KR101037461B1 - 기판탑재대, 기판 처리 장치, 및 온도 제어 방법 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 231
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 20
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 201
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 39
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 4
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 166
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 12
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 9
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 241000135309 Processus Species 0.000 description 2
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/3065—Plasma etching; Reactive-ion etching
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2001—Maintaining constant desired temperature
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
번호 | C측 압력 (Torr) |
E측 압력 (Torr) |
C측 유량 (sccm) |
E측 유량 (sccm) |
A1 | 5 | 5 | 5.3 | 5.4 |
A2 | 5 | 15 | 2.3 | 34.4 |
A3 | 15 | 5 | 33.9 | 2.5 |
A4 | 15 | 15 | 32.0 | 32.3 |
Claims (31)
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대에 있어서,탑재대본체와,상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와,상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근 또는 중앙부 부근의 어느 한 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유입구와,다른 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유출구와,상기 기판탑재측의 표면에 형성되어, 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하는 유로를 구비하되,상기 유로는 돌기부를 갖는 유로형성부재를 환상으로 복수열로 배치하여 이루어지며,상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위내에 있도록, 상기 유로형성부재의 열수가 조정되는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P: 열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 유로형성부재는 상단이 상기 기판과 접촉하지 않고 근접해서 마련된 돌기부를 연결재에 의해 연결한 것인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 1 항에 있어서,상기 유로형성부재는, 상단에 상기 기판과 접촉하는 소돌기를 구비한 돌기부를 연결재에 의해 연결한 것인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 콘덕턴스 C가, 3×10-7m3/sec 내지 3×10-5m3/sec의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 1 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가, 10Torr 내지 40Torr인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 7 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유량이 1sccm 내지 100sccm일 때에, 상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가 10Torr 내지 40Torr가 되도록, 상기 유로가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대에 있어서,탑재대본체와,상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와,상기 기판탑재측의 표면의 중심점으로부터 거리 r 떨어진 위치에 형성된 상기 열전달용 가스의 유입구 또는 유출구와,상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근에 형성되어, 상기 열전달용 가스의 유입구 또는 유출구에 대응하는 유출구 또는 유입구와,상기 기판탑재측의 표면에 형성되어, 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하는 유로와,상기 중심점으로부터 상기 거리 r의 범위에 형성된 복수의 점형상 돌기가 마련되되,상기 유로는 돌기부를 갖는 유로형성부재를 환상으로 복수열로 배치하여 이루어지며,상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위내에 있도록 상기 유로형성부재의 열수가 조정되는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P: 열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
- 삭제
- 제 9 항에 있어서,상기 유로형성부재는, 상단이 상기 기판과 접촉하지 않고 근접해서 마련된 돌기부를 연결재에 의해 연결한 것인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 9 항에 있어서,상기 유로형성부재는, 상단에 상기 기판과 접촉하는 소돌기를 구비한 돌기부를 연결재에 의해 연결한 것인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 삭제
- 제 9 항에 있어서,상기 콘덕턴스 C가, 3×10-7m3/sec 내지 3×10-5m3/sec의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 9 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가, 10Torr 내지 40Torr인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 15 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유량이 1sccm 내지 100sccm일 때에, 상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가 10Torr 내지 40Torr가 되도록, 상기 유로가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대에 있어서,탑재대본체와,상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 상기 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와,상기 폐공간에 환상으로 마련되어, 상기 열전달용 가스의 유로를 형성하는 복수의 대략 원형의 칸막이 벽과,상기 기판탑재측의 표면의 중앙부 부근에 형성된 상기 열전달용 가스의 유입구 또는 유출구와,상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근에 마련되고, 상기 중앙부 부근에 형성된 유입구 또는 유출구에 대응하는 적어도 하나 이상의 유출구 또는 유입구를 구비하고, 상기 각 대략 원형의 칸막이 벽에는 상기 열전달용 가스가 유통하기 위한 절결부가 설치되고,상기 유로는 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 상기 열전달용 가스의 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하되,상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위내로 되도록 상기 칸막이 벽의 열수가 조정되는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P:열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
- 삭제
- 제 17 항에 있어서,상기 대략 원형의 칸막이 벽의 상단이 상기 기판에 접촉하지 않고 근접하고 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 17 항에 있어서,상기 대략 원형의 칸막이 벽의 상단이 상기 기판에 접촉하고 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 삭제
- 제 17 항에 있어서,상기 콘덕턴스 C가, 3×10-7m3/sec 내지 3×10-5m3/sec의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 17 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가, 10Torr 내지 40Torr인 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 제 23 항에 있어서,상기 열전달용 가스의 유량이 1sccm 내지 100sccm일 때에, 상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가 10Torr 내지 40Torr가 되도록, 상기 유로가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판탑재대.
