KR101270287B1 - Laser processing method, laser processing system and processing controller - Google Patents

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미쓰비시덴키 가부시키가이샤
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Abstract

복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 방법에 있어서, 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차인 각인 구멍수차를 산출하고, 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍에 각인 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하고, 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍에 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 제1 정보 기록용 가공 구멍과 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하여 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성한다. In the laser processing method of laser processing a plurality of workpieces simultaneously by a plurality of laser lights, WHEREIN: The 1st information recording process hole initially set to a 1st workpiece, and the 2nd information recording process hole initially set to a 2nd workpiece | work. The first after calculating the stamping hole aberration which is the hole aberration, setting the additional processing hole equal to the marking hole aberration to the processing hole of the smaller hole number, and setting the additional processing hole to the processing hole of the smaller hole number The laser beam is irradiated to the information recording processing hole and the second information recording processing hole at the same time to form the first and second information recording processing holes.

Description

레이저 가공 방법, 레이저 가공 장치, 및 가공 제어 장치{LASER PROCESSING METHOD, LASER PROCESSING SYSTEM AND PROCESSING CONTROLLER}LASER PROCESSING METHOD, LASER PROCESSING SYSTEM AND PROCESSING CONTROLLER}

본 발명은 복수 개의 레이저 광으로 복수의 워크(work)를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 방법, 레이저 가공 장치, 및 가공 제어 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a laser processing method, a laser processing apparatus, and a processing control device for simultaneously laser processing a plurality of works with a plurality of laser lights.

복수의 워크(피가공물)를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 장치는 복수의 가공 헤드와 복수의 가공 테이블을 구비하고 있다. 예를 들면, 레이저 가공 장치가 2헤드(가공 헤드가 2개) 레이저 가공 장치인 경우, 가공 테이블 각각은 각 가공 헤드의 아래 쪽에 배치된다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조). 이와 같은 레이저 가공 장치는 제품용 가공 구멍(제품 가공 구멍)과, 제품 번호 등의 정보(정보 기록용 가공 구멍)를 워크 상에 각인(형성)하는 경우가 있다. 이 각인은 제품 이외의 복수의 가공 구멍을 배열함으로써 문자나 기호 등을 나타내도록 형성되어 있다. The laser processing apparatus which laser-processes several workpiece (workpiece) simultaneously is provided with the some processing head and the some processing table. For example, when the laser processing apparatus is a two-head (two processing head) laser processing apparatus, each processing table is arrange | positioned under each processing head (for example, refer patent document 1). Such a laser processing apparatus may inscribe (form) the processing hole (product processing hole) for a product, and information (processing hole for information recording), such as a product number, on a workpiece | work. This stamp is formed so that a letter, a symbol, etc. may be shown by arranging several process holes other than a product.

2헤드 레이저 가공장치는, 제품 가공 구멍을 형성할 때 각 가공 테이블에 동일한 제품 가공 구멍이 형성되도록 레이저 광을 조사한다. 또, 2헤드 레이저 가공장치는 제품 번호 등의 각 제품에 특유의 가공 구멍(각인)을 형성할 때, 한쪽의 가공 테이블에 레이저 광을 조사하여 한쪽의 가공 테이블 상에서의 각인을 형성한 후, 다른 쪽의 가공 테이블에 레이저 광을 조사하여 다른 쪽의 가공 테이블 상에서의 각인을 형성하고 있었다. 다시 말하면, 각 가공 테이블에서 다른 문자 등을 각인하는 경우, 우측의 워크를 각인한 후, 좌측의 워크를 각인하고 있었다. 그리고 한쪽의 가공 테이블에서 각인을 형성할 때 다른 쪽의 가공 테이블에 레이저 광이 조사되지 않도록, 셔터 등으로 다른 쪽의 가공 테이블에 인가되는 레이저 광을 차단하고 있었다. The two-head laser processing apparatus irradiates laser light so that the same product processing hole is formed in each processing table when forming the product processing hole. In addition, when the two-head laser processing apparatus forms processing holes (engraving) peculiar to each product such as a product number, the laser beam is irradiated to one processing table to form a stamp on one processing table, and then the other. The laser beam was irradiated to the processing table of the side, and the engraving on the other processing table was formed. In other words, when engraving different characters etc. in each processing table, after imprinting the workpiece | work of the right side, the workpiece | work of the left side was carved. The laser light applied to the other processing table is blocked by a shutter or the like so that the laser light is not irradiated onto the other processing table when the engraving is formed on one processing table.

[특허문헌 1] 일본국 특개 2008-055458호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2008-055458

그렇지만, 상기 종래의 2헤드 레이저 가공장치에 셔터를 배치하여, 각 가공 테이블에서의 각인을 순번대로 실행하는 경우, 각인 시간의 택트(tact) 시간이 길어진다고 하는 문제가 있었다. 예를 들면, 각 워크에 매수(枚數) 관리용 정보를 각인하는 경우, 우측 가공 테이블, 좌측 가공 테이블의 순번으로 워크에 각인된다. 이 때문에, 좌우 가공 테이블에 다른 문자를 각인하는 경우, 좌우 가공 테이블에 동일 문자를 각인하는 경우와 비교해서, 2배의 각인 시간을 필요로 하고 있었다. However, when the shutter is arranged in the conventional two-head laser processing apparatus and the stamping on each processing table is performed in sequence, there is a problem that the tact time of the stamping time becomes long. For example, when the number management information is carved into each work, the work is carved into the work in the order of the right processing table and the left processing table. For this reason, when imprinting another character in the left-right process table, the double time stamping time was required compared with the case of imprinting the same character in the left-right process table.

본 발명은 상기 문제에 감안하여 이루어진 것으로서, 각 테이블 상의 워크에 다른 정보를 각인할 때에 짧은 시간에 정보를 각인할 수 있는 레이저 가공 방법, 레이저 가공 장치, 및 가공 제어 장치를 얻는 것을 목적으로 한다. This invention is made | formed in view of the said problem, and an object of this invention is to obtain the laser processing method, laser processing apparatus, and processing control apparatus which can imprint information in a short time when imprinting other information on the workpiece | work on each table.

상술한 과제를 해결하여 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 방법에 있어서, 제품용 가공 구멍과는 다른 가공 구멍을 상기 각 워크 상의 소정 위치에 배열함으로써 정보 기록용 가공 구멍이 배치되는 상기 워크마다의 정보 기록 영역 내에 설정되는 상기 워크 중 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 상기 워크 중 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차를 산출하는 구멍수차 산출 스텝과, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍 및 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍인 소수측 가공 구멍에, 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하는 가공 구멍 추가 스텝과, 상기 소수측 가공 구멍에 상기 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하여 상기 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성하는 가공 구멍 형성 스텝을 포함하는 것을 특징으로 한다. MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In order to solve the above-mentioned subject and achieve the objective, this invention is a laser processing method which laser-processes a several workpiece | work simultaneously with a several laser beam, WHEREIN: The processing hole different from the processing hole for products is prescribed | regulated on each said workpiece | work. The first information recording processing hole initially set in the first work among the workpieces set in the information recording area for each of the workpieces on which the information recording processing holes are arranged by being arranged at a position; 2 The minority side which is a hole aberration calculation step which calculates the hole aberration with the processing hole for information recording, and the processing hole of the one with the smaller hole number of the processing hole among the said 1st information recording process hole, and the said 2nd information recording process hole. A processing hole addition step of setting additional processing holes equal to the hole aberration in the processing holes, and the minority side processing holes; A processing hole for simultaneously irradiating a laser beam to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole after setting the additional processing hole in the first hole to form the first and second information recording processing holes; It is characterized by including a formation step.

본 발명에 관한 레이저 가공 방법은 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍에, 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하여 레이저 가공하므로, 각 워크 상에 다른 정보를 각인하는 때에 짧은 시간으로 정보를 각인할 수 있다고 하는 효과를 갖는다. In the laser processing method according to the present invention, laser processing is performed by setting additional processing holes equal to the number of hole aberrations in the processing holes with the smaller number of processing holes in the information recording processing holes, thereby imprinting different information on each work. In this case, the information can be engraved in a short time.

도 1은 실시 형태 1에 관한 레이저 가공 장치의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 실시 형태 1에 관한 레이저 가공 기구의 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 각인 영역의 배치 위치를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 각인 영역의 구성을 나타내는 도면이다.
도 5는 레이저 가공의 가공 처리 순서를 나타내는 순서도이다.
도 6은 각인 영역 내에 설정되는 각인 설정 영역의 일례를 나타내는 도면이다.
도 7은 추가 후보 좌표를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 추가 설정 각인 구멍을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 소수측 영역내에서의 가공 순서를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 소수측 영역에 형성되는 각인 구멍의 일례를 나타내는 도면이다.
도 11은 각인 설정 영역 사이에 복수의 추가 후보 좌표를 설정한 경우의 추가 후보 좌표를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 실시 형태 2에 관한 레이저 가공 장치의 구성을 나타내는 도면이다.
도 13은 실시 형태 2에 관한 레이저 가공 기구의 구성을 나타내는 도면이다.
도 14는 제품 영역에서 이용하는 스캔 에리어 내에 더미 영역을 마련한 경우의 더미 영역을 설명하기 위한 도면이다.
1 is a diagram illustrating a configuration of a laser processing apparatus according to the first embodiment.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a laser processing mechanism according to the first embodiment. FIG.
3 is a view for explaining an arrangement position of a marking area.
4 is a diagram illustrating a configuration of a marking area.
5 is a flowchart showing a processing procedure of laser processing.
6 is a diagram illustrating an example of a marking setting region set in the marking region.
7 is a diagram for explaining additional candidate coordinates.
8 is a diagram for explaining additionally set marking holes.
9 is a diagram for explaining a machining procedure in the minority region.
It is a figure which shows an example of the marking hole formed in the minority side area | region.
11 is a diagram for explaining additional candidate coordinates when a plurality of additional candidate coordinates are set between the marking setting regions.
It is a figure which shows the structure of the laser processing apparatus which concerns on Embodiment 2. FIG.
It is a figure which shows the structure of the laser processing mechanism which concerns on Embodiment 2. FIG.
FIG. 14 is a diagram for explaining a dummy area in the case where a dummy area is provided in a scan area used in a product area.

이하에, 본 발명의 실시 형태에 관한 레이저 가공 방법, 레이저 가공 장치, 및 가공 제어 장치를 도면에 기초하여 상세하게 설명한다. 또한, 이 실시 형태에 의해 이 발명이 한정되는 것은 아니다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, the laser processing method, laser processing apparatus, and processing control apparatus which concern on embodiment of this invention are demonstrated in detail based on drawing. In addition, this invention is not limited by this embodiment.

실시 형태 1. Embodiment 1

도 1은 실시 형태 1에 관한 레이저 가공 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 레이저 가공 장치(1A)는 워크(후술되는 워크(WL, WR))에 레이저 광을 조사하여 좌측(L축 측)의 워크(WL)와 우측(R축 측)의 워크(WR)에 가공 구멍을 형성하는 2헤드 레이저 가공장치이다. 1 is a diagram illustrating a configuration of a laser processing apparatus according to the first embodiment. 1 A of laser processing apparatuses irradiate a laser beam to a workpiece | work (work WL, WR mentioned later), and a process hole is provided to the workpiece | work WL of the left side (L-axis side), and the workpiece | work WR of the right side (R-axis side). It is a two-head laser processing apparatus for forming a.

본 실시 형태의 레이저 가공 장치(1A)는 워크(WL, WR) 상에 제품용 가공 구멍(후술되는 제품 가공 구멍(H))과 정보 기록용 가공 구멍(후술되는 각인 구멍(hL, hR))을 레이저 가공에 의해서 형성한다. The laser processing apparatus 1A of this embodiment has a processing hole for a product (product processing hole H to be described later) and an information recording processing hole (marking holes hL and hR to be described later) on the workpieces WL and WR. Is formed by laser processing.

각인 구멍(제1 정보 기록용 가공 구멍, hL)과 각인 구멍(제2 정보 기록용 가공 구멍, hR)은, 예를 들면 각 워크(WL, WR) 상에 형성하는 제품 번호 등의 제품에 관한 정보(이하, 제품 정보라고 함)를 나타내도록 형성(각인)된다. 구체적으로는, 각인 구멍(hL, hR)은 1 ~ 복수의 가공 구멍(제품으로 되지 않은 가공 구멍)을 배열함으로써 문자, 기호, 도형 등을 나타내도록 형성된다. 제품 정보는 각 제품에 독자적인 정보이며, 제품마다 다르다. 따라서 각인 구멍(hL, hR)을 구성하는 가공 구멍은, 각인하는 제품마다 다른 배치를 가지고 있다. The marking hole (the first information recording processing hole, hL) and the marking hole (the second information recording processing hole, hR) are related to products, such as a product number formed on each workpiece | work WL and WR, for example. It is formed (inscribed) to represent information (hereinafter referred to as product information). Specifically, the marking holes hL and hR are formed so as to represent letters, symbols, figures, and the like by arranging one to a plurality of processing holes (work holes not made of products). Product information is information unique to each product, and varies from product to product. Therefore, the processing holes constituting the marking holes hL and hR have different arrangements for the products to be stamped.

레이저 가공 장치(1A)는 각 워크(WL, WR)에 복수의 제품 가공 구멍(H)을 형성함으로써, 각 워크(WL, WR)에 1 ~ 복수의 제품을 형성한다. 이하에서는, 각 워크(WL, WR)에 1개씩의 제품을 형성함과 아울러, 워크(WL)에 형성되는 제품에 각인 구멍(hL)을 각인하고, 워크(WR)에 형성되는 제품에 각인 구멍(hR)을 각인하는 경우 에 대해서 설명한다. 또, 이하에서는 제품 정보(각인 문자)가 1자리수 제품 번호인 경우에 대해서 설명한다. The laser processing apparatus 1A forms 1-several products in each workpiece | work WL and WR by forming several product processing hole H in each workpiece | work WL and WR. Hereinafter, while forming one product in each workpiece | work WL and WR, the marking hole hL is imprinted on the product formed in the workpiece | work WL, and the hole imprinted in the product formed in the workpiece | work WR is shown below. The case where (hR) is carved is demonstrated. In addition, below, the case where a product information (a stamp character) is a one-digit product number is demonstrated.

