JP2003161611A - 傾斜量検出装置 - Google Patents

傾斜量検出装置

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JP2003161611A JP2002261839A JP2002261839A JP2003161611A JP 2003161611 A JP2003161611 A JP 2003161611A JP 2002261839 A JP2002261839 A JP 2002261839A JP 2002261839 A JP2002261839 A JP 2002261839A JP 2003161611 A JP2003161611 A JP 2003161611A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 構成が簡易で出射される光の光軸に対する光
反射体の傾斜量を精度よく検出できる。 【解決手段】 傾斜量検出装置21は、光反射体24、
光源26、光源26からの出射光を光反射体24へ集光
する集光手段27および光反射体24からの反射光を検
出する光検出手段23を含む。集光手段27に備わる光
学素子22は、光軸28に関して軸対称となる位置に光
反射体24の軸心29と光源26から出射された光が集
光手段27によって光反射体24上に集光される集光位
置25とを結ぶ直線30方向に予め定められたずれ量を
有するように形成される第1および第2光学素子片3
1,32を有し、通過する光の光量を変化させる。光学
素子22による光量変化量は、光反射体24の傾斜量に
よく対応し、前記光量変化量を求めることによって光反
射体24の傾斜量を精度よく検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源からの出射光
を反射する光反射体と出射光の光軸との直交状態からの
ずれを検出する傾斜量検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光記録媒体に対する情報の記録または再
生を行うためには、使用する光を対物レンズによって集
光し、集光された微小な光スポットを光記録媒体の情報
記録面に形成しなければならない。近年、光記録媒体の
記録容量の大容量化が進むのにともない、さらに微小な
光スポットを形成することが要求されている。光スポッ
ト径は、使用する光の波長λと対物レンズの開口数NA
によって決定され、波長/開口数(λ/NA)に比例す
るので、対物レンズの開口数を大きくすることによって
光スポット径を縮小する試みが進められている。
【0003】光記録媒体の傾斜によって対物レンズを透
過した光に発生するコマ収差は、開口数の3乗に比例し
て増大する。このように対物レンズの開口数を大きくす
るのにともない、光記録媒体の傾斜によって発生するコ
マ収差が大きくなるので、良好な記録再生性能を得るこ
とができないという問題がある。したがって、光記録媒
体と集光される光の光軸とを直交状態に保ち、コマ収差
の発生を防止するためには、まず光記録媒体の傾斜量を
検出することが必要となる。
【0004】光記録媒体の傾斜量を検出する従来技術の
一つを以下に説明する(特許文献1参照)。図40は従
来の傾斜量検出装置1の構成を簡略化して示す部分断面
図であり、図41は従来の傾斜量検出装置1に備わる光
検出手段2の構成を簡略化して示す平面図である。従来
の傾斜量検出装置1は、対物レンズ3が保持されている
レンズ保持部材5に平板ガラス4が装着されている。光
検出手段2と遮光体7とは、対物レンズ3または平板ガ
ラス4上で対物レンズ3の軸線に対して軸対称をなす位
置に固着される。光記録媒体6へ向かって光源から出射
された光8は、遮光体7によって一部遮光されて対物レ
ンズ3へ入射し、対物レンズ3によって光記録媒体6へ
集光される。遮光部分9を含む光源から出射された光8
は、光記録媒体6によって前記軸対称となる位置に反射
される。図41に示すように、光検出手段2は、4つの
受光素子10,11,12,13からなる。光記録媒体
6が傾斜していないすなわち対物レンズ3の軸線と同軸
である光軸14と直交している場合は、光源から出射さ
れた光8の遮光部分9が反射される位置と光検出手段2
の位置とが一致しているので、各受光素子10〜13で
検出される各検出信号を検出信号a,b,c,dでそれ
ぞれ表すことにすると、検出信号aと検出信号cとの差
および検出信号bと検出信号dとの差は零となる。
【0005】図42は従来の傾斜量検出装置1において
光記録媒体6が傾斜している状態を簡略化して示す部分
断面図であり、図43は図42に示す状態の光検出手段
2上に遮光部分9が達する位置を示す平面図である。
【0006】傾斜量検出装置1において、図42に示す
ように光記録媒体6が、図42の紙面に向かって反時計
まわりの方向に傾斜した場合は、光記録媒体6によって
反射された光は、図42の紙面に向かって右方向へずれ
た光路をとる。このため、遮光部分9は光記録媒体6に
よって反射され、光検出手段2上において図43の紙面
に向かって右方向へずれた位置に達するので、検出信号
bと検出信号dとの差が正となる。逆に光記録媒体6が
図42の紙面に向かって時計まわりの方向に傾斜した場
合は、光記録媒体6からの反射光は図43の紙面に向か
って左方向へずれた光路をとり、遮光部分9は光検出手
段2上に達する位置が左へずれるので、検出信号bと検
出信号dとの差が負となる。したがって、各受光素子1
0〜13で受光して得られる検出信号を演算した結果に
よって、光記録媒体6の傾斜量を検出することができ
る。
【0007】
【特許文献1】特開平8−235624号公報(第3−
4頁、第2図)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】前述の先行技術の傾斜
量検出装置1には、以下のような問題がある。傾斜量検
出装置1では、遮光体7および光検出手段2を、対物レ
ンズ3またはレンズ保持部材5に一体に設けなければな
らない。光記録媒体6に対する記録または再生を行うと
きのトラッキングの制御は、レンズ保持部材5が搭載さ
れる対物レンズアクチュエータの駆動によって行われ
る。したがって、光検出手段2が前述のように対物レン
ズ3またはレンズ保持部材5に一体に設けられていない
場合、対物レンズ3の軸線と光記録媒体6とが直交して
いるにもかかわらず、トラッキング制御にともない遮光
体7が移動することによって、遮光部分9が光検出手段
2上でずれるという現象が発生する。この現象を防止す
るためには、遮光体7および光検出手段2が対物レンズ
3またはレンズ保持部材5と一体的でなければならな
い。
【0009】しかしながら、レンズ保持部材5に保持さ
れる対物レンズ3または平板ガラス4上に光検出手段2
と遮光体7とを一体的に装着すると、対物レンズアクチ
ュエータを通して光検出手段2へ配線しなければならな
いので、製作工程が複雑になるという問題がある。ま
た、光記録媒体6が備える情報の検出信号、トラッキン
グ誤差信号などを検出する光検出手段と前記光検出手段
2とを一つにすることができないので、部材点数が増加
しコストが増大するという問題がある。また複数の光検
出手段を設置するので光学系の配置が繁雑になるという
問題がある。
【0010】本発明の目的は、構成が簡易で出射される
光の光軸に対する光反射体の傾斜量を精度よく検出でき
る傾斜量検出装置を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、光を出射する
光源と、光源から出射された光を反射する光反射体と、
光源と光反射体との間に配置され、光源から出射される
光を平行光にして光反射体に照射する照射手段と、照射
手段に備えられ、光源から出射される出射光および/ま
たは光反射体から反射される反射光の光量を変化させる
光学素子と、光反射体から反射され前記光学素子によっ
て光量変化された反射光を検出する光検出手段とを含
み、前記光反射体の傾斜量を検出することを特徴とする
傾斜量検出装置である。
【0012】本発明に従えば、光源から出射された光
は、照射手段によって平行光とされ、光反射体に照射さ
れる。照射手段に備わる光学素子を通過した光は光量の
減少が起こり、光反射体へ照射される。光反射体によっ
て反射された反射光は、再び光学素子を通過し光検出手
段上で受光される。光反射体が光軸と直交し傾斜してい
ない場合(以後、この状態を傾斜していないと称す
る)、反射光の光学素子への入射位置は出射光と同じで
あり、光学素子を通過することによってさらなる光量の
変動は生じない。光反射体が光軸と直交する状態になく
傾斜している場合(以後、この状態を傾斜していると称
する)、光反射体からの反射光が光学素子へ入射する位
置が移動するので、光学素子を通過することによって光
量が変動する。このように、光反射体の傾斜量に対応し
て光検出手段上で受光される光量が変動するので、光反
射体の正確な傾斜量を検出できる。
【0013】また本発明は、光を出射する光源と、光源
から出射された光を反射する円板状の光反射体と、光源
と光反射体との間に配置され、光源から出射される光を
光反射体に集光する集光手段と、集光手段に備えられ、
光源から出射される出射光および光反射体から反射され
る反射光の光量を変化させる光学素子であって、光軸に
関して軸対称となる位置から光反射体の軸心と光源から
出射された光が前記集光手段によって光反射体上に集光
される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ
量を有するように形成される第1および第2光学素子片
を備える光学素子と、光反射体から反射され前記光学素
子によって光量変化された反射光を検出する光検出手段
とを含み、前記光反射体の傾斜量を検出することを特徴
とする傾斜量検出装置である。
【0014】本発明に従えば、光源から出射された光
は、集光手段によって円板状の光反射体上へ集光され
る。集光手段に備わる光学素子を通過した光は、光軸に
関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光源から出
射された光が集光手段によって光反射体上に集光される
集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ量を有
するように形成される第1および第2光学素子片によっ
て光量が減少される。光反射体が傾斜していないとき、
光反射体によって軸対称に反射された反射光は、再び光
学素子を通過して光量が減少される。また光反射体が傾
斜しているとき、光反射体からの反射光が光学素子に到
達する位置は、光反射体が傾斜していないときに比べて
移動するので、第1および第2受光素子片によって減少
される光量が傾斜量に対応して変動する。このように、
光反射体の傾斜量に応じて変動する光量を、光検出手段
上で検出することによって光反射体の傾斜量を精度よく
検出することができる。
【0015】また本発明は、前記第1および第2光学素
子片は、光軸と直交する断面が略矩形状を有し、光反射
体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向に
予め定める配列ピッチTで光学素子本体から突出して複
数形成されることを特徴とする。
【0016】本発明に従えば、第1および第2光学素子
片の光軸と直交する断面が略矩形状であるので、光反射
体の傾斜量に対する光量の変調度が大きくなり検出精度
は向上する。また第1および第2光学素子片が周期的に
配置されることによって光反射体の傾斜量に対応して光
量が線形に変動するので、光反射体の傾斜量を精度よく
容易に検出することができる。
【0017】また本発明は、前記第1および第2光学素
子片は、光反射体の軸心と光源から出射された光が前記
集光手段によって光反射体上に集光される集光位置とを
結ぶ直線方向の長さが配列ピッチTの2分の1であり、
前記ずれ量が配列ピッチTの4分の1であることを特徴
とする。
【0018】本発明に従えば、光反射体の軸心と光源か
ら出射された光が集光手段によって光反射体上に集光さ
れる集光位置とを結ぶ直線方向の長さが配列ピッチTの
2分の1である第1および第2光学素子片を、配列ピッ
チTの4分の1をずらして配置させて光学素子を構成す
る。このことによって、光量は、光反射体からの反射光
が光学素子へ入射する位置が前記直線方向の一方に向か
って4分の1ずれるときに最大値となり、前記直線方向
の他方に向かって4分の1ずれるときに最小値となる。
したがって、光反射体の傾斜の方向にかかわらず、傾斜
量を精度よく検出することができる。
【0019】また本発明は、前記光検出手段は、光反射
体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線に平行
な方向に分割線を有して前記直線に垂直な方向に配置さ
れる少なくとも3個の受光素子を含むことを特徴とす
る。
【0020】本発明に従えば、光検出手段は、少なくと
も3個の受光素子を含み、第1光学素子片を含む領域を
通過した光を受光する受光素子、第2光学素子片を含む
領域を通過した光を受光する受光素子、第1および第2
光学素子片を含む領域の残余の領域を通過した光を受光
する受光素子によって構成される。第1光学素子片を含
む領域を通過した光を受光する受光素子および第2光学
素子片を含む領域を通過した光を受光する受光素子が検
出した検出信号を、第1および第2光学素子片を含む領
域の残余の領域を通過した光を受光する受光素子が検出
した検出信号によって除算し、光反射体による光の回
折、反射率の変動などに起因する光強度の変動の影響を
相殺することによって、反射光の光強度の変動にかかわ
らず光反射体の正確な傾斜量を得ることができる。
【0021】また本発明は、前記光検出手段は、光反射
体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線に垂直
な方向に分割線を有して前記直線方向に配置される少な
くとも2個の受光素子を含むことを特徴とする。
【0022】また本発明は、前記光検出手段は、光反射
体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線に垂直
な方向に少なくとも3行が配置され、かつ前記直線に平
行な方向に少なくとも2列が配置されることを特徴とす
る。
【0023】本発明に従えば、少なくとも2個の受光素
子が、トラッキング制御に伴うレンズの移動方向に配置
されるので、受光素子の検出信号の差に基づいて、対物
レンズの移動方向を検出することができる。
【0024】また本発明は、前記光学素子と前記光検出
手段との間には、光反射体の軸心と光源から出射された
光が前記集光手段によって光反射体上に集光される集光
位置とを結ぶ直線に平行な分割線を少なくとも2本有
し、前記直線に垂直な方向に少なくとも3個の回折領域
が行状に配置される回折格子がさらに設けられることを
特徴とする。
【0025】本発明に従えば、第1光学素子片を含む領
域を通過した光の回折光と第2光学素子片を含む領域を
通過した光の回折光とが同一の受光素子によって受光可
能になる等、演算回路の簡易化や、受光素子数の削減等
を行うことができるので、装置の簡略化および小型化、
コストの低減を実現することができる。
【0026】また本発明は、光を出射する光源と、光源
から出射された光を反射する円板状の光反射体と、光源
と光反射体との間に配置され、光源から出射される光を
光反射体に集光する集光手段と、集光手段に備えられ、
光源から出射される出射光および光反射体から反射され
る反射光の光量を変化させる光学素子であって、光軸に
関して軸対称となる位置から光反射体の軸心と光源から
出射された光が前記集光手段によって光反射体上に集光
される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ
量を有するように形成される少なくとも4個の光学素子
片を備える光学素子と、光反射体から反射され前記光学
素子によって光量変化された反射光を検出する光検出手
段とを含み、前記光反射体の傾斜量を検出することを特
徴とする傾斜量検出装置である。
【0027】本発明に従えば、光源から出射された光
は、集光手段によって円板状の光反射体上へ集光され
る。集光手段に備わる光学素子を通過した光は、光軸に
関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光源から出
射された光が集光手段によって光反射体上に集光される
集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ量を有
するように形成される少なくとも4個の光学素子片によ
って光量が減少される。光反射体が傾斜しているとき、
光反射体からの反射光が光学素子に到達する位置は、光
反射体が傾斜していないときに比べて移動するので、少
なくとも4個の受光素子片によって減少される光量が傾
斜量に対応して変動する。このように、光反射体の傾斜
量に応じて変動する光量を、光検出手段で検出すること
によって光反射体の傾斜量を検出することができる。
【0028】また本発明は、前記光学素子は、第3、第
