KR101094782B1 - 인쇄회로기판 검사장치 - Google Patents

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    • G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 검사 프로브의 분리를 안정적으로 수행함으로써 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지할 수 있는 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 기판 안착부가 형성된 제1 보드유닛, 상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며 상기 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 결합 및 분리되는 제1 검사 프로브가 장착되는 제2 보드유닛, 그리고 상기 기판 커넥터와 상기 제1 검사 프로브가 분리될 때 상기 제1 검사 프로브가 이동되는 방향의 반대방향으로 상기 인쇄회로기판의 기판몸체를 밀거나 상기 기판 커넥터를 당김으로써 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지하는 기판 보호유닛을 포함하는 인쇄회로기판 검사장치를 제공한다.

Description

인쇄회로기판 검사장치{Testing apparatus for printed circuit board}
본 발명은 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것으로서, 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 검사 프로브의 분리를 안정적으로 수행할 수 있는 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것이다.
오늘날 기능 및 부품이 복잡하고 정교한 전자제품들이 등장함에 따라 이에 사용되는 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board) 역시 탑재되는 부품의 수가 많고 날로 복잡, 정교해지고 있다.
일반적으로, 인쇄회로기판에 탑재되는 부품의 수가 많아진다는 것은 제조비용의 증가와 함께 불량 발생의 가능성은 커지고, 수율은 낮아지며, 오류 진단은 더 어려워진다는 것을 의미한다.
종래 표면실장기술(Surface Mount Technology; SMT)에서 가장 많이 사용되는 시험/검사 과정은 수동비전검사(Manual Vision Inspection; MVI), 회로 내 검사(In-Circuit Test; ICT), 성능검사(Function Test; FCT)를 순차적으로 실시하는 것이다.
종래 인쇄회로기판 검사장치에서는 인쇄회로기판에 대한 성능검사가 수행될 때 작업자가 상기 인쇄회로기판의 커넥터와 검사 프로브를 수작업으로 하나씩 끼우는 공정을 통하여 상기 커넥터와 검사 프로브를 연결시켰다.
이로 인하여, 상기 인쇄회로기판의 성능검사를 위하여 소요되는 시간이 길어지고, 소요비용이 증가되는 문제가 있다.
뿐만 아니라, 작업자가 상기 커넥터와 검사프로브의 결합 및 분리를 수작업으로 수행함으로 인하여 상기 인쇄회로기판에 크랙이 발생하거나 안정적인 결합이 되지 못하는 경우가 발생한다.
대한민국 공개특허공보 제10-2008-0025518호의 명세서 식별번호 <35>, <36>, <37>, <38> 및 도 1
본 발명의 해결하고자 하는 과제는 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 검사 프로브의 분리를 안정적으로 수행함으로써 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지할 수 있는 인쇄회로기판 검사장치를 제공하는 것이다.
상술한 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 기판 안착부가 형성된 제1 보드유닛, 상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며 상기 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 결합 및 분리되는 제1 검사 프로브가 장착되는 제2 보드유닛, 그리고 상기 기판 커넥터와 상기 제1 검사 프로브가 분리될 때 상기 제1 검사 프로브가 이동되는 방향의 반대방향으로 상기 인쇄회로기판의 기판몸체를 밀거나 상기 기판 커넥터를 당김으로써 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지하는 기판 보호유닛을 포함하는 인쇄회로기판 검사장치를 제공한다.
상기 인쇄회로기판 검사장치는 상기 제1 보드유닛과 상기 제2 보드유닛 중 어느 하나의 하부에 배치되어 해당 보드유닛의 이동을 안내하는 가이드 유닛와, 상기 해당 보드유닛이 수평을 유지하도록 하면서 상기 해당 보드유닛을 지지하는 완충유닛를 더 포함한다.
상기 기판 보호유닛은 상기 제2 보드유닛 상에 설치되는 실린더와, 상기 실린더의 내부에 설치되는 탄성부재와, 상기 기판몸체를 가압하는 가압부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 인쇄회로기판 검사장치의 제2 실시 예로서, 상기 기판 보호유닛은 상기 제1 보드유닛과 결합되는 홀더 플레이트를 포함하며, 상기 홀더 플레이트에는 상기 기판 커넥터와 대응되는 커넥터 삽입홈이 형성되어 있고, 상기 커넥터 삽입홈에는 상기 제1 검사 프로브와 상기 기판 커넥터가 분리될 때 상기 기판 커넥터의 돌출부를 잡아주기 위한 단차부가 형성될 수 있다.
