JPS62104130A - Ｉｃの検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明はマガジンに収容されたＩＣの検査を自動で行
なうようにした検査装置に関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

一般にｔＣを生産する過程においては、製造されたｔＣ
の外観や回路を検査する検査工程が含まれており、その
検査を行なうのに検査装置が用いられている。

従来、このようなＩＣの検査は次のように行われていた
。すなわち、上記検査装置には製造工程で製造された多
数のＩＣがマガジンに収容されて送られてくる。すると
、作業者がそのマガジンからＩｃを手作業で取出したの
ち、外観検査や回路検査を行なう検査部が途中に設けら
れたガイド路へ供給する。そして、上記検査部で検査を
終えてガイド路から排出されたＩＣは再び作業者が手作
業によって空のマガジンに収容するようにしている。し
たがって、このようなＩＣの検査工程では手作業にたよ
る部分が多いため、その作業性の向１−におのずと限界
が生じてしまうという欠点かあった。

〔発明の目的〕

この発明は、ＩＣをマガジンから取出す作業や検査を終
えたＩＣをマガジンに収容する作業、つまりＩＣの検査
に必要な全ての作業を自動で行なえるようにしたＩＣの
検査装置を提供することを１．１的とする。

〔発明の概要〕

この発明は、ＩＣを収容したマガジンが集積された供給
部と、この供給部からハンドリング機構によって取出さ
れた上記マガジンを位置決めする位１Ｎ決め機構と、こ
の位置決め機構で位置決めされたマガジンからＩＣを取
出してガイド路へ供給する取出機構と、上記ガイド路に
設けられた上記ＩＣの検査を行なう検査部と、この検査
部で検査されたＩＣを位置決めされた空のマガジンに取
込む取込み機構と、ＩＣが取込まれた上記マガジンか１
．記ハンドリング機構によって集積される回収部とを具
備することによってＩＣの検査を自動で行なうようにし
たものである。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。

第１図に示す検査装置は本体１を備えている。この本体
１の上面の幅方向両端にはガイドレール２がそれぞれ架
設されている。これらのガイドレール２には板状の支持
体３がそれぞれスライド自在に設けられている。これら
一対の支持体３間には２本のガイドロッド４が架設され
ているとともに、ねじ軸５が回転自在に設けられている
。

上記ガイドロッド４にはハンドリング機構６の基体７が
スライド自在に支持されているとともに、この基体７に
上記ねじ軸５が螺合している。また、ねじ軸５の一端に
はパルスモータ８が設けられ、このパルスモータ８によ
って上記ねじ軸５が回転駆動されるようになっている。

したがって、上記、Ｕ体７はねじ軸５によって本体１の
幅方向に駆動される。上記基体７には４本のアーム有す
るＩ＼ンド９が設けられている。

上記本体１の上面の幅方向一端側には２か所の供給部１
１が形成され、これら供給部１１にはそれぞれ矩形板状
のマガジン１２が積層されている。

上記ハンドリング機構６はいずれか一方の供給部１１か
ら選択的にマガジン１２を把持して２箇所の第１の位置
決め機番＆１３のいずれか一方へ供給する。この第１の
位置決め機構１３は第２図に示すように上記マガジン１
２とほぼ同じ大きさに形成され支柱１４ａによって上記
本体１の上面と路面−に支持された基板１４を有する。

この基板１４の二側にはストッパ１５が突設され、他の
二側にはエアシリンダ１６によって駆動されるクランパ
１７が設けられている。したがって、この基板１４に供
給されたマガジン１２は上記ストッパ１５によって位置
決めされ、その状態でクランパ１７により固定される。

上記マガジン１２は第５図に示すようにその長手方向に
沿う収納溝１８が幅方向に沿って多数列、この実施例で
は１２列形成されている。そして１、Ｌ記供給部１１に
供給されたマガジン１２にはその各収納溝１８に検査前
の１ｃ１９がスライド自（１已に収納されている。そし
て、マガジン１２が基ｌＩｉ　１４上に位置決め固定さ
れると、この基板１４の１一方に位置する取出機構２１
によって一１二記マガジン１２の収納溝１８からＩＣ１
９か取出される。

この取出機構２１は第３図に示すように両端がそれぞれ
連結板２２で連結された一対のガイドロッド２３を有す
る。これらのガイドロッド２３には可動板２４がスライ
ド自在に支持されている。この可動板２４には複数、た
とえば４つの爪２５が上記マガジン１２の収納溝１８と
同じ間隔で設けられている。上記可動板２４にはベルト
２６の両端が固着されている。このベルト２６の中途部
は上記一対の連結板２６に設けられたプーリ２７に架設
されている。一方のプーリ２７はパルスモータ２８に連
結されている。したがって、上記ベルト２６はパルスモ
ータ２８によって無端走行させられ、これによって上記
可動板２４がガイドロッド２３に沿ってスライドする。

可動板２４かスライドすると、その爪２５がマガジン１
２の収納？Ｆ４１８内を移動するから、その収納溝１８
内のＩＣ１９が掻き出される。なお、上記取出機構２１
の一方の連結板２２とこれが対向する部位とにはリニア
パルスモーク２９が設けられ、これによって取出機構２
１を本体１の幅方向に沿って駆動することができるよう
になっている。

