KR101114946B1

KR101114946B1 - 경로데이터 전달장치

Info

Publication number: KR101114946B1
Application number: KR1020050076970A
Authority: KR
Inventors: 김성일
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2005-08-22
Filing date: 2005-08-22
Publication date: 2012-03-06
Also published as: TW200710659A; TWI331716B; US20070061655A1; KR20070022542A; US7716544B2

Abstract

정상데이터를 처리하는 정상경로 및 테스트데이터를 처리하는 테스트경로 중에서 하나가 인에이블되면 다른 하나의 경로는 디스에이블 되어 전력소모를 감소시키는 경로데이터 전달장치를 개시한다. 상기 경로데이터 전달장치는, 에지 검출기, 제1경로데이터 전달블록 및 제2경로데이터 전달블록을 구비한다. 상기 에지 검출기는, 정상동작모드와 테스트모드를 지시하는 테스트 인에이블 신호의 에지를 검출하여 에지 검출신호를 출력한다. 상기 제1경로데이터 전달블록은, 상기 테스트 인에이블 신호, 상기 에지 검출신호, 클럭신호, 정상데이터 및 제2경로데이터에 응답하여 제1경로데이터를 출력한다. 상기 제2경로데이터 전달블록은, 상기 테스트 인에이블 신호, 상기 클럭신호 및 테스트데이터에 응답하여 상기 제2경로데이터를 출력한다.

Description

경로데이터 전달장치{Path data transmission unit}

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.

도 1은 스캔 방법이 적용되는 종래의 시스템의 일부를 나타낸다.

도 2는 도 1에 도시된 쉬프트레지스터(110, 120, 130)의 내부회로도이다.

도 3은 본 발명에 따른 경로데이터 전달장치를 사용하는 시스템의 일부분에 대한 실시예를 나타낸다.

도 4는 본 발명에 따른 경로데이터 전달장치의 블록 다이어그램이다.

도 5는 도 4에 도시된 에지 검출기(410)의 내부회로의 구체적인 실시예이다.

도 6은 제1선택기(430)의 구체적인 회로의 예이다.

도 7은 제2선택기(440)의 구체적인 회로의 예이다.

도 8은 논리 곱셈기(470)의 구체적인 회로의 예이다.

도 9는 도 5에 도시된 에지 검출기의 내부신호에 대한 파형도이다.

본 발명은 경로데이터 전달장치에 관한 것으로서, 특히, 정상동작모드 시 및 테스트모드 시에 분리된 2개의 출력단자를 통하여 정상데이터 및 테스트데이터를 각각 출력하며, 상기 2개의 출력단자를 통하여 동시에 출력되는 데이터 중의 하나는 일정한 고정된 전압 값을 가지는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치에 관한 것이다.

소정의 기능블록(Function Block) 내부에서 처리되고 있는 데이터 또는 기능블록들 사이에서 송수신되는 데이터를 외부에서 모니터(Monitor) 할 수 있도록 회로를 설계하면, 나중에 웨이퍼(Wafer) 또는 패키지(Package) 상태에서 상기 기능블록들의 정상 동작 여부 및 에러가 발생한 기능블록을 쉽게 검증할 수 있는 장점이 있다.

대부분의 디지털 시스템은, 데이터의 전달 및 저장을 위하여 서로 직렬 연결된 복수 개의 쉬프트 레지스터(Shift Register)를 설치하여 사용하는데, 상기 직렬 연결된 복수 개의 쉬프트 레지스터의 각각의 출력 데이터는 소정의 기능블록들에 공급되어 사용된다. 시스템이 정상적으로 동작하지 않는 경우에는 어느 곳에서 문제가 발생하였는가를 검증하여야 하는데, 이 경우에는 상기 복수 개의 쉬프트 레지스터 중 최초의 쉬프트 레지스터에 테스트데이터를 입력시켜 쉬프트 시킨 후, 이를 각각의 기능블록에 입력시킨다. 입력된 테스트데이터에 응답하여 기능블록으로부터 출력되는 데이터를 검사하면, 각 기능블록의 정상동작 여부를 결정할 수 있다. 이러한 검증 방법을 스캔 방법이라고 한다.

