KR101245131B1 - 비전 검사 장치 - Google Patents

비전 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101245131B1
KR101245131B1 KR1020100103285A KR20100103285A KR101245131B1 KR 101245131 B1 KR101245131 B1 KR 101245131B1 KR 1020100103285 A KR1020100103285 A KR 1020100103285A KR 20100103285 A KR20100103285 A KR 20100103285A KR 101245131 B1 KR101245131 B1 KR 101245131B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
unit
inspection object
units
vision
Prior art date
Application number
KR1020100103285A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120041888A (ko
Inventor
박찬화
한충희
김동환
Original Assignee
주식회사 미르기술
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 미르기술 filed Critical 주식회사 미르기술
Priority to KR1020100103285A priority Critical patent/KR101245131B1/ko
Priority to PCT/KR2011/007873 priority patent/WO2012053852A2/ko
Publication of KR20120041888A publication Critical patent/KR20120041888A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101245131B1 publication Critical patent/KR101245131B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0815Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • G06T1/0007Image acquisition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0417Feeding with belts or tapes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전 검사 장치로서, 상기 검사대상물이 개별적으로 이송되는 제 1, 2 투입부로부터 상기 검사대상물을 검사영역으로 전달하기 위한 제 1, 2 전달부와; 상기 제 1, 2 전달부로부터 상기 검사대상물을 전달받아 비전 검사를 수행하며 독립적인 제 1, 2 검사영역을 각각 포함하는 제 1, 2 검사부와; 상기 제 1, 2 검사부에서 비전 검사가 완료된 검사대상물을 제 1, 2 배출부로 전달하기 위한 제 3, 4 전달부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 의해, 비전 검사 장치의 전단과 후단에 검사대상물을 변위시키는 복수의 전달부를 구성함으로써, 검사대상물을 투입 및 배출시키는 이송레일과 비전 검사 장치의 검사레일 간의 위치 불일치를 해소시킬 수 있다.
또한, 비전 검사 장치의 검사부를 한 쌍으로 구성함과 동시에 상기 검사부를 서로 대면하도록 배치함으로써, 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하여 검사 공정의 소요시간 단축 및 검사 효율의 증대를 기대할 수 있으며, 검사대상물을 변위시키는 전달부의 폭을 조절 가능하게 구성함으로써, 다양한 크기의 검사대상물의 변위가 구현되어 장치의 확장성이 증대될 수 있다.

