KR101124512B1 - 인쇄회로기판 검사장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 검사 프로브 유닛을 안정적으로 고정시킬 수 있고, 정렬된 복수 개의 인쇄회로기판을 안정적으로 빠르게 검사할 수 있는 인쇄회로기판 검사장치를 제공한다. 이를 위해, 본 발명은 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 제1 보드유닛, 상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며, 상기 인쇄회로기판 각각에 구비된 기판 커넥터와 상부방향 또는 하부방향으로 결합 및 분리되는 복수 개의 제1 검사 프로브유닛이 장착되는 제2 보드유닛, 그리고 상기 제1 검사 프로브유닛을 상기 제2 보드유닛에 안정적으로 결합시키기 위한 프로브 고정유닛을 포함하며, 상기 제1 검사 프로브유닛은 상기 제2 보드유닛상에 배치되는 프로브 베이스와, 상기 프로브 베이스에서 돌출되어 일정간격으로 배치되는 복수 개의 프로브핀과, 일측은 상기 프로브 베이스와 결합되고 타측은 상기 제2 보드유닛을 관통하면서 설치되는 프로브 기판을 포함하고, 상기 프로브 고정유닛은 상기 제2 보드유닛의 하부에 밀착 설치되어 상기 프로브 기판을 고정시키는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치를 제공한다.

Description

인쇄회로기판 검사장치{Testing apparatus for printed circuit board}
본 발명은 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것으로서, 복수 개의 인쇄회로기판에 대한 검사를 안정적으로 빠르게 수행할 수 있으며, 검사 프로브를 안정적으로 고정시킬 수 있는 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것이다.
오늘날 기능 및 부품이 복잡하고 정교한 전자제품들이 등장함에 따라 이에 사용되는 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board) 역시 탑재되는 부품의 수가 많고 날로 복잡, 정교해지고 있다.
일반적으로, 인쇄회로기판에 탑재되는 부품의 수가 많아진다는 것은 제조비용의 증가와 함께 불량 발생의 가능성은 커지고, 수율은 낮아지며, 오류 진단은 더 어려워진다는 것을 의미한다.
종래 표면실장기술(Surface Mount Technology; SMT)에서 가장 많이 사용되는 시험/검사 과정은 수동비전검사(Manual Vision Inspection; MVI), 회로 내 검사(In-Circuit Test; ICT), 성능검사(Function Test; FCT)를 순차적으로 실시하는 것이다.
종래 인쇄회로기판 검사장치에서는 인쇄회로기판에 대한 성능검사가 수행될 때 작업자가 상기 인쇄회로기판의 커넥터와 검사 프로브를 수작업으로 하나씩 끼우는 공정을 통하여 상기 커넥터와 검사 프로브를 연결시켰다.
이로 인하여, 상기 인쇄회로기판의 성능검사를 위하여 소요되는 시간이 길어지고, 소요비용이 증가되는 문제가 있다.
뿐만 아니라, 작업자가 상기 커넥터와 검사프로브의 결합 및 분리를 수작업으로 수행함으로 인하여 상기 인쇄회로기판에 크랙이 발생하거나 안정적인 결합이 되지 못하는 경우가 발생한다.
대한민국 공개특허공보 제10-2008-0025518호의 명세서 식별번호 <35>, <36>, <37>, <38> 및 도 1
본 발명의 해결하고자 하는 과제는 복수 개의 인쇄회로기판을 검사하기 위한 상기 검사 프로브 유닛을 안정적으로 고정시킬 수 있고, 정렬된 복수 개의 인쇄회로기판을 빠르고 안정적으로 검사할 수 있는 인쇄회로기판 검사장치를 제공하는 것이다.
상술한 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여, 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 제1 보드유닛, 상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며, 상기 인쇄회로기판 각각에 구비된 기판 커넥터와 상부방향 또는 하부방향으로 결합 및 분리되는 복수 개의 제1 검사 프로브유닛이 장착되는 제2 보드유닛, 그리고 상기 제1 검사 프로브유닛을 상기 제2 보드유닛에 안정적으로 결합시키기 위한 프로브 고정유닛을 포함하며, 상기 제1 검사 프로브유닛은 상기 제2 보드유닛상에 배치되는 프로브 베이스와, 상기 프로브 베이스에서 돌출되어 일정간격으로 배치되는 복수 개의 프로브핀과, 일측은 상기 프로브 베이스와 결합되고 타측은 상기 제2 보드유닛을 관통하면서 설치되는 프로브 기판을 포함하고, 상기 프로브 고정유닛은 상기 제2 보드유닛의 하부에 밀착 설치되어 상기 프로브 기판을 고정시키는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치를 제공한다.