레이저 가공 장치(1A)는 가공 프로그램(3)을 이용하고, 각 워크(WL, WR) 상에 형성하는 제품에 따른 각인 구멍(hL, hR)을 워크(WL, WR)의 제품 상에 형성한다. 레이저 가공 장치(1A)는 각인 구멍(hL, hR)을 제품 상의 소정 영역(후술되는 각인 영역(SL, SR)) 내에 형성한다. 레이저 가공 장치(1A)는 가공 제어 장치(10A)와 레이저 가공 기구(레이저 가공부, 20A)를 가지고 있다.The laser processing apparatus 1A uses the machining program 3 to form marking holes hL and hR corresponding to products formed on the respective workpieces WL and WR on the products of the workpieces WL and WR. . The laser processing apparatus 1A forms the marking holes hL and hR in a predetermined area (marking areas SL and SR described later) on the product. The laser processing apparatus 1A has a processing control apparatus 10A and a laser processing mechanism (laser processing part, 20A).

가공 제어 장치(10A)는 레이저 가공 기구(20A)에 접속되어 있다. 본 실시 형태의 가공 제어 장치(10A)는 각인 구멍(hL)과 각인 구멍(hR)을 동시 형성하도록 레이저 가공 기구(20A)를 제어한다. 레이저 가공 기구(20A)는 가공 제어 장치(10A)로부터의 가공 지시에 기초하여, 각 워크(WL, WR)의 레이저 가공을 실행한다. The processing control apparatus 10A is connected to the laser processing mechanism 20A. The processing control apparatus 10A of the present embodiment controls the laser processing mechanism 20A so as to simultaneously form the marking hole hL and the marking hole hR. 20 A of laser processing mechanisms perform the laser processing of each workpiece | work WL and WR based on the process instruction | command from 10 A of process control apparatuses.

다음으로, 가공 제어 장치(10A)의 구성에 대해서 설명한다. 가공 제어 장치(10A)는 입력부(11), 가공 구멍수 카운트부(12), 구멍수차 산출부(13), 차분 가공 위치 선택부(가공 구멍 추가부, 14), 가공 순서 산출부(15), 가공 지시부(16), 각인 정보 기억부(17), 제어부(19)를 가지고 있다. Next, the structure of the process control apparatus 10A is demonstrated. The processing control device 10A includes an input unit 11, a processing hole counting unit 12, a hole aberration calculating unit 13, a differential processing position selecting unit (processing hole adding unit 14), and a processing sequence calculating unit 15 And a processing instruction unit 16, a stamping information storage unit 17, and a control unit 19.

입력부(11)는 워크(WL, WR)를 가공하는 가공 프로그램(3)이나 사용자로부터의 여러 가지의 지시 정보를 입력한다. 입력부(11)는 입력한 가공 프로그램(3)을 가공 구멍수 카운트부(12) 등으로 보내고, 입력한 지시 정보를 제어부(19)에 보낸다. The input part 11 inputs the machining program 3 which processes the workpiece | work WL, WR, and various instruction | indication information from a user. The input unit 11 sends the input machining program 3 to the machining hole count unit 12 and the like, and sends the input instruction information to the controller 19.

각인 정보 기억부(17)는 각인 구멍(hL, hR)에 관한 각인 정보를 기억하는 메모리 등이다. 각인 정보는 각인 영역(정보 기록 영역, SL, SR) 내에서 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)의 배치에 관한 정보, 각인 영역(SL, SR) 내에서 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)의 구멍간 위치(예를 들면 각인 구멍(hL)과 각인 구멍(hL)의 중간 좌표)에 관한 정보(이하, 구멍간 좌표라고 함), 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)의 가공 순서에 관한 정보를 포함하여 구성되어 있다. 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)은 소정 간격을 가지고 배치되어 있다. 따라서 구멍간 좌표는 각인 구멍(hL, hR)이 배치되는 간격에 기초하여 결정된다. The marking information storage unit 17 is a memory for storing marking information relating to the marking holes hL and hR. The marking information is information on the arrangement of the marking holes hL and hR constituting the marking character in the marking area (information recording area SL, SR), and the marking hole constituting the marking character in the marking area SL, SR. (hL, hR) information (for example, intermediate coordinates of the marking hole hL and the marking hole hL) between the holes (hereinafter referred to as the inter-hole coordinates), and the marking holes constituting the imprinted characters hL , hR) is configured to include information on the processing sequence. The marking holes hL and hR constituting the marking character are arranged at predetermined intervals. Therefore, the inter-hole coordinates are determined based on the intervals at which the imprinting holes hL and hR are arranged.

구멍간 좌표는 각인 구멍(hL)과 각인 구멍(hR)을 같은 시간 동안에 형성(동시에 가공 개시하고 동시에 가공 종료함)하기 위해서, 미리 준비해 두는 예비의 각인 구멍 후보 좌표(후술되는 추가 후보 좌표 Cx)이다. 구멍간 좌표는 각인 영역(SL, SR) 중, 각인 영역(SL, SR) 내에서 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)의 수가 적은 쪽의 영역(이하, 소수측 영역이라 함)에 추가 설정되게 되는 각인 구멍(후술되는 추가 설정 각인 구멍 bx)의 후보 좌표이다. 각인 구멍(hL, hR) 중 소수측 영역의 각인 구멍이 소수측 가공 구멍이 된다.The inter-hole coordinates are preliminary marking hole candidate coordinates prepared in advance (additional candidate coordinates Cx to be described later) in order to form the marking hole hL and the marking hole hR at the same time (processing starts simultaneously and ends processing at the same time). to be. The inter-hole coordinates are in the region (hereinafter referred to as the minority side region) in which the number of the marking holes hL and hR constituting the imprinted characters in the marking regions SL and SR is smaller among the marking regions SL and SR. It is a candidate coordinate of the marking hole which will be set further (additional marking hole bx mentioned later). The marking hole of the minority side area | region among the marking hole hL and hR turns into a minority side process hole.

각인 구멍(hL, hR)은 가공 프로그램(3)으로 지정되는 위치에 형성된다. 예를 들면, 워크(WL)에 형성하는 제품 정보가 제품 번호 「1」인 경우, 제품 번호 「1」과 제품 번호를 형성하는 각인 영역(SL)의 위치가 가공 프로그램(3) 내에 설정된다. 각인 정보 기억부(17)에서는 미리 「1」의 각인 문자를 각인할 때에 필요한 각인 구멍(hL)의 배치와 이러한 각인 구멍(hL)에 관한 구멍간 좌표 등을 기억해 둔다. The marking holes hL and hR are formed at positions designated by the machining program 3. For example, when the product information formed in the workpiece | work WL is the product number "1", the position of the marking area SL which forms the product number "1" and a product number is set in the process program 3. In the marking information storage unit 17, the arrangement of the marking holes hL necessary for marking the marking characters of "1" in advance, the inter-hole coordinates with respect to the marking holes hL, and the like are stored.

가공 구멍수 카운트부(12)는 가공 프로그램(3) 내에서부터 워크(WL, WR) 상에 형성하는 제품 정보를 추출함과 아울러, 이 제품 정보(각인 문자)에 대응하는 각인 구멍(hL, hR)의 배치를 각인 정보 기억부(17)로부터 추출한다. 가공 구멍수 카운트부(12)는 각 각인 구멍(hL, hR)의 수(가공 구멍수)를 카운트한다. 가공 구멍수 카운트부(12)는 카운트한 각인 구멍(hL, hR)의 가공 구멍수를 구멍수차 산출부(13)에 보낸다. The machining hole counting unit 12 extracts product information to be formed on the workpieces WL and WR from the machining program 3, and also marks holes hL and hR corresponding to the product information (engraving characters). ) Is extracted from the imprint information storage unit 17. The machining hole count unit 12 counts the number of machining holes hL and hR (the number of machining holes). The machining hole count part 12 sends the machining hole number of the counting marking holes hL and hR to the hole aberration calculation part 13.

구멍수차 산출부(13)는 가공 구멍수 카운트부(12)가 카운트한 각인 구멍(hL, hR)의 가공 구멍수를 이용하여, 각인 구멍(hL)과 각인 구멍(hR)의 가공 구멍수의 차(각인 구멍수차)를 산출한다. 구멍수차 산출부(13)는 각인 영역(SL)과 각인 영역(SR) 중 소수측 영역이 어느 쪽인지의 정보와 산출한 각인 구멍수차를 구멍수차정보로서 차분 가공 위치 선택부(14)에 보낸다. The hole aberration calculating unit 13 uses the number of processing holes of the marking holes hL and hR counted by the processing hole count unit 12 to determine the number of processing holes of the marking holes hL and the marking holes hR. The difference (stamping hole aberration) is calculated. The hole aberration calculating unit 13 sends to the differential machining position selection unit 14 the information of which the minority side of the marking area SL and the marking area SR is and the calculated marking hole aberration as hole aberration information. .

차분 가공 위치 선택부(14)는 소수측 영역에 설정되어 있는 각인 문자의 구멍간 좌표를 각인 정보 기억부(17)로부터 추출한다. 차분 가공 위치 선택부(14)는 구멍간 좌표에 설정되어 있는 추가 후보 좌표 Cx 중에서 각인 구멍수차와 같은 수의 추가 후보 좌표 Cx를 선택한다. 예를 들면, 각인 구멍수차가 4구멍인 경우, 차분 가공 위치 선택부(14)는 구멍간 정보에 설정되어 있는 추가 후보 좌표 Cx 중에서 4개의 추가 후보 좌표 Cx를 선택한다. 차분 가공 위치 선택부(14)가 선택한 추가 후보 좌표 Cx는 추가 설정 각인 구멍 bx가 되어, 소수측 영역에 더해진다. 차분 가공 위치 선택부(14)가 선택하는 구멍간 정보 내의 추가 후보 좌표 Cx는 어느 추가 후보 좌표 Cx 라도 좋고, 예를 들면 설정되어 있는 상위측(설정 번호가 낮은 순서)으로부터 순번대로 4개의 추가 후보 좌표 Cx가 선택된다. The differential machining position selection unit 14 extracts, from the stamping information storage unit 17, the inter-hole coordinates of the stamping character set in the minority side region. The differential machining position selection unit 14 selects the additional candidate coordinates Cx equal to the stamping hole aberration from the additional candidate coordinates Cx set in the inter-hole coordinates. For example, when the marking hole aberration is four holes, the differential machining position selection unit 14 selects four additional candidate coordinates Cx among the additional candidate coordinates Cx set in the inter-hole information. The additional candidate coordinates Cx selected by the differential machining position selection unit 14 become additionally set engraving holes bx, and are added to the minority side region. The additional candidate coordinates Cx in the inter-hole information selected by the differential machining position selection unit 14 may be any additional candidate coordinates Cx, for example, four additional candidates in order from the set upper side (lower order of setting number). Coordinate Cx is selected.

가공 순서 산출부(15)는 추가 각인 위치에 형성하는 추가 설정 각인 구멍 bx와 소수측 영역에 초기 설정되어 있던 초기 설정 각인 구멍 ax를 이용하여, 추가 설정 각인 구멍 bx가 추가된 소수측 영역 내에서 가공 구멍의 가공 순서를 산출한다. 가공 순서 산출부(15)는 예를 들면, 소수측 영역 내에서의 가공 시간이 최단이 되도록 소수측 영역 내에서의 가공 순서를 산출한다. 또, 가공 순서 산출부(15)는 가공 구멍으로부터 가공 구멍으로의 가공 위치의 이동거리가 최단이 되도록 소수측 영역 내에서의 가공 순서를 산출할 수도 있다. 또한, 가공 순서 산출부(15)는 각 가공 위치에서 워크(WL, WR)의 온도 상승을 방지하기 위해서, 가공 위치의 이동거리가 소정 거리 이상 커지도록 가공 위치와 가공 순서를 분산하여도 괜찮다. The machining order calculation unit 15 uses the additionally set marking hole bx formed at the additional stamping position and the initially set marking hole ax initially set in the minority side region, in the minority region where the additionally set marking hole bx is added. Calculate the processing sequence of the processing hole. The machining order calculation part 15 calculates the machining procedure in a minority side area | region so that the machining time in a minority side area | region may be shortest, for example. Moreover, the processing order calculation part 15 can also calculate the processing order in the minority side area | region so that the movement distance of the processing position from a processing hole to a processing hole may be shortest. In addition, in order to prevent the temperature rise of the workpiece | work WL and WR in each machining position, the machining order calculation part 15 may distribute a machining position and a machining sequence so that the movement distance of a machining position may become more than predetermined distance.

가공 지시부(16)는 가공 프로그램(3), 각인 정보, 소수측 영역의 가공 순서를 이용하여, 제품 가공 구멍(H)과 각인 구멍(hL, hR)의 위치를 지정한 가공 지시를 레이저 가공 기구(20A)에 출력한다. The machining instruction unit 16 uses a machining program 3, marking information, and a machining order of the minority side region to generate a machining instruction specifying a position of the product machining hole H and the marking holes hL and hR. Output to 20A).

제어부(19)는 입력부(11), 가공 구멍수 카운트부(12), 구멍수차 산출부(13), 차분 가공 위치 선택부(14), 가공 순서 산출부(15), 가공 지시부(16), 각인 정보 기억부(17)를 제어한다. 또한, 가공 프로그램 내에 설정되는 제품 정보는 구체적인 문자 등에 한정하지 않고, 제품 정보를 형성하기 위한 각인 구멍(hL, hR)의 실제의 좌표일 수도 있다.The control unit 19 includes an input unit 11, a processing hole counting unit 12, a hole aberration calculating unit 13, a differential processing position selecting unit 14, a processing sequence calculating unit 15, a processing instruction unit 16, The stamping information storage unit 17 is controlled. The product information set in the machining program is not limited to specific characters and the like, and may be actual coordinates of the marking holes hL and hR for forming the product information.

