KR101345176B1 - 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법 - Google Patents

밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 연성인쇄회로기판을 검사함과 동시에 상기 연성인쇄회로기판의 OLB 단을 밴딩할 수 있는 검사장치 및 그 밴딩방법에 관한 것으로, 상기 연성인쇄회로기판의 검사과정에서 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단을 일정한 각도로 밴딩할 수 있는 검사장치 및 밴딩방법을 제공하는데 목적이 있으며, 연성인쇄회로기판 검사장치에서 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부 밴딩작업을 동시에 수행할 수 있으므로, 작업자가 손으로 상기 OLB단부를 구부리거나 별도의 밴딩장치로 상기 OLB단부를 밴딩하는 작업을 실시하지 않아도 되는 효과를 제공하고, 이에 따라, 연성인쇄회로기판의 생산공정이 간편화되어 제조비용 및 인건비가 절감된다는 효과도 제공하며, 또한, 상기 OLB단부가 일정한 각도로 밴딩될 수 있다는 효과를 제공하는 것에 특징이 있다.

Description

밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법{flexible print circuit board testing apparatus with bending function and method of bending}
본 발명은 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 연성인쇄회로기판을 검사함과 동시에 상기 연성인쇄회로기판의 OLB 단을 밴딩할 수 있는 검사장치 및 그 밴딩방법에 관한 것이다.
연성인쇄회로기판은 TV, 냉장고, 컴퓨터 등의 모든 전자제품에 기본적으로 장착되는 것은 물론이고 최근 그 사용이 급격하게 늘고 있는 이동전화 등의 모바일(Mobile) 제품과 IC 패키지 등의 분야에서 제품의 고집적화, 고밀도화를 통한 경박단소화 및 고성능화를 위해 필수적으로 사용되는 핵심적인 부품이다.
이러한, 연성인쇄회로기판의 급속한 발전에 따라서 불량이 발생할 수 있는 요인이 증가되었으며, 따라서 안정적으로 상기 연성인쇄회로기판의 품질을 확보할 수 있는 검사 기술의 개발이 요구되고 있다.
상기 연성인쇄회로기판에 반도체, 저항, 캐패시터, 인덕터 등의 전자부품이 실장되면 그 회로가 정상적으로 동작하는지를 검사장치를 이용하여 검사하게 된다.
상기 연성인쇄회로기판은 상기 검사장치의 시료 테이블에 안착된 상태에서 상기 시료 테이블의 상부에 배치되어 상하로 왕복운동되는 제1고정바에 의해 상부에서 하부방향으로 가압을 받게 된다.
그리고, 상기 연성인쇄회로기판의 OLB(Outer Lead Bonder)단은 상기 시료 테이블의 상부에 배치되어 상하로 왕복운동되는 제2고정바에 의해 상부에서 하부방향으로 가압을 받으면서 상기 검사장치의 검사회로와 접촉된다.
위와 같은 상태가 되면, 상기 연성인쇄회로기판이 상기 검사장치에 의해 검사작업이 실시될 수 있다.
그리고, 상기 검사작업을 마치면, 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단이 제품의 커넥터와 접속되기 위하여 상기 OLB단을 휘게하는 밴딩작업을 실시해야 한다.
왜냐하면, 상기 검사과정에서 상기 연성인쇄회로기판의 몸체가 상기 제1고정바에 의해 가압을 받아 휨 현상이 발생되어, 상기 연성인쇄회로기판이 제품에 실장될 때, 상기 연성회로기판의 OLB단이 제품의 커넥터와 접촉되지 못할 염려가 있기 때문이다.
따라서, 작업자는 상기 검사장치에 의해 검사를 마친 연성회로기판의 OLB단을 휘게하는 밴딩작업을 실시한다.
그러나, 종래에는 작업자가 손으로 직접 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단을 휘게하는 작업을 손으로 직접 실시하였기 때문에, 상기 OLB단의 휨 각도가 일정치 못하다는 문제점이 있었다.
또한, 상기 OLB단의 밴딩작업을 위해 작업자가 요구된다는 점에서 상기 연성인쇄회로기판의 생산비용이 증가된다는 문제점이 있으며, 생산공정 또한 증가되어 생산 효율성이 떨어진다는 문제점이 있다.
