KR101287327B1 - 다양한 에미터-검파기 구조를 지닌 반사형 인코더 - Google Patents

다양한 에미터-검파기 구조를 지닌 반사형 인코더 Download PDF

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Abstract

하나 또는 그 이상의 개시된 다수의 특징을 구비한 광 인코더가 개시된다. 본 발명에 따른 광 인코더의 특징은 대칭(예를 들어, 원형) 에미터(emitter), 에미터와 검파기 사이의 배플(baffle), 이중 돔(dome) 또는 단일 돔 봉합재(encapsulant), 다중 검파기, 및 다중(적어도 3개) 데이터 채널들을 포함한다.

Description

다양한 에미터-검파기 구조를 지닌 반사형 인코더{REFLECTIVE ENCODERS WITH VARIOUS EMITTER-DETECTOR CONFIGURATIONS}
도 1(a) 및 1(c)는 종래 기술의 광 인코더와 샘플 코드 스케일(code scale)의 다른 모습들을 나타낸다.
도 1(b)는 도 1(a) 및 1(c)의 광 인코더에서 본, 도 1(a)의 샘플 코드 스케일을 나타낸다.
도 2(a) 및 2(b)는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 인코더 패키지의 다른 모습을 나타낸다.
도 2(c)는 도 2(a) 및 2(b)의 광 인코더 패키지에서 본, 샘플 코드 스케일을 나타낸다.
도 3(a) 및 3(b)는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광 인코더의 다른 모습을 나타낸다.
도 4(a) 및 4(b)는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광 인코더의 다른 모습을 나타낸다.
도 4(c)는 도 4(a) 및 4(b)의 광 인코더 패키지에서 본, 샘플 코드 스케일을 나타낸다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광 인코더를 나타낸다.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100, 200, 300, 400 : 광 인코더 102, 202 : 광 에미터
120, 230, 411 : 코드 스케일 204 : 기판(리드 프레임)
214, 401 : 검파기 220 : 제 1 돔형 표면(제 1 렌즈)
222 : 제 2 돔형 표면(제 2 렌즈) 208 : 배플(baffle)
219 : 봉합재(encapsulant)
본 발명은 일반적으로 광 인코더에 관한 것으로, 특히 다양한 방위를 갖는 광 인코더에 관한 것이다.
광 인코더는 움직임을 검출하고, 일반적으로 폐루프 피드백을 모터 제어 시스템에 제공한다. 코드 스케일(code scale)과 연계하여 동작될 때, 광 인코더는 움직임(코드 스케일의 직선 또는 회전 이동)을 검출하고, 검출된 움직임을 코드 스케일의 이동, 위치, 또는 속도를 부호화 한 디지털 신호로 변환한다. 여기에서 "코드 스케일"은 코드 휠(code wheel)과 코드 스트립(code strip)들을 포함한다.
통상, 코드 스케일의 이동은 광 에미터(optical emitter)와 광 검파기에 의하여 광학적으로 검출된다. 광 에미터는 코드 스케일 상에서 충돌하고 이 코드 스케일에서 반사하는 광을 방출한다. 반사된 광은 광 검파기에 의하여 검출된다. 일 반적인 코드 스케일에는 정규 패턴의 슬롯들과 알려진 패턴으로 광을 반사시키는 바(bar)들이 포함된다.
도 1(a) 내지 1(c)는 종래의 광 인코더(100)와 코드 스케일(120)을 나타낸다. 도 1(a)는 광 인코더(100)와 코드 스케일(120)의 절단면의 측면도이다. 도 1(b)는 광 인코더(100)에서 본 코드 스케일(120)이다. 도 1(c)는 광 인코더(100)에서 본 광 인코더(100)이다. 도 1(a) 내지 도 1(c)는 보다 명확하게 하기 위하여 방향 축 설명을 포함한다.
도 1(a) 내지 1(c)를 참조하면, 광 인코더(100)는 광 에미터(102)와 리드 프레임(lead frame)(106)과 같은 기판(106) 상에 장착되는 광 검파기(104)를 포함한다. 광 에미터(102)와 광 검파기(104) 및 리드 프레임(106)의 위치는, 예를 들어 투명 에폭시를 포함하는 봉합재(108) 안에 봉합된다. 봉합재(108)는 광 에미터(102)를 덮는 제 1 돔형 표면(110)[제 1 렌즈(110)]과, 광 검파기(104)를 덮는 제 2 돔형 표면(112)[제 1 렌즈(112)]을 형성한다.
