KR102189303B1 - 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그 - Google Patents

사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그 Download PDF

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Abstract

본 발명은 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사장치가 피 검사체를 검사할 때 피 검사장치의 측면으로 형성된 단자에 검사용 프로브를 수평하게 이송시켜 피 검사체의 단자를 검사장치와 회로연결시켜주기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 관한 것이다.
또한, 피검사체의 측면에서 검사용 프로브를 슬라이드 이송을 통해 수평 방향에서 접촉시켜 회로검사를 진행하기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 있어서, 베이스 플레이트의 상부에 상,하 이송 가능하게 배치되는 검사 플레이트와 상기 검사 플레이트의 내부에 배치되어, 검사 플레이트의 상면에 피 검사체을 올려놓은 후 하향으로 가압하면, 수평 방향으로 이송되는 슬라이드 이송부와 상기 슬라이드 이송부의 상부로 돌출되어, 수평 방향 이송에 의해 피 검사체의 측면에 접촉되는 검사용 프로브가 수평하게 배치된 프로브 어셈블리와 상기 검사 플레이트의 하향 이송 및 상기 슬라이드 이송부의 수평 이송에 의해 이송되었을 때, 프로브 어셈블리의 검사 프로브와 회로연결되도록 베이스 플레이트로부터 상향으로 돌출된 고정 프로브를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그{slide type jig for side contact}
본 발명은 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사장치가 피 검사체를 검사할 때 피 검사장치의 측면으로 형성된 단자에 검사용 프로브를 수평하게 이송시켜 피 검사체의 단자를 검사장치와 회로연결시켜주기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 관한 것이다.
일반적으로 전자기기는 각종 전자부품이 전기적으로 연결되어 회로로 구성되며, 제조과정에서 발생되는 회로 구성의 불량을 눈으로 찾기에는 어려움이 있었다.
이에 따라, 제조되는 회로와 연결하여 불량을 판단하기 위한 별도의 검사장치를 개발하게 되었으며, 회로와 검사장치를 단자를 통해 연결하여 회로의 전기적 연결에 대한 검사를 진행하였다.
이때, 회로기판은 완성된 전자기기의 회로기판이거나, 전자기기의 회로기판에 배치될 복수 개의 개별적인 부품의 회로기판일 수도 있다.
예를 들면, 무선통신 단말기의 회로기판이거나, 무선통신 단말기를 구성하는 디스플레이, 카메라모듈 등 개별적인 각 부품별로 제조과정에서 검사를 수행하게 된다.
즉, 완성된 형태뿐만 아니라, 제조과정 중에 각 부품별로 지속적인 검사를 수행하게 되는 것이다.
이때, 각 전자부품의 소켓을 통해 검사시스템이 전기적으로 연결되어 회로로 구성되어 검사를 수행하게 되며, 종래에는 한국등록특허 제10-1019417호 "카메라모듈 검사용 소켓"과 같이 작업자가 각 부품별을 안착시킨 덮개를 덮어 전기적으로 연결시키는 방법이 주로 사용되었다.
반면, 이와 같은 장치는 상,하로 프로브를 접촉시키는 구조로써, 최근 측면에 단자가 형성된 전자부품의 검사에는 적합하지 않은 문제점이 있었다.
이에 따라, 도 1에 도시된 바와 같이, 하부에 배치되는 베이스 플레이트(13)로부터 상,하 이송동작되는 검사 플레이트(12)의 상부에 피 검사체를 올려놓은 후 하향으로 가압하면, 검사 플레이트(12)의 내부에 배치된 슬라이드 이송부(14)가 수평 이송되며, 이송되는 슬라이드 이송부(14)의 외부로 돌출된 프로브 어셈블리(11)가 수평하게 배치된 검사용 프로브(1)를 피 검사체의 단자에 접촉시키는 형태로 피 검사체를 검사장치에 회로연결시키는 지그가 개발되었다.
반면, 종래의 지그에 사용되는 프로브 어셈블리(11)는 0.5mm 이하의 극히 얇은 검사용 프로브(1)를 용접하여 지지체(3)에 고정시키고 있으나, 극히 얇은 검사용 프로브(1)는 용접에 의한 고열에 쉽게 변형되어 불량률이 높은 문제점이 있었다.
또한, 검사용 프로브(1)를 검사장치와 회로연결하기 위한 통전 클립(2)은 양측에 배치되는 고정판(4)에 의해 고정되는 구조로 제조되고 있으나, 고정판(4)의 크기가 1mm 내외의 폭을 가질 정도로 매우 작아 가공이 어려운 문제점이 있었다.
