KR19980069436A - 테스트 핸들러의 캐리어 - Google Patents

Abstract

반도체 소자를 탑재할 수 있도록 공간을 갖는 캐리어 몸체; 상기 캐리어 몸체의 내부에 일측이 상기 캐리어 몸체에 의해 지지되고 타측이 스프링 구동판에 의해 지지되는 스프링; 상기 반도체 소자의 하면과 접촉되는 하부 말단부와 상기 반도체 소자의 상면과 접촉되는 상부 말단부를 갖고 있으며, 래치 샤프트에 의해 고정되어 있으며 상기 스프링 구동판에 축으로 결합되어 있는 래치; 및 상기 스프링 구동판과 결합되는 래치 구동핀;을 갖는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 리젝트 캐리어를 제공함으로써, 반도체 소자를 래치의 상부 말단부가 캐리어 밖으로 완전히 밀어주어 자유 낙하가 되기 때문에 캐리어에서 완전히 배출되지 못해 발생되는 패키지 깨짐, 리드 구부러짐, 패키지 겹침 등과 같은 공정 진행의 불량이 발생되는 것을 방지하여 생산성을 향상시키는 효과가 있다.

Description

테스트 핸들러의 캐리어

본 발명은 반도체 칩 패키지 테스트 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전기적 기능을 검사하기 위하여 반도체 칩 패키지와 직접 전기적으로 접촉되는 테스트 핸들러의 캐리어에 관한 것이다.

일반적으로 조립이 완료된 반도체 칩 패키지는 테스트 공정을 통하여 제품의 전기적 동작이나 외부 환경으로부터 내구성을 갖는지 시험하여 양품과 불량품으로 분류하게 된다양품과 불량품의 판단 기준은 그 제품이 가장 열악한 조건하에서 동작을 시킴으로써 산출되는 데이터에 의해 판별된다. 이러한 테스트 공정에 사용되는 것이 테스터와 테스트 핸들러이다. 테스트 핸들러에 의해 반도체 소자가 다수의 캐리어가 결합되어 테스트 트레이에 삽입되고, 이 트레이가 테스트 설비 내부로 이송되어 테스트 사이트(test site)에서 가압된 상태로 테스트된다. 테스트가 완료된 트레이는 일반적인 트레이로 이송된다.

도 1은 종래 기술에 따른 캐리어의 일 실시예를 나타낸 단면도이다.

패키지 테스트가 완료되면 캐리어 프레스 샤프트(12)의 하강운동으로 캐리어 몸체(11)가 하강하여 래치 구동 핀(17)을 누르게 된다. 래치 구동 핀(17)에 의해 스프링 구동판(16)이 압축 코일 스프링(15)을 누르면서 래치(14)의 말단부는 반도체 칩 패키지(20)와 접촉에서 분리된다.

이와 같은 핸들러의 캐리어는 래치와 접촉이 제거됨으로 해서 캐리어에서 분리되어 이송이 가능하게 된다. 그런데, 캐리어의 래치가 완전히 반도체 칩 패키지와 분리되지 못할 경우에 반도체 칩 패키지가 캐리어의 외부로 완전하게 빠지지 못한다. 반도체 칩 패키지가 캐리어에서 빠지지 못할 경우에 패키지가 깨짐이나 패키지의 리드 구부러짐 또는 패키지들이 겹침 등의 품질 문제가 발생되고 있다.

따라서 본 발명의 목적은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 반도체 소자가 캐리어에서 완전하게 빠질 수 있도록 함으로써 신뢰성이 향상된 공정을 수행할 수 있는 테스트 핸들러의 캐리어를 제공하는 데 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 테스트 핸들러의 캐리어의 일 실시예를 나타낸 개략 단면도이다.

도 2는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 캐리어의 일 실시예를 나타낸 개략 단면도이다.

도 3과 도 4는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 캐리어의 동작 상태도이다.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 캐리어11 : 캐리어 몸체

12 : 캐리어 프레스 샤프트13 : 래치 샤프트

14 : 래치15 : 압축 코일 스프링

16 : 스프링 구동판17 : 래치 구동핀

18 : 상부 말단부19 : 하부 말단부

20 : 반도체 칩 패키지21 : 리드

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 캐리어는 반도체 소자를 탑재할 수 있도록 공간을 갖는 캐리어 몸체; 캐리어 몸체의 내부에 일측이 캐리어 몸체에 의해 지지되고 타측이 스프링 구동판에 의해 지지되는 스프링; 반도체 소자의 하면과 접촉되는 하부 말단부와 반도체 소자의 상면과 접촉되는 상부 말단부를 갖고 있으며, 래치 샤프트에 의해 고정되어 있으며 스프링 구동판에 축으로 결합되어 있는 래치; 및 상기 스프링 구동판과 결합되는 래치 구동핀;을 갖는 것을 특징으로 한다.