- 기판을 수용하고, 내부가 감압 유지되는 처리실과,상기 처리실내에 마련되고, 상기 기판이 탑재된,청구항 1, 9 및 17 중 어느 하나에 기재된 구성을 가지는 기판탑재대와,상기 처리실내에서 상기 기판에 소정의 처리를 실시하는 처리기구와,상기 기판탑재대와 상기 기판과의 사이에 형성된 상기 폐공간내를 유통하는열전달용 가스를 공급하는 열전달용 가스 공급 기구를 구비하는 것을 특징으로 하 는 기판처리장치.
- 제 25 항에 있어서,상기 열전달용 가스 공급 기구로부터 공급되는 열전달용 가스의 압력을 제어하는 제어기구를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1, 9 및 17 중 어느 한 항에 기재된 기판탑재대를 이용하여 기판의 온도를 제어하는 기판의 온도제어 방법으로서,상기 콘덕턴스 C가, 3×10-7m3/sec 내지 3×10-5m3/sec의 범위내에 있는 경우에 있어서,상기 열전달용 가스의 유입구와 유출구에 있어서의 열전달용 가스의 압력차가, 10Torr 내지 40Torr가 되도록 열전달용 가스의 공급 유량을 제어하는 것을 특징으로 하는 기판의 온도제어 방법.
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대로서, 탑재대본체와, 상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와, 상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근 또는 중앙부 부근의 어느 한 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유입구와, 다른 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유출구와, 상기 기판탑재측의 표면에 형성되어, 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하는 유로를 구비하되, 상기 유로는, 상단이 상기 기판과 접촉하지 않고 근접해서 마련된 돌기부를 연결재에 의해 연결한 유로형성부재를 환상으로 복수열 형성해서 되며, 상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는기판탑재대를 이용하여 기판의 온도를 제어하는 기판의 온도제어 방법으로서,상기 유로형성부재의 상단과 상기 기판과의 극간의 높이, 및 환상으로 마련하는 유로형성부재의 열수 중에 어느 하나 또는 모두에 의해, 상기 콘덕턴스 C를 조정하는 것을 특징으로 하는 기판의 온도제어 방법.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P: 열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대로서, 탑재대본체와, 상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와, 상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근 또는 중앙부 부근의 어느 한 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유입구와, 다른 쪽에 형성된 상기 열전달용 가스 유출구와, 상기 기판탑재측의 표면에 형성되어, 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하는 유로를 구비하되, 상기 유로는, 상단에 상기 기판과 접촉하는 소돌기를 구비한 돌기부를 연결재에 의해 연결한 유로형성부재를 환상으로 복수열 형성해서 되며, 상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는기판탑재대를 이용하여 기판의 온도를 제어하는 기판의 온도제어 방법으로서,상기 소돌기의 높이, 폭 및 상기 소돌기를 구비한 유로형성부재를 환상으로 마련하는 열수 중 어느 하나 또는 이들의 임의 조합에 의해, 상기 콘덕턴스 C를 조정하는 것을 특징으로 하는 기판의 온도제어 방법.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P: 열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
- 청구항 20에 기재된 기판탑재대를 이용하여 기판의 온도를 제어하는 온도제어 방법으로서,상기 환상으로 마련하는 대략 원형의 칸막이 벽의 열수에 의해, 상기 콘덕턴스 C를 조정하는 것을 특징으로 하는 기판의 온도제어 방법.