상기 인쇄회로기판 검사장치는 상기 인쇄회로기판의 성능을 검사하기 위하여 상기 제2 보드유닛상에 설치되는 제2 검사프로브를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 홀더 플레이트에는 상기 제2 검사프로브가 관통하여 상기 기판 몸체에 접촉되도록 하기 위한 프로브 관통홀이 형성될 수 있다.
또한, 상기 인쇄회로기판 검사장치의 제3 실시 예로서, 상기 인쇄회로기판 검사장치는 상기 제1 보드유닛과 상기 기판 보호유닛은 상기 제2 보드유닛의 상부에 배치되며, 상기 제1 보드유닛 상에 설치되어 수직하방을 향하고 있는 상기 인쇄회로기판을 고정하기 위한 기판 고정유닛을 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 효과를 설명하면 다음과 같다.
첫째, 제1 검사 프로브와 인쇄회로기판의 기판 커넥터의 분리시, 상기 제1 검사 프로브가 상대이동되는 방향의 반대방향으로 상기 인쇄회로기판의 기판 몸체를 밀거나 상기 기판 커넥터를 당기는 기판 보호유닛을 설치함으로써 상기 인쇄회로기판을 안정적으로 분리할 수 있고, 이로 인하여 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지할 수 있는 이점이 있다.
둘째, 복수 개의 인쇄회로기판이 수평으로 정렬되도록 하면서 제1 보드유닛또는 제2 보드유닛을 안정적으로 지지하기 위한 완충유닛를 설치함으로써 상기 검사 프로브와 상기 커넥터의 결합이 안정적으로 수행될 수 있는 이점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제1 실시 예에 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 결합되기 전의 상태를 나타낸 단면도.
도 2는 도 1의 인쇄회로기판 검사장치에 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 결합된 상태를 나타낸 단면도.
도 3은 도 1의 인쇄회로기판 검사장치에 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 분리된 직후의 상태를 나타낸 단면도.
도 4는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제2 실시 예에 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 결합된 상태를 나타낸 단면도.
도 5는 도 4의 인쇄회로기판 검사장치게 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 분리된 직후의 상태를 나타낸 도면.
도 6은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제3 실시 예에 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 결합된 상태를 나타낸 단면도.
도 7은 도 6의 인쇄회로기판 검사장치게 구비된 제1 검사 프로브와 기판 커넥터가 분리된 직후의 상태를 나타낸 도면.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 실시 예들을 설명한다.
도 1 내지 도 3을 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제1 실시 예를 설명하면 다음과 같다.
본 실시 예에 따른 인쇄회로기판장치는 제1 보드유닛(43), 제2 보드유닛(41), 제3 보드유닛(45), 기판 보호유닛(50), 가이드 유닛(60), 완충유닛(70), 제1 검사유닛(20) 및 제2 검사유닛(30)을 포함한다.
상기 제1 보드유닛(43)에는 복수 개의 인쇄회로기판(10)이 안착되는 기판 안착부(미도시)가 형성되어 있다. 상기 인쇄회로기판(10)은 기판몸체(13)와, 상기 기판몸체 상에 설치되어 상기 제1 검사유닛(20)의 제1 검사프로브(21)와 결합되는 기판 커넥터(11)를 포함한다.
상기 제1 보드유닛(43)의 하부에는 상기 제3 보드유닛(45)이 배치된다. 상기 제3 보드유닛(45)에는 상기 제1 보드유닛(43)의 이동을 안내함과 동시에 상기 제1 보드유닛(43)의 수평을 유지하도록 하는 상기 가이드 유닛(60)이 설치된다.
상기 가이드 유닛(60)은 상기 제3 보드유닛(45)에 고정되는 가이드 실린더(63)와, 상기 가이드 실린더 내부에서 슬라이딩되는 가이드 로드(61)와, 상기 가이드 로드(61)에 탄성복원력을 제공하는 가이드 탄성부재(65)를 포함한다.