4、第5および第6光学素子片を備え、第3光学素子片
と第5光学素子片、第4光学素子片と第6光学素子片と
は光軸に関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光
源から出射された光が前記集光手段によって光反射体上
に集光される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められ
たずれ量を有するようにそれぞれ形成されることを特徴
とする。
【0029】本発明に従えば、光学素子は、第3、第
4、第5および第6光学素子片を備え、第3光学素子片
と第5光学素子片、第4光学素子片と第6光学素子片と
は光軸に関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光
源から出射された光が集光手段によって光反射体上に集
光される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたず
れ量を有してそれぞれ形成される。したがって、第3光
学素子片および第5光学素子片によって減少される光量
と、第4光学素子片および第6光学素子片によって減少
される光量とは、傾斜量に対応する変動が異なる。この
ことによって、第3光学素子片および第5光学素子片に
よって減少される光量と、第4光学素子片および第6光
学素子片によって減少される光量とによって光反射体の
傾斜量を検出することができる。
【0030】また本発明は、前記第3、第4、第5およ
び第6光学素子片は、光軸と直交する断面が略矩形状を
有し、光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集
光手段によって光反射体上に集光される集光位置とを結
ぶ直線方向に予め定める配列ピッチT1で光学素子本体
から突出して複数形成されることを特徴とする。
【0031】本発明に従えば、第3、第4、第5および
第6光学素子片の光軸と直交する断面が略矩形状である
ので、光反射体の傾斜量に対する光量の変調度が大きく
なり検出精度は向上する。また、第3、第4、第5およ
び第6光学素子片が周期的に配置されることによって、
光反射体の傾斜量に対応して、第3光学素子片を含む領
域を通過する光および第5光学素子片を含む領域を通過
する光の光量、ならびに第4光学素子片を含む領域を通
過する光の光量および第6光学素子片を含む領域を通過
する光の光量がそれぞれ線形に変動するので、光反射体
の傾斜量を精度よく容易に検出することができる。
【0032】また本発明は、前記第3、第4、第5およ
び第6光学素子片は、光反射体の軸心と光源から出射さ
れた光が前記集光手段によって光反射体上に集光される
集光位置とを結ぶ直線方向の長さが配列ピッチT1の2
分の1であり、第3光学素子片と第5光学素子片とは、
前記直線方向の一方の方向に配列ピッチT1の4分の1
のずれ量を有し、第4光学素子片と第6光学素子片と
は、前記直線方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分
の1のずれ量を有することを特徴とする。
【0033】本発明に従えば、第3、第4、第5および
第6光学素子片は、光反射体の軸心と光源から出射され
た光が集光手段によって光反射体上に集光される集光位
置とを結ぶ直線方向の長さが配列ピッチT1の2分の1
であり、第3光学素子片と第5光学素子片とを前記直線
方向の一方の方向に配列ピッチT1の4分の1ずらして
配置させ、第4光学素子片と第6光学素子片とは前記直
線方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分の1ずらし
て配置させて光学素子を構成する。このことによって、
第3光学素子片を含む領域を通過する光および第5光学
素子片を含む領域を通過する光の光量は、光反射体から
の反射光が光学素子へ入射する位置が前記直線方向の一
方に向かって4分の1ずれるときに最大値となり、他方
に向かって4分の1ずれるときに最小値となる。また第
4光学素子片を含む領域を通過する光および第6光学素
子片を含む領域を通過する光の光量は、光反射体からの
反射光が光学素子へ入射する位置が前記直線方向の一方
に向かって4分の1ずれるときに最小値となり、他方に
向かって4分の1ずれるときに最大値となる。したがっ
て、光反射体の傾斜の方向にかかわらず傾斜量を精度よ
く検出することができる。
【0034】また本発明は、前記第3ないし第6光学素
子片は、光反射体の軸心と光源から出射された光が前記
集光手段によって光反射体上に集光される集光位置とを
結ぶ直線に垂直、かつ前記光学素子の中心を通る直線に
線対称となるように形成されることを特徴とする。
【0035】本発明に従えば、第3ないし第6光学素子
片は、光反射体の軸心と光源から出射された光が集光手
段によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直
線と垂直、かつ光学素子の中心を通る直線に対して線対
称となるように形成されるので、光反射体が傾斜してい
ないときの第3および第5光学素子片によって減少され
る光量と、第4および第6光学素子片によって減少され
る光量とを等しくすることができる。
【0036】また本発明は、前記光検出手段は、光反射
体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線に平行
な方向と前記直線に垂直な方向とに分割線を有して行列
状に配置され、前記第3、第4、第5および第6光学素
子片を含む領域を通過した光をそれぞれ受光する少なく
とも4個の受光素子を含むことを特徴とする。
【0037】本発明に従えば、光検出手段は、少なくと
も、第3光学素子片を含む領域を通過した光を受光する
受光素子、第4光学素子片を含む領域を通過した光を受
光する受光素子、第5光学素子片を含む領域を通過した
光を受光する受光素子、第6光学素子片を含む領域を通
過した光を受光する受光素子によって構成される。第3
光学素子片を通過した光を受光する受光素子の検出信号
と第5光学素子片を通過した光を受光する受光素子の検
出信号とを加算した検出信号と、第4受光素子片を通過
した光を受光する受光素子の検出信号と第6光学素子片
を通過した光を受光する受光素子の検出信号とを加算し
た検出信号とによって傾斜量を正確に検出することがで
きる。また光検出手段に含まれる少なくとも2個の受光
素子は、トラッキング制御に伴うレンズの移動方向に配
置されるので、各受光素子の検出信号の差に基づいて、
対物レンズの移動方向を検出することができる。
【0038】また本発明は、前記光検出手段は、光反射
体の軸心と光軸から出射された光が前記集光手段によっ
て光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線に平行
な方向に分割線を有して前記直線に垂直な方向に配置さ
れる少なくとも3個の受光素子を含み、前記3個の受光
素子のうち、1個の受光素子は、第3および第4光学素
子片を含む領域を通過した光をそれぞれ受光するよう
に、前記直線に垂直な分割線によって少なくとも2個に
さらに分割され、もう1個の受光素子は、第5および第
6光学素子片を含む領域を通過した光をそれぞれ受光す
るように、前記直線に垂直な分割線によって少なくとも
2個にさらに分割されることを特徴とする。
【0039】本発明に従えば、第3受光素子片を含む領
域を通過した光を受光する受光素子の検出信号と第5受
光素子片を含む領域を通過した光を受光する受光素子の
検出信号とを加算した検出信号と、第4受光素子片を含
む領域を通過した光を受光する受光素子の検出信号と第
6光学素子片を含む領域を通過した光を受光する受光素
子の検出信号とを加算した検出信号とによって光反射体
の傾斜量の検出をすることができる。また第3受光素子
片を含む領域を通過した光、第4受光素子片を含む領域
を通過した光、第5受光素子片を含む領域を通過した光
および第6光学素子片を含む領域を通過した光をそれぞ
れ受光する各受光素子の検出信号を第3、第4、第5お
よび第6受光素子片を含む領域の残余の領域を通過した
光を受光する受光素子の検出信号によって除算し、光反
射体による光の回折、反射率の変動などに起因する光強
度の変動の影響を相殺することによって、反射光の光強
度の変動にかかわらず光反射体の正確な傾斜量を得るこ
とができる。また光検出手段に含まれる少なくとも2個
の受光素子が、トラッキング制御に伴うレンズの移動方
向に配置されるので、各受光素子の検出信号の差に基づ
いて、対物レンズの移動方向を検出することができる。
【0040】また本発明は、前記光学素子と光検出手段
との間には、光反射体の軸心と光源から出射された光が
前記集光手段によって光反射体上に集光される集光位置
とを結ぶ直線に平行な方向と前記直線に垂直な方向とに
分割線を有して少なくとも4個の回折領域が行列状に配
置される回折格子をさらに有することを特徴とする。
【0041】本発明に従えば、たとえば第3受光素子片
を含む領域を通過した光および第5受光素子片を含む領
域を通過した光を同一の受光素子で受光し、第4受光素
子片を含む領域を通過した光および第6受光素子片を含
む領域を通過した光を同一の受光素子で受光することな
どが可能となる。したがって、和信号を求める演算回路
を設ける必要がなくなるなど演算回路の簡易化や受光素
子数の削減を行うことができるので、装置の簡略化およ
び小型化、コストの低減を実現することができる。
【0042】また本発明は、前記光学素子と光検出手段
との間には、光反射体の軸心と光源から出射された光が
前記集光手段によって光反射体上に集光される集光位置
とを結ぶ直線に平行な分割線を有し、前記直線に垂直な
方向に少なくとも3個の回折領域が行状に配置される回
折格子であって、前記3個の回折領域のうち、1個の回
折領域は、第3および第4光学素子片を含む領域を通過
した光がそれぞれ入射するように、前記直線に垂直な分
割線を有し、前記直線に平行な方向に隣接して配置され
る少なくとも2個の小回折領域を有し、もう1個の回折
領域は、第5および第6光学素子片を含む領域を通過し
た光がそれぞれ入射するように、前記直線に垂直な分割
線を有し、前記直線に平行な方向に隣接して配置される
少なくとも2個の小回折領域を有する回折格子をさらに
有することを特徴とする。
【0043】本発明に従えば、たとえば第3受光素子片
を含む領域を通過した光および第5受光素子片を含む領
域を通過した光を同一の受光素子で受光し、第4受光素
子片を含む領域を通過した光および第6受光素子片を含
む領域を通過した光を同一の受光素子で受光することが
可能になるなど、和信号を算出する演算回路を設ける必
要がなく、受光素子の数を削減することなどができるの
で、装置の簡略化および小型化、コストの低減を実現す
ることができる。
【0044】また本発明は、前記光反射体は、ランドと
グルーブとを備える光記録媒体であり、光源から出射さ
れた光が前記集光手段によって光記録媒体に集光される
集光位置が、ランド上であるかグルーブ上であるかを判
断する判断手段と、前記判断手段の判断結果に応答し
て、傾斜量を検出する信号処理方法を切換える切換え手
段とをさらに備えることを特徴とする。
【0045】本発明に従えば、光源から出射された光が
集光手段によって光記録媒体に集光される集光位置がラ
ンド上であるかグルーブ上であるかが判断手段によって
判断され、判断結果に応答して切換え手段によって傾斜
量を検出する信号処理方法が切換えられる。このことに
よって、ランドまたはグルーブのいずれに光が集光され
る場合でも、ランドの回折パターンとグルーブの回折パ
ターンとが異なることによる反射光の光量変動の影響を
受けることなく正確な傾斜量を検出することが可能にな
る。
【0046】また本発明は、前記集光手段は、対物レン
ズと対物レンズを保持するレンズ保持部材とを含み、前
記光学素子は、対物レンズの軸線の延長線上に軸線を有
するようにレンズ保持部材に装着されることを特徴とす
る。
【0047】本発明に従えば、対物レンズと光学素子と
が一体的に設けられるので、対物レンズに対する光学素
子の位置調整および装着が容易となり、光学素子を調整
する時間および操作手順を低減することができる。
【0048】また本発明は、前記光学素子本体に形成さ
れる開口形状は、光反射体の軸心と光軸から出射された
光が前記集光手段によって光反射体上に集光される集光
位置とを結ぶ直線に垂直な方向の長さが、前記直線に平
行な方向の長さよりも長いことを特徴とする。
【0049】本発明に従えば、光学素子の光学素子片を
除く部分は、光反射体の軸心と光源から出射された光が
集光手段によって光反射体上に集光される集光位置とを
結ぶ直線方向の長さより、前記直線方向に垂直な方向の
長さの方が長いので、集光手段により集光された光の光
スポット径が光学素子片により遮光され、前記直線に垂
直な方向の開口数(NA)が小さくなることを相殺する
ことができる。このことによって、λ/NAに比例する
光スポット径の大きくなることが抑制される。
【0050】また本発明は、前記光学素子は、光強度を
減衰させる濾光フィルタからなることを特徴とする。
【0051】本発明に従えば、光学素子に濾光フィルタ
を用いる。濾光フィルタは、安価に入手可能であるの
で、コスト低減に寄与することができる。
【0052】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
である傾斜量検出装置21の構成を簡略化して示す部分
断面図であり、図2は図1に示す傾斜量検出装置21に
備わる光学素子22および光検出手段23を示す平面図
であり、図3は光反射体24への集光位置25を光反射
体24の上方から平面的に示す図である。
【0053】傾斜量検出装置21は、光を出射する光源
26と、光源26から出射された光を反射する円板状の
光反射体24と、光源26と光反射体24との間に配置
され、光源26から出射される光を光反射体24に集光
する集光手段27と、集光手段27に備えられ、光源2
6から出射される出射光および光反射体24から反射さ
れる反射光の光量を変化させる光学素子22であって、
光軸28に関して軸対称となる位置から光反射体24の
軸心29と光源26から出射された光が前記集光手段2
7によって光反射体24上に集光される集光位置25と
を結ぶ直線30方向に予め定められたずれ量を有するよ
うに形成される第1および第2光学素子片31,32を
備える光学素子22と、光反射体24から反射され光学
素子22によって光量変化された反射光を検出する光検
出手段23とを含む。
【0054】光源26は、たとえば波長780nmの光
を光反射体24へ出射するレーザチップを備える。
【0055】光反射体24は、たとえば光記録媒体24
であり、光記録媒体24は直径が8cmまたは12cm
の薄い円板状の形状を有し、たとえばポリカーボネート
基板の一方の表面にアルミニウムを蒸着し、アルミニウ
ム蒸着層の上に樹脂の保護膜が被覆されて形成される。
光記録媒体24には、コンパクトディスクおよびデジタ
ルバーサタイルディスクなどの光ディスクがあり、ラン
ダムアクセスが可能で、取り扱いが容易であり、かつ大
容量の情報を記録可能な記録媒体として、広く用いられ
ている。
【0056】集光手段27は、コリメータレンズ33
と、ビームスプリッタ34と、対物レンズ35と、光学
素子22と、レンズ保持部材36とを含む。コリメータ
レンズ33は、光源26から出射された光を平行光にす
る。ビームスプリッタ34は、光源26から出射された
光を反射し、光記録媒体24からの反射光を透過する。
対物レンズ35は、光源26から出射された光を光記録
媒体24上の情報記録面に集光し、情報記録面上に光ス
ポットを形成する。レンズ保持部材36は、合成樹脂製
の円筒形状を有する部材であり一端部37に対物レンズ
35を保持し、対物レンズ35の光源26寄りに対物レ
ンズ35の軸線の延長線上に軸線を有するように光学素
子22が装着される。このように、対物レンズ35と光
学素子22とが一体的に設けられるので、対物レンズ3
5に対する光学素子22の位置調整が容易となり、光学
素子22の位置を調整する時間および操作手順を低減す
ることができる。なお、レンズ保持部材36は傾斜量検
出装置21に備わる図示しない対物レンズアクチュエー
タに支持される。
【0057】光学素子22は、光学素子本体38と第1
および第2光学素子片31,32とを含み、たとえば合
成樹脂製薄板などの遮光材からなり、通過する光の光量
を第1および第2光学素子片31,32によって変化さ
せる。第1および第2光学素子片31,32は、光軸2
8と直交する断面が略矩形状を有し、図3で示す光記録
媒体24の軸心29と光源26から出射された光が集光
手段27によって光記録媒体24上に集光される集光位
置25とを結ぶ直線30方向に予め定める配列ピッチT
で光学素子本体38から突出して複数形成される。ま
た、第1および第2光学素子片31,32は、光記録媒
体24の軸心29と光源26から出射された光が集光手
段27によって光記録媒体24上に集光される集光位置
25とを結ぶ直線30方向の長さL1が配列ピッチTの
2分の1である。
【0058】ここで複数の第1光学素子片31のうち1