Description

비전 검사 장치{VISION INSPECTION APPARATUS}
본 발명은 비전 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 비전 검사 장치의 전단과 후단에 검사대상물을 변위시키는 복수의 전달부를 구성함으로써, 검사대상물을 투입 및 배출시키는 이송레일과 비전 검사 장치의 검사레일 간의 위치 불일치를 해소시킬 수 있는 비전 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 인쇄회로기판(PCB) 등에 표면실장부품을 조립하는 표면실장기술(SMT; Surface Mounting Technology)은 표면실장부품(SMD; Surface Mounting Device)을 소형화/집적화하는 기술과, 이러한 표면실장부품을 정밀하게 조립하기 위한 정밀조립장비의 개발 및 각종 조립장비를 운용하는 기술을 포함한다.
여기서, 표면실장라인은 표면실장기와 비전 검사 장치와 같은 장비로 구성된다. 상기 표면실장기는 표면실장부품을 인쇄회로기판상에 실장하는 장비로서 Tape, Stick, Tray 형태로 공급되는 각종 표면실장부품을 부품공급기(Feeder)로부터 공급받아 인쇄회로기판상의 실장위치에 올려놓는 작업을 수행한다.
그리고, 상기 비전 검사 장치는 표면실장부품의 납땜공정 완료전 또는 완료 후, 표면실장부품의 실장상태를 검사하며 검사결과에 따라 다음공정으로 인쇄회로기판을 이송시키게 된다.
상기 검사 공정은, 컨베이어를 통해 납땜이 완료된 인쇄회로기판이 수평이송되면 위치조절장치에서 초기 위치를 조절하고, 조절이 완료된 후 조명등이 인쇄회로기판을 조사하면 카메라가 각 표면실장부품의 배치상태와 납땜 부위를 촬영하는 것으로 이루어진다.
이후, 비전 검사 장치는 표면실장부품의 배치상태와 납땜 부위의 이미지를 모니터로 출력하고 연산함으로써, 실장의 양호/불량을 검사하거나, 표면실장부품의 실장 유/무를 검사하게 되며, 검사가 완료된 인쇄회로기판을 배출시켜 다음 공정을 진행하게 된다.
즉, 상기 비전 검사 공정은, 인쇄회로기판을 상기 비전 검사 장치로 투입시키는 단계와 인쇄회로기판의 불량유무를 검사하는 단계와 검사가 완료된 인쇄회로기판을 배출하는 단계로 이루어진다.
그런데, 인쇄회로기판을 투입 또는 배출시키는 단계에서 이용되는 이송레일과 인쇄회로기판을 검사하는 단계에서 인쇄회로기판의 검사를 위해 인쇄회로기판의 위치를 변위시키는 검사레일은 그 위치가 항상 대응되도록 마련되기는 어렵다는 문제점이 있었다.
즉, 인쇄회로기판을 단순히 이송시키는 이송레일은 설비계획 시, 그 위치가 고정되어 교체가 어려운 반면, 인쇄회로기판을 검사하는 비전 검사 장치는 장치의 스펙 또는 성능 또는 검사대상물의 크기에 따라 다양하게 변화될 수 있기 때문이다.
따라서, 인쇄회로기판을 이송시키는 이송레일과 비전 검사 장치 내에 설치되어 인쇄회로기판의 검사를 수행하는 검사레일을 서로 대응시킴으로써, 검사 공정의 소요시간 단축 및 검사 효율의 증대를 위한 비전 검사 장치의 개발이 요구되고 있는 실정이다.
본 발명은 상기 문제점을 개선하기 위하여 창작된 것으로써, 본 발명의 목적은, 비전 검사 장치의 전단과 후단에 검사대상물을 변위시키는 복수의 전달부를 구성함으로써, 검사대상물을 투입 및 배출시키는 이송레일과 비전 검사 장치의 검사레일 간의 위치 불일치를 해소시킬 수 있는 비전 검사 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은, 비전 검사 장치의 검사부를 한 쌍으로 구성함과 동시에 상기 검사부를 서로 대면하도록 배치함으로써, 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하여 검사 공정의 소요시간 단축 및 검사 효율의 증대를 기대할 수 있는 비전 검사 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은, 검사대상물을 변위시키는 전달부의 폭을 조절 가능하게 구성함으로써, 다양한 크기의 검사대상물의 변위가 구현되어 장치의 확장성이 증대될 수 있는 비전 검사 장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전 검사 장치로서, 상기 검사대상물이 개별적으로 이송되는 제 1, 2 투입부로부터 상기 검사대상물을 검사영역으로 전달하기 위한 제 1, 2 전달부와; 상기 제 1, 2 전달부로부터 상기 검사대상물을 전달받아 비전 검사를 수행하며 독립적인 제 1, 2 검사영역을 각각 포함하는 제 1, 2 검사부와; 상기 제 1, 2 검사부에서 비전 검사가 완료된 검사대상물을 제 1, 2 배출부로 전달하기 위한 제 3, 4 전달부;를 포함하는 비전 검사 장치에 의해 달성될 수 있다.
여기서, 상기 제 1, 2 전달부는, 상기 제 1, 2 투입부로부터 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서 평면을 기준으로 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 검사부로 전달하도록 마련될 수 있다.
또한, 상기 제 3, 4 전달부는, 상기 제 1, 2 검사부로부터 검사가 완료되고 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서 평면을 기준으로 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 배출부로 전달하도록 마련될 수 있다.