특히, 고정판(4)을 고정시켜주기 위한 고정나사(5)는 더욱 작아, 전반적으로 생산성이 매우 떨어지고, 단가가 높은 문제점이 있었다.
또한, 상기 고정판(4)이 검사장치와 전선이나, FPCB를 통해 회로연결됨에 따라, 전선이나, FPCB가 슬라이드 이송부(14)의 수평 이송 동작을 방해하고, 반복사용에 따라 단선이 발생되는 문제점이 있었다.
또한, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 검사 플레이트(12)가 하강할 때, 원기둥 형태로 상부에 곡면이 형성된 슬라이드 핀(6)이 슬라이드 이송부(14)의 경사면(6a)을 따라 경사 홀(6b)에 삽입되면서 검사 플레이트(12)의 내부에 배치된 슬라이드 이송부(14)가 수평하게 일측으로 일정거리 수평 이송되도록 구성되었으나, 슬라이드 이송부(14)의 경사면(6a)에 슬라이드 핀(6)이 점 접촉하도록 구성되어, 편마모가 발생률이 높은 문제점이 있었다.
또한, 슬라이드 핀(6)과 슬라이드 이송부(14)를 탄성지지하는 탄성체(15)가 일측으로 몰려서 배치되고, 피 검사체와 접촉하는 프로브 어셈블리(11)는 타측 단부에 배치되어, 슬라이드 이송부(14)의 수평동작에 따라 프로브 어셈블리(11)가 좌,우로 흔들리는 문제점이 있었다.
또한, 탄성체가 슬라이드 이송부(14)의 외부로 배치되어, 슬라이드 이송부(14)를 원 위치로 리턴시키기 위한 구조가 차지 공간이 커서 공간적인 제약이 있었다.
한국등록특허 제10-1019417호 "카메라모듈 검사용 소켓"
본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 검사용 프로브를 보다 안정적으로 수평하게 이송시켜 피 검사체의 단자에 접촉시키기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 프로브 어셈블리의 조립성, 내구성, 동작 안정성을 향상 시키기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그는 피 검사체의 측면에서 검사용 프로브를 슬라이드 이송을 통해 수평 방향에서 접촉시켜 회로검사를 진행하기 위한 슬라이드형 지그에 있어서, 베이스 플레이트의 상부에 상,하 이송 가능하게 배치되는 검사 플레이트와 상기 검사 플레이트의 상면에 피 검사체를 올려놓은 후 하향으로 가압하면, 하향으로 이송되는 검사 플레이트의 내부에서 수평 방향으로 이송되는 슬라이드 이송부와 상기 슬라이드 이송부의 상부로 돌출되어, 수평 방향 이송에 의해 피 검사체의 측면에 접촉되는 검사용 프로브가 수평하게 배치된 프로브 어셈블리와 상기 검사 플레이트의 하향 이송 및 상기 슬라이드 이송부의 수평 이송에 의해 이송되었을 때, 프로브 어셈블리의 검사용 프로브와 회로연결되도록 베이스 플레이트로부터 상향으로 돌출된 고정 프로브를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 슬라이드 이송부는 탄성체에 의해 타측 방향으로 탄성지지되되, 베이스 플레이트로부터 상향으로 돌출된 슬라이드 핀의 일측으로 형성된 경사면에 면접촉한 상태로 검사 플레이트의 하향 이송에 의해 경사면을 따라 일측 방향으로 수평하게 이송되는 것을 특징으로 한다.