個の第1光学素子片200に注目する。光学素子22を
通過し対物レンズ35によって光記録媒体24に集光さ
れた光は、光記録媒体24によって対物レンズ35の入
射位置と光軸28に関して軸対称の位置に向かって反射
される。したがって、1個の第1光学素子片200を通
過した光は、光記録媒体24によって光軸28に関して
軸対称の位置200aに反射される。複数の第2光学素
子片32のうち1個の第2光学素子片201は、1個の
第1光学素子片200を通過した光が反射される位置で
ある光軸28に関して軸対称の位置200aから配列ピ
ッチTの4分の1のずれ量L2を有して形成されてい
る。このように、第1光学素子片31と第2光学素子片
32とが光記録媒体24の軸心29と光源26から出射
された光が集光手段27によって光記録媒体24上に集
光される集光位置25とを結ぶ直線30方向に有するず
れ量L2は、配列ピッチTの4分の1になるように形成
される。
【0059】第1および第2光学素子片31,32は、
光軸28と直交する断面が略矩形に形成される。このこ
とによって、光記録媒体24の傾斜量に対する光量の変
調度が大きくなるので、検出精度が向上する。また周期
的に配置されることによって光記録媒体24の傾斜量に
対応して光量が線形に変動するので、光記録媒体24の
傾斜量を精度よく容易に検出することができる。
【0060】光検出手段23はフォトダイオードなどか
らなる受光素子であり、光記録媒体24からの反射光を
受光し、その光量に対応する電流に変換して反射光の検
出信号を得る。
【0061】ここでは光記録媒体24の傾斜の方向を次
のように定義する。図3に示す光記録媒体24の軸心2
9と光源26から出射された光が集光手段27によって
光記録媒体24上に集光される集光位置25とを結ぶ直
線30および直線30の延長方向をラジアル方向と呼
び、ラジアル方向の傾斜量をラジアルチルト量と呼ぶ。
前記直線30と直交しかつ集光位置25を通る直線39
の方向をタンジェンシャル方向と呼び、タンジェンシャ
ル方向の傾斜量をタンジェンシャルチルト量と呼ぶ。
【0062】以下に光源26から出射された光および光
記録媒体24から反射された光が、光学素子22を通過
することによって生じる光量変化について説明する。
【0063】図4は光学素子22を通過する光の状態を
示す平面図であり、図5は光検出手段23上に受光され
る反射光40を示す平面図である。光記録媒体24が傾
斜していない場合、光学素子22へ入射した光は、光学
素子22が備える第1および第2光学素子片31,32
によって光量が減少されて通過し、対物レンズ35によ
って光記録媒体24へ集光される。光記録媒体24によ
って、対物レンズ35への入射位置と光軸28に関して
軸対称の位置に向かって反射された光は、対物レンズ3
5を透過し、再び光学素子22を通過する。第1光学素
子片31と第2光学素子片32とは、光軸28に関して
軸対称の位置からずれ量L2(図2に示すように配列ピ
ッチTの4分の1)を有して形成されているので、第1
光学素子片31を通過しさらに光記録媒体24によって
反射された光41は、第2光学素子片32に対してずれ
量L2だけずれた位置を通過する。第2光学素子片32
を通過しさらに光記録媒体24によって反射された光4
2は、第1光学素子片31に対して同じくずれ量L2だ
けずれた位置を通過する。このように第1光学素子片3
1と第2光学素子片32とを通過した光41および第2
光学素子片32と第1光学素子片31とを通過した光4
2は、光学素子片を2度通過することによって光量が変
化する。したがって、光学素子22を2度通過した反射
光40は、第1および第2光学素子片31,32によっ
て光量の減少した光41,42を含んで図5に示すよう
に光検出手段23によって受光される。
【0064】次に光記録媒体24が、ラジアル方向に傾
斜している場合を説明する。図6は傾斜量検出装置21
において光記録媒体24が角度θ1傾斜している状態を
簡略化して示す概略断面図であり、図7は図6に示す傾
斜量検出装置21において、光学素子22を通過する光
の状態を示す平面図であり、図8は光検出手段23によ
って受光される反射光43を示す平面図である。
【0065】図6に示すように、光記録媒体24がラジ
アル方向に図6の紙面に向かって反時計まわり(以後、
便宜上右上りと称する)に角度θ1傾斜しているので、
対物レンズ35によって光記録媒体24上へ集光されて
光記録媒体24から反射される光は、傾斜していない場
合の反射光に比べて光路が図6の紙面に向かって右方向
へずれ、光学素子22へ入射する位置も右方向へずれ
る。この角度θ1は、前述したラジアルチルト量を表
す。このことによって、光源26から出射し光記録媒体
24で反射された光が、第1および第2光学素子片3
1,32を通過する際に遮光される面積が減少する。し
たがって、光記録媒体24が傾斜していない場合の反射
光40よりも光量が多い反射光43が光検出手段23に
受光される。逆に、光記録媒体24がラジアル方向に図
6の紙面に向かって時計まわり(以後、便宜上左上りと
称する)に角度θ1傾斜した場合、光記録媒体24から
の反射光は図6の紙面に向かって左方向へずれ、光学素
子22への入射位置も左方向へずれる。このことによっ
て、光源26から出射し、光記録媒体24で反射された
光が、第1および第2光学素子片31,32を通過する
際に遮光される面積が増加する。したがって、光記録媒
体24が傾斜していない場合の反射光40よりも光量の
少ない反射光が光検出手段23に受光される。
【0066】以上のように光記録媒体24の傾斜に応じ
て光検出手段23によって受光される光量が変動するの
で、光記録媒体24が傾斜している場合の光検出手段2
3によって検出される反射光の検出信号をP、傾斜して
いない場合の光検出手段23によって検出される反射光
の検出信号をP0とすると、ラジアルチルト量を表す傾
斜量検出信号Pgは、Pg=P−P0で表すことができ
る。ラジアル方向の傾斜量検出信号Pgは、傾斜してい
ない場合零であり、右上りに傾斜している場合正であ
り、左上りに傾斜している場合負である。このことによ
って、傾斜量検出信号Pgからラジアルチルト量を検出
することができる。
【0067】ここで、傾斜量検出装置21における傾斜
量の検出範囲について説明する。対物レンズの焦点距離
をD(m)、光記録媒体24の傾斜量をθ(rad)と
する。光記録媒体24が傾斜しているとき反射光が光学
素子22に達する位置と、傾斜していないとき反射光が
光学素子22に達する位置とのずれ量は2Dθである。
第1および第2光学素子片31,32の配列ピッチはT
であるから、光検出手段23によって検出される光量が
最大値から最小値まで推移する反射光のずれ量はT/2
である。したがって、傾斜量検出範囲Δθは、式(1)
で表される。 Δθ=T/4D …(1)
【0068】式(1)によって、傾斜量の検出範囲を求
めることができる。第1光学素子片31と第2光学素子
片32とのずれ量L2は配列ピッチTの4分の1である
ので、光検出手段23が受光する光量は、光記録媒体2
4からの反射光が第1および第2光学素子片31,32
に達する位置が、光軸28に関して軸対称の位置から光
記録媒体24の軸心29と光源26から出射された光が
集光手段27によって光記録媒体24上に集光される集
光位置25とを結ぶ直線30方向の一方の方向に向かっ
て4分の1ずれるときに最大値、他方に向かって4分の
1ずれるときに最小値をとる。したがって、光記録媒体
24の傾斜の方向が右上りまたは左上りのいずれにもか
かわらず、傾斜を精度よく検出することができる。
【0069】図9はトラッキング制御によって対物レン
ズ35が移動した場合の光検出手段23上の反射光44
を示す平面図である。傾斜量検出装置21において、ト
ラッキング制御を行うとき対物レンズアクチュエータに
よって対物レンズ35を保持するレンズ保持部材36を
ラジアル方向へ移動させる。レンズ保持部材36を移動
させると光学素子22もともに移動するけれども、光検
出手段23は移動しないので、光検出手段23上の反射
光44は対物レンズ35の移動方向に対応して移動す
る。前述のように光学素子22および対物レンズ35は
一体的に移動するので、光学素子22への反射光の入射
位置は移動せず、反射光の光量は対物レンズ35の移動
にかかわらず変動することがない。したがって、トラッ
キングの制御によって対物レンズ35が移動した場合で
あっても、光記録媒体24の傾斜量を検出することがで
きる。
【0070】図10は本発明の第2の実施の形態である
傾斜量検出装置に備わる光検出手段45の構成を簡略化
して示す平面図である。本実施の形態の光検出手段45
は、第1の実施の形態である傾斜量検出装置21に備わ
る光検出手段23に類似し、対応する部分には同一の参
照符号を付して説明を省略する。注目すべきは、光検出
手段45は、光記録媒体24の軸心29と光源26から
出射された光が集光手段27によって光記録媒体24上
に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に平行な方
向に分割線を有して前記直線30に垂直な方向に配置さ
れる3個の受光素子である第1〜第3受光素子46,4
7,48を含むことである。
【0071】第1受光素子46は第1光学素子片31を
含む領域49を通過した光を受光し、第2受光素子47
は第2光学素子片32を含む領域50を通過した光を受
光し、第3受光素子48は第1光学素子片31および第
2光学素子片32を含む領域の残余の領域51を通過す
る光を受光する。
【0072】第1の実施の形態である傾斜量検出装置2
1が備える光検出手段23では、受光される反射光の光
量の全てを検出信号として用い、光記録媒体24が傾斜
している場合と傾斜していない場合との検出信号の差を
演算し、光記録媒体24のラジアルチルト量を求めてい
る。この演算方法では、検出信号は光記録媒体24によ
って回折された光の影響を受けて変動するので、3個の
受光素子46,47,48による検出信号を用いて次に
説明する方法によりラジアルチルト量の検出精度をさら
に向上する。光検出手段45では、第1受光素子46が
領域49を通過した光を受光して検出信号P1を検出
し、第2受光素子47が領域50を通過した光を受光し
て検出信号P2を検出する。傾斜量検出信号Pg1は、
前記検出信号P1,P2の和信号(P1+P2)と傾斜
していない場合に第1および第2受光素子46,47に
よって受光される検出信号P01,P02の和信号(P0
1+P02)とを減算する式(2)によって求めること
ができる。 Pg1=(P1+P2)−(P01+P02) …(2)
【0073】このことによって光記録媒体24のラジア
ルチルト量演算に対して及ぼす光記録媒体24による回
折光の影響を低減することができる。また、検出精度を
あげるために利用されない第3受光素子48は、複数個
に分割し、各受光素子が検出した検出信号をフォーカス
誤差信号やトラッキング誤差信号などの検出に利用する
ことができる。
【0074】しかしながら、前述の傾斜量検出信号Pg
1の検出方法では、光源26が備えるレーザの出力変動
および光記録媒体24の反射率の変動などに起因する反
射光の光強度の変動の影響を受ける。反射光の光強度の
変動にともなって和信号(P1+P2)が変動するの
で、光記録媒体24のラジアルチルト量が同一であって
も、和信号(P1+P2)が変動し正確なラジアルチル
ト量を検出できないことがある。
【0075】そこで、第3受光素子48によって前記領
域51を通過した光を受光して検出信号P3を検出し、
和信号(P1+P2)を検出信号P3で除算する式
(3)によって、光強度変動の影響が相殺された検出信
号Paを得ることができる。 Pa=(P1+P2)/P3 …(3) ここで和信号(P1+P2)と検出信号P3とは、光量
に対して比例関係にあるので、光強度の変動の影響を相
殺することができる。
【0076】光記録媒体24が傾斜していない場合、第
3受光素子48による領域51を通過した光の検出信号
03を用いて同様に光強度変動の影響を相殺すると式
(4)によって定数Pbが得られる。 Pb=(P01+P02)/P03 …(4)
【0077】定数Pbは、前述のように光記録媒体24
が傾斜していない場合について、光強度の変動が相殺さ
れた値であり一定値となるので、光記録媒体24のラジ
アルチルト量検出の基準値として使用することができ
る。光強度変動の影響が相殺された検出信号Paから、
定数Pbを減算する式(5)によって、光記録媒体24
のラジアルチルト量の指標である傾斜量検出信号Pg2
を、光強度変動に影響されることなく定量的に求めるこ
とが可能になる。 Pg2=Pa−Pb=(P1+P2)/P3−(P01+P02)/P03 …(5)
【0078】また、ラジアル方向に対する傾斜の方向の
みを検出する傾斜エラー信号Peは以下のように求める
ことができる。まず、光記録媒体24が傾斜していない
場合の第1受光素子46の検出信号P01と第2受光素
子47の検出信号P02との和信号(P01+P02)と
第3受光素子48の検出信号P03とが同じ値になるよ
うな定数gを求める。定数gは、式(6)によって得ら
れる。 g=P03/(P01+P02) …(6)
【0079】次に光記録媒体24が傾斜している場合の
第1および第2受光素子46,47による検出信号の和
信号(P1+P2)に前記定数gを乗算して得られる
[g(P1+P2)]から、第3受光素子48による検
出信号P3を減算する式(7)によって傾斜エラー信号
Peを求めることができる。 Pe=g(P1+P2)−P3 …(7)
【0080】式(7)によって得られる傾斜エラー信号
Peが、正または負のいずれかであるかに基づいて光記
録媒体24の傾斜方向を求めることができる。
【0081】このように、各受光素子46,47,48
が検出した検出信号に基づいて、光記録媒体24によっ
て起こる光の回折、反射率の変動などによる光強度の変
動の影響を相殺することができるので、反射光の光強度
の変動にかかわらず光記録媒体24の正確な傾斜量を得
ることができる。
【0082】図11は本発明の第3の実施の形態である
傾斜量検出装置52において光記録媒体24がタンジェ
ンシャル方向に角度θ2傾斜している状態を簡略化して
示す部分断面図であり、図12は光学素子22を通過す
る光の状態を表す平面図であり、図13は光記録媒体2
4が傾斜していないとき光検出手段45によって受光さ
れる反射光53を示す平面図であり、図14は光記録媒
体24が傾斜しているとき光検出手段45によって受光
される反射光54を示す平面図である。
【0083】図11に示す第3の実施の形態である傾斜
量検出装置52は、第1の実施の形態である傾斜量検出
装置21に類似し、対応する部分には同一の参照符号を
付して説明を省略する。注目すべきは、第2の実施の形
態と同一の光検出手段45を備え、光記録媒体24がタ
ンジェンシャル方向に角度θ2傾斜していることであ
る。角度θ2は、前述したタンジェンシャルチルト量を
表す。
【0084】傾斜量検出装置52が備える光記録媒体2
4は、タンジェンシャル方向において右上りに角度θ2
傾斜している。光学素子22を通過しさらに光記録媒体
24によって反射された光55は、光路が図11の紙面
に向かって右方向にずれ、光学素子22へ入射する位置
も図12の紙面に向かって右方向へずれる。図14に示
す光検出手段45によって受光された反射光54は、図
13に示す光記録媒体24が傾斜していない場合の反射
光53と比べ、第1受光素子46が受光する光量は増加
し、第2受光素子47が受光する光量は減少する。逆
に、光記録媒体24がタンジェンシャル方向において左
上りに角度θ2傾斜したときの反射光の光路は左方向へ
ずれ、光学素子22へ入射する位置も左方向へずれる。
このことによって、第1受光素子46が受光する光量は
減少し、第2受光素子47が受光する光量は増加する。
【0085】このように光記録媒体24のタンジェンシ
ャルチルト量に応じて、第1および第2受光素子46,
47によって受光される光量が変動するので、タンジェ
ンシャルチルト量の指標である傾斜量検出信号Pg3は
第1受光素子46による検出信号P1と第2受光素子4
7による検出信号P2とを用いて式(8)で表すことが
できる。 Pg3=P1−P2 …(8)
【0086】タンジェンシャル方向の傾斜量検出信号P
g3は、傾斜していない場合零であり、右上りに傾斜し
ている場合正であり、左上りに傾斜している場合負であ
るので、傾斜量検出信号Pg3からタンジェンシャルチ
ルト量を求めることができる。また、第3受光素子48
が検出した検出信号で検出信号P1,P2を除算するこ
とによって、反射光の光強度変化に影響されない傾斜量
検出信号を求めてもよい。また、第3受光素子48は、
複数に分割してトラッキング誤差信号などの検出に用い
てもよい。
【0087】また、タンジェンシャル方向の傾斜量検出
信号の検出は、光記録媒体24の軸心29と光源26か
ら出射された光が集光手段27によって光記録媒体24
上に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に平行な
方向に分割線を有して前記直線30に垂直な方向に配置