上記マガジン１２から掻き出されたＩＣ１９は第４図に
示すように本体１の上面の幅方向一端側にその幅方向に
沿って設けられた第１のコンベア３１上に排出される。

この第１のコンベア３１は所定間隔ずつ走行駆動される
とともに、その走行方向末端にはストッパ３２が設けら
れ、このストッパ３２にコンベア３１によって搬送され
てきたＩＣ１９が当接する。また、第１のコンベア３１
の末端にはシリンダ３３によって駆動される押圧板３４
が設けられ、これによって上記ストッパ３２に当接した
ＩＣ１９がガイド路３５の一端に送り込まれる。このガ
イド路３５は上記ＩＣ１９を空気圧で搬送する構造とな
っていて、その中途部にはＩＣ１９の外観や電気回路を
検査する検査部３６と、検査を終えたＩＣ１９にマーク
を付けるマーキング部３７とが設けられている。

Ｌ記検査部３６で検査されたのち、マーキング部３７で
マークが付されたＩＣ１９は上記本体１の幅方向他端側
にこの幅方向に？７　）で配置された」−２第１のコン
ベア３１と同様の構造の第２のコンベア３８に載せられ
る。この第２のコンベア３８と対向して上記本体１上に
は」二記第１の位置決め機構１３同じ（１？Ｉ造の一対
の第２の位１１を決め機構３９が配置されている。これ
ら第２の位置決め機構３９の基板１４上には空のマガジ
ン１２が位置決め固定されている。また、第２の位置決
め機構３９の上方には上記取出し機構２１と同じ構造の
取込み機構４１が配置されている。そして、第２のコン
ベア３８上にＩＣ１９がマガジン１２に形成された収納
溝１８と同じ間隔でたとえば４つ、１トベられると、上
記取込み機構４１が作動してＩＣ１９が上記収納溝１８
に取込まれるようになっている。そして、マガジン１２
の１２列の収納溝１８にそれぞれ所定量のＩＣ１９が取
込まれると、そのマガジン１２は上記ハンドリング機構
６によって本体１の上面の他端側に上記供給部１１と！
１しんで設けられた一対の回収部４２のいずれか一方に
集積される。

つぎに上記構造の装置の作用について説明する。

まず、この装置に作業開始の信号を入力すると、乙 赤キ呻ハンドリング機構セ孝が作動してＩＣ１９が収容
されたマガジン１２が一対の第１の位置決め機構１３に
供給される。つぎに、取出機構２１が作動して一方のマ
ガジン１２からＩＣ１９を第１のコンベア３１上に送出
す。すると、そのＩＣ１９は抑圧板３４によってガイド
路３５に送込まれて搬送され、このガイド路３５の中途
部に設けられた検査部３６で外観や電気回路の検査が行
われ、検査終了後、マーキング部３７でそのことのマー
クが付されて上記ガイド路３５から第２のコンベア３８
に載せられる。

上記第２のコンベア３８はここにＩＣ１９が１つ載せら
れる毎にマガジン１２の収納溝１８の間隔に対応する６
寸法だけ駆動される。そして、複数、たとえば４つのＩ
Ｃ１９が第２のコンベア３８上に載せられると、取込み
機構４１が作動して上記ＩＣ１９を一方の第２の位置決
め機構３９に固定された空のマガジン１２の収納溝１８
に取込む。

そして、取込み機構４１はマガジン１２の幅方向に移動
しながらその全ての収納１Ｍ　１８にＩＣ１９を所定量
ずつ取込む。

このようにしてマガジン１２にＩＣ１９が取込まれると
、上記ハンドリング機構６か作動してそのマガジン１２
を挟持して回収部４２の一ツノ“に集積する。

つまり、上記構造の装置によれば、ＩＣ１９を検査する
に必要な作業を全て自動で行なうことかできる。また、
第１の位置決め機構１３と第２の位置決め機構３９とを
それぞれ２つずつ設けたから、各位置決め機構にそれぞ
れ２つのマガジン１２を用意することかできる。したか
って、１つのマガジン１２からのＩＣ１９の取出や取込
みが終了したならば、その作業を中断せずに他の１つの
マガジン１２に対してＩＣ１９の取出や取込み作業を行
なえるから、作業性の能率向−にか計れる。

〔発明の効果〕

以」二述べたようにこの発明は、ＩＣの外観や電気回路
を検査する場合に、上記ＩＣをマガジンから取出す作業
や検査が終了したＩＣをマガジに取込む作業を自動で行
なえるようにした。つまり、ＩＣの検査にともなう全て
の作業を自動で行なうことができるから、その作業の能
率を大幅に向上させることができるという利点を有する
。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示し、第１図は全体の斜視
図、第２図は位置決め機構の斜視図、第３図は取出機構
の斜視図、第４図は取出機構によって取出されたＩＣを
搬送するコンベアの平面図、第５図はマガジンの一部分
の斜視図、第６図は全体構造の概略的平面図である。 ６・・・ハンドリング機構、１１・・・供給部、１２・
・・マガジン、１３・・・第１の位置決め機構、２１・
・・取出機構、３５・・・ガイド路、３６・・・検査部
、３９・・・第２の位置決め機構、４１・・・取込み機
構、４２・・・回収部。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ＩＣを収容したマガジンが集積された供給部と、この供
   給部からハンドリング機構によって取出された上記マガ
   ジンを位置決めする位置決め機構と、この位置決め機構
   で位置決めされたマガジンからＩＣを取出してガイド路
   へ供給する取出機構と、上記ガイド路に設けられた上記
   ＩＣの検査を行なう検査部と、この検査部で検査された
   ＩＣを位置決めされた空のマガジンに取込む取込み機構
   と、ＩＣが取込まれた上記マガジンが上記ハンドリング
   機構によって集積される回収部とを具備したことを特徴
   とするＩＣの検査装置。