여기서, 상기 프로브 기판의 하단부에는 상기 제2 보드유닛의 외측으로 노출되는 프로브 고정홀이 형성되며, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 고정홀에 삽입되어 결합되는 고정부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 프로브 기판의 하단부에는 상기 제2 보드유닛의 외측으로 노출되는 프로브 고정홈이 함몰 형성되어 있으며, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 고정홈에 끼워져 결합되는 고정브래킷을 포함할 수 있다.
상기 제2 보드유닛에는 상기 프로브 기판이 관통하는 기판 관통부가 형성되어 있으며, 상기 기판 관통부에는 상기 프로브 기판을 안정적으로 고정시키기 위한 가압돌기가 형성될 수 있다.
또한, 상기 인쇄회로기판 검사장치는 가이드 실린더와, 상기 가이드 실린더 내부에 설치되는 가이드 탄성부재와, 상기 가이드 탄성부재의 탄성복원력을 받는 가이드 로드를 가지며, 상기 제1 보드유닛의 이동을 안내하는 가이드유닛을 더 포함하며, 상기 가이드 유닛이 설치되는 하부보드유닛 또는 상기 제2 보드유닛상에는 상기 가이드 로드가 관통하는 가이드 로드 관통부가 형성되어 있으며, 상기 가이드 로드 관통부에는 상기 가이드 로드의 이동을 제한하는 제1 단차부가 형성될 수 있다.
또한, 상기 인쇄회로기판의 성능을 검사하기 위하여 상기 제2 보드유닛상에 설치되는 제2 검사 프로브유닛을 더 포함하며, 상기 제2 검사 프로브유닛의 프로브 헤드가 상기 인쇄회로기판에 접촉된 상태에서 제1 설정깊이만큼 가압될 때, 상기 프로브 베이스와 상기 기판 커넥터는 허용간격내에 배치될 수 있다.
본 발명에 따른 효과를 설명하면 다음과 같다.
첫째, 복수 개의 인쇄회로기판을 검사하기 위한 제1 검사 프로브 유닛을 제2 보드유닛 상에 고정시키기 위한 프로브 고정유닛을 설치함으로써 상기 제1 검사프로브 유닛을 안정적으로 고정시킬 수 있는 이점이 있다.
둘째, 상기 복수 개의 인쇄회로기판과 각각 대응되는 상기 제1 검사 프로브 유닛을 복수 개 정렬하고, 상기 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 상기 제1 검사 프로브 유닛의 프로브 핀이 상하방향으로 결합 및 분리되도록 배치함으로써 공간을 효율적으로 사용할 수 있는 이점이 있다.
셋째, 상기 제1 검사 프로브 유닛과 제2 검사 프로브 유닛을 함께 설치하여 복수 개의 인쇄회로기판에 대한 성능검사와 기판 커넥터의 흠결여부를 동시에 검사함으로써 검사공정이 줄어들고 검사시간이 단축되는 이점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 일 실시 예를 나타낸 단면도.
도 2는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 다른 실시 예를 나타낸 사시도.
도 3은 도 2의 인쇄회로기판 검사장치에 구비된 제1 검사 프로브 유닛이 설치된 상태를 나타낸 단면도.
도 4는 도 3의 프로브 기판과 프로브 고정유닛이 결합되기 전의 상태를 나타낸 사시도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 실시 예들을 설명한다. 도 1을 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 일 실시 예를 설명하면 다음과 같다.
본 실시 예에 따른 인쇄회로기판장치는 제1 보드유닛(A), 제2 보드유닛(B), 하부 보드유닛(90), 기판 보호유닛(30), 가이드 유닛(50), 완충유닛(60), 제1 검사 프로브 유닛(10) 및 제2 검사 프로브 유닛(80)을 포함한다.