される2つの受光素子からなる光検出手段を用いても検
出することができる。
【0088】図15はラジアル方向の傾斜量検出信号P
g2とラジアルチルト量θ1との関係を表す図であり、
図16はタンジェンシャル方向の傾斜量検出信号Pg3
とタンジェンシャルチルト量θ2との関係を表す図であ
る。ラジアルチルト量を表す角度θ1およびタンジェン
シャルチルト量を表す角度θ2は、単位を(rad)か
ら(deg)へ換算して示す。
【0089】図15中に示す第1ライン56は、第2の
実施の形態の傾斜量検出装置を用いて光記録媒体24の
ラジアルチルト量と傾斜量検出信号Pg2との関係を求
めた結果である。また図16中に示す第2ライン57
は、第3の実施の形態の傾斜量検出装置52を用いて光
記録媒体24のタンジェンシャルチルト量と傾斜量検出
信号Pg3との関係を求めた結果である。光記録媒体2
4の傾斜量を示す角度θ1,θ2は、ラジアル方向、タ
ンジェンシャル方向ともに光記録媒体24が右上りに傾
斜したときの値を負、左上りに傾斜したときの値を正と
する。第1ライン56および第2ライン57は、ともに
光記録媒体24の傾斜量とラジアル方向およびタンジェ
ンシャル方向の傾斜量検出信号Pg2,Pg3との関係
は、線形に変動している。このことによって、傾斜量検
出信号Pg2,Pg3を求めることによってラジアル方
向、タンジェンシャル方向のいずれの方向の光記録媒体
24の傾斜量も精度よく検出することができる。
【0090】図17は本発明の第4の実施の形態である
傾斜量検出装置に備わる光検出手段58の構成を簡略化
して示す平面図である。本実施の形態の光検出手段58
は、第1の実施の形態である傾斜量検出装置21に備わ
る光検出手段23に類似し、対応する部分には同一の参
照符号を付して説明を省略する。注目すべきは、光検出
手段58が、光記録媒体24の軸心29と光源26から
出射された光が集光手段27によって光記録媒体24上
に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に垂直な方
向に分割線を有して前記直線30方向に配置される第4
および第5受光素子59,60からなることである。
【0091】光検出手段58は、対物レンズ35がトラ
ッキング制御によって予め定められた基準位置から右方
向へ移動した状態の反射光61を受光している。対物レ
ンズ35が右方向へ移動した場合、第4受光素子59に
よって受光される反射光61の面積が増加し、第5受光
素子60によって受光される反射光61の面積が減少す
る。逆に、対物レンズ35が左方向へ移動した場合、第
4受光素子59によって受光される反射光の面積は減少
し、第5受光素子60によって受光される反射光の面積
が増加する。以上のように対物レンズ35の移動に応じ
て第4および第5受光素子59,60によって受光され
る光量が変動するので、第4受光素子59によって検出
される検出信号をP4、第5受光素子60によって検出
される検出信号をP5とすると、対物レンズ35の移動
を表すレンズシフト信号Psは、式(9)で表すことが
できる。 Ps=P4−P5 …(9)
【0092】レンズシフト信号Psは、対物レンズ35
が予め定められた基準位置にある場合零であり、基準位
置から右方向へ移動した場合正であり、基準位置から左
方向へ移動した場合は負である。このことによって、レ
ンズシフト信号Psから対物レンズ35の移動方向を検
出することができる。
【0093】このように2個の受光素子は、トラッキン
グ制御に伴うレンズの移動方向に配置されるので、各受
光素子の検出信号の差に基づいて、対物レンズの移動方
向を検出することができる。
【0094】図18は、本発明の第5の実施の形態であ
る傾斜量検出装置に備わる光検出手段62の構成を簡略
化して示す平面図である。本実施の形態の光検出手段6
2は、第1の実施の形態の傾斜量検出装置21に備わる
光検出手段23に類似し、対応する部分には同一の参照
符号を付して説明を省略する。注目すべきは、光検出手
段62は、光記録媒体24の軸心29と光源26から出
射された光が集光手段27によって光記録媒体24上に
集光される集光位置25とを結ぶ直線30に垂直な方向
に3行が配置され、前記直線30に平行な方向に2列が
配置される6個の受光素子からなることである。
【0095】光検出手段62は、6個の受光素子63,
64,65,66,67,68からなり、各行を構成す
る2個の受光素子を1群として、3つの受光素子群を構
成する。3つの受光素子群から得られる検出信号は、図
10に示す第1、第2および第3受光素子46,47,
48から得られる検出信号に対応させて考えることがで
きる。領域49を通過した光を受光する2個の第6およ
び第7受光素子63,64からなる第1受光素子群69
が検出する検出信号は検出信号P1に対応し、領域50
を通過した光を受光する2個の第8および第9受光素子
65,66からなる第2受光素子群70が検出する検出
信号は検出信号P2に対応し、領域51を通過した光を
受光する2個の第10および第11受光素子67,68
からなる第3受光素子群71が検出する検出信号は検出
信号P3に対応する。第3受光素子群71が検出する検
出信号は、光記録媒体24によって回折された光の影響
による誤差を小さくするため利用せず、第1および第2
受光素子群69,70によってそれぞれ検出される検出
信号を利用して、ラジアルチルト量を表す傾斜量検出信
号Pg1を求める式(2)およびタンジェンシャルチル
ト量を表す傾斜量検出信号Pg3を求める式(8)によ
って、光記録媒体24の傾斜量を検出することができ
る。
【0096】また、光記録媒体24によって回折された
光の影響を受ける第2行の第10および第11受光素子
67,68を除いた各列の2個の受光素子を1群とし、
2つの受光素子群を構成することができる。2つの受光
素子群から得られる検出信号は、図17に示す第4およ
び第5受光素子59,60から得られる検出信号に対応
させて考えることができる。すなわち、第6および第8
受光素子63,65からなる第4受光素子群72が検出
する検出信号は検出信号P4に対応し、第7および第9
受光素子64,66からなる第5受光素子群73が検出
する検出信号は検出信号P5に対応させることができる
ので、第4受光素子群72と第5受光素子群73とが検
出する検出信号を利用してレンズシフト信号Psを求め
る式(9)によって、トラッキングの制御にともなう対
物レンズ35の移動を検出することができる。
【0097】また、式(2)および式(8)による傾斜
量の検出および式(9)による対物レンズ35の移動の
検出において利用されない第10および第11受光素子
67,68の検出信号は、トラッキング誤差信号の検出
に用いることができる。また、光記録媒体24の傾斜量
およびレンズシフト量の検出には、第10および第11
受光素子67,68の検出信号を利用することによって
得られる反射光の光強度変動に影響されない傾斜量検出
信号およびレンズシフト信号を利用してもよい。
【0098】このように、光記録媒体24の傾斜量とト
ラッキングによる対物レンズ35の移動とを同一の光検
出手段62によって検出することができるので、装置の
構成が簡易になり光学素子22の位置を調整する時間お
よび操作手順の削減とコストの低減とが可能になる。
【0099】図19は、本発明の第6の実施の形態であ
る傾斜量検出装置74の構成を簡略化して示す部分断面
図である。本実施の形態の傾斜量検出装置74は、第1
の実施の形態の傾斜量検出装置21に類似し、対応する
部分には同一の参照符号を付して説明を省略する。注目
すべきは、傾斜量検出装置74は、光学素子22と光検
出手段75との間に回折格子76および集光レンズ72
を備えることである。なお図19では、光検出手段75
は便宜上1つの受光素子で示す。
【0100】図20は傾斜量検出装置74に備わる回折
格子76の一例を示す平面図であり、図21は回折格子
76と光検出手段75との光学的関係を示す図である。
回折格子76は、光記録媒体24の軸心29と光源26
から出射された光が集光手段27によって光記録媒体2
4上に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に垂直
な方向に行状に配置される3個の回折領域である第1〜
第3回折領域77,78,79を含む。第1〜第3回折
領域77,78,79のうち、第1光学素子片31を含
む領域49を通過した光が入射する第1回折領域77と
第2光学素子片32を含む領域50を通過した光が入射
する第2回折領域78とは同一の格子形状を有する。
【0101】光検出手段75は、図21に示すように第
1光学素子片31を含む領域49を通過した光が入射す
る第1回折領域77の回折光および第2光学素子片32
を含む領域50を通過した光が入射する第2回折領域7
8の回折光を受光する受光素子である第12受光素子8
0と、第1および第2光学素子31,32を含む領域の
残余の領域51を通過した光が入射する第3回折領域7
9の回折光を受光する受光素子である第13受光素子8
1とを含む。
【0102】光学素子22を通過し、光記録媒体24に
よって反射され光学素子22を再び通過した反射光は、
ビームスプリッタ34および集光レンズ72を透過し回
折格子76に入射する。第1光学素子片31を含む領域
49を通過した光は第1回折領域77に入射し、第2光
学素子片32を含む領域50を通過した光は第2回折領
域78に入射する。第1回折領域77と第2回折領域7
8とは同一の格子形状を有するので、第1光学素子片3
1を含む領域49を通過した光と、第2光学素子片32
を含む領域50を通過した光とは同じ回折角で回折さ
れ、第12受光素子80上に受光される。第1および第
2光学素子片31,32を含む領域の残余の領域51を
通過した光は、第3回折領域79に入射し、第1および
第2回折領域77,78に入射した光とは異なる回折角
で回折されて第13受光素子81上に受光される。
【0103】第12受光素子80によって検出される検
出信号は、図10に示す第1受光素子46によって検出
される検出信号P1と第2受光素子47によって検出さ
れる検出信号P2の和信号(P1+P2)に対応し、第
13受光素子81によって検出される検出信号は、第3
受光素子48によって検出される検出信号P3に対応す
る。したがって、ラジアルチルト量を表す傾斜量検出信
号Pg2を求める式(5)によって、光記録媒体24の
傾斜量を求めることができる。
【0104】本実施の形態によれば、和信号を算出する
演算回路を設ける必要がなくなるなど、受光素子の数を
削減することができるので、装置の簡略化および小型
化、コストの低減を実現することができる。
【0105】また、光記録媒体として、ランドおよびグ
ルーブを有しランドおよびグルーブのいずれにも情報を
記録することが可能である光記録媒体を用いる場合、た
とえばランドとグルーブとの幅の違いなどに起因して光
源26から出射された光の集光位置がランド上またはグ
ルーブ上のいずれにあるかによって回折パターンが異な
る。したがって、光記録媒体の傾斜量が同じであっても
反射光の光量が変動し傾斜量検出信号が異なる。このた
め、前述した光記録媒体を用いる場合は以下のようにし
て傾斜量を検出する。
【0106】図22は、本発明の第7の実施の形態であ
る傾斜量検出装置83の構成を簡略化して示す概略図で
ある。本実施の形態の傾斜量検出装置83は、第1の実
施の形態の傾斜量検出装置21に類似し、対応する部分
には同一の参照符号を付して説明を省略する。注目すべ
きは、傾斜量検出装置83は、光源26から出射された
光が集光手段27によって光記録媒体24に集光される
集光位置がランド上であるかグルーブ上であるかを判断
する判断手段84と、前記判断手段84の判断結果に応
答して傾斜量を検出する信号処理を切換える切換え手段
85とをさらに備えることである。
【0107】判断手段84は、たとえば、ランドとグル
ーブの幅が異なる光ディスクの場合であれば、集光位置
がランドにある場合とグルーブにある場合で反射光量が
変化するため、反射光量の大小を比較することにより、
集光位置がランド上であるかグルーブ上であるかを判断
する。また切換え手段85は、判断手段84から出力さ
れる信号に基づいて、信号処理方法すなわち計算方法を
切換える。
【0108】光記録媒体が傾斜している場合の光検出手
段23によって検出される検出信号をP、光記録媒体が
傾斜していないとき、ランド上に集光位置がある場合の
検出信号をPd、グルーブ上に集光位置がある場合の
検出信号をPgとすると、ランド上に集光位置がある
場合にはラジアルチルト量を表す傾斜量検出信号Pg4
を式(10)で求め、グルーブ上に集光位置がある場合
にはラジアルチルト量を表す傾斜量検出信号Pg5を式
(11)で求める。 Pg4=P−Pd …(10) Pg5=P−Pg …(11)
【0109】このことによって、ランドまたはグルーブ
のいずれに光が集光される場合でも、ランドの回折パタ
ーンとグルーブの回折パターンとが異なることによる反
射光の光量変動の影響を受けることなく正確な傾斜量を
検出することが可能になる。
【0110】図23は本発明の第8の実施の形態である
傾斜量検出装置101の構成を簡略化して示す部分断面
図であり、図24は図23に示す傾斜量検出装置101
に備わる光学素子102および光検出手段111を示す
平面図であり、図25は光学素子102の構成を簡略化
して示す平面図である。本実施の形態の傾斜量検出装置
101は、第1の実施の形態の傾斜量検出装置21に類
似し、対応する部分には同一の参照符号を付して説明を
省略する。注目すべきは、傾斜量検出装置101に備わ
る光学素子102は、4個の光学素子片である第3〜第
6光学素子片103,104,105,106を含むこ
とである。
【0111】第3〜第6光学素子片103,104,1
05,106は、光軸28と直交する断面が略矩形状を
有し、光記録媒体24の軸心29と光源26から出射さ
れた光が集光手段27によって光記録媒体24上に集光
される集光位置25とを結ぶ直線30方向に予め定める
配列ピッチT1で光学素子本体38から突出して複数形
成される。第3光学素子片103と第4光学素子片10
4との境界線300および第5光学素子片105と第6
光学素子片106との境界線301は、図23では光軸
28と重複して示し、図24、図25では前記直線30
と直交しかつ集光位置25を通る直線39と重複して示
す。
【0112】また第3〜第6光学素子片103,10
4,105,106は、前記直線30方向の長さL3が
配列ピッチT1の2分の1である。図25では、第3光
学素子片103と第5光学素子片105、第4光学素子
片104と第6光学素子片106とが、光軸28に関し
て軸対称の位置にずれ量を有しないで形成されたと仮定
した場合の第5および第6光学素子片を仮想線105
a,106aでそれぞれ示す。第3光学素子片103と
第5光学素子片105とは、光軸28に関して軸対称と
なる位置に前記直線30方向の一方の方向に配列ピッチ
T1の4分の1のずれ量L4を有するように形成され
る。また第4光学素子片104と第6光学素子片106
とは、光軸28に関して軸対称となる位置に前記直線3
0方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分の1のずれ
量L5を有するように形成される。ここで第3光学素子
片103と第4光学素子片104とは、また第5光学素
子片105と第6光学素子片106とは、光記録媒体2
4の軸心29と光源から出射された光が集光手段27に
よって光記録媒体24に集光される位置25とを結ぶ直
線30に垂直であり、光学素子22の中心302を通る
直線303に対して線対称となるように形成される。
【0113】このような構成の光学素子によれば、第3
光学素子片103および第5光学素子片105によって
減少される光量と、第4光学素子片104および第6光
学素子片106によって減少される光量とは、傾斜量に
対する変動が異なる。このことによって、第3光学素子
片103および第5光学素子片105によって減少され
る光量と、第4光学素子片104および第6光学素子片
106によって減少される光量とによって光記録媒体2
4の傾斜量を検出することができる。
【0114】また第3〜第6光学素子片103,10
4,105,106は、光軸28と直交する断面が略矩
形に形成されるので、光記録媒体24の傾斜量に対する
光量の変調度が大きくなり、検出精度は向上する。ま
た、第3〜第6光学素子片103,104,105,1
06が周期的に配置されるので、光記録媒体24の傾斜
量に対応して、第3光学素子片103を含む領域107
を通過する光および第5光学素子片105を含む領域1
09を通過する光ならびに第4光学素子片104を含む
領域108を通過する光および第6光学素子片106を
含む領域110を通過する光がそれぞれ線形に変動す
る。このことによって、光記録媒体24の傾斜量を精度
よく容易に検出することができる。また第3光学素子片
103と第4光学素子片104とは、また第5光学素子
片105と第6光学素子片106とは、前記直線303
に対して線対称であるので、光記録媒体24が傾斜して
いないときの第3および第5光学素子片103,105