도 1을 참조하면, 종래의 시스템(100)은, 소정의 기능을 수행하는 기능블록 (140) 및 복수 개의 쉬프트 레지스터(110, 120, 130)를 구비한다.

제1쉬프트레지스터(110)는, 클럭신호(CLK)에 응답하여, 정상데이터(ND)를 제1입력단자(D)를 통해 수신하고 테스트데이터(TD)를 제2입력단자(TI)를 통해 수신하여 저장한 후 출력단자(Q)를 통해 출력한다. 제1쉬프트레지스터(110)는 테스트 인에이블 신호(TE)에 의하여 정상동작모드 및 테스트모드가 결정되는데, 정상동작모드에서는 정상데이터(ND)를 저장하고 출력하며, 테스트모드에서는 테스트데이터(TD)를 저장하고 출력한다. 제2쉬프트레지스터(120)는 제1쉬프트레지스터(110)의 출력(Q)을 수신하여 동작하는데, 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드 일 경우에만 정상적으로 동작하며, 그 외의 동작특성은 제1쉬프트레지스터(110)와 동일하다. 제3쉬프트레지스터(130)는 기능블록(140)의 출력신호를 이용하여 동작하고, 테스트 인에이블(TE) 신호가 정상동작모드일 경우에만 동작하며, 그 외의 동작특성은 제1쉬프트레지스터(110)와 동일하다.

테스트 인에이블(TE) 신호가 테스트모드를 지시할 경우에는 제1쉬프트레지스터(110)의 출력단자(Q)로부터 출력되는 테스트데이터(TD)가 제2쉬프트레지스터(120)의 제2입력단자(TI)에 전달된다. 테스트 인에이블 신호(TE)의 상태가 정상동작모드를 지시할 경우에는 제1쉬프트레지스터(110)의 출력단자(Q)로부터 출력되는 정상데이터(ND)가 기능블록(140)에 전달되어 소정의 연산과정을 거친 후 제3쉬프트레지스터(130)로 전달된다.

제1쉬프트레지스터(110)의 출력단자(Q)로부터 제2쉬프트레지스터(120)의 제2입력단자(TI)까지 데이터가 진행하는 경로를 제1경로(Path1)라 하고, 제1쉬프트레 지스터(110)의 출력단자(Q)로부터 제3쉬프트레지스터(130)의 제1입력단자(D)까지 데이터가 진행하는 경로를 제2경로(Path2)라 가정한다. 또한 도면에는 도시되지 않았지만, 테스트모드에서 테스트하고자 하는 기능블록이 제2쉬프트레지스터(120)의 출력단자(Q)로부터 출력되는 테스트데이터(TD)에 의하여 동작하게 하고자 한다는 것을 가정한다.

테스트모드일 경우에는 제1경로(Path1)만이 인에이블 되어 제2쉬프트레지스터(120)에 테스트데이터(TD)가 저장되고, 정상동작모드일 경우에는 제2경로(Path2) 만이 인에이블 되어 정상데이터(ND)가 기능블록(140)에서 처리되어 제3쉬프트레지스터(130)에 저장되는 것이 바람직하다. 그러나, 도 1을 참조하면, 테스트모드일 경우 제3쉬프트레지스터(130)는 테스트 인에이블 신호(TE)에 의하여 동작하지 않지만, 제2경로(Path2)는 활성화되어 기능블록(140)이 동작하게 되므로 전력의 소비가 증가하게 된다.

도 2를 참조하면, 테스트 인에이블 신호(TE)에 의하여 정상데이터(ND) 및 테스트데이터(TD)가 선택되며, 점선으로 표시된 원의 내부에서 이러한 선택 동작이 이루어진다. 도 2에 도시된 쉬프트레지스터는 일반적으로 사용되는 마스터-슬레이브 형 (Master-Slave Type) 플립플롭이므로 동작방법에 대해서는 설명을 생략한다.

