KR101083714B1 - 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치 - Google Patents

디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101083714B1
KR101083714B1 KR1020110031219A KR20110031219A KR101083714B1 KR 101083714 B1 KR101083714 B1 KR 101083714B1 KR 1020110031219 A KR1020110031219 A KR 1020110031219A KR 20110031219 A KR20110031219 A KR 20110031219A KR 101083714 B1 KR101083714 B1 KR 101083714B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
protective plate
plate
inspection
state
protection plate
Prior art date
Application number
KR1020110031219A
Other languages
English (en)
Inventor
김동현
Original Assignee
주식회사 윌테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 윌테크 filed Critical 주식회사 윌테크
Priority to KR1020110031219A priority Critical patent/KR101083714B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101083714B1 publication Critical patent/KR101083714B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2408Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring roundness
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 전자제품의 디스플레이 모니터를 생산하는 과정에서 디스플레이 패널의 맨 앞에 구성되는 보호판의 곡면상태를 검사하는 공정 및 장치에 관한 것으로, 보호판을 집어 이송시키는 이송부를 구성하고, 이송된 보호판이 항상 정확한 위치에 안착되도록 하는 안착부를 구성하고, 연이어 안착된 보호판의 전면부를 이동하면서 다수의 센서가 곡면상태를 검사하도록 하는 검사부와, 센서의 감지상태를 표준치와 비교하여 불량 여부를 판별하고 이를 표시하는 제어부를 구성함을 특징으로 한다.