다음으로, 레이저 가공 기구(20A)의 구성에 대해서 설명한다. 도 2는 실시 형태 1에 관한 레이저 가공 기구의 구성을 나타내는 도면이다. 도 2에서는 레이저 광(2)을 다축화한 레이저 가공 기구의 구성예를 나타내고 있다. 레이저 가공 기구(20A)는 R축, L축의 액츄에이터(예를 들어, 갈바노(galvano))로 레이저 가공을 실행하도록 구성되어 있고, 분광기(28)와 2쌍의 레이저 헤드(29L, 29R)와 워크(WL, WR)를 재치하는 가공 테이블(25L, 25R)을 구비하고 있다. Next, the structure of the laser processing mechanism 20A is demonstrated. FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a laser processing mechanism according to the first embodiment. FIG. In FIG. 2, the structural example of the laser processing mechanism which multiaxialized the laser beam 2 is shown. The laser processing mechanism 20A is configured to perform laser processing with an actuator of R-axis and L-axis (for example, galvano), and has a spectrometer 28 and two pairs of laser heads 29L, 29R. The work tables 25L and 25R on which the workpieces WL and WR are mounted are provided.

레이저 헤드(29L, 29R)는 각각 갈바노 스캐너 미러(galvano scanner mirror, 22a, 22b)와, 갈바노 스캐너(galvano scanner, 23a, 23b)와, fθ 렌즈(24)를 가지고 있다. 레이저 발진기가 출력하는 레이저 광(2)은 분광기(28)에 의해서 분광되며, 분광된 레이저 광(2)이 레이저 헤드(29L, 29R)에 동시에 공급된다. 그리고 레이저 헤드(29L, 29R)로부터 조사되는 레이저 광(2)이, 각각의 워크(WL, WR)에 구멍내기 가공을 동시에 실시한다. The laser heads 29L and 29R each have galvano scanner mirrors 22a and 22b, galvano scanners 23a and 23b and an fθ lens 24, respectively. The laser light 2 output by the laser oscillator is spectroscopically by the spectrometer 28, and the spectroscopic laser light 2 is simultaneously supplied to the laser heads 29L and 29R. Then, the laser light 2 irradiated from the laser heads 29L and 29R simultaneously performs perforation processing on the respective workpieces WL and WR.

갈바노 스캐너 미러(22a)는 도시 생략한 레이저 발진기가 출력하는 레이저 광(2)을 받는 제1 갈바노 스캐너 미러이다. 갈바노 스캐너 미러(22a)는 갈바노 스캐너(23a)의 구동축에 접속되어 있고, 갈바노 스캐너(23a)의 구동축은 Z축 방향을 향하고 있다. 갈바노 스캐너 미러(22a)의 미러면은 갈바노 스캐너(23a)의 구동축의 회전에 따라서 변위하고, 입사하는 레이저 광(2)의 광축을 제1 방향(예를 들면, X축 방향)으로 편향 주사하여, 갈바노 스캐너 미러(22b)에 송출한다. The galvano scanner mirror 22a is a first galvano scanner mirror that receives the laser light 2 output by a laser oscillator not shown. The galvano scanner mirror 22a is connected to the drive shaft of the galvano scanner 23a, and the drive shaft of the galvano scanner 23a faces the Z-axis direction. The mirror surface of the galvano scanner mirror 22a displaces in accordance with the rotation of the drive shaft of the galvano scanner 23a, and deflects the optical axis of the incident laser light 2 in the first direction (for example, the X axis direction). Scanning is carried out to the galvano scanner mirror 22b.

갈바노 스캐너 미러(22b)는 갈바노 스캐너 미러(22a)로부터의 레이저 광(2)을 받는 제2 갈바노 스캐너 미러이다. 갈바노 스캐너 미러(22b)는 갈바노 스캐너(23b)의 구동축에 접속되어 있고, 갈바노 스캐너(23b)의 구동축은 Y축 방향을 향하고 있다. 갈바노 스캐너 미러(22b)의 미러면은 갈바노 스캐너(23b)의 구동축의 회전에 따라서 변위하고, 입사하는 레이저 광(2)의 광 축을 제1 방향에 거의 직교 하는 제2 방향(예를 들면 Y축 방향)으로 편향 주사하여 fθ 렌즈(24)에 송출한다. The galvano scanner mirror 22b is a second galvano scanner mirror that receives the laser light 2 from the galvano scanner mirror 22a. The galvano scanner mirror 22b is connected to the drive shaft of the galvano scanner 23b, and the drive shaft of the galvano scanner 23b faces the Y-axis direction. The mirror surface of the galvano scanner mirror 22b is displaced according to the rotation of the drive shaft of the galvano scanner 23b, and the second direction (for example, orthogonal to the optical axis of the incident laser light 2 substantially perpendicular to the first direction). Deflective scanning in the Y-axis direction) is sent to the fθ lens 24.

fθ 렌즈(24)는 XY면 내에서 2차원 주사된 레이저 광(2)을 워크(WL, WR) 상에 집광 조사한다. 프린트 기판 재료나 세라믹 그린 시트 등의 워크(WL, WR)는 평면 형상을 가지고 있고, 가공 테이블(25)은 워크(WL, WR)를 XY평면 내에 재치한다. The fθ lens 24 condenses and irradiates the laser light 2 scanned two-dimensionally in the XY plane onto the workpieces WL and WR. Work WL, WR, such as a printed circuit board material and a ceramic green sheet, has a planar shape, and the processing table 25 mounts the work WL, WR in XY plane.

레이저 가공 기구(20A)에서는 가공 테이블(25)을 XY평면 내에서 이동시킴과 아울러, 갈바노 스캐너(23a, 23b)에 의해서 레이저 광(2)을 2차원 주사한다. 이것에 의해, 갈바노 스캐너(23a, 23b)에 의해서 레이저 광(2)을 2차원 주사할 수 있는 범위 내인 스캔 에리어 내의 워크(WL, WR)에 제품 가공 구멍(H)이나 각인 구멍(hL, hR)이 형성된다. 또한, 도 2에서는, 2헤드의 레이저 가공 기구(20A)에 대해서 설명하였지만, 레이저 가공 기구(20A)는 4헤드 이상일 수도 있다. In the laser processing mechanism 20A, the processing table 25 is moved within the XY plane, and the laser light 2 is scanned two-dimensionally by the galvano scanners 23a and 23b. Thereby, the workpiece processing hole H and the marking hole hL, in the workpiece | work WL, WR in the scan area in the range which can scan the laser beam 2 two-dimensionally by the galvano scanner 23a, 23b. hR) is formed. In addition, in FIG. 2, although 20A of 2 head laser processing mechanisms were demonstrated, 4 head or more of 20 A of laser processing mechanisms may be sufficient.

다음으로, 각인 구멍(hL, hR)이 형성되는 각인 영역(SL, SR)에 대해서 설명한다. 도 3은 각인 영역의 배치 위치를 설명하기 위한 도면이고, 도 4는 각인 영역의 구성을 나타내는 도면이다.Next, the marking areas SL and SR in which the marking holes hL and hR are formed will be described. 3 is a view for explaining an arrangement position of a marking area, and FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of the marking area.

도 3에 도시된 바와 같이, 레이저 광(2)은 분광기(28)에 의해서 분광되고, 분광된 레이저 광(2)이 각각 워크(WL, WR)에 조사된다. 워크(WL, WR)에 조사되는 레이저 광(2)의 워크(WL) 상에서의 좌표(워크 내 좌표)와 워크(WR) 상에서의 워크 내 좌표는 동일한 좌표이다. 이것에 의해, 워크(WL, WR) 상에는 동일 좌표에 동일한 제품 가공 구멍(H)이 형성되어, 워크(WL, WR) 상에 동일한 제품이 형성된다. As shown in FIG. 3, the laser light 2 is spectroscopically by the spectrometer 28, and the spectroscopic laser light 2 is irradiated to the workpieces WL and WR, respectively. Coordinates (coordinates within the workpiece) on the workpiece WL of the laser light 2 irradiated to the workpieces WL, WR and the coordinates within the workpiece on the workpiece WR are the same coordinates. Thereby, the same product processing hole H is formed in the same coordinate on the workpiece | work WL and WR, and the same product is formed on the workpiece | work WL and WR.

워크(WL) 상의 소정 위치(예를 들면 워크(WL)의 단부 근방)에는 각인 구멍(hL)을 형성하기 위한 각인 영역(SL)이 마련되고, 워크(WR) 상의 소정 위치(예를 들면 워크(WR)의 단부 근방)에는 각인 구멍(hR)을 형성하기 위한 각인 영역(SR)이 마련되어 있다. 본 실시 형태에서는, 이 각인 영역(SL)과 각인 영역(SR)을 동일한 워크 내 영역으로 하여, 각인 영역(SL, SR)에 다른 각인 문자를 동시 형성한다. 다시 말하면, 제품 가공 구멍(H)은 동일 타이밍으로 조사된 레이저 광(2)에 의해서 동일한 워크 내 좌표에 형성되는데 대해, 각인 구멍(hL, hR)은 동일 타이밍으로 조사된 레이저 광(2)에 의해서 다른 워크 내 좌표에 형성된다. In a predetermined position (for example, near the end of the workpiece WL) on the workpiece WL, a marking region SL for forming the marking hole hL is provided, and a predetermined position (for example, the workpiece WR) is provided. In the vicinity of the end part of WR, the marking area | region SR for forming the marking hole hR is provided. In this embodiment, this marking area | region SL and the marking area | region SR are made into the same workpiece | work area, and the other marking characters are simultaneously formed in marking area | region SL and SR. In other words, the product processing hole H is formed at the same work coordinates by the laser light 2 irradiated at the same timing, whereas the marking holes hL and hR are applied to the laser light 2 irradiated at the same timing. By other coordinates in the workpiece.

각인 영역(SL)과 각인 영역(SR)은 같은 영역이므로, 여기에서는 각인 영 역(SL)의 구성에 대해서 설명한다. 도 4에 도시된 바와 같이 각인 영역(SL)은 구형상(矩形狀)의 영역이고, 세로 방향(행 방향)과 가로 방향(열 방향)으로, 복수의 정방형 영역(각인 구멍 후보(BL))이 매트릭스 모양으로 배열되어 있다. 또한, 도 4에서는 각인 영역(SL) 내에 열, 행, 열 번호, 행 번호 등을 기재하고 있지만, 이것은 설명의 편의상 기재한 것이며, 실제 각인 영역(SL) 내에는 이러한 문자나 영역은 배치되지 않고 각인 구멍 후보(BL)만이 배치된다. Since the marking area SL and the marking area SR are the same areas, the configuration of the marking area SL will be described here. As shown in FIG. 4, the stamped area SL is a spherical area, and a plurality of square areas (marked hole candidates BL) in the vertical direction (row direction) and the horizontal direction (column direction). The matrix is arranged in a shape. In FIG. 4, columns, rows, column numbers, row numbers, and the like are described in the marking area SL, but these are described for convenience of description, and such characters or areas are not arranged in the actual marking area SL. Only the marking hole candidate BL is arrange | positioned.

도 4에서는, 각인 영역(SL) 내에 (가로 5열)×(세로 13행)=65개인 각인 구멍 후보(BL)가 배열되어 있는 경우를 나타내고 있다. 각인 구멍 후보(BL)는 각인 구멍(hL)을 형성하는 가공 구멍의 후보이며, 이 후보 중에서 소정의 각인 구멍 후보(BL)가 실제 각인 구멍(hL)으로 설정된다. 도 4에서는, 각인 구멍 후보(BL) 중 실제 각인 구멍(hL)으로 설정되는 정방형(正方形) 영역을 각인 설정 영역(AL)으로 나타내고 있다. 각인 구멍 후보(BL) 가운데, 일부 각인 구멍 후보(BL)가 각인 설정 영역(AL)으로 설정됨으로써, 1개의 각인 영역(SL)에서 숫자 「1」등의 하나의 문자 등이 표시되게 된다. 워크(WL) 상의 제품에는, 1 ~ 복수 각인 영역(SL)이 배치되고, 1 ~ 복수 각인 영역(SL)에 의해서 1 ~ 복수 문자 등이 형성된다. 본 실시 형태에서는, 워크(WL)의 제품에 1개의 각인 영역(SL)이 배치되고, 워크(WR)의 제품에 1개의 각인 영역(SR)이 배치되는 경우에 대해서 설명한다. In FIG. 4, the marking hole candidate BL of (5 horizontal columns) X (13 vertical lines) = 65 is shown in the marking area | region SL. The marking hole candidate BL is a candidate of the processing hole which forms the marking hole hL, and among these candidates, the predetermined marking hole candidate BL is set to the actual marking hole hL. In FIG. 4, the square area | region set to the actual marking hole hL among the marking hole candidate BL is shown by the marking setting area | region AL. Among the marking hole candidates BL, some of the marking hole candidates BL are set to the marking setting area AL, so that one letter or the like such as the numeral “1” is displayed in one marking area SL. 1 to 2 marking area | region SL is arrange | positioned at the product on the workpiece | work WL, and 1 to a plurality of letters etc. are formed by 1 to plurality of marking area | region SL. This embodiment demonstrates the case where one marking area | region SL is arrange | positioned at the product of the workpiece | work WL, and one marking area | region SR is arrange | positioned at the product of the workpiece | work WR.

또한, 각인 구멍 후보(BL)나 각인 설정 영역(AL)은 정방형 영역에 한정하지 않고, 장방형(長方形) 영역이나 원형(圓形) 영역 등 어떠한 형상의 영역일 수도 있다. 또, 각인 영역(SL, SR)은 구형 영역에 한정하지 않고, 원형 영역 등의 어떠한 형상의 영역일 수도 있다. In addition, the marking hole candidate BL and the marking setting area | region AL may not be limited to a square area | region, but may be an area | region of any shape, such as a rectangular area | region and a circular area | region. In addition, the marking areas SL and SR are not limited to the spherical area but may be areas of any shape such as a circular area.