도 1에 도시한 바와 같이, 2개의 경로(Path1, Path2)가 동시에 사용되지 않음에도 불구하고 제1쉬프트레지스터(110)의 출력을 동일하게 수신하도록 되어 있는 구조에서는 하나의 경로만을 선택적으로 인에이블 되도록 하는 것을 불가능하다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 정상데이터를 처리하는 정상경로 및 테스트데이터를 처리하는 테스트경로 중에서 하나가 인에이블되면 다른 하나의 경로는 디스에이블 되어 전력소모를 감소시키는 경로데이터 전달장치를 제공하는데 있다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일면에 따른 경로데이터 전달장치는, 테스트 인에이블 신호 및 클럭신호에 응답하여 동작하며, 제1입력단자, 제2입력단자, 제1출력단자 및 제2출력단자를 구비한다.

상기 제1입력단자는, 정상데이터를 수신한다. 상기 제2입력단자는, 상기 테스트데이터를 수신한다. 상기 제1출력단자는, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때는 정상동작모드 시에 출력하던 정상데이터의 전압준위를 유지하며, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간에는 제1전압준위를 출력하고 이후 정상동작모드 동안 상기 정상데이터를 출력한다. 상기 제2출력단자는, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때는 상기 테스트데이터를 출력하고, 상기 테스트 인에이블 신호가 정상동작모드를 지시할 때는 테스트모드 시에 출력하던 상기 테스트데이터의 전압준위를 유지한다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 일면에 따른 경로데이터 전달장치는, 에지 검출기, 제1경로데이터 전달블록 및 제2경로데이터 전달블록을 구비한다.

상기 에지 검출기는, 정상동작모드와 테스트모드를 지시하는 테스트 인에이블 신호의 에지를 검출하여 에지 검출신호를 출력한다. 상기 제1경로데이터 전달블록은, 상기 테스트 인에이블 신호, 상기 에지 검출신호, 클럭신호, 정상데이터 및 제2경로데이터에 응답하여 제1경로데이터를 출력한다. 상기 제2경로데이터 전달블록은, 상기 테스트 인에이블 신호, 상기 클럭신호 및 테스트데이터에 응답하여 상기 제2경로데이터를 출력한다.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.

도 3을 참조하면, 상기 시스템(300)은, 제1경로데이터 전달장치(310), 제2경로데이터 전달장치(320), 제3경로데이터 전달장치(330) 및 기능블록(340)을 구비한다. 3개의 경로데이터 전달장치(310, 320, 330)의 구체적인 내부회로는, 도 4의 설명을 참조하면 된다.

제1경로데이터 전달장치(310)는, 테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드를 지시할 경우에는, 정상데이터(ND)가 제1입력단자(D) 및 제1출력단자(Q)를 경유 하여 정상경로인 제2경로(Path2)에 전달한다. 제1경로데이터 전달장치(310)는, 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드를 지시할 경우에는, 테스트데이터(TD)가 제2입력단자(D) 및 제2출력단자(TQ)를 경유하여 테스트경로인 제1경로(Path1)에 전달한다.

제2경로(Path2)의 중간에는 기능블록(340)이 존재하는데, 복수 개의 논리 게이트 및 플립플롭 등을 구비하여 소정의 연산을 수행한다. 즉, 정상동작모드일 경우, 제1경로데이터 전달장치(310)의 제1출력단자(Q)로부터 출력되는 정상데이터(ND)가 기능블록(340)에서 처리되어 제2경로데이터 전달장치(320)에 전달된다. 기능블록(340)의 출력은 소정의 다른 기능블록들(미도시)에 직접 전달되어 계속적인 연산을 수행하는데 사용된다. 또한 기능블록(340)의 출력데이터를 수신한 제2경로데이터 전달장치(320)의 출력도 내부의 다른 기능블록에 전달되어 계속적인 연산을 수행하는데 사용될 수 있다.

그러나 상기 제2경로데이터 전달장치(320)는, 테스트모드 시 기능블록(340)의 정상동작 여부를 검증할 수 있는 수단을 제공한다. 즉, 기능블록에 테스트데이터가 입력되고 상기 테스트데이터에 응답하여 출력되는 신호가 상기 제2경로데이터 전달장치(320)가 전달되는데, 시스템의 외부에서 상기 제2경로데이터 전달장치(320)의 출력을 검사하면 기능블록(340)의 정상동작여부를 판단할 수 있다.

