JPS5956779A - フオトセンサ - Google Patents

フオトセンサ

Info

Publication number
JPS5956779A
JPS5956779A JP57167169A JP16716982A JPS5956779A JP S5956779 A JPS5956779 A JP S5956779A JP 57167169 A JP57167169 A JP 57167169A JP 16716982 A JP16716982 A JP 16716982A JP S5956779 A JPS5956779 A JP S5956779A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photosensor
emitting element
receiving element
light emitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57167169A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Tanaka
敏明 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57167169A priority Critical patent/JPS5956779A/ja
Publication of JPS5956779A publication Critical patent/JPS5956779A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、仮構出物の南側を検出する反射型のフォト
センサに関する。
〔発明の技術的背景〕
従来、複写機における紙の検出等に使用される反射型の
フォトセンサは第1図に示すようにイ1ゲ成されている
。図において、11は光透過性拉1脂製の外囲器、12
,、122は凸レンズ、1 、? 、 1 、?はリー
ドフレームである。第2図は、上記arJl図に示した
フォトセンサのA − A−’線に沿っだkJテ而面成
図である。発光素子14(例えiI′iGaA.s赤外
元光ダイオード)およO−受光素子l5(例えtよシリ
コン・フォト・トランジスタ)ハそれぞれリードフレー
ム1 3 、 1 3上に配設されており、発光素子1
4から発せられた光はレンズ12I を弁して被検出物
16に照射される。
この被検出vIJ16によって反射された元は、レンズ
122を介して・ン光索子15に導び/ノ・hる。
従って、被検出′吻が存任ずればその反射光を受光素子
15で受光できるので、′ブ光素子15に4ij ”¥
箱、流が流オLる。まだ、被検出物16が存在しなけノ
1.ば反射光はないので信号′由、流は流れない。この
ように被検出物の存否を受光素子15して流れる化け”
jil、bILの有無によって察知できる。
」二連したように発光素子14と受光素子15とを同一
の外囲器に封止したフォトセンサは、発光素子と覚りし
素子とをそれぞれ異なる外囲器に封止するものに比べて
、製造および設置が容易でコストも低くでき、且つ小形
化もできる等多くの利点を有している。
〔背駄技術の問題点〕
しかし、上記のような構成では、第31ス4に示すよう
に発光素子140発するブ0が、外囲+si 1 ’の
内1丁■Jで反射されて受ブC素子15に供線される。
コ(7) ILめ、フォトセンサの信号/ノイズ(s、
z4+ )比ケ悪くする欠点がある。従って、発光素子
140発生する光が弱かったり、あるいは被検出物16
の反射率が低く微二j:iの反射光しか得ら;h、なか
った場合には、反射光が外囲器11の内部反射光にマス
キングされて被検出物16の検出が困鄭となったり、誤
甘った検出を行なっグこりする。
〔発明の目的〕
この4代明は一ト石己のような事情に3%みてなさオし
たもので、その目的とするところは、発光素子と受)を
素子とを光透過性樹脂゛P↓の同一の外囲器((封止す
るフオトセンサリ−において、外囲器の内部反射によっ
て発光素子の光が受光メζ子に供給されるのを防止し、
正確な検出か行なえるフォトセンサ全提供することであ
る。
〔発明の槍、決〕
すなわち、この発明においては、−ヒi己第2図におけ
る発)も素子14と受光素子15との間の外囲器(光透
過性樹11N ) 11に溝あるいは不透光性部材から
成る遮光部ケ設りだもので舌ンる。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例について図…〕を参照して説
明する。第4図はその構成を示すもので、上記風2図の
フォトセンサにおける外囲器1ノの発光素子14の設置
部と受光素子15の設置部との間に遮光部としてリード
フレーム131での深さでかつ素子の幅をこえる範囲の
溝17を設けたものである。このiji 17は例えば
発光素子14と受光素子15とを外囲器(清明エポキシ
樹脂)1ノに封1ヒする際、成型金型を用いで成型する
このよう−なAtq成によれば、発うY、諧イ14の元
しだ光は発光素子15に到達しないため内部J文躬によ
るノイズは発生しない。
萬5図1 (a)、 (blけこの発明のイ1ハの実施
例を示すもので、(a) ldはその断面格成図、(b
)汀上方から見た図である。ここでは上記第4図に示し
だフォトセンサの活部17に不透光性4σjri’ii
 (例えば黒色染料入りの液状エポキシl1ll脂)1
8葡注入して硬化させ遮光部を形、成しプζものである
このようなオ背成によれは、上N12m 4図のフォト
センサより更にノイズを減少できる。rp占51RI(
a) 、(b)に示しだフォトセンサのS/N ’:I
= f dtll yiし。
だところ、上記第21ン1に示した従来のものに比べて
S/N比を20〜30dB程度向上できるのを確認した
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、種々変形して失施することが可能であり、例えは上記
第5図(a) 、 (b)でR’J Its 17に注
入した不透光性液状付]脂180代わりに金属片や成型
物等の不透光性部材を設けても同様な効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したようにこの発明によれは、発光素子と受光
素子とを光透過性樹脂製の同一の外囲器に封止するフォ
トセンサにおいて、外囲器の内部反射によって発光素子
の元が受光素子に供給されるのを防止できるので、正確
な検出が行なえるすぐれたフォトセンサが44+ ラれ
る。
【図面の簡単な説明】
第11ゾIは従来のフォトセンサの斜視図、第2図は上
記第1図のA −A’紳に〆Dつだ附r面構成図、第3
図は外囲器の内面反射を説明するだめのI9.1、第4
1ン1ばこの発明の一実施例Vこ係るフォトセンサの断
面構成図、第51ゾj (a) 、 (b)ばそれぞれ
この発明の他の実施例を示す図である。 11・・・外囲器、14・・・発つ“C素子、1.夕・
・・受光素子、16・・・被検出物、17.1B・・・
遮光部(17、溝、18.不透光性例月)。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11発5’C素子と受yL素子とを光嬉過性樹mi 
    ’+’Jの同一外囲器内に有し、上記発光素子からの発
    光を被検出物に照射しその反射光を受光素子で’R)Y
    ; して被検出物の存否を検出するフォトセンサにおい
    て、上記発光素子設置部と受光素予設(ti 1il(
    との間にづ11元素子からの発光が外囲器の内部で反射
    して受光素子に供給されるのを防止するj↓ごξ)’e
     gllを設けたことを特徴とするフォトセンサ。 (2)上記遮光its i−J、、外囲器の発光素子設
    置バ部と受光素子設値j’、Isとの間に設けられたv
    fであることケ!1.1iイ孜とするl旨d′ト請求の
    範囲41〜1項記載のフォトセンサ。 (+()上i己趣几部は、外IL11器の元光索子設に
    ′(、Ql+と受光素子設置1イ部との間に設けられた
    71へとその1+4内に冗」飼された不妨光性部月とか
    ら成ることを特徴とする特許請求の仲、間第1 Jsi
    配威のフォトセンサ。
JP57167169A 1982-09-25 1982-09-25 フオトセンサ Pending JPS5956779A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57167169A JPS5956779A (ja) 1982-09-25 1982-09-25 フオトセンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57167169A JPS5956779A (ja) 1982-09-25 1982-09-25 フオトセンサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5956779A true JPS5956779A (ja) 1984-04-02