によって減少される光量と、第4および第6光学素子片
104,106によって減少される光量とを等しくする
ことができる。
【0115】光検出手段111は、光記録媒体24の軸
心29と光源26から出射された光が集光手段27によ
って光記録媒体24上に集光される集光位置25とを結
ぶ直線30に平行な方向と、前記直線30に垂直な方向
とに分割線を有して行列状に配置される4個の受光素子
である第15〜第18受光素子112,113,11
4,115を含む。第15受光素子112は第3光学素
子片103を含む領域107を通過した光を受光し、第
16受光素子113は第4光学素子片104を含む領域
108を通過した光を受光し、第17受光素子114は
第5光学素子片105を含む領域109を通過した光を
受光し、第18受光素子115は第6光学素子片106
を含む領域110を通過した光を受光する。
【0116】以下に光源26から出射された光および光
記録媒体24から反射された光が、光学素子22を通過
することによって生じる光量変化について説明する。図
26は光学素子102を通過する光の状態を示す平面図
であり、図27は光検出手段111上に受光される反射
光116を示す平面図である。光記録媒体24が傾斜し
ていない場合、光学素子102へ入射した光は、光学素
子102が備える第3〜第6光学素子片103,10
4,105,106によって光量が減少されて通過し、
対物レンズ35によって光記録媒体24へ集光される。
光記録媒体24によって対物レンズ35への入射位置と
光軸28に関して軸対称の位置に反射された光は、対物
レンズ35を透過し、再び光学素子102を通過する。
第3光学素子片103と第5光学素子片105とは、光
軸28に対する軸対称の位置に、前記直線30方向の一
方の方向にずれ量L4(図25に示すように配列ピッチ
T1の4分の1)を有して形成されている。このため、
第3光学素子片103を通過しさらに光記録媒体24に
よって反射された光117は、第5光学素子片105に
対してずれ量L4だけずれた位置を通過する。第5光学
素子片105を通過しさらに光記録媒体24によって反
射された光118は、第3光学素子片103に対して同
じくずれ量L4だけずれた位置を通過する。
【0117】また、第4光学素子片104と第6光学素
子片106とは、光軸28に対する軸対称の位置に、前
記直線30方向の他方の方向にずれ量L5(図25では
配列ピッチT1の4分の1)を有して形成されている。
このため、第4光学素子片104を通過しさらに光記録
媒体24によって反射された光119は、第6光学素子
片106に対してずれ量L5だけずれた位置を通過す
る。第6光学素子片106を通過しさらに光記録媒体2
4によって反射された光120は、第4光学素子片10
4に対して同じくずれ量L5だけずれた位置を通過す
る。
【0118】このように第3光学素子片103と第5光
学素子片105とを通過した光117、第5光学素子片
105と第3光学素子片103とを通過した光118、
第4光学素子片104と第6光学素子片106とを通過
した光119および第6光学素子片106と第4光学素
子片104とを通過した光120は、光学素子片を2度
通過することによって光量が変化する。したがって、光
学素子102を2度通過した反射光116は、第3〜第
6光学素子片103,104,105,106によって
光量の減少した光117,118,119,120を含
んで図27に示すように光検出手段111によって受光
される。
【0119】次に光記録媒体24が、ラジアル方向に傾
斜している場合を説明する。図28は傾斜量検出装置1
01において光記録媒体24が角度θ1傾斜している状
態を簡略化して示す部分断面図であり、図29は図28
に示す傾斜量検出装置101において、光学素子102
を通過する光の状態を示す平面図であり、図30は光検
出手段111によって受光される反射光121を示す平
面図である。
【0120】対物レンズ35によって光記録媒体24上
に集光されて光記録媒体24から反射される光は、光記
録媒体24が右上がりに角度θ1傾斜しているので、傾
斜していない場合の反射光に比べて光路が図28の紙面
に向かって右方向にずれ、光学素子102へ入射する位
置も右方向にずれる。このことによって、光源26から
出射し光記録媒体24で反射された光は、第3および第
5光学素子片103,105を通過する際に遮光される
面積が減少する。したがって、第15および第17受光
素子112,114によって受光される反射光の光量
は、光記録媒体24が傾斜していない場合より多い。ま
た光源26から出射し光記録媒体24で反射された光
は、第4および第6光学素子片104,106を通過す
る際に遮光される面積が増加する。したがって、第16
および第18受光素子113,115によって受光され
る反射光の光量は、光記録媒体24が傾斜していない場
合より少ない。
【0121】逆に光記録媒体24が左上がりに角度θ1
傾斜した場合、光記録媒体24からの反射光は図28の
紙面に向かって左方向にずれ、光学素子へ入射する位置
も左方向にずれる。このことによって、光源26から出
射し光記録媒体24で反射された光は、第3および第5
光学素子片103,105を通過する際に遮光される面
積が増加する。したがって、第15および第17受光素
子112,114によって受光される反射光の光量は、
光記録媒体24が傾斜していない場合より少ない。また
光源26から出射し光記録媒体24で反射された光は、
第4および第6光学素子片104,106を通過する際
に遮光される面積が減少する。したがって、反射光が第
16および第18受光素子113,115に受光される
反射光の光量は、光記録媒体24が傾斜していない場合
より多い。
【0122】以上のように光記録媒体24の傾斜に応じ
て光検出手段111によって受光される光量が変動する
ので、光記録媒体24が傾斜している場合の第15受光
素子112によって検出される反射光の検出信号をP
6、第16受光素子113によって検出される反射光の
検出信号をP7、第17受光素子114によって検出さ
れる反射光の検出信号をP8、第18受光素子115に
よって検出される反射光の検出信号をP9とすると、ラ
ジアルチルト量を表す傾斜量検出信号Pg6は、式(1
2)によって求めることができる。 Pg6=(P6+P8)−(P7+P9) …(12)
【0123】光記録媒体24が傾斜していない場合、第
15〜第18受光素子112,113,114,115
がそれぞれ受光する光量は同じである。したがって、各
受光素子が検出する検出信号がそれぞれ等しくなるの
で、傾斜量検出信号Pg6は零である。また傾斜量検出
信号Pg6は、光記録媒体24が右上がりに傾斜してい
る場合正であり、左上がりに傾斜している場合負であ
る。光記録媒体24が傾斜していない場合傾斜量検出信
号Pg6が零となるので、光記録媒体24が傾斜してい
ない場合の傾斜量検出信号を利用して傾斜量検出信号の
オフセット調整を行うことなく傾斜量検出信号からラジ
アルチルト量を求めることができる。
【0124】ここで、第3〜第6光学素子片103,1
04,105,106は、配列ピッチがT1であり、光
検出手段111によって検出される光量が最大値から最
小値まで推移する反射光のずれ量は(T1)/2である
ので、傾斜量検出装置101における傾斜量検出範囲Δ
θは式(13)で表される。 Δθ=(T1)/4D …(13)
【0125】第3光学素子片103と第5光学素子片1
05とは、光記録媒体24の軸心29と光源26から出
射された光が集光手段27によって光記録媒体24上に
集光される集光位置25とを結ぶ直線30方向の一方の
方向に配列ピッチT1の4分の1のずれ量L4を有し、
第4光学素子片104と第6光学素子片106とは前記
直線30方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分の1
のずれ量L5を有する。したがって、第15および第1
7受光素子112,114が受光する光量は、光記録媒
体24からの反射光が第3および第5光学素子片10
3,105に達する位置が、前記直線30方向の一方に
向かって4分の1ずれるときに最大値、他方に向かって
4分の1ずれるときに最小値をとる。また第16および
第18受光素子113,115が受光する光量は、前記
直線30方向の一方に向かって4分の1ずれるときに最
小値、他方に向かって4分の1ずれるときに最大値をと
る。したがって、光記録媒体24の傾斜の方向が右上が
りまたは左上がりのいずれにもかかわらず傾斜量を精度
よく検出することができる。
【0126】また光検出手段111は、各行を構成する
2個の受光素子を1群として、2つの受光素子群である
第6および第7受光素子群122,123を構成する。
第6および第7受光素子群122,123が受光する光
量は、図11に示す第3の実施の形態において光検出手
段45を構成する第1および第2受光素子46,47が
受光する光量と同じように、光記録媒体24のタンジェ
ンシャル方向の傾斜量に応じて変動する。したがって、
2つの受光素子群122,123の各検出信号(P6+
P7)、(P8+P9)を利用してタンジェンシャル方
向の傾斜量検出信号Pg7を式(14)によって求める
ことができる。 Pg7=(P6+P7)−(P8+P9) …(14)
【0127】また光検出手段111は、各列を構成する
2個の受光素子を1群として2つの受光素子群である第
8および第9受光素子群124,125を構成する。第
8および第9受光素子群124,125が受光する光量
は、図17に示す第4の実施の形態において光検出手段
58を構成する第4および第5受光素子59,60が受
光する光量と同じように、トラッキング制御による対物
レンズ35の移動に応じて変動する。このことによっ
て、第8受光素子群124が検出した検出信号(P6+
P9)および第9受光素子群125が検出した検出信号
(P7+P8)を利用して、対物レンズ35の移動を表
すレンズシフト信号Ps1を式(15)によって求める
ことができる。 Ps1=(P6+P9)−(P7+P8) …(15)
【0128】図31は、本発明の第9の実施の形態であ
る傾斜量検出装置に備わる光検出手段131の構成を簡
略化して示す平面図である。本実施の形態の傾斜量検出
装置に備わる光検出手段131は、第8の実施の形態の
光検出手段111に類似し、対応する部分には同一の参
照符号を付して説明を省略する。注目すべきは、光検出
手段131は、光記録媒体24の軸心29と光源26か
ら出射された光が集光手段27によって光記録媒体24
に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に平行な方
向に分割線を有して前記直線30に垂直な方向に配置さ
れる3個の受光素子を含み、3個の受光素子のうち、1
個の受光素子は第3および第4光学素子片103,10
4を含む領域を通過した光をそれぞれ受光するように、
前記直線30に垂直な分割線によって2個にさらに分割
され、もう1個の受光素子は、第5および第6光学素子
片105,106を含む領域を通過した光をそれぞれ受
光するように、前記直線30に垂直な分割線によって2
個に分割されて5個の受光素子である第19〜第23受
光素子132,133,134,135,136を含む
ことである。
【0129】第19受光素子132は、第3光学素子片
103を含む領域137を通過した光を受光し、第20
受光素子133は、第4光学素子片104を含む領域1
38を通過した光を受光し、第21受光素子134は、
第5光学素子片105を含む領域139を通過した光を
受光し、第22受光素子135は、第6光学素子片10
6を含む領域140を通過した光を受光する。
【0130】第8の実施の形態である傾斜量検出装置1
01が備える光検出手段111では、受光される反射光
の光量のすべてを検出信号として用い、光記録媒体24
の傾斜量およびレンズシフト量を求めている。この演算
方法では、検出信号は光記録媒体24によって回折され
た光の影響を受けて変動するので、第19〜第22受光
素子132,133,134,135による検出信号を
用いて次に説明する方法により光記録媒体24の傾斜量
およびレンズシフト量の検出精度をさらに向上する。
【0131】第19受光素子132が検出する反射光の
検出信号をP11、第20受光素子133が検出する反
射光の検出信号をP12、第21受光素子134が検出
する反射光の検出信号をP13、第22受光素子134
が検出する反射光の検出信号をP14とすると、ラジア
ルチルト量を表す傾斜量検出信号Pg8は式(16)に
よって求められ、タンジェンシャルチルト量を表す傾斜
量検出信号Pg9は式(17)によって求められ、対物
レンズ35の移動を表すレンズシフト信号Ps2は式
(18)によって求められる。 Pg8=(P11+P13)−(P12+P14) …(16) Pg9=(P11+P12)−(P13+P14) …(17) Ps2=(P11+P14)−(P12+P13) …(18)
【0132】このことによって、光記録媒体24による
回折光の影響を低減することができる。また式(16)
〜式(18)は、光源26が備えるレーザの出力変動お
よび光記録媒体24の反射率の変動などに起因する反射
光の光強度の変動の影響を受ける。このため、第3〜第
6光学素子片103,104,105,106を含む領
域の残余の領域141を通過した光を受光する第23受
光素子136が検出する検出信号P15で和信号(P1
1+P13)、(P12+P14)、(P11+P1
2)、(P13+P14)、(P11+P14)、(P
12+P13)を除算した検出信号を利用することによ
って、光強度の変動の影響を相殺することができる。
【0133】ここで、第8の実施の形態の傾斜量検出装
置101において検出されるレンズシフト信号Ps1、
第9の実施の形態の傾斜量検出装置において検出される
レンズシフト信号Ps2は、光記録媒体24の傾斜によ
る反射光の位置ずれの影響も含まれている。このため、
レンズシフト信号Ps1、Ps2を補正する必要があ
る。
【0134】補正後のレンズシフト信号をPs4、Ps
5とし、補正係数をaとすると、レンズシフト信号Ps
4、Ps5は式(19)および式(20)で求められ
る。 Ps4=Ps1−a×Pg6 …(19) Ps5=Ps2−a×Pg8 …(20)
【0135】ここで補正係数とは、光記録媒体24の傾
斜による反射光の位置ずれがレンズシフト信号に与える
影響の比例定数であり、レンズシフトがなく、ラジアル
チルトがあるときのレンズシフト信号Ps1とPs2の
値をPs10、Ps20とすると、式(21)で与えら
れる。 a=Ps10/Pg6(またはa=Ps20/Pg8) …(21)
【0136】図32は、本発明の第10の実施の形態で
ある傾斜量検出装置145の構成を簡略化して示す部分
断面図である。本実施の形態の傾斜量検出装置145
は、第8の実施の形態の傾斜量検出装置101に類似
し、対応する部分には同一の参照符号を付して説明を省
略する。注目すべきは、傾斜量検出装置145は、光学
素子102と光検出手段146との間に回折格子147
および集光レンズ72を備えることである。なお図32
では、光検出手段146を便宜上1つの受光素子で示
す。
【0137】図33は傾斜量検出装置145に備わる回
折格子147を示す平面図であり、図34は回折格子1
47と光検出手段146との光学的関係を示す図であ
る。回折格子147は、光記録媒体24の軸心29と光
源26から出射された光が集光手段27によって光記録
媒体24上に集光される集光位置25とを結ぶ直線30
に平行な方向と前記直線30に垂直な方向に分割線21
1,212を有した4個の回折領域である第4〜第7回
折領域148,149,150,151が2行2列の行
列状に配置されている。回折格子147の格子形状は、
所望の信号が得られるように各領域の回折パターンを設
定すればよい。たとえば、隣接する回折領域同士の格子
形状を互いに異なるようにし、さらに回折格子147
は、第3光学素子片103を含む領域107を通過した
光が入射する第4回折領域148の格子形状と第5光学
素子片105を含む領域109を通過した光が入射する
第6回折領域150の格子形状とが同一になるように形
成し、第4光学素子片104を含む領域108を通過し
た光が入射する第5回折領域149の格子形状と第6光
学素子片106を含む領域110を通過した光が入射す
る第7回折領域151の格子形状とが同一となるように
形成する。図33および図34では、分割線211,2
12と前記直線30および前記直線30に直交しかつ集
光位置25を通る直線39とを重複して示す。また第3
光学素子片103と第4光学素子片104との境界線3
00および第5光学素子片105と第6光学素子片10
6との境界線301は、便宜上省略する。
【0138】図34に示すように、光検出手段146
は、第24および第25受光素子152,153を含
む。第24受光素子152は、光記録媒体24から反射
された光のうち、第3光学素子片103を含む領域10
7を通過し第4回折領域148によって回折された光
と、第5光学素子片105を含む領域109を通過し第
6回折領域150によって回折された光とを受光する。
第25受光素子153は、光記録媒体24から反射され