도 3에는 하나의 기능블록(340) 만이 도시되어 있지만, 실제의 시스템에는 복수 개의 기능블록들(미도시)이 존재하며, 각각의 기능블록들은 해당 경로데이터 전달장치(미도시)로부터 정상데이터 또는 테스트 데이터를 전달받는다.

기능블록들의 전기적 특성에 대한 검증은, 모든 기능블록들에 대하여 수행하는 경우도 있지만, 선택된 소수 개의 기능블록의 전기적 특성을 검증하는 것이 일반적이다. 따라서, 선택되지 않은 기능블록에는 정상데이터는 물론 테스트데이터도 전달되지 않도록 하여야 한다. 테스트모드 시 기능블록(340)이 아닌 다른 기능블록(미도시)이 테스트되어야 하는 경우, 직렬 연결된 제1경로데이터 전달장치(310) 및 제3경로데이터 전달장치(330)는 정상적으로 테스트데이터를 전달하게 되지만, 기능블록(340)에는 어떠한 데이터도 전달되지 않아야 하는데, 제1경로데이터 전달장치(310)의 제1출력단자(Q)로부터 출력되는 데이터는 소정의 DC 값을 가지도록 고안되었다. 소정의 DC 값에 대해서는 도 4를 설명할 때 구체적으로 언급한다.

따라서, 본 발명에 따른 경로데이터 전달장치(310, 320, 330)를 사용하여 시스템을 구성하는 경우, 선택된 기능블록에는 테스트데이터를 공급하면서 또한 선택되지 않은 기능블록에는 소정의 DC 전압을 인가하기 때문에 선택되지 않는 기능블록이 동작하는 경우는 발생하지 않는다.

도 4를 참조하면, 상기 경로데이터 전달장치는, 에지 검출기(410), 제1경로데이터 전달블록(420) 및 제2경로데이터 전달블록(460)을 구비한다.

에지 검출기(410)는, 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드를 지시하는 전압준위에서 정상동작모드를 지시하는 전압준위로 변경되는 순간의 에지(Edge)를 검출하여 에지 검출신호(ED)를 출력한다. 에지 검출신호(ED)는 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드에서 정상동작모드로 천이하는(Transient) 순간, 기능블록에 원 하지 않는 에러 신호가 전달되는 것을 방지하는데 사용된다.

테스트 인에이블 신호(TE)는, 테스트모드를 지시하는 경우의 전압준위가 정상동작모드를 지시하는 경우의 전압준위에 비하여 높은 것으로 가정하고 이하에서 설명한다. 에지 검출기(410)의 구체적인 회로 및 이들의 동작은 도 5 및 도 9를 참조하여 이하에서 설명한다.

도 5를 참조하면, 에지 검출기(410)는, 버퍼(411), EX-OR 게이트(412), 인버터(413) 및 앤드 게이트(414)를 구비한다.

버퍼(411)는, 테스트 인에이블 신호(TE)를 소정의 시간(BD) 지연시킨 신호 a를 출력한다. 도 9를 참조하면, 신호 a의 라이징 에지(Rising Edge)의 지연시간 및 폴링 에지(Falling Edge)의 지연시간(BD)은 설명의 편의를 위하여 동일하다고 가정하였다.

EX-OR 게이트(412)는, 테스트 인에이블 신호(TE) 및 신호 a의 논리상태에 따라 결정되는 신호 b를 출력한다. 신호 b는 테스트 인에이블 신호(TE)의 라이징 에지로부터 일정한 지연시간 D1 후에 논리 하이 값으로 천이하고, 마찬가지로 신호 a의 라이징 에지로부터 일정한 지연시간 후에 논리 로우 값으로 천이한다. 여기서는 라이징 에지 및 폴링 에지(Falling Edge)의 지연시간의 동일한 것으로 하고 폴링에지의 지연시간은 도시하지 않았다. 신호 b는 테스트 인에이블 신호(TE)의 라이징 에지 뿐만 아니라 폴링 에지에서도 발생된다.