여기서, 상기 제 1, 2, 3, 4 전달부는, 상기 검사대상물이 안착되는 베이스부 및 상기 베이스부에 결합되는 한 쌍의 컨베이어를 포함하는 셔틀부와; 상기 셔틀부의 변위를 안내하는 가이드부;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제 1, 2, 3, 4 전달부는, 상기 가이드부 상에서 변위되는 셔틀부의 구동력을 제공하는 셔틀모터와; 상기 컨베이어에 구동력을 제공하는 컨베이어모터와; 상기 컨베이어의 폭을 조절하기 위한 폭조절모터;를 추가적으로 포함할 수 있다.
여기서, 상기 셔틀모터는 상기 셔틀부의 하부에 배치되는 이동용 스크류를 구동시키며, 상기 컨베이어모터는 상기 컨베이어에 설치된 컨베이어벨트를 구동시키며, 상기 폭조절모터는 상기 한 쌍의 컨베이어 하부에 배치되는 폭조절 스크류를 구동시키도록 마련될 수 있다.
한편, 제 1, 2 검사부는, 제 1, 2 검사영역으로 이송된 검사대상물을 안착시키는 스테이지부와; 상기 제 1, 2 검사영역의 상부에 배치되어 검사대상물의 표면을 촬영하는 카메라부와; 상기 카메라부의 변위를 안내하는 x, y축 프레임;을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 카메라부는 상기 카메라부의 측부에 배치되며, 상기 검사대상물의 표면에 레이져를 조사하는 레이져유닛을 추가적으로 포함할 수 있다.
또한, 상기 제 1, 2 검사부는 상기 x, y축 프레임에 결합된 상기 카메라부의 구동력을 제공하는 x, y축 모터를 포함할 수 있다.
한편, 상기 제 1, 2 검사부는 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하기 위하여 서로 대면되어 배치될 수 있다.
본 발명에 의해, 비전 검사 장치의 전단과 후단에 검사대상물을 변위시키는 복수의 전달부를 구성함으로써, 검사대상물을 투입 및 배출시키는 이송레일과 비전 검사 장치의 검사레일 간의 위치 불일치를 해소시킬 수 있다.
또한, 비전 검사 장치의 검사부를 한 쌍으로 구성함과 동시에 상기 검사부를 서로 대면하도록 배치함으로써, 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하여 검사 공정의 소요시간 단축 및 검사 효율의 증대를 기대할 수 있다.
또한, 검사대상물을 변위시키는 전달부의 폭을 조절 가능하게 구성함으로써, 다양한 크기의 검사대상물의 변위가 구현되어 장치의 확장성이 증대될 수 있다.
첨부의 하기 도면들은, 전술한 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 사상을 이해시키기 위한 것이므로, 본 발명은 하기 도면에 도시된 사항에 한정 해석되어서는 아니 된다.
도 1 은 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 평면도이며,
도 2 는 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 제 1, 2, 3, 4 전달부를 나타낸 평면도이며,
도 3 은 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 제 1, 2 검사부를 나타낸 평면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하기로 한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어는 사전적인 의미로 한정 해석되어서는 아니되며, 발명자는 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절히 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 존재할 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1 은 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 평면도이며, 도 2 는 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 제 1, 2, 3, 4 전달부를 나타낸 평면도이며, 도 3 은 본 발명에 따른 비전 검사 장치의 제 1, 2 검사부를 나타낸 평면도이다.
도 1 내지 도 3 을 참조하면, 본 발명에 따른 비전 검사 장치는, 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전 검사 장치로서, 상기 검사대상물이 개별적으로 이송되는 제 1, 2 투입부(1, 2)로부터 상기 검사대상물을 검사영역으로 전달하기 위한 제 1, 2 전달부(10, 20)와; 상기 제 1, 2 전달부(10, 20)로부터 상기 검사대상물을 전달받아 비전 검사를 수행하며 독립적인 제 1, 2 검사영역을 각각 포함하는 제 1, 2 검사부(30, 40)와; 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)에서 비전 검사가 완료된 검사대상물을 제 1, 2 배출부(3, 4)로 전달하기 위한 제 3, 4 전달부(50, 60);를 포함한다.