광 에미터(102)는 제 1 렌즈(110)를 통해서 봉합재(108)를 떠나는 광을 방출한다. 제 1 렌즈(110)는 광을 코드 스케일(120) 쪽으로 집중시키거나, 방향을 향하게 하고, 그 광은 코드 스케일(120)에서 반사된다. 반사된 광은 제 2 렌즈(112)를 거쳐서 광 검파기(104)에 도달한다. 제 2 렌즈(112)는 반사된 광을 광 검파기(104)로 집중시키거나, 방향을 향하게 한다. 광 검파기(104)는 예를 들어, 광을 전기적인 신호로 변환시키는 광 검파기 만이 될 수도 있다.
도시된 예에서, 광 에미터(102)는 슬릿형 광 에미터이며, 슬릿은 Y축을 따라 배치된다. 도시된 바와 같이, 광 검파기(104)는 Y축을 따라 배치된다. 또한, 코드 스케일(120)의 슬롯(slots) 및 바(bars)는 Y축을 따라 뻗어 있다. 따라서, 광 인코더(100) 및 코드 스케일(120)은 X축 방향으로의 코드 스케일의 움직임을 검출하기 위해 서로에 대해 배향 및 배치된다.
상기 디자인은 몇가지 결점이 있다. 예를 들어, 광 인코더(100)는 오정렬에 민감하다. 슬릿 에미터(102)의 약간의 오정렬에도 명암 대비의 악화를 야기하고, 따라서 광 인코더(100)의 성능 악화를 일으킨다. 또한, 광 인코더(100)는 하나의 방향(예를 들어, 도시된 보기에서 x축 방향을 따라서)에서의 움직임들 만을 검출하여, 인코더 패키지의 방향에 있어서의 유연성을 제한한다. 더욱이 종래의 광 인코더는 에미터의 일측 상에 제한된 갯수의(통상 많아야 두개) 데이터 채널을 구비한다.
따라서, 이러한 결점들을 경감 또는 극복하는 향상된 광 인코더에 대한 필요성이 존재한다.
상기 필요성은 본 발명과 부합된다. 본 발명의 제 1 실시예에서, 광 인코더는 에미터와 검파기를 포함한다. 에미터는 원형 패턴의 광을 방출하도록 적용되는데, 여기서 상기 에미터는 반사를 위하여 광을 코드 스케일에 제공하도록 동작될 수 있다. 상기 검파기는 코드 스케일에서 반사된 광을 검출하도록 적용된다.
본 발명의 제 2 실시예에서, 광 인코더는 에미터, 검파기, 및 봉합재를 포함한다. 에미터는 광을 방출하는데 적용되는데, 방출된 광은 반사를 위하여 코드 스케일 쪽으로 향하게 된다. 검파기는 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는데 적용된다. 에미터와 검파기를 봉합하는 봉합재는 에미터와 검파기를 덮는 단일 돔을 형성한다.
본 발명의 제 3 실시예에서, 광 인코더는 에미터와, 검파기, 및 에미터와 검파기 사이의 배플(baffle)을 포함한다. 에미터는 광을 방출하는데 적용되는데, 방출된 광은 반사를 위하여 코드 스케일 쪽으로 향하게 된다. 검파기는 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는데 적용된다. 에미터와 검파기 사이의 배플은 에미터로부터 벗어난 광이 검파기에 도달하지 못하게 한다.
본 발명의 제 4 실시예에서, 광 인코더는 에미터와 검파기 및 인덱스 검파기를 포함한다. 에미터는 광을 방출하는데 적용되는데, 방출된 광은 반사를 위하여 코드 스케일 쪽으로 향하게 된다. 검파기는 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는데 적용된다. 검파기는 두개의 데이터 채널을 제공한다. 인덱스 검파기는 인덱스 채널을 제공한다.
본 발명의 다른 사양과 장점들은 첨부 도면들과 함께 취한 다음의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이며, 이 상세한 설명은 본 발명의 원리를 예로서 나타낸다.
