JP2003149296A - プリント基板の検査治具 - Google Patents
プリント基板の検査治具Info
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- JP2003149296A JP2003149296A JP2001349589A JP2001349589A JP2003149296A JP 2003149296 A JP2003149296 A JP 2003149296A JP 2001349589 A JP2001349589 A JP 2001349589A JP 2001349589 A JP2001349589 A JP 2001349589A JP 2003149296 A JP2003149296 A JP 2003149296A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気信号を取り出すためのコンタクトピンに
於いて、プリント基板の高密度化に伴う狭ピッチのピン
コンタクト及び、前記コンタクトピンに於ける適切な接
触圧力の確保可能な検査治具構造の確立、あるいは、該
検査治具を安価、且つ短期間に製作を行える様な検査治
具構造にある。 【解決手段】 電子部品の小型化に伴うプリント基板の
高密度化に対し、圧力のコントロールされたコンタクト
ピンで狭ピッチのピンコンタクトが、容易、且つコンタ
クトピンのメンテナンス性を向上させた上に、フラック
ス等のゴミ対策も施した安価なプリント基板の検査治具
を提供する事にある。
於いて、プリント基板の高密度化に伴う狭ピッチのピン
コンタクト及び、前記コンタクトピンに於ける適切な接
触圧力の確保可能な検査治具構造の確立、あるいは、該
検査治具を安価、且つ短期間に製作を行える様な検査治
具構造にある。 【解決手段】 電子部品の小型化に伴うプリント基板の
高密度化に対し、圧力のコントロールされたコンタクト
ピンで狭ピッチのピンコンタクトが、容易、且つコンタ
クトピンのメンテナンス性を向上させた上に、フラック
ス等のゴミ対策も施した安価なプリント基板の検査治具
を提供する事にある。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】 本発明は、高密度な電子部
品搭載前のプリント基板単体及び、電子部品搭載後のプ
リント基板について、判定回路を有する電気検査機との
接触を容易にする端子構造に係わるものである。
品搭載前のプリント基板単体及び、電子部品搭載後のプ
リント基板について、判定回路を有する電気検査機との
接触を容易にする端子構造に係わるものである。
【０００２】
【従来の技術】 図３に示す如く、スプリングコンタク
トピンＡ３１、スプリングコンタクトピンＢ３２を下治
具ピンベース３７及び、上治具ピンベース３８に固定
し、プリント基板７から電気信号を取り出すことにより
検査を行う従来構造のプリント基板検査治具は、加工・
組立に対し多大な日数を必要とし、その結果、高密度プ
リント基板の検査治具費用増大につながっていた。さら
に、前記スプリングコンタクトピンＡ３１、スプリング
コンタクトピンＢ３２を狭ピッチに配置すべく直径を細
くした際は、接触圧力を上げることが、不可能となり、
検査の誤判定を招くため、近年の高密度プリント基板検
査用としては不適切な治具構造である。
トピンＡ３１、スプリングコンタクトピンＢ３２を下治
具ピンベース３７及び、上治具ピンベース３８に固定
し、プリント基板７から電気信号を取り出すことにより
検査を行う従来構造のプリント基板検査治具は、加工・
組立に対し多大な日数を必要とし、その結果、高密度プ
リント基板の検査治具費用増大につながっていた。さら
に、前記スプリングコンタクトピンＡ３１、スプリング
コンタクトピンＢ３２を狭ピッチに配置すべく直径を細
くした際は、接触圧力を上げることが、不可能となり、
検査の誤判定を招くため、近年の高密度プリント基板検
査用としては不適切な治具構造である。
【０００３】 図４に示す如く、近年の高密度プリント
基板検査に対応すべく、コンタクトピン６１を用いた治
具構造が考案されたが、該コンタクトピン６１の保持を
下治具表面プレート６７、下治具裏面プレート６９及
び、上治具表面プレート６８、上治具裏面プレート７０
各々２枚のプレートで保持し、プリント基板７と接触す
る部分と配線インターフェイスピン６２と接続する部分
に於いて、前記コンタクトピン６１は垂直に配置されて
いた。その結果、該コンタクトピン６１の前記プリント
基板７への接触圧力微調整が、不可能で、さらに、前記
コンタクトピン６１の抜き差し及び、組立性の向上は望
めない構造となり、検査治具も高価なものとなってい
た。
基板検査に対応すべく、コンタクトピン６１を用いた治
具構造が考案されたが、該コンタクトピン６１の保持を
下治具表面プレート６７、下治具裏面プレート６９及
び、上治具表面プレート６８、上治具裏面プレート７０
各々２枚のプレートで保持し、プリント基板７と接触す
