JPH0755890A - 部品実装基板の検査装置 - Google Patents

部品実装基板の検査装置

Info

Publication number
JPH0755890A
JPH0755890A JP5220710A JP22071093A JPH0755890A JP H0755890 A JPH0755890 A JP H0755890A JP 5220710 A JP5220710 A JP 5220710A JP 22071093 A JP22071093 A JP 22071093A JP H0755890 A JPH0755890 A JP H0755890A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
plate
substrate
connector
spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5220710A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinjiro Sumi
信二郎 角
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UIRUTETSUKU KK
Original Assignee
UIRUTETSUKU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by UIRUTETSUKU KK filed Critical UIRUTETSUKU KK
Priority to JP5220710A priority Critical patent/JPH0755890A/ja
Publication of JPH0755890A publication Critical patent/JPH0755890A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 接触・導通が確実であって、信号の種類に拘
わらず安定・確実な検査を行うことができ、しかも実装
密度の高度化に対処容易なものを提供する。 【構成】 押圧手段によって押動される押動板1と基板
6に最初に係止する係止板5との間隔が変更可能となる
ように構成されており、かつ、これらの間にばね4が介
装されており、基板6側との接触・導通時の衝撃力が吸
収される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、基板に実装された各
種部品やこれら部品の接続状態さらにはこれらの部品と
これらの部品が実装されている基板との動作機能を検査
する部品実装基板の検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】基板に実装された各種電気部品やこれら
の電気部品間の配線等による電気的接続状態を検査する
手段として、各種装置(テスター)が開発されている。
このような検査装置として、例えば図5に示すように、
検査すべき基板100に実装されたコネクタ101のリ
ード端子101Aやテストパッド(図略)を支承するプ
ローブ102を取付けた下基板103と、図示外の押圧
手段によって押動(押下)される押え棒104を取付け
た上板105とを備えたものが知られている。即ち、こ
の検査装置では、基板100をセットしたのち、上板1
05を押動押下すると、図6に示すように基板100が
上板105と下板103との間に固定されると共に、内
部のばね(図略)が圧縮され収縮することによりプロー
ブ102やテストパッドがリード端子101Aに接触・
導通し、検査用の電気信号が入出力されるようになって
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
構成の検査装置にあっては、 プローブ先端の鋭利な部分でリード端子やテストパッ
ドに接触するので、基板裏面に付着したフラックスのた
め接触不良をおこしやすいこと、 プローブを介して検査側の電気配線が行われているか
ら、信号線がその分長くなり、特に高周波数の信号伝送
が不安定になること、 プローブ寄りの配線数が多くなり、製造コスト高を招
くこと、 実装密度の高度化に伴い、プローブでの接触には物理
的に限界があること等の欠点を生じている。 そこで、この発明は、上記した事情に鑑み、接触導通及
び導通解除が容易かつ確実であって、信号の種類に拘わ
らず安定・確実な検査を行うことができ、しかも実装密
度の高度化に対処容易な部品実装基板の検査装置を低コ
ストで提供することを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】即ち、この発明は、基板
に実装された各種部品やこれらの部品の接続状態或はこ
れらの部品とこれらの部品が実装されている基板との動
作機能を検査する部品実装基板の検査装置であって、前
記基板に設けた各種コネクタに挿抜可能なコネクタを備
えた取付部材及び/又は端子を備えた小基板を押動板に
取付けると共に、前記押動板にスライド自在に、かつば
ねによって離間する方向に弾性力を付勢された状態で取
付けた係止板を備え、前記検査時に、押圧手段により押
動される押動板と共に係止板が前記基板に向けて前進し
て基板に係止板の一部が係止したのちばねの弾性力に抗
して押動板のみが前進し、前記押動板側のコネクタ及び
/又は小基板の端子が前記基板側の各種コネクタに接触
嵌合して導通されると共に、検査完了後の導通解除の際
に前記押動側のコネクタ及び/又は小基板の端子が前記
基板側の各種コネクタとの嵌合状態から脱出するときの
脱出力として前記ばねの弾性力を利用するように構成し
たものである。
【0005】
【作用】基板上の実装部品やこれらの部品の接続状態を
検査する場合には、押圧手段によって押動される押動板
と共に係止板が基板に向けて前進し、基板面に係止板の
一部が係止して係止板の前進動作が停止したのち、ばね
の弾性力に抗して押動板のみが前進し、この押動板側に
固定されたコネクタ及び/又はカード端子が基板側のコ
ネクタに接触し導通する。
【0006】
【実施例】以下この発明の一実施例について添付図面を
参照しながら説明する。図1はこの発明に係る部品実装
基板の検査装置を示すものであり、この検査装置は、図
示外の押動手段(例えばシリンダ等を用いたプレス機
構)によって検査すべき基板6側に向けて進退する押動
板1と、この押動板1に設けたコネクタ2及び小基板の
接栓子(端子)3と、この押動板1に対しばね4を介し
てスライド自在に取付けられた係止板5とを備えてい
る。
【0007】押動板1には、取付部材11Aを介して直
立状態に取付けられた小基板12Aの一端面が係止板5
の挿通孔5Aを貫通して突出すると共に、この小基板1
2の一端面に検査導通用のコネクタ2が取付けられてい
る。同じように、この押動板1には、取付部材11Bを
介して取付けられ係止板5の挿通孔5Bを貫通して突出
する別の小基板12Bの一端側両面に、検査導通用の接
栓子3が設けれらている。
【0008】この実施例のコネクタ2には、図2に示す
ように、底部にピン孔21が穿設されていると共に、後
に説明する基板6側のコネクタ8Aに設けたピン81が
接触する板ばね状の電極22が内設されており、挿入す