또한, 슬라이드 이송부는 일측 단부에 일측 방향으로 검사용 프로브가 향하도록 프로브 어셈블리가 배치되고, 중심보다 일측 방향으로 치우져진 위치를 상기 슬라이드 핀의 경사면이 접촉하여 슬라이드 이송부를 이송토록 구성되되, 상기 탄성체는 슬라이드 이송부의 타측 단부로 치우져진 위치에서 슬라이드 이송부를 타측 방향으로 탄성지지함으로써, 상기 슬라이드 핀에 의한 수평이송시 검사용 프로브의 좌,우 흔들림이 방지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 프로브 어셈블리는 몸체의 하부에서 나사결합을 통해 체결되어 몸체를 수평하게 관통하도록 배치된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 고정 프로브의 상부에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 고정 프로브의 상부에 배치되는 탄성 단자부를 더 포함하며, 상기 프로브 어셈블리는 몸체의 하부에서 나사결합을 통해 체결되어 몸체를 수평하게 관통하도록 배치된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 탄성 단자부의 상부에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 프로브 어셈블리는 슬라이드 이송부에 고정부재를 통해 고정되기 위한 고정 홀이 양측에 수직하게 배치된 수직 몸체와 상기 수직 몸체의 상단에 배치되어 검사용 프로브가 관통하여 삽입되는 삽입 홀이 수평하게 배치되고, 하부에서 삽입 홀까지 관통된 체결 홀이 수직하게 형성된 수평 몸체와 상기 체결 홀에 나사결합을 통해 체결되어 삽입 홀에 삽입된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 고정 프로브가 하단에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 의하면, 슬라이드 핀의 경사면이 슬라이드 이송부에 면접촉하여 수평 이송시킴으로써, 검사용 프로브를 보다 안정적으로 수평하게 이송시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 의하면, 검사용 프로브가 프로브 어셈블리에 수평하게 삽입된 후 통전부에 의해 고정됨으로써, 별도의 용접이 필요없고, 구조가 간단하여 조립성, 내구성, 동작 안정성을 크게 향상 시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래의 측면 검사용 지그를 도시한 사시도.
도 2는 종래의 측면 검사용 지그의 슬라이드 이송부를 도시한 종단면도.
도 3은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그를 도시한 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 슬라이드 이송부를 도시한 사시도.
도 5는 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 프로브 어셈블리를 도시한 사시도.
도 6은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 다른 실시예에 따른 슬라이드 이송부를 도시한 사시도.
도 7은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 동작을 도시한 종단면도.
도 8은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 또 다른 실시예에 따른 동작을 도시한 종단면도.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에서 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.
제1 또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 벗어나지 않은 채, 제1 구성 요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고 유사하게 제2구성 요소는 제1구성 요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성 요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는 중간에 다른 구성 요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성 요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로서, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 본 명세서에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 나타낸다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그를 도시한 사시도이며, 도 4는 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 슬라이드 이송부를 도시한 사시도이고, 도 5는 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 프로브 어셈블리를 도시한 사시도이며, 도 6은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 다른 실시예에 따른 슬라이드 이송부를 도시한 사시도이고, 도 7은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 동작을 도시한 종단면도이며, 도 8은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 또 다른 실시예에 따른 동작을 도시한 종단면도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그는 상부의 안착부(12a)에 올려지는 피 검사체의 측면에서 검사용 프로브가 배치된 적어도 하나 이상의 프로브 어셈블리(11)를 슬라이드 이송을 통해 수평 방향에서 접촉시켜 회로검사를 진행하기 위한 것이다.
보다 상세하게는, 도 3 또는 도 4에 도시된 바와 같이, 판상의 베이스 플레이트(13)의 상부에 수직하게 배치된 복수 개의 이송 가이드(13a)를 따라 상,하 이송 가능하게 배치되는 검사 플레이트(12)와 상기 검사 플레이트(12)의 상면에 피 검사체를 올려놓은 후 하향으로 가압하면, 하향으로 이송되는 검사 플레이트(12)의 내부에서 수평 방향으로 이송되는 슬라이드 이송부(14)와 상기 슬라이드 이송부(14)의 상부로 돌출되어, 수평 방향 이송에 의해 피 검사체의 측면에 접촉되는 검사용 프로브(1)가 수평하게 배치된 프로브 어셈블리(11)와 상기 검사 플레이트(12)의 하향 이송 및 상기 슬라이드 이송부(14)의 수평 이송에 의해 이송되었을 때, 프로브 어셈블리(11)의 검사용 프로브(1)와 회로연결되도록 베이스 플레이트(13)로부터 상향으로 돌출된 고정 프로브(16)를 포함하여 구성된다.
상기 검사 플레이트(12)의 상,하 이송 동작에 의해 검사 플레이트(12)의 내부에서 수평하게 이송되는 슬라이드 이송부(14)는 탄성체(15)에 의해 타측 방향으로 탄성지지되되, 베이스 플레이트(13)로부터 상향으로 돌출된 슬라이드 핀(6)의 일측으로 형성된 경사면(6c)에 면접촉한 상태로 검사 플레이트(12)의 하향 이송에 의해 경사면(6c)을 따라 미끄러지며 일측 방향으로 수평하게 이송되어 일측의 프로브 어셈블리(11)에 돌출되도록 배치된 검사용 프로브(1)를 피 검사체의 측면 단자에 접촉시키게 되며, 동작 형태에 대해서는 아래에서 보다 상세하게 설명한다.