た光のうち、第4光学素子片104を含む領域108を
通過し第5回折領域149によって回折された光と、第
6光学素子片106を含む領域110を通過し第7回折
領域151によって回折された光とを受光する。
【0139】光学素子102を通過し、光記録媒体24
によって反射され光学素子102を再び通過した光は、
ビームスプリッタ34を透過し回折格子147に入射す
る。回折格子147に入射した光は前述したように各回
折領域によって回折されて、光検出手段146の各受光
素子によって受光される。第24および第25受光素子
152,153が検出する検出信号は、図24に示す第
15〜第18受光素子112,113,114,115
から得られる検出信号に対応させて考えることができ
る。第24受光素子152が検出する検出信号は和信号
(P6+P8)に対応し、第25受光素子153が検出
する検出信号は和信号(P7+P9)に対応するので、
ラジアルチルト量を表す傾斜量検出信号Pg6を求める
式(12)によって、光記録媒体24のラジアルチルト
量を検出することができる。
【0140】図35は、本発明の第11の実施の形態で
ある傾斜量検出装置に備わる回折格子155を示す平面
図である。本実施の形態の回折格子155は、第10の
実施の形態の傾斜量検出装置145に備わる回折格子1
47に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付し
て説明を省略する。注目すべきは、回折格子155は、
光記録媒体24の軸心29と光源26から出射された光
が集光手段27によって集光される位置25とを結ぶ直
線30に平行な分割線213,214を有し、前記直線
30に垂直な方向に3個の回折領域である第8〜第10
回折領域156,157,158が行状に配置される。
第8〜第10回折領域156,157,158のうち、
第8回折領域156は、第3および第4光学素子片10
3,104を含む領域137,138を通過した光がそ
れぞれ入射するように、前記直線30に平行な方向に隣
接して配置される2個の小回折領域である第1および第
2小回折領域159,160を有し、第9回折領域15
7は、第5および第6光学素子片105,106を含む
領域139,140を通過した光がそれぞれ入射するよ
うに、前記直線30に平行な方向に隣接して配置される
2個の小回折領域である第3および第4小回折領域16
1,162を有する。なお図35では、第1小回折領域
159と第2小回折領域160との分割線215および
第3小回折領域161と第4小回折領域162との分割
線216と、前記直線30に直交しかつ集光位置25を
通る直線39とを重複して示す。また第3光学素子片1
03と第4光学素子片104との境界線300と第5光
学素子片105と第6光学素子片106との境界線30
1は、便宜上省略する。
【0141】図36は、回折格子155と光検出手段1
63との光学的関係を示す図である。光検出手段163
は、第26〜第28受光素子164,165,166を
含む。第26受光素子164は、第3光学素子片103
を含む領域137を通過した光が入射する第1小回折領
域159の回折光および第5光学素子片105を含む領
域139を通過した光が入射する第3小回折領域161
の回折光を受光する。第27受光素子165は、第4光
学素子片104を含む領域138を通過した光が入射す
る第2小回折領域160の回折光および第6光学素子片
106を含む領域140を通過した光が入射する第4小
回折領域162の回折光を受光する。第28受光素子1
66は、第3、第4、第5および第6光学素子片10
3,104,105,106を含む領域の残余の領域1
41を通過した光が入射する第10回折領域158の回
折光を受光する。
【0142】3個の受光素子164,165,166が
検出する検出信号は、図31に示す第19〜第23受光
素子132,133,134,135,136が検出す
る検出信号に対応させて考えることができる。第26受
光素子164が検出する検出信号は和信号(P11+P
13)に対応し、第27受光素子165が検出する検出
信号は和信号(P12+P14)に対応し、第28受光
素子166が検出する検出信号は、検出信号P15に対
応する。したがって、ラジアルチルト量を表す傾斜量検
出信号Pg8を求める式(16)によって、光記録媒体
24のラジアルチルト量を検出することができる。
【0143】またラジアルチルト量の検出には、第28
受光素子166が検出する検出信号P15を利用して、
光強度の影響を相殺し強度変動に影響されない傾斜量検
出信号を利用してもよい。
【0144】以上第10および第11の実施の形態によ
れば、和信号を算出する演算回路を設ける必要がなく、
受光素子の数を削減することができるので、装置の簡略
化、小型化およびコストの低減を実現することができ
る。
【0145】図37は、本発明の第12の実施の形態で
ある傾斜量検出装置に備わる光学素子170の構成を簡
略化して示す平面図である。本実施の形態の光学素子1
70は、第1の実施の形態の光学素子22に類似し、対
応する部分には同一の参照符号を付して説明を省略す
る。注目すべきは、光学素子本体171に形成される開
口形状172は、光記録媒体24の軸心29と光源26
から出射された光が前記集光手段27によって光記録媒
体24上に集光される集光位置25とを結ぶ直線30に
垂直な方向の長さが、前記直線30に平行な方向の長さ
よりも長いことである。
【0146】光記録媒体24に対して情報を記録または
再生するとき、光記録媒体24上に集光される光の光ス
ポット径が最適な光スポット径より大きい場合解像度が
低下するので記録再生特性が低下する。光スポット径が
最適な光スポット径より小さい場合解像度が増加し記録
再生性能は向上するけれども、微量な光記録媒体24の
傾斜によってもコマ収差の影響が大きくなり、記録再生
性能が劣化する。このため、光記録媒体24に対して光
スポット径を最適な大きさに保つことが必要となる。
【0147】本実施の形態では第1および第2光学素子
片31,32により遮光されるため、タンジェンシャル
方向の開口数(NA)が小さくなり、λ/NAに比例す
る光スポット径がタンジェンシャル方向のみ大きくな
る。しかし、光学素子170の開口形状を楕円にし、ラ
ジアル方向の長さよりタンジェンシャル方向の長さを予
め長くすることによって、第1および第2光学素子片3
1,32により遮光されてNAが小さくなる影響を相殺
することができる。このことによって、光スポット径が
タンジェンシャル方向にのみ大きくなることを抑制する
ことができる。
【0148】また、第3ないし第6光学素子片103,
104,105,106を備える光学素子においても開
口形状を本実施の形態と同様に形成してもよい。
【0149】図38は本発明の第13の実施の形態であ
る傾斜量検出装置に備わる光学素子175の構成を簡略
化して示す要部拡大図である。本実施の形態の光学素子
175は、第1の実施の形態の傾斜量検出装置21に備
わる光学素子22に類似し、対応する部分には同一の参
照符号を付して説明を省略する。注目すべきは、光学素
子175に備わる第1および第2光学素子片31,32
が、濾光フィルタ176からなることである。
【0150】図38中の直線AA′方向における濾光フ
ィルタ176の光透過率の分布を光量変化量として第3
ライン177によって示す。このように濾光フィルタ1
76によっても遮光することができるので、濾光フィル
タ176を光学素子片として用いることができる。また
濾光フィルタ176は安価に入手可能であるので、コス
ト低減に寄与することができる。また、濾光フィルタ1
76は、第7の実施の形態の光学素子102に備わる第
3〜第6光学素子片103,104,105,106に
用いてもよい。
【0151】以上に述べたように、本発明の第1〜第1
3の実施の形態によれば、傾斜量検出装置21,52,
74,101,145は、集光手段27を備える傾斜量
検出装置であるけれども、これに限定されることなく、
照射手段を備え集光手段を備えない傾斜量検出装置であ
ってもよい。また、光反射体24は、光記録媒体である
けれども、これに限定されることなく、光を反射するも
のであればよく、その傾斜量が検出される。
【0152】また、第1〜第6光学素子片31,32,
103,104,105,106は、略矩形であり、第
1および第2光学素子片31,32は、光軸28に関し
て軸対称となる位置から光記録媒体24の軸心29と光
源26から出射された光が集光手段27によって光記録
媒体24上に集光される集光位置25とを結ぶ直線30
方向に配列ピッチTの4分の1のずれ量L2を有して形
成され、第3および第5光学素子片103,105は、
前記直線30の一方の方向に配列ピッチT1の4分の1
のずれ量L4を有して形成され、第4および第6光学素
子片104,106は、前記直線30方向の他方の方向
に配列ピッチT1の4分の1のずれ量L5を有してそれ
ぞれ形成されているけれども、これに限定されることな
く、光軸28に関して軸対称の位置から前記直線30方
向にずれて形成される条件を満足すれば、各光学素子片
の形状、数、ずれの方向およびずれ量は任意に設定して
もよい。
【0153】また第3ないし第6光学素子片103,1
04,105,106は、光記録媒体24の軸心29と
光源26から出射された光が集光手段27によって光記
録媒体24上に集光される集光位置25とを結ぶ直線3
0と垂直で、光学素子102の中心302を通る直線3
03に対し線対称となるように形成され、光記録媒体2
4がラジアル方向に傾斜していないときの傾斜量検出信
号が零であるけれども、これに限定されることなく、傾
斜していないときの傾斜量検出信号が零でなくてもよ
い。たとえば第3および第5光学素子片103,105
と、第4および第6光学素子片104,106との数を
任意に設定し、光記録媒体24がラジアル方向に傾斜し
ていないときの傾斜量検出信号が零でない場合、光記録
媒体24が傾斜していないときの傾斜量検出信号を予め
記憶手段に記憶し、検出された傾斜量検出信号から記憶
された傾斜量検出信号を演算回路によって演算し、演算
回路によって演算された信号を傾斜量検出信号として用
いる構成にしてもよい。
【0154】また第8〜第11の実施の形態によれば、
光学素子102は4個の光学素子片である第3〜第6光
学素子片103,104,105,106を備える構成
であるけれども、これに限定されることなく、光学素子
は少なくとも4個の光学素子片を備える構成であればよ
い。このとき、各光学素子片の形状、数、ずれの方向お
よびずれ量を任意に設定してもよい。また光検出手段の
受光素子の数は任意に設定してもよい。
【0155】たとえば6個の光学素子片である第7〜第
12光学素子片を備える光学素子を含む傾斜量検出装置
においては以下のようにして傾斜量検出信号を検出す
る。図39は、光学素子180および光検出手段188
を示す平面図である。第7〜第12光学素子片182,
183,184,185,186,187は、光軸と直
交する断面が略矩形状であり、光軸に関して軸対称とな
る位置に光記録媒体24の軸心29と光源26から出射
された光が集光手段27によって光記録媒体24上に集
光される集光位置25とを結ぶ直線30方向に予め定め
る配列ピッチT2で光学素子本体181から突出して複
数形成される。第7光学素子片182と第10光学素子
片185とは光軸に関して軸対称の位置から直線30方
向の一方の方向に(T2)/4であるずれ量L6を有
し、第8光学素子片183と第11光学素子片186と
は光軸に関して軸対称の位置から前記直線30方向の他
方の方向に(T2)/4であるずれ量L7を有し、第9
光学素子片184と第12光学素子片187とは光軸に
関して軸対称となる位置から前記直線30方向の一方の
方向に(T2)/4であるずれ量L8を有する。また各
光学素子片の幅を適当に設定すれば、光記録媒体が傾斜
していないとき光学素子を通過する光の、第7、第9、
第10および第12光学素子片182,184,18
5,187によって遮光される面積と、第8および第1
1光学素子片183,186によって遮光される面積と
が等しくなるように各光学素子片を形成することができ
る。
【0156】光検出手段188は、各光学素子片18
2,183,184,185,186,187を含む領
域をそれぞれ通過した光を受光するように、前記直線3
0に平行な方向と前記直線30に垂直な方向とに分割線
を有して2行3列の行列上に第29〜第34受光素子1
89,190,191,192,193,194が配置
される構成とする。第7受光素子片182を含む領域を
通過した光を受光する第29受光素子189の検出信号
をP16、第8光学素子片183を含む領域を通過した
光を受光する第30受光素子190の検出信号をP1
7、第9光学素子片184を含む領域を通過した光を受
光する第31受光素子191の検出信号をP18、第1
0光学素子片185を含む領域を通過した光を受光する
第32受光素子192の検出信号をP19、第11光学
素子片186を含む領域を通過した光を受光する第33
受光素子193の検出信号をP20、第12光学素子片
187を含む領域を通過した光を受光する第34受光素
子194の検出信号をP21とすると、ラジアルチルト
量を表す傾斜量検出信号Pg10は式(22)によって
求められ、タンジェンシャルチルト量を表す傾斜量検出
信号Pg11は式(23)によって求められる。 Pg10=(P15+P17+P18+P20)−(P16+P19) …(22) Pg11=(P15+P16+P17)−(P18+P19+P20) …(23)
【0157】また光検出手段75,146,163は3
個の受光素子からなるけれども、これに限定されること
なく、他の回折光を受光する受光素子をさらに備え、た
とえば再生信号など他の検出信号を検出する構成にして
もよい。
【0158】また、集光手段27は、光源26からの出
射光をコリメータレンズ33によって平行光とした後対
物レンズ35によって光記録媒体24上に集光させる無
限系であるけれども、これに限定されることなく、コリ
メータレンズ33を備えることなく、光源26からの出
射光を直接対物レンズ35によって光記録媒体24上に
集光させる有限系であってもよい。
【0159】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、光源から
出射された光は、照射手段によって平行光とされ、光反
射体に照射される。照射手段に備わる光学素子を通過し
た光は光量の減少が起こり、光反射体へ照射される。光
反射体によって反射された反射光は、再び光学素子を通
過し光検出手段上で受光される。光反射体が光軸と直交
し傾斜していない場合、反射光の光学素子への入射位置
は出射光と同じであり、光学素子を通過することによっ
てさらなる光量の変動は生じない。光反射体が光軸と直
交する状態になく傾斜している場合、光反射体からの反
射光が光学素子へ入射する位置が移動するので、光学素
子を通過することによって光量が変動する。このよう
に、光反射体の傾斜量に対応して光検出手段上で受光さ
れる光量が変動するので、光反射体の正確な傾斜量を検
出できる。
【0160】また本発明によれば、光源から出射された
光は、集光手段によって円板状の光反射体上へ集光され
る。集光手段に備わる光学素子を通過した光は、光軸に
関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光源から出
射された光が前記集光手段によって光反射体上に集光さ
れる集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ量
を有するように形成される第1および第2光学素子片に
よって光量が減少される。光反射体が傾斜していないと
き、光反射体によって軸対称に反射された反射光は、再
び光学素子を通過して光量が減少される。また光反射体
が傾斜しているとき、光反射体からの反射光が光学素子
に到達する位置が傾斜していないときに比べて移動し、
第1および第2受光素子片によって減少される光量が傾
斜量に対応して変動する。このように、光反射体の傾斜
量に応じて変動する光量を、光検出手段上で検出するこ
とによって光反射体の傾斜量を精度よく検出することが
できる。
【0161】また本発明によれば、第1および第2光学
素子片の光軸と直交する断面が略矩形状であるので、光
反射体の傾斜量に対する光量の変調度が大きくなり検出
精度は向上する。また第1および第2光学素子片が周期
的に配置されることによって光反射体の傾斜量に対応し
て光量が線形に変動するので、光反射体の傾斜量を精度
よく容易に検出することができる。
【0162】また本発明によれば、光反射体の軸心と光
源から出射された光が前記集光手段によって光反射体上
に集光される集光位置とを結ぶ直線方向の長さが配列ピ
ッチTの2分の1である第1および第2光学素子片を、
配列ピッチTの4分の1をずらして配置させて光学素子
を構成する。このことによって、光量は、光反射体から
の反射光が光学素子へ入射する位置が前記直線方向の一
方に向かって4分の1ずれるときに最大値となり、前記
直線方向の他方に向かって4分の1ずれるときに最小値