る部分と配線インターフェイスピン６２と接続する部分
に於いて、前記コンタクトピン６１は垂直に配置されて
いた。その結果、該コンタクトピン６１の前記プリント
基板７への接触圧力微調整が、不可能で、さらに、前記
コンタクトピン６１の抜き差し及び、組立性の向上は望
めない構造となり、検査治具も高価なものとなってい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】 電気信号を取り出す
ためのコンタクトピンに於いて、プリント基板の高密度
化に伴う狭ピッチのピンコンタクト及び、前記コンタク
トピンに於ける適切な接触圧力の確保可能な検査治具構
造の確立、あるいは、該検査治具を安価、且つ短期間に
製作を行える様な検査治具構造にある。
ためのコンタクトピンに於いて、プリント基板の高密度
化に伴う狭ピッチのピンコンタクト及び、前記コンタク
トピンに於ける適切な接触圧力の確保可能な検査治具構
造の確立、あるいは、該検査治具を安価、且つ短期間に
製作を行える様な検査治具構造にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】 電子部品の小型化に伴
うプリント基板の高密度化に対し、圧力のコントロール
されたコンタクトピンで、狭ピッチのピンコンタクト
が、容易、且つコンタクトピンのメンテナンス性を向上
させた上に、フラックス等のゴミ対策も施した安価なプ
リント基板の検査治具を提供する事にある。
うプリント基板の高密度化に対し、圧力のコントロール
されたコンタクトピンで、狭ピッチのピンコンタクト
が、容易、且つコンタクトピンのメンテナンス性を向上
させた上に、フラックス等のゴミ対策も施した安価なプ
リント基板の検査治具を提供する事にある。
【０００６】
【発明の実施の形態】 図１に示す如く、コンタクトピ
ン１を下治具表面プレート９と下治具裏面プレート１３
及び、複数枚の下治具中間プレート１１にて各々任意の
角度でストレス無く保持させ、上下位置決めシャフト４
と上下位置決めブッシュ５で案内された上治具表面プレ
ート１０と上治具裏面プレート１４及び、複数枚の上治
具中間プレート１２で保持したコンタクトピン１をプリ
ント基板７の所定の検査ポイントへコンタクトピン１の
先端を当接させる。 コンタクトピン１から取り出した
電気信号を配線インターフェイスピン３にて中継し、検
査機に取り込む事により、プリント基板７の電気検査を
行う。
ン１を下治具表面プレート９と下治具裏面プレート１３
及び、複数枚の下治具中間プレート１１にて各々任意の
角度でストレス無く保持させ、上下位置決めシャフト４
と上下位置決めブッシュ５で案内された上治具表面プレ
ート１０と上治具裏面プレート１４及び、複数枚の上治
具中間プレート１２で保持したコンタクトピン１をプリ
ント基板７の所定の検査ポイントへコンタクトピン１の
先端を当接させる。 コンタクトピン１から取り出した
電気信号を配線インターフェイスピン３にて中継し、検
査機に取り込む事により、プリント基板７の電気検査を
行う。
【０００７】
【実施例】 図１及び、図２に本発明の実施例を説明す
る。検査動作前の状態では、図１に示す如く下治具表面
プレート９、複数枚の下治具中間プレート１１及び、下
治具裏面プレート１３をプレート保持ポスト１８にて各
々のプレート間隔を所定の寸法に保ちつつ、平面方向の
相対関係位置規制を行う。前記各々のプレート毎に異な
る座標値の穴明けを施し、コンタクトピン１を直線状に
ストレスの無い状態で任意の角度に保持し、プリント基
板７の下面側所定の接触ポイントへ前記コンタクトピン
１を導く。また、複数枚の前記下治具中間プレート１１
間に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラバー１７を
配置し、前記コンタクトピン１の脱落を防止する。さら
に、前記下治具表面プレート９の前記プリント基板７と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルム８を設け、前記プリント基板７に付着したフラック
ス及び、ゴミの検査治具内への進入を防止し、前記フラ
ックスガードフィルム８が、汚れ等により電気検査に支
障が、生じた際には、該フラックスガードフィルム８を
交換可能とした。
る。検査動作前の状態では、図１に示す如く下治具表面
プレート９、複数枚の下治具中間プレート１１及び、下
治具裏面プレート１３をプレート保持ポスト１８にて各
々のプレート間隔を所定の寸法に保ちつつ、平面方向の
相対関係位置規制を行う。前記各々のプレート毎に異な
る座標値の穴明けを施し、コンタクトピン１を直線状に
ストレスの無い状態で任意の角度に保持し、プリント基
板７の下面側所定の接触ポイントへ前記コンタクトピン
１を導く。また、複数枚の前記下治具中間プレート１１
間に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラバー１７を
配置し、前記コンタクトピン１の脱落を防止する。さら