다음으로, 레이저 가공의 가공 처리 순서에 대해서 설명한다. 도 5는 레이저 가공의 가공 처리 순서를 나타내는 순서도이다. 가공 제어 장치(10A)에는 입력부(11)로부터 가공 프로그램(3)이 입력된다(스텝 S10). 입력부(11)는 입력한 가공 프로그램(3)을 가공 구멍수 카운트부(12)와 가공 지시부(16)에 보낸다. Next, the processing procedure of laser processing is demonstrated. 5 is a flowchart showing a processing procedure of laser processing. The machining program 3 is input to the machining control device 10A from the input unit 11 (step S10). The input unit 11 sends the input machining program 3 to the machining hole count unit 12 and the machining instruction unit 16.

가공 구멍수 카운트부(12)는 가공 프로그램(3) 내로부터 워크(WL, WR) 상에 형성하는 제품 정보를 추출함과 아울러, 이 제품 정보의 각인 문자에 대응하는 각인 구멍(hL, hR)의 배치(각인 영역(SL, SR) 내의 가공 구멍)를 각인 정보 기억부(17)로부터 추출한다. 가공 구멍수 카운트부(12)는 각 각인 문자를 구성하는 각인 구멍(hL, hR)의 가공 구멍수를 카운트한다(스텝 S20). 가공 구멍수 카운트부(12)는 카운트 한 각인 영역(SL, SR) 내의 각인 구멍(hL, hR)의 가공 구멍수를 구멍수차 산출부(13)에 보낸다.The machining hole counting unit 12 extracts product information to be formed on the workpieces WL and WR from the machining program 3, and also stamps holes hL and hR corresponding to the engraving characters of the product information. The arrangement (processing holes in the marking areas SL and SR) is extracted from the marking information storage unit 17. The machining hole count unit 12 counts the machining hole numbers of the marking holes hL and hR constituting each engraving character (step S20). The machining hole count part 12 sends the machining hole number of the marking holes hL and hR in the counting marking areas SL and SR to the hole aberration calculating part 13.

구멍수차 산출부(13)는 가공 구멍수 카운트부(12)가 카운트한 각인 영역(SL, SR) 내의 가공 구멍수를 이용하여, 각인 영역(SL, SR) 내의 가공 구멍수의 차를 각인 구멍수차로서 산출한다(스텝 S30). 구멍수차 산출부(13)는 각인 영역(SL)과 각인 영역(SR) 중 소수측 영역이 어느 쪽 영역인지의 정보와 산출한 각인 구멍수차를 구멍수차 정보로서 차분 가공 위치 선택부(14)에 보낸다. The hole aberration calculating unit 13 imprints a difference in the number of machining holes in the marking areas SL and SR by using the machining holes in the marking areas SL and SR counted by the machining hole count unit 12. It calculates as aberration (step S30). The hole aberration calculating unit 13 uses the information of which area is the minority side of the marking area SL and the marking area SR and the calculated marking hole aberration as the hole aberration information to the differential machining position selection unit 14. send.

여기서, 각인 영역(SL, SR) 내에 설정되는 각인 문자, 소수측 영역, 각인 구멍수차의 구체적인 예에 대해서 설명한다. 도 6은 각인 영역 내에 설정되는 각인 설정 영역의 일례를 나타내는 도면이다. 도 6에서는 각인 영역(SL)에 「1」인 각인 문자를 형성하고, 각인 영역(SR)에 「2」인 각인 문자를 형성하는 경우를 나타내고 있다. Here, specific examples of the marking characters, the minority side region, and the marking hole aberrations set in the marking regions SL and SR will be described. 6 is a diagram illustrating an example of a marking setting region set in the marking region. In FIG. 6, the marking character which is "1" is formed in the marking area | region SL, and the marking character which is "2" is formed in the marking area | region SR is shown.

각인 영역(SL)에는 각 각인 설정 영역(AL)에 1개씩의 각인 구멍(hL)이 형성됨으로써, 각인 영역(SL)에 「1」인 각인 문자가 형성된다. 또, 각인 영역(SR)에는 각 각인 설정 영역(AR)에 1개씩의 각인 구멍(hR)이 형성됨으로써, 각인 영역(SR)에 「2」인 각인 문자가 형성된다. 도 6에서는 각인 영역(SL) 내에 9개의 각인 설정 영역(AL)이 설정되고, 각인 영역(SR) 내에 13개의 각인 설정 영역(AR)이 설정되어 있는 경우를 나타내고 있다. 따라서 이 경우, 소수 영역은 각인 영역(SL)이고, 각인 구멍수차는 4 구멍이다. In the marking area SL, one marking hole hL is formed in the marking setting area AL, whereby a marking character of "1" is formed in the marking area SL. In addition, each marking hole hR is formed in the marking area | region SR in the marking area | region SR, and the marking character which is "2" is formed in the marking area | region SR. FIG. 6 shows a case where nine marking setting areas AL are set in the marking area SL, and thirteen marking setting areas AR are set in the marking area SR. In this case, therefore, the minority region is the marking region SL, and the marking hole aberration is four holes.

각인 구멍수차를 산출한 후, 차분 가공 위치 선택부(14)는 소수측 영역에 설정되어 있는 각인 문자의 구멍간 좌표를 각인 정보 기억부(17)로부터 추출한다. 차분 가공 위치 선택부(14)는 구멍간 좌표로서 설정되어 있는 추가 후보 좌표 Cx 중에서 각인 구멍수차와 같은 수인 4개의 추가 후보 좌표 Cx를 선택한다. 차분 가공 위치 선택부(14)는 선택한 추가 후보 좌표 Cx에 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정하고, 이 추가 설정 각인 구멍 bx를 소수측 영역에 더한다. After calculating the marking hole aberration, the differential machining position selection unit 14 extracts from the marking information storage unit 17 the coordinates between the holes of the marking characters set in the minority side region. The differential machining position selection unit 14 selects four additional candidate coordinates Cx which are the same number as the stamped hole aberration from the additional candidate coordinates Cx set as the inter-hole coordinates. The differential machining position selection unit 14 sets an additional setting marking hole bx to the selected additional candidate coordinate Cx, and adds this additional setting marking hole bx to the minority side region.

도 7은 추가 후보 좌표를 설명하기 위한 도면이고, 도 8은 추가 설정 각인 구멍을 설명하기 위한 도면이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 각인 영역(SL) 내에서는, 각인 설정 영역(AL)과 각인 설정 영역(AL)의 사이에는, 구멍간 좌표인 추가 후보 좌표 Cx로서 추가 후보 좌표 C1~C7가 설정된다. 본 실시 형태에서는, 추가 후보 좌표 C1~C7의 어느 것인지를 추가 설정 각인 구멍 bx로 설정함으로써, 각인 영역(SL) 내의 각인 구멍(hL) 수와 각인 영역(SR) 내의 각인 구멍(hR) 수를 같은 수로 한다. FIG. 7 is a diagram for explaining additional candidate coordinates, and FIG. 8 is a diagram for describing additional setting marking holes. As shown in FIG. 7, in the marking area SL, additional candidate coordinates C1 to C7 are set between the marking setting area AL and the marking setting area AL as additional candidate coordinates Cx which are inter-hole coordinates. do. In this embodiment, the number of marking holes hL in the marking area SL and the number of marking holes hR in the marking area SR are set by setting any of the additional candidate coordinates C1 to C7 to the additional setting marking holes bx. The same number.

예를 들면, 차분 가공 위치 선택부(14)가 추가 후보 좌표 C1~C4를 선택한 경우, 도 8에 도시된 바와 같이, 추가 후보 좌표 C1~C4에 추가 설정 각인 구멍 bx로서 추가 설정 각인 구멍 b1~b4가 설정된다. 또, 각 각인 설정 영역(AL)에는 1개씩의 초기 설정 각인 구멍 ax가 설정된다. 구체적으로는, 각인 영역(SL) 내의 각인 설정 영역(AL)에 초기 설정 각인 구멍 ax로서 초기 설정 각인 구멍 a1~a9가 설정된다. 이것에 의해, 각인 영역(SL) 내에는, 초기 설정 각인 구멍 a1~a9와 추가 설정 각인 구멍 b1~b4로 이루어진 13 구멍인 각인 구멍(hL)(각인 구멍(hR)와 같은 수의 각인 구멍(hL))이 설정되게 된다. 이와 같이, 차분 가공 위치 선택부(14)는 각인 구멍수가 작은 쪽의 각인 문자에 각인 구멍수차와 같은 수의 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정한다(스텝 S40).For example, when the differential machining position selector 14 selects the additional candidate coordinates C1 to C4, as shown in FIG. 8, the additional setting marking holes b1 to the additional candidate coordinates C1 to C4 as additional setting marking holes bx. b4 is set. Incidentally, one initial marking hole ax is set in each marking setting area AL. Specifically, initial marking holes a1 to a9 are set as the initial marking holes ax in the marking setting area AL in the marking area SL. Thereby, in the marking area | region SL, the marking hole hL which is 13 holes which consists of initial stage marking holes a1-a9 and the additional setup marking holes b1-b4 (the same number of marking holes (hR) hL)) is set. In this way, the differential machining position selection unit 14 sets the additionally set marking holes bx equal to the marking hole aberration to the marking characters having the smaller number of marking holes (step S40).

가공 순서 산출부(15)는 초기 설정 각인 구멍 ax와 추가 설정 각인 구멍 bx로 이루어진 모든 각인 구멍(hL)의 위치에 기초하여, 소수측 영역 내에서의 모든 각인 구멍(hL)의 가공 순서를 산출한다(스텝 S50). 가공 순서 산출부(15)는 예를 들면, 각인 구멍으로부터 각인 구멍으로의 가공 위치의 이동거리가 최단이 되도록 소수측 영역 내에서의 가공 순서를 산출한다. 예를 들면, 도 8에 도시된 각인 영역(SL) 내에서의 가공 순서를 산출하는 경우, 초기 설정 각인 구멍 a1~a9와 추가 설정 각인 구멍 b1~b4로 이루어진 13 구멍인 각인 구멍(hL)의 위치에 기초하여, 각인 영역(SL) 내에서의 각인 구멍(hL)의 가공 순서를 산출한다. The machining order calculation unit 15 calculates the machining order of all the marking holes hL in the minority region based on the positions of all the marking holes hL including the initial marking holes ax and the additional marking holes bx. (Step S50). The machining order calculation part 15 calculates the machining procedure in the minority side area | region so that the movement distance of the machining position from a marking hole to a marking hole may be shortest, for example. For example, when calculating the processing order in the marking area | region SL shown in FIG. 8, the marking hole hL which is 13 holes which consists of initial stage marking holes a1-a9 and the additional setup marking holes b1-b4 is carried out. Based on the position, the machining procedure of the marking hole hL in the marking area SL is calculated.

도 9는 소수측 영역 내에서의 가공 순서를 설명하기 위한 도면이다. 도 9에서는, 도 8에 도시된 각인 영역(SL) 내에 가공 순서를 설정하는 경우의 가공 순서를 나타내고 있다. 가공 순서 산출부(15)는 초기 설정 각인 구멍 a1~a9, 추가 설정 각인 구멍 b1~b4 중에서, 각인 문자를 구성하는 단부의 각인 구멍이나 다른 각인 구멍과의 인접수가 작은 각인 구멍 등을 추출한다. 도 9에서는, 초기 설정 각인 구멍 a1~a9, 추가 설정 각인 구멍 b1~b4 중에서, 각인 문자인 「1」을 구성하는 단부의 각인 구멍으로서 초기 설정 각인 구멍 a1이 추출된 경우를 나타내고 있다. 이 후, 가공 순서 산출부(15)는 초기 설정 각인 구멍 a2~a9 및 추가 설정 각인 구멍 b1~b4 중에서 추출한 각인 구멍에 인접하는 각인 구멍을 순번대로 추출하여, 추출한 순번을 가공 순서로 한다. 가공 순서 산출부(15)는 예를 들면 (1)~(13)에 제시된 순번대로 각인 구멍을 추출한다. It is a figure for demonstrating the processing procedure in the minority side area | region. In FIG. 9, the processing procedure at the time of setting a processing order in the marking area | region SL shown in FIG. 8 is shown. The machining order calculation part 15 extracts the marking hole of the edge part which comprises a marking character, the marking hole with the adjacent number with another marking hole, etc. from among the initialization marking hole a1-a9 and the additional setting marking hole b1-b4. In FIG. 9, the initial stage marking hole a1 was extracted as a marking hole of the edge part which comprises "1" which is a marking character among the initial stage marking holes a1-a9 and the additional stage marking holes b1-b4. Thereafter, the machining sequence calculation unit 15 sequentially extracts the marking holes adjacent to the marking holes extracted from the initially set marking holes a2 to a9 and the additional marking holes b1 to b4, and uses the extracted sequence as the processing order. The machining order calculation part 15 extracts the marking hole in the order shown, for example in (1)-(13).

(1) 각인 문자의 단부에 위치하는 초기 설정 각인 구멍 a1을 추출한다. (1) The initial marking hole a1 located at the end of the marking character is extracted.

(2) 초기 설정 각인 구멍 a1에 인접하는 추가 설정 각인 구멍 b1을 추출한다. (2) The additional-setup marking hole b1 adjacent to the initialization marking hole a1 is extracted.

(3) 추가 설정 각인 구멍 b1에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a2를 추출한다. (3) The initial setup marking hole a2 adjacent to the additional setup marking hole b1 is extracted.

(4) 초기 설정 각인 구멍 a2에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a3를 추출한다. (4) The initialization marking hole a3 adjacent to the initialization marking hole a2 is extracted.

(5) 초기 설정 각인 구멍 a3에 인접하는 추가 설정 각인 구멍 b2를 추출한다. (5) The additional-setup marking hole b2 adjacent to the initialization marking hole a3 is extracted.