Family

ID=15844693

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57167169A Pending JPS5956779A (ja) 1982-09-25 1982-09-25 フオトセンサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5956779A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003096096A1 (fr) * 2002-05-14 2003-11-20 Sony Corporation Dispositif de liaison optique
TWI401421B (zh) * 2005-10-26 2013-07-11 Avago Tech Ecbu Ip Sg Pte Ltd 具有不同發射器檢測器組態之反射式編碼器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003096096A1 (fr) * 2002-05-14 2003-11-20 Sony Corporation Dispositif de liaison optique
US7121744B2 (en) 2002-05-14 2006-10-17 Sony Corporation Optical link device
TWI401421B (zh) * 2005-10-26 2013-07-11 Avago Tech Ecbu Ip Sg Pte Ltd 具有不同發射器檢測器組態之反射式編碼器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0790654B1 (en) Photoreflective detector and method for producing the same
AU623566B2 (en) Drip detecting device and drip alarming device and drip rate control device which incorporate drip detecting device
EP0313381A3 (en) Image sensor
JPS61228681A (ja) 光結合半導体装置
JPS5956779A (ja) フオトセンサ
JPS59123259A (ja) 固体撮像装置
JPH06216406A (ja) 光送信器
JPS59154083A (ja) 反射型フオトセンサ
JPH07183415A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS62132377A (ja) フオトマイクロセンサ
JP2007048795A (ja) 半導体照度センサ
JPS56110273A (en) Photo semiconductor device
JP2986635B2 (ja) 発光素子、受光素子および透過型光結合装置
JPH10341062A (ja) 発光素子モジュール及びその製造方法
JPS57192954A (en) Surface processing method
JPS59148372A (ja) 感光装置
JPH02244761A (ja) 固体撮像素子およびその製造方法
JPH0434985A (ja) 光結合装置
JPH10122953A (ja) 反射型光センサ
JPS6234459Y2 (ja)
JPH0729651Y2 (ja) 反射型光結合装置
JPS59168682A (ja) 反射型ホトセンサ
JPS63102272A (ja) 光半導体装置
JPH0258278A (ja) 反射型ホトインタラプタおよびその製造方法
JPH0432547U (ja)