- 기판처리장치에서 기판을 탑재하는 기판탑재대로서, 탑재대본체와, 상기 탑재대본체의 기판탑재측의 표면에 기판이 탑재되었을 때에 기판의 주연부에 접촉하고, 상기 기판의 하측부분에 열전달용 가스가 유통하는 폐공간을 형성하는 주연환상볼록부와, 상기 폐공간에 환상으로 마련되어, 상기 열전달용 가스의 유로를 형성하는 복수의 대략 원형의 칸막이 벽과, 상기 기판탑재측의 표면의 중앙부 부근에 형성된 상기 열전달용 가스의 유입구 또는 유출구와, 상기 기판탑재측의 표면의 주연부부근에 마련되고, 상기 중앙부 부근에 형성된 유입구 또는 유출구에 대응하는 적어도 하나 이상의 유출구 또는 유입구를 구비하고, 상기 각 대략 원형의 칸막이 벽에는 상기 열전달용 가스가 유통하기 위한 절결부가 설치되고, 상기 대략 원형의 칸막이 벽의 상단이 상기 기판에 접촉하지 않고 근접하고 있으며, 상기 유로는 상기 열전달용 가스가 상기 열전달용 가스의 유입구로부터 상기 열전달용 가스의 유출구로 유동할 때에 콘덕턴스 C를 형성하되, 상기 콘덕턴스 C는, 하기 (1)식으로 정의되고, 상기 콘덕턴스 C의 값이 3×10-8m3/sec 내지 3×10-4m3/sec의 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는기판탑재대를 이용하여 기판의 온도를 제어하는 온도제어 방법으로서,상기 환상으로 마련하는 대략 원형의 칸막이 벽의 상단과 상기 기판과의 간극의 높이에 의해, 상기 콘덕턴스 C를 조정하는 것을 특징으로 하는 기판의 온도제어 방법.C(m3/sec)=Q/△P ............ (1)여기서, Q:열전달용 가스의 질량유량(Pa·m3/sec)△P:열전달용 가스의 유입구와 유출구간의 차압(Pa)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007227708A JP2009060011A (ja) | 2007-09-03 | 2007-09-03 | 基板載置台、基板処理装置、及び温度制御方法 |
JPJP-P-2007-00227708 | 2007-09-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090024075A KR20090024075A (ko) | 2009-03-06 |
KR101037461B1 true KR101037461B1 (ko) | 2011-05-26 |
Family
ID=40463061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080084461A KR101037461B1 (ko) | 2007-09-03 | 2008-08-28 | 기판탑재대, 기판 처리 장치, 및 온도 제어 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20090233443A1 (ko) |
JP (1) | JP2009060011A (ko) |
KR (1) | KR101037461B1 (ko) |
CN (1) | CN100585828C (ko) |
TW (1) | TWI502680B (ko) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9728429B2 (en) * | 2010-07-27 | 2017-08-08 | Lam Research Corporation | Parasitic plasma prevention in plasma processing chambers |
JP2012089591A (ja) * | 2010-10-18 | 2012-05-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置及び真空処理方法 |
JP5869899B2 (ja) | 2011-04-01 | 2016-02-24 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理方法及びサセプタカバー |
NL2009189A (en) | 2011-08-17 | 2013-02-19 | Asml Netherlands Bv | Support table for a lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method. |
WO2015043890A1 (en) | 2013-09-27 | 2015-04-02 | Asml Netherlands B.V. | Support table for a lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method |
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- 2008-09-03 US US12/203,402 patent/US20090233443A1/en not_active Abandoned
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CN100585828C (zh) | 2010-01-27 |
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KR20090024075A (ko) | 2009-03-06 |
TW200931587A (en) | 2009-07-16 |
JP2009060011A (ja) | 2009-03-19 |
US20090233443A1 (en) | 2009-09-17 |
US20140076515A1 (en) | 2014-03-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
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