るピン81が確実に接触できるようになっている。
【0009】また、この実施例の接栓子3は、図3に示
すように小基板12Bに設けた銅箔等のプリント配線部
にロジウムや金等でメッキを施した多層膜構造になって
おり、基板6側のコネクタ8Bに内設した板ばね状の電
極82に確実に接触できるようになっている。
【0010】係止板5は、押動板1との間隔を自由に変
更できるような状態に取付けられており、この実施例で
は係止板5がスライドシャフト9に螺着されていると共
に、押動板1に開口したスライド孔1Aにスライドシャ
フト9がスライド自在に挿通されているが、この実施例
とは逆に、つまりスライドシャフトに対して係止板側を
スライドさせ、押動板側をスライドシャフトに螺着させ
るように構成してもよい。
【0011】また、この係止板5と押動板1との間に
は、これら双方を普段は最大限に離間した状態にしてお
くと共に、コネクタ2や接栓子3が基板6側のコクネタ
8A,8Bへの嵌合状態から離脱するときの脱出力とな
るためのばね4が設けられている。なお、このばね4
は、スライドシャフト9に周設するような状態で取付け
ておいてもよい。さらにこの係止板5には、押動手段で
前進(降下)する際に、押動板1に先立って基板6に係
止して係止板5を固定させる複数の係止突起51が係止
板5から同一寸法だけ突出した状態に設けられている。
【0012】基板6は、検査台T等の上に不動状態で固
定された固定板7に対してガイドピン71等を介して定
位置に正しく支承・保持されている。
【0013】従って、この実施例によれば、図1の状態
から押動手段である図示外のプレス機構等により押動板
1を下方へ押下すると、図4に示すようにまず係止板5
の係止部材51の先端面が基板6に係止するので、係止
板5の降下動作が停止する。そのため押動板1のみがば
ね4を圧縮させる状態で降下するので、つまり図5に示
すようにこの押動板1に固定されているコネクタ2や接
栓子3は、ばね4による弾性力が作用して下方側、即ち
基板6に実装されたコネクタ8A,8Bとの嵌合力を高
める方向に押圧され、そのためコネクタ2や接栓子3が
コクネタ8A,8Bに確実にしっかりと嵌合される。
【0014】このようにして、コネクタ2とコネクタ8
Aや小基板12Bの接栓子3とコネクタ8Bとが接触・
導通し、基板6に実装された各種電気部品(図略)やこ
れら電気部品の接続状態等が検査されることとなる。ま
た検査後には、まずプレス機構等の押動手段による押動
板1への押下動作を解除する。すると、図4に示すよう
に、係止板5はばね4の力で押圧され、係止部材51が
基板6に接触した状態のまま、ばね4の弾性的復元力
で、コネクタ2や接栓子3がコネクタ8A,8Bから容
易かつ確実に脱出できる。これにより、コネクタ2や接
栓子3に対してコネクタ8A,8Bとの嵌合状態を簡単
に解除させることができる。なお、押動板1と係止板5
との間にばね4が設けられているので、プレス機構等の
押動手段による押圧力が多少大き過ぎても、ばね4で吸
収できるので基板6を破損する虞れがなく、また押動ス
トロークが多少大きくとも同様にばね4で吸収させる効
果も得られる。
【0015】
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
れば、基板上の実装部品やこれらの部品の接続状態を検
査する場合には、押圧手段によって押動される押動板と
共に係止板が基板に向けて前進し、基板面に係止板の一
部が係止して係止板の前進動作が停止したのち、ばねの
弾性力に抗して押動板のみが前進し、この押動板側に固
定されたコネクタ及び/又は小基板の端子が基板側のコ
ネクタに接触し導通するので、フラックス等に伴う接触
不良を一掃できると共に、信号線長が最小ですむので特
に高周波信号も安定して伝送させることができ、さらに
実装密度の高度化にも充分対処できる効果がある。
【0016】さらに、この発明によれば、検査すべき基
板側には特に専用の配線を必要としないので、製造コス
トの増大も防止でき、しかも検査時にコネクタや小基板
が基板側のコネクタへの嵌合の際の衝撃力をばねによっ
て吸収できるので、検査に伴う基板の破損等も防止する
ことができる。しかも、この発明によれば、ばねの弾性
力を嵌合力として利用して押動板側のコネクタ及び/又
は小基板の端子を検査すべき基板側の各コネクタと容
易、かつ、確実に嵌合させることができるばかりか、そ
のばねの弾性力を脱出力として利用し、これらの嵌合状
態を容易、かつ、確実に解除させることが可能となって
いるから、信頼度の高い検査装置が提供できる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す概略断面図。
【図2】基板側のコネクタと検査装置側のコネクタとの
関係を示す断面図。
【図3】基板側のコネクタと検査装置側の小基板との関
係を示す断面図。
【図4】嵌合直前及び検査後の嵌合解除時の動作を示す
説明図。
【図5】検査時の嵌合状態を示す概略断面図。
【図6】従来の検査装置を示す要部断面図。
【図7】従来の検査装置を示す要部断面図。
【符号の説明】
1 押動板 2 コネクタ(検査装置側) 3 接栓子(検査装置側) 4 ばね 5 係止板 6 基板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に実装された各種部品やこれらの部
    品の接続状態或はこれらの部品とこれらの部品が実装さ
    れている基板との動作機能を検査する部品実装基板の検
    査装置であって、 前記基板に設けた各種コネクタに挿抜可能なコネクタを
    備えた取付部材及び/又は端子を備えた小基板を押動板
    に取付けると共に、 前記押動板にスライド自在に、かつばねによって離間す
    る方向に弾性力を付勢された状態で取付けた係止板を備
    え、 前記検査時に、押圧手段により押動される押動板と共に
    係止板が前記基板に向けて前進して基板に係止板の一部
    が係止したのちばねの弾性力に抗して押動板のみが前進
    し、前記押動板側のコネクタ及び/又は小基板の端子が
    前記基板側の各種コネクタに接触嵌合して導通されると
    共に、検査完了後の導通解除の際に前記押動側のコネク
    タ及び/又は小基板の端子が前記基板側の各種コネクタ
    との嵌合状態から脱出するときの脱出力として前記ばね
    の弾性力を利用するように構成したことを特徴とする部
    品実装基板の検査装置。
JP5220710A 1993-08-12 1993-08-12 部品実装基板の検査装置 Pending JPH0755890A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5220710A JPH0755890A (ja) 1993-08-12 1993-08-12 部品実装基板の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5220710A JPH0755890A (ja) 1993-08-12 1993-08-12 部品実装基板の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0755890A true JPH0755890A (ja) 1995-03-03

