여, 회절격자의 구성을 보다 간단한 것으로 할 수 있다.
도２０ 내지 도 30을 참조해서 각각 전술한, 회절격자 또는 수광부의 구성은, 도 2의 광픽업 장치(100), 또는 도１８ 또는 도 19의 광픽업 장치(500)에 적용되는 예로서 설명했지만, 물론, 도 9의 광픽업 장치(300)와 같이 집적화된 광학 디바이스를 사용해서 구성된 광픽업 장치에 적용되도록 하여도 된다.
본 발명에 의하면, 간단한 구성으로 안정한 서보제어를 행할 수 있다.

Claims (16)

  1. 광디스크에 대하여 정보신호의 기록 또는 재생을 행하는 광픽업 장치로서,
    상기 광디스크를 향해서 광빔을 조사하는 광원과,
    상기 광원으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 디스크의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈와,
    상기 광디스크의 기록면에 있어서 반사된 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출부를 구비하고,
    상기 광검출부에 의해 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상을, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭으로 하고,
    상기 대물렌즈의 상기 광디스크에 대한 추종을 제어하는 제어장치에 의해,
    상기 광검출부에서 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 광검출부에 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고,
    상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 수광부의 영역은, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 적어도 3개 늘어서고, 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 별개의 소정의 연산을 행함으로써 포커스 에러 신호가 더 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 광빔이 상기 광디스크로부터 상기 광검출부를 향하는 광로중에, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 차광하는 차광판이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 광픽업장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 광빔이 상기 광디스크로부터 상기 광검출부를 향하는 광로중에, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 회절시키는 회절격자가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 광빔의 일부이며, 상기 회절격자에 의해 회절되지 않는 부분의 광빔이, 상기 회절격자에서 회절된 광빔과 함께 상기 광검출부에 의해 수광되고,
    상기 광검출부가 수광한 각각의 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  7. 제 5항에 있어서,
    상기 회절격자는, 수광되는 상기 광빔의 스폿의 형상이 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되도록, 상기 광빔의 일부를 회절시키는 영역을, 적어도 2개 이상 가지고,
    각각의 영역에서 회절된 광빔이 상기 광검출부에 의해 수광되고,
    상기 광검출부가 수광한 각각의 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 광검출부에 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 광디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되는 형상으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 광검출부의 수광부는, 상기 디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭이 되는 형상의 영역을, 적어도 2개 이상 가지고, 각각의 영역에서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호에 의거하여 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 광검출부의 수광부의 적어도 2개 이상의 영역 중, 소정의 영역이 배선에 의해 결선되고, 상기 배선에 의해 결선된 소정의 영역의 각각에서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 전류의 합계값이 전압값으로 변환되어서 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호로서 출력되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  11. 제 1항에 있어서,
    상기 광검출부에 있어서 상기 광빔을 수광하는 수광부가, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향과, 래디얼 방향으로 늘어선 복수의 사각형의 영역으로 이루어지고,
    상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 상기 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 별도의 소정의 연산을 행함으로써 푸시풀 신호가 검출되고,
    상기 렌즈 시프트 신호와, 상기 푸시풀 신호에 의거하여 트랙킹 에러 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  12. 제 1항에 있어서,
    상기 광빔이 상기 광디스크로부터 상기 광검출부를 향하는 광로중에, 상기 광빔을 제1 광빔과, 제2 광빔으로 분할하는 광빔 분할부가 설치되고, 상기 제1 광빔이, 상기 광검출부의 제1 수광부에 의해 수광되고, 상기 제2 광빔이 상기 광검출부의 제2 수광부에 의해 수광되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  13. 제 12항에 있어서,
    상기 제1 수광부가, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 늘어선 복수의 사각형의 영 역으로 이루어지고,
    상기 제2 수광부가, 상기 광디스크의 래디얼 방향으로 늘어선 복수의 사각형의 영역으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  14. 제 13항에 있어서,
    상기 제1 수광부의 영역은, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향으로 적어도 3개 늘어서고, 상기 제1 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 상기 렌즈 시프트 신호가 검출되고, 상기 제1 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 별도의 소정의 연산을 행함으로써 포커스 에러 신호가 더 검출되는 동시에,
    상기 제2 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써 푸시풀 신호가 검출되고,
    상기 렌즈 시프트 신호와, 상기 푸시풀 신호에 의거하여 트랙킹 에러 신호가 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  15. 제 14항에 있어서,
    상기 제2 수광부가, 상기 광디스크의 탄젠셜 방향과, 래디얼 방향으로 늘어선 복수 의 사각형의 영역으로 이루어지고, 상기 제2 수광부의 각 영역에 있어서 수광한 상기 광빔의 강도에 대응해서 각각 출력되는 신호에 대하여 소정의 연산을 행함으로써, 상기 대물렌즈의 상기 디스크의 탄젠셜 방향의 이동에 대응하는 신호가 더 검출되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
  16. 광디스크에 대하여 정보신호의 기록 또는 재생을 행하는 광디스크 장치로서,
    상기 광디스크를 향해서 광빔을 조사하는 광원과,
    상기 광원으로부터 조사된 상기 광빔을, 상기 광디스크의 기록면 위에 집광시키는 대물렌즈와,
    상기 광빔이 상기 광디스크의 기록면에 있어서 반사한 광빔을 수광하고, 수광한 상기 광빔의 강도에 대응하는 신호를 출력하는 광검출부와,
    상기 광디스크의 래디얼 방향으로 비대칭이며, 또한 상기 디스크의 탄젠셜 방향으로 비대칭인 형상의 상기 광빔의 스폿에 대응해서 상기 광검출부에서 출력되는 신호에 의거하여 상기 대물렌즈의 렌즈 시프트 신호를 검출하고, 상기 대물렌즈의 상기 디스크에 대한 추종을 제어하는 제어부를 구비한 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
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