(6) 추가 설정 각인 구멍 b2에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a4를 추출한다. (6) The initial setup marking hole a4 adjacent to the additional setup marking hole b2 is extracted.

(7) 초기 설정 각인 구멍 a4에 인접하는 추가 설정 각인 구멍 b3를 추출한다. (7) The additional-setup marking hole b3 adjacent to the initialization marking hole a4 is extracted.

(8) 추가 설정 각인 구멍 b3에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a5를 추출한다. (8) The initialization marking hole a5 adjacent to the additional setting marking hole b3 is extracted.

(9) 초기 설정 각인 구멍 a5에 인접하는 추가 설정 각인 구멍 b4를 추출한다. (9) The additional-setup marking hole b4 adjacent to the initialization marking hole a5 is extracted.

(10) 추가 설정 각인 구멍 b4에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a6을 추출한다. (10) The initial setup marking hole a6 adjacent to the additional setup marking hole b4 is extracted.

(11) 초기 설정 각인 구멍 a6에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a7을 추출한다. (11) The initialization marking hole a7 adjacent to the initialization marking hole a6 is extracted.

(12) 초기 설정 각인 구멍 a7에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a8을 추출한다. (12) The initialization marking hole a8 adjacent to the initialization marking hole a7 is extracted.

(13) 초기 설정 각인 구멍 a8에 인접하는 초기 설정 각인 구멍 a9를 추출한다. (13) The initialization marking hole a9 adjacent to the initialization marking hole a8 is extracted.

가공 순서 산출부(15)는 (1)~(13)에서 추출된 각인 구멍의 순번을 각인 영역(SL) 내에서의 각인 구멍의 가공 순서로 설정한다. The processing order calculation part 15 sets the order of the marking hole extracted by (1)-(13) to the processing order of the marking hole in the marking area | region SL.

가공 지시부(16)는 가공 프로그램(3), 각인 정보, 소수측 영역의 가공 순서를 이용하여, 제품 가공 구멍(H)과 각인 구멍(hL, hR)의 위치를 지정한 가공 지시를 레이저 가공 기구(20A)에 출력한다. 구체적으로는, 가공 지시부(16)는 가공 프로그램(3)에 기초하여 워크(WL, WR)에 제품 가공 구멍(H)의 가공 지시를 보낸다. 또, 가공 지시부(16)는 각인 정보, 가공 순서 산출부(15)가 산출한 가공 순서에 기초하여 각인 영역(SL)에 각인 구멍(hL)의 가공 지시를 보낸다. 또, 가공 지시부(16)는 각인 정보에 기초하여 각인 영역(SR)에 각인 구멍(hR)의 가공 지시를 보낸다. The machining instruction unit 16 uses a machining program 3, marking information, and a machining order of the minority side region to generate a machining instruction specifying a position of the product machining hole H and the marking holes hL and hR. Output to 20A). Specifically, the machining instruction unit 16 sends a machining instruction of the product machining hole H to the workpieces WL and WR based on the machining program 3. Moreover, the process instruction | command part 16 sends the process instruction | indication of the marking hole hL to the marking area | region SL based on the marking information and the process order which the process order calculation part 15 calculated. Moreover, the process instruction | command part 16 sends the process instruction | indication of the marking hole hR to the marking area | region SR based on marking information.

도 10은 소수측 영역에 형성되는 각인 구멍의 일례를 나타내는 도면이다. 도 10에서는, 도 8에서 설명한 초기 설정 각인 구멍 a1~a9 및 추가 설정 각인 구멍 b1~b4의 위치에 각인 구멍(hL)을 형성한 경우를 나타내고 있다. 본 실시 형태에서는, 각인 문자를 구성하는 초기 설정 각인 구멍 ax와 초기 설정 각인 구멍 ax의 사이의 구멍간 좌표에 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정하여 각인 문자를 형성하고 있으므로, 각인 문자의 외형에 큰 영향을 주는 일 없이 각인 문자를 형성할 수 있다. It is a figure which shows an example of the marking hole formed in the minority side area | region. In FIG. 10, the case where the marking hole hL is formed in the position of the initialization marking hole a1-a9 and the additional setting marking hole b1-b4 demonstrated in FIG. In this embodiment, since the additional setting marking hole bx is set to the inter-hole coordinate between the initial marking hall ax and initial marking hall ax which comprise a marking character, the marking character is formed, and it has a big influence on the appearance of a marking character. I can form an imprinted letter without giving it.

또한, 본 실시 형태에서는, 각인 설정 영역(AL)과 각인 설정 영역(AL)의 사이에는, 구멍간 좌표로서 1개씩의 추가 후보 좌표 Cx를 설정하는 경우에 대해서 설명하였지만, 각인 설정 영역(AL)와 각인 설정 영역(AL)의 사이에는 구멍간 좌표로서 복수의 추가 후보 좌표 Cx를 설정할 수도 있다. In addition, in this embodiment, although the case where one additional candidate coordinate Cx was set as the inter-hole coordinates between the marking setting area | region AL and the marking setting area | region AL was demonstrated, the marking setting area | region AL It is also possible to set a plurality of additional candidate coordinates Cx as the inter-hole coordinates between and the imprinting setting area AL.

도 11은 각인 설정 영역간에 복수의 추가 후보 좌표를 설정한 경우의 추가 후보 좌표를 설명하기 위한 도면이다. 도 11에서는 각인 영역(SL) 내의 각인 설정 영역(AL) 간에 2개씩의 추가 후보 좌표 Cx를 설정한 경우를 도시하고 있다. 도 11의 각인 영역(SL)에서는, 도 7에 도시된 각인 영역(SL) 내에서 추가 후보 좌표 C1을 설정한 각인 설정 영역(AL) 사이에 추가 후보 좌표 C11, C12가 설정되고, 추가 후보 좌표 C2를 설정한 각인 설정 영역(AL) 사이에는 추가 후보 좌표 C13, C14가 설정되어 있다. 마찬가지로, 도 7에 도시된 각인 영역(SL) 내에서 추가 후보 좌표 C3~C7를 설정한 각인 설정 영역(AL) 사이에는, 각각 추가 후보 좌표 C15, C16, 추가 후보 좌표 C17, C18, 추가 후보 좌표 C19, C20, 추가 후보 좌표 C21, C22, 추가 후보 좌표 C23, C24가 설정되어 있다. 11 is a diagram for explaining additional candidate coordinates when a plurality of additional candidate coordinates are set between the marking setting regions. In FIG. 11, the case where two additional candidate coordinates Cx are set between the marking setting area | region AL in the marking area | region SL is shown. In the marking area | region SL of FIG. 11, additional candidate coordinates C11 and C12 are set between the marking setting area | region AL which set the additional candidate coordinates C1 in the marking area | region SL shown in FIG. Additional candidate coordinates C13 and C14 are set between the marking setting areas AL where C2 is set. Similarly, the additional candidate coordinates C15, C16, the additional candidate coordinates C17, C18, and the additional candidate coordinates are respectively between the marking setting regions AL in which the additional candidate coordinates C3 to C7 are set in the marking area SL shown in FIG. C19, C20, additional candidate coordinates C21, C22, and additional candidate coordinates C23, C24 are set.

이것에 의해, 각인 구멍수차가 큰 경우이더라도, 다수의 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정할 수 있으므로, 각인 영역(SL) 내의 각인 구멍(hL) 수와 각인 영역(SR) 내의 각인 구멍(hR) 수를 같은 수로 하는 것이 가능해진다. 또한, 도 11에서는, 각인 영역(SL) 내의 각인 설정 영역(AL) 사이에 2개씩의 추가 후보 좌표 Cx를 설정한 경우를 도시하였지만, 각인 영역(SL, SR) 내의 1개의 각인 설정 영역(AL) 사이에 3개 이상의 추가 후보 좌표 Cx를 설정할 수도 있다. 또, 1개의 각인 설정 영역(AL) 사이에 설정하는 추가 후보 좌표 Cx는, 각인 설정 영역(AL) 사이에서 모두 같은 수로 할 필요는 없고, 각인 설정 영역(AL) 사이의 치수에 따라서 각인 설정 영역(AL) 사이에 설정하는 추가 후보 좌표 Cx 수를 결정할 수도 있다. Thereby, even if the marking hole aberration is large, many additional setting marking holes bx can be set, so that the number of marking holes hL in the marking area SL and the number of marking holes hR in the marking area SR are adjusted. The same number becomes possible. In addition, although FIG. 11 shows the case where two additional candidate coordinates Cx are set between the marking setting area | regions AL in the marking area | region SL, one marking setting area | region AL in the marking area | regions SL and SR is shown. It is also possible to set three or more additional candidate coordinates Cx between). In addition, the additional candidate coordinates Cx to be set between one marking setting area AL do not have to be the same number among the marking setting areas AL, and the marking setting area according to the dimension between the marking setting areas AL is required. The number of additional candidate coordinates Cx set between (AL) may be determined.

또, 각인 영역(SL, SR) 내의 각 각인 설정 영역(AL) 사이에 복수 종류의 추가 후보 좌표 Cx를 설정해 둘 수도 있다. 예를 들면, 도 11에 도시된 추가 후보 좌표 Cx와 도 7에 도시된 추가 후보 좌표 Cx의 양쪽 모두를 설정해 둘 수도 있다. 각 각인 설정 영역(AL) 사이에 복수 종류의 추가 후보 좌표 Cx를 설정해 두는 경우, 차분 가공 위치 선택부(14)는 각인 구멍수차의 크기나 가공 조건 등에 기초하여, 어느 종류의 추가 후보 좌표 Cx를 이용할지를 판단한다. 가공 조건은 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 대한 레이저 펄스수, 1펄스 당 레이저 에너지, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 조사되는 합계의 레이저 에너지, 워크(WL, WR)의 재질, 각인 구멍(hL, hR)의 구멍 간격, 각인 구멍(hL, hR)의 사이즈 등이다. In addition, a plurality of types of additional candidate coordinates Cx may be set between each of the marking setting areas AL in the marking areas SL and SR. For example, both the additional candidate coordinates Cx shown in FIG. 11 and the additional candidate coordinates Cx shown in FIG. 7 may be set. When a plurality of kinds of additional candidate coordinates Cx are set between the respective engraving setting areas AL, the differential machining position selection unit 14 selects some additional candidate coordinates Cx based on the size of the marking hole aberration, the processing conditions, and the like. Determine whether to use. The processing conditions are, for example, the number of laser pulses for one marking hole (hL, hR), the laser energy per pulse, the total laser energy irradiated to one marking hole (hL, hR), the work (WL, WR). ), The hole spacing of the marking holes hL and hR, the size of the marking holes hL and hR, and the like.

차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 대한 레이저 펄스수가 소정 수보다도 많은 경우에는, 1개의 각인 설정 영역(AL) 사이에 설정되어 있는 추가 후보 좌표 Cx가 소정 수보다도 작은 각인 정보(이하, 소수 설정된 각인 정보라고 함)를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1펄스 당 레이저 에너지가 소정 값보다 큰 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 조사되는 합계의 레이저 에너지가 소정 값보다도 큰 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 워크(WL, WR)의 레이저 광 조사 내성이 소정 값보다도 낮은 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 구멍 간격이 소정 값보다도 좁은 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 사이즈(직경이나 깊이)가 소정 값보다도 큰 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍수차가 소정 수보다도 큰 경우에는, 소수 설정된 각인 정보를 이용한다고 판단한다. For example, when the number of laser pulses for one marking hole hL and hR is larger than a predetermined number, the differential machining position selection unit 14 sets additional candidate coordinates set between one marking setting area AL. It is determined that Cx uses stamping information smaller than a predetermined number (hereinafter, referred to as decimal-set stamping information). In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the laser energy per pulse is larger than a predetermined value, the stamping information set in a small number is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the laser energy of the sum total irradiated to one of the marking holes hL and hR is larger than the predetermined value, the stamping information set in a small number is used. Further, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the laser light irradiation resistance of the workpieces WL and WR is lower than a predetermined value, the stamping information set in a small number is used. Further, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the hole spacing of the marking holes hL and hR is narrower than a predetermined value, the stamping information set in a small number is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the size (diameter or depth) of the marking holes hL and hR is larger than a predetermined value, the stamping information set in a small number is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the marking hole aberration is larger than the predetermined number, the stamping information set in a small number is used.

소수 설정된 각인 정보를 이용하는 경우는, 추가 설정 각인 구멍 bx 끼리의 겹침이나, 추가 설정 각인 구멍 bx와 초기 설정 각인 구멍 ax의 겹침이 적어지므로, 고품질인 워크(WL, WR)의 가공을 실행하는 것이 가능해진다. 또, 고품질인 워크(WL, WR)의 가공을 실행하기 위한 가공 순서도 용이하게 산출하는 것이 가능해진다. 또, 1개의 각인 설정 영역(AL) 간에 설정되어 있는 추가 후보 좌표 Cx가 소정 수보다도 많은 각인 정보를 이용하는 경우, 다수의 추가 설정 각인 구멍 bx를 형성하는 것이 가능해진다. In the case of using the set number of stamping information, the overlap between the additionally set marking holes bx and the overlap of the additionally set marking holes bx and the initially set marking holes ax are reduced, so that machining of the high-quality workpieces WL and WR is performed. It becomes possible. In addition, it is possible to easily calculate a machining procedure for performing machining of the high-quality workpieces WL and WR. Moreover, when the additional candidate coordinate Cx set between one marking setting area AL uses the marking information more than a predetermined number, it becomes possible to form many additional setting marking holes bx.