となる。したがって、光反射体の傾斜の方向にかかわら
ず、傾斜を精度よく検出することができる。
【0163】また本発明によれば、光検出手段は、少な
くとも3個の受光素子を含み、第1光学素子片を含む領
域を通過した光を受光する受光素子、第2光学素子片を
含む領域を通過した光を受光する受光素子、第1および
第2光学素子片を含む領域の残余の領域を通過した光を
受光する受光素子によって構成される。第1光学素子片
を含む領域を通過した光を受光する受光素子および第2
光学素子片を含む領域を通過した光を受光する受光素子
が検出した検出信号を、第1および第2光学素子片を含
む領域の残余の領域を通過した光を受光する受光素子が
検出した検出信号によって除算し、光反射体による光の
回折、反射率の変動などに起因する光強度の変動の影響
を相殺することによって、反射光の光強度の変動にかか
わらず光反射体の正確な傾斜量を得ることができる。
【0164】また本発明によれば、少なくとも2個の受
光素子が、トラッキング制御に伴うレンズの移動方向に
配置されるので、受光素子の検出信号の差に基づいて、
対物レンズの移動方向を検出することができる。
【0165】また本発明によれば、第1光学素子片を含
む領域を通過した光の回折光と第2光学素子片を含む領
域を通過した光の回折光とが同一の受光素子によって受
光可能になる等、演算回路の簡易化や、受光素子数の削
減等を行うことができるので、装置の簡略化および小型
化、コストの低減を実現することができる。
【0166】また本発明によれば、光源から出射された
光は、集光手段によって円板状の光反射体上へ集光され
る。集光手段に備わる光学素子を通過した光は、光軸に
関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と光源から出
射された光が集光手段によって光反射体上に集光される
集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められたずれ量を有
するように形成される少なくとも4個の光学素子片によ
って光量が減少される。光反射体が傾斜しているとき、
光反射体からの反射光が光学素子に到達する位置は、光
反射体が傾斜していないときに比べて移動するので、少
なくとも4個の受光素子片によって減少される光量が傾
斜量に対応して変動する。このように、光反射体の傾斜
量に応じて変動する光量を、光検出手段で検出すること
によって光反射体の傾斜量を検出することができる。
【0167】また本発明によれば、光学素子は、第3、
第4、第5および第6光学素子片を備え、第3光学素子
片と第5光学素子片、第4光学素子片と第6光学素子片
とは光軸に関して軸対称となる位置に光反射体の軸心と
光源から出射された光が集光手段によって光反射体上に
集光される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定められた
ずれ量を有してそれぞれ形成される。したがって、第3
光学素子片および第5光学素子片によって減少される光
量と、第4光学素子片および第6光学素子片によって減
少される光量とは、傾斜量に対応する変動が異なる。こ
のことによって、第3光学素子片および第5光学素子片
によって減少される光量と、第4光学素子片および第6
光学素子片によって減少される光量とによって光反射体
の傾斜量を検出することができる。
【0168】また本発明によれば、第3、第4、第5お
よび第6光学素子片の光軸と直交する断面が略矩形状で
あるので、光反射体の傾斜量に対する光量の変調度が大
きくなり検出精度は向上する。また、第3、第4、第5
および第6光学素子片が周期的に配置されることによっ
て、光反射体の傾斜量に対応して、第3光学素子片を含
む領域を通過する光および第5光学素子片を含む領域を
通過する光の光量、ならびに第4光学素子片を含む領域
を通過する光の光量および第6光学素子片を含む領域を
通過する光の光量がそれぞれ線形に変動するので、光反
射体の傾斜量を精度よく容易に検出することができる。
【0169】また本発明によれば、第3、第4、第5お
よび第6光学素子片は、光反射体の軸心と光源から出射
された光が集光手段によって光反射体上に集光される集
光位置とを結ぶ直線方向の長さが配列ピッチT1の2分
の1であり、第3光学素子片と第5光学素子片とを前記
直線方向の一方の方向に配列ピッチT1の4分の1ずら
して配置させ、第4光学素子片と第6光学素子片とは前
記直線方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分の1ず
らして配置させて光学素子を構成する。このことによっ
て、第3光学素子片を含む領域を通過する光および第5
光学素子片を含む領域を通過する光の光量は、光反射体
からの反射光が光学素子へ入射する位置が前記直線方向
の一方に向かって4分の1ずれるときに最大値となり、
他方に向かって4分の1ずれるときに最小値となる。ま
た第4光学素子片を含む領域を通過する光および第6光
学素子片を含む領域を通過する光の光量は、光反射体か
らの反射光が光学素子へ入射する位置が前記直線方向の
一方に向かって4分の1ずれるときに最小値となり、他
方に向かって4分の1ずれるときに最大値となる。した
がって、光反射体の傾斜の方向にかかわらず傾斜量を精
度よく検出することができる。
【0170】また本発明によれば、第3ないし第6光学
素子片は、光反射体の軸心と光源から出射された光が集
光手段によって光反射体上に集光される集光位置とを結
ぶ直線と垂直、かつ光学素子の中心を通る直線に対して
線対称となるように形成されるので、光反射体が傾斜し
ていないときの第3および第5光学素子片によって減少
される光量と、第4および第6光学素子片によって減少
される光量とを等しくすることができる。
【0171】また本発明によれば、光検出手段は、少な
くとも、第3光学素子片を含む領域を通過した光を受光
する受光素子、第4光学素子片を含む領域を通過した光
を受光する受光素子、第5光学素子片を含む領域を通過
した光を受光する受光素子、第6光学素子片を含む領域
を通過した光を受光する受光素子によって構成される。
第3光学素子片を通過した光を受光する受光素子の検出
信号と第5光学素子片を通過した光を受光する受光素子
の検出信号とを加算した検出信号と、第4受光素子片を
通過した光を受光する受光素子の検出信号と第6光学素
子片を通過した光を受光する受光素子の検出信号とを加
算した検出信号とによって傾斜量を正確に検出すること
ができる。また光検出手段に含まれる少なくとも2個の
受光素子は、トラッキング制御に伴うレンズの移動方向
に配置されるので、各受光素子の検出信号の差に基づい
て、対物レンズの移動方向を検出することができる。
【0172】また本発明によれば、第3受光素子片を含
む領域を通過した光を受光する受光素子の検出信号と第
5受光素子片を含む領域を通過した光を受光する受光素
子の検出信号とを加算した検出信号と、第4受光素子片
を含む領域を通過した光を受光する受光素子の検出信号
と第6光学素子片を含む領域を通過した光を受光する受
光素子の検出信号とを加算した検出信号とによって光反
射体の傾斜量の検出をすることができる。また第3受光
素子片を含む領域を通過した光、第4受光素子片を含む
領域を通過した光、第5受光素子片を含む領域を通過し
た光および第6光学素子片を含む領域を通過した光をそ
れぞれ受光する各受光素子の検出信号を第3、第4、第
5および第6受光素子片を含む領域の残余の領域を通過
した光を受光する受光素子の検出信号によって除算し、
光反射体による光の回折、反射率の変動などに起因する
光強度の変動の影響を相殺することによって、反射光の
光強度の変動にかかわらず光反射体の正確な傾斜量を得
ることができる。また光検出手段に含まれる少なくとも
2個の受光素子が、トラッキング制御に伴うレンズの移
動方向に配置されるので、各受光素子の検出信号の差に
基づいて、対物レンズの移動方向を検出することができ
る。
【0173】また本発明によれば、たとえば第3受光素
子片を含む領域を通過した光および第5受光素子片を含
む領域を通過した光を同一の受光素子で受光し、第4受
光素子片を含む領域を通過した光および第6受光素子片
を含む領域を通過した光を同一の受光素子で受光するこ
となどが可能となる。したがって、和信号を求める演算
回路を設ける必要がなくなるなど演算回路の簡易化や受
光素子数の削減を行うことができるので、装置の簡略化
および小型化、コストの低減を実現することができる。
【0174】また本発明によれば、たとえば第3受光素
子片を含む領域を通過した光および第5受光素子片を含
む領域を通過した光を同一の受光素子で受光し、第4受
光素子片を含む領域を通過した光および第6受光素子片
を含む領域を通過した光を同一の受光素子で受光するこ
とが可能になるなど、和信号を算出する演算回路を設け
る必要がなく、受光素子の数を削減することなどができ
るので、装置の簡略化および小型化、コストの低減を実
現することができる。
【0175】また本発明によれば、光源から出射された
光が集光手段によって光記録媒体に集光される集光位置
がランド上であるかグルーブ上であるかが判断手段によ
って判断され、判断結果に応答して切換え手段によって
傾斜量を検出する信号処理方法が切換えられる。このこ
とによって、ランドまたはグルーブのいずれに光が集光
される場合でも、ランドの回折パターンとグルーブの回
折パターンとが異なることによる反射光の光量変動の影
響を受けることなく正確な傾斜量を検出することが可能
になる。
【0176】また本発明によれば、対物レンズと光学素
子とが一体的に設けられるので、対物レンズに対する光
学素子の位置調整および装着が容易となり、光学素子を
調整する時間および操作手順を低減することができる。
【0177】また本発明によれば、光学素子の光学素子
片を除く部分は、光反射体の軸心と光源から出射された
光が集光手段によって光反射体上に集光される集光位置
とを結ぶ直線方向の長さより、前記直線方向に垂直な方
向の長さの方が長いので、集光手段により集光された光
の光スポット径が光学素子片により遮光され、前記直線
に垂直な方向の開口数(NA)が小さくなることを相殺
することができる。このことによって、λ/NAに比例
する光スポット径の大きくなることが抑制される。
【0178】また本発明によれば、光学素子に濾光フィ
ルタを用いる。濾光フィルタは、安価に入手可能である
ので、コスト低減に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態である傾斜量検出装
置21の構成を簡略化して示す部分断面図である。
【図2】傾斜量検出装置21に備わる光学素子22およ
び光検出手段23を示す平面図である。
【図3】光反射体24への集光位置25を光反射体24
の上方から平面的に示す図である。
【図4】光学素子22を通過する光の状態を示す平面図
である。
【図5】光検出手段23上に受光される反射光40を示
す平面図である。
【図6】傾斜量検出装置21において光記録媒体24が
角度θ1傾斜している状態を簡略化して示す部分断面図
である。
【図7】傾斜量検出装置21において、光学素子22を
通過する光の状態を示す平面図である。
【図8】光検出手段23によって受光される反射光43
を示す平面図である。
【図9】トラッキング制御によって対物レンズ35が移
動した場合の光検出手段23上の反射光44を示す平面
図である。
【図10】本発明の第2の実施の形態である傾斜量検出
装置に備わる光検出手段45の構成を簡略化して示す平
面図である。
【図11】本発明の第3の実施の形態である傾斜量検出
装置52において光記録媒体24がタンジェンシャル方
向に角度θ2傾斜している状態を簡略化して示す部分断
面図である。
【図12】光学素子22を通過する光の状態を表す平面
図である。
【図13】光記録媒体24が傾斜していないとき光検出
手段45によって受光される反射光53を示す平面図で
ある。
【図14】光記録媒体24が傾斜しているとき光検出手
段45によって受光される反射光54を示す平面図であ
る。
【図15】ラジアル方向の傾斜量検出信号Pg2とラジ
アルチルト量θ1との関係を表す図である。
【図16】タンジェンシャル方向の傾斜量検出信号Pg
3とタンジェンシャルチルト量θ2との関係を表す図で
ある。
【図17】本発明の第4の実施の形態である傾斜量検出
装置に備わる光検出手段58の構成を簡略化して示す平
面図である。
【図18】本発明の第5の実施の形態である傾斜量検出
装置に備わる光検出手段62の構成を簡略化して示す平
面図である。
【図19】本発明の第6の実施の形態である傾斜量検出
装置74の構成を簡略化して示す部分断面図である。
【図20】傾斜量検出装置74に備わる回折格子76を
示す平面図である。
【図21】回折格子76と光検出手段75との光学的関
係を示す図である。
【図22】本発明の第7の実施の形態である傾斜量検出
装置83の構成を簡略化して示す概略図である。
【図23】本発明の第8の実施の形態である傾斜量検出
装置101の構成を簡略化して示す部分断面図である。
【図24】図23に示す傾斜量検出装置101に備わる
光学素子102および光検出手段111を示す平面図で
ある。
【図25】光学素子102の構成を簡略化して示す平面
図である。
【図26】光学素子102を通過する光の状態を示す平
面図である。
【図27】光検出手段111上に受光される反射光11
6を示す平面図である。
【図28】傾斜量検出装置101において光記録媒体2
4が角度θ1傾斜している状態を簡略化して示す部分断
面図である。
【図29】図28に示す傾斜量検出装置101におい
て、光学素子102を通過する光の状態を示す平面図で
ある。
【図30】光検出手段111によって受光される反射光
121を示す平面図である。
【図31】本発明の第9の実施の形態である傾斜量検出
装置に備わる光検出手段131の構成を簡略化して示す
平面図である。
【図32】本発明の第10の実施の形態である傾斜量検
出装置145の構成を簡略化して示す部分断面図であ
る。
【図33】傾斜量検出装置145に備わる回折格子14
7を示す平面図である。
【図34】回折格子147と光検出手段146との光学
的関係を示す図である。
【図35】本発明の第11の実施の形態である傾斜量検
出装置に備わる回折格子155を示す平面図である。
【図36】回折格子155と光検出手段163との光学
的関係を示す図である。
【図37】本発明の第12の実施の形態である傾斜量検
出装置に備わる光学素子170の構成を簡略化して示す
平面図である。
【図38】本発明の第13の実施の形態である傾斜量検
出装置に備わる光学素子74の構成を簡略化して示す要
部拡大図である。
【図39】光学素子および光検出手段を示す平面図であ
る。
【図40】従来の傾斜量検出装置1の構成を簡略化して
示す部分断面図である。
【図41】従来の傾斜量検出装置1に備わる光検出手段
2の構成を簡略化して示す平面図である。
【図42】従来の傾斜量検出装置1において光記録媒体
6が傾斜している状態を簡略化して示す部分断面図であ
る。
【図43】光検出手段2上に遮光部分9が達する位置を
示す平面図である。
【符号の説明】
21,52,74,83,101,145 傾斜量検出
装置 22,102,170,175 光学素子 23,45,58、75,111,146,163 光
検出手段 24 光反射体 26 光源 27 集光手段 31 第1光学素子片 32 第2光学素子片 38,171 光学素子本体 76,147,155 回折格子 103 第3光学素子片 104 第4光学素子片 105 第5光学素子片 106 第6光学素子片
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上山 徹男 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 三木 錬三郎 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA37 BB02 BB03 CC03 FF44 GG04 GG12 GG22 HH04 HH13 JJ09 JJ18 LL00 LL04 UU07 5D118 AA13 BA01 CD04 CD15 DB07 DC03

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光を出射する光源と、 光源から出射された光を反射する光反射体と、 光源と光反射体との間に配置され、光源から出射される
    光を平行光にして光反射体に照射する照射手段と、 照射手段に備えられ、光源から出射される出射光および
    /または光反射体から反射される反射光の光量を変化さ
    せる光学素子と、 光反射体から反射され前記光学素子によって光量変化さ
    れた反射光を検出する光検出手段とを含み、前記光反射
    体の傾斜量を検出することを特徴とする傾斜量検出装
    置。
  2. 【請求項2】 光を出射する光源と、 光源から出射された光を反射する円板状の光反射体と、 光源と光反射体との間に配置され、光源から出射される
    光を光反射体に集光する集光手段と、 集光手段に備えられ、光源から出射される出射光および