Description

디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치{Curved surface measurement process and measuring equipment of display panel protector}
본 발명은 전자제품의 디스플레이 모니터를 생산하는 과정에서 디스플레이 패널의 맨 앞에 구성되는 보호판의 곡면상태를 검사하는 공정 및 장치에 관한 것이다.
주지된 바와 같이 디스플레이 패널의 앞에 구성되는 보호판은 외부 쪽으로 돌출되는 곡면을 갖고 형성되는데, 이러한 곡면으로 인하여 디스플레이장치에 의해 표현되는 화면이 왜곡 또는 변형된 상태로 시청자의 시각에 인식되는 것을 방지하게 된다.
이러한 곡면 상태를 검사하기 위하여 종래에는 연속으로 생산되는 많은 숫자의 보호판 중에서 일부를 샘플링한 다음 작업자가 보호판의 다수 위치를 일일이 센서로 측정하여 곡면상태를 검사하는 방식이었기 때문에 검사작업에 시간과 인력이 많이 소요되는 단점을 가지면서도 전체 생산된 보호판 중에서 지극히 일부의 제품만을 검사할 수밖에 없었으므로 불량의 발생이 매우 높은 문제가 있었다.
또한, 수작업에 의한 검사이므로 정확하고 일률적인 감사가 이루어지지 못하므로 검사를 거친 보호판에서도 불량이 발생하는 일이 잦았던 문제가 있었다.
상기 문제점을 감안하여 안출한 본 발명은 제조된 보호판을 이송시켜 적절한 위치에 안착되게 한 상태에서 다수의 센서가 연속으로 이동하면서 자동감사가 이루어지도록 함으로써 검사에 필요한 시간과 인력을 절감하면서도 신속하고 정확한 검사가 이루어질 수 있도록 함으로써 생산된 전체 제품을 검사 가능하게 하고 곡면의 오류에 의한 보호판 불량발생을 최소화하도록 함을 목적으로 하는 것이다.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해 보호판을 집어 이송시키는 이송부를 구성하고, 이송된 보호판이 항상 정확한 위치에 안착되도록 하는 안착부를 구성하고, 연이어 안착된 보호판의 전면부를 이동하면서 다수의 센서가 곡면상태를 검사하도록 하는 검사부와, 센서의 감지상태를 표준치와 비교하여 불량 여부를 판별하고 이를 표시하는 제어부를 구성함을 특징으로 한다.
이러한 본 발명에 의하면 자동으로 인입과 안착 및 검사가 이루어지고 검사결과까지 판별 및 표시되도록 함으로써 자동으로 곡면의 검사가 이루어지는 것으로, 이러한 본 발명에 의하면, 검사에 필요한 시간과 인력을 줄이면서도 검사가 매우 효율적이고 정확하게 이루어지는 장점을 갖는 것이다.
이러한 장점에 의해 시간을 더욱 소모하거나 인력을 증가시키지 않고도 생산된 전체 보호판을 모두 검사하는 전수검사가 가능하게 되는 것이므로 보호판의 품질을 획기적으로 향상시키게 되는 이점이 있다.
또한 이러한 검사 품질의 향상에 의해 모니터와 전자제품의 품질에 대한 신뢰감을 향상시키게 되는 등 유용한 발명이라 할 수 있다.
도 1은 본 발명에 의한 검사장치의 정면부 구성 예시도
도 2는 본 발명에 의한 검사장치의 우측면부 구성 예시도
도 3은 본 발명에 의한 보호판의 이송과정 작동 상태도
도 4는 본 발명에 의한 보호판의 검사과정 작동 상태도
도 5는 본 발명의 이송부에 대한 구성실시 예시도
도 6은 본 발명의 안착부에 대한 구성실시 예시도
도 7은 본 발명의 검사부에 대한 구성실시 예시도
이하 본 발명의 바람직한 구성 실시 예를 첨부된 도면에 의거 상세히 살펴보면 다음과 같다.
본 발명의 검사공정에 대하여 먼저 살펴본다.
본 발명의 검사공정은 보호판 이송공정, 보호판 정렬공정, 보호판 측정공정 및 결과 판단공정으로 이루어진다.
보호판 이송공정은 보호판(P)의 검사할 곡면부가 전면으로 돌출되게 세워진 상태가 되도록 도 5에 도시된 것과 같은 고정수단(10)으로 고정한 상태에서 고정수단(10)이 보호판(P)을 고정상태 그대로 측 방향으로 이송함으로써 보호판(P)이 검사위치까지 이송되도록 한다.
보호판(P)이 검사위치에 다다르면 고정수단(10)이 보호판(P)을 고정시키던 작동을 해제하고 복귀하여 보호판(P)이 자유상태가 되도록 한다.
고정수단(10)은 신속하게 보호판(P)을 잡고 놓을 수 있는 진공흡입 또는 집게 방식이 적합할 것인데, 이와 같이 고정수단(10)의 보호판(P)을 고정하는 방법의 예로는 도 5와 같이 진공흡입관이 연결되는 흡입노즐(103)을 구성하여 흡입노즐(103)이 보호판(P)에 밀착되면서 고정하는 것이다.
보호판 정렬공정은 보호판(P)이 상기 보호판 이송공정에 의해 이송됨으로써 받침롤러(20)에 안착되어 이루어지는 것으로, 보호판(P)이 안착되는 받침롤러(20)의 일부분이 상승하면서 정확한 위치가 되도록 하는데, 받침롤러(20)는 도 6에 도시된 예와 같이 중앙부에 경사부(21)와 안착부(22)가 형성되어 있어서 받침롤러(20)가 상승하면서 보호판(P)의 하단부가 경사부(21)에 의해 미끄러지면서 안착부(22)에 안착 되게 한다. 이와 같이 보호판(P)의 하단부가 안착부(22)에 안착된 상태에서 받침롤러(20)가 상승을 완료한 상태가 되면 검사를 위한 보호판(P)의 적절한 위치가 된다.