상기 제1 보드유닛(A)에는 복수 개의 인쇄회로기판(1)이 안착되는 기판 안착부(미도시)가 형성되어 있다. 상기 인쇄회로기판(1)은 기판몸체(1a)와, 상기 기판몸체(1a) 상에 설치되어 있는 기판 커넥터(1b)를 포함한다.
상기 제1 보드유닛(A)의 하부에는 상기 하부 보드유닛(90)이 배치된다. 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 제1 보드유닛(A)의 이동을 안내함과 동시에 상기 제1 보드유닛(A)의 수평을 유지하도록 하는 상기 가이드 유닛(50)이 설치된다.
상기 가이드 유닛(50)은 상기 하부 보드유닛(90)에 고정되는 가이드 실린더(53)와, 상기 가이드 실린더(53) 내부에서 슬라이딩되는 가이드 로드(51)와, 상기 가이드 로드(51)에 탄성복원력을 제공하는 가이드 탄성부재(55)를 포함한다.
상기 가이드 로드(51)는 끝단에 뾰족한 형상을 가지는 로드헤드(51a)를 포함하며, 상기 로드헤드(51a)는 상기 제1 보드유닛(A)에 형성된 위치결정홈(미도시)에 삽입된다.
한편, 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 가이드 로드(51)가 관통하는 가이드 로드 관통부(92)가 형성되어 있으며, 상기 가이드 로드 관통부(92)에는 상기 가이드 로드(51)의 이동을 제한하는 제1 단차부(91)가 형성되어 있다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(A)이 하부로 이동될 때 상기 로드헤드(51a)는 상기 위치결정홈에 삽입된 상태에서 하부로 이동되지만, 상기 가이드 로드(51)가 일정거리 이동하게 되면 상기 제1 단차부(91)에 의하여 이동이 제한된다.
또한, 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 제1 보드유닛(A)이 수평을 유지하도록 함과 동시에 상기 제1 보드유닛(A)이 하부로 이동되어 상기 하부 보드유닛(90)과 인접하게 배치될 때의 충격을 완화시키기 위한 상기 완충유닛(60)이 설치된다.
상기 완충유닛(60)은 상기 하부 보드유닛(90)에 고정되는 완충실린더(63)와, 상기 완충실린더(63) 내부에서 슬라이딩되는 완충로드(61)와, 상기 완충로드(61)에 탄성복원력을 제공하는 완충탄성부재(65)를 포함한다.
또한, 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 완충로드(61)가 관통하는 완충로드 관통부(94)가 형성되어 있으며, 상기 완충로드 관통부(94)에는 상기 완충로드(61)의 이동을 제한하는 제2 단차부(93)가 형성되어 있다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(A)이 하부로 이동되어 상기 하부 보드유닛(90)에 충돌하기 전에 상기 완충유닛(60)이 충격을 완화시켜 주게 되며, 상기 완충로드(61)가 일정거리 이동하게 되면, 완충로드헤드(61a)는 상기 제2 단차부(93)에 의하여 이동이 제한된다.
또한, 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 인쇄회로기판(1)에 전류를 공급하기 위한 전류공급유닛(70)이 설치된다. 상기 전류공급유닛(70)은 상기 하부 보드유닛(90)에 고정되는 케이스(73)와, 상기 케이스(73)에 대하여 슬라이딩되는 전류공급단자(71), 상기 전류공급단자(71)와 연결된 전류공급선(75)을 포함한다.
또한, 상기 하부 보드유닛(90)에는 상기 전류공급단자(71)가 관통하는 단자 관통부(96)가 형성되어 있으며, 상기 단자 관통부(96)에는 상기 전류공급단자(71)의 이동을 제한하는 제3 단차부(95)가 형성되어 있다. 뿐만 아니라, 상기 제1 보드유닛(A)에는 상기 전류공급단자(71)가 관통하여 상기 전류공급단자의 단자헤드(71a)가 상기 인쇄회로기판(1)과 접촉되도록 하는 단자 관통홀(미도시)이 형성되어 있다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(A)이 하부로 이동되어 상기 하부 보드유닛(90)과 이웃하게 배치되었을 때 상기 단자헤드(71a)는 상기 제1 보드유닛(A)을 관통하여, 상기 인쇄회로기판(1)과 접촉하게 된다.