본 발명은 본 발명의 다양한 실시예들을 나타내는 도면을 참조로하여 이제 설명될 것이다. 도면들에서, 구조 또는 부분들의 몇몇 크기가 과장될 수 있고, 표현을 위하여 다른 구조 또는 부분들의 크기에 대해 축적으로 되지 않을 수 있는데, 그러므로 상기 도면은 본 발명의 일반적인 구조를 나타내도록 제공되는 것이다. 또한, 본 발명의 다양한 모습들은 다른 구조 또는 부분이나 그 둘 모두에 대해 "위에 접해서" 또는 "상부에" 위치되는 구조 또는 부분을 참조로하여 설명된다. 예를 들어, ",,상에", 또는 ",,위에"와 같은 상대적인 용어 또는 구들은 도면에 도시된 것과 같이, 여기에서 다른 구조 또는 부분에 대한 하나의 구조 또는 부분의 관계를 설명하는데 사용된다. 이러한 상대적인 용어들은 도면에 도시된 방향에 부가하여 장치의 상이한 방향들을 포괄하도록 의도한 것이다.
예를 들어, 만일 도면의 장치가 방향이 뒤집히고, 회전하거나, 뒤집혀서 회전되는 두가지 모두에 해당하면, 다른 구조나 부분들 "상에" 또는 그 "위에"와 같이 설명된 구조 또는 부분은 나머지 구조 또는 부분들의 "아래", "밑에", "왼쪽에", "오른쪽에", "앞에", 또는 "뒤에" 위치될 것이다. 다른 구조 또는 부분 "상에" 또는 "위에" 형성되는 구조 또는 부분에 대한 인용은 추가의 구조 또는 부분이 개입될 수 있는 여지를 준다. 구조 또는 부분의 개입이 없는 다른 구조 또는 부분 상에 또는 그 위에 형성되는 구조 또는 부분에 대한 인용은 여기에서 나머지 구조 또는 부분의 바로 상부에 접해서 또는 바로 위에 형성되는 것으로 설명된다. 동일한 참조 번호는 본 명세서를 통해서 동일한 구성요소에 인용된다.
대칭 에미터
다시 도 1(a)를 참조하면, 광 에미터(102)는 슬릿(slit) 에미터로서 연장된 타원형 또는 슬릿의 광을 방출한다. 이 디자인에서 광 인코더(100)의 성능은 코드 스케일(120)에 대한 에미터의 약간의 오정렬 오류에 대해 민감하다. 오정렬 민감도를 줄이기 위하여, 대칭 방사 패턴을 가진 에미터가 도 2(a) 및 2(b)에 도시된 것과 같이 사용될 수 있다. 도 2(b)는 광 인코더(200)의 평면도이다. 도 2(a)는 도 2(b)의 2A-2A 라인을 따라 자른 광 인코더(200)의 측단면도이다. 도 2(a)와 2(b)는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 인코더 패키지(200)를 나타낸다.
도 2(a) 및 2(c)를 참조하면, 광 인코더(200)는 위에서 보아 대칭(예를 들어, 원)인 광을 제공하는데 적용되는 대칭 에미터(202)(예를 들어, LED)를 포함한다. 대칭 에미터(202)는 코드 스케일(230)과 같은 코드 스케일에서 반사시키기 위하여 균일하고 대칭인 광을 방출한다. 방출된 광의 균일성과 대칭성 때문에, 광 인코더(200)는 도 1(a) 및 1(c)에 있는 종래 기술의 광 인코더(100)의 오정렬 민감도에 비해서, 광 인코더(200)와 코드 스케일(230) 사이의 오정렬에 대해 덜 민감하다.
광 인코더(200)은 대칭 에미터(202)에서 코드 스케일(230)로 광을 제공하도록 동작 가능하다. 코드 스케일(230)은 제 1 방향(도시된 예시적 실시예에서 y축)에서 슬롯들과 바들을 포함한다. 따라서, 코드 스케일(230)은 대칭 에미터(202)로부터의 광을 반사시킨다. 반사된 광은 검파기(214)에 의하여 검파되어, 코드 스케일(230)의 위치 또는 이동을 나타내는 정보로 변환될 전기적인 신호로 변환된다.
대칭 에미터(202)와 검파기(214)는 기판(204)[예를 들어, 리드 프레임(204)] 상에서 제조된다. 대칭 에미터(202)와 검파기(214), 그리고 기판(204)[예를 들어, 리드 프레임(204)]의 부분들은 예를 들어, 투명 에폭시를 포함하는 봉합재(218) 안에 봉합된다. 여기에서 봉합재(218)는 대칭 에미터(202)를 덮는 제 1 돔형 표면(220)[제 1 렌즈(220)]과 광 검파기(214)를 덮는 제 2 돔형 표면(222)[제 2 렌즈(222)]을 포함하는 이중 돔 표면을 형성한다.