여기서, 본 발명에 따른 비전 검사 장치는, 도 1 에서와 같이, 상기 제 1 전달부(10)가 제 1 투입부(1)로부터 검사대상물을 인계받아 상기 제 1 검사부(30)로 전달하며, 상기 제 2 전달부(20)가 제 2 투입부(2)로부터 검사대상물을 인계받아 상기 제 2 검사부(40)로 전달하도록 마련된다.
또한, 상기 제 1 검사부(30)에서 검사가 완료된 검사대상물은 상기 제 3 전달부(50)에 의해 상기 제 1 배출부(3)로 이송되어 배출되며, 상기 제 2 검사부(40)에서 검사가 완료된 검사대상물은 상기 제 4 전달부(60)에 의해 상기 제 2 배출부(4)로 이송되어 배출되도록 마련된다.
여기서, 상기 제 1, 2 전달부(10, 20)는, 비전 검사 장치의 전단에 배치되는 구성으로써, 상기 제 1, 2 투입부(1, 2)로부터 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서 평면을 기준으로 상기 제 1, 2 투입부에 의한 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)로 전달하도록 마련될 수 있다.
또한, 상기 제 3, 4 전달부(50, 60)는, 비전 검사 장치의 후단에 배치되는 구성으로써, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)로부터 검사가 완료되고 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서 평면을 기준으로 상기 제 1, 2 검사부에 의한 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 배출부(3, 4)로 전달하도록 마련될 수 있다.
즉, 상기 제 1, 2, 3, 4 전달부(10, 20, 50, 60)는, 도 1 에서와 같이, 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 수직한 방향(도 1 을 기준으로 상, 하방)으로 변위되어 상기 제 1, 2 투입부(1, 2)로부터 이송되는 검사대상물을 제 1, 2 검사부(30, 40)로 전달하고, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)에서 검사가 완료된 검사대상물을 제 1, 2 배출부(3, 4)로 전달하는 역할을 수행한다.
여기서, 상기 제 1, 2, 3, 4 전달부(10, 20, 50, 60)는, 도 2 에서와 같이, 상기 검사대상물이 안착되는 베이스부(11) 및 상기 베이스부(11)에 결합되는 한 쌍의 컨베이어(12)를 포함하는 셔틀부(13)와; 상기 셔틀부(13)의 변위를 안내하는 가이드부(14);를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 베이스부(11)는 상기 검사대상물이 안착되기 위한 지지대 역할을 수행하며, 상기 컨베이어(12)는 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)로 이송시키기 위한 컨베이어벨트를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 베이스부(11)와 컨베이어(12)를 포함하는 상기 셔틀부(13)는 상기 가이드부(14)를 따라 이동되는 구성으로써, 상기 검사대상물의 이송방향에 수직한 방향으로 변위되도록 마련될 수 있다.
즉, 검사대상물이 상기 베이스부(11)에 안착되면 상기 셔틀부(13)는 제어에 의해 상기 가이드부(14)를 따라 이동되며, 이동이 완료된 후, 상기 컨베이어벨트를 구동시켜 상기 검사대상물을 제 1, 2 검사부(30, 40) 또는 제 1, 2 배출부(3, 4)로 전달한다.
또한, 상기 제 1, 2, 3, 4 전달부(10, 20, 50, 60)는, 상기 가이드부(14) 상에서 변위되는 셔틀부(13)의 구동력을 제공하는 셔틀모터(15)와; 상기 컨베이어(12)에 구동력을 제공하는 컨베이어모터(16)와; 상기 컨베이어(12)의 폭을 조절하기 위한 폭조절모터(17);를 추가적으로 포함할 수 있다.
여기서, 상기 셔틀모터(15)는, 상기 셔틀부(13)의 구동력을 제공하는 구성으로, 상기 셔틀부(13)의 하부에 배치되는 이동용 스크류(18)를 구동시키며, 상기 셔틀모터(15)의 정, 역회전으로 상기 이동용 스크류(18)가 정, 역회전됨에 따라 상기 셔틀부(13)가 상기 가이드부(14)를 따라 변위된다.
또한, 상기 컨베이어모터(16)는, 상기 셔틀부(13)에 안착된 검사대상물을 제 1, 2 검사부(30, 40)로 투입 또는 제 1, 2 검사부(30, 40)를 거친 검사대상물을 상기 제 1, 2 배출부(3, 4)로 투입시키기 위한 구동력을 제공하는 역할을 수행한다.
또한, 상기 폭조절모터(17)는, 도 2 에서와 같이, 상기 한 쌍의 컨베이어(12)의 폭을 조절하기 위한 구동력을 제공하는 구성으로, 상기 컨베이어(12)의 하부에 배치되는 폭조절 스크류(19)를 구동시키며, 상기 폭조절모터(17)의 정, 역회전으로 상기 폭조절 스크류(19)가 정, 역회전됨에 따라 상기 컨베이어(12)의 폭이 조절된다.
즉, 상기 폭조절모터(17) 및 폭조절 스크류(19)에 의해 상기 한 쌍의 컨베이어(12)는 폭 조절이 가능하도록 구현되며, 이에 의해, 다양한 크기의 검사대상물의 변위 및 이송이 구현되어 비전 검사 장치의 확장성이 증대될 수 있는 것이다.