に、前記下治具表面プレート９の前記プリント基板７と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルム８を設け、前記プリント基板７に付着したフラック
ス及び、ゴミの検査治具内への進入を防止し、前記フラ
ックスガードフィルム８が、汚れ等により電気検査に支
障が、生じた際には、該フラックスガードフィルム８を
交換可能とした。
【０００８】 次に、前記プリント基板７上面側の電気
信号取り出し用として上治具表面プレート１０、複数枚
の上治具中間プレート１２及び、上治具裏面プレート１
４により下治具側と同様に前記コンタクトピン１を保持
し構成する。
信号取り出し用として上治具表面プレート１０、複数枚
の上治具中間プレート１２及び、上治具裏面プレート１
４により下治具側と同様に前記コンタクトピン１を保持
し構成する。
【０００９】 また、上・下治具の平面方向相対関係位
置合わせとして、上下位置決めシャフト４と上下位置決
めブッシュ５を用いて、該上下位置決めシャフト４をス
プリング力で該上下位置決めブッシュ５に当接させる事
により行う。
置合わせとして、上下位置決めシャフト４と上下位置決
めブッシュ５を用いて、該上下位置決めシャフト４をス
プリング力で該上下位置決めブッシュ５に当接させる事
により行う。
【００１０】 検査動作状態は、図２に示す如くプリン
ト基板７に対しエアシリンダ等により、上下面各々のコ
ンタクトピン１が、当接することにより、各々の該コン
タクトピン１は、下治具中間プレート１１、上治具中間
プレート１２間で座屈が発生し、前記プリント基板７へ
の接触圧力となり、電気信号の取り出しを行う。
ト基板７に対しエアシリンダ等により、上下面各々のコ
ンタクトピン１が、当接することにより、各々の該コン
タクトピン１は、下治具中間プレート１１、上治具中間
プレート１２間で座屈が発生し、前記プリント基板７へ
の接触圧力となり、電気信号の取り出しを行う。
【００１１】 次に、前記プリント基板７の上面より取
り出した電気信号は、配線インターフェイスピン３同士
を配線接続し、上下インターフェイスピン２を介して下
治具側のコンタクトピン１で前記プリント基板７の下面
より取り出した電気信号と同様に、下治具側の配線イン
ターフェイスピン３を経由して検査機へ送り込み、前記
プリント基板７の良否判定を行う。
り出した電気信号は、配線インターフェイスピン３同士
を配線接続し、上下インターフェイスピン２を介して下
治具側のコンタクトピン１で前記プリント基板７の下面
より取り出した電気信号と同様に、下治具側の配線イン
ターフェイスピン３を経由して検査機へ送り込み、前記
プリント基板７の良否判定を行う。
【００１２】 尚、本発明に於ける中間プレート１１，
１２間でのコンタクトピン１の座屈は、３ヶ所に限ら
ず、該コンタクトピン１の直径あるいは、前記中間プレ
ート１１，１２の間隔及び、枚数を任意に設定すること
により、プリント基板７への接触圧をコントロール可能
である。
１２間でのコンタクトピン１の座屈は、３ヶ所に限ら
ず、該コンタクトピン１の直径あるいは、前記中間プレ
ート１１，１２の間隔及び、枚数を任意に設定すること
により、プリント基板７への接触圧をコントロール可能
である。
【００１３】 また、前記実施例は、配線の引き廻しに
より検査機へ電気信号の伝達を行っているが、プリント
配線板等の代用でも良く、全ての電気信号についても下
治具から検査機へ伝達しているが、上治具あるいは、下
治具各々より直接伝達も可能である。
より検査機へ電気信号の伝達を行っているが、プリント
配線板等の代用でも良く、全ての電気信号についても下
治具から検査機へ伝達しているが、上治具あるいは、下
治具各々より直接伝達も可能である。
【００１４】 さらに、プリント基板７は、電子部品
が、搭載された状態を示しているが、搭載前のプリント
基板７の単体検査用治具としても使用可能である。
が、搭載された状態を示しているが、搭載前のプリント
基板７の単体検査用治具としても使用可能である。
【００１５】 また、前記実施例は、電子部品の搭載さ
れたプリント基板７の検査時には、プリント基板受けポ
スト６にて、プリント基板７を受け止める構造を示して
いるが、電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレー
トにて、プリント基板７を受け止める構造でも良く、前
記電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレートに
は、静電気対策を施す事も可能である。
れたプリント基板７の検査時には、プリント基板受けポ
スト６にて、プリント基板７を受け止める構造を示して
いるが、電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレー
トにて、プリント基板７を受け止める構造でも良く、前
記電子部品の逃げ用座ぐり加工の施されたプレートに
は、静電気対策を施す事も可能である。