대칭 에미터(202)는 광을 방출하고, 이 광은 제 1 렌즈(220)를 통해서 봉합재(218)를 이탈한다. 제 1 렌즈(220)는 광을 코드 스케일(230)로 집중시키고, 시준(collimate)시키거나, 그렇지 않으면 코드 스케일 쪽으로 향하게 하는데, 이 광은 코드 스케일(230)에서 반사된다. 반사된 광은 제 2 렌즈(222)를 통해서 광 검파기(214)에 도달한다. 제 2 렌즈(222)는 반사된 광을 광 검파기(214)로 집중시키고, 시준시키거나, 그렇지 않으면 광 검파기 쪽으로 향하게 한다. 도시된 예에서, 코드 스케일(230)의 슬롯들과 바들은 y축을 따라서 형성된다. 따라서, 광 인코더(200)과 코드 스케일(230)은 x축 방향의 코드 스케일(230)의 이동을 검출하도록 그 방향이 정해진다.
광 인코더(200)의 다른 사양은 광 에미터(202)와 광 검파기(214) 사이의 배플(208) 또는 광 장벽(208)이다. 배플(208)은 이탈된 광이 광 검파기(214)에 도달하지 못하게 한다. 배플(208)은 검은 흡수성 재료들로 피복될 수 있는데, 이 재료는 원치않는 광 방사 부분을 흡수하여 원치않는 광 방사에 의한 잡음을 감소시킨다. 단지 예로서, 상기 배플(208)은 검은색 모조 전자 구성품, 산화 피막 금속, 개 별 조각의 검은 플라스틱, 검은 흡수성 에폭시, 검은 폴리머, 탄소 함입 폴리머, 검은 수지, 검은 잉크 마크들, 에폭시 피복, 레이저로 태운 표면들, 및 광 방사를 흡수 가능한 다른 유사 형태의 재료들로 피복되거나, 이들을 포함할 수 있다. 배플(208)은 단지 예로서, 직사각형 또는 사다리꼴 형상과 같은 어떤 적절한 형상을 가지고 제조될 수 있다.
단일 돔
본 발명의 다른 태양은 도 3(a) 및 3(b)에 나타나 있다. 도 3(b)는 광 인코더(300)의 평면도이다. 도 3(a)는 도 3(b)의 3A-3A 라인을 따라 자른 광 인코더(300)의 측단면도이다. 광 인코더(300)의 각 부분들은 도 2(a) 및 2(b)의 광 인코더(200)의 해당 각 부분들과 유사하다. 편의를 위하여 도 2(a) 및 2(b)의 광 인코더(200)의 해당 각 부분들과 유사한 광 인코더(300)의 부분들은 동일한 참조번호를 부여했다.
도 3(a) 및 3(b)를 참조하면, 광 인코더(300)는 에미터(202)와 기판 리드 프레임(204) 상의 검파기(214)를 포함한다. 봉합재(302)는 에미터(202)와, 검파기(214), 및 리드 프레임(204)의 부분들을 봉합하고 있다. 여기에서, 봉합재(302)는 에미터(202)와 검파기(214) 모두를 덮는 단일 돔(304)을 형성한다. 몇가지 응용물에서, 단일 돔 구성은 보다 적은 공간 및 보다 낮은 제조 복잡성, 또는 양자 모두의 필요성을 위하여 이중 돔 구성 보다 더 바람직할 수 있다.
다중 채널 인코더
다시 도 1(a) 및 1(c)를 참조하면, 광 인코더(100)는 일반적으로 하나 또는 많아야 두개의 채널을 구비한 단일의 광 인코더(104)를 포함한다. 추가의 채널들이 요망되는 응용물을 위하여, 두개의 종래 기술의 광 인코더(100)가 사용된다. 이러한 문제를 극복하기 위하여, 도 4(a) 및 4(b)는 광 에미터(202)와 두개의 광 검파기를 포함하는 광 인코더(400)를 나타내고 있다. 도 4(b)는 광 인코더(400)의 평면도이다. 도 4(a)는 도 4(b)의 4A-4A 라인을 따라 자른 광 인코더(400)의 측단면도이다.