한편, 제 1, 2 검사부(30, 40)는, 상기 제 1, 2 전달부(10, 20)로부터 이송된 검사대상물을 검사하는 구성요소로써, 도 3 에서와 같이, 각각 제 1, 2 검사영역으로 이송된 검사대상물을 안착시키는 스테이지부(31)와; 상기 제 1, 2 검사영역의 상부에 배치되어 검사대상물의 표면을 촬영하는 카메라부(32)와; 상기 카메라부(32)의 변위를 안내하는 x, y축 프레임(33, 34);을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 스테이지부(31)는 검사대상물이 안착되는 공간을 제공하며, 검사 공정이 완료된 후, 검사레일을 따라 이동되어 검사대상물을 제 3, 4 전달부(50, 60)로 이송시키는 역할을 수행한다.
또한, 상기 카메라부(32)는 상기 스테이지부(31)의 상부에 위치하여 검사대상물에 실장된 표면실장부품의 배치상태에 대한 이미지를 촬영하는 역할을 수행하는 구성요소로써, 바람직하게는, CCD(charge coupled device)카메라 또는 CMOS카메라로 마련될 수 있다.
여기서, 상기 카메라부(32)에 의해 촬영된 검사대상물의 이미지와 미리 저장된 정상 상태의 검사대상물의 이미지를 비교함으로써, 검사대상물에 안착된 표면실장부품에 대한 양호/불량을 판별하도록 마련될 수 있다.
또한, 상기 x, y축 프레임(33, 34)은 상기 카메라부(32)와 결합되어 카메라부(32)의 변위를 안내하는 구성요소로써, 상기 카메라부(32)는 검사영역 내에서 상기 x, y축 프레임(33, 34)을 따라 변위되고 제어된 위치에서 촬영을 수행하여 검사대상물의 이미지를 획득할 수 있다.
여기서, 상기 카메라부(32)는 상기 카메라부(32)의 측부에 배치되며, 상기 검사대상물의 표면에 레이져를 조사하는 레이져유닛(32a)을 추가적으로 포함할 수 있으며, 상기 레이져유닛(32a)은 제어에 따라 검사대상물의 표면에 레이져를 조사하는 역할을 수행한다.
또한, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)는 상기 x, y축 프레임(33, 34)에 결합된 상기 카메라부(32)의 구동력을 제공하는 x, y축 모터(35, 36)를 포함할 수 있으며, 상기 x, y축 모터(35, 36)가 구동됨에 따라 상기 카메라부(32)가 상기 x, y축 프레임(33, 34)을 따라 해당 검사영역 내에서 변위되도록 마련될 수 있다.
한편, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)는, 도 3 에서와 같이, 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하기 위하여 서로 대면되어 배치될 수 있다.
즉, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40) 서로 대면 배치됨으로써, 상기 x, y축 프레임(33, 34) 및 카메라부(32) 등의 구성요소들은 각각 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)의 측부에 배치되어 제 1, 2 검사부(30, 40) 사이에는 여유 공간이 생기며, 이에 의해, 상기 제 1, 2 검사부(30, 40)에서 동시에 검사 공정을 진행할 경우에도, 상호 간섭이 방지될 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 비전 검사 장치는, 비전 검사 장치의 전단과 후단에 검사대상물을 변위시키는 복수의 전달부를 구성함으로써, 검사대상물을 투입 및 배출시키는 이송레일과 비전 검사 장치의 검사레일 간의 위치 불일치를 해소시킬 수 있다.
또한, 비전 검사 장치의 검사부를 한 쌍으로 구성함과 동시에 상기 검사부를 서로 대면하도록 배치함으로써, 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하여 검사 공정의 소요시간 단축 및 검사 효율의 증대를 기대할 수 있으며, 검사대상물을 변위시키는 전달부의 폭을 조절 가능하게 구성함으로써, 다양한 크기의 검사대상물의 변위가 구현되어 장치의 확장성이 증대될 수 있다.
이상, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이러한 것에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 본 발명의 기술적 사상과 하기 될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 실시가 가능할 것이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
1 : 제 1 투입부 2 : 제 2 투입부
3 : 제 1 배출부 4 : 제 2 배출부
10 : 제 1 전달부 11 : 베이스부
12 : 컨베이어 13 : 셔틀부
14 : 가이드부 15 : 셔틀모터
16 : 컨베이어모터 17 : 폭조절모터
18 : 이동용 스크류 19 : 폭조절 스크류
20 : 제 2 전달부 30 : 제 1 검사부
31 : 스테이지부 32 : 카메라부
32a : 레이져유닛 33 : x축 프레임
34 : y축 프레임 35 : x축 모터
36 : y축 모터 40 : 제 2 검사부
50 : 제 3 전달부 60 : 제 4 전달부

