KR101184026B1 - 반도체 패키지 캐리어 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반도체 패키지를 테스트하기 위해 패키지를 테스트 소켓에 안내하는 반도체 패키지 캐리어에 있어서,
반도체 패키지 탑재실(100) 상단에 회전가능하게 고정되며, 상부 커버(200)의 상단부(110a) 가압에 의해 회동하는 회전부재(110); 상기 회전부재의 하단부(110b)에 결합되어 상기 회전부재가 회동함에 따라 연동하여 수평으로 운동하는 수평잠금부재(120)로 이루어지는 래치부를 포함하는 반도체 패키지 캐리어를 제공한다.

Description

반도체 패키지 캐리어{SEMICONDUCTOR PACKAGE CARRIER}

본 발명은 반도체 패키지의 성능을 테스트하기 위해 패키지를 테스트 소켓에 안내하는 반도체 패키지 캐리어에 관한 것으로, 보다 상세하게는 래치의 회전축을 하부에서 상부로 이동시킴으로써 테스트 소켓 스트로크를 포함한 하부에서 외력이 발생되더라도 패키지가 이탈되는 일이 없고, 패키지가 로딩 불량으로 인해 래치위에 접촉하더라도 래치가 파손되는 일이 없이 안전하게 탑재실내로 유도하여 탑재할 수 있는 반도체 패키지 캐리어에 관한 것이다.

반도체 패키지는 다양한 형태로 제조되며, 그 외부에는 외부회로와의 전기적 연결을 위한 외부연결단자를 갖고 있고, 이러한 반도체 패키지의 외부연결단자의 형식으로는 리드형, 볼형 등이 적용되고 있다. 또한, 이러한 반도체 패키지는 소비자에게 출하되기 전에 제품의 신뢰성을 확보하기 위하여 정상조건이나 고온, 고전압 등 스트레스 조건에서 소정의 테스트 신호발생회로와 연결하여 성능이나 수명 등을 테스트하고, 그 테스트결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하게 된다.

이러한 반도체 패키지의 테스트를 위하여 반도체 패키지를 고정하여 이송하고, 반도체 패키지의 외부연결단자에 신호를 전달하기 위하여 반도체 패키지 캐리어가 사용되어진다.

종래 일반적인 QFP(Quad Flat Package)용 반도체 패키지 캐리어의 예가 도 1a에 제시되어 있다. 도면에 도시된 바와 같이, 종래 일반적인 QFP용 반도체 패키지 캐리어는 중앙영역에 테스트대상 반도체 패키지를 탑재하기 위한 탑재실(10)의 대향하는 귀퉁이에 한 쌍의 래치(12)를 갖고 있다.

이러한 구조의 반도체 패키지 캐리어의 경우 도 1b에 도시된 바와 같이 상부에서 커버(20)가 내려오면서 버튼(11)을 가압하면 버튼(11)이 하강하면서, 하부에 고정된 래치(12)의 일단부(12a)를 눌러 회전시키고, 이에 의해 래치의 타단부(12b)가 상부로 회전하면서 패키지에 대한 잠금을 해제하도록 하는 구성이다. 하지만, 이러한 구성에 의하면 도 1c에 도시된 바와 같이 래치의 회전축이 하부에 위치함으로써 테스트 소켓 스트로크를 포함한 하부에서 외력이 발생하면 래치가 열리면서 패키지가 이탈하는 사고가 발생하고, 또 패키지가 로딩 불량 등의 이유로 인해 래치위에 접촉하여 가압하는 경우 래치가 파손되는 일이 발생하는 문제가 있다.

본 발명은 상기한 바와 같이 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 래치의 회전축을 하부에서 상부로 이동시킴으로써 테스트 소켓 스트로크를 포함한 하부에서 외력이 발생되더라도 패키지가 이탈되는 일이 없고, 패키지가 로딩 불량으로 인해 래치위에 접촉하더라도 래치가 파손되는 일이 없이 안전하게 탑재실내로 유도하여 탑재할 수 있는 반도체 패키지 캐리어를 제공함에 있다.

상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.

(1) 반도체 패키지를 테스트하기 위해 패키지를 테스트 소켓에 안내하는 반도체 패키지 캐리어에 있어서,

반도체 패키지 탑재실 상단에 회전가능하게 고정되며, 상부 커버의 상단부 가압에 의해 회동하는 회전부재; 상기 회전부재의 하단부에 결합되어 상기 회전부재가 회동함에 따라 연동하여 수평으로 운동하는 수평잠금부재로 이루어지는 래치부를 포함하는 반도체 패키지 캐리어.

(2) 제 1항에 있어서,

상기 수평잠금부재의 일단에 압축스프링이 결합되어진 것을 특징으로 하는 반도체 패키지 캐리어.

(3) 제 1항에 있어서,

상기 회전부재의 회전축에 토션스프링이 결합되어 회전시 복원력을 제공하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지 캐리어.

본 발명에 의하면 래치의 회전축을 하부에서 상부로 이동시킴으로써 테스트 소켓 스트로크를 포함한 하부에서 외력이 발생되더라도 패키지가 이탈되는 일이 없고, 패키지가 로딩 불량으로 인해 래치위에 접촉하더라도 래치가 파손되는 일이 없이 안전하게 탑재실내로 유도하여 탑재할 수 있는 반도체 패키지 캐리어를 제공한다.

도 1은 종래 QFP용 반도체 패키지 캐리어의 구성도(a), 래치의 동작과정의 설명도(b), 및 래치에 외력이 작용할 경우의 예시도(c)이다.
도 2는 제1실시예에 따른 본 발명의 QFP용 반도체 패키지 캐리어의 구성도(a), 래치의 동작과정의 설명도(b), 및 래치에 외력이 작용할 경우의 예시도(c)이다.
도 3은 제2실시예에 따른 본 발명의 QFP용 반도체 패키지 캐리어의 래치의 구성도이다.