광 인코더(400)의 부분들은 도 2(a) 및 2(b)의 광 인코더(200)의 해당 부분들, 도 3(a) 및 3(b)의 광 인코더(300)의 해당 부분들, 또는 상기 두 광 인코더의 해당 부분들 모두와 유사하다. 편의를 위하여 도 2(a) 및 2(b)의 광 인코더(200)의 해당 부분들, 도 3(a) 및 3(b)의 광 인코더(300)의 해당 부분들, 또는 상기 두 광 인코더의 해당 부분들 모두와 유사한 광 인코더(400)의 부분들에는 동일한 참조 번호가 부여된다.
도 4(a) 및 4(b)를 참조하면, 광 인코더(400)는 에미터(202)와 검파기(401)를 포함한다. 검파기(401)는 두개 채널까지를 포함할 수 있다. 검파기(401)는 도 4(c)의 코드 스케일(411)과 동작하도록 구성된다. 도시된 실시예에서, 검파기(401)는 X축을 따라서, 각 개별 광 다이오드의 길이로, Y축을 따르는 방향(도 4에 도시된 것과 같다)에 수직으로 위치되어 있다. 이 방향은 본 발명의 대안적인 실시예를 나타낼 목적을 위한 것이다.
광 인코더(400)는 추가의 제 3 채널을 포함하는 다른 검파기(402)를 더 포함한다. 도시된 실시예에서, 제 2 검파기(402)는 인덱스 검파기(402)로서, 도 4(c)에 나타낸 다른 코드 스케일(412)과 동작하도록 구성될 수 있다. 인덱스 코드 스케일(412)은 인덱스 검파기(402)와 함께 동작하도록 구성되며, 코드 스케일(411)의 분해능과 다른 (슬롯과 바들의)분해능을 가질 수 있다. 도시된 실시예에서, 광 인코더(400)는 3개의 데이터 채널을 갖는데, 두 채널은 제 1 검파기(401)로부터, 그리고 인덱스 채널은 인덱스 검파기(402)로 부터의 것이다. 또한, 도시된 실시예에서 광 인코더(400)는 단일 돔 구성이다.
조합
본 발명의 다른 실시예들에서, 본 발명의 다양한 기술들과 태양들이 조합될 수 있다. 예를 들어, 원형 에미터(202)(도 2(a) 및 2(b)), 배플(208)(도 2(a) 및 2(b)), 이중 돔(220, 222) 구조(도 2(a) 및 2(b)), 단일 돔(304) 구조(도 3(a) 및 3(b)), 다중 검파기/채널(401, 402) 구조(도 4(a) 및 4(b))는 본 발명의 사상 내에서의 어떠한 조합으로 구성될 수 있다.
도 5는 광 인코더(500)의 조합 실시예들 중의 하나를 나타낸다. 도 5를 참조하면, 광 인코더는 이중 돔 구성에서 제 1 돔(504)과 제 2 돔(506)을 형성하는 봉합재(502)를 포함한다. 여기에서, 제 1 돔 부분은 광 에미터(508)와 검파기(510)를 봉합하고 있는 반면, 제 2 돔 부분은 제 2의 인덱스 검파기(512)를 봉합하고 있다. 광 에미터(508)는 여기에서 즉, 원형 에미터이다. 광 에미터(508)는 슬릿 에미터가 될 수 있는데, 이것은 X축을 따라서, 각 개별 광 다이오드의 길이로 놓여진다. 두개의 돔(504, 506)에 대한 에미터(508) 및 검파기(510, 512)의 위치가 다른 구성을 이루도록 재배열될 수 있음은 도 5와 이전 도면들 및 논의로부터 분명한 것이다. 대안적으로 에미터(508)와 검파기(510, 512), 또는 이들의 어떠한 조합도 단일 돔을 갖는 봉합재 내에서 위치될 수 있다.
결론
전술한 내용으로부터 분명한 것은, 본 발명은 신규한 것으로 현재 기술을 넘는 장점을 제공한다는 것이다. 비록 특정한 본 발명의 실시예들이 위에 설명되고 나타내어졌지만, 본 발명은 부품들의 특정한 형태 또는 배치로 한정하여 그렇게 설명하고 나타낸 것은 아니다. 예를 들어, 다른 구성, 크기, 또는 재료들이 사용될 수 있으며, 그러나 이들은 여전히 본 발명의 사상 내에 귀속된다. 본 발명은 다음의 청구범위들에 의하여 제한된다.