보호판 측정공정은 상기 보호판(P) 정렬공정에서 받침롤러(20)에 안착된 상태로 이루어지는데, 정렬된 보호판(P)의 정면의 일측에서 상하로 연속 설치된 다수 개의 거리감지 센서(30)가 수평으로 일정구간 이송 및 측정을 반복하면서 보호판(P)의 돌출된 표면과의 거리를 측정하여 제어부(40)로 송신하는 것이다. 다수 개의 거리감지 센서(30)는 보호판(P)의 크기에 따라서 개별적으로 상하 방향으로 이송이 가능토록 구성하여 거리감지 센서(30) 간의 간격을 조절할 수 있도록 한다.
결과 판단공정은 상기 보호판 측정공정에서 거리감지 센서에 의해 측정된 수치가 제어부(40)에 설정된 정상범위 내의 거리와 비교 연산하여 정상범위 내이면 정상으로 판단하고 한 부분이라도 정상범위를 벗어나면 불량으로 판단하여 그 결과를 출력한다.
이하 본 발명의 검사장치에 대하여 살펴본다.
본 발명의 검사장치는 도 1에 도시된 바와 같이 중앙에 검사할 보호판(P)이 안착되는 안착부(200)가 구성되고 안착부(200)의 양측부에 이송부(100)와 검사부(300)가 각각 배열되는 형태이다.
먼저 도 1 내지 도 3을 통해 이송부(100)를 살펴보면, 검사장치의 일측 상하부에 이송레일(101)을 구성하고, 이송레일(101)에 지지된 상태로 안착부(200) 방향으로 전후진 가능한 이송대(102)를 구성하며, 상기 이송대(102)에는 진공흡입관이 연결되는 흡입노즐(103)을 구성하여 흡입노즐(103)이 보호판(P)을 흡입하는 상태로 잡아 이송토록 하는 것이다.
안착부(200)는 도 1과 도 6에서 볼 수 있듯이 상기 이송부(100)에 의해 보호판(P)이 이송 완료되는 위치에 보호판(P)의 하단부가 안착되도록 다수의 받침롤러(20)가 연속으로 구성되는데, 받침롤러(20)에는 각각 경사부(21)와 안착부(22)를 형성하여 보호판(P)의 하단이 경사부(21)에 의해 미끄러지면서 경사면(21) 끝의 안착부(22)까지 유입되도록 하였으며, 보호판(P)이 안착된 다음 상승하도록 실린더와 같이 공지된 승강수단(23)에 의해 설치한 것이다.
상기 구성에 의해 상승하는 받침롤러(20)가 보호판(P)을 들어올리면서 경사부(21)의 끝까지 보호판(P)이 밀려들어 가면서 적절한 검사위치가 되도록 한 것이다.
검사부(300)는 도 1 및 도 7에서 자세히 볼 수 있듯이 안착부(200)의 일측에 구성되는데, 중앙의 안착부 방향으로 좌우 이동 가능하도록 이송수단(301)과 레일(302)에 설치된 이동판(303)을 구성하고 이동판(303)에는 상하로 승강이 가능한 다수 개의 승강대(304)를 설치하는데, 이동판(303)에는 래크기어(305)를 설치한 다음 승강대(304)에는 각각 모터(306)에 의해 회전하는 피니언기어(307)를 설치하여 래크기어(305)와 맞물리도록 구성함으로써 모터(306)가 회전하면 피니언기어(306)가 래크기어(305)를 타고 구르게 되면서 승강대(304)가 이동판(303)의 상하방향으로 승강하도록 구성한 것이다.
각 승강대(304)의 일측에는 안착부(200)에 안착된 보호판(P)을 향해 거리감지 센서(30)를 설치하여 보호판이 돌출된 상태를 감지하여 그 결과를 제어부(40)로 보내도록 한 것이다.
제어부(40)는 검사장치의 일측에 구성되어 검사할 보호판(P)의 크기에 따라 각 승강대(304)를 승강시켜 보호판(P)의 높이에 맞춰 균일한 간격으로 배치되도록 하고, 보호판(P)의 크기에 따른 정상적인 굴곡의 치수범위를 데이터베이스화하여 저장하고 있다가 거리감지 센서(30)로부터 수신된 측정치수와 비교하여 정상범위 내인지 또는 정상범위를 벗어난 불량인지를 판별하여 스피커를 통한 청각적 확인 또는 모니터를 통한 시각적 확인이 가능하도록 표시하는 것이다.
이하 본 발명에 의한 검사작용을 순서대로 살펴보면 다음과 같다.
도 1의 상태와 같이 이송부(100)에 보호판(P)이 준비되면, 고정수단(10)의 흡입노즐(103)이 보호판에 밀착되면서 보호판(P)을 고정시키게 된다.
이송대(102)가 이송레일(101)을 타고 안착부(200)를 향해 이동을 하고 안착부(200)의 받침롤러(20) 위에 보호판(P)이 도달하면 흡입을 중단하여 보호판(P)을 안착시킨다.(도 3의 상태)
받침롤러(20)가 상승하여 보호판(P)을 검사위치로 맞추게 되는데, 상승하는 과정에서 보호판(P)의 하단이 경사부(21)에 미끄러지면서 안착부(22)에 안착 됨으로써 보호판(P)이 검사할 위치상태가 된다.(도 4의 상태)
검사부(300)가 작동을 시작하는데 이동판(303)이 이송수단(301)에 의해 레일(302)을 타고 이동을 하면서(도 4 참조) 승강대(304)에 설치된 거리감지 센서(30)가 보호판(P)과의 거리를 측정하여 제어부(40)로 보내게 된다.
제어부(40)에서는 그 결과를 출력하게 된다.
그리고 검사부(30)에는 보호판(P)의 크기에 따라 각 승강대(304)가 높이를 조절하게 되는데, 모터(306)의 작동으로 피니언기어(307)가 회전하여 래크기어(305)를 타고 오르면서 필요한 높이로 이동하게 된다.
100: 이송부 10: 고정수단
101: 이송레일 102: 이송대
103: 흡입노즐
200: 안착부 20: 받침롤러
21: 경사부 22: 안착부
23: 승강수단
300: 검사부 30: 센서
301: 이송수단 302: 레일
303: 이동판 304: 승강대
305: 래크기어 306: 모터
307: 피니언기어
40: 제어부