인버터(413)는, 테스트 인에이블 신호(TE)의 위상을 반전시킨 신호 c를 출력한다. 신호 c는 테스트 인에이블 신호(TE)의 라이징 에지로부터 일정한 지연시간 D2 후에 논리 로우 값으로 천이하고, 테스트 인에이블 신호(TE)의 폴링에지로부터 일정한 시간 후에 논리 하이 값으로 천이한다. 여기서는 라이징 에지 및 폴링 에지의 지연시간의 동일한 것으로 하고 폴링 에지의 지연시간은 도시하지 않았다.

일반적으로 인버터(413)의 지연시간이 EX-OR 게이트(412)의 지연시간에 비하여 짧을 것이다. 따라서 지연시간 D1이 지연시간 D2에 비하여 길다.

앤드 게이트(414)는, 신호 b 및 신호 c를 논리곱 하여 에지 검출신호(ED)를 출력한다. 테스트 인에이블 신호(TE)의 라이징 에지에서 발생된 신호 b와 이에 대응되는 신호 c에 대해서는 에지 검출신호(ED)의 응답이 없다. 이는 상술한 바와 같이, 지연시간 D1이 지연시간 D2에 비하여 길기 때문에, 논리곱하면 이 부분에서는 논리 로우 상태가 되기 때문이다. 반면에, 테스트 인에이블 신호(TE)의 폴링 에지에서 발생된 신호 b와 이에 대응되는 신호 c에 대해서는 에지 검출신호(ED)의 응답이 펄스 형태로 존재한다.

제1경로데이터 전달블록(420)은, 테스트 인에이블 신호(TE), 에지 검출신호(ED), 클럭신호(CLK), 정상데이터(ND) 및 제2경로데이터(TQ)에 응답하여 제1경로데이터(Q)를 출력하며, 제1선택기(430), 제2선택기(440) 및 제1플립플롭(450)을 구비한다.

도 6은 제1선택기(430)의 구체적인 회로의 예이다.

도 6을 참조하면, 제1선택기(430)는 에지 검출신호(ED)에 응답하여 정상데이 터(ND) 및 제2경로데이터(TQ) 중에서 하나를 선택하여 제1선택신호(S_D)를 출력하며, 멀티플렉서(Multiplexor)를 이용하여 구현할 수 있다. 제1선택기(430)는 에지 검출신호(ED)가 논리 로우 상태 "0"일 때는 정상데이터(ND)를 선택하고, 논리 하이 상태 "1"일 때는 제2경로데이터(TQ)를 선택한다.

도 7은 제2선택기(440)의 구체적인 회로의 예이다.

도 7을 참조하면, 제2선택기(440)는, 에지 검출신호(ED)에 응답하여 클럭신호(CLK), 테스트 인에이블 신호(TE) 및 소정의 DC 전압("1")을 이용하여 제1클럭신호(CLK1)를 출력하며, 인버터(441), 앤드 게이트(442), 버퍼(443) 및 멀티플렉서(444)를 구비한다. 인버터(441)는, 테스트 인에이블 신호(TE)의 위상을 반전시킨다. 앤드 게이트(442)는, 클럭신호(CLK) 및 인버터(441)의 출력신호를 논리곱 한다. 버퍼(443)는 에지 검출신호(ED)를 소정의 시간 지연시켜 출력한다. 멀티플렉서(444)는, 버퍼(443)에 의하여 소정의 시간 지연된 에지 검출신호(ED)에 응답하여 앤드 게이트(442)의 출력신호 및 소정의 DC 전압 "1" 중에서 하나를 선택하여 출력한다. 여기서 "1"은 논리 하이에 준하는 DC 전압을 의미한다. 멀티플렉서(444)는, 에지 검출신호(ED)가 논리 로우 상태("0") 일 때는 앤드 게이트(442)의 출력신호를 선택하고, 논리 하이 상태("1")일 때는 소정의 DC 전압 "1"을 선택하여 제1클럭신호(CLK1)로 출력한다.

도 4에 도시 된 제1플립플롭(450)은 제1클럭신호(CLK1)에 응답하여 제1선택신호(S_D)를 저장하고 제1경로데이터(Q)를 출력한다.

제2경로데이터 전달블록(460)은, 테스트 인에이블 신호(TE), 클럭신호(CLK) 및 테스트데이터(TD)에 응답하여 제2경로데이터(TQ)를 출력하며, 논리 곱셈기(470) 및 제2플립플롭(480)을 구비한다.