Claims (10)

  1. 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전 검사 장치로서,
    상기 검사대상물이 개별적으로 이송되는 제 1, 2 투입부로부터 상기 검사대상물을 검사영역으로 전달하기 위한 제 1, 2 전달부와;
    상기 제 1, 2 전달부로부터 상기 검사대상물을 전달받아 비전 검사를 수행하며 독립적인 제 1, 2 검사영역을 각각 포함하는 제 1, 2 검사부와;
    상기 제 1, 2 검사부에서 비전 검사가 완료된 검사대상물을 제 1, 2 배출부로 전달하기 위한 제 3, 4 전달부;를 포함하며,
    상기 제 1, 2, 3, 4 전달부는,
    상기 검사대상물이 안착되는 베이스부 및 상기 베이스부에 결합되는 한 쌍의 컨베이어를 포함하는 셔틀부와;
    상기 셔틀부의 변위를 안내하는 가이드부와;
    상기 가이드부 상에서 변위되는 셔틀부의 구동력을 제공하는 셔틀모터와;
    상기 컨베이어에 구동력을 제공하는 컨베이어모터와;
    상기 컨베이어의 폭을 조절하기 위한 폭조절모터;를 포함하며,
    상기 셔틀모터는 상기 셔틀부의 하부에 배치되는 이동용 스크류를 구동시키며, 상기 컨베이어모터는 상기 컨베이어에 설치된 컨베이어벨트를 구동시키며, 상기 폭조절모터는 상기 한 쌍의 컨베이어 하부에 배치되는 폭조절 스크류를 구동시키고,
    제 1, 2 검사부는,
    제 1, 2 검사영역으로 이송된 검사대상물을 안착시키는 스테이지부와;
    상기 제 1, 2 검사영역의 상부에 배치되어 검사대상물의 표면을 촬영하는 카메라부와;
    상기 카메라부의 변위를 안내하는 x, y축 프레임과;
    상기 x, y축 프레임에 결합되는 상기 카메라부를 구동하기 위한 구동력을 제공하는 x, y축 모터를 포함하며,
    상기 제 1, 2 검사부는 검사 공정 진행시, 상호 간섭을 방지하기 위하여 서로 대면되어 배치되고,
    상기 제 1, 2 전달부는,
    상기 제 1, 2 투입부로부터 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서, 상기 제 1, 2 투입부에 의한 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 가공 오차 범위 내의 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 검사부로 전달하며,
    상기 제 3, 4 전달부는,
    상기 제 1, 2 검사부로부터 검사가 완료되고 이송된 상기 검사대상물을 안착시킨 상태에서, 상기 제 1, 2 검사부에 의한 상기 검사대상물의 이송방향에 대해 가공 오차 범위 내의 수직한 방향으로 변위되어 상기 검사대상물을 상기 제 1, 2 배출부로 전달하며,
    상기 카메라부는 상기 카메라부의 측부에 배치되며, 상기 검사대상물의 표면에 레이져를 조사하는 레이져유닛을 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.