【００１６】 さらに、本発明の検査治具は、図３の従
来側に示したスプリングコンタクトピン３１，３２の混
載治具も可能である。
来側に示したスプリングコンタクトピン３１，３２の混
載治具も可能である。
【００１７】
【発明の効果】 本発明の検査治具に於いては、コンタ
クトピン１を直線状に保持しているため、組立時のコン
タクトピン１の挿入及び、メンテナンス時のコンタクト
ピン１の抜き差し交換を容易とし、コンタクトピン１の
交換時は治具を分解せずに行える。
クトピン１を直線状に保持しているため、組立時のコン
タクトピン１の挿入及び、メンテナンス時のコンタクト
ピン１の抜き差し交換を容易とし、コンタクトピン１の
交換時は治具を分解せずに行える。
【００１８】 さらに、フラックスガードフィルム８に
より、フラックス等のゴミによるコンタクトピン１の摺
動不良を抑え、仮にフラックス等が付着してもフラック
スガードフィルム８の交換により良好なピンコンタクト
を得る事が、可能である。
より、フラックス等のゴミによるコンタクトピン１の摺
動不良を抑え、仮にフラックス等が付着してもフラック
スガードフィルム８の交換により良好なピンコンタクト
を得る事が、可能である。
【００１９】 また、小径のコンタクトピン１による治
具構成である為、コンタクトピン１を狭ピッチに配置可
能となり、コンタクトピン１の接触圧力も治具プレート
枚数構成の可変により、調整可能であり、治具コストも
抑えられる。
具構成である為、コンタクトピン１を狭ピッチに配置可
能となり、コンタクトピン１の接触圧力も治具プレート
枚数構成の可変により、調整可能であり、治具コストも
抑えられる。
【図１】 本発明検査治具の実施例１に於ける検査動作
前の状態を示す側面図。
前の状態を示す側面図。
【図２】 実施例１に於ける検査動作状態を示す側面
図。
図。
【図３】 従来例１に於ける検査治具の側面図。
【図４】 従来例２に於ける検査治具の側面図。
１…コンタクトピン、
２…上下インターフェイスピン、
３…配線インターフェイスピン、
４…上下位置決めシャフト、
５…上下位置決めブッシュ、
６…プリント基板受けポスト、
７…プリント基板、
８…フラックスガードフィルム、
９…下治具表面プレート、
１０…上治具表面プレート、
１１…下治具中間プレート、
１２…上治具中間プレート、
１３…下治具裏面プレート、
１４…上治具裏面プレート、
１５…下治具配線プレート、
１６…上治具配線プレート、
１７…コンタクトピン保持ラバー、
１８…プレート保持ポスト、
１９…治具スペーサ、
３１…スプリングコンタクトピンＡ、
３２…スプリングコンタクトピンＢ、
３３…上下インターフェイスピンＡ、
３４…上下インターフェイスピンＢ、
３６…プリント基板受けコマ、
３７…下治具ピンベース、
３８…上治具ピンベース、
３９…上下位置決めシャフト、
４０…上下位置決めブッシュ、
４１…サポートポスト、
６１…コンタクトピン、
６２…配線インターフェイスピン、
６３…プリント基板受けポスト、
６４…上下位置決めシャフト、
６５…上下位置決めブッシュ、
６７…下治具表面プレート、
６８…上治具表面プレート、
６９…下治具裏面プレート、
７０…上治具裏面プレート、
７１…下配線プレート、
７２…上配線プレート、
７３…サポートポスト、
７４…治具スペーサ、
Claims (6)
- 【請求項１】 電気信号を取り出す為のコンタクトピン
を有したプリント基板の検査治具に於いて、前記コンタ
クトピンを案内させるための穴明が、施された複数枚の
治具プレートにて、該コンタクトピンを任意の角度でス
トレス無く直線状に保持し、プリント基板と前記治具プ
レートの相対関係が、近づく事により、前記コンタクト
ピンに座屈を発生させ、得た接触圧力で前記プリント基
板から電気信号を取り出し、配線インターフェイスピン
を中継することにより、検査機との接続を行える様にし
た事を特徴とするプリント基板の検査治具。 - 【請求項２】 前記コンタクトピンは、前記プリント基
板と接続する側から容易な抜き差しで、交換可能とした
請求項１に記載の検査治具。 - 【請求項３】 前記コンタクトピンは、前記複数枚の治
具プレート内に穴明けの施されたコンタクトピン保持ラ
バーが、配置された請求項１に記載の検査治具。 - 【請求項４】 前記治具プレートの前記プリント基板と
接する表面側に穴明けの施されたフラックスガードフィ
ルムが、配置された請求項１に記載の検査治具。 - 【請求項５】 前記複数枚の治具プレート間隔及び、枚
数の可変により前記コンタクトピンの接触圧調整が、可
能な請求項１に記載の検査治具。 - 【請求項６】 前記配線インターフェイスピンの替わり
に、プリント配線板により検査機との接続を可能とした