한편, 상기 제1 보드유닛(A)의 상부에는 상기 제1 보드유닛(A)의 맞은 편에서 상기 제1 보드유닛(A)에 대향되어 배치되며, 상기 제1 보드유닛(A)에 대하여 상대이동되는 상기 제2 보드유닛(B)이 배치된다.
상기 제2 보드유닛(B)에는 상기 인쇄회로기판(1)의 성능을 검사하기 위한 상기 제1 검사 프로브 유닛(10) 및 상기 제2 검사 프로브 유닛(80)이 설치된다.
구체적으로, 상기 제1 검사 프로브 유닛(10)을 기준으로 양측에 상기 제2 검사 프로브 유닛(80)이 배치된다. 또한, 상기 제1 검사 프로브 유닛(10)은 상기 기판커넥터(1b)와 대응되면서 상기 기판커넥터와 상하방향으로 결합 및 분리되고, 상기 제2 검사 프로브 유닛(80)은 상기 기판몸체(13)와 접촉된다.
상기 제1 검사 프로브 유닛(10)은 상기 제2 보드유닛(B) 상에 설치되는 프로브 베이스(13)와, 상기 프로브 베이스(13)에서 돌출되어 일정간격으로 배치되는 복수 개의 프로브 핀(11)과, 일측은 상기 프로브 베이스(13)와 결합되고 타측은 상기 제2 보드유닛(B)을 관통하면서 설치되는 프로브 기판(15)을 포함한다.
여기서, 상기 프로브 핀(11)이 상기 기판커넥터(1b)와 상하방향으로 결합 및 분리되도록 배치함으로써 공간을 효율적으로 사용할 수 게 된다.
한편, 상기 프로브 기판(15)의 일부분은 상기 제2 보드유닛(B)을 관통하여 상기 제2 보드유닛(B)의 외측으로 돌출된다. 상기 제2 보드유닛(B)의 외측으로 돌출된 상기 프로브 기판(15)의 일부분에는 프로브 고정홀(15a)이 형성되어 있다.
또한, 상기 제2 보드유닛(B)에는 상기 제1 검사 프로브 유닛(10)을 안정적으로 결합시키기 위한 고정부재(20)를 포함하는 상기 프로브 고정유닛이 설치된다.
구체적으로, 상기 프로브 고정홀(15a)에 상기 프로브 고정유닛의 고정부재(20)가 삽입되어 결합된다. 결과적으로, 상기 프로브 베이스(13)는 상기 제2 보드유닛(B)의 일측면 상에 밀착배치되며, 상기 제2 보드유닛(B)의 타측면, 도면상 상기 제2 보드유닛(B)의 상부에 상기 고정부재(20)가 밀착되어 설치됨으로써 상기 프로브 기판(15)을 안정적으로 고정시키게 된다.
상기 제2 검사 프로브 유닛(80)은 상기 제2 보드유닛(B)에 고정되는 프로브 케이스(83)와, 상기 프로브 케이스(83)에 대하여 슬라이딩 되는 제2 검사프로브(81)와, 상기 제2 검사프로브(81)와 연결된 외부 연결선(85)을 포함한다.
상기 제2 검사 프로브 유닛(80)은 상기 인쇄회로기판(1)과 접촉된 상태에서 상기 인쇄회로기판(1)의 성능을 검사하게 된다.
한편, 상기 제2 보드유닛(B)에는 상기 기판커넥터(1b)와 상기 프로브 핀(11)이 분리될 때 상기 제1 검사 프로브 유닛(10)이 이동되는 방향의 반대방향, 즉 인쇄회로기판이 이동되는 방향으로 상기 기판몸체(1a)를 가압하는 상기 기판 보호유닛(30)이 설치된다.
상기 기판 보호유닛(30)은 상기 제2 보드유닛(B)에 설치되는 고정실린더(33)와, 상기 고정실린더(33)의 내부에 설치되는 탄성부재(35)와, 상기 기판몸체(1a)를 가압하는 가압부재(31)를 포함한다.
여기서, 상기 제2 검사 프로브유닛의 프로브 헤드(81a)가 상기 인쇄회로기판(1)에 접촉된 상태에서 제1 설정깊이만큼 가압될 때 상기 프로브 베이스(13)와 상기 기판커넥터(1b)는 허용간격내에 배치된다.