상기 가이드 로드(61)의 끝단은 뾰족한 형상을 가지며, 상기 가이드 로드(61)의 끝단은 상기 제1 보드유닛(43)에 형성된 위치결정홈(미도시)에 삽입된다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(43)이 하부로 이동될 때 상기 가이드 로드(61)의 끝단은 상기 위치결정홈에 삽입된 상태에서 하부로 이동된다.
또한, 상기 제3 보드유닛(45)에는 상기 제1 보드유닛(43)이 수평을 유지하도록 함과 동시에 상기 제1 보드유닛(43)이 하부로 이동되어 상기 제3 보드유닛(45)과 인접하게 배치될 때의 충격을 완화시키기 위한 상기 완충유닛(70)이 설치된다.
상기 완충유닛(70)은 상기 제3 보드유닛(45)에 고정되는 완충 실린더(73)와, 상기 완충 실린더(73) 내부에서 슬라이딩되는 완충로드(71)와, 상기 완충로드(71)에 탄성복원력을 제공하는 완충탄성부재(75)를 포함한다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(43)이 하부로 이동되어 상기 제3 보드유닛(45)에 충돌하기 전에 상기 완충유닛(70)이 충격을 완화시켜 주게 된다.
또한, 상기 제3 보드유닛(45)에는 상기 인쇄회로기판(10)에 전류를 공급하기 위한 전류공급유닛(80)이 설치된다. 상기 전류공급유닛(80)은 상기 제3 보드유닛(45)에 고정되는 케이스(83)와, 상기 케이스(83)에 대하여 슬라이딩되는 전류공급단자(81), 상기 전류공급단자(81)와 연결된 전류공급선(85)을 포함한다.
결과적으로, 상기 제1 보드유닛(43)이 하부로 이동되어 상기 제3 보드유닛(45)과 이웃하게 배치되었을 때 상기 전류공급단자(81)의 끝단은 상기 제1 보드유닛(43)을 관통하여, 상기 인쇄회로기판(10)과 접촉하게 된다.
한편, 상기 제1 보드유닛(43)의 상부에는 상기 제1 보드유닛(43)의 맞은 편에서 상기 제1 보드유닛(43)에 대향되어 배치되며, 상기 제1 보드유닛(43)에 대하여 상대이동되는 상기 제2 보드유닛(41)이 배치된다.
상기 제2 보드유닛(41)에는 상기 인쇄회로기판(10)의 성능을 검사하기 위한 상기 제1 검사유닛(20) 및 상기 제2 검사유닛(30)이 설치된다.
구체적으로, 상기 제1 검사유닛(20)을 기준으로 양측에 상기 제2 검사유닛(30)이 배치된다. 또한, 상기 제1 검사유닛(20)은 상기 기판커넥터(11)와 대응되고, 상기 제2 검사유닛(30)은 상기 기판몸체(13)와 대응된다.
상기 제1 검사유닛(20)은 상기 제2 보드유닛(41)에 고정되는 제1 검사본체(23)와, 상기 기판 커넥터(11)와 결합 및 분리되는 제1 검사 프로브(21)를 포함한다.
상기 제2 검사유닛(30)은 상기 제2 보드유닛(41)에 고정되는 제2 검사본체(33)와, 상기 기판몸체(13)에 접촉되는 제2 검사 프로브(31)를 포함한다.
한편, 상기 제2 보드유닛(41)에는 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사 프로브(21)가 분리될 때 상기 제1 검사 프로브(21)가 이동되는 방향의 반대방향, 즉 도면상 하부방향으로 상기 기판몸체(13)를 가압하는 상기 기판 보호유닛(50)이 설치된다.
상기 기판 보호유닛(50)은 상기 제2 보드유닛(41)에 설치되는 고정실린더(53)와, 상기 고정실린더(53)의 내부에 설치되는 탄성부재(55)와, 상기 기판몸체(13)를 가압하는 가압부재(51)를 포함한다.
도 1 및 도 2를 참조하여, 상기 제1 검사프로브(21)가 상기 기판 커넥터(11)와 결합되는 과정을 설명하면 다음과 같다.
도 1에 도시된 상태에서 도 2에 도시된 상태로 바뀌는 과정에서 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사 프로브(21)가 접촉되기 전에 상기 가압부재(51)가 상기 기판몸체(13)에 먼저 접촉하게 된다.