따라서, 본 출원인은, 상기 연성인쇄회로기판의 검사과정에서 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단을 일정한 각도로 밴딩할 수 있는 검사장치를 개발하게 되었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하는 것에 목적이 있다.
본 발명은, 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 연성인쇄회로기판이 안착되는 시료 테이블; 상기 시료 테이블의 일측에서 일정간격 이격되어 배치되며 상부에는 상기 시료 테이블에 안착된 연성인쇄회로기판의 OLB단부와 접촉되는 검사회로기판이 장착되는 회로기판 테이블; 상기 회로기판 테이블의 상부에 배치된 메인실린더에 의해 상하로 왕복운동가능한 가압플레이트; 상기 가압플레이트의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트의 하강에 따라 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부를 가압하며, 상기 가압플레이트의 상부에 배치된 OBL 검사 실린더에 의해 상하로 왕복운동가능한 제1가압편; 상기 가압편과 일정간격 이격된 상태에서 상기 가압플레이트의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트의 하강에 따라 상기 시료 테이블에 안착된 연성인쇄회로기판을 가압하며, 상기 제1가압편과 마주하는 면에는 라운드면이 형성된 제2가압편; 및 상기 검사회로기판의 접속부와 접촉되지 않는 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부저면 부위를 상향으로 가압하여 상기 OLB단부를 상기 제2가압편의 라운드면과 접촉시켜 상기 라운드면의 형성각도에 대응되게 휘어지도록 하는 밴딩부를 포함하는 것을 특징으로 하며,
연성인쇄회로기판을 시료 테이블에 안착하는 단계; 상기 단계에 의해서 시료 테이블에 안착된 연성인쇄회로기판이 상기 시료 테이블에서 유동되는 것을 방지시킴과 동시에 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부를 상기 검사회로기판의 접속부와 접촉시키기 위하여 가압플레이트를 하강시키는 단계; 상기 단계에 의해서 검사준비를 마친 연성인쇄회로기판을 검사하여 합격품과 불합격품을 구분하는 연성인쇄회로기판의 검사단계; 상기 단계에서 검사를 마친 연성인쇄회로기판이 합격품일 경우에, OBL 검사 실린더에 의해 상기 제1가압편을 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부가 자유단이 되도록 하여 추후 단계에서 밴딩될 수 있도록 준비하는 제1가압편 상승단계; 상기 단계에 의해서 자유단이 된 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부 저면부위를 향해 밴딩부의 밴딩편을 상승시켜 상기 OLB단부 윗면과 상기 제2가압편의 라운드면을 서로 접촉시켜 밴딩시키는 밴딩단계; 상기 단계에 의해서 OLB단부가 밴딩된 연성인쇄회로기판을 인출하기 위하여 상기 밴딩편을 하강시켜 상기 OLB단부가 더 이상 상기 밴딩편에 의해 가압받지 않게 하는 상기 밴딩편(220)을 하강시키는 단계; 및 상기 단계에서 하강되었던 가압플레이트를 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판을 시료 테이블에서 인출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법은, 연성인쇄회로기판 검사장치에서 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부 밴딩작업을 동시에 수행할 수 있으므로, 상기 연성인쇄회로기판의 검사 작업 후에 작업자가 손이나 별도의 밴딩장치로 상기 연성인쇄회로기판의 OLB단부를 구부리는 번거로운 작업을 실시하지 않아도 되는 효과를 제공하고, 이에 따라, 연성인쇄회로기판의 생산공정이 간편화되어 제조비용 및 인건비가 절감된다는 효과도 제공하며, 또한, 상기 OLB단부가 일정한 각도로 밴딩될 수 있다는 효과를 제공한다.
도 1은, 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치의 구성을 정면에서 개념적으로 보여주는 개념도.
도 2는, 도 1에 도시된 가압플레이트를 삭제한 상태에서 본 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판의 검사장치를 위에서 바라본 평면도.
도 3은, 본 발명에 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치의 밴딩방법을 나타낸 순서도.
도 4는, 도 1에 도시된 가압플레이트가 하강됨에 따라 제1가압편 및 제2가압편이 하강된 모습을 보여주는 도면.