본 발명의 광 인코더에 의하면, 오정렬에 민감하지 않으며, 슬릿 에미터(102)의 약간의 오정렬에도 명암 대비의 악화를 야기하지 않으며, 인코더 패키지의 방향에 있어서의 유연성을 제한하지 않는다.

Claims (20)

  1. 광 인코더에 있어서,
    원형 패턴으로 광을 방출하는 에미터―상기 에미터는 반사를 위하여 코드 스케일 및 인덱스 코드 스케일에 광을 제공하도록 동작함―와,
    상기 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 검파기(detector)와,
    상기 인덱스 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 인덱스 검파기(index detector)를 포함하는
    광 인코더.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 에미터와 상기 검파기 사이의 배플(baffle)을 더 포함하는
    광 인코더.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 광 인코더는, 상기 에미터 위의 하나의 돔 표면과 상기 검파기 위의 다른 돔 표면을 포함하는 이중 돔 표면(double-dome surface) 또는 상기 에미터와 상기 검파기 모두의 위의 단일 돔 표면 중 하나를 형성하는 봉합재를 포함하는
    광 인코더.
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 검파기는 두개의 데이터 채널을 포함하는
    광 인코더.
  6. 광을 방출하는 에미터―상기 방출된 광은 반사를 위하여 코드 스케일 및 인덱스 코드 스케일 쪽으로 지향됨―와,
    상기 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 검파기와,
    상기 인덱스 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 인덱스 검파기와,
    상기 에미터, 상기 검파기 및 상기 인덱스 검파기를 봉합하고, 상기 에미터, 상기 검파기 및 상기 인덱스 검파기 위에 단일 돔을 형성하는 봉합재를 포함하는
    광 인코더.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 에미터는 슬릿 에미터와 원형 에미터 중 하나인
    광 인코더.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 에미터와 상기 검파기 사이의 배플을 더 포함하는
    광 인코더.
  9. 삭제
  10. 제 6 항에 있어서,
    상기 검파기는 두개의 데이터 채널을 포함하는
    광 인코더.
  11. 광을 방출하는 에미터―상기 방출된 광은 반사를 위하여 코드 스케일 및 인덱스 코드 스케일 쪽으로 지향됨―와,
    상기 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 검파기와,
    상기 인덱스 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 인덱스 검파기와,
    상기 에미터와 상기 검파기 사이에 배치되어 상기 에미터로부터 벗어난 광이 상기 검파기에 도달하지 못하게 하는 배플을 포함하는
    광 인코더.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 에미터는 슬릿 에미터와 원형 에미터 중 하나인
    광 인코더.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 광 인코더는, 이중 돔 표면 또는 단일 돔 표면 중 하나를 형성하는 봉합재를 포함하는
    광 인코더.
  14. 삭제
  15. 제 11 항에 있어서,
    상기 검파기는 두 개의 데이터 채널을 포함하는
    광 인코더.
  16. 광 인코더에 있어서,
    광을 방출하는 에미터―상기 방출된 광은 코드 스케일 쪽으로 지향됨―와,
    두개의 데이터 채널을 제공하고, 상기 코드 스케일로부터의 반사광을 검출하는 검파기와,
    인덱스 채널을 제공하는 인덱스 검파기를 포함하는
    광 인코더.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 광 인코더는 이중 돔 표면 또는 단일 돔 표면 중 하나를 형성하는 봉합재를 포함하는
    광 인코더.
  18. 제 16 항에 있어서,
    상기 에미터는 슬릿 에미터와 원형 에미터 중 하나인
    광 인코더.
  19. 제 16 항에 있어서,
    상기 광 인코더는 이중 돔 표면을 형성하는 봉합재를 포함하되, 상기 에미터와 상기 검파기는 제 1 돔 아래에 있고, 상기 인덱스 검파기는 제 2 돔 아래에 있는
    광 인코더.
  20. 제 16 항에 있어서,
    상기 광 인코더는 이중 돔 표면을 형성하는 봉합재를 더 포함하되, 상기 에미터와 상기 인덱스 검파기는 제 1 돔 아래에 있고, 상기 검파기는 제 2 돔 아래에 있는
    광 인코더.
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