이후에, 상기 제2 보드유닛(41)이 지속적으로 하부로 이동하면, 상기 가압부재(51)의 일단은 상기 고정실린더(53) 내부로 슬라이딩되어 들어가게 된다.
이때, 상기 탄성부재(55)는 압축되면서 상기 고정실린더(53)를 상부방향으로 밀게 됨으로써 상기 제2 보드유닛(41)의 하강이동에 대하여 저항하게 된다. 따라서, 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사프로브(21)가 결합될 때 상기 기판 보호유닛(50)은 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사프로브(21)가 접촉시의 충격을 완화시키게 된다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 검사프로브(21)와 상기 기판 커넥터(11)가 결합된 상태에서는 상기 제3 보드유닛(45)과 상기 제1 보드유닛(43)은 상하로 밀착되어 배치된다.
이때, 상기 완충로드(71)는 상기 완충탄성부재(75)의 탄성복원력을 받으면서 상기 제1 보드유닛(43)의 하면을 밀고 있는 상태에 있다. 또한, 상기 가이드 로드(61)는 가이드 탄성부재(65)의 탄성복원력을 받으면서 상기 제1 보드유닛(43)의 하면을 밀고 있는 상태이다.
한편, 도 2 및 도 3을 참조하여, 상기 제1 검사프로브(21)가 상기 기판 커넥터(11)와 분리되는 과정을 설명하면 다음과 같다.
상기 제2 보드유닛(41)이 상부로 이동되기 시작하면, 상기 제1 검사프로브(21)가 상기 기판 커넥터(11)로부터 분리되기 시작한다.
이때, 상기 기판 커넥터(11)는 상기 제1 검사프로브(21)와의 마찰력으로 인하여 상부로 딸려 올라가려는 성질을 가지게 된다.
동시에, 상기 가압부재(51)는 상기 탄성부재(55)의 탄성복원력에 의하여 상기 고정실린더(53)의 외부로 돌출되면서 상기 기판몸체(13)를 가압하게 된다.
구체적으로, 상기 가압부재(51)가 상기 기판몸체(13)를 밀면서 가압함으로써 상기 기판커넥터(11)가 딸려 올라가지 않게 되고, 이로 인하여 상기 인쇄회로기판(10)이 상기 기판 커넥터(11)를 중심으로 휘어지지 않게 되어 상기 인쇄회로기판(10)의 손상을 방지하게 된다. 또한, 상기 기판 보호유닛(50)은 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사프로브(21)의 분리가 용이하게 될 수 있도록 도와주게 된다.
도 4 및 도 5를 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제2 실시 예를 설명하면 다음과 같다.
본 실시 예에 따른 인쇄회로기판 검사장치는 상술한 실시 예에 따른 기판 보호유닛(50)과 다른 구조를 가지는 기판 보호유닛이 구비된다. 이하에서는, 상술한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 검사장치와 동일한 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
본 실시 예에 따른 기판 보호유닛은 제1 보드유닛(43)과 결합되는 홀더 플레이트(120)를 포함한다.
상기 홀더 플레이트(120)에는 기판 커넥터(11)와 대응되는 커넥터 삽입홈(125)이 형성되어 있고, 상기 커넥터 삽입홈(125)에는 제1 검사 프로브(21)와 상기 기판 커넥터(11)가 분리될 때 상기 기판 커넥터의 돌출부(11a)를 잡아주기 위한 단차부(123)가 형성되어 있다.
또한, 상기 홀더 플레이트(120)에는 제2 검사프로브(31)가 관통하여 기판몸체(13)에 접촉되도록 하기 위한 프로브 관통홀(121)이 형성된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사 프로브(21)가 결합된 상태에서는 상기 제1 보드유닛(43), 제2 보드유닛(41), 제3 보드유닛(45) 및 상기 홀더 플레이트(120)가 상하로 밀착되어 배치된다.
이때, 상기 제2 검사 프로브(31)는 상기 기판몸체(13)에 접촉된 상태에 있게되고, 전류공급유닛의 전류공급단자(81)도 상기 기판몸체(13)의 하부에 접촉된 상태를 유지하게 된다.