도 5는, 도 4에 도시된 제1가압편이 상승된 상태에서 밴딩편이 상승된 모습을 보여주는 도면.
도 6은, 도 5에 도시된 A부분의 확대도.
도 7은, 본 발명의 실시예에 따른 연성인쇠회로기판의 OLB단부 부위가 밴딩된 모습을 보여주는 사시도.
이하, 도 1 내지 도 7을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법이 상세하게 설명된다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명은 발명의 요지를 모호하지 않게 하기 위하여 생략된다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치(100)는, 연성인쇄회로기판(300)이 안착되는 시료 테이블(110); 상기 시료 테이블(110)의 일측에서 일정간격 이격되어 배치되며 상부에는 상기 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)와 접촉되는 검사회로기판(121)이 장착되는 회로기판 테이블(120); 상기 회로기판 테이블(120)의 상부에 배치된 메인실린더(131)에 의해 상하로 왕복운동가능한 가압플레이트(130); 상기 가압플레이트(130)의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)를 가압하며, 상기 가압플레이트(130)의 상부에 배치된 OBL 검사 실린더(141)에 의해 상하로 왕복운동가능한 제1가압편(140); 상기 제1가압편(140)과 일정간격 이격된 상태에서 상기 가압플레이트(130)의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)을 가압하며, 상기 제1가압편(140)과 마주하는 면에는 라운드면(151)이 형성된 제2가압편(150); 및 상기 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉되지 않는 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면 부위를 상향으로 가압하여 상기 OLB단부(310)를 상기 제2가압편(150)의 라운드면(151)과 접촉시켜 상기 라운드면(151)의 형성각도에 대응되게 휘어지도록 하는 밴딩부(200)를 포함한다.
상기 시료 테이블(110)과 회로기판 테이블(120)은 베이스(20)의 윗면에 구비된다.
그리고, 상기 시료 테이블(110)의 윗면에는 연성인쇄회로기판(300)과 대응되는 형상의 홈(미도시)이 형성되며, 이에 따라, 상기 홈으로 상기 연성인쇄회로기판(300)이 안착될 수 있다.
상기 회로기판 테이블(120)의 윗면에 장착되는 검사회로기판(121)은 상기 시료 테이블(110)의 홈에 안착된 연성인쇄회로기판(300)의 높이레벨보다 낮은 높이레벨높이를 가지며, 또한, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)와 접촉되는 상기 검사회로기판(121)의 접속부(121a)는 상기 시료 테이블(110)dl 배치된 방향으로 돌출되어 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)의 하부에 위치된다.
즉, 상기 시료 테이블(110)의 홈에 상기 연성인쇄회로기판(300)이 안착되면, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)는 상기 회로기판 테이블(120)가 배치된 방향으로 돌출되며, 아울러, 상기 검사회로기판(121)의 접속부(121a) 상부에 위치된다.
그리고, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1가압편(140)과 상기 제2가압편(150)은 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라, 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)와 몸체를 각각 가압한다.
즉, 상기 가압플레이트(130)가 하강되면, 상기 제1가압편(140)이 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 윗면을 가압하기 때문에, 상기 OLB단부(310)가 상기 검사회로기판(121)의 접속부(121)와 접촉되어 상기 연성인쇄회로기판(300)의 불량유무를 검사할 수 있다.
그리고, 상기 가압플레이트(130)가 하강되면, 상기 제2가압편(150)은 상기 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)의 몸체 윗면을 가압하여 상기 연성인쇄회로기판(300)이 시료 테이블(110)의 홈에서 유동되지 않도록 하는 역할을 한다.
또한, 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 제2가압편(150)이 연성인쇄회로기판(300)을 가압할 때, 상기 제2가압편(150)이 완충작용을 일으키면서 상기 연성인쇄회로기판(300)의 윗면을 가압할 수 있도록, 상기 제2가압편(150)과 상기 가압플레이트(130)를 연결시키는 샤프트(150a)에 압축 스프링(미도시)을 개재시키는 것이 바람직하다.