Claims (3)

  1. 보호판(P)의 검사할 곡면부가 전면으로 돌출되게 세워진 상태가 되도록 고정수단(10)으로 고정한 상태에서 고정수단(10)이 보호판(P)을 측 방향으로 이송함으로써 보호판(10)이 검사위치까지 이송되도록 한 후, 보호판(P)이 검사위치에 다다르면 고정수단(10)이 보호판(P)을 고정시키던 작동을 해제하는 보호판 이송공정과;
    상기 보호판 이송공정에 의해 보호판(P)의 하단부가 받침롤러의 안착부(22)에 안착된 상태에서 받침롤러(20)가 상승을 완료한 상태가 되어 검사를 위한 보호판(P)의 적절한 위치가 되도록 하는 보호판 정렬공정과;
    상기 보호판 정렬공정에 의해 정렬된 보호판(P)의 정면의 일측에서 상하로 연속 설치된 다수 개의 거리감지 센서(30)가 수평으로 일정구간 이송 및 측정을 반복하면서 보호판(P)의 돌출된 표면과의 거리를 측정하여 제어부(40)로 송신하는 보호판 측정공정과,
    상기 보호판 측정공정에서 거리감지 센서에 의해 측정된 수치가 제어부(40)에 설정된 정상범위 내의 거리와 비교 연산하여 정상범위 내이면 정상으로 판단하고 한 부분이라도 정상범위를 벗어나면 불량으로 판단하여 그 결과를 출력하는 결과 판단공정;
    으로 구성됨을 특징으로 하는 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정.
  2. 상하부에 이송레일(101)에 지지된 상태로 전후진 가능한 이송대(102)를 구성하고 이송대(102)에 진공흡입관이 연결되는 흡입노즐(103)을 구성하여 흡입노즐(103)이 보호판(P)을 흡입하는 상태로 잡아 이송토록 하는 이송부(100)를 구성하고,
    상기 이송부(100)에 의해 보호판(P)이 이송완료되는 위치에 보호판(P)의 하단부가 안착되도록 한 받침롤러(20)를 구성하되, 받침롤러(20)에는 각각 경사부(21)을 형성하여 보호판(P)의 하단이 경사부(21)에 의해 미끄러지면서 경사면(21) 끝의 안착부(22)까지 유입되도록 하며, 보호판(P)이 안착된 다음 상승하도록 실린더와 같이 공지된 승강수단(23)에 의해 받침롤러가 설치되는 안착부(200)를 구성하며,
    상기 안착부(200)의 일측에는 다수개의 승강대(304)를 구성하고 승강대(304)의 일측에는 안착부(200)에 안착된 보호판(P)을 향해 거리감지 센서(30)를 설치하여 보호판이 돌출된 상태를 감지하여 그 결과를 제어부(40)로 보내도록 한 검사부(300)를 구성하고,
    보호판(P)의 크기에 따른 정상적인 굴곡의 치수범위를 데이터베이스화하여 저장하고 있다가 거리감지 센서(30)로부터 수신된 측정치수와 비교하여 정상범위 내인지 또는 정상범위를 벗어난 불량인지를 판별하여 스피커를 통한 청각적 확인 또는 모니터를 통한 시각적 확인이 가능하도록 표시하는 제어부를 검사장치의 일측에 구성함을 특징으로 하는 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    검사부(300)는 중앙의 안착부 방향으로 좌우 이동 가능하도록 이송수단(301)과 레일(302)에 설치된 이동판(303)을 구성하고,
    이동판(303)에는 상하로 승강이 가능한 다수 개의 승강대(304)를 설치하되, 이동판(303)에는 래크기어(305)를 설치한 다음 승강대(304)에는 각각 모터(306)에 의해 회전하는 피니언기어(307)를 설치하여 래크기어(305)와 맞물리도록 하며, 모터(306)가 회전하면 피니언기어(306)가 래크기어(305)를 타고 구르게 되면서 승강대(304)가 이동판(303)의 상하방향으로 승강하도록 구성한 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사장치.
KR1020110031219A 2011-04-05 2011-04-05 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치 KR101083714B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110031219A KR101083714B1 (ko) 2011-04-05 2011-04-05 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110031219A KR101083714B1 (ko) 2011-04-05 2011-04-05 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101083714B1 true KR101083714B1 (ko) 2011-11-15