또, 본 실시 형태에서는, 워크(WL)의 제품에 1개의 각인 영역(SL)이 배치되고, 워크(WR)의 제품에 1개의 각인 영역(SR)이 배치되는 경우에 대해서 설명하였지만, 워크(WL, WR)에는 복수의 각인 영역(SL, SR)을 배치할 수도 있다. 이 경우, 1번째 각인 영역(SL)과 1번째 각인 영역(SR)(1번째 쌍 각인 영역(SL, SR))에 대해서, 상술한 추가 설정 각인 구멍 bx를 마련하고 동일 시간 내에 1번째 쌍의 각인 영역(SL, SR) 내의 가공을 실행한다. 그리고 1번째 쌍의 각인 영역(SL, SR)과 마찬가지로 2번째 쌍 이후의 각인 영역(SL, SR)에 대해서 상술한 추가 설정 각인 구멍 bx를 마련하고 동일 시간 내에 2번째 쌍 이후의 각인 영역(SL, SR) 내의 가공을 실행한다.Moreover, in this embodiment, although the case where one marking area | region SL is arrange | positioned at the product of the workpiece | work WL and one marking area | region SR is arrange | positioned to the product of the workpiece | work WR was demonstrated, A plurality of marking areas SL and SR may be disposed in WL and WR. In this case, the above-described additional setting marking holes bx are provided for the first marking area SL and the first marking area SR (first pair marking areas SL and SR), and the first pair of markings are performed within the same time. Processing in the engraving areas SL and SR is performed. As with the first pair of marking areas SL and SR, the above-described additional setting marking holes bx are provided for the second and subsequent marking areas SL and SR, and the second and subsequent marking areas SL are provided within the same time. And SR).

또, 각인 영역(SL) 내에 형성하는 추가 설정 각인 구멍 bx는 다른 추가 설정 각인 구멍 bx와 일부 또는 전부가 겹칠 수도 있다. 또, 각인 영역(SL) 내에 형성하는 추가 설정 각인 구멍 bx는 초기 설정 각인 구멍 ax와 일부 또는 전부가 겹칠 수 있다. 추가 설정 각인 구멍 bx를 초기 설정 각인 구멍 ax의 전부에 겹치는 경우, 초기 설정 각인 구멍 ax 상에 추가 설정 각인 구멍 bx가 설정된다.In addition, some or all of the additionally set marking holes bx formed in the marking area SL may overlap with other additionally set marking holes bx. Further, the additionally set marking hole bx formed in the marking area SL may overlap some or all of the initial marking hole ax. When the additional setting marking hole bx overlaps with all of the initial marking hole ax, the additional setting marking hole bx is set on the initial marking hole ax.

추가 설정 각인 구멍 bx와 초기 설정 각인 구멍 ax를 겹칠지 여부는, 사용자로부터 외부 입력되는 지시에 기초하여 결정할 수도 있고, 워크(WL, WR)의 가공 조건에 기초하여 차분 가공 위치 선택부(14)가 판단할 수도 있다. 추가 설정 각인 구멍 bx와 초기 설정 각인 구멍 ax를 겹침으로써, 각인 영역(SL, SR) 내에 다수의 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정하는 것이 가능해진다. 또, 추가 설정 각인 구멍 bx와 초기 설정 각인 구멍 ax를 겹치지 않음으로써, 가공 조건이 엄격한 경우에서도 가공 불량을 일으키는 일 없이 고품질인 각인 구멍(hL, hR)을 형성하는 것이 가능해진다.Whether to overlap the additionally set marking hole bx and the initial setting marking hole ax may be determined based on an externally input instruction from the user, and the differential machining position selection unit 14 is based on the machining conditions of the workpieces WL and WR. You can also judge. By overlapping the additionally set marking holes bx and the initializing marking holes ax, it is possible to set a plurality of additionally set marking holes bx in the marking areas SL and SR. In addition, by not overlapping the additionally set marking holes bx and the initial setting marking holes ax, it is possible to form high quality marking holes hL and hR without causing machining defects even when the machining conditions are severe.

또한, 각인 구멍(hL, hR)에 의해서 형성하는 각인 문자는 문자, 기호, 도형 등에 한정하지 않고, 2차원 바코드, 마크 등 어떠한 정보이더라도 좋다. 또, 제품 정보는 제품 번호에 한정하지 않고, 로트(lot) 번호, 제조 일시 등 어떠한 정보더라도 좋다.The marking characters formed by the marking holes hL and hR are not limited to characters, symbols, figures, and the like, and may be any type of information such as a two-dimensional bar code or a mark. The product information is not limited to the product number, and may be any information such as a lot number and a production date and time.

또, 본 실시 형태에서는, 추가 후보 좌표 Cx를 미리 등록해 두는 경우에 대해서 설명하였지만, 차분 가공 위치 선택부(14)가 추가 후보 좌표 Cx를 자동 설정할 수도 있다. 이 경우, 차분 가공 위치 선택부(14)는 각인 구멍수차나 가공 조건에 기초하여, 추가 후보 좌표 Cx를 설정한다.In addition, in this embodiment, although the case where the additional candidate coordinate Cx was registered previously was demonstrated, the differential machining position selection part 14 can also set the additional candidate coordinate Cx automatically. In this case, the differential machining position selection unit 14 sets the additional candidate coordinates Cx based on the stamp hole aberration and the machining conditions.

이와 같이, 본 실시 형태의 레이저 가공 방법은 2 테이블 이상을 구비한 레이저 가공 장치(1A)에 있어서, 좌우 각인 문자의 각인 구멍(hL, hR) 수를 카운트 하는 스텝과, 각인 구멍(hL, hR) 수가 작은 쪽의 문자에서 각인 구멍수차를 산출하여 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정하는 스텝과, 각인 문자를 최단(最短)으로 가공하기 위한 가공 순서를 산출하는 스텝과, 추가 설정 각인 구멍 bx 및 초기 설정 각인 구멍 ax를 가공하는 스텝을 포함하고 있다.Thus, the laser processing method of this embodiment is a laser processing apparatus 1A provided with 2 or more tables which counts the number of the marking holes hL and hR of left and right marking characters, and marking holes hL and hR. Calculating the stamping hole aberration from the letter with the smaller number and setting the additional marking hole bx, calculating the processing sequence for processing the stamping character at the shortest, additional setting marking hole bx and initial A step of processing the set stamping hole ax is included.

이와 같이 실시 형태 1에 의하면, 소수측 영역에 추가 설정 각인 구멍 bx를 설정하고, 각인 영역(SL, SR)에서 형성하는 각인 문자의 각인 구멍(hL, hR) 수를 같은 수로 하고 있으므로, 각인 영역(SL, SR)에 다른 각인 문자를 형성하는 경우이더라도, 광 셔터 등을 이용하는 일 없이 각인 영역(SL, SR)에 각인 문자를 형성할 수 있다. 따라서 간단하고 쉬운 구성으로 각인 영역(SL, SR)에 다른 각인 문자를 형성할 수 있다.Thus, according to Embodiment 1, since the additional setting marking hole bx is set in the minority side area | region, and the number of marking holes hL and hR of the marking character formed in the marking area | region SL and SR is made the same number, it is a marking area | region Even in the case of forming different marking characters in the SL and SR, the marking characters can be formed in the marking regions SL and SR without using an optical shutter or the like. Therefore, different marking characters can be formed in the marking areas SL and SR with a simple and easy configuration.

또, 광 셔터 등을 이용하는 일 없이 각인 영역(SL, SR)에 각인 문자를 형성하므로, 단시간에 각인 문자를 형성할 수 있다. 또, 추가 설정 각인 구멍 bx를 소수측 영역에 마련하고 있으므로, 추가 설정 각인 구멍 bx를 소수측 영역 외에 마련하는 경우보다도, 단시간에 각인 문자를 형성할 수 있다.In addition, since a stamp character is formed in the marking areas SL and SR without using an optical shutter or the like, the stamp character can be formed in a short time. In addition, since the additional setting marking hole bx is provided in the minority side area | region, a marking character can be formed in a short time rather than providing the additional setting marking hole bx other than the minority side area | region.

실시 형태 2.Embodiment 2 Fig.

다음으로, 도 12 ~ 도 14를 이용하여 이 발명의 실시 형태 2에 대해서 설명한다. 실시 형태 2에서는 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 소수측 영역에 조사하는 일 없이, 다른 영역(소수측 영역과는 다른 별개의 위치)에 조사한다.Next, Embodiment 2 of this invention is described using FIGS. 12-14. In Embodiment 2, the laser beam 2 of the carved hole number difference is irradiated to another area | region (a separate position different from a decimal side area | region), without irradiating to a fractional side area | region.

도 12는 실시 형태 2에 관한 레이저 가공 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 도 12의 각 구성요소 중, 도 1에 도시된 실시 형태 1의 레이저 가공 장치(1A)와 동일 기능을 달성하는 구성요소에 대해서는 동일 번호를 부여하고 있고, 중복하는 설명은 생략한다. It is a figure which shows the structure of the laser processing apparatus which concerns on Embodiment 2. FIG. Of each component of FIG. 12, the same number is attached | subjected about the component which achieves the same function as the laser processing apparatus 1A of Embodiment 1 shown in FIG. 1, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

레이저 가공 장치(1B)는 가공 제어 장치(10B)와 레이저 가공 기구(20B)를 가지고 있다. 가공 제어 장치(10B)는 레이저 가공 기구(20B)에 접속되어 있다. 본 실시 형태의 가공 제어 장치(10B)는 각인 구멍(hL)과 각인 구멍(hR)을 동시 형성하도록, 레이저 가공 기구(20B)를 제어한다. 구체적으로는, 가공 제어 장치(10B)는 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 후술되는 댐퍼(31)에 조사하거나, 후술되는 셔터(32)로 차단한다. 레이저 가공 기구(20B)는 가공 제어 장치(10B)로부터의 가공 지시에 기초하여, 워크(WL, WR)의 레이저 가공을 실행한다. The laser processing apparatus 1B has the process control apparatus 10B and the laser processing mechanism 20B. The processing control apparatus 10B is connected to the laser processing mechanism 20B. The processing control apparatus 10B of this embodiment controls the laser processing mechanism 20B so that the marking hole hL and the marking hole hR may be formed simultaneously. Specifically, the processing control device 10B irradiates the damper 31 to be described later with the laser light 2 having the stamped hole number difference, or blocks the shutter 32 to be described later. The laser processing mechanism 20B performs laser processing of the workpieces WL and WR based on the processing instruction from the processing control device 10B.

다음으로, 가공 제어 장치(10B)의 구성에 대해서 설명한다. 가공 제어 장치(10B)는 입력부(11), 가공 구멍수 카운트부(12), 구멍수차 산출부(13), 가공 지시부(16), 각인 정보 기억부(17), 조사 제어 지시부(18), 제어부(19)를 가지고 있다. Next, the structure of the process control apparatus 10B is demonstrated. The processing control apparatus 10B includes an input unit 11, a processing hole counting unit 12, a hole aberration calculating unit 13, a processing instruction unit 16, a stamping information storage unit 17, an irradiation control instruction unit 18, It has a control unit 19.

조사 제어 지시부(18)는 구멍수차 산출부(13)가 산출한 각인 구멍수차에 기초하여, 레이저 가공 기구(20B)에 대해 제어 지시를 보낸다. 조사 제어 지시부(18)는 각인 구멍수차와 같은 수의 각인 구멍을 형성하기 위한 레이저 광(2)을 댐퍼(31)에 향해 조사시키는 제어 지시, 또는 셔터(32)로 차단하는 제어 지시를 레이저 가공 기구(20B)에 보낸다. 각인 구멍수차와 같은 수의 각인 구멍을 형성하기 위한 레이저 광(2)은 실시 형태 1에서 설명한, 추가 설정 각인 구멍 bx를 형성하기 위해서 조사하는 레이저 광(2)과 같은 수의 펄스 레이저이다. 이것에 의해, 본 실시 형태에서는, 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)으로 추가 설정 각인 구멍 bx를 형성하는 대신에, 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 소수측 영역에 조사시키지 않도록 레이저 가공 기구(20B)를 제어한다. The irradiation control instructing unit 18 sends a control instruction to the laser processing mechanism 20B based on the stamping hole aberration calculated by the hole aberration calculating unit 13. The irradiation control instruction part 18 laser-processes the control instruction which irradiates the damper 31 with the laser light 2 for forming the marking hole of the same number as the marking hole aberration, or the control instruction which blocks | blocks with the shutter 32. Send to instrument 20B. The laser light 2 for forming the same number of marking holes as the marking hole aberration is the same number of pulse lasers as the laser light 2 irradiated to form the additionally set marking hole bx described in the first embodiment. As a result, in the present embodiment, instead of forming the additionally set marking holes bx with the laser light 2 having the marking hole difference, the laser light is not irradiated to the fractional side region with the laser light 2 having the marking hole difference. The processing mechanism 20B is controlled.

다음으로, 레이저 가공 기구(20B)의 구성에 대해서 설명한다. 도 13은 실시 형태 2에 관한 레이저 가공 기구의 구성을 나타내는 도면이다. 도 13의 각 구성요소 중, 도 2에 도시된 실시 형태 1의 레이저 가공 기구(20A)와 동일 기능을 달성하는 구성요소에 대해서는 동일 번호를 부여하고 있고, 중복하는 설명은 생략한다. 레이저 가공 기구(20B)는 분광기(28)와 2쌍의 레이저 헤드(30L, 30R)와, 워크(WL, WR)를 재치하는 가공 테이블(25L, 25R)을 구비하고 있다. Next, the structure of the laser processing mechanism 20B is demonstrated. It is a figure which shows the structure of the laser processing mechanism which concerns on Embodiment 2. FIG. Of each component of FIG. 13, the same code | symbol is attached | subjected about the component which achieves the same function as the laser processing mechanism 20A of Embodiment 1 shown in FIG. 2, and the overlapping description is abbreviate | omitted. The laser processing mechanism 20B includes a spectrometer 28, two pairs of laser heads 30L and 30R, and processing tables 25L and 25R on which the workpieces WL and WR are placed.