본 발명은 반도체 패키지를 테스트하기 위해 패키지를 테스트 소켓에 안내하는 반도체 패키지 캐리어에 있어서,

반도체 패키지 탑재실 상단에 회전가능하게 고정되며, 상부 커버의 상단부 가압에 의해 회동하는 회전부재; 상기 회전부재의 하단부에 결합되어 상기 회전부재가 회동함에 따라 연동하여 수평으로 운동하는 수평잠금부재로 이루어지는 래치부를 포함하는 반도체 패키지 캐리어를 제공한다.

이하 본 발명의 내용을 실시예로서 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.

본 발명은 상기 도 2a 및 2b의 종래 일반적인 반도체 패키지 캐리어 구성에, 베이스에 형성된 탑재실(100)의 귀퉁이에 대향하도록 한 쌍의 래치부(130)가 형성되며, 상기 래치부(130)는 상부에서 커버(예를 들어, SUS 커버)(200)에 의해 회동하는 회전부재(110), 및 탑재실에 탑재된 패키지(300)와 접촉가압하며 상기 회전부재(110)와 연동하여 수평으로 이동하는 수평잠금부재(120)로 이루어진다.

도 2b에 도시된 바와 같이, 본 발명의 반도체 패키지 캐리어에 장착된 래치부(130)의 회전부재(110)는 베이스 상면으로 돌출되어 SUS 커버(200)가 하강할 때 가압되어지는 상단부(110a)와 수평잠금부재(120)와 결합되어 연동되는 하단부(110b)로 이루어진다.

따라서, SUS 커버가 하강할 때, 회전부재의 상단부(110a)가 가압되어 회전축을 중심으로 하단부(110b)가 시계방향으로 회전운동하게 되고, 이에 결합된 수평잠금부재(120)는 상기 하단부(110b)에 연동하여 좌측으로 수평이동되어진다.

수평잠금부재(120)의 좌측에는 압축스프링(121)이 결합되어 수평잠금부재가 좌측으로 이동시 압축되어 SUS 커버의 상향이동시 수평잠금부재가 우측으로 이동하여 원상태로 복원할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.

상기와 같은 구성에 의하면 도 2c에 도시된 바와 같이, 래치부(130)의 회전축을 하부에서 상부로 이동시킴으로써 (A)에서와 같이 테스트 소켓 스트로크를 포함한 하부에서 외력이 발생되더라도 패키지가 이탈되는 일이 없고, 뿐만 아니라, (B)에서와 같이 패키지(300)가 로딩 불량으로 인해 래치위에 접촉하더라도 래치가 파손되는 일이 없이 안전하게 탑재실내로 유도하여 탑재할 수 있는 효과를 제공한다.

도 3은 제2실시예에 따른 본 발명의 반도체 패키지 캐리어의 래치의 구성도로서, 본 발명의 제1실시예에 따른 캐리어의 구성에서 상기 수평잠금부재(120)의 단부와 연결된 압축스프링(121)을 대신하여 또는 이와 함께 회전부재(110)의 회전축상에 텐션스프링(111)을 장착하여 회전부재(110)의 회전과 함께 텐션스프링(111)이 압축되고 SUS 커버(200)의 해제로 복원력에 의해 회전부재(110)를 반대방향으로 회전시켜 원상태로 복귀하도록 하는 것도 가능하다.

반도체 패키지가 안정적으로 탑재실내에 고정되면 종래의 일반적인 검사프로세스에 따라 아래로부터 테스트소켓과 안정적인 접속이 이루어진 다음에 테스트 제어장치로부터 테스트보드와 테스트소켓의 접촉핀을 통해 탑재실(100)에 탑재된 반도체 패키지(300)에 테스트신호를 전송하여 테스트를 실시한다. 테스트 제어장치는 탑재실(100)에 탑재된 반도체 패키지(300)로부터의 테스트 응답신호에 기초하여 반도체 패키지의 양품여부를 판단한다. 테스트가 완료되면 탑재실(100)에 탑재된 반도체 패키지(300)의 상면에 인가된 푸셔의 압력을 해제한다. 다음에 트레이와 테스트소켓을 분리시킨 후, 트레이를 언로딩영역으로 이동시킨다. 언로딩영역에서는 테스트결과에 따라 탑재실(100)에 탑재된 반도체 패키지를 양품트레이 또는 불량품트레이로 언로딩시킨다.

상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

100: 탑재부
110: 회전부재
120: 수평잠금부재
130: 래치
200: SUS 커버
300: 반도체 패키지

Claims (3)

1. 반도체 패키지를 테스트하기 위해 패키지를 테스트 소켓에 안내하는 반도체 패키지 캐리어에 있어서,
   상부 커버가 하강함에 따라 이와 연동하여 수평으로 운동하며, 단부가 하방으로 경사진 형상으로 이루어져 패키지의 로딩시 탑재실내로 상기 패키지를 안전하게 유도하는 수평잠금부재를 갖는 래치부;
   를 포함하는 반도체 패키지 캐리어.
2. 제 1항에 있어서, 상기 래치부는,
   반도체 패키지 탑재실 상단에 회전가능하게 고정되며, 상부 커버의 상단부 가압에 의해 회동하는 회전부재; 상기 회전부재의 하단부에 결합되어 상기 회전부재가 회동함에 따라 연동하여 수평으로 운동하는 수평잠금부재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지 캐리어.
3. 제 2항에 있어서,
   상기 수평잠금부재의 일단에 압축스프링이 결합되고, 상기 회전부재의 회전축에 토션스프링이 결합되어 회전시 복원력을 제공하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지 캐리어.

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