이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 캐리어를 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 2는 본 발명에 따른 캐리어의 일 실시예를 나타낸 부분 단면도이다.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 캐리어(10)는 캐리어 몸체(11)의 내부에 반도체 칩 패키지(20)를 장착할 수 있는 공간을 갖고 있다. 반도체 칩 패키지(20)는 래치(14)가 하면을 지지하여 줌으로써 캐리어(10) 내부에 고정된다. 캐리어 몸체(11)의 상부에는 캐리어 프레스 샤프트(12)가 결합되어 있다. 래치(14)의 상부는 래치 샤프트(13)와 결합되어 있으며, 또다른 일부분이 스프링 구동판(16)에 축(23)으로 결합되어 있다. 여기서 래치(14)는 반도체 칩 패키지(20)의 하면과 접촉하여 지지하는 하부 말단부(19)와 반도체 소자의 상면에 접촉되는 상부 말단부(18)를 가지고 있다. 스프링 구동판(16)은 캐리어 몸체(11)에 의해 일측이 지지되는 압축 코일 스프링(15)의 타측과 결합되어 있다. 스프링 구동판(16)의 하부에는 래치 구동핀(17)이 결합되어 있다.

도 3과 도 4는 본 발명에 따른 캐리어의 동작 상태도이다.

도 3과 도 4를 참조하면, 래치 구동핀(17)과 캐리어 프레스 샤프트(12)에 의해 스프링 구동판(16)이 구동하면서 래치(14)가 개폐된다. 이때, 래치(14)의 하부 말단부(19)가 반도체 칩 패키지(20)의 접촉면을 잡거나 놓는 역할을 하고, 상부 말단부(18)가 반도체 칩 패키지(20)를 밀어주는 역할을 한다. 래치(14)는 하부 말단부(19)와 상부 말단부(18)가 일체형으로 되어 있으므로, 래치 구동핀(17), 캐리어 프레스 샤프트(12)의 동작은 변함이 없으나, 상부 말단부(18)가 하부 말단부(19)와 반대로 엇갈리게 동작하므로 래치(14)는 반도체 칩 패키지(20)를 밀어서 꺼내주는 리젝터(rejector) 작용을 하게 되는 것이다. 단, 언로딩(unloading)과 로딩(loadingd)의 역할에 따라 상부 말단부(18)의 크기가 오히려 역효과를 발생할 수 있으므로 하부 말단부(19)와 반비례하여 상부 말단부가 진행되도록 치수 및 위치를 결정한다.

따라서 본 발명에 의한 캐리어 구조에 따르면, 반도체 소자를 래치의 상부 말단부가 캐리어 밖으로 완전히 밀어주어 자유 낙하가 되기 때문에 캐리어에서 완전히 배출되지 못해 발생되는 패키지 깨짐, 리드 구부러짐, 패키지 겹침 등과 같은 공정 진행의 불량이 발생되는 것을 방지하여 생산성을 향상시킬 수 있는 이점(利點)이 있다.

Claims (2)

1. 반도체 소자를 탑재할 수 있도록 공간을 갖는 캐리어 몸체;

   상기 캐리어 몸체의 내부에 일측이 상기 캐리어 몸체에 의해 지지되고 타측이 스프링 구동판에 의해 지지되는 스프링;

   상기 반도체 소자의 하면과 접촉되는 하부 말단부와 상기 반도체 소자의 상면과 접촉되는 상부 말단부를 갖고 있으며, 래치 샤프트에 의해 고정되고 상기 스프링 구동판에 축으로 결합되어 있는 래치; 및

   상기 스프링 구동판과 결합되는 래치 구동핀;을 갖는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 캐리어.
2. 제 1항에 있어서, 상기 래치는 래치 샤프트를 중심으로 동작되는 것을 특징으로 하는 핸들러의 캐리어.