이 후, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제2 보드유닛(41)이 상부로 이동하게 되면, 상기 제1 검사프로브(21)가 상기 기판 커넥터(11)로부터 분리되기 시작한다.
이때, 상기 기판 커넥터(11)는 상기 제1 검사프로브(21)와의 마찰력으로 인하여 상부로 딸려 올라가려는 성질을 가지게 된다. 동시에, 상기 제1 보드유닛(43)과 결합되어 있는 상기 홀더 플레이트(120)는 상기 돌출부(11a)를 잡아당기게 된다.
구체적으로, 상기 제2 보드유닛(41)이 상부로 이동하게 되면, 상기 제1 보드유닛(43) 및 상기 홀더 플레이트(120)도 완충유닛(70), 가이드 유닛(60)에 의하여 밀려 올려지게 된다. 그러나, 상기 제1 보드유닛(43)과 상기 홀더 플레이트(120)는 자체 하중으로 인하여 상기 제2 보드유닛(41)이 상부로 이동되는 속도보다는 작은 속도로 이동하게 된다. 결과적으로, 상기 제1 검사프로브(21)와 상기 기판 커넥터(11)가 분리되게 된다.
이때, 상기 홀더 플레이트(120)의 단차부(123)는 상기 홀더 플레이트(120)와 상기 제1 보드유닛(43)의 자체 하중으로 상기 돌출부(11a)를 하부로 끌어당기게 된다.
결과적으로, 기판커넥터(11)가 딸려 올라가지 않게 되고, 이로 인하여 상기 인쇄회로기판(10)이 상기 기판 커넥터(11)를 중심으로 휘어지지 않게 되어 상기 인쇄회로기판(10)의 손상을 방지하게 된다.
도 6 및 도 7을 참조하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 제3 실시 예를 설명하면 다음과 같다.
본 실시 예에 따른 인쇄회로기판 검사장치에서는 상술한 실시 예들과 달리, 인쇄회로기판(10)이 상부에 배치되고, 상기 인쇄회로기판(10)을 검사하기 위한 제1 검사유닛(20)이 하부에 배치된다.
상기 인쇄회로기판 검사장치는 상기 인쇄회로기판(10)이 장착된 제1 보드유닛(220), 상기 제1 보드유닛(220)의 상부에 결합되는 제3 보드유닛(210), 상기 제1 보드유닛(220)의 하부에 결합되는 기판 보호유닛, 그리고 상기 인쇄회로기판(10)의 성능을 검사하기 위한 제1 검사유닛(20)이 설치된 제2 보드유닛(240)을 포함한다.
상기 제1 보드유닛(43) 상에는 수직하방을 향하고 있는 상기 인쇄회로기판(10)을 고정하기 위한 기판 고정유닛(211)이 설치된다.
또한, 상기 기판 보호유닛은 제1 보드유닛(220)과 결합되는 홀더 플레이트(230)를 포함한다.
상기 홀더 플레이트(230)에는 기판 커넥터(11)와 대응되는 커넥터 삽입홈(235)이 형성되어 있고, 상기 커넥터 삽입홈(235)에는 제1 검사 프로브(21)와 상기 기판 커넥터(11)가 분리될 때 상기 기판 커넥터의 돌출부(11a)를 잡아주기 위한 단차부(231)가 형성되어 있다.
도 6에 도시된 바와 같이, 상기 기판 커넥터(11)와 상기 제1 검사 프로브(21)가 결합된 상태에서는 상기 제1 보드유닛(220), 제2 보드유닛(240), 제3 보드유닛(210) 및 상기 홀더 플레이트(230)가 상하로 밀착되어 배치된다.
이 후, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 제1 보드유닛(220)이 상부로 이동하게 되면, 상기 제1 검사프로브(21)가 상기 기판 커넥터(11)로부터 분리되기 시작한다.
이때, 상기 기판 커넥터(11)는 상기 제1 검사프로브(21)와의 마찰력으로 인하여 하부로 딸려 내려가려는 성질을 가지게 된다. 동시에, 상기 제1 보드유닛(220)과 결합되어 있는 상기 홀더 플레이트(230)는 상기 돌출부(11a)를 잡아당기게 된다.