이에 따라, 상기 제2가압편(150)은 상기 샤프트(150a)에 내재된 압축 스프링에 의해, 연성인쇄회로기판(300)의 윗면에 손상을 주지 않고 상기 연성인쇄회로기판(300)을 가압할 수 있으며 또한, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 두께에 상관없이 시료 테이블(110)에서 상기 연성인쇄회로기판(300)이 유동되는 것을 방지시킬 수 있다.
상기와 같이, 압축 스프링에 의해 제2가압편(150)이 압축되거나 탄성적으로 원위치 복귀되는 구성은 일반 산업분야에서 널리 사용되는 공지의 기술이므로 본원발명의 명세서에는 그 구체적인 설명이 생략된다.
아울러, 상기 가압플레이트(130)를 상승 및 하강시키는 메인실린더(131)와 상기 제1가압편(150)을 상승 및 하강시키는 OLB 검사 실린더(1410)는 유압 및 공압에 의해 작동될 수 있음은 물론이며, 이와 같은 구성은 일반 산업분야에서 널리 사용되는 기술이므로 그 구체적인 설명이 생략된다.
상기 밴딩부(200)는, 상기 회로기판 테이블(120)에 안착된 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉되지 않는 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면 부위에 대응되는 위치에 배치되어 상기 시료 테이블(110) 및 상기 베이스(20)에 형성되는 가이드구멍(210); 상기 시료 테이블(110) 및 회로기판 테이블(120)의 하부에 배치된 도시되지 않은 동력원에 의해 상하로 왕복운동가능하며, 상기 가이드구멍(210)에 삽입된 상태에서 상기 OLB단부(310)의 저면부위를 상향으로 가압하여 상기 OLB단부(310)를 제2가압편(150)의 라운드면(151)의 형상에 따라 휘어지도록 하는 밴딩편(220)을 포함한다.
상기 가이드구멍(210)은 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)의 길이방향을 따라 형성되는 것이 바람직하다.
상기 밴딩편(220)의 기단은 실린더와 같은 동력원의 로드에 고정적으로 연결되고 그 선단은 상기 가이드구멍(210)에 삽입된 상태가 된다.
그리고, 상기 밴딩편(220)의 선단은 라운드 가공되는 것이 바람직하다.
왜냐하면, 상기 밴딩편(220)의 선단은 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)의 저면을 가압하는 부분으로서, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면이 파손되는 것을 방지하기 위함이다.
이와 같은 구성에 의해, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 OLB 검사 실린더(131)에 의해 상기 제1가압편(140)이 상승되면, 상기 밴딩편(220)이 상승되어 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면을 상향으로 가압한다.
그러면, 상기 OLB단부(310)가 휘어지면서 상기 제2가압편(140)의 라운드면(151)과 상기 OLB단부(310) 윗면이 서로 접촉된 상태가 되고, 이에 따라, 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)가 상기 라운드면(151)의 형성각도에 대응되게 밴딩될 수 있다
이하, 본 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치의 밴딩방법이 설명된다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치의 밴딩방법은, 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에 안착하는 단계(S100); 가압플레이트(130) 하강단계(S200); 상기 연성인쇄회로기판(300)의 검사단계(S300); 상기 가압플레이트(130)에 의해 하강 되었던 제1가압편(140)을 상승시키는 단계(S400); 밴딩부(200)의 밴딩편(220)을 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)를 밴딩시키는 밴딩단계(S500); 상기 밴딩편(220)을 하강시키는 단계(S600); 상기 가압플레이트(130)를 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에서 인출시키는 단계(S700)를 포함한다.
상기 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에 안착하는 단계(S100)에서는, 작업자가 검사되고자 하는 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)의 홈에 안착시키는 단계이다.
위와 같은 상태가 되면, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB 단부(310)는 상기 회로기판 테이블(120)에 구비된 검사회로기판(121)의 접속부(121a) 상부에 배치된다.
상기 가압플레이트(130) 하강단계(S200)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 단계(S100)에 의해서 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)이 상기 시료 테이블(110)에서 유동되는 것을 방지시킴과 동시에 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)를 상기 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉시키는 단계이다.