도 8은 논리 곱셈기(470)의 구체적인 회로의 예이다.

도 8을 참조하면, 논리 곱셈기(470)는, 테스트 인에이블 신호(TE) 및 클럭신호(CLK)를 논리 곱하여 제2클럭신호(CLK2)를 출력한다.

도 4에 도시 된 제2플립플롭(480)은 제2클럭신호(CLK2)에 응답하여 테스트데이터(TD)를 저장하고 제2경로데이터(TQ)를 출력한다.

제1플립플롭(450) 및 제2플립플롭(480)은 어떠한 형태의 플립플롭으로도 구현이 가능하며 본 발명의 핵심 사상은 아니므로 구체적인 설명은 생략한다.

이하에서, 도 4 내지 도 8에 도시된 본 발명에 경로데이터 전달장치의 동작에 대하여 설명한다.

먼저 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트 인에이블 신호(ED)가 논리 하이 상태에서 논리 로우 상태로 천이하는 순간에 대하여 설명한다.

도 9를 참조하면, 테스트 인에이블 신호(ED)가 논리 하이 상태에서 논리 로우 상태로 천이하는 순간에 에지 검출신호(ED)가 펄스 형태로 응답한다. 테스트 인에이블 신호(ED)가 논리 하이 상태에서 논리 로우 상태로 천이하는 순간이라 함은, 테스트모드에서 정상동작모드로 전환되는 순간을 의미한다. 이 때, 제1경로데이터(Q)를 수신하여 동작하는 기능블록(340)에 예상하지 못한 에러 데이터가 전달되는 것을 방지하기 위하여 펄스 형태의 에지 검출신호(ED)를 사용한다.

에지 검출신호(ED)가 논리 하이 상태가 되면, 제1선택신호(S_D)로 제2경로데 이터(TQ)가 선택되며, 2선택기(440)의 멀티플렉서(444)로부터 출력되는 제1클럭신호(CLK1)로 논리 하이 상태가 선택된다.

에지 검출신호(ED)가 논리 로우 상태로 천이하면, 제1선택신호(S_D)로 정상데이터(ND)가 선택된다. 제2선택기(440)의 인버터(441)에 입력되는 테스트 인에이블 신호(TE)가 로우 상태이므로, 앤드 게이트(442)에서는 클럭신호(CLK)가 출력된다. 따라서 제2선택기(440)의 멀티플렉서(444)로부터 출력되는 제1클럭신호(CLK1)로 앤드 게이트(442)로부터 출력되는 클럭신호(CLK)가 선택된다.

테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드인 논리 하이 상태에서 정상동작모드인 논리 로우 상태로 천이하는 순간에 발생하는 펄스 형태의 에지 검출신호(ED)에 의하여 제1플립플롭(450)에서 사용하는 제1클럭신호(CLK1)가 논리 하이 상태에서 일정한 시간이 경과된 후 클럭신호(CLK)와 동일하게 동작한다. 따라서 제1플립플롭(450)은 논리 하이 상태일 때 입력단자(D)를 통하여 수신한 제2경로데이터(TQ)를 제1클럭신호(CLK1)가 첫 번째로 로우 상태로 천이하는 순간 제1경로데이터(Q)로 출력한다. 이 후 계속되는 제1클럭신호(CLK1)에 의하여 정상데이터(ND)를 출력하게 된다.

이하에서는 테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드를 지시하고 있는 정상상태 또는 테스트모드를 지시하고 있는 정상상태에 대해 설명한다. 여기서 정상상태라 함은 신호의 에지(Edge)가 아닌 곳을 의미한다.

테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드를 지시하고 있는 정상상태인 논리 하이 상태를 유지할 때, 에지 검출신호(ED)는 논리 로우 상태가 된다. 따라서 제1 선택기(430)는 제1선택신호(S_D)로 정상데이터(ND)를 선택한다. 테스트 인에이블 신호(TE)가 논리 하이일 때, 앤드 게이트(442)의 출력은 논리 로우 상태로 고정된다. 제2선택기(440)의 멀티플렉서(444)에서 출력되는 제1클럭신호(CLK1)는 논리 로우로 고정되기 때문에, 제1클럭신호(CLK1)에 의하여 동작하는 제1플립플롭(450)은 결국 동작하지 않게 된다. 반면에, 제2선택기(460)의 앤드 게이트(470)로부터는 클럭신호(CLK)가 출력되므로, 제2클럭신호(CLK2)에 의하여 동작하는 제2플립플롭(480)의 제2경로데이터(TQ)는 테스트데이터(TD)를 출력한다.