구체적으로, 상기 제1 보드유닛(220)이 상부로 이동하게 되면, 완충유닛(70), 가이드 유닛(60)도 상기 홀더 플레이트(230)을 상부로 밀어올린다. 이때, 상기 제1 보드유닛(220)은 상기 홀더 플레이트(230)와 결합되어 있기 때문에 상기 단차부(231)가 상기 돌출부(11a)를 끌어 올리게 된다.
결과적으로, 기판커넥터(11)가 딸려 내려가지 않게 되고, 이로 인하여 상기 인쇄회로기판(10)이 상기 기판 커넥터(11)를 중심으로 휘어지지 않게 되어 상기 인쇄회로기판(10)의 손상을 방지하게 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정한 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형의 실시가 가능하고 이러한 변형은 본 발명의 범위에 속한다.
10: 인쇄회로기판 11: 기판 커넥터
11a: 돌출부 13: 기판몸체
20: 제1 검사유닛 21: 제1 검사프로브
30: 제2 검사유닛 31: 제2 검사프로브
41, 220: 제1 보드유닛 43, 240: 제2 보드유닛
45, 210: 제3 보드유닛 50: 기판 보호유닛
60: 가이드 유닛 70: 완충유닛
80: 전류공급유닛 120,230: 홀더 플레이트
123, 231: 단차부 211: 기판 고정유닛

Claims (6)

  1. 복수 개의 인쇄회로기판이 안착되는 기판 안착부가 형성된 제1 보드유닛;
    상기 제1 보드유닛의 맞은 편에 배치되어 상기 제1 보드유닛에 대하여 상대이동되며, 상기 인쇄회로기판의 기판 커넥터와 결합 및 분리되는 제1 검사 프로브가 장착되는 제2 보드유닛; 그리고,
    상기 기판 커넥터와 상기 제1 검사 프로브가 분리될 때 상기 제1 검사 프로브가 이동되는 방향의 반대방향으로 상기 기판 커넥터를 당김으로써 상기 인쇄회로기판의 손상을 방지하는 기판 보호유닛을 포함하며,
    상기 기판 보호유닛은 상기 제1 보드유닛과 결합되는 홀더 플레이트를 포함하며, 상기 홀더 플레이트에는 상기 기판 커넥터와 대응되는 커넥터 삽입홈이 형성되어 있고, 상기 커넥터 삽입홈에는 상기 제1 검사 프로브와 상기 기판 커넥터가 분리될 때 상기 기판 커넥터의 돌출부를 잡아주기 위한 단차부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 보드유닛과 상기 제2 보드유닛 중 어느 하나의 하부에 배치되어 해당 보드유닛의 이동을 안내하는 가이드 유닛과, 상기 해당 보드유닛이 수평을 유지하도록 하면서 상기 해당 보드유닛을 지지하는 완충유닛을 더 포함하는 인쇄회로기판 검사장치.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 인쇄회로기판의 성능을 검사하기 위하여 상기 제2 보드유닛상에 설치되는 제2 검사프로브를 더 포함하며, 상기 홀더 플레이트에는 상기 제2 검사프로브가 관통하여 상기 기판몸체에 접촉되도록 하기 위한 프로브 관통홀이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제1 보드유닛과 상기 기판 보호유닛은 상기 제2 보드유닛의 상부에 배치되며, 상기 제1 보드유닛 상에 설치되어 수직하방을 향하고 있는 상기 인쇄회로기판을 고정하기 위한 기판 고정유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR200475381Y1 (ko) * 2014-10-23 2014-11-28 이롬테크 주식회사 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242064A (ja) * 1998-02-25 1999-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 実装基板検査装置
KR200448132Y1 (ko) * 2009-09-18 2010-03-18 에스엔티코리아 주식회사 충격 완충수단이 구비된 표면실장기판 검사기

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11242064A (ja) * 1998-02-25 1999-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 実装基板検査装置
KR200448132Y1 (ko) * 2009-09-18 2010-03-18 에스엔티코리아 주식회사 충격 완충수단이 구비된 표면실장기판 검사기

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101345176B1 (ko) 2012-02-24 2013-12-27 주식회사 아이비기술 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법
KR200475381Y1 (ko) * 2014-10-23 2014-11-28 이롬테크 주식회사 인쇄회로기판 검사 픽스처용 핀 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사 픽스처

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