또한, 도 4 또는 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 프로브 어셈블리(11)는 슬라이드 이송부(14)에 고정부재(18)를 통해 고정되기 위한 고정 홀(18a)이 양측에 수직하게 배치된 수직 몸체(11a)와 상기 수직 몸체(11a)의 상단에 배치되어 검사용 프로브(1)가 관통하여 삽입되는 삽입 홀(11c)이 수평하게 배치된 수평 몸체(11b)로 구성될 수 있으며, 상기베이스 플레이트(13)로부터 상향으로 돌출된 고정 프로브(16)가 프로브 어셈블리(11)의 검사용 프로브(1)에 직접적으로 접촉하게 된다.
또는, 상기 프로브 어셈블리(11)는 슬라이드 이송부(14)에 고정부재(18)를 통해 고정되기 위한 고정 홀(18a)이 양측에 수직하게 배치된 수직 몸체(11a)와 상기 수직 몸체(11a)의 상단에 배치되어 검사용 프로브(1)가 관통하여 삽입되는 삽입 홀(11c)이 수평하게 배치되고, 하부에서 삽입 홀(11c)까지 관통된 체결 홀이 수직하게 형성된 수평 몸체(11b)와 상기 체결 홀에 나사결합을 통해 체결되어 삽입 홀(11c)에 삽입된 검사용 프로브(1)를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 상,하 이송에 따라 상기 고정 프로브(16)가 하단에 접촉 또는 해제되는 통전부(17)를 포함하도록 구성될 수도 있다.
즉, 상기 검사 플레이트(12)의 상,하 이송에 따라 수평하게 이송되는 슬라이드 이송부(14)의 수평 동작과 함께 상기 검사용 프로브(1)는 피 검사체의 측면에 배치된 단자에 접촉(회로연결) 또는 이격(해제)되고, 검사용 프로브(1)를 가압고정시키는 통전부(17)가 베이스 플레이트(13)에 배치되어 검사장치와 회로연결된 고정 프로브(16)와 접촉(회로연결) 또는 이격(해제)되는 것이다.
다른 실시예로써, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 슬라이드 이송부(14)는 일측 단부가 양측으로 돌출부가 형성되고, 각 돌출부에 프로브 어셈블리(11)가 고정되는 형태로 복수 개의 프로브 어셈블리(11)의 검사용 프로브(1)가 검사 플레이트(12) 및 슬라이드 이송부(14)의 동작에 의해 피 검사체와 고정 프로브(16)에 회로연결되도록 구성될 수도 있다.
또한, 도 4 또는 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 슬라이드 이송부(14)는 일측 단부에 일측 방향으로 검사용 프로브(1)가 향하도록 프로브 어셈블리(11)가 배치되고, 중심보다 일측 방향으로 치우져진 위치를 상기 슬라이드 핀(6)의 경사면(6c)이 접촉하여 슬라이드 이송부(6)를 이송토록 구성되되, 상기 탄성체(15)는 슬라이드 이송부(14)의 타측 단부로 치우져진 위치에서 슬라이드 이송부(14)를 타측 방향으로 탄성지지함으로써, 상기 슬라이드 핀(6)에 의한 수평이송시 검사용 프로브(1)의 좌,우 흔들림이 방지되도록 구성됨이 바람직하다.
또한, 탄성체(15)가 슬라이드 이송부(14)의 내부에 배치되어, 컴팩트한 구조를 가짐에 따라, 슬라이드 이송부(14)를 원 위치로 리턴시키기 위한 구조가 차지 공간을 크게 축소시킬 수 있어 효율적으로 공간을 활용할 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 동작을 도시한 것이며, 피 검사체(100)가 상부에 올려진 검사 플레이트(12)가 하향으로 이송되면, 하부에 배치된 베이스 플레이트(13)의 상부로 돌출된 슬라이드 핀(6)의 일측 경사면을 따라 슬라이드 이송부(14)가 미끄러지면서 탄성체(15)에 의해 타측으로 탄성지지되던 슬라이드 이송부(14)가 일측으로 이송되고, 슬라이드 이송부(14)의 일측에 배치된 프로브 어셈블리(11)의 검사용 프로브(1)가 피 검사체(100)의 측면 단자에 접촉하게 된다.
이때, 상기 검사 플레이트(12)의 하향 이송 및 슬라이드 이송부(14)의 수평이송에 의해 이송된 프로브 어셈블리(11)의 통전부(17)는 베이스 플레이트(13)로부터 상향으로 돌출되도록 배치된 고정 프로브(16)와 접촉하게 됨으로써, 고정 프로브(16)와 회로연결된 검사장치가 통전부(17) 및 검사용 프로브(1)를 통해 피 검사체(100)의 단자와 회로연결되어 검사가 실시될 수 있게 된다.