레이저 헤드(30L, 30R)는 실시 형태 1의 레이저 헤드(29L, 29R)와 비교해서, 각각 댐퍼(31)와 셔터(32)를 가지고 있다. 댐퍼(31)는 레이저 광(2)을 흡수하는 기능을 가지고 있고, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)이 댐퍼(31)에 조사됨으로써, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)은 소수 영역에 조사되지 않는다. 댐퍼(31)는 fθ 렌즈(24)의 근방에 배치되어 있고, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)은 갈바노 스캐너 미러(22b)로부터 댐퍼(31)에 안내된다. The laser heads 30L and 30R have a damper 31 and a shutter 32 as compared with the laser heads 29L and 29R of the first embodiment. The damper 31 has a function of absorbing the laser light 2, and the laser light 2 having the difference in the number of holes stamped in the minority side region is irradiated to the damper 31, thereby inducing the difference in the number of holes in the minority side region. The laser light 2 is not irradiated to the minority region. The damper 31 is arranged in the vicinity of the fθ lens 24, and the laser light 2 of the carved hole difference in the minority side region is guided to the damper 31 from the galvano scanner mirror 22b.

셔터(32)는 레이저 광(2)을 차단하는 기능을 가지고 있고, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)이 셔터(32)로 차단됨으로써, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)은 소수 영역에 조사되지 않는다. 셔터(32)는 갈바노 스캐너 미러(22a) 보다도 전단에서 개폐 가능하게 장착되어서 배치되어 있고, 셔터(32)를 닫음으로써 갈바노 스캐너 미러(22a)에 대한 레이저 광(2)을 차단할 수 있다. 또한, 댐퍼(31)나 셔터(32)는, 도 13에 도시된 위치와는 다른 위치에 배치할 수도 있다. The shutter 32 has a function of blocking the laser light 2, and the laser light 2 of the stamped hole difference in the minority side region is cut off by the shutter 32, whereby The laser light 2 is not irradiated to the minority region. The shutter 32 is attached to the front end of the galvano scanner mirror 22a so as to be opened and closed, and the laser light 2 to the galvano scanner mirror 22a can be blocked by closing the shutter 32. Moreover, the damper 31 and the shutter 32 can also be arrange | positioned at the position different from the position shown in FIG.

다음으로, 조사 제어 지시부(18)의 제어 처리에 대해서 설명한다. 조사 제어 지시부(18)는 구멍수차 산출부(13)가 산출한 각인 구멍수차에 기초하여, 댐퍼(31)와 셔터(32) 중 어느 쪽을 이용할지를 결정한다. 예를 들면, 조사 제어 지시부(18)는 각인 구멍수차가 소정 수 미만의 경우에 댐퍼(31)를 이용하고, 각인 구멍수차가 소정 수 이상인 경우에 셔터(32)를 이용한다. 조사 제어 지시부(18)는 댐퍼(31)를 이용하는 경우, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 댐퍼(31)에 조사하도록, 레이저 가공 기구(20B)를 제어한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 셔터(32)를 이용하는 경우, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 셔터(32)로 차단하도록, 레이저 가공 기구(20B)를 제어한다. 또, 조사 제어 지시부 (18)는 셔터(32)를 이용하는 경우, 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저광(2)을 셔터(32)로 차단하도록, 레이저 가공 기구(20B)를 제어한다. Next, the control process of the irradiation control instruction | indication part 18 is demonstrated. The irradiation control instruction unit 18 determines which of the damper 31 and the shutter 32 to use based on the stamped hole aberration calculated by the hole aberration calculating unit 13. For example, the irradiation control instruction unit 18 uses the damper 31 when the marking hole aberration is less than a predetermined number, and uses the shutter 32 when the marking hole aberration is a predetermined number or more. When the damper 31 is used, the irradiation control instruction unit 18 controls the laser processing mechanism 20B to irradiate the damper 31 with the laser light 2 having the difference in the number of holes stamped in the minority region. In addition, when the shutter 32 is used, the irradiation control instruction unit 18 controls the laser processing mechanism 20B so as to block the laser light 2 of the carved hole difference in the minority region by the shutter 32. In addition, when the shutter 32 is used, the irradiation control instruction unit 18 controls the laser processing mechanism 20B so as to block the laser light 2 having the difference in the number of holes in the minority region by the shutter 32.

또한, 조사 제어 지시부(18)는 가공 조건에 기초하여, 댐퍼(31)와 셔터(32) 중 어느 쪽을 이용할지를 결정할 수도 있다. 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 대한 레이저 펄스수가 소정 수보다도 작은 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 1펄스 당 레이저 에너지가 소정 값보다도 큰 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 조사되는 합계의 레이저 에너지가 소정 값보다도 큰 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 워크(WL, WR)의 레이저 광 조사 내성이 소정 값보다도 낮은 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 구멍 간격이 소정 값보다 좁은 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 사이즈가 소정 값보다도 큰 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. 또, 조사 제어 지시부(18)는 예를 들면, 각인 구멍수차가 소정 수보다도 큰 경우에는, 댐퍼(31)를 이용한다고 판단한다. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 can also determine which of the damper 31 and the shutter 32 to use based on a processing condition. The irradiation control instruction unit 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the number of laser pulses for one of the marking holes hL and hR is smaller than a predetermined number. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the laser energy per pulse is larger than predetermined value. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the total laser energy irradiated to one marking hole hL and hR is larger than a predetermined value. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the laser beam irradiation tolerance of the workpiece | work WL and WR is lower than predetermined value. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the hole space | interval of the marking holes hL and hR is narrower than a predetermined value. In addition, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the size of the marking holes hL and hR is larger than a predetermined value. Moreover, the irradiation control instruction | indication part 18 determines that the damper 31 is used, for example, when the marking hole aberration is larger than a predetermined number.

또한, 본 실시 형태에서는, 레이저 헤드(30L, 30R)가 각각 댐퍼(31)와 셔터(32) 양쪽 모두를 가지고 있는 경우에 대해서 설명하였지만, 레이저 헤드(30L, 30R)가 댐퍼(31)와 셔터(32) 중 어느 한쪽을 가지는 구성이어도 괜찮다. 레이저 헤드(30L, 30R)가 댐퍼(31)를 가지고 있는 경우, 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)이 댐퍼(31)에 조사된다. 또, 레이저 헤드(30L, 30R)가 셔터(32)를 가지고 있는 경우, 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)이 셔터(32)로 차단된다. 또한, 레이저 헤드(30L, 30R)가 댐퍼(31)와 셔터(32) 중 어느 한쪽만을 가지고 있는 경우, 조사 제어 지시부(18)는 댐퍼(31)와 셔터(32) 중 어느 것을 이용할지를 결정할 필요가 없다. In addition, in this embodiment, the case where the laser heads 30L and 30R have both the damper 31 and the shutter 32 was demonstrated, respectively, but the laser heads 30L and 30R are the damper 31 and the shutter, respectively. The structure which has either of (32) may be sufficient. When the laser heads 30L and 30R have the damper 31, the laser light 2 of the carved hole number difference is irradiated to the damper 31. As shown in FIG. In addition, when the laser heads 30L and 30R have the shutter 32, the laser light 2 of the carved hole number difference is interrupted by the shutter 32. As shown in FIG. In addition, when the laser heads 30L and 30R have only one of the damper 31 and the shutter 32, the irradiation control instruction unit 18 needs to determine which of the damper 31 and the shutter 32 to use. There is no.

또, 댐퍼(31) 대신에 소수측 영역의 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 조사하기 위한 더미 영역(소수측 영역과는 다른 워크(WL, WR) 상의 영역)을 마련할 수도 있다. 이 더미 영역은 워크(WL, WR) 상의 제품 영역 내에 마련될 수도 있고, 워크(WL, WR) 상의 제품 영역 외에 마련될 수도 있다. 더미 영역을 워크(WL, WR) 상의 제품 영역 내에 마련하는 경우, 초기 설정 각인 구멍 ax와 추가 설정 각인 구멍 bx의 거리가 짧아지므로, 단시간에 각인 구멍(hL, hR)을 형성하는 것이 가능해진다. 또, 더미 영역을 워크(WL, WR) 상의 제품 영역 외에 마련하는 경우, 워크 상의 여러 가지의 위치에 더미 영역을 배치할 수 있으므로, 용이하게 더미 영역을 배치하는 것이 가능해진다. In addition, instead of the damper 31, a dummy area (area on the workpieces WL and WR different from the minority side area) for irradiating the laser light 2 of the stamped hole difference in the minority side area may be provided. The dummy region may be provided in the product region on the workpieces WL and WR, or may be provided in addition to the product region on the workpieces WL and WR. When the dummy region is provided in the product region on the workpieces WL and WR, the distance between the initial marking hole ax and the additional marking hole bx becomes short, so that the marking holes hL and hR can be formed in a short time. In addition, when the dummy region is provided outside the product regions on the workpieces WL and WR, the dummy regions can be arranged at various positions on the workpiece, so that the dummy regions can be easily arranged.

또, 더미 영역을 제품 영역과 동일한 스캔 에리어 내(갈바노 스캐너(23a, 23b)의 스캔 에리어 내)에 마련해도 좋다. 이 경우, 더미 영역이 워크(WL, WR) 상의 제품 영역 외에 배치되어도 단시간에 각인 구멍(hL, hR)을 형성하는 것이 가능해진다. Further, the dummy area may be provided in the same scan area (in the scan areas of the galvano scanners 23a and 23b) as the product area. In this case, even if the dummy region is disposed outside the product regions on the workpieces WL and WR, it is possible to form the marking holes hL and hR in a short time.

도 14는 제품 영역에서 이용하는 스캔 에리어 내에 더미 영역을 마련한 경우의 더미 영역을 설명하기 위한 도면이다. 도 14에서는 워크(WL) 상의 제품 영역(PL)을 레이저 가공할 때에 이용하는 더미 영역(d)을 나타내고 있다. FIG. 14 is a diagram for explaining a dummy area in the case where a dummy area is provided in a scan area used in a product area. In FIG. 14, the dummy area | region d used when carrying out the laser processing of the product area | region PL on the workpiece | work WL is shown.

제품 영역(PL)을 레이저 가공할 때 , 복수의 스캔 에리어(G)가 설치되어 스캔 에리어(G) 마다 레이저 광이 조사된다. 예를 들면, 각인 영역(SL)이 제품 영역(PL)의 단부(도 14에서는 오른쪽 아래(右下) 부분)에 배치되는 경우, 각인 영역(SL)을 레이저 가공할 때의 스캔 에리어(G)는 제품 영역(PL)과 제품 영역의 외측 영역(제품외 영역)에 걸쳐서 배치되는 경우가 있다. 이와 같은 경우에는, 제품외 영역의 각인 영역(SL)의 근방에 더미 영역(d)을 배치함으로써, 더미 영역(d)을 갈바노 스캐너(23a, 23b)의 스캔 에리어 내에 마련하는 것이 가능해진다. When laser-machining the product area | region PL, the some scanning area G is provided and laser light is irradiated for every scanning area G. As shown in FIG. For example, when the marking area | region SL is arrange | positioned at the edge part (lower-right part in FIG. 14) of the product area | region PL, the scan area G at the time of laser processing the marking area | region SL is carried out. May be disposed over the product region PL and an outer region (out-product region) of the product region. In such a case, the dummy area d can be provided in the scan areas of the galvano scanners 23a and 23b by arranging the dummy area d in the vicinity of the marking area SL of the non-product area.

또, 가공 제어 장치(10B)가 가공 제어 장치(10A, 10B) 양쪽 모두의 기능을 가지고 있을 수도 있다. 이 경우, 가공 제어 장치(10B)는 입력부(11), 가공 구멍수 카운트부(12), 구멍수차 산출부(13), 차분 가공 위치 선택부(14), 가공 순서 산출부(15), 가공 지시부(16), 각인 정보 기억부(17), 조사 제어 지시부(18), 제어부(19)를 포함하여 구성된다. 이 가공 제어 장치(10B)에서는, 차분 가공 위치 선택부(14)가 각인 구멍수차의 크기나 가공 조건 등에 기초하여 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용할지 또는 댐퍼(31)와 셔터(32)를 이용할지를 판단한다. Moreover, the process control apparatus 10B may have the function of both the process control apparatuses 10A and 10B. In this case, the processing control device 10B includes the input unit 11, the processing hole counting unit 12, the hole aberration calculating unit 13, the differential processing position selecting unit 14, the processing sequence calculating unit 15, and processing It is comprised including the instruction | indication part 16, the marking information memory | storage part 17, the irradiation control instruction | indication part 18, and the control part 19. As shown in FIG. In the processing control device 10B, the differential machining position selection unit 14 uses the additionally set marking holes bx or the damper 31 and the shutter 32 based on the size of the marking hole aberration, the processing conditions, and the like. To judge.

차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 대한 레이저 펄스수가 소정 수보다도 작은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1펄스 당 레이저 에너지가 소정 값보다도 작은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 1개의 각인 구멍(hL, hR)에 조사되는 합계의 레이저 에너지가 소정 값보다도 작은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 워크(WL, WR)의 레이저 광 조사 내성이 소정 값보다도 낮은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 구멍 간격이 소정 값보다 좁은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍(hL, hR)의 사이즈가 소정 값보다 작은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. 또, 차분 가공 위치 선택부(14)는 예를 들면, 각인 구멍수차가 소정 수보다 작은 경우에는, 추가 설정 각인 구멍 bx를 이용한다고 판단한다. For example, when the number of laser pulses for one marking hole hL and hR is smaller than a predetermined number, the differential machining position selection unit 14 determines that the additional setting marking hole bx is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the laser energy per pulse is smaller than the predetermined value, the additionally set engraving hole bx is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the laser energy of the sum total irradiated to one of the marking holes hL and hR is smaller than the predetermined value, the additional setting marking hole bx is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that the additionally set engraving hole bx is used, for example, when the laser light irradiation resistance of the workpieces WL and WR is lower than a predetermined value. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that the additionally set engraving hole bx is used, for example, when the hole spacing of the marking holes hL and hR is narrower than a predetermined value. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the size of the marking holes hL and hR is smaller than a predetermined value, the additional setting marking hole bx is used. In addition, the differential machining position selection unit 14 determines that, for example, when the stamping hole aberration is smaller than the predetermined number, the additionally set marking hole bx is used.