Family

ID=16755295

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5220710A Pending JPH0755890A (ja) 1993-08-12 1993-08-12 部品実装基板の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0755890A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296327A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Nec Corp 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法
KR101124512B1 (ko) * 2011-08-17 2012-03-16 김응균 인쇄회로기판 검사장치
JP2013170933A (ja) * 2012-02-21 2013-09-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体試験用装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296327A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Nec Corp 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法
KR101124512B1 (ko) * 2011-08-17 2012-03-16 김응균 인쇄회로기판 검사장치
JP2013170933A (ja) * 2012-02-21 2013-09-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体試験用装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8333595B2 (en) Coaxial connector
US8550838B2 (en) Electrical connector having poke-in wire contact
JP3257994B2 (ja) ソケット
US7977961B2 (en) Component for testing device for electronic component and testing method of the electronic component
US5462443A (en) Plug-type connector
KR100958135B1 (ko) 검사용 탐침 장치
US20140206234A1 (en) Electrical interconnect device
JP2007304051A (ja) 半導体集積回路用ソケット
US8550825B2 (en) Electrical interconnect device
US20090163047A1 (en) Connector having both press-fit pins and high-speed conductive resilient surface contact elements
US20040082204A1 (en) Electrical connector with contacts having cooperating contacting portions
JPH0755890A (ja) 部品実装基板の検査装置
KR20040090164A (ko) 전기 부품 테스트장치
KR20220014633A (ko) 집적 회로 모듈의 테스트 소켓
US6679716B2 (en) Connector
MY115457A (en) Structure of ic device interface unit
US20040124507A1 (en) Contact structure and production method thereof
KR100324007B1 (ko) 모듈 디바이스용 상호 접속장치
JP2537892Y2 (ja) Ic試験装置
JP2002296327A (ja) 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法
JP4660864B2 (ja) 導通検査装置
JP3719003B2 (ja) Icソケット
JP2848281B2 (ja) 半導体装置の試験装置
JP3424656B2 (ja) 電子機器におけるコネクタ
JP2006234639A (ja) 電気回路検査用プローブ装置