Family

ID=45397762

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110031219A KR101083714B1 (ko) 2011-04-05 2011-04-05 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101083714B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101582906B1 (ko) 2014-07-31 2016-01-19 최재원 커브드 패널 조립 검사장치
KR102068664B1 (ko) * 2018-12-07 2020-01-21 (주)현세엔티아이 Lcd 글래스 형상 모니터링 시스템
WO2022088345A1 (zh) * 2020-10-29 2022-05-05 Tcl华星光电技术有限公司 可调式曲面液晶显示面板试验装置及其操作方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100949485B1 (ko) 2001-12-21 2010-03-23 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 셀 갭 측정장치 및 그에 따른 측정방법
KR100971912B1 (ko) 2008-07-28 2010-07-22 (주)드림엔지니어링 대형유리기판의 검사장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100949485B1 (ko) 2001-12-21 2010-03-23 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 셀 갭 측정장치 및 그에 따른 측정방법
KR100971912B1 (ko) 2008-07-28 2010-07-22 (주)드림엔지니어링 대형유리기판의 검사장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101582906B1 (ko) 2014-07-31 2016-01-19 최재원 커브드 패널 조립 검사장치
KR102068664B1 (ko) * 2018-12-07 2020-01-21 (주)현세엔티아이 Lcd 글래스 형상 모니터링 시스템
WO2020116712A1 (ko) * 2018-12-07 2020-06-11 주식회사 현세엔티아이 엘씨디 글래스 형상 모니터링 시스템
WO2022088345A1 (zh) * 2020-10-29 2022-05-05 Tcl华星光电技术有限公司 可调式曲面液晶显示面板试验装置及其操作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9273953B2 (en) Apparatus for inspecting warpage of sheet-like member and method for inspecting warpage of sheet-like member
CN105953690B (zh) 一种花键检测机
TWI486578B (zh) Plate glass inspection unit and manufacturing equipment
TWI505389B (zh) 保持構件的形狀判定裝置、及其方法、基板處理裝置及記憶媒體
KR101083714B1 (ko) 디스플레이 패널 보호판의 곡면상태 검사공정 및 검사장치
KR100638283B1 (ko) 타이어 트레드 자동 조인트 감지장치
EP3076162A1 (en) An automatic control machine
CN106733690A (zh) 一种在线厚度检测方法及装置
KR101586373B1 (ko) 자동차용 배터리 케이스 검사장치
CN202877143U (zh) 自动板边检测机
KR20110075587A (ko) 기판검사장치 및 스테이지의 평탄도 보정방법
CN103322964A (zh) 一种轴承内圈圆度自动检测装置及其使用方法
CN109239579A (zh) 全自动线路板电测设备
KR101810554B1 (ko) 프레스텐덤 센터링 및 에어블로윙 장치
KR20110078589A (ko) 와이퍼모터 샤프트 검사장비의 샤프트 투입기
TWI510757B (zh) 檢測裝置
CN111112132A (zh) 电热水器内胆搪瓷缺陷自动检测设备
CN108918051A (zh) 一种生产线上的自动化检测方法及装置
CN213180110U (zh) 一种汽车零配件自动检测设备
CN110906873A (zh) 一种触控显示屏厚度自动测量机
CN207051207U (zh) 外观检测设备及其系统
KR200449351Y1 (ko) 배터리 치수 검사장치
CN106122290B (zh) 双列圆锥轴承自动合套装置
CN218662706U (zh) 一种烟箱粘贴质量检测装置
KR20150093951A (ko) 자동 렌즈검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
N231 Notification of change of applicant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140911

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150915

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161104

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170905

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180827

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190826

Year of fee payment: 9