도 8은 본 발명에 따른 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그의 또 다른 실시예에 따른 동작을 도시한 것이며, 또한, 상기 고정 프로브(16)의 상부에 배치되는 탄성 단자부(18)를 더 포함하여, 고정 프로브(16)가 수평이송 및 수직 이송이 복합적으로 이루어지는통전부(17)와 직접적으로 접촉하지 않고, 탄성 단자부(18)를 통해 간접적으로 접촉하도록 구성되어, 고정 프로브(16)의 마모 및 손상을 방지하도록 구성될 수도 있다.
이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.
1 : 검사용 프로브
2 : 통전 클립
3 : 지지체
4 : 고정판
5 : 고정나사
6 : 슬라이드핀
11 : 프로브 어셈블리
12 : 검사 플레이트
13 : 베이스 플레이트
14 : 슬라이드 이송부
15 : 탄성체
16 : 고정 프로브
17 : 통전부
18 : 탄성 단자부
100 : 피 검사체

Claims (6)

  1. 피 검사체의 측면에서 검사용 프로브를 슬라이드 이송을 통해 수평 방향에서 접촉시켜 회로검사를 진행하기 위한 사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그에 있어서,
    베이스 플레이트의 상부에 상,하 이송 가능하게 배치되는 검사 플레이트와;
    상기 검사 플레이트의 상면에 피 검사체를 올려놓은 후 하향으로 가압하면, 하향으로 이송되는 검사 플레이트의 내부에서 수평 방향으로 이송되는 슬라이드 이송부와;
    상기 슬라이드 이송부의 상부로 돌출되어, 수평 방향 이송에 의해 피 검사체의 측면에 접촉되는 검사용 프로브가 수평하게 배치된 프로브 어셈블리와;
    상기 검사 플레이트의 하향 이송 및 상기 슬라이드 이송부의 수평 이송에 의해 이송되었을 때, 프로브 어셈블리의 검사용 프로브와 회로연결되도록 베이스 플레이트로부터 상향으로 돌출된 고정 프로브를 포함하는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 슬라이드 이송부는
    탄성체에 의해 타측 방향으로 탄성지지되되, 베이스 플레이트로부터 상향으로 돌출된 슬라이드 핀의 일측으로 형성된 경사면에 면접촉한 상태로 검사 플레이트의 하향 이송에 의해 경사면을 따라 일측 방향으로 수평하게 이송되는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.
  3. 제 2항에 있어서,
    슬라이드 이송부는
    일측 단부에 일측 방향으로 검사용 프로브가 향하도록 프로브 어셈블리가 배치되고, 중심보다 일측 방향으로 치우져진 위치를 상기 슬라이드 핀의 경사면이 접촉하여 슬라이드 이송부를 이송토록 구성되되,
    상기 탄성체는 슬라이드 이송부의 타측 단부로 치우져진 위치에서 슬라이드 이송부를 타측 방향으로 탄성지지함으로써, 상기 슬라이드 핀에 의한 수평이송시 검사용 프로브의 좌,우 흔들림이 방지되는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 프로브 어셈블리는
    몸체의 하부에서 나사결합을 통해 체결되어 몸체를 수평하게 관통하도록 배치된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 고정 프로브의 상부에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 고정 프로브의 상부에 배치되는 탄성 단자부를 더 포함하며,
    상기 프로브 어셈블리는
    몸체의 하부에서 나사결합을 통해 체결되어 몸체를 수평하게 관통하도록 배치된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 탄성 단자부의 상부에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 프로브 어셈블리는
    슬라이드 이송부에 고정부재를 통해 고정되기 위한 고정 홀이 양측에 수직하게 배치된 수직 몸체와;
    상기 수직 몸체의 상단에 배치되어 검사용 프로브가 관통하여 삽입되는 삽입 홀이 수평하게 배치되고, 하부에서 삽입 홀까지 관통된 체결 홀이 수직하게 형성된 수평 몸체와;
    상기 체결 홀에 나사결합을 통해 체결되어 삽입 홀에 삽입된 검사용 프로브를 상향으로 가압하여 고정시키되, 상기 검사 플레이트의 이송에 따라 상기 고정 프로브가 하단에 접촉 또는 해제되는 통전부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
    사이드 컨텍을 위한 슬라이드형 지그.


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