예를 들어, 상기 제1 설정깊이는 3~5mm 정도로 설정되고, 상기 허용간격은 도면상, 상기 프로브 베이스(13)의 하면과 상기 기판커넥터(1b)의 상면은 0.2mm 이내의 간격 내에 배치되는 것이 바람직하다.
도 2 내지 도 4를 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 다른 실시 예를 설명한다.
본 실시 예에 따른 인쇄회로기판 검사장치는 상술한 일 실시 예와 유사한 구조를 가진다. 다만, 본 실시 예에서는 가이드 유닛(500), 제2 보드유닛(400), 제1 검사 프로브 유닛(100) 및 프로브 고정유닛에 있어서 상술한 일 실시 예와 구조적인 차이를 가진다.
먼저, 상기 가이드 유닛(500)은 상기 제2 보드유닛(400) 상에 설치되며, 상기 제2 보드유닛(400)에는 상기 제1 검사 프로브 유닛(100)이 관통하면서 설치된다. 여기서, 제2 검사 프로브유닛(700) 및 기판보호유닛(600)도 상기 제2 보드유닛(400)상에 설치된다.
구체적으로, 상기 제2 보드유닛(400)에는 상기 제1 검사 프로브 유닛(100)이 설치되는 영역에 함몰 형성된 프로브 유닛 설치홈(411)이 형성되어 있다. 상기 프로브 유닛 설치홈(411)은 인쇄회로기판의 종류에 따라 결정되는 상기 제1 검사 프로브 유닛(100)의 설치높이를 조정하기 위한 것이다.
또한, 상기 제2 보드유닛(400)에는 상기 제1 검사 프로브 유닛(100)의 프로브 기판(150)이 관통하는 기판 관통부(412)가 형성되어 있으며, 상기 기판 관통부(412)에는 상기 프로브 기판(150)을 안정적으로 고정시키기 위한 가압돌기(412a)가 형성되어 있다.
상기 기판 관통부(412)는 상기 프로브 기판(150)의 두께와 동일한 일정한 폭의 슬릿으로 형성되지 않고, 일정부분은 상기 프로브 기판(150)의 두께보다 큰 폭을 가지도록 형성하고, 다른 일정부분에는 상기 가압돌기(412a)를 형성하여 상기 프로브 기판(150)이 억지끼움의 형태로 결합되어 있다. 결과적으로, 상기 기판 관통부(412)의 가공이 편리함과 동시에 상기 프로브 기판(150)을 안정적으로 지지할 수 있게 된다.
또한, 상기 프로브 기판(150) 중 상기 제2 보드유닛(400)을 관통한 부분, 즉 프로브 기판(150)의 하단부에는 상기 제2 보드유닛(400)의 외측으로 노출되는 프로브 고정홈(151)이 함몰 형성되어 있다.
구체적으로, 도 4에 개시된 바와 같이, 상기 프로브 기판(15)의 측면 테두리 부분이 함몰형성된 영역에 상기 프로브 고정홈(151)이 형성되어 있다. 또한, 상기 프로브 기판(150)의 일측에는 프로브 베이스(130)와의 결합을 위한 결합공(153)이 형성되어 있다.
한편, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 고정홈(151)에 끼워져 결합되는 고정브래킷(200)을 포함한다. 상기 고정 브래킷(200)에는 상기 프로브 기판(15)과 대응되는 브래킷 홈(213)과 브래킷 돌출부(215)가 형성되어 있다. 결과적으로, 상기 브래킷 돌출부(215)가 상기 프로브 고정홈(151)에 끼워지고, 상기 브래킷 홈(213)은 상기 프로브 기판(150)의 몸체와 대응되게 된다. 또한, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 기판(150)과 상기 고정 브래킷(200)을 결합시키기 위한 용접부(211)를 포함한다.
결과적으로, 상기 프로브 기판(150)이 상기 기판 관통부(412)를 관통하여 설치되면, 상기 프로브 기판(150)의 프로브 고정홈(151)에 상기 고정 브래킷(200)을 결합시킨다. 이후에 상기 프로브 기판(150)과 상기 고정 브래킷(200)이 결합되는 영역에 용접을 통하여 상기 용접부(211)를 형성함으로써 상기 프로브 기판(15)이 상기 제2 보드유닛(400)에 안정적으로 결합된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정한 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형의 실시가 가능하고 이러한 변형은 본 발명의 범위에 속한다.