테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드를 지시하고 있는 정상상태인 논리 로우 상태를 유지할 때, 에지 검출신호(ED)는 논리 로우 상태가 된다. 따라서 제1선택기(430)는 제1선택신호(S_D)로 정상데이터(ND)를 선택한다. 테스트 인에이블 신호(TE)가 논리 로우일 때, 앤드 게이트(442)의 출력은 클럭신호(CLK)가 출력된다. 제2선택기(440)의 멀티플렉서(444)에서 출력되는 제1클럭신호(CLK1)는 클럭신호(CLK)가 되기 때문에, 제1클럭신호(CLK1)에 의하여 동작하는 제1플립플롭(450)은 정상데이터(ND)를 제1경로데이터(Q)로 출력한다. 반면에, 제2선택기(460)의 앤드 게이트(470)의 출력이 논리 로우 상태로 고정되므로, 제2클럭신호(CLK2)에 의하여 동작하는 제2플립플롭(480)은 동작하지 않게 된다.

요약하면, 제1경로데이터(Q)는 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드를 지시할 때에는 테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드에서 테스트모드로 변경되는 순간에 출력하던 정상데이터의 전압준위를 그대로 유지한다. 또한 제1경로데이터(Q)는 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간 에는 제1전압준위를 출력하고, 이후 테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드를 지시하는 동안에는 정상데이터(ND)와 동일하다.

제2경로데이터(TQ)는, 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드를 지시할 때에는 테스트데이터(TD)와 동일하며, 테스트 인에이블 신호(TE)가 정상동작모드를 지시할 때에는 테스트 인에이블 신호(TE)가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간 출력하던 테스트데이터(TD)의 전압준위를 그대로 유지한다.

여기서 제1전압준위는, 테스트 인이에블 신호(TE)가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되기 직전의 제2경로데이터(TQ)의 전압준위이다.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 경로데이터 전달장치는, 테스트모드 시에 불필요한 전력소모를 방지할 수 있으며, 테스트모드에서 정상동작모드 변환되는 과도기에도 기능블록의 오동작을 방지할 수 있는 장점이 있다.

Claims

테스트 인에이블 신호 및 클럭신호에 응답하여 동작하며,

정상데이터를 수신하는 제1입력단자;

테스트데이터를 수신하는 제2입력단자;

상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때는 정상동작모드 시에 출력하던 정상데이터의 전압준위를 유지하며, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간에는 제1전압준위를 출력하고 이후 계속되는 정상동작모드 동안에는 상기 정상데이터를 출력하는 제1출력단자; 및

상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때는 상기 테스트데이터를 출력하고, 상기 테스트 인에이블 신호가 정상동작모드를 지시할 때는 테스트모드 시에 출력하던 상기 테스트데이터의 전압준위를 유지하는 제2출력단자를 구비하는 것을 특징으로 하고,

상기 제1전압준위는,

상기 테스트 인이에블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되기 직전에 상기 제2출력단자를 통하여 출력되는 상기 테스트데이터의 전압준위인 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
삭제
정상동작모드와 테스트모드를 지시하는 테스트 인에이블 신호의 에지 검출신호를 출력하는 에지 검출기;

상기 테스트 인에이블 신호, 상기 에지 검출신호, 클럭신호, 정상데이터 및 제2경로데이터에 응답하여 제1경로데이터를 출력하는 제1경로데이터 전달블록; 및

상기 테스트 인에이블 신호, 상기 클럭신호 및 테스트데이터에 응답하여 상기 제2경로데이터를 출력하는 제2경로데이터 전달블록을 구비하고,

상기 제1경로데이터는, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때에는 상기 테스트 인에이블 신호가 정상동작모드에서 테스트모드로 변경되는 순간에 출력하던 정상데이터의 전압준위를 그대로 유지하며, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간에는 제1전압준위를 출력하고, 이후 계속되는 정상동작모드 동안에는 상기 정상데이터와 동일하며,