    光反射体から反射される反射光の光量を変化させる光学
    素子であって、光軸に関して軸対称となる位置から光反
    射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によ
    って光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向
    に予め定められたずれ量を有するように形成される第1
    および第2光学素子片を備える光学素子と、 光反射体から反射され前記光学素子によって光量変化さ
    れた反射光を検出する光検出手段とを含み、前記光反射
    体の傾斜量を検出することを特徴とする傾斜量検出装
    置。
  3. 【請求項3】 前記第1および第2光学素子片は、 光軸と直交する断面が略矩形状を有し、光反射体の軸心
    と光源から出射された光が前記集光手段によって光反射
    体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定め
    る配列ピッチTで光学素子本体から突出して複数形成さ
    れることを特徴とする請求項2記載の傾斜量検出装置。
  4. 【請求項4】 前記第1および第2光学素子片は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    方向の長さが配列ピッチTの2分の1であり、前記ずれ
    量が配列ピッチTの4分の1であることを特徴とする請
    求項3記載の傾斜量検出装置。
  5. 【請求項5】 前記光検出手段は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な方向に分割線を有して前記直線に垂直な方向に
    配置される少なくとも3個の受光素子を含むことを特徴
    とする請求項2〜4のいずれかに記載の傾斜量検出装
    置。
  6. 【請求項6】 前記光検出手段は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に垂直な方向に分割線を有して前記直線方向に配置され
    る少なくとも2個の受光素子を含むことを特徴とする請
    求項2〜5のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  7. 【請求項7】 前記光検出手段は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に垂直な方向に少なくとも3行が配置され、かつ前記直
    線に平行な方向に少なくとも2列が配置されることを特
    徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の傾斜量検出装
    置。
  8. 【請求項8】 前記光学素子と前記光検出手段との間に
    は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な分割線を少なくとも2本有し、前記直線に垂直
    な方向に少なくとも3個の回折領域が行状に配置される
    回折格子がさらに設けられることを特徴とする請求項2
    〜4のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  9. 【請求項9】 光を出射する光源と、 光源から出射された光を反射する円板状の光反射体と、 光源と光反射体との間に配置され、光源から出射される
    光を光反射体に集光する集光手段と、 集光手段に備えられ、光源から出射される出射光および
    光反射体から反射される反射光の光量を変化させる光学
    素子であって、光軸に関して軸対称となる位置から光反
    射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によ
    って光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向
    に予め定められたずれ量を有するように形成される少な
    くとも4個の光学素子片を備える光学素子と、 光反射体から反射され前記光学素子によって光量変化さ
    れた反射光を検出する光検出手段とを含み、前記光反射
    体の傾斜量を検出することを特徴とする傾斜量検出装
    置。
  10. 【請求項10】 前記光学素子は、 第3、第4、第5および第6光学素子片を備え、 第3光学素子片と第5光学素子片、第4光学素子片と第
    6光学素子片とは光軸に関して軸対称となる位置に光反
    射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段によ
    って光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向
    に予め定められたずれ量を有するようにそれぞれ形成さ
    れることを特徴とする請求項9記載の傾斜量検出装置。
  11. 【請求項11】 前記第3、第4、第5および第6光学
    素子片は、 光軸と直交する断面が略矩形状を有し、光反射体の軸心
    と光源から出射された光が前記集光手段によって光反射
    体上に集光される集光位置とを結ぶ直線方向に予め定め
    る配列ピッチT1で光学素子本体から突出して複数形成
    されることを特徴とする請求項10記載の傾斜量検出装
    置。
  12. 【請求項12】 前記第3、第4、第5および第6光学
    素子片は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    方向の長さが配列ピッチT1の2分の1であり、 第3光学素子片と第5光学素子片とは、 前記直線方向の一方の方向に配列ピッチT1の4分の1
    のずれ量を有し、 第4光学素子片と第6光学素子片とは、 前記直線方向の他方の方向に配列ピッチT1の4分の1
    のずれ量を有することを特徴とする請求項11記載の傾
    斜量検出装置。
  13. 【請求項13】 前記第3ないし第6光学素子片は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に垂直、かつ前記光学素子の中心を通る直線に線対称と
    なるように形成されることを特徴とする請求項10〜1
    2のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  14. 【請求項14】 前記光検出手段は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な方向と前記直線に垂直な方向とに分割線を有し
    て行列状に配置され、前記第3、第4、第5および第6
    光学素子片を含む領域を通過した光をそれぞれ受光する
    少なくとも4個の受光素子を含むことを特徴とする請求
    項10〜13のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  15. 【請求項15】 前記光検出手段は、 光反射体の軸心と光軸から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な方向に分割線を有して前記直線に垂直な方向に
    配置される少なくとも3個の受光素子を含み、 前記3個の受光素子のうち、1個の受光素子は、第3お
    よび第4光学素子片を含む領域を通過した光をそれぞれ
    受光するように、前記直線に垂直な分割線によって少な
    くとも2個にさらに分割され、もう1個の受光素子は、
    第5および第6光学素子片を含む領域を通過した光をそ
    れぞれ受光するように、前記直線に垂直な分割線によっ
    て少なくとも2個にさらに分割されることを特徴とする
    請求項10〜13のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  16. 【請求項16】 前記光学素子と光検出手段との間に
    は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な方向と前記直線に垂直な方向とに分割線を有し
    て少なくとも4個の回折領域が行列状に配置される回折
    格子をさらに有することを特徴とする請求項10〜13
    のいずれかに記載の傾斜量検出装置。
  17. 【請求項17】 前記光学素子と光検出手段との間に
    は、 光反射体の軸心と光源から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に平行な分割線を有し、前記直線に垂直な方向に少なく
    とも3個の回折領域が行状に配置される回折格子であっ
    て、前記3個の回折領域のうち、1個の回折領域は、第
    3および第4光学素子片を含む領域を通過した光がそれ
    ぞれ入射するように、前記直線に垂直な分割線を有し、
    前記直線に平行な方向に隣接して配置される少なくとも
    2個の小回折領域を有し、もう1個の回折領域は、第5
    および第6光学素子片を含む領域を通過した光がそれぞ
    れ入射するように、前記直線に垂直な分割線を有し、前
    記直線に平行な方向に隣接して配置される少なくとも2
    個の小回折領域を有する回折格子をさらに有することを
    特徴とする請求項10〜13のいずれかに記載の傾斜量
    検出装置。
  18. 【請求項18】 前記光反射体は、 ランドとグルーブとを備える光記録媒体であり、 光源から出射された光が前記集光手段によって光記録媒
    体に集光される集光位置が、ランド上であるかグルーブ
    上であるかを判断する判断手段と、 前記判断手段の判断結果に応答して、傾斜量を検出する
    信号処理方法を切換える切換え手段とをさらに備えるこ
    とを特徴とする請求項2〜17のいずれかに記載の傾斜
    量検出装置。
  19. 【請求項19】 前記集光手段は、対物レンズと対物レ
    ンズを保持するレンズ保持部材とを含み、 前記光学素子は、対物レンズの軸線の延長線上に軸線を
    有するようにレンズ保持部材に装着されることを特徴と
    する請求項2〜18のいずれかに記載の傾斜量検出装
    置。
  20. 【請求項20】 前記光学素子本体に形成される開口形
    状は、 光反射体の軸心と光軸から出射された光が前記集光手段
    によって光反射体上に集光される集光位置とを結ぶ直線
    に垂直な方向の長さが、前記直線に平行な方向の長さよ
    りも長いことを特徴とする請求項2〜19のいずれかに
    記載の傾斜量検出装置。
  21. 【請求項21】 前記光学素子は、 光強度を減衰させる濾光フィルタからなることを特徴と
    する請求項1〜20のいずれかに記載の傾斜量検出装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007265595A (ja) * 2006-03-03 2007-10-11 Sony Corp 光ピックアップ装置および光ディスク装置
JP2012198511A (ja) * 2011-02-21 2012-10-18 Carl Zeiss Ag 走査型ミラーデバイス
CN103345100A (zh) * 2013-07-09 2013-10-09 中国科学院光电技术研究所 一种改进的航空相机调焦系统

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6991843B2 (en) 1999-01-15 2006-01-31 Velcro Industries B.V. Fasteners engageable with loops of nonwoven fabrics and with other open structures, and methods and machines for making fasteners
DE602004026372D1 (de) * 2003-01-29 2010-05-12 Ricoh Kk Optische Lesekopfvorrichtung und optisches Plattengerät
US7763843B2 (en) * 2004-03-01 2010-07-27 Stanton Magnetics, Inc. Optical navigation system for rotary control based non-contact controller
CN100342209C (zh) * 2005-05-10 2007-10-10 北京航空航天大学 一种激光自准直测角系统的标定方法
CN100342210C (zh) * 2005-05-10 2007-10-10 北京航空航天大学 一种激光自准直测角零位基准误差测量方法
US7898929B2 (en) * 2007-07-20 2011-03-01 Sanyo Electric Co., Ltd. Objective lens, and method of manufacturing the same and optical pickup apparatus
CN103309066B (zh) * 2013-06-17 2015-12-23 深圳市华星光电技术有限公司 信号线倾斜角测量方法及装置
JP2018124167A (ja) * 2017-01-31 2018-08-09 オムロン株式会社 傾斜測定装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5987309A (ja) * 1982-11-11 1984-05-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 面傾き測定装置
JPH0758559B2 (ja) * 1988-09-02 1995-06-21 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
NL8802689A (nl) * 1988-11-03 1990-06-01 Koninkl Philips Electronics Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend oppervlak.
US5036185A (en) * 1988-12-27 1991-07-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical apparatus for detecting a focusing state
US5313332A (en) * 1990-11-16 1994-05-17 Applied Magnetics Corporation Flexure suspension for two axis actuator
JPH0587548A (ja) * 1991-05-01 1993-04-06 Hitachi Electron Eng Co Ltd 姿勢角検出装置
JPH08235624A (ja) 1995-02-27 1996-09-13 Nippon Columbia Co Ltd 光ディスクの傾斜検出方法及び傾斜検出装置並びに光ディスク記録再生装置
US6549511B1 (en) * 1999-02-24 2003-04-15 Hewlett Packard Development Company, L.P. Optical disk medium having features for radial tilt detection and apparatus for measuring radial tilt
US20040228236A1 (en) * 2003-05-13 2004-11-18 Sharp Kabushiki Kaisha Optical pickup device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007265595A (ja) * 2006-03-03 2007-10-11 Sony Corp 光ピックアップ装置および光ディスク装置
KR101305204B1 (ko) 2006-03-03 2013-09-12 소니 주식회사 광픽업 장치 및 광디스크 장치
JP2012198511A (ja) * 2011-02-21 2012-10-18 Carl Zeiss Ag 走査型ミラーデバイス
CN103345100A (zh) * 2013-07-09 2013-10-09 中国科学院光电技术研究所 一种改进的航空相机调焦系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN1255664C (zh) 2006-05-10
CN1582383A (zh) 2005-02-16
US20040238727A1 (en) 2004-12-02
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