A: 제1 보드유닛 B: 제2 보드유닛
1: 인쇄회로기판 1a: 기판몸체
1b: 기판커넥터 10: 제1 검사 프로브 유닛
11: 프로브 핀 13: 프로브 베이스
15: 프로브 기판 20: 고정부재
30: 기판보호유닛 50: 가이드 유닛
60: 완충유닛 70: 전류공급유닛
80: 제2 검사 프로브 유닛

Claims (6)

  1. 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 제1 보드유닛;
    상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며, 상기 인쇄회로기판 각각에 구비된 기판 커넥터와 상부방향 또는 하부방향으로 결합 및 분리되는 복수 개의 제1 검사 프로브유닛이 장착되는 제2 보드유닛; 그리고,
    상기 제1 검사 프로브유닛을 상기 제2 보드유닛에 안정적으로 결합시키기 위한 프로브 고정유닛을 포함하며,
    상기 제1 검사 프로브유닛은 상기 제2 보드유닛에 결합되는 프로브 베이스와, 상기 프로브 베이스에서 돌출되어 일정간격으로 배치되는 복수 개의 프로브핀과, 일측은 상기 프로브 베이스와 결합되고 타측은 상기 제2 보드유닛을 관통하면서 설치되는 프로브 기판을 포함하고,
    상기 프로브 고정유닛은 상기 제2 보드유닛에 밀착 설치되어 상기 프로브 기판을 고정시키며,
    상기 프로브 기판의 하단부에는 상기 제2 보드유닛의 외측으로 노출되는 프로브 고정홈이 함몰 형성되어 있으며, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 고정홈에 끼워져 결합되는 고정브래킷을 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 프로브 기판의 하단부에는 상기 제2 보드유닛의 외측으로 노출되는 프로브 고정홀이 형성되며, 상기 프로브 고정유닛은 상기 프로브 고정홀에 삽입되어 결합되는 고정부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  3. 삭제
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제2 보드유닛에는 상기 프로브 기판이 관통하는 기판 관통부가 형성되어 있으며, 상기 기판 관통부에는 상기 프로브 기판을 안정적으로 고정시키기 위한 가압돌기가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  5. 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 제1 보드유닛;
    상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며, 상기 인쇄회로기판 각각에 구비된 기판 커넥터와 상부방향 또는 하부방향으로 결합 및 분리되는 복수 개의 제1 검사 프로브유닛이 장착되는 제2 보드유닛; 그리고,
    상기 제1 검사 프로브유닛을 상기 제2 보드유닛에 안정적으로 결합시키기 위한 프로브 고정유닛을 포함하며,
    상기 제1 검사 프로브유닛은 상기 제2 보드유닛에 결합되는 프로브 베이스와, 상기 프로브 베이스에서 돌출되어 일정간격으로 배치되는 복수 개의 프로브핀과, 일측은 상기 프로브 베이스와 결합되고 타측은 상기 제2 보드유닛을 관통하면서 설치되는 프로브 기판을 포함하고,
    상기 프로브 고정유닛은 상기 제2 보드유닛에 밀착 설치되어 상기 프로브 기판을 고정시키며,
    가이드 실린더와, 상기 가이드 실린더 내부에 설치되는 가이드 탄성부재와, 상기 가이드 탄성부재의 탄성복원력을 받는 가이드 로드를 가지며, 상기 제1 보드유닛의 이동을 안내하는 가이드유닛을 더 포함하며, 상기 가이드 유닛이 설치되는 하부 보드유닛 또는 상기 제2 보드유닛상에는 상기 가이드 로드가 관통하는 가이드 로드 관통부가 형성되어 있으며, 상기 가이드 로드 관통부에는 상기 가이드 로드의 이동을 제한하는 제1 단차부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 인쇄회로기판의 성능을 검사하기 위하여 상기 제2 보드유닛상에 설치되는 제2 검사 프로브유닛을 더 포함하며, 상기 제2 검사 프로브유닛의 프로브 헤드가 상기 인쇄회로기판에 접촉된 상태에서 제1 설정깊이만큼 가압될 때 상기 프로브 베이스와 상기 기판커넥터는 허용간격내에 배치되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
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