또한, 가공 순서 산출부(15)는 소수측 영역내에서의 각인 구멍(hL, hR)의 가공 순서를 각인 구멍수차의 크기나 가공 조건 등에 기초하여 산출할 수도 있다. 가공 순서 산출부(15)는 각인 구멍수차의 크기나 가공 조건 등에 기초하여 워크(WL, WR)에 대한 부담(워크(WL, WR)의 가공 불량)이 작게 되도록 가공 순서를 산출한다. Further, the machining order calculation unit 15 may calculate the machining order of the marking holes hL and hR in the minority region based on the size of the marking hole aberration, the processing conditions, and the like. The machining order calculation unit 15 calculates the machining order so that the burden (working failure of the workpieces WL and WR) on the workpieces WL and WR is reduced based on the size of the stamp hole aberration, the machining conditions, and the like.

이와 같이 실시 형태 2에 의하면, 댐퍼(31), 셔터(32), 더미 영역(d) 등을 이용하여 각인 구멍수 차분의 레이저 광(2)을 소수측 영역에 조사시키지 않도록 하고 있으므로, 각인 영역(SL, SR)에 다른 각인 문자를 형성하는 경우이더라도, 단시간에 용이하게 각인 문자를 형성할 수 있다. Thus, according to Embodiment 2, since the laser beam 2 of marking hole difference is irradiated to the fractional side area | region by using the damper 31, the shutter 32, the dummy area | region d, etc., it is a marking area | region Even in the case of forming other engraving characters on the SL and SR, the marking characters can be easily formed in a short time.

[산업상의 이용 가능성][Industrial Availability]

이상과 같이, 본 발명에 관한 레이저 가공 방법, 레이저 가공 장치, 및 가공 제어 장치는 복수 개의 레이저 광으로 실행하는 복수 워크의 동시 가공에 적절하다.As mentioned above, the laser processing method, the laser processing apparatus, and the processing control apparatus which concern on this invention are suitable for the simultaneous processing of the several workpiece | work performed by several laser beams.

1A, 1B: 레이저 가공 장치
2: 레이저 광
10A, 10B: 가공 제어 장치
12: 가공 구멍수 카운트부
13: 구멍수차 산출부
14: 차분 가공 위치 선택부
15: 가공 순서 산출부
16: 가공 지시부
17: 각인 정보 기억부
18: 조사 제어 지시부
20A, 20B: 레이저 가공 기구
22a, 22b: 갈바노 스캐너 미러
23a, 23b: 갈바노 스캐너
25L, 25R: 가공 테이블
29L, 29R, 30L, 30R: 레이저 헤드
31: 댐퍼
32: 셔터
a1~a9: 초기 설정 각인 구멍
b1~b4: 추가 설정 각인 구멍
d: 더미 영역
hL, hR: 각인 구멍
AL, AR: 각인 설정 영역
BL, BR: 각인 구멍 후보
C1~C7, C11~C24: 추가 후보 좌표
H: 제품 가공 구멍
SL, SR: 각인 영역
WL, WR: 워크
1A, 1B: laser processing device
2: laser light
10A, 10B: Process Control Unit
12: machining hole counting part
13: hole aberration calculator
14: differential machining position selector
15: processing sequence calculation unit
16: processing indicator
17: stamping information storage unit
18: probe control indicator
20A, 20B: Laser Processing Apparatus
22a, 22b: galvano scanner mirror
23a, 23b: galvano scanner
25L, 25R: Machining Table
29L, 29R, 30L, 30R: Laser Head
31: Damper
32: shutter
a1-a9: Initial stamping hole
b1 to b4: Additional setting stamping hole
d: dummy area
hL, hR: stamping hole
AL, AR: engraving setting area
BL, BR: imprinted hole candidate
C1 to C7, C11 to C24: Additional candidate coordinates
H: product processing hole
SL, SR: engraving area
WL, WR: Walk

Claims (10)

복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 방법에 있어서,
제품용 가공 구멍과는 다른 가공 구멍을 상기 각 워크 상의 소정 위치에 배열함으로써 정보 기록용 가공 구멍이 배치되는 상기 워크 마다의 정보 기록 영역 내에 설정되는, 상기 워크 중 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 상기 워크 중 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차를 산출하는 구멍수차 산출 스텝과,
상기 제1 정보 기록용 가공 구멍 및 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍인 소수측 가공 구멍에, 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하는 가공 구멍 추가 스텝과,
상기 소수측 가공 구멍에 상기 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하여 상기 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성하는 가공 구멍 형성 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법.
In the laser processing method of laser processing a plurality of workpieces simultaneously by a plurality of laser lights,
The first information initially set in the first of the work pieces, which is set in the information recording area for each work in which the processing holes for information recording are arranged by arranging processing holes different from the work holes for products at predetermined positions on the respective works. A hole aberration calculating step of calculating a hole aberration between a recording processing hole and a second information recording processing hole initially set to a second work among the workpieces;
The processing hole which sets the additional process hole of the same number as the said hole aberration to the minority side process hole which is a process hole with the smaller hole number of the process hole among the said 1st information recording process hole and the said 2nd information recording process hole. Additional steps,
The first and second information recording processing holes are irradiated with laser light simultaneously to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole after setting the additional processing hole in the minority side processing hole. And a processing hole forming step of forming a hole.
청구항 1에 있어서, 상기 가공 구멍 추가 스텝은 상기 소수측 가공 구멍의 가공 구멍 사이에 상기 추가 가공 구멍이 배치되는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법. The laser processing method according to claim 1, wherein in the processing hole adding step, the additional processing hole is disposed between processing holes of the minority side processing hole. 청구항 2에 있어서, 상기 가공 구멍 추가 스텝은 상기 가공 구멍 사이에 상기 추가 가공 구멍이 복수 배치되는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법. The laser processing method according to claim 2, wherein in the processing hole addition step, a plurality of the additional processing holes are disposed between the processing holes. 청구항 1에 있어서, 상기 가공 구멍 추가 스텝은, 상기 추가 가공 구멍이 다른 추가 가공 구멍 또는 소수측 가공 구멍에 적어도 일부가 겹치도록 배치되는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법. The laser processing method according to claim 1, wherein the processing hole adding step is arranged such that the additional processing hole overlaps another additional processing hole or a minority processing hole. 청구항 1에 있어서, 상기 가공 구멍 추가 스텝 후, 상기 소수측 가공 구멍에 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정한 후의 상기 제1 또는 제2 정보 기록용 가공 구멍에, 가공 시간이 최단이 되는 가공 순서를 설정하는 가공 순서 설정 스텝을 더 포함하고,
가공 구멍 형성 스텝은 설정된 가공 순서에 따라서 상기 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법.
The processing time is the shortest in the processing hole for the first or second information recording after setting the additional processing holes equal to the hole aberration in the minority side processing hole after the processing hole adding step. Further comprising a machining sequence setting step for setting a machining sequence to be made,
The processing hole forming step forms the first and second information recording processing holes in accordance with a set processing procedure.
복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 방법에 있어서,
제품용 가공 구멍과는 다른 가공 구멍을 상기 각 워크 상의 소정 위치에 배열함으로써 정보 기록용 가공 구멍이 배치되는 상기 워크 마다의 정보 기록 영역 내에 설정되는, 상기 워크 중 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 상기 워크 중 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차를 산출하는 구멍수차 산출 스텝과,
상기 제1 정보 기록용 가공 구멍 및 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍인 소수측 가공 구멍에 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정할지, 또는 상기 구멍수 차분의 레이저 광을 소수측 가공 구멍이 배치되는 영역과는 다른 별개의 위치에 조사할지를, 상기 구멍수차 또는 상기 레이저 가공에 관한 가공 조건에 기초하여 결정하는 조사 조건 결정 스텝과,
상기 추가 가공 구멍을 설정하는 경우에는 상기 소수측 가공 구멍에 상기 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하도록 제어하고, 상기 별개의 위치에 상기 구멍수 차분의 레이저 광을 조사하는 경우에는 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사함과 아울러 상기 별개의 위치에 상기 구멍수 차분의 레이저 광을 조사하도록 제어하는 조사 제어 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법.
In the laser processing method of laser processing a plurality of workpieces simultaneously by a plurality of laser lights,
The first information initially set in the first of the work pieces, which is set in the information recording area for each work in which the processing holes for information recording are arranged by arranging processing holes different from the work holes for products at predetermined positions on the respective works. A hole aberration calculating step of calculating a hole aberration between a recording processing hole and a second information recording processing hole initially set to a second work among the workpieces;
Whether additional processing holes equal to the above-described aberration are set in a minority side processing hole of which the hole number of the processing hole among the first information recording processing hole and the second information recording processing hole is smaller. An irradiation condition determination step of determining whether or not to irradiate the laser light of the hole number difference to a position different from the region where the minority side processing hole is arranged, based on the hole aberration or the processing conditions related to the laser processing;
When setting the additional processing hole, the laser beam is simultaneously irradiated to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole after setting the additional processing hole in the minority side processing hole. When irradiating the laser light of the difference in number of holes to the separate position, the laser beam is simultaneously irradiated to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole, and the And a irradiation control step of controlling to irradiate the laser light of the difference in number of holes.
청구항 6에 있어서, 상기 별개의 위치는 상기 레이저 광을 흡수하는 댐퍼, 상기 레이저 광을 차단하는 셔터 또는 상기 소수측 가공 구멍이 배치되는 영역과는 다른 상기 워크 상의 영역인 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법. The laser processing method according to claim 6, wherein the separate position is an area on the workpiece different from a damper that absorbs the laser light, a shutter that blocks the laser light, or an area where the minority side processing hole is disposed. . 청구항 7에 있어서, 상기 조사 조건 결정 스텝은 상기 별개의 위치에 레이저 광을 조사한다고 결정한 경우, 상기 별개의 위치로서 상기 댐퍼, 상기 셔터 또는 상기 소수측 가공 구멍이 배치되는 영역과는 다른 상기 워크 상의 영역 중 어느 것을 선택할지를, 상기 구멍수차 또는 상기 레이저 가공에 관한 가공 조건에 기초하여 결정하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 방법. The said irradiation condition determination step of Claim 7 WHEREIN: When it determines with irradiating a laser beam to the said separate position, when it is determined that the said damper, the said shutter, or the said minority side processing hole is arrange | positioned as the said separate position on the said workpiece | work The laser processing method characterized by selecting which area | region is selected based on the said hole aberration or the processing conditions concerning the said laser processing. 복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하는 레이저 가공 장치에 있어서,
제품용 가공 구멍과는 다른 가공 구멍을 상기 각 워크 상의 소정 위치에 배열함으로써 정보 기록용 가공 구멍이 배치되는 상기 워크 마다의 정보 기록 영역 내에 설정되고, 상기 워크 중 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 상기 워크 중 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차를 산출하는 구멍수차 산출부와,
상기 제1 정보 기록용 가공 구멍 및 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍인 소수측 가공 구멍에, 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하는 가공 구멍 추가부와,
상기 소수측 가공 구멍에 상기 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하여 상기 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성하는 레이저 가공부를 가지는 것을 특징으로 하는 레이저 가공 장치.
In the laser processing apparatus which laser-processes a several workpiece | work simultaneously with a some laser light,
By arranging a processing hole different from a processing hole for a product at a predetermined position on each of the workpieces, the first information set in the information recording area for each of the workpieces on which the information recording processing holes are arranged and initially set to the first one of the workpieces. A hole aberration calculating unit for calculating a hole aberration between the recording processing hole and the second information recording processing hole initially set in the second work of the workpiece;
The processing hole which sets the additional process hole of the same number as the said hole aberration to the minority side process hole which is a process hole with the smaller hole number of the process hole among the said 1st information recording process hole and the said 2nd information recording process hole. Add-on,
The first and second information recording processing holes are irradiated with laser light simultaneously to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole after setting the additional processing hole in the minority side processing hole. Laser processing apparatus having a laser processing portion for forming a.
복수 개의 레이저 광에 의해서 복수의 워크를 동시에 레이저 가공하도록 제어하는 가공 제어 장치에 있어서,
제품용 가공 구멍과는 다른 가공 구멍을 상기 각 워크 상의 소정 위치에 배열함으로써 정보 기록용 가공 구멍이 배치되는 상기 워크 마다의 정보 기록 영역 내에 설정되는, 상기 워크 중 제1 워크에 초기 설정된 제1 정보 기록용 가공 구멍과, 상기 워크 중 제2 워크에 초기 설정된 제2 정보 기록용 가공 구멍과의 구멍수차를 산출하는 구멍수차 산출부와,
상기 제1 정보 기록용 가공 구멍 및 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍 중 가공 구멍의 구멍수가 작은 쪽의 가공 구멍인 소수측 가공 구멍에, 상기 구멍수차와 같은 수의 추가 가공 구멍을 설정하는 가공 구멍 추가부와,
상기 소수측 가공 구멍에 상기 추가 가공 구멍을 설정한 후의, 상기 제1 정보 기록용 가공 구멍과 상기 제2 정보 기록용 가공 구멍에 레이저 광을 동시 조사하여 상기 제1 및 제2 정보 기록용 가공 구멍을 형성하도록 가공 지시를 출력하는 가공 지시부를 가지는 것을 특징으로 하는 가공 제어 장치.
In the processing control device for controlling a plurality of workpieces to be laser processed at the same time by a plurality of laser light,
The first information initially set in the first of the work pieces, which is set in the information recording area for each work in which the processing holes for information recording are arranged by arranging processing holes different from the work holes for products at predetermined positions on the respective works. A hole aberration calculating unit for calculating a hole aberration between the recording processing hole and the second information recording processing hole initially set in the second work of the workpiece;
The processing hole which sets the additional process hole of the same number as the said hole aberration to the minority side process hole which is a process hole with the smaller hole number of the process hole among the said 1st information recording process hole and the said 2nd information recording process hole. Add-on,
The first and second information recording processing holes are irradiated with laser light simultaneously to the first information recording processing hole and the second information recording processing hole after setting the additional processing hole in the minority side processing hole. And a processing instruction unit for outputting a processing instruction to form a recess.
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