상기 제2경로데이터는, 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시할 때에는 상기 테스트데이터와 동일하며, 상기 테스트 인에이블 신호가 정상동작모드를 지시할 때에는 상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되는 순간 출력하던 테스트데이터의 전압준위를 그대로 유지하고,

상기 제1전압준위는, 상기 테스트 인이에블 신호가 테스트모드에서 정상동작모드로 변경되기 직전의 상기 제2경로데이터의 전압준위인 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제3항에 있어서, 상기 에지 검출기는,

상기 테스트 인에이블 신호가 테스트모드를 지시하는 전압준위에서 정상동작모드를 지시하는 전압준위로 변경되는 순간의 에지를 검출하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제4항에 있어서, 상기 테스트 인에이블 신호는,

테스트모드를 지시하는 경우의 전압준위가 정상동작모드를 지시하는 경우의 전압준위에 비하여 높은 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
삭제
삭제
제3항에 있어서, 상기 에지 검출기는,

상기 테스트 인에이블 신호를 소정의 시간 지연시켜 출력하는 버퍼;

상기 테스트 인에이블 신호 및 상기 버퍼의 출력신호를 수신하여 동작하는 EX-OR 게이트;

상기 테스트 인에이블 신호의 위상을 반전시키는 인버터; 및

상기 EX-OR 게이트 및 상기 인버터의 출력신호를 논리곱 한 상기 에지 검출신호를 출력하는 앤드 게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장 치.
제3항에 있어서, 상기 제1경로데이터 전달블록은,

상기 에지 검출신호에 응답하여 상기 정상데이터 및 상기 제2경로데이터 중에서 하나를 선택하여 제1선택신호를 출력하는 제1선택기;

상기 에지 검출신호에 응답하여 상기 클럭신호, 상기 테스트 인에이블 신호 및 소정의 DC 전압을 이용하여 제1클럭신호를 출력하는 제2선택기; 및

상기 제1클럭신호에 응답하여 상기 제1선택신호를 저장하고 상기 제1경로데이터를 출력하는 제1플립플롭을 구비하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제9항에 있어서, 상기 제1선택기는,

상기 에지 검출신호에 응답하여 상기 정상데이터 및 상기 제2경로데이터 중에서 하나를 선택하여 제1선택신호를 출력하는 제1멀티플렉서인 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제10항에 있어서, 상기 제1멀티플렉서는,

상기 에지 검출신호가 논리 하이 상태일 때는 상기 제2경로데이터를 선택하고, 논리 로우 상태일 때는 상기 정상데이터를 선택하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제9항에 있어서, 상기 제2선택기는,

상기 테스트 인에이블 신호의 위상을 반전시키는 인버터;

상기 클럭신호 및 상기 인버터의 출력신호의 논리곱을 출력하는 앤드게이트;

상기 에지 검출신호를 소정의 시간 지연시켜 출력하는 버퍼;

상기 버퍼의 출력신호에 응답하여 상기 앤드 게이트의 출력신호 및 상기 소정의 DC 전압 중에서 하나를 선택하여 출력하는 제2멀티플렉서를 구비하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제12항에 있어서, 상기 소정의 DC 전압은,

논리 하이 상태에 준하는 전압준위를 가지는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
청구항 14은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제12항에 있어서, 상기 제2멀티플렉서는,

상기 에지 검출신호가 논리 하이 상태일 때는 상기 소정의 DC 전압을 선택하고, 논리 로우 상태일 때는 상기 앤드 게이트의 출력신호를 선택하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.
제3항에 있어서, 상기 제2경로데이터 전달블록은,

상기 테스트 인에이블 신호 및 상기 클럭신호를 논리 곱하여 제2클럭신호 (CLK2)를 출력하는 논리 곱셈기; 및

상기 제2클럭신호에 응답하여 상기 테스트데이터를 저장하고 상기 제2경로데이터를 출력하는 제2플립플롭을 구비하는 것을 특징으로 하는 경로데이터 전달장치.