請求項１に記載の検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001349589A JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001349589A JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003149296A true JP2003149296A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19162236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001349589A Pending JP2003149296A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | プリント基板の検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003149296A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
| US8362793B2 (en) | 2006-11-07 | 2013-01-29 | Apple Inc. | Circuit boards including removable test point portions and configurable testing platforms |
| JP2013080888A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Hermes Testing Solutions Inc | 回路試験の探針カードと探針基板構造 |
| US8436636B2 (en) | 2006-10-10 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for testing circuit boards |
| KR101539006B1 (ko) * | 2014-02-12 | 2015-07-23 | 엘엠디지털 주식회사 | 인쇄회로기판 검사장치 |
| JP2015194476A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 沖電気工業株式会社 | 基板検査冶具および基板接続冶具 |
| CN110381669A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-10-25 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
-
2001
- 2001-11-15 JP JP2001349589A patent/JP2003149296A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
| US8436636B2 (en) | 2006-10-10 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for testing circuit boards |
| US8362793B2 (en) | 2006-11-07 | 2013-01-29 | Apple Inc. | Circuit boards including removable test point portions and configurable testing platforms |
| US9513314B2 (en) | 2006-11-07 | 2016-12-06 | Apple Inc. | Configurable testing platforms for circuit boards with removable test point portions |
| JP2013080888A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Hermes Testing Solutions Inc | 回路試験の探針カードと探針基板構造 |
| KR101539006B1 (ko) * | 2014-02-12 | 2015-07-23 | 엘엠디지털 주식회사 | 인쇄회로기판 검사장치 |
| JP2015194476A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 沖電気工業株式会社 | 基板検査冶具および基板接続冶具 |
| CN110381669A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-10-25 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
| CN110381669B (zh) * | 2019-06-17 | 2021-08-10 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种玻璃基电路板夹具 |
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