즉, 메인실린더(131)에 의해 상기 가압플레이트(130)가 하강되면 상기 가압플레이트(130)의 저면에 구비된 제1가압편(140)과 제2가압편(150)이 하강되고, 이때, 상기 제1가압편(140)은 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 윗면을 가압하고, 상기 제2가압편(140)은 상기 연성인쇄회로기판(300)의 몸체를 가압한다.
상기 연성인쇄회로기판(300) 검사단계(S300)는, 상기 단계(S200)에 의해서 검사준비를 마친 연성인쇄회로기판(300)을 검사하여 합격품과 불합격품을 구분하는 단계이다.
상기 제1가압편(140) 상승 단계(S400)는 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 단계(S300)에서 검사를 마친 연성인쇄회로기판(300)이 합격품일 경우에, OBL 검사 실린더(141)에 의해 상기 제1가압편(140)을 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)가 자유단이 되도록 하여 추후 단계에서 밴딩될 수 있도록 준비하는 단계이다.
상기 밴딩단계(S500)는 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 단계(S400)에 의해서 자유단이 된 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면부위를 향해 밴딩부(200)의 밴딩편(220)을 상승시켜 상기 OLB단부(310) 윗면과 상기 제2가압편(150)의 라운드면(151)을 서로 접촉시키는 단계이다.
즉, 상기 밴딩단계(S500)에서는, 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)가 상기 밴딩편(220)의 가압을 받아 상기 제2가압편(150)의 라운드면(151)과 접촉되고, 이때 상기 OLB단부(310)는 상기 라운드면(151)의 형성각도에 대응되는 각도록 밴딩된다.
여기에서, 상기 OLB단부(310)의 밴딩각도를 변경하고자 할 시에는, 상기 OLB단부(310)가 변경되고자 하는 각도에 대응되게 라운드면(151)이 형성된 가압편(150)을 별도로 교체하여 사용할 수 있음은 몰론이다.
그리고, 상기 밴딩편(220)을 하강시키는 단계(S600)는, 상기 단계(S500)에 의해서 OLB단부(310)가 밴딩된 연성인쇄회로기판(300)을 인출하기 위하여 상기 밴딩편(220)을 하강시켜 상기 OLB단부(310)가 더 이상 상기 밴딩편(220)에 의해 가압받지 않게 하는 단계이다.
마지막으로, 상기 가압플레이트(130)를 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에서 인출시키는 단계(S700)는, 밴딩작업을 마친 연성인쇄회로기판(300)을 상기 시료 테이블(110)에서 인출하기 위하여, 메인실런더(120)에 의해 상기 가압플레이트(130)를 상승시킨 뒤 상기 시료 테이블(110)의 홈에 안착된 연성인쇄회로기판(300)을 상기 홈에서 인출하는 단계이다.
상기와 같은 단계(S100~S700)들을 거치면, 도 7에 도시된 바와 같이, 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)가 상향으로 휘어지는 밴딩작업이 완료된다.
따라서, 본 발명의 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치 및 그 밴딩방법은, 연성인쇄회로기판(300)의 검사장치(100)에서 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 밴딩작업을 동시에 수행할 수 있으므로, 작업자가 별도의 밴딩장치나 손으로 상기 OLB단부(310)를 구부리는 번거로운 작업을 연성인쇄회로기판(300)의 검사작업 후 따로 실시하지 않아도 되는 효과를 제공하고, 이에 따라, 연성인쇄회로기판(300)의 생산공정이 간편화되어 제조비용 및 인건비가 절감된다는 효과도 제공하며, 또한, 상기 OLB단부(310)가 일정한 각도로 밴딩될 수 있다는 효과를 제공한다.
이상에서 설명한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형, 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것은 아니다.