  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
KR1020100103285A 2010-10-22 2010-10-22 비전 검사 장치 KR101245131B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100103285A KR101245131B1 (ko) 2010-10-22 2010-10-22 비전 검사 장치
PCT/KR2011/007873 WO2012053852A2 (ko) 2010-10-22 2011-10-21 비전 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100103285A KR101245131B1 (ko) 2010-10-22 2010-10-22 비전 검사 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120041888A KR20120041888A (ko) 2012-05-03
KR101245131B1 true KR101245131B1 (ko) 2013-03-25

Family

ID=45975755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100103285A KR101245131B1 (ko) 2010-10-22 2010-10-22 비전 검사 장치

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101245131B1 (ko)
WO (1) WO2012053852A2 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101435750B1 (ko) 2013-04-25 2014-08-28 주식회사 케이엘티 Lcd 패널의 이동 및 검사시간을 단축시키기 위한 자동 비젼 검사 장치

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101488160B1 (ko) * 2012-07-23 2015-02-04 주식회사 미르기술 피시비 기판의 냉각부를 포함하는 비전검사장치
KR101456289B1 (ko) * 2012-10-15 2014-11-03 (주)에이엔피 크리비즈 비전검사장치 및 방법
US20140358298A1 (en) * 2013-05-31 2014-12-04 DWFritz Automation, Inc. Alignment tool
KR101910352B1 (ko) * 2013-07-01 2018-10-23 한화에어로스페이스 주식회사 컨베이어 모듈
KR102117311B1 (ko) * 2018-01-18 2020-06-01 (주)펨트론 듀얼 레인 및 듀얼 헤드를 갖는 3차원 광학 검사 장치
KR102177202B1 (ko) * 2020-08-24 2020-11-10 (주)한성기술단 전기신호 감지장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050032530A (ko) * 2005-01-28 2005-04-07 (주)포틱스테크놀로지 반도체 패키지용 기판의 자동 검사장치
KR20080112819A (ko) * 2007-06-22 2008-12-26 주식회사 미르기술 비전 검사 시스템

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62104130A (ja) * 1985-10-31 1987-05-14 Toshiba Corp Icの検査装置
KR20000002111A (ko) * 1998-06-17 2000-01-15 윤종용 반도체 칩 패키지 제조 설비
KR100533333B1 (ko) * 2001-06-21 2005-12-05 에버테크노 주식회사 인쇄회로기판의 롬라이팅 및 기능 검사 시스템

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050032530A (ko) * 2005-01-28 2005-04-07 (주)포틱스테크놀로지 반도체 패키지용 기판의 자동 검사장치
KR20080112819A (ko) * 2007-06-22 2008-12-26 주식회사 미르기술 비전 검사 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101435750B1 (ko) 2013-04-25 2014-08-28 주식회사 케이엘티 Lcd 패널의 이동 및 검사시간을 단축시키기 위한 자동 비젼 검사 장치

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012053852A3 (ko) 2012-06-21
WO2012053852A2 (ko) 2012-04-26
KR20120041888A (ko) 2012-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101245131B1 (ko) 비전 검사 장치
JP3992486B2 (ja) 電気部品装着システム
KR20080112819A (ko) 비전 검사 시스템
KR200463519Y1 (ko) 표면실장기판 검사장치
KR101363520B1 (ko) 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치
KR101178403B1 (ko) 피시비 기판 검사장치
US7036212B2 (en) Apparatus for performing operation on circuit substrate
KR101178416B1 (ko) 피시비 기판 검사장치
CN110999556B (zh) 改进的印刷电路板运输
EP2717665B1 (en) Solder mark setting method and solder mark setting device
KR101859447B1 (ko) 듀얼 카메라모듈 조립장치 및 이를 이용한 듀얼 카메라모듈 조립방법
KR101099392B1 (ko) 비전검사장치
CN110431932B (zh) 元件安装机和吸嘴高度控制方法
KR101178409B1 (ko) 피시비 기판 검사장치
KR101488160B1 (ko) 피시비 기판의 냉각부를 포함하는 비전검사장치
US10568251B2 (en) Component mounter, nozzle imaging method
EP2755462B1 (en) Electronic component mounting apparatus
KR101123051B1 (ko) 비전검사장치
JP2019168238A (ja) 画像認識装置
KR20100122671A (ko) 비전검사장치 및 비전검사방법
KR101557783B1 (ko) 컴팩트한 구성의 기판 비전검사장치
KR20100122672A (ko) 비전검사장치 및 비전검사방법
JP2021180237A (ja) 部品実装機
JP2007123668A (ja) 表面実装機
KR101757150B1 (ko) Ssd용 라우터 절단경로 보정 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
E90F Notification of reason for final refusal
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160303

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170313

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190220

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200225

Year of fee payment: 8