110 : 시료 테이블 120 : 회로기판 테이블
130 : 가압플레이트 140 : 제1가압편
150 : 제2가압편 151 : 라운드면
200 : 밴딩부 210 : 가이드구멍
220 : 밴딩편 300 : 연성인쇄회로기판
310 : OLB단부

Claims (4)

  1. 연성인쇄회로기판(300)이 안착되는 시료 테이블(110);
    상기 시료 테이블(110)의 일측에서 일정간격 이격되어 배치되며 상부에는 상기 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)와 접촉되는 검사회로기판(121)이 장착되는 회로기판 테이블(120);
    상기 회로기판 테이블(120)의 상부에 배치된 메인실린더(131)에 의해 상하로 왕복운동가능한 가압플레이트(130);
    상기 가압플레이트(130)의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)를 가압하며, 상기 가압플레이트(130)의 상부에 배치된 OBL 검사 실린더(141)에 의해 상하로 왕복운동가능한 제1가압편(140);
    상기 제1가압편(140)과 일정간격 이격된 상태에서 상기 가압플레이트(130)의 저면에 구비되고, 상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)을 가압하며, 상기 제1가압편(140)과 마주하는 면에는 라운드면(151)이 형성된 제2가압편(150); 및
    상기 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉되지 않는 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면 부위를 상향으로 가압하여 상기 OLB단부(310)를 상기 제2가압편(150)의 라운드면(151)과 접촉시켜 상기 라운드면(151)의 형성각도에 대응되게 휘어지도록 하는 밴딩부(200)를 포함하는 것을 특징으로 하는 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 밴딩부(200)는,
    상기 회로기판 테이블(120)에 안착된 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉되지 않는 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면 부위에 대응되는 위치에 배치되어 상기 시료 테이블(110)과 베이스(20)에 형성되는 가이드구멍(210);
    상기 시료 테이블(110) 및 회로기판 테이블(120)의 하부에 배치된 동력원에 의해 상하로 왕복운동가능하며, 상기 가이드구멍(210)에 삽입된 상태에서 상기 OLB단부(310)의 저면부위를 상향으로 가압하여 상기 OLB단부(310)를 제2가압편(150)의 라운드면(151)의 형상에 따라 휘어지도록 하는 밴딩편(220)을 포함하는 것을 특징으로 하는 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 가압플레이트(130)의 하강에 따라 상기 제2가압편(150)이 연성인쇄회로기판(300)을 가압할 때, 상기 제2가압편(150)이 완충작용을 일으키면서 상기 연성인쇄회로기판(300)의 윗면을 가압할 수 있도록, 상기 제2가압편(150)과 상기 가압플레이트(130)를 연결시키는 샤프트(150a)에 압축 스프링이 개재되는 것을 특징으로 하는 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치.
  4. 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에 안착하는 단계(S100);
    상기 단계(S100)에 의해서 시료 테이블(110)에 안착된 연성인쇄회로기판(300)이 상기 시료 테이블(110)에서 유동되는 것을 방지시킴과 동시에 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)를 검사회로기판(121)의 접속부(121a)와 접촉시키기 위하여 가압플레이트(130)를 하강시키는 단계(S200);
    상기 단계(S200)에 의해서 검사준비를 마친 연성인쇄회로기판(300)을 검사하여 합격품과 불합격품을 구분하는 연성인쇄회로기판(300)의 검사단계(S300);
    상기 단계(S300)에서 검사를 마친 연성인쇄회로기판(300)이 합격품일 경우에, OBL 검사 실린더(141)에 의해 제1가압편(140)을 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310)가 자유단이 되도록 하여 추후 단계에서 밴딩될 수 있도록 준비하는 제1가압편(140) 상승단계(S400);
    상기 단계(S400)에 의해서 자유단이 된 상기 연성인쇄회로기판(300)의 OLB단부(310) 저면부위를 향해 밴딩부(200)의 밴딩편(220)을 상승시켜 상기 OLB단부(310) 윗면과 제2가압편(150)의 라운드면(151)을 서로 접촉시켜 밴딩시키는 밴딩단계(S500);
    상기 단계(S500)에 의해서 OLB단부(310)가 밴딩된 연성인쇄회로기판(300)을 인출하기 위하여 상기 밴딩편(220)을 하강시켜 상기 OLB단부(310)가 더 이상 상기 밴딩편(220)에 의해 가압받지 않게 하는 상기 밴딩편(220)을 하강시키는 단계(S600); 및
    상기 단계(S200)에서 하강되었던 가압플레이트(130)를 상승시켜 상기 연성인쇄회로기판(300)을 시료 테이블(110)에서 인출시키는 단계(S700)를 포함하는 것을 특징으로 하는 밴딩기능을 갖는 연성인쇄회로기